JP4540540B2 - 遅延計算装置 - Google Patents
遅延計算装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4540540B2 JP4540540B2 JP2005134012A JP2005134012A JP4540540B2 JP 4540540 B2 JP4540540 B2 JP 4540540B2 JP 2005134012 A JP2005134012 A JP 2005134012A JP 2005134012 A JP2005134012 A JP 2005134012A JP 4540540 B2 JP4540540 B2 JP 4540540B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- delay
- clock circuit
- cell
- library
- clock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/32—Circuit design at the digital level
- G06F30/33—Design verification, e.g. functional simulation or model checking
- G06F30/3308—Design verification, e.g. functional simulation or model checking using simulation
- G06F30/3312—Timing analysis
Description
図1を参照して、本実施形態では、MOSトランジスタが集積化された半導体基板2と、共通レイヤ3と、カスタマイズレイヤ4とで構成されたストラクチャードASIC1の遅延計算を行うための技術が提供される。共通レイヤ3とは、様々なストラクチャードASIC1に共通に集積化される回路群(例えば、I/Oバッファ、電源回路)の配線が形成される配線レイヤであり、カスタマイズレイヤ4とは、個々のユーザの仕様に合わせて設計された配線が集積化される配線レイヤである。半導体基板2と共通レイヤ3とは、ベンダーによって予め用意される部分であり、これらはまとめてマスタスライスと呼ばれることがある。本実施形態では、クロックを分配するためのクロック回路は、マスタスライスに集積化される。これは、共通のクロック回路を様々なストラクチャードASIC1に集積化するために重要である。
図4は、一実施形態におけるクロック回路遅延ライブラリ17の生成の手順を示すフローチャートである。既述のように、クロック回路遅延ライブラリ17の生成は、遅延計算システム10のクロック回路遅延ライブラリ生成ツール15によって行われる。
(1)クロック回路5に含まれるセル7、及び配線8それぞれの遅延時間
(2)クロック回路5の、ルートセル7a以外のセル7のそれぞれの入力波形鈍り(即ち、セル7の入力信号のスルーレート)
(3)ルートセル7aの出力端子の負荷容量
が算出される。
(1)ルートセル7aの出力端子からリーフセル7bの入力端子までの範囲の遅延時間データ
(2)ルートセル7aの出力端子の負荷容量(即ち、ルートセル7aに接続されている配線8の配線容量と、その配線8に接続されているセル7の入力容量の和)
(3)クロック回路5のリーフセル7bのそれぞれの入力波形鈍り(即ち、入力端子に入力される入力信号のスルーレート)
を含んで構成される。以下、クロック回路遅延ライブラリ17に格納されるデータのそれぞれについて説明する。
(1)クロック回路5に含まれるセル7、及び配線8それぞれの遅延時間
(2)クロック回路5の、ルートセル7a以外のセル7のそれぞれの入力波形鈍り(即ち、セル7の入力信号のスルーレート)
(3)ルートセル7aの出力端子の負荷容量
が、ロジック回路6が存在しない場合に対応するクロック回路ネットリスト20Aと、ロジック回路6が存在する場合に対応するクロック回路ネットリスト20Bのそれぞれについて算出される。この遅延計算は、アナログシミュレーションによって行われる。
(1)ルートセル7aの出力端子からリーフセル7bの入力端子までの範囲の遅延時間データ
(2)ルートセル7aの出力端子の負荷容量(即ち、ルートセル7aに接続されている配線8aの配線容量と、その配線8aに接続されている次段セル7cの入力容量の和)
(3)クロック回路5のリーフセル7bのそれぞれの入力波形鈍り(即ち、入力端子に入力される入力信号のスルーレート)
に加え、ステップS04で算出されたパス遅延時間の差分が、クロックスキューマージンとしてクロック回路遅延ライブラリ17Aに格納される。ストラクチャードASIC1のタイミング検証では、遅延計算によって算出されたクロック回路5のクロックスキューとクロックスキューマージンとの和が所定の基準値よりも小さいときに、クロック回路5のクロックスキューが適正であると判断される。
上述されているように、ストラクチャードASIC1全体の遅延計算は、クロック回路遅延ライブラリ17(又は17A)を用いて行われる。図10は、ストラクチャードASIC1全体の遅延計算の手順を示すフローチャートである。
(1)ストラクチャードASIC1に含まれる各セル及び各配線の遅延時間(クロック回路5に含まれるセル7及び各配線8の遅延時間を含む。)
(2)ストラクチャードASIC1に含まれる各セルの入力波形鈍り
が記述される。クロック回路5に含まれるセル7及び各配線8の遅延時間に加えて、又はその代わりに、ルートセル7aの出力端子から各リーフセル7bの入力端子までのパスのパス遅延時間が遅延計算結果データ23に含められることも可能である。ストラクチャードASIC1のタイミング検証は、このようにして生成された遅延計算結果データ23に記述された遅延時間や入力波形鈍りに基づいて行われる。
2:半導体基板
3:共通レイヤ
4:カスタマイズレイヤ
5:クロック回路
6:ロジック回路
7:セル
7a:ルートセル
7b:リーフセル
7c:次段セル
8、8a:配線
9:回路
10:遅延計算システム
11:CPU
12:入力装置
13:出力装置
14:記憶装置
15:クロック回路遅延ライブラリ生成ツール
16:遅延計算ツール
17、17A:クロック回路遅延ライブラリ
18:セル遅延ライブラリ
19:ネットリスト
19A:ユーザ回路なしネットリスト
19B:ユーザ回路付きネットリスト
20、20A、20B:クロック回路ネットリスト
21:計算対象ネットリスト
22:ロジック回路ネットリスト
23:遅延計算結果データ
Claims (17)
- クロック回路がマスタスライスに集積化されているストラクチャードASICの遅延計算を行うための遅延計算装置であって、
前記クロック回路の遅延計算によって得られたクロック回路遅延データを格納するクロック回路遅延ライブラリを保持する記憶装置と、
前記クロック回路を含むストラクチャードASICの遅延計算を行って前記ストラクチャードASICの遅延計算結果データを生成する遅延計算手段
とを具備し、
前記遅延計算手段は、前記クロック回路遅延データの少なくとも一部を前記クロック回路遅延ライブラリから取り出し、前記遅延計算結果データにマージするように構成され、
前記クロック回路は、クロックツリーを形成するように接続されたセル及び配線を備え、
前記セルは、前記クロックツリーの葉に対応する複数のリーフセルを含み、
前記クロック回路遅延データは、前記クロック回路の所定位置から前記リーフセルの入力端子までの範囲に対応するクロック回路遅延時間データを含み、
前記クロック回路遅延ライブラリは、前記リーフセルの遅延時間を示すデータを含まない
遅延計算装置。 - 請求項1に記載の遅延計算装置であって、
前記クロック回路遅延時間データは、前記所定位置から前記リーフセルまでのセル及び配線のそれぞれの遅延時間を含む
遅延計算装置。 - 請求項2に記載の遅延計算装置であって、
前記クロック回路遅延時間データは、前記所定位置から前記リーフセルの前記入力端子までのパスの遅延時間を含む
遅延計算装置。 - 請求項2又は請求項3に記載の遅延計算装置であって、
前記クロック回路遅延ライブラリに格納されている前記クロック回路遅延データは、前記リーフセルの入力信号のスルーレートであるリーフセル入力波形鈍りを含み、
前記遅延計算手段は、前記リーフセル入力波形鈍りを前記クロック回路遅延ライブラリから取得し、取得した前記リーフセル入力波形鈍りから前記リーフセルの遅延時間を算出し、算出した前記リーフセルの遅延時間を前記遅延計算結果データに記述する
遅延計算装置。 - 請求項2乃至請求項4のいずれか一項に記載の遅延計算装置であって、
前記セルは、前記クロックツリーの根に対応するルートセルを含み、
前記所定位置は、前記ルートセルの出力端子であり、
前記クロック回路遅延ライブラリは、前記ルートセルの遅延時間を示すデータを含まない
遅延計算装置。 - 請求項5に記載の遅延計算装置であって、
前記クロック回路遅延ライブラリに格納されている前記クロック回路遅延データは、前記ルートセルの出力端子の負荷容量を含み、
前記遅延計算手段は、前記前記ルートセルの出力端子の負荷容量を前記クロック回路遅延ライブラリから取得し、取得した前記負荷容量から前記ルートセルの遅延時間を算出し、算出した前記ルートセルの遅延時間を前記遅延計算結果データに記述する
遅延計算装置。 - クロック回路がマスタスライスに集積化されているストラクチャードASICの遅延計算を行うための遅延計算装置であって、
前記クロック回路の遅延計算によって得られたクロック回路遅延データを格納するクロック回路遅延ライブラリを保持する記憶装置と、
前記クロック回路を含むストラクチャードASICの遅延計算を行って前記ストラクチャードASICの遅延計算結果データを生成する遅延計算手段
とを具備し、
前記遅延計算手段は、前記クロック回路遅延データの少なくとも一部を前記クロック回路遅延ライブラリから取り出し、前記遅延計算結果データにマージするように構成され、
前記クロック回路は、クロックツリーを形成するように接続されたセル及び配線を備え、
前記セルは、前記クロックツリーの根に対応するルートセルと、前記クロックツリーの葉に対応する複数のリーフセルとを含み、
前記遅延計算手段には、前記ストラクチャードASICのネットリストが与えられ、
前記遅延計算手段は、
前記ストラクチャードASICのネットリストから前記ルートセルの出力端子から前記リーフセルの入力端子までの部分を削除することによりロジック回路ネットリストを作成する手段と、
前記ロジック回路ネットリストから、前記ストラクチャードASICの前記ルートセルの出力端子から前記リーフセルの入力端子までの部分以外の遅延計算を行ってロジック回路遅延計算データを生成する手段と、
前記ロジック回路遅延計算データと前記クロック回路遅延データの少なくとも一部をマージすることにより、前記ストラクチャードASICの前記遅延計算結果データを生成する手段
とを備える
遅延計算装置。 - クロック回路がマスタスライスに集積化されているストラクチャードASICの遅延計算に使用されるクロック回路遅延ライブラリを作成するためのクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
ストラクチャードASICのネットリストから、前記ストラクチャードASICのクロック回路に対応する部分のネットリストであるクロック回路ネットリストを抽出する抽出手段と、
前記クロック回路ネットリストに基づいて前記クロック回路の遅延計算を行う遅延計算手段と、
前記クロック回路の遅延計算によって得られたクロック回路遅延データをクロック回路遅延ライブラリに格納するライブラリ化手段
と具備し、
前記クロック回路は、クロックツリーを形成するように接続されたセル及び配線を備え、
前記セルは、前記クロックツリーの葉に対応する複数のリーフセルを含み、
前記クロック回路遅延データは、前記クロック回路の所定位置から前記リーフセルの入力端子までの範囲に対応するクロック回路遅延時間データを含み、
前記クロック回路遅延ライブラリは、前記リーフセルの遅延時間を示すデータを含まない
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項8に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
前記クロック回路遅延ライブラリに格納されている前記クロック回路遅延データは、前記リーフセルの入力信号のスルーレートであるリーフセル入力波形鈍りを含む
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項8に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
前記セルは、前記クロックツリーの根に対応するルートセルを含み、
前記所定位置は、前記ルートセルの出力端子であり、
前記クロック回路遅延ライブラリは、前記ルートセルの遅延時間を示すデータを含まない
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項10に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
前記クロック回路遅延ライブラリに格納されている前記クロック回路遅延データは、前記ルートセルの出力端子の負荷容量を含む
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項10に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
更に、
前記ルートセルの出力端子に接続されているセルの遅延時間の、前記ルートセルの入力波形鈍りによる影響の程度に対応するタイミングマージンを算出する手段を備え、
前記ライブラリ化手段は、前記タイミングマージンを示すデータを前記クロック回路遅延ライブラリに格納する
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - クロック回路がマスタスライスに集積化されているストラクチャードASICの遅延計算に使用されるクロック回路遅延ライブラリを作成するためのクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
ストラクチャードASICのネットリストから、前記ストラクチャードASICのクロック回路に対応する部分のネットリストであるクロック回路ネットリストを抽出する抽出手段と、
前記クロック回路ネットリストに基づいて前記クロック回路の遅延計算を行う遅延計算手段と、
前記クロック回路の遅延計算によって得られたクロック回路遅延データをクロック回路遅延ライブラリに格納するライブラリ化手段
と具備し、
前記遅延計算手段は、前記クロック回路のアナログシミュレーションによって前記遅延計算を行うと共に、前記クロック回路ネットリストに基づいたアナログシミュレーションにより前記クロック回路のシグナルインテグリティ検証を行う
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項13に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
前記クロック回路は、クロックツリーを形成するように接続されたセル及び配線を備え、
前記セルは、前記クロックツリーの根に対応するルートセルと前記クロックツリーの葉に対応するリーフセルとを含み、
前記シグナルインテグリティ検証では、前記クロックツリーの根に対応するルートセルの入力端子に許容最大周波数のクロックが入力されているという条件の下、前記リーフセルの入力端子に入力されるクロックが接地電位と電源電位との間をフルスイングするかが検証される
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項13に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
前記クロック回路は、クロックツリーを形成するように接続されたセル及び配線を備え、
前記シグナルインテグリティ検証では、前記セルのそれぞれの出力端子の電流波形に基づくエレクトロマイグレーション検証が行われる
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - 請求項13に記載のクロック回路遅延ライブラリ作成装置であって、
前記クロック回路は、クロックツリーを形成するように接続されたセル及び配線を備え、
前記シグナルインテグリティ検証では、前記セルのそれぞれの出力端子の電流波形に基づくホットキャリア信頼性検証が行われる
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。 - クロック回路がマスタスライスに集積化され、且つ、カスタマイズレイヤに配線が形成されていない第1ストラクチャードASICのネットリストから、前記クロック回路に対応する部分のネットリストである第1クロック回路ネットリストを抽出する第1抽出手段と、
前記クロック回路がマスタスライスに集積化され、且つ、カスタマイズレイヤに配線が形成されている第2ストラクチャードASICのネットリストから、前記クロック回路に対応する部分のネットリストである第2クロック回路ネットリストを抽出する第2抽出手段と、
前記第1クロック回路ネットリストと前記第2クロック回路ネットリストのそれぞれについて遅延計算を行い、前記クロック回路の内部のパスの遅延時間であるパス遅延時間を算出する遅延計算手段と、
前記第1ストラクチャードASICと前記第2ストラクチャードASICの間のパス遅延時間の差分を算出する手段と、
前記第1クロック回路ネットリストの前記遅延計算によって得られたクロック回路遅延データと前記パス遅延時間の差分とをクロック回路遅延ライブラリに格納するライブラリ化手段
とを備える
クロック回路遅延ライブラリ作成装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005134012A JP4540540B2 (ja) | 2005-05-02 | 2005-05-02 | 遅延計算装置 |
US11/414,295 US7587693B2 (en) | 2005-05-02 | 2006-05-01 | Apparatus and method of delay calculation for structured ASIC |
DE102006020186A DE102006020186A1 (de) | 2005-05-02 | 2006-05-02 | Vorrichtung und Verfahren von Verzögerungsberechnung für strukturierte ASIC |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005134012A JP4540540B2 (ja) | 2005-05-02 | 2005-05-02 | 遅延計算装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006309643A JP2006309643A (ja) | 2006-11-09 |
JP4540540B2 true JP4540540B2 (ja) | 2010-09-08 |
Family
ID=37235545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005134012A Expired - Fee Related JP4540540B2 (ja) | 2005-05-02 | 2005-05-02 | 遅延計算装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7587693B2 (ja) |
JP (1) | JP4540540B2 (ja) |
DE (1) | DE102006020186A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4283645B2 (ja) * | 2003-11-19 | 2009-06-24 | パイオニア株式会社 | 信号遅延時間測定装置及びそのためのコンピュータプログラム |
US7404169B2 (en) | 2005-05-31 | 2008-07-22 | Altera Corporation | Clock signal networks for structured ASIC devices |
JP2007299800A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路装置 |
US7587686B1 (en) | 2006-08-01 | 2009-09-08 | Altera Corporation | Clock gating in a structured ASIC |
JP2008224315A (ja) * | 2007-03-09 | 2008-09-25 | Nec Electronics Corp | テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 |
JP2009037278A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-19 | Nec Corp | 動作タイミング検証装置、方法、及び、プログラム |
US8082528B2 (en) * | 2008-07-29 | 2011-12-20 | Rambus Inc. | Process-independent schema library |
JP2010113528A (ja) * | 2008-11-06 | 2010-05-20 | Panasonic Corp | 遅延シミュレーション装置、遅延シミュレーション方法、pldマッピング装置、pldマッピング方法、及び半導体集積回路 |
JP4918934B2 (ja) * | 2009-08-21 | 2012-04-18 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路の遅延解析装置及び遅延解析方法並びにそのプログラム |
JP2011257845A (ja) * | 2010-06-07 | 2011-12-22 | Fujitsu Ltd | ディレイライブラリ生成装置,ディレイライブラリ生成プログラムおよびディレイライブラリ生成方法 |
US8762904B2 (en) | 2012-03-28 | 2014-06-24 | Synopsys, Inc. | Optimizing logic synthesis for environmental insensitivity |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0262675A (ja) * | 1988-08-29 | 1990-03-02 | Hitachi Ltd | 論理回路素子配置方法 |
JPH09259172A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Nec Corp | 論理シミュレーション用モデルの作成方法 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05152438A (ja) | 1991-11-26 | 1993-06-18 | Nec Corp | 半導体集積回路装置の形成方法 |
JP2863684B2 (ja) * | 1993-03-09 | 1999-03-03 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路のディレイ最適化システム、および、ディレイ最適化方法 |
US5864487A (en) * | 1996-11-19 | 1999-01-26 | Unisys Corporation | Method and apparatus for identifying gated clocks within a circuit design using a standard optimization tool |
JP3938220B2 (ja) * | 1996-11-29 | 2007-06-27 | 富士通株式会社 | 大規模集積回路装置の製造方法及び大規模集積回路装置 |
JP2872216B1 (ja) | 1998-03-13 | 1999-03-17 | 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 | マクロの設計方法 |
JP3317948B2 (ja) * | 2000-01-20 | 2002-08-26 | エヌイーシーマイクロシステム株式会社 | 半導体集積回路のレイアウト設計方法及び半導体集積回路 |
US6591407B1 (en) * | 2000-03-01 | 2003-07-08 | Sequence Design, Inc. | Method and apparatus for interconnect-driven optimization of integrated circuit design |
JP2001273338A (ja) | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Nec Corp | 半導体集積回路の動作タイミング検証方法 |
JP3420195B2 (ja) * | 2000-09-26 | 2003-06-23 | エヌイーシーマイクロシステム株式会社 | クロック配線の設計方法 |
US6609228B1 (en) * | 2000-11-15 | 2003-08-19 | International Business Machines Corporation | Latch clustering for power optimization |
US6763505B2 (en) * | 2002-04-04 | 2004-07-13 | International Business Machines Corporation | Apparatus and method for automated use of phase abstraction for enhanced verification of circuit designs |
US7127695B2 (en) * | 2002-07-18 | 2006-10-24 | Incentia Design Systems Corp. | Timing based scan chain implementation in an IC design |
US6981233B2 (en) * | 2003-02-24 | 2005-12-27 | Cadence Design Systems, Inc. | Method for analyzing path delays in an IC clock tree |
JP2004295330A (ja) * | 2003-03-26 | 2004-10-21 | Renesas Technology Corp | タイミング制約生成装置 |
US7191418B2 (en) * | 2004-07-12 | 2007-03-13 | Chang Gung University | Method and apparatus for rapidly selecting types of buffers which are inserted into the clock tree for high-speed very-large-scale-integration |
US7373626B2 (en) * | 2004-12-06 | 2008-05-13 | Lsi Logic Corporation | Method and timing harness for system level static timing analysis |
JP2006227762A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Nec Electronics Corp | 半導体集積回路の設計方法、および半導体集積回路の設計装置 |
US7272808B1 (en) * | 2005-06-08 | 2007-09-18 | Advanced Micro Devices, Inc. | On-chip variability impact simulation and analysis for circuit performance |
-
2005
- 2005-05-02 JP JP2005134012A patent/JP4540540B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-05-01 US US11/414,295 patent/US7587693B2/en active Active
- 2006-05-02 DE DE102006020186A patent/DE102006020186A1/de not_active Withdrawn
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0262675A (ja) * | 1988-08-29 | 1990-03-02 | Hitachi Ltd | 論理回路素子配置方法 |
JPH09259172A (ja) * | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Nec Corp | 論理シミュレーション用モデルの作成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7587693B2 (en) | 2009-09-08 |
JP2006309643A (ja) | 2006-11-09 |
DE102006020186A1 (de) | 2006-12-07 |
US20060247875A1 (en) | 2006-11-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4540540B2 (ja) | 遅延計算装置 | |
JP4634269B2 (ja) | クロストークを考慮したタイミング分析のためのシステム、方法及び論理装置 | |
US9367660B2 (en) | Electromigration-aware layout generation | |
CN106326510B (zh) | 验证时钟树延迟 | |
JP2007183932A (ja) | タイミング解析方法及びタイミング解析装置 | |
US9009645B2 (en) | Automatic clock tree routing rule generation | |
JP2010020372A (ja) | 遅延ライブラリ、遅延ライブラリの作成方法、および遅延計算方法 | |
US10318684B2 (en) | Network flow based framework for clock tree optimization | |
US10255403B1 (en) | Method and apparatus for concurrently extracting and validating timing models for different views in multi-mode multi-corner designs | |
US8037448B2 (en) | Language and templates for use in the design of semiconductor products | |
JP5699768B2 (ja) | 回路シミュレーション方法および回路シミュレーション装置 | |
US7673268B2 (en) | Method and system for incorporating via redundancy in timing analysis | |
US6687889B1 (en) | Method and apparatus for hierarchical clock tree analysis | |
JP2004133702A (ja) | 自動設計システム、及び自動設計方法 | |
US7945882B2 (en) | Asynchronous circuit logical verification method, logical verification apparatus, and computer readable storage medium | |
Friedrich et al. | Design methodology for the IBM POWER7 microprocessor | |
Nishizawa et al. | libretto: An open cell timing characterizer for open source vlsi design | |
US8818784B1 (en) | Hardware description language (HDL) incorporating statistically derived data and related methods | |
US20220327269A1 (en) | Computing device and method for detecting clock domain crossing violation in design of memory device | |
US10509882B2 (en) | Systems and methods for cell abutment | |
US11270052B2 (en) | System and method of timing characterization for semiconductor circuit | |
US8555228B2 (en) | Tool for glitch removal | |
Posser et al. | Electromigration Inside Logic Cells | |
De Villiers | Automated synthesis, placement and routing of large-scale RSFQ integrated circuits | |
US11934760B1 (en) | Voltage impacts on delays for timing simulation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080415 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100215 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100416 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100622 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100622 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |