JP4576900B2 - 積層セラミック電子部品の製造方法 - Google Patents
積層セラミック電子部品の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4576900B2 JP4576900B2 JP2004183378A JP2004183378A JP4576900B2 JP 4576900 B2 JP4576900 B2 JP 4576900B2 JP 2004183378 A JP2004183378 A JP 2004183378A JP 2004183378 A JP2004183378 A JP 2004183378A JP 4576900 B2 JP4576900 B2 JP 4576900B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- alignment mark
- ceramic green
- green sheet
- unit
- unit laminate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Description
13,15 上層
14,16 下層
21 積層セラミックコンデンサ
22 部品本体
23 誘電体セラミック層
24,25 内部電極
31 キャリアフィルム
32 第1のセラミックグリーンシート
33,37 内部導体膜
34,35,38,39,49〜56,65〜68 アライメントマーク
36 第2のセラミックグリーンシート
42,43,57,58,64 カメラ視野
44,45,59,60,70 平均的な位置
46,61 積層中心
Claims (6)
- セラミックグリーンシートを成形する工程と、前記セラミックグリーンシート上に位置されるべき内部導体膜を形成するとともに前記内部導体膜と一定の位置関係をもって前記内部導体膜と同時にアライメントマークを形成する工程とを実施することによって、積層された複数枚の前記セラミックグリーンシートおよび各前記セラミックグリーンシート上に位置する前記内部導体膜を備えるとともに、積層された複数枚の前記セラミックグリーンシートの各々上に位置する複数個の前記アライメントマークが積層方向に並んでいる、単位積層体を作製する、単位積層体作製工程と、
複数個の前記単位積層体を積層する、単位積層体積層工程と
を備え、
前記単位積層体作製工程と前記単位積層体積層工程との間において、異なる前記セラミックグリーンシート上に位置される複数個の前記内部導体膜の各々と同時に形成された積層方向に並ぶ複数個の前記アライメントマークの各位置を測定する工程と、測定された各前記位置から複数個の前記アライメントマークの平均的な位置を求める工程とが実施され、前記単位積層体積層工程は、前記平均的な位置を基準として複数個の前記単位積層体を積層する工程を備える、積層セラミック電子部品の製造方法。 - 前記アライメントマークの位置を測定する工程において測定される前記アライメントマークは、前記単位積層体における外部に露出する面上に形成された前記アライメントマークを含む、請求項1に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
- 前記アライメントマークは、前記セラミックグリーンシート上に形成される、請求項1または2に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
- 前記アライメントマークの位置を測定する工程において測定される前記アライメントマークは、前記単位積層体の外表面を与える前記セラミックグリーンシート上に形成された前記アライメントマーク、および前記単位積層体において少なくとも1枚のセラミックグリーンシートを介して外部から透視できる前記アライメントマークを含む、請求項3に記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
- 前記アライメントマークの平均的な位置を求める工程は、測定された複数個の前記アライメントマークの位置の重心位置を求める工程を備える、請求項1ないし4のいずれかに記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
- 前記アライメントマークの位置を測定する工程の後、測定された前記位置の、設計値からのずれ量を求める工程をさらに備え、その後、前記設計値からのずれ量が最も小さい前記アライメントマークと最も大きい前記アライメントマークとについて、前記アライメントマークの位置を測定する工程と、前記アライメントマークの平均的な位置を求める工程とを実施する、請求項1ないし5のいずれかに記載の積層セラミック電子部品の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004183378A JP4576900B2 (ja) | 2004-06-22 | 2004-06-22 | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004183378A JP4576900B2 (ja) | 2004-06-22 | 2004-06-22 | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006012879A JP2006012879A (ja) | 2006-01-12 |
JP4576900B2 true JP4576900B2 (ja) | 2010-11-10 |
Family
ID=35779793
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004183378A Active JP4576900B2 (ja) | 2004-06-22 | 2004-06-22 | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4576900B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010238989A (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-21 | Tdk Corp | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JP2019161212A (ja) * | 2018-03-09 | 2019-09-19 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層型キャパシタ |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08167544A (ja) * | 1994-12-09 | 1996-06-25 | Tdk Corp | 積層セラミック電子部品製造装置 |
JPH1145838A (ja) * | 1997-06-18 | 1999-02-16 | Hitachi Metals Ltd | セラミック積層部品及びセラミックグリーンシート |
JP2000021680A (ja) * | 1998-07-06 | 2000-01-21 | Tdk Corp | 積層チップ部品の製造方法及びその装置 |
JP2001085271A (ja) * | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Tdk Corp | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JP2003133170A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-05-09 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
-
2004
- 2004-06-22 JP JP2004183378A patent/JP4576900B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08167544A (ja) * | 1994-12-09 | 1996-06-25 | Tdk Corp | 積層セラミック電子部品製造装置 |
JPH1145838A (ja) * | 1997-06-18 | 1999-02-16 | Hitachi Metals Ltd | セラミック積層部品及びセラミックグリーンシート |
JP2000021680A (ja) * | 1998-07-06 | 2000-01-21 | Tdk Corp | 積層チップ部品の製造方法及びその装置 |
JP2001085271A (ja) * | 1999-09-16 | 2001-03-30 | Tdk Corp | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
JP2003133170A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-05-09 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006012879A (ja) | 2006-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5332475B2 (ja) | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 | |
JP5589982B2 (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
KR20060103834A (ko) | 적층전자부품 및 그 제조방법 | |
KR20150050421A (ko) | 적층 세라믹 콘덴서 | |
US7828033B2 (en) | Method of manufacturing multilayer capacitor and multilayer capacitor | |
JP4375006B2 (ja) | 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 | |
KR20010070317A (ko) | 적층 세라믹 전자 부품 및 그 제조 방법 | |
JP2020167198A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
WO2006040959A1 (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法とその製造装置 | |
JP2020167197A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2020068227A (ja) | 積層セラミック電子部品 | |
JP2009043867A (ja) | セラミックグリーンシート構造、及び、積層セラミック電子部品の製造方法 | |
JP2004063766A (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法及びグラビア印刷方法 | |
JP2019140374A (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法及び積層セラミック電子部品 | |
JP2015053512A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP4576900B2 (ja) | 積層セラミック電子部品の製造方法 | |
JP4539489B2 (ja) | 積層コンデンサの製造方法 | |
JP6024353B2 (ja) | 積層型電子部品 | |
JP2005327999A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2004165375A (ja) | セラミック積層体の製法 | |
JP2010016101A (ja) | 積層型電子部品の製造方法 | |
KR100846079B1 (ko) | 적층 콘덴서의 제조 방법 및 적층 콘덴서 | |
JP2002299149A (ja) | 積層セラミックコンデンサ | |
JP2006013245A (ja) | 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法 | |
JP2010080615A (ja) | 積層コンデンサ、積層コンデンサの実装構造及び積層コンデンサの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070406 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091222 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100727 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100809 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130903 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4576900 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |