JP4629531B2 - 短絡検査装置および短絡検査方法 - Google Patents
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Description
10 電流供給部
11 電流源
12,13 プローブ
20 駆動部
30 磁気センサ
40 制御部
100 回路基板
A,B 接点
M 幹配線
P1,P2 枝配線
Sc 短絡箇所
Claims (6)
- 幹配線の所定区間の両側から並列に延在するように一対の枝配線が形成されている回路基板を検査可能に構成された短絡検査装置であって、
前記一対の枝配線のうちの一方の枝配線に第1のプローブを接触させた第1の接点と、当該第1の接点よりも前記幹配線側において当該一方の枝配線に第2のプローブを接触させた第2の接点との間に電流を供給する電流供給部と、
前記一対の枝配線の各々における前記第2の接点よりも前記幹配線側の区間、および前記幹配線の前記所定区間のいずれかに対向させて配置されると共に、前記電流供給部によって前記電流が供給されている状態において、その配置位置に対向する配線に流れる電流を検出して検査信号を出力する磁気センサと、
前記検出信号に基づいて前記配線に電流が流れているときには前記一対の枝配線間に短絡があると判定する判定部とを備えて構成されている短絡検査装置。 - 前記一方の枝配線に接触させた状態で前記第2のプローブを移動させる駆動部と、
前記第2のプローブが移動させられたときに前記配線に電流が流れ始めた時点、および当該電流が流れなくなった時点のいずれかの時点における当該第2のプローブの接触位置に基づいて前記一対の枝配線間における短絡位置を特定する特定部とを備えている請求項1記載の短絡検査装置。 - 前記駆動部は、前記第2のプローブの移動前の状態において前記配線に電流が流れているときには当該第2のプローブを前記第1のプローブに近づけ、
前記特定部は、当該配線に前記電流が流れなくなった時点における前記第2のプローブの接触位置に基づいて前記一対の枝配線間における短絡位置を特定する請求項2記載の短絡検査装置。 - 前記駆動部は、前記第2のプローブの移動前の状態において前記配線に電流が流れていないときには当該第2のプローブを前記第1のプローブから遠ざけ、
前記特定部は、当該配線に前記電流が流れ始めた時点における前記第2のプローブの接触位置に基づいて前記一対の枝配線間における短絡位置を特定する請求項2記載の短絡検査装置。 - 前記磁気センサは、前記幹配線における前記所定区間に対向させて配置される請求項1から4のいずれかに記載の短絡検査装置。
- 幹配線の所定区間の両側から並列に延在するように一対の枝配線が形成されている回路基板を検査する短絡検査方法であって、
前記一対の枝配線のうちの一方の枝配線に第1のプローブを接触させた第1の接点と、当該第1の接点よりも前記幹配線側において当該一方の枝配線に第2のプローブを接触させた第2の接点との間に電流を供給し、
前記一対の枝配線の各々における前記第2の接点よりも前記幹配線側の区間、および前記幹配線の前記所定区間のいずれかの区間に流れる電流を検出し、
前記配線に電流が流れているときには前記一対の枝配線間に短絡があると判定する短絡検査方法。
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