JP4377782B2 - 実装基板の検査方法および同装置 - Google Patents
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前記人工部品データは、前記数値データに応じて作成される電子部品の見え方を表現した人工画像を含み、
検査対象の実装基板を撮影して得られる該実装基板上の電子部品の撮像画像と前記人工画像とを照合するものとし、
前記人工部品データは、モデルデータ、モジュールデータおよびエレメントデータの3つの階層から構成され、
前記モデルデータは、検査対象とされる各電子部品に対応するデータ単位であり、
前記モジュールデータは、検査対象とする各電子部品の各部位を対象とする検査モジュールであり、
前記エレメントデータは、前記モジュールデータが検査対象とする部位の形状を構成する基本形状データを構成するものであり、
前記モジュールデータには、前記エレメントデータを指定する指定データと、前記エレメントデータが表現する形状を配置する位置及び角度を指定する配置データとが含まれ、
前記各モジュールデータ毎に、それぞれ異なる公差を設定可能となっており、
前記搭載位置データは、基板データ、アレンジメントデータおよびマウンティングデータの3つの階層から構成されるとともに、トレランスデータを含み、
前記基板データは、検査対象とされる実装基板に対応するデータ単位であり、
前記マウンティングデータは、1又は複数の電子部品の搭載位置を前記マウンティングデータの座標系で規定し、
前記マウンティングデータは、電子部品の搭載位置の公差を個別に設定でき、
前記アレンジメントデータは、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定し、
前記アレンジメントデータは、1つのマウンティングデータを指定する指定データと、指定したマウンティングデータの原点位置および前記マウンティングデータ座標系の角度を指定する配置データとが含まれ、
前記アレンジメントデータの配置データは、マウンティングデータが表現する1または複数の電子部品の配置セットをコピーして実装基板上に展開配置することができ、
前記トレランスデータは、電子部品の種類に応じて、搭載位置に関する公差と、取付姿勢に関する角度公差とを予め設定し、前記マウンティングデータにおいて搭載位置が規定された部品の公差が個別設定されていない場合には、前記トレランスデータで設定された公差が当該部品の公差として採用され、
前記トレランスデータは、部品名称変換テーブルとして機能し、この部品名称変換テーブルにより、マウンティングデータで搭載位置が指定された電子部品の部品名称が、前記人工部品データで人工画像が作成されているモデルデータを特定する部品名称に変換されるようになっていることを特徴とする実装基板の検査方法。
前記人工画像は、前記人工部品データの色データに基づく色情報を有することを特徴とする請求項1に記載の実装基板の検査方法。
前記加工は、前記電子部品の色情報と、電子部品の背景色とに応じて行われ、
前記加工は、色変化の勾配を緩和する処理を含むことを特徴とする請求項2に記載の実装基板の検査方法。
検査対象の実装基板を撮影して該実装基板上の電子部品の実装状態を取得する撮像手段と、
前記人工部品データおよび前記搭載位置データと前記撮像手段によって撮影して得られた実装状態とを照合することにより、該実装基板上の電子部品の実装状態を検査する照合手段と、
を備えたことを特徴とする実装基板の検査装置。
た加工を施されて作成されることにより、人工画像がさらに撮像画像に近似したものとな
るため、撮像画像と人工画像との照合をより正確に行うことができる。
タが検査基準とされるため、検査基準の誤差を解消し、信頼性の高い検査結果を得ること
ができる。
E 電子部品
P 実装基板
Claims (4)
- 電子部品の形状を示す数値データを含む人工部品データおよび実装基板における電子部品の搭載位置データと、検査対象の実装基板を撮影して得られる該実装基板上の電子部品の実装状態とを照合することにより、該実装基板上の電子部品の実装状態を検査するものとし、
前記人工部品データは、前記数値データに応じて作成される電子部品の見え方を表現した人工画像を含み、
検査対象の実装基板を撮影して得られる該実装基板上の電子部品の撮像画像と前記人工画像とを照合するものとし、
前記人工部品データは、モデルデータ、モジュールデータおよびエレメントデータの3つの階層から構成され、
前記モデルデータは、検査対象とされる各電子部品に対応するデータ単位であり、
前記モジュールデータは、検査対象とする各電子部品の各部位を対象とする検査モジュールであり、
前記エレメントデータは、前記モジュールデータが検査対象とする部位の形状を構成する基本形状データを構成するものであり、
前記モジュールデータには、前記エレメントデータを指定する指定データと、前記エレメントデータが表現する形状を配置する位置及び角度を指定する配置データとが含まれ、
前記各モジュールデータ毎に、それぞれ異なる公差を設定可能となっており、
前記搭載位置データは、基板データ、アレンジメントデータおよびマウンティングデータの3つの階層から構成されるとともに、トレランスデータを含み、
前記基板データは、検査対象とされる実装基板に対応するデータ単位であり、
前記マウンティングデータは、1又は複数の電子部品の搭載位置を前記マウンティングデータの座標系で規定し、
前記マウンティングデータは、電子部品の搭載位置の公差を個別に設定でき、
前記アレンジメントデータは、実装基板上における前記マウンティングデータ座標系の原点位置を規定し、
前記アレンジメントデータは、1つのマウンティングデータを指定する指定データと、指定したマウンティングデータの原点位置および前記マウンティングデータ座標系の角度を指定する配置データとが含まれ、
前記アレンジメントデータの配置データは、マウンティングデータが表現する1または複数の電子部品の配置セットをコピーして実装基板上に展開配置することができ、
前記トレランスデータは、電子部品の種類に応じて、搭載位置に関する公差と、取付姿勢に関する角度公差とを予め設定し、前記マウンティングデータにおいて搭載位置が規定された部品の公差が個別設定されていない場合には、前記トレランスデータで設定された公差が当該部品の公差として採用され、
前記トレランスデータは、部品名称変換テーブルとして機能し、この部品名称変換テーブルにより、マウンティングデータで搭載位置が指定された電子部品の部品名称が、前記人工部品データで人工画像が作成されているモデルデータを特定する部品名称に変換されるようになっていることを特徴とする実装基板の検査方法。 - 前記人工部品データの前記エレメントデータには、RGB階調値の電子部品の色データが含まれ、
前記人工画像は、前記人工部品データの色データに基づく色情報を有することを特徴とする請求項1に記載の実装基板の検査方法。 - 前記人工画像は、前記数値データが示す電子部品の形状を表現した画像に対し、色データとしてRGBそれぞれの階調値を数値データとして入力することで、各部の色情報に応じた加工を施すことにより作成され、
前記加工は、前記電子部品の色情報と、電子部品の背景色とに応じて行われ、
前記加工は、色変化の勾配を緩和する処理を含むことを特徴とする請求項2に記載の実装基板の検査方法。 - 請求項1に記載の人工部品データおよび請求項1に記載の搭載位置データを取得する取得手段と、
検査対象の実装基板を撮影して該実装基板上の電子部品の実装状態を取得する撮像手段と、
前記人工部品データおよび前記搭載位置データと前記撮像手段によって撮影して得られた実装状態とを照合することにより、該実装基板上の電子部品の実装状態を検査する照合手段と、
を備えたことを特徴とする実装基板の検査装置。
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