JP4564030B2 - 不揮発性メモリ、該不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置及び方法 - Google Patents
不揮発性メモリ、該不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置及び方法 Download PDFInfo
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Description
一般的な不揮発性メモリ100は、複数のページ111を含む複数のブロック110から形成され、各ブロック110のサイズは、16KB、64KB、128KB、256KBなどでブロックに含まれたページの数とページサイズにより決定される。この時、ブロックは不揮発性メモリでの削除単位であり、ページは書き込み単位である。
また、同じ状態を持つスロットの数情報のみを記録するので、メタデータを記録する場合に比べて不揮発性メモリの空間を効率的に使用できる。
図示されたように、本発明の実施形態による不揮発性メモリ400は、複数のページ410、420を備える複数のブロック401から形成されている。本発明の実施形態でページは、データの読み取り/書き込み単位と理解し、ブロックはデータの削除単位と理解しうる。
次いで、制御部820は、第1ページ410とバインディングされた第2ページ420にデータを記録する(S830)。すなわち、制御部820は記録するデータの中で第2ページ420に記録されるデータを第2データ領域421に記録する時に共に、カウント部830により生成されたカウント情報を第2カウント情報領域422に状態別に記録する。例えば、第1フィールド450には第1状態であるスロットの数を、第2フィールド460には第2状態であるスロットの数を、第3フィールド470には第3状態であるスロットの数を、第4フィールド480には第4状態であるスロットの数を記録する。
410 第1ページ
420 第2ページ
820 制御部
830 カウント部
840 有効性判断部
Claims (14)
- 所定メモリセルに印加される電圧によって少なくとも2ビットで具現される複数の状態によって所定ブロックに含まれた複数のページにデータを格納し、
前記ブロックは、ユーザが記録するデータが格納される第1データ領域を含む第1ページと、
前記ユーザが記録するデータが格納される第2データ領域を含む第2ページと、
を含み、
前記第2ページは、前記第1データ領域及び前記第2データ領域で同じ位置のビット対が表す状態がカウントされたカウント情報が記録される不揮発性メモリ。 - 前記第2ページは、データ記録時に前記第2ページに含まれたビットが1から0にのみ変わり、データ削除時に前記第2ページに含まれたビットが0から1にのみ変わる請求項1に記載の不揮発性メモリ。
- 前記ビット対は、前記メモリセルに印加される電圧によって11、01、00、10順に順次に変更される請求項1に記載の不揮発性メモリ。
- 所定メモリセルに印加される電圧によって少なくとも2ビットで具現される複数の状態によって所定ブロックに含まれた第1ページ及び第2ページにデータを格納する不揮発性メモリと、
前記第1ページ及び前記第2ページで同じ位置のビット対が表す状態をカウントして第1カウント情報を生成するカウント部と、
前記生成された第1カウント情報を前記第2ページに格納する制御部と、
前記格納された第1カウント情報と、前記第1ページ及び前記第2ページのデータから抽出された第2カウント情報とを比較して、前記データの有効性を判断する有効性判断部と、を備える不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置。 - 前記第2ページは、データ記録時にビットが1から0にのみ変わり、データ削除時に前記ビットが0から1にのみ変わる請求項4に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置。
- 前記第1ページは、第1カウント情報領域とユーザが記録するデータが格納される第1データ領域とを備え、前記第2ページは、前記第1カウント情報が記録される第2カウント情報領域と前記ユーザが記録するデータが格納される第2データ領域とを備える請求項4に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置。
- 前記カウント部は、前記第1データ領域及び前記第2データ領域で同じ位置のビット対が表す状態をカウントして前記第2カウント情報を生成する請求項6に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置。
- 前記有効性判断部は、前記第1カウント情報と前記第2カウント情報とが一致する場合、前記第1データ領域及び前記第2データ領域に格納されているデータを有効なものと判断する請求項7に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置。
- 前記ビット対は、前記メモリセルに印加される電圧によって11、01、00、10順に順次に変更される請求項4に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置。
- 所定メモリセルに印加される電圧によって少なくとも2ビットで具現される複数の状態によって所定ブロックに含まれた第1ページ及び第2ページにデータを格納する不揮発性メモリで、前記第1ページ及び前記第2ページの同じ位置のビット対が表す状態をカウントして第1カウント情報を生成するステップと、
前記生成された第1カウント情報を前記第2ページに格納するステップと、
前記格納された第1カウント情報と、前記第1ページ及び前記第2ページのデータから抽出された第2カウント情報とを比較して、前記データの有効性を判断するステップと、を含む不揮発性メモリのデータ有効性を判断する方法。 - 前記第2ページは、データ記録時にビットが1から0にのみ変わり、データ削除時に前記ビットが0から1にのみ変わる請求項10に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する方法。
- 前記第1ページは、第1カウント情報領域とユーザが記録するデータが格納される第1データ領域とを備え、前記第2ページは、前記第1カウント情報が記録される第2カウント情報領域と前記ユーザが記録するデータが格納される第2データ領域とを備える請求項10に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する方法。
- 前記有効性を判断するステップは、
前記第1データ領域及び前記第2データ領域で同じ位置のビット対が表す状態をカウントして前記第2カウント情報を生成するステップと、
前記第1カウント情報と前記第2カウント情報とが一致する場合、前記第1データ領域及び前記第2データ領域に格納されているデータを有効なものと判断するステップと、を含む請求項12に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する方法。 - 前記ビット対は、前記メモリセルに印加される電圧によって11、01、00、10順に順次に変更される請求項10に記載の不揮発性メモリのデータ有効性を判断する方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060058219A KR100736103B1 (ko) | 2006-06-27 | 2006-06-27 | 비휘발성 메모리, 상기 비휘발성 메모리의 데이터 유효성을판단하는 장치 및 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008010140A JP2008010140A (ja) | 2008-01-17 |
JP4564030B2 true JP4564030B2 (ja) | 2010-10-20 |
Family
ID=38503342
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007167623A Active JP4564030B2 (ja) | 2006-06-27 | 2007-06-26 | 不揮発性メモリ、該不揮発性メモリのデータ有効性を判断する装置及び方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7573754B2 (ja) |
JP (1) | JP4564030B2 (ja) |
KR (1) | KR100736103B1 (ja) |
CN (1) | CN101097781B (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8358227B2 (en) * | 2007-11-06 | 2013-01-22 | GM Global Technology Operations LLC | Multi-cell voltage secure data encoding in hybrid vehicles |
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KR101603099B1 (ko) | 2009-10-01 | 2016-03-28 | 삼성전자주식회사 | 불안정 메모리 셀 산포를 검출하는 메모리 시스템 및 상기 불안정 메모리 셀 산포 검출방법 |
KR101666987B1 (ko) | 2010-04-20 | 2016-10-17 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 그것의 동작 방법 |
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KR102106959B1 (ko) | 2013-02-21 | 2020-05-07 | 에프아이오 세미컨덕터 테크놀로지스, 엘엘씨 | 멀티 레벨 셀 비휘발성 메모리 시스템 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP3692313B2 (ja) | 2001-06-28 | 2005-09-07 | 松下電器産業株式会社 | 不揮発性メモリの制御方法 |
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KR100526188B1 (ko) | 2003-12-30 | 2005-11-04 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리의 주소 사상 방법, 사상 정보 관리 방법 및상기 방법을 이용한 플래시 메모리 |
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-
2006
- 2006-06-27 KR KR1020060058219A patent/KR100736103B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-03-23 US US11/727,073 patent/US7573754B2/en active Active
- 2007-06-26 CN CN2007101126685A patent/CN101097781B/zh active Active
- 2007-06-26 JP JP2007167623A patent/JP4564030B2/ja active Active
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101097781A (zh) | 2008-01-02 |
CN101097781B (zh) | 2010-06-09 |
JP2008010140A (ja) | 2008-01-17 |
US20070297265A1 (en) | 2007-12-27 |
US7573754B2 (en) | 2009-08-11 |
KR100736103B1 (ko) | 2007-07-06 |
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Legal Events
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