JP4629367B2 - 活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物、光伝送部材およびその製造方法 - Google Patents
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Description
[1](A)平均単位式(1)
(R1R2R3SiO1/2)a(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c(SiO4/2)d (1)
(式中、R1,R2,R3,R4,R5, R6は炭素原子数1〜6の一価脂肪族炭化水素基、炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基およびエポキシ基含有一価炭化水素基から選択される有機基であり、エポキシ基含有一価炭化水素基を有するシロキサン単位が一分子中2〜50モル%であり、全有機基の15モル%以上が炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基であり、a+b+c+d=1であり、0≦a<0.4,0<b<0.5,0<c<1,0≦d<0.4であり、0.01≦b/c≦0.3である。)で表されるエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂100重量部、
(B)光重合開始剤0.05〜20重量部、
(C)光増感剤あるいは光ラジカル発生剤0.01〜20重量部、および
(D)有機溶媒0〜5000重量部からなることを特徴とする活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
[2] 光伝送部材用である[1]記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
[3] 光伝送部材が基板に接着していることを特徴とする[2]記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
[4] 光伝送部材が光導波路である[2]または[3]記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
[5]活性エネルギー線が紫外線である[1]〜[4]のいずれかに記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
[6][1]記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物への活性エネルギー線照射による硬化物からなることを特徴とする光伝送部材。
[7]硬化物が基板に接着していることを特徴とする[6]記載の光伝送部材。
[8]活性エネルギー線が紫外線である[6]または[7]記載の光伝送部材。
[9]1)基板上に[1]記載の活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物を塗布し、2)塗布された活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物に活性エネルギー線を照射して硬化させ、必要に応じて後加熱することを特徴とする光伝送部材の製造方法。
(R1R2R3SiO1/2)a(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c(SiO4/2)d (1)
(式中、R1,R2,R3,R4,R5, R6は炭素原子数1〜6の一価脂肪族炭化水素基、炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基およびエポキシ基含有一価炭化水素基から選択される有機基であり、エポキシ基含有一価炭化水素基を有するシロキサン単位が一分子中2〜50モル%であり、全有機基の15モル%以上が炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基であり、a+b+c+d=1であり、0≦a<0.4,0<b<0.5,0<c<1,0≦d<0.4であり、0.01≦b/c≦0.3である。)で表されるエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂は、本発明の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物の主成分であり、エポキシ基を含有しているので、(B)光重合開始剤および(C)光増感剤もしくは光ラジカル発生剤存在下で紫外線に代表される活性エネルギー線照射により迅速に硬化する。該組成物が基板(例、シリコン基板)に接触しているときは、紫外線に代表される活性エネルギー線照射により迅速に硬化し該基板によく接着する。
(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c
(R1R2R3SiO1/2)a(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c
(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c(SiO4/2)d
(R1R2R3SiO1/2)a(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c(SiO4/2)d
(R1R2R3SiO1/2)単位が多すぎるとエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A)の分子量が低下するので0≦a<0.4であり、(SiO4/2)単位が導入されると、エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A)の硬化物の硬度が顕著に増加して脆くなりやすい。そのため、0≦d<0.4であり、好ましくは0≦d<0.2であり、さらに好ましくd=0である。また、必須構成単位である(R4R5SiO2/2)単位と(R6SiO3/2)単位のモル比率b/cは、0.01以上0.3以下である。この範囲を外れる場合には、該エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A)の製造時に不溶性副成物を生じたり、硬化物の靭性が低下してクラックが入りやすくなったり、硬化物の強度および弾性率が低すぎて傷つきやすくなる。モル比率b/cの好ましい範囲は、0.01以上0.25以下であり、より好ましい範囲は、0.02以上0.25以下である。エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A)は、(R4R5SiO2/2)単位と(R6SiO3/2)単位を必須とし、モル比率b/cが0.01以上0.3以下であるので、分子構造は主に網状ないし3次元状である。
例えば、式R4R5SiCl2のシランと 式R6SiCl3のシランを共加水分解縮合する方法、これらシランに必要に応じて式R1R2R3SiClのシランのみ、式SiCl4のシランのみ、または式R1R2R3SiClのシランとSiCl4のシランを加えて共加水分解縮合する方法; 前記複数のシラン中の塩素原子をメトキシ基またはエトキシ基に置換した複数のシランを共加水分解縮合する方法がある(式中、R1,R2,R3,R4,R5, R6は炭素原子数1〜6の一価脂肪族炭化水素基、炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基およびエポキシ基含有一価炭化水素基から選択される有機基である)。また、ジメチルジクロロシランとフェニルトリクロロシラン、あるいは、メチルジクロロシランとメチルトリクロロシランとフェニルトリクロロシランを共加水分解縮合してシラノール基含有メチルフェニルポリシロキサン樹脂を製造した後、反応系を塩基性にし、3-(グリシドキシ)プロピルトリメトキシシランのようなエポキシ基含有オルガノトリアルコキシシランを加えて縮合反応を行うことにより、3-(グリシドキシ)プロピル基ようなエポキシ基含有基がケイ素原子に結合したメチルフェニルポリシロキサン樹脂を製造する方法がある。平均単位式(1)中のa, b, c, dは、各原料シランの仕込み量、モル比を調整することにより調整することができる。
該光伝送部材は、以下の1),2)からなる工程により製造することができる。
まず、1)請求項1記載の活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物を基板上に均一に塗布した後、必要に応じて風乾または加熱することにより有機溶媒(D)を除去してエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A)、光重合開始剤(B)、および光増感剤あるいは光ラジカル発生剤(C)からなる均一な厚みの薄膜を得る。ここで用いる基板としては、表面が平滑であり、溶媒および硬化用の活性エネルギー線および熱に対して安定であるものが好ましく、材質としてシリコンウエハー、ガラス、セラミック、耐熱性プラスチックが例示される。塗布する方法としてはスピンコート法が一般的であり、この後の加熱温度は、30℃以上120℃以下の範囲が好適である。続いて2)得られた薄膜に活性エネルギー線を照射して硬化させる。ここで使用される活性エネルギー線としては、紫外線、電子線、放射線が例示されるが、安全性と設備コストの点で紫外線が好ましい。紫外線発生源としては高圧水銀ランプ、中圧水銀ランプ、Xe-Hgランプ、ディープUVランプが好適である。紫外線の照射量は、100〜8000mJ/cm2が好ましい。使用する活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサンの種類によっては、活性エネルギー線照射のみでは硬化が完結しないことがある。この場合は、活性エネルギー線照射後に薄膜を加熱(以下、後加熱と記述する)することにより硬化を完結することができる。後加熱の好ましい温度域は、50〜200℃である。
まず、基板上にクラッド用活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物をスピンコートし、塗布物に活性エネルギー線照射により硬化させて下部クラッド層を形成する。次いで,この下部クラッド層上にコア用活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物をスピンコートし、塗布物に活性エネルギー線照射により硬化させてコア層を形成し、このコア層を必要に応じて所望の形状に加工してクラッド層より屈折率の高いコア層を形成する。このコア層を所望の形状に加工、すなわち、パターン化するためには、その形状が描画されたフォトマスクを介してコア層に活性エネルギー線を照射し、必要に応じて上記の後加熱を行った後、有機溶媒を使用して未露光部を溶解除去するとよい。ここで使用する有機溶媒としては、(C)有機溶媒がよい。このコア層上、すなわち、パターン化されたコア層上と下部クラッド層上にクラッド用活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物を塗布し活性エネルギー線照射により硬化させて上部クラッド層を形成すると、クラッド層−コア層−クラッド層からなる光導波路が得られる。上記製造方法において、コア用活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物の硬化物は、クラッド用活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物の硬化物よりも大きな屈折率を有している。活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物を塗布する際には、スピンコート法の替わりに、溶媒キャスト法を使用してもよい。
使用するエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の構造は、13CNMRおよび29SiNMRを測定して決定した。
エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の数平均分子量は、GPCを使用し、ポリスチレン標品との比較から算出した。
シラノール基とメトキシ基含有量は、29Si NMR法により測定した。活性エネルギー線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物を硬化させるための活性エネルギー線源は、山下電装株式会社製ディープUV照射装置を使用した。
硬化物の屈折率は、硬化物を切断して5mm角の立方体とし、各面を研磨して、カルニュー光学工業株式会社製デジタル精密屈折計KPR−200を用いて、波長435〜1550nmの範囲で測定した。
硬化物の光透過率は、硬化物を切断し、研磨して作製した厚さ3mmの平板を、自記分光光度計により波長300〜2500nmの範囲で測定した。
膜厚は、Tencor製アルファステップ200により測定した。
尚、下記の平均シロキサン単位式中Me,Ph,Vi,E3はそれぞれメチル基、フェニル基、ビニル基、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチル基を意味する。
トルエン500g、2-プロパノール142g、水142gの混合物中でフェニルトリクロロシラン505g、ジメチルジクロロシラン47gの混合物を共加水分解縮合してシラノール基含有メチルフェニルポリシロキサン樹脂溶液を調製した。この溶液を炭酸水素ナトリウム飽和水溶液により中和し、水洗し、加熱下で水を完全に除去した。この残液に2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン226g、50重量%水酸化カリウム水溶液2gを加え、加熱下攪拌しつつ、水、メタノールおよびトルエンを共沸脱水により除いた。この操作中、適宜トルエンを加え、固形分濃度を約50重量%に保持した。シラノール基の脱水縮合反応が終了後、さらに数時間還流を続けて平衡化反応を終了した。冷却後、固体酸性吸着剤で反応系を中和し、該吸着剤をろ別することにより、平均シロキサン単位式:[Me2SiO2/2]0.10[PhSiO3/2]0.65[E3SiO3/2]0.25を有するエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂のトルエン溶液(固形分:499g)を得た。このエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の数平均分子量は2500であり、フェニル基含有量は59モル%であり、シラノール基とメトキシ基の合計含有量は0.8モル%であった。下記の実施例用にトルエンを除去した。
出発原料としてフェニルトリクロロシラン315g、メチルトリクロロシラン191g、ジメチルジクロロシラン55g、2-(3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン262gを使用した以外は、参考例1と同様に反応を行って、平均単位式:[Me2SiO2/2]0.10[MeSiO3/2]0.30[PhSiO3/2]0.35[E3SiO3/2]0.25を有するエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂のトルエン溶液(固形分:490g)を調製した。このエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の数平均分子量は3700であり、フェニル基含有量は32モル%であり、シラノール基とメトキシ基の合計含有量は0.9モル%であった。下記の実施例用にトルエンを除去した。
成分(A)としての参考例2で得られたエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A2)、成分(B)としてのp-トリル-ドデシルフェニル-ヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、および成分(C)としての、イソプロピル−9H−チオキサンセン−9−オン(略称ITX)、キサントン、アントロン、ベンゾフェノン、4,4‘−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン(Michler's ketone)、ジエトキシアセトフェノン、チバ・スペシャリティ・ケミカルズ株式会社製品であるDarocure1173(2−ヒドロキシ-2-メチル-1-フェニルプロパン-1-オン)、Irgacure184(1-ヒドロキシ-シクロヘキシル-フェニルケトン)、Irgacure369[2-ベンジル-2-ジメチルアミノ-1-(4-モルフォリノフェニル)-ブタノン-1]またはIrgacure651(2,2-ジメトキシ-1,2-ジフェニルエタン-1-オン)、および成分(D)としてのアニソールを各100:3:0.6:40の重量比で混合してクラッド用紫外線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物1〜10を調製した。チャンバー閉鎖系において、上記クラッド用紫外線硬化性エポキシ基オルガノポリシロキサン樹脂組成物1〜10をシリコン基板上に回転数を100〜1000rpmと段階的に回転数を調整しながらスピンコートを行い、80℃で5分間放置して表面タックのない状態にした。シリコン基板上の薄膜に照射量1J/cm2の紫外線を照射し、さらに80℃で5分間加熱することにより、それぞれ均一な厚さ50μmのエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物を得た。これらシリコン基板上に形成された硬化物を100℃、120℃、140℃のホットプレートに1分間づつ順次のせることにより後加熱を行い、シリコン基板からの硬化物の剥がれを観測した結果を表1に示した。
成分(A)としての参考例2で得られたエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A2)、成分(B)としてのp-トリル-ドデシルフェニル-ヨードニウムヘキサフルオロアンチモネート、および成分(D)としてのアニソールを100:3:40の重量比で混合してクラッド用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物(比較組成物1)を調製した。実施例1と同様にシリコン基板にスピンコートし、紫外線照射し、加熱してシリコン基板に接着した厚さ50μmのエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物を得た。実施例1と同様に、シリコン基板に接着した硬化物を後加熱し、シリコン基板からの硬化物の剥がれを観察してその結果を表1に示した。
参考例1で得られたエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A1)と参考例2で得られたエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A2)を7/3の重量比で混合し、成分(A)としてのこの混合物と、成分(B)としてのp-トリル-ドデシルフェニル-ヨードニウムヘキサフルオロアンチモネートと、成分(C)としてのITX、キサントン、アントロン、Darocure1173またはIrgacure184と、成分(D)としてのアニソールを各100:3:0.6:40の重量比で混合してコア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物11〜15を調製した。これらオルガノポリシロキサン樹脂組成物11〜15について、ポリテトラフルオロエチレン樹脂カップ中でアニソールを留去して厚さ1cmほどのディスクにし、上下から照射量計10J/cm2の紫外線照射を行って、エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物を得た。これら硬化物を切削、研磨することにより試験片を作成し、光透過率と屈折率を測定してその結果を表2に示した。表に示した数値は1550nmにおける値である。なお、これら試験片は気泡を含んでいなかった。通信波長帯での光透過率が高く、伝送損失が僅少である。高温に曝されても光透過率や屈折率の変化がわずかである。
参考例1で得られたエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A1)と参考例2で得られたエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂(A2)を7/3の重量比で混合し、成分(A)としてのこの混合物と、成分(B)としてのp-トリル-ドデシルフェニル-ヨードニウムヘキサフルオロアンチモネートと、成分(D)としてのアニソールを各100:3:40の重量比で混合して紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物(比較組成物2)を調製した。比較組成物2について、実施例2と同様に硬化させてエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物を得た。この硬化物の光透過率と屈折率を測定してその結果を表2に示した。
チャンバー閉鎖系において、実施例1で調製したクラッド用紫外線硬化性エポキシ基オルガノポリシロキサン樹脂組成物1(成分(C)としてITXを含有)をシリコン基板上に回転数を100〜1000rpmと段階的に増やしながらスピンコートし、80℃で5分間放置して表面タックのない状態にした。シリコン基板上の薄膜に照射量1J/cm2の紫外線を照射し、ついで80℃で5分間加熱することにより、均一な厚さ50μmのエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物薄膜を得た。次に、この硬化物薄膜を下部クラッド層とし、その上に実施例2で調製したコア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物11(成分(C)としてITXを含有)を上記と同一条件でスピンコートし、80℃で5分間放置してタックのない状態にした。このオルガノポリシロキサン樹脂組成物11の未硬化物薄膜に、線幅50μm、長さ5cmの長方形の光路形状を有するガラスマスクを通して照射量1.0J/cm2の紫外線を照射し、ついで80℃で5分間加熱することにより、露光部を硬化させた。未露光部をメチルイソブチルケトンで溶解除去することにより、均一な厚さ50μm、線幅50μm、長さ5cmのエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物からなるコアパターンを調製した。このようにして作製した下部クラッド層とコアパターン上に、クラッド用紫外線硬化性エポキシ基オルガノポリシロキサン樹脂組成物1(成分(C)としてITXを含有)を、上記と同一条件でスピンコートし、紫外線照射した。その上に再度クラッド用紫外線硬化性エポキシ基オルガノポリシロキサン樹脂組成物1(成分(C)としてITXを含有)を上記と同一条件でスピンコートし、紫外線照射することにより、下部クラッド層とコアパターン上に上部クラッド層を形成した。この上部クラッド層に更に照射量3J/cm2の紫外線を照射し、80℃で5分間加熱することにより、シリコン基板上に合計厚さ150μmのチャネル型光導波路を作製した。このチャネル型光導波路の下部クラッド層はシリコン基板によく接着しており、実施例1と同一条件の後加熱後も剥がれが生じず、シリコン基板への良好な接着性を示すことが確認された。
次に、クラッド用紫外線硬化性エポキシ基オルガノポリシロキサン樹脂組成物1(成分(C)としてITXを含有)の替わりにクラッド用紫外線硬化性エポキシ基オルガノポリシロキサン樹脂組成物2、3、7、8(成分(C)としてキサントン、アントロン、Darocure1173またはIrgacure184を含有)を使用して上記と同一条件でチャンネル型光導波路を作成した。これらチャネル型光導波路の下部クラッド層は、実施例1と同一条件の後加熱後も剥がれが生じず、シリコン基板への良好な接着性を示すことが確認された。なお、硬化した露光部はメチルイソブチルケトンにより溶解されず、未露光部はメチルイソブチルケトンで溶解除去されたことから、硬化物は耐溶剤性があることがわかる。これら硬化した各層は、気泡を含んでいなかった。
実施例3において、比較例1で調製した光増感剤も光ラジカル発生剤も含有していないクラッド用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物(比較組成物1)と実施例2で調製したコア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物11(成分(C)としてITXを含有)を使用して、実施例3と同様にチャネル型光導波路を作製しようとしたが、作製中に下部クラッド層がシリコン基板からはがれたためチャネル型光導波路を作製できなかった。
チャンバー閉鎖系において、実施例1で調製したクラッド用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物1(成分(C)としてITX含有)をシリコン基板上に回転数を100〜1000rpmと段階的に増やしながらスピンコートを行い、80℃で5分間放置して表面タックのない状態にした。シリコン基板上の薄膜に照射量1J/cm2の紫外線を照射し、ついで80℃で5分間加熱することにより、均一な厚さ50μmのエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物薄膜を得た。次に、このシリコン基板に接着した硬化物薄膜を下部クラッド層とし、その上に実施例2で調製したコア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物11〜15を上記と同一条件でスピンコートし、80℃で5分間放置してタックのない状態にした。この薄膜に、線幅50μm、長さ5cmの長方形の光路形状を有するガラスマスクを通して0.1〜1.25J/cm2の範囲で照射量を変えて紫外線を照射し、ついで80℃で5分間加熱することにより、露光部を硬化させた。未露光部をメチルイソブチルケトンで溶解除去することにより、均一な厚さ50μm、線幅50μm、長さ5cmのエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂の硬化物からなるコアパターンを調製した。この際のパタ−ン化されたコア断面が矩形となる最低の紫外線照射量をパターニング性として表2に示した。なお、硬化した露光部はメチルイソブチルケトンにより溶解されず、未露光部はメチルイソブチルケトンで溶解除去されたことから、硬化物は耐溶剤性があることがわかる。これら硬化した各層は、気泡を含んでいなかった。このコアパターンは140℃に後加熱した後もその矩形が崩れることが無く、形態保持性に優れていた。
実施例4において、コア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物11〜15の替わりに、比較例2で調製したコア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物(比較組成物2)を使用し、その他は同一条件で、下部クラッド層上にコアパターンを形成した。そのときのパターニング性を表2に示した。
光増感剤あるいは光ラジカル発生剤を含むコア用紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物11〜15の硬化物の屈折率、光透過率は、光増感剤も光ラジカル発生剤も含有しない紫外線硬化性エポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂組成物(比較組成物2)の硬化物の屈折率、光透過率と殆ど同一であり、光増感剤あるいは光ラジカル発生剤が光学特性に殆ど影響しないことが確認された。
Claims (8)
- (A)平均シロキサン単位式(1)
(R1R2R3SiO1/2)a(R4R5SiO2/2)b(R6SiO3/2)c(SiO4/2)d (1)
(式中、R1,R2,R3,R4,R5, R6は炭素原子数1〜6の一価脂肪族炭化水素基、炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基およびエポキシ基含有一価炭化水素基から選択される有機基であり、エポキシ基含有一価炭化水素基を有するシロキサン単位が一分子中2〜50モル%であり、全有機基の15モル%以上が炭素原子数6〜10の一価芳香族炭化水素基であり、a+b+c+d=1であり、0≦a<0.4,0<b<0.5,0<c<1,0≦d<0.4であり、0.01≦b/c≦0.3である。)で表されるエポキシ基含有オルガノポリシロキサン樹脂 100重量部、
(B)光重合開始剤0.05〜20重量部、
(C)光増感剤あるいは光ラジカル発生剤0.01〜20重量部、および
(D)有機溶媒0〜5000重量部からなることを特徴とする活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。 - 光伝送部材用である請求項1記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
- 光伝送部材が基板に接着していることを特徴とする請求項2記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
- 光伝送部材が光導波路である請求項2または請求項3記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
- 活性エネルギー線が紫外線である請求項1〜請求項4のいずれかに記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物。
- 請求項1記載の活性エネルギー線硬化型オルガノポリシロキサン樹脂組成物への活性エネルギー線照射による硬化物からなることを特徴とする光伝送部材。
- 硬化物が基板に接着していることを特徴とする請求項6記載の光伝送部材。
- 1)基板上に請求項1記載の活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物を塗布し、2)塗布された活性エネルギー線硬化性オルガノポリシロキサン樹脂組成物に活性エネルギー線を照射して硬化させ、必要に応じて後加熱することを特徴とする光伝送部材の製造方法。
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