JP4537810B2 - 実装基板の検査用データ作成方法 - Google Patents
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Description
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記アレンジメントデータには、1つの前記マウンティングデータを指定する指定データと、指定した前記マウンティングデータ座標系の原点位置および前記マウンティングデータ座標系の角度を指定する配置データとが含まれ、
前記アレンジメントデータは、前記マウンティングデータをコピーして展開配置するための展開情報を含むことを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記検査用データは、検査対象とする各電子部品の各部位を対象とするモジュールデータを含み、
前記マウンティングデータでは、各電子部品毎の公差が設定可能とされ、
その公差は、各電子部品毎に設定される各部品の代表公差であり、
各モジュールデータでは、前記モジュールデータに関連付けて設定された公差の付加値が前記代表公差に付加されて、各電子部品の検査対象とする各部位の公差として設定可能とされたことを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記マウンティングデータでは、電子部品毎の公差が設定可能とされ、
前記検査用データは、電子部品の種類毎に標準公差を設定可能とされ、
前記マウンティングデータで個別に公差が設定されていない電子部品は、前記標準公差が当該電子部品の公差として設定されることを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記検査用データは、電子部品の形状を示す数値データを有する人工部品データを含み、
前記マウンティングデータの搭載位置データは対象とする電子部品の前記人工部品データに関連付けられ、
外観が共通する電子部品を対象とする複数の搭載位置データは、同一の人工部品データに関連付け可能であることを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
E 電子部品
P 実装基板
Claims (4)
- 実装基板上に搭載された電子部品の実装状態を検査するための検査用データの作成方法であって、
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記アレンジメントデータには、1つの前記マウンティングデータを指定する指定データと、指定した前記マウンティングデータ座標系の原点位置および前記マウンティングデータ座標系の角度を指定する配置データとが含まれ、
前記アレンジメントデータは、前記マウンティングデータをコピーして展開配置するための展開情報を含むことを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
- 実装基板上に搭載された電子部品の実装状態を検査するための検査用データの作成方法であって、
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記検査用データは、検査対象とする各電子部品の各部位を対象とするモジュールデータを含み、
前記マウンティングデータでは、各電子部品毎の公差が設定可能とされ、
その公差は、各電子部品毎に設定される各部品の代表公差であり、
各モジュールデータでは、前記モジュールデータに関連付けて設定された公差の付加値が前記代表公差に付加されて、各電子部品の検査対象とする各部位の公差として設定可能とされたことを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
- 実装基板上に搭載された電子部品の実装状態を検査するための検査用データの作成方法であって、
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記マウンティングデータでは、電子部品毎の公差が設定可能とされ、
前記検査用データは、電子部品の種類毎に標準公差を設定可能とされ、
前記マウンティングデータで個別に公差が設定されていない電子部品は、前記標準公差が当該電子部品の公差として設定されることを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
- 実装基板上に搭載された電子部品の実装状態を検査するための検査用データの作成方法であって、
前記検査用データは、1または複数の電子部品の搭載位置データをマウンティングデータ座標系で規定するマウンティングデータと、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定するアレンジメントデータとを含み、前記マウンティングデータおよび前記アレンジメントデータを複数設定可能とされ、
前記検査用データは、電子部品の形状を示す数値データを有する人工部品データを含み、
前記マウンティングデータの搭載位置データは対象とする電子部品の前記人工部品データに関連付けられ、
外観が共通する電子部品を対象とする複数の搭載位置データは、同一の人工部品データに関連付け可能であることを特徴とする実装基板の検査用データ作成方法。
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JP2004266712A JP4537810B2 (ja) | 2004-09-14 | 2004-09-14 | 実装基板の検査用データ作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004266712A JP4537810B2 (ja) | 2004-09-14 | 2004-09-14 | 実装基板の検査用データ作成方法 |
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JP2006086187A JP2006086187A (ja) | 2006-03-30 |
JP4537810B2 true JP4537810B2 (ja) | 2010-09-08 |
Family
ID=36164466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004266712A Active JP4537810B2 (ja) | 2004-09-14 | 2004-09-14 | 実装基板の検査用データ作成方法 |
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WO2023135710A1 (ja) * | 2022-01-13 | 2023-07-20 | 株式会社Fuji | 表示装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2001015997A (ja) * | 1999-06-30 | 2001-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 部品実装方法 |
JP2004191085A (ja) * | 2002-12-09 | 2004-07-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査データ作成方法 |
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JPS6426982A (en) * | 1987-07-23 | 1989-01-30 | Sanyo Electric Co | Inspection device for printed board |
JP2570239B2 (ja) * | 1991-07-30 | 1997-01-08 | オムロン株式会社 | 実装部品検査用データ生成方法およびその方法の実施に用いられる実装部品検査装置 |
JPH0719829A (ja) * | 1993-06-21 | 1995-01-20 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プリント基板外観検査装置のティーチング装置 |
JPH11258176A (ja) * | 1998-03-13 | 1999-09-24 | Omron Corp | 検査装置および方法 |
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2004
- 2004-09-14 JP JP2004266712A patent/JP4537810B2/ja active Active
Patent Citations (2)
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JP2004191085A (ja) * | 2002-12-09 | 2004-07-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査データ作成方法 |
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