JP4517184B2 - 遊技機の制御基板 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、遊技機の動作を制御する制御基板に関する。
【０００２】
【従来の技術】
遊技機であるパチンコ機は、例えば、図３に示されているように、主制御基板１１０、賞球制御基板１３０、副制御基板１５０、表示制御基板１６０、賞球装置１３０ａ、ランプ１５０ａ、スピーカ１５０ｂ、表示装置１６０ａ等を有している。
【０００３】
主制御基板１１０には、通常、ＣＰＵ（制御回路）１２３や記憶回路１２４等がワンチップ化されたワンチップマイクロコンピュータ（以下、「ワンチップマイコン」と呼ぶ）１２０や、ワンチップマイコン１２０に接続されて信号の伝達等を行う周辺回路１１５、１１６が装着されている。記憶回路１２４としては、ＲＯＭやＲＡＭ等が用いられる。
ワンチップマイコン１２０には、遊技媒体が始動口に入賞したことを示す始動信号や入賞口に入賞したことを示す入賞信号等の入力信号が入力される入力ピン１２１と、賞球制御基板１３０、副制御基板１５０、表示制御基板１６０等へのコマンド信号を出力する出力ピン１２２が設けられている。
また、主制御基板１１０には、基板外部から各入力信号が入力される入力コネクタ１１１、各制御基板等へのコマンド信号を出力する出力コネクタ１１２、ワンチップマイコン１２０の入力ピン１２１及び出力ピン１２２が半田付けされるランド部１１３、１１４が設けられている。周辺回路１１５は、例えば、入力コネクタ１１１に入力された入力信号を処理し、処理した信号をランド部１１３を介してワンチップマイコン１２０に出力する。また、周辺回路１１６は、例えば、ランド部１１４を介して入力されたコマンド信号を処理して出力コネクタ１１２から出力する。
【０００４】
記憶回路１２４には、制御プログラムや始動信号が入力された時の抽選結果を判定する当たり判定用乱数を発生させる当たり判定用乱数発生プログラム等が記憶されている。
ＣＰＵ１２３は、例えば、入力信号と記憶回路１２４に記憶されている制御プログラム等に基づいて、各制御基板へのコマンド信号（例えば、賞球制御基板１３０への賞球コマンド信号、副制御基板１５０へのランプコマンド信号や音コマンド信号、表示制御基板１６０への変動パターンコマンド信号等）を出力する。
なお、賞球制御基板１３０、副制御基板１５０、表示制御基板１６０は、主制御基板１１０と同様の構成を有しているので説明を省略する。
【０００５】
このような主制御基板１１０や賞球制御基板１３０等の制御基板は、製造時等に種々の検査が行われる。制御基板の検査では、例えば、制御基板に設けられているワンチップマイコンや周辺回路の接続状態や作動状態が検査される。
ここで、ワンチップマイコンとして、特定のピンからみたインピーダンスが、リセット時に低インピーダンスであるワンチップマイコンが用いられる場合がある。
このようなワンチップマイコンが用いられている場合、ワンチップマイコンが制御基板に装着されている状態で制御基板の検査を行うと、ワンチップマイコンの特定のピンに検査用の電流が流れて損傷する可能性がある。
このため、従来では、ワンチップマイコンを制御基板から取り外した状態で制御基板の検査を行えるように、ワンチップマイコンをソケットを介して制御基板に装着するようにしている。例えば、主制御基板１１０のランド部１１３、１１４に、ワンチップマイコン１２０の入力ピン１２１及び出力ピン１２２が着脱可能なソケットを設けている。（特許文献１参照）
【０００６】
【特許文献１】
特開平１０−１５６０１１号公報
【０００７】
ワンチップマイコン１２０をソケットを介して主制御基板１１０に装着するように構成した場合の、主制御基板１１０の検査方法を図３及び図４により説明する。
まず、図３に示すように、主制御基板１１０からワンチップマイコン１２０を取り外した状態で検査を行う。例えば、検査装置の端子を入力コネクタ１１１、出力コネクタ１１２、ランド部１１３及び１１４（あるいは、ランド部１１３及び１１４に設けられたソケット）に接続する。そして、入力コネクタ１１１及びランド部１１４に検査信号（例えば、擬似入賞信号や擬似コマンド信号）を入力し、ランド部１１３及び出力コネクタ１１２から出力される状態信号を検出する。ランド部１１３（あるいは、ランド部１１３に設けられたソケット）及び出力コネクタ１１２から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１１５及び１１６の接続状態や動作状態を判別することができる。この場合、ワンチップマイコン１２０が主制御基板１１０から取り外されているため、検査装置からの検査信号がワンチップマイコン１２０の特定のピンに入力されることがなく、損傷することはない。
次に、図４に示すように、主制御基板１１０にワンチップマイコン１２０を装着した状態で検査を行う。例えば、主制御基板１１０の入力ピン１２１及び出力ピン１２２を、ランド部１１３及び１１４に設けたソケットに取り付けた状態で、検査装置の端子を入力コネクタ１１１及び出力コネクタ１１２に接続する。そして、入力コネクタ１１１に検査信号（例えば、擬似入賞信号や擬似始動信号）を入力し、出力コネクタ１１２から出力される状態信号を検出する。出力コネクタ１１２から出力される状態信号に基づいて、ワンチップマイコン１２０の接続状態や動作状態を判別することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ワンチップマイコンを制御基板にソケットによって着脱可能に装着するように構成した場合、不正にプログラミングされたワンチップマイコンに交換される可能性がある。
不正なワンチップマイコンに交換されることを防止する方法として、ワンチップマイコンを制御基板に半田付け等によって着脱不能に直接に装着する方法が考えられる。しかしながら、この方法を用いる場合には、検査の段階でワンチップマイコンを制御基板に取り付ける作業が必要となり、手間がかかる。すなわち、検査信号によってワンチップマイコンが損傷するのを防止するため、まず、ワンチップマイコンを制御基板に装着していない状態で、検査装置により制御基板の検査を行う。次に、ワンチップマイコンを半田付け等によって制御基板に装着した状態で、検査装置により制御基板の検査を行う。
そこで、本発明は、ワンチップマイコンを制御基板に装着した状態で、ワンチップマイコンの損傷を防止しながら、制御基板の検査を容易に行うことができる遊技機の制御基板及びその検査方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための、本発明の第１発明は、請求項１に記載されたとおりの、
遊技機の動作を制御する制御回路と記憶回路がワンチップ化されたワンチップマイクロコンピュータと、入力信号が入力される入力コネクタと、出力信号を出力する出力コネクタと、前記入力コネクタに入力された入力信号を処理して前記ワンチップマイクロコンピュータに出力する周辺回路と、前記ワンチップマイクロコンピュータから出力された出力信号を処理して前記出力コネクタに出力する周辺回路が設けられている遊技機の制御基板であって、
前記ワンチップマイクロコンピュータには、入力ピンと、出力ピンが設けられており、
前記制御基板には、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部と、前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部と、接続信号または切離信号が入力される接続／切離信号入力部と、検査信号が入力される検査信号入力部と、前記接続／切離信号入力部に接続信号が入力されると低インピーダンスとなり、切離信号が入力されると高インピーダンスとなる接続／切離回路が設けられており、
前記入力コネクタは、前記入力信号を処理する周辺回路を介して前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部に接続され、前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部は、前記接続／切離回路と前記出力信号を処理する周辺回路を介して前記出力コネクタに接続されているとともに、前記検査信号入力部は、前記接続／切離回路と前記出力信号を処理する周辺回路との間に接続されており、
検査装置の端子を前記入力コネクタ、前記出力コネクタ、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部、前記接続／切離信号入力部および前記検査信号入力部に接続し、前記接続／切離信号入力部に切離信号を入力することにより前記接続／切離回路を高インピーダンスとして前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部と前記出力信号を処理する周辺回路を電気的に切り離した状態で、前記入力コネクタに検査信号を入力し、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部から出力される状態信号を検出することで前記入力信号を処理する周辺回路の検査を行い、また、前記検査信号入力部に検査信号を入力し、前記出力コネクタから出力される状態信号を検出することで前記出力信号を処理する周辺回路の検査を行うように構成されていることを特徴とする遊技機の制御基板である。
請求項１に記載の遊技機では、ワンチップマイクロコンピュータと周辺回路との接続及び切り離しが可能な接続／切離回路を備えている。これにより、ワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着した状態で制御基板の検査を行うことができるため、制御基板の製造工程でワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着することができ、制御基板の製造が容易となる。また、接続／切離回路によってワンチップマイクロコンピュータと周辺回路とを切り離した状態で周辺回路の接続状態や作動状態等の検査を行うことができるため、検査信号によってワンチップマイクロコンピュータが損傷するのを防止することができる。また、検査段階でワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着する作業が不要であるため、制御基板の検査を容易に、短時間で行うことができる。なお、ワンチップマイクロコンピュータは半田付け等の容易に着脱できない方法で制御基板に装着するのが好ましい。この場合には、不正にプログラムされたワンチップマイクロコンピュータに交換されることを防止することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
本発明の遊技機の制御基板の一実施の形態の概略構成図を図１に示す。本実施の形態は、遊技機であるパチンコ機の主制御基板に本発明を適用したものである。
本実施の形態の主制御基板１０には、周辺回路１５、１６、ワンチップマイコン（ワンチップマイクロコンピュータ）２０、接続／切離回路３０等が設けられている。周辺回路１５、１６は、制御基板１０に装着された回路部品によって構成してもよいし、制御基板１０に装着されたチップに内臓されている回路部品によって構成してもよいし、制御基板１０に内蔵されている回路部品によって構成してもよい。ワンチップマイコン２０には、ＣＰＵ（制御回路）２３、記憶回路２４等が配置（内蔵）されている。記憶回路２４としては、ＲＯＭやＲＡＭ等が用いられる。
記憶回路２４には、従来のワンチップマイコンの記憶回路と同様に、制御プログラムや大当たり判定用乱数発生プログラム等が記憶されている。
ＣＰＵ２３は、従来のＣＰＵと同様に、入力信号と記憶回路２４に記憶されている制御プログラム等に基づいて、各制御基板等へのコマンド信号を出力する。
【００１１】
ワンチップマイコン２０には、入力信号が入力される入力ピン２１と、制御基板等へのコマンド信号を出力する出力ピン２２が設けられている。
主制御基板１０には、入力信号が入力される入力コネクタ１１、制御基板等へのコマンド信号を出力する出力コネクタ１２、ワンチップマイコン２０の入力ピン２１及び出力ピン２２が半田付けされるランド部１３、１４等が設けられている。
周辺回路１５は、入力コネクタ１１とランド１３部との間に設けられ、例えば、入力コネクタ１１に入力された入力信号を処理し、処理した信号をランド部１３を介してワンチップマイコン２０に出力する。周辺回路１６は、ランド部１４と出力コネクタ１２との間に設けられ、例えば、ランド部１４を介して入力されたワンチップマイコン２０からのコマンド信号を処理し、処理したコマンド信号を出力コネクタ１２から出力する。
また、本実施の形態では、ランド部１４と周辺回路１６との間に接続／切離回路３０が設けられている。接続／切離回路３０は、ランド部１４（すなわち、ランド部１４に半田付けされている出力ピン２２）と周辺回路１６との接続及び切り離しが可能である。接続／切離回路３０としては、例えば、スリーステートバッファ（例えば、７４ＨＣ２４４）を用いる。この接続／切離し回路３０は、制御端子に接続信号が入力されると（例えば、制御端子に入力される制御信号が「Ｌ」の時）、低インピーダンスとなってランド部１４と周辺回路１６とを電気的に接続し、制御端子に切離信号が入力されると（例えば、制御端子に入力される制御信号が「Ｈ」の時）、高インピーダンスとなってランド部１４と周辺回路１６とを電気的に接続する。
さらに、主制御基板１０には、接続／切離信号入力部１７、検査信号入力部１８が設けられている。接続／切離信号入力部１７や検査信号入力部１８には、検査装置の端子が接触可能な検査用のランド部（検査パッド）が設けられる。
【００１２】
なお、図１では、入力コネクタ１１、ランド部１３、入力ピン２１、出力ピン２２、ランド部１４、出力コネクタ１２を１つしか示していないが、各要素の数は、複数の信号を並列（パラレル）に伝送する場合、あるいは、複数の信号を直列（シリアル）に伝送する場合によって適宜設定される。
また、周辺回路としては、入力信号を処理する周辺回路１５やコマンド信号を処理する周辺回路１６に限定されず、種々の周辺回路を用いることができる。
また、接続／切離回路３０は、少なくとも、検査信号によってワンチップマイコン２０が損傷する可能性がある特定の出力ピン２２（リセット時において、出力ピン２２からみたインピーダンスが低インピーダンスである出力ピン２２）に半田付けされるランド部１４に接続されていればよい。勿論、出力ピン２２が半田付けされるランド部２２の全てに接続／切離回路３０を接続してもよい。複数の接続／切離回路を設ける場合、接続／切離信号入力部１７は、各接続／切離回路３０に対応させて設けてもよいし、複数の接続／切離回路に共通に設けてもよい。
【００１３】
次に、本実施の形態の主制御基板１０を検査する方法の1例を説明する。ここで、主制御基板１０には、ワンチップマイコン２０が容易に取り外しできないように（着脱不能に）、ワンチップマイコン２０の入力ピン２１及び出力ピン２２が主制御基板１０のランド部１３及び１４に半田付けされている。
このような主制御基板１０に検査装置を接続する。例えば、検査装置の端子を、主制御基板１０の入力コネクタ１１、出力コネクタ１２、ランド部１３、接続／切離信号入力部１７、検査信号入力部１８に接触させる。
【００１４】
この状態で、検査装置から接続／切離信号入力部１７を介して接続／切離回路３０に切離信号（例えば、「Ｈ」レベルの接続／切離信号）を入力し、ランド部１４と周辺回路１６とを電気的に切り離す。そして、検査装置から入力コネクタ１１、検査信号入力部１８に検査信号（例えば、擬似入賞信号や擬似賞球コマンド信号）を入力し、ランド部１３、出力コネクタ１２から出力される状態信号を検出する。ランド部１３から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１５の接続状態や動作状態を判別することができる。また、出力コネクタ１２から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１６の接続状態や動作状態を判別することができる。
次に、検査装置から接続／切離信号入力部１７を介して接続／切離回路３０に接続信号（例えば、「Ｌ」レベルの接続／切離信号）を入力し、ランド部１４と周辺回路１６とを電気的に接続させる。そして、検査装置から入力コネクタ１１に検査信号（例えば、擬似入賞信号）を入力し、出力コネクタ１２から出力される状態信号（例えば、擬似入賞信号に対応する擬似賞球コマンド信号）を検出する。出力コネクタ１２から出力される状態信号に基づいて、ワンチップマイコン２０の接続状態や動作状態（例えば、記憶回路２４に記憶されている制御プログラム等の内容）を判別することができる。
【００１５】
遊技機では、不正防止の観点から、セキュリティ機能付きのワンチップマイコンが使用されている。特に、主制御装置や賞球制御装置等の、利益に関する情報を扱う制御装置のワンチップマイコンとしては、所定のワンチップマイコンを使用することが規定されており、汎用のワンチップマイコンを使用することができない。
このような、ワンチップマイコンとして、所定のピン特性（例えば、特定のピンからみたインピーダンスを高インピーダンスに切り替えることができない）を有するワンチップマイコンが規定されていると、周辺回路の検査を行うのが困難である。例えば、前記したように、ワンチップマイコンを取り外した状態で検査を行った後、ワンチップマイコンを装着して再度検査を行う必要がある。
本実施の形態では、ワンチップマイクロコンピュータと周辺回路との間に接続／切離回路を設けているため、ワンチップマイコンを半田付け等によってじか付けした状態でも、容易にワンチップマイコンを切り離すことができる。このため、周辺回路の検査を容易に行うことができる。
【００１６】
なお、ランド部１３、出力コネクタ１２から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１５、１６の接続状態や動作状態、ワンチップマイコン２０の接続状態や動作状態を判別する処理は、検査装置で行ってもよいし係員が行ってもよい。
また、通常状態では接続／切離回路３０の制御端子に接続信号（例えば、「Ｌ」レベルの接続／切離信号）が入力されて接続／切離回路３０が低インピーダンス（例えば、ランド部１４と周辺回路１６を接続した状態）にあり、接続／切離信号入力部１７を介して接続／切離回路３０の制御端子に切離信号（例えば、「Ｈ」レベルの接続／切離信号）が入力されると接続/切離回路３０が高インピーダンス（例えば、ランド部１４と周辺回路１６を切り離した状態）となるように構成するのが好ましい。このように構成すると、ワンチップマイコン２０を周辺回路１６と切離して検査を行う時にのみ接続／切離信号入力部１７から切離信号を入力すればよいため、処理が簡単である。
【００１７】
本発明は、実施の形態で説明した構成に限定されることなく、種々の変更、追加、削除が可能である。
例えば、制御基板の検査方法は実施の形態で説明した方法に限定されない。要は、ワンチップマイコンの特定のピンに検査信号が流れて損傷する可能性がある場合に、ワンチップマイコンの特定のピンと周辺回路とを切り離した状態で検査を行うことができればよい。
また、検査装置としては検査方法に応じて種々の構成の検査装置を用いることができ、制御基板と検査装置との接続方法も種々の接続方法を用いることができる。
また、ワンチップマイコンを制御基板に装着する方法として半田付け等の容易に着脱できない装着方法を用いたが、ワンチップマイコンを制御基板に装着する方法としては種々の装着方法を用いることができる。
また、接続／切離回路としては、回路間の接続及び切り離しができれば種々の構成の接続／切離回路を用いることができる。
また、主制御基板や賞球制御基板について説明したが、本発明は種々の制御基板として構成することができる。
また、ワンチップマイクロコンピュータとしては、ＩＣを基板に配設したハイブリッドＩＣのようなモジュールや、複数のＩＣチップを基板上に配設してモールドしたマルチチップモジュールとして構成されたものを用いることもできる。
また、パチンコ機の制御基板について説明したが、本発明はパチンコ機以外のスロットマシン等の種々の遊技機の制御基板として構成することができる。
【００１８】
本発明は、請求項１に加えて、以下のような請求項を設けることもできる。
例えば、「（請求項２）請求項１に記載の遊技機の制御基板であって、接続／切離回路は制御基板に取り付けられている、遊技機の制御基板。」として構成することができる。これにより、ワンチップマイコンのピン特性を気にせずに周辺回路の検査を行うことができる。
また、「（請求項３）請求項1または２に記載の遊技機の制御基板であって、ワンチップマイクロコンピュータは、遊技機の全体の動作または遊技機の賞球動作を制御する、遊技機の制御基板。」として構成することができる。
請求項３の遊技機の制御基板では、制御回路として、遊技機の全体の動作または遊技機の賞球動作を制御する制御回路を用いている。これにより、不正な遊技が行われることを確実に防止することができる。
また、「（請求項４）遊技機の動作を制御するワンチップマイクロコンピュータと、周辺回路とを備える遊技機の制御基板を検査する遊技機の制御基板の検査方法であって、制御基板に設けられている接続／切離回路によって、ワンチップマイクロコンピュータと周辺回路とを切り離した状態及び接続した状態で制御基板の検査を行う、遊技機の制御基板の検査方法。」として構成することができる。
請求項４に記載の遊技機の制御基板を検査する検査方法では、制御基板に設けられている接続／切離回路によってワンチップマイクロコンピュータと周辺回路との接続を切り離した状態及び接続した状態で制御基板の検査を行う。これにより、請求項１に記載の遊技機と同様に、制御基板の製造が容易となり、また、検査信号によってワンチップマイクロコンピュータが損傷するのを防止しながら、制御基板の検査を容易に短時間で行うことができる。
【００１９】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１に記載の遊技機の制御基板を用いれば、ワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着した状態で、ワンチップコンピュータの損傷を防止しながら、制御基板の検査を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の遊技機の制御基板の一実施の形態の概略構成図である。
【図２】パチンコ機の構成を示す図である。
【図３】従来の遊技機の制御基板の検査方法を説明する図である。
【図４】従来の遊技機の制御基板の検査方法を説明する図である。
【符号の説明】
１０、１１０ 主制御基板
１１、１１１、１３１ 入力コネクタ
１２、１１２、１３２ 出力コネクタ
１３、１４、４７、１１３、１１４。１３３、１３４ ランド部
１５、１６、１１５、１１６、１３５、１３６ 周辺回路
１７ 接続／切離信号入力部
１８ 検査信号入力部
２０、１２０、１４０ ワンチップマイクロコンピュータ
２１、１２１、１４１ 入力ピン
２２、１２２、１４２ 出力ピン
２３、１２３、１４３ ＣＰＵ
２４、１２４、１４４ 記憶回路
３０ 接続／切離回路
１３０ 賞球制御基板
１５０ 副制御基板
１６０ 表示制御基板
【発明の属する技術分野】
本発明は、遊技機の動作を制御する制御基板に関する。
【０００２】
【従来の技術】
遊技機であるパチンコ機は、例えば、図３に示されているように、主制御基板１１０、賞球制御基板１３０、副制御基板１５０、表示制御基板１６０、賞球装置１３０ａ、ランプ１５０ａ、スピーカ１５０ｂ、表示装置１６０ａ等を有している。
【０００３】
主制御基板１１０には、通常、ＣＰＵ（制御回路）１２３や記憶回路１２４等がワンチップ化されたワンチップマイクロコンピュータ（以下、「ワンチップマイコン」と呼ぶ）１２０や、ワンチップマイコン１２０に接続されて信号の伝達等を行う周辺回路１１５、１１６が装着されている。記憶回路１２４としては、ＲＯＭやＲＡＭ等が用いられる。
ワンチップマイコン１２０には、遊技媒体が始動口に入賞したことを示す始動信号や入賞口に入賞したことを示す入賞信号等の入力信号が入力される入力ピン１２１と、賞球制御基板１３０、副制御基板１５０、表示制御基板１６０等へのコマンド信号を出力する出力ピン１２２が設けられている。
また、主制御基板１１０には、基板外部から各入力信号が入力される入力コネクタ１１１、各制御基板等へのコマンド信号を出力する出力コネクタ１１２、ワンチップマイコン１２０の入力ピン１２１及び出力ピン１２２が半田付けされるランド部１１３、１１４が設けられている。周辺回路１１５は、例えば、入力コネクタ１１１に入力された入力信号を処理し、処理した信号をランド部１１３を介してワンチップマイコン１２０に出力する。また、周辺回路１１６は、例えば、ランド部１１４を介して入力されたコマンド信号を処理して出力コネクタ１１２から出力する。
【０００４】
記憶回路１２４には、制御プログラムや始動信号が入力された時の抽選結果を判定する当たり判定用乱数を発生させる当たり判定用乱数発生プログラム等が記憶されている。
ＣＰＵ１２３は、例えば、入力信号と記憶回路１２４に記憶されている制御プログラム等に基づいて、各制御基板へのコマンド信号（例えば、賞球制御基板１３０への賞球コマンド信号、副制御基板１５０へのランプコマンド信号や音コマンド信号、表示制御基板１６０への変動パターンコマンド信号等）を出力する。
なお、賞球制御基板１３０、副制御基板１５０、表示制御基板１６０は、主制御基板１１０と同様の構成を有しているので説明を省略する。
【０００５】
このような主制御基板１１０や賞球制御基板１３０等の制御基板は、製造時等に種々の検査が行われる。制御基板の検査では、例えば、制御基板に設けられているワンチップマイコンや周辺回路の接続状態や作動状態が検査される。
ここで、ワンチップマイコンとして、特定のピンからみたインピーダンスが、リセット時に低インピーダンスであるワンチップマイコンが用いられる場合がある。
このようなワンチップマイコンが用いられている場合、ワンチップマイコンが制御基板に装着されている状態で制御基板の検査を行うと、ワンチップマイコンの特定のピンに検査用の電流が流れて損傷する可能性がある。
このため、従来では、ワンチップマイコンを制御基板から取り外した状態で制御基板の検査を行えるように、ワンチップマイコンをソケットを介して制御基板に装着するようにしている。例えば、主制御基板１１０のランド部１１３、１１４に、ワンチップマイコン１２０の入力ピン１２１及び出力ピン１２２が着脱可能なソケットを設けている。（特許文献１参照）
【０００６】
【特許文献１】
特開平１０−１５６０１１号公報
【０００７】
ワンチップマイコン１２０をソケットを介して主制御基板１１０に装着するように構成した場合の、主制御基板１１０の検査方法を図３及び図４により説明する。
まず、図３に示すように、主制御基板１１０からワンチップマイコン１２０を取り外した状態で検査を行う。例えば、検査装置の端子を入力コネクタ１１１、出力コネクタ１１２、ランド部１１３及び１１４（あるいは、ランド部１１３及び１１４に設けられたソケット）に接続する。そして、入力コネクタ１１１及びランド部１１４に検査信号（例えば、擬似入賞信号や擬似コマンド信号）を入力し、ランド部１１３及び出力コネクタ１１２から出力される状態信号を検出する。ランド部１１３（あるいは、ランド部１１３に設けられたソケット）及び出力コネクタ１１２から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１１５及び１１６の接続状態や動作状態を判別することができる。この場合、ワンチップマイコン１２０が主制御基板１１０から取り外されているため、検査装置からの検査信号がワンチップマイコン１２０の特定のピンに入力されることがなく、損傷することはない。
次に、図４に示すように、主制御基板１１０にワンチップマイコン１２０を装着した状態で検査を行う。例えば、主制御基板１１０の入力ピン１２１及び出力ピン１２２を、ランド部１１３及び１１４に設けたソケットに取り付けた状態で、検査装置の端子を入力コネクタ１１１及び出力コネクタ１１２に接続する。そして、入力コネクタ１１１に検査信号（例えば、擬似入賞信号や擬似始動信号）を入力し、出力コネクタ１１２から出力される状態信号を検出する。出力コネクタ１１２から出力される状態信号に基づいて、ワンチップマイコン１２０の接続状態や動作状態を判別することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ワンチップマイコンを制御基板にソケットによって着脱可能に装着するように構成した場合、不正にプログラミングされたワンチップマイコンに交換される可能性がある。
不正なワンチップマイコンに交換されることを防止する方法として、ワンチップマイコンを制御基板に半田付け等によって着脱不能に直接に装着する方法が考えられる。しかしながら、この方法を用いる場合には、検査の段階でワンチップマイコンを制御基板に取り付ける作業が必要となり、手間がかかる。すなわち、検査信号によってワンチップマイコンが損傷するのを防止するため、まず、ワンチップマイコンを制御基板に装着していない状態で、検査装置により制御基板の検査を行う。次に、ワンチップマイコンを半田付け等によって制御基板に装着した状態で、検査装置により制御基板の検査を行う。
そこで、本発明は、ワンチップマイコンを制御基板に装着した状態で、ワンチップマイコンの損傷を防止しながら、制御基板の検査を容易に行うことができる遊技機の制御基板及びその検査方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するための、本発明の第１発明は、請求項１に記載されたとおりの、
遊技機の動作を制御する制御回路と記憶回路がワンチップ化されたワンチップマイクロコンピュータと、入力信号が入力される入力コネクタと、出力信号を出力する出力コネクタと、前記入力コネクタに入力された入力信号を処理して前記ワンチップマイクロコンピュータに出力する周辺回路と、前記ワンチップマイクロコンピュータから出力された出力信号を処理して前記出力コネクタに出力する周辺回路が設けられている遊技機の制御基板であって、
前記ワンチップマイクロコンピュータには、入力ピンと、出力ピンが設けられており、
前記制御基板には、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部と、前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部と、接続信号または切離信号が入力される接続／切離信号入力部と、検査信号が入力される検査信号入力部と、前記接続／切離信号入力部に接続信号が入力されると低インピーダンスとなり、切離信号が入力されると高インピーダンスとなる接続／切離回路が設けられており、
前記入力コネクタは、前記入力信号を処理する周辺回路を介して前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部に接続され、前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部は、前記接続／切離回路と前記出力信号を処理する周辺回路を介して前記出力コネクタに接続されているとともに、前記検査信号入力部は、前記接続／切離回路と前記出力信号を処理する周辺回路との間に接続されており、
検査装置の端子を前記入力コネクタ、前記出力コネクタ、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部、前記接続／切離信号入力部および前記検査信号入力部に接続し、前記接続／切離信号入力部に切離信号を入力することにより前記接続／切離回路を高インピーダンスとして前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部と前記出力信号を処理する周辺回路を電気的に切り離した状態で、前記入力コネクタに検査信号を入力し、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部から出力される状態信号を検出することで前記入力信号を処理する周辺回路の検査を行い、また、前記検査信号入力部に検査信号を入力し、前記出力コネクタから出力される状態信号を検出することで前記出力信号を処理する周辺回路の検査を行うように構成されていることを特徴とする遊技機の制御基板である。
請求項１に記載の遊技機では、ワンチップマイクロコンピュータと周辺回路との接続及び切り離しが可能な接続／切離回路を備えている。これにより、ワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着した状態で制御基板の検査を行うことができるため、制御基板の製造工程でワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着することができ、制御基板の製造が容易となる。また、接続／切離回路によってワンチップマイクロコンピュータと周辺回路とを切り離した状態で周辺回路の接続状態や作動状態等の検査を行うことができるため、検査信号によってワンチップマイクロコンピュータが損傷するのを防止することができる。また、検査段階でワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着する作業が不要であるため、制御基板の検査を容易に、短時間で行うことができる。なお、ワンチップマイクロコンピュータは半田付け等の容易に着脱できない方法で制御基板に装着するのが好ましい。この場合には、不正にプログラムされたワンチップマイクロコンピュータに交換されることを防止することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下に、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
本発明の遊技機の制御基板の一実施の形態の概略構成図を図１に示す。本実施の形態は、遊技機であるパチンコ機の主制御基板に本発明を適用したものである。
本実施の形態の主制御基板１０には、周辺回路１５、１６、ワンチップマイコン（ワンチップマイクロコンピュータ）２０、接続／切離回路３０等が設けられている。周辺回路１５、１６は、制御基板１０に装着された回路部品によって構成してもよいし、制御基板１０に装着されたチップに内臓されている回路部品によって構成してもよいし、制御基板１０に内蔵されている回路部品によって構成してもよい。ワンチップマイコン２０には、ＣＰＵ（制御回路）２３、記憶回路２４等が配置（内蔵）されている。記憶回路２４としては、ＲＯＭやＲＡＭ等が用いられる。
記憶回路２４には、従来のワンチップマイコンの記憶回路と同様に、制御プログラムや大当たり判定用乱数発生プログラム等が記憶されている。
ＣＰＵ２３は、従来のＣＰＵと同様に、入力信号と記憶回路２４に記憶されている制御プログラム等に基づいて、各制御基板等へのコマンド信号を出力する。
【００１１】
ワンチップマイコン２０には、入力信号が入力される入力ピン２１と、制御基板等へのコマンド信号を出力する出力ピン２２が設けられている。
主制御基板１０には、入力信号が入力される入力コネクタ１１、制御基板等へのコマンド信号を出力する出力コネクタ１２、ワンチップマイコン２０の入力ピン２１及び出力ピン２２が半田付けされるランド部１３、１４等が設けられている。
周辺回路１５は、入力コネクタ１１とランド１３部との間に設けられ、例えば、入力コネクタ１１に入力された入力信号を処理し、処理した信号をランド部１３を介してワンチップマイコン２０に出力する。周辺回路１６は、ランド部１４と出力コネクタ１２との間に設けられ、例えば、ランド部１４を介して入力されたワンチップマイコン２０からのコマンド信号を処理し、処理したコマンド信号を出力コネクタ１２から出力する。
また、本実施の形態では、ランド部１４と周辺回路１６との間に接続／切離回路３０が設けられている。接続／切離回路３０は、ランド部１４（すなわち、ランド部１４に半田付けされている出力ピン２２）と周辺回路１６との接続及び切り離しが可能である。接続／切離回路３０としては、例えば、スリーステートバッファ（例えば、７４ＨＣ２４４）を用いる。この接続／切離し回路３０は、制御端子に接続信号が入力されると（例えば、制御端子に入力される制御信号が「Ｌ」の時）、低インピーダンスとなってランド部１４と周辺回路１６とを電気的に接続し、制御端子に切離信号が入力されると（例えば、制御端子に入力される制御信号が「Ｈ」の時）、高インピーダンスとなってランド部１４と周辺回路１６とを電気的に接続する。
さらに、主制御基板１０には、接続／切離信号入力部１７、検査信号入力部１８が設けられている。接続／切離信号入力部１７や検査信号入力部１８には、検査装置の端子が接触可能な検査用のランド部（検査パッド）が設けられる。
【００１２】
なお、図１では、入力コネクタ１１、ランド部１３、入力ピン２１、出力ピン２２、ランド部１４、出力コネクタ１２を１つしか示していないが、各要素の数は、複数の信号を並列（パラレル）に伝送する場合、あるいは、複数の信号を直列（シリアル）に伝送する場合によって適宜設定される。
また、周辺回路としては、入力信号を処理する周辺回路１５やコマンド信号を処理する周辺回路１６に限定されず、種々の周辺回路を用いることができる。
また、接続／切離回路３０は、少なくとも、検査信号によってワンチップマイコン２０が損傷する可能性がある特定の出力ピン２２（リセット時において、出力ピン２２からみたインピーダンスが低インピーダンスである出力ピン２２）に半田付けされるランド部１４に接続されていればよい。勿論、出力ピン２２が半田付けされるランド部２２の全てに接続／切離回路３０を接続してもよい。複数の接続／切離回路を設ける場合、接続／切離信号入力部１７は、各接続／切離回路３０に対応させて設けてもよいし、複数の接続／切離回路に共通に設けてもよい。
【００１３】
次に、本実施の形態の主制御基板１０を検査する方法の1例を説明する。ここで、主制御基板１０には、ワンチップマイコン２０が容易に取り外しできないように（着脱不能に）、ワンチップマイコン２０の入力ピン２１及び出力ピン２２が主制御基板１０のランド部１３及び１４に半田付けされている。
このような主制御基板１０に検査装置を接続する。例えば、検査装置の端子を、主制御基板１０の入力コネクタ１１、出力コネクタ１２、ランド部１３、接続／切離信号入力部１７、検査信号入力部１８に接触させる。
【００１４】
この状態で、検査装置から接続／切離信号入力部１７を介して接続／切離回路３０に切離信号（例えば、「Ｈ」レベルの接続／切離信号）を入力し、ランド部１４と周辺回路１６とを電気的に切り離す。そして、検査装置から入力コネクタ１１、検査信号入力部１８に検査信号（例えば、擬似入賞信号や擬似賞球コマンド信号）を入力し、ランド部１３、出力コネクタ１２から出力される状態信号を検出する。ランド部１３から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１５の接続状態や動作状態を判別することができる。また、出力コネクタ１２から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１６の接続状態や動作状態を判別することができる。
次に、検査装置から接続／切離信号入力部１７を介して接続／切離回路３０に接続信号（例えば、「Ｌ」レベルの接続／切離信号）を入力し、ランド部１４と周辺回路１６とを電気的に接続させる。そして、検査装置から入力コネクタ１１に検査信号（例えば、擬似入賞信号）を入力し、出力コネクタ１２から出力される状態信号（例えば、擬似入賞信号に対応する擬似賞球コマンド信号）を検出する。出力コネクタ１２から出力される状態信号に基づいて、ワンチップマイコン２０の接続状態や動作状態（例えば、記憶回路２４に記憶されている制御プログラム等の内容）を判別することができる。
【００１５】
遊技機では、不正防止の観点から、セキュリティ機能付きのワンチップマイコンが使用されている。特に、主制御装置や賞球制御装置等の、利益に関する情報を扱う制御装置のワンチップマイコンとしては、所定のワンチップマイコンを使用することが規定されており、汎用のワンチップマイコンを使用することができない。
このような、ワンチップマイコンとして、所定のピン特性（例えば、特定のピンからみたインピーダンスを高インピーダンスに切り替えることができない）を有するワンチップマイコンが規定されていると、周辺回路の検査を行うのが困難である。例えば、前記したように、ワンチップマイコンを取り外した状態で検査を行った後、ワンチップマイコンを装着して再度検査を行う必要がある。
本実施の形態では、ワンチップマイクロコンピュータと周辺回路との間に接続／切離回路を設けているため、ワンチップマイコンを半田付け等によってじか付けした状態でも、容易にワンチップマイコンを切り離すことができる。このため、周辺回路の検査を容易に行うことができる。
【００１６】
なお、ランド部１３、出力コネクタ１２から出力される状態信号に基づいて、周辺回路１５、１６の接続状態や動作状態、ワンチップマイコン２０の接続状態や動作状態を判別する処理は、検査装置で行ってもよいし係員が行ってもよい。
また、通常状態では接続／切離回路３０の制御端子に接続信号（例えば、「Ｌ」レベルの接続／切離信号）が入力されて接続／切離回路３０が低インピーダンス（例えば、ランド部１４と周辺回路１６を接続した状態）にあり、接続／切離信号入力部１７を介して接続／切離回路３０の制御端子に切離信号（例えば、「Ｈ」レベルの接続／切離信号）が入力されると接続/切離回路３０が高インピーダンス（例えば、ランド部１４と周辺回路１６を切り離した状態）となるように構成するのが好ましい。このように構成すると、ワンチップマイコン２０を周辺回路１６と切離して検査を行う時にのみ接続／切離信号入力部１７から切離信号を入力すればよいため、処理が簡単である。
【００１７】
本発明は、実施の形態で説明した構成に限定されることなく、種々の変更、追加、削除が可能である。
例えば、制御基板の検査方法は実施の形態で説明した方法に限定されない。要は、ワンチップマイコンの特定のピンに検査信号が流れて損傷する可能性がある場合に、ワンチップマイコンの特定のピンと周辺回路とを切り離した状態で検査を行うことができればよい。
また、検査装置としては検査方法に応じて種々の構成の検査装置を用いることができ、制御基板と検査装置との接続方法も種々の接続方法を用いることができる。
また、ワンチップマイコンを制御基板に装着する方法として半田付け等の容易に着脱できない装着方法を用いたが、ワンチップマイコンを制御基板に装着する方法としては種々の装着方法を用いることができる。
また、接続／切離回路としては、回路間の接続及び切り離しができれば種々の構成の接続／切離回路を用いることができる。
また、主制御基板や賞球制御基板について説明したが、本発明は種々の制御基板として構成することができる。
また、ワンチップマイクロコンピュータとしては、ＩＣを基板に配設したハイブリッドＩＣのようなモジュールや、複数のＩＣチップを基板上に配設してモールドしたマルチチップモジュールとして構成されたものを用いることもできる。
また、パチンコ機の制御基板について説明したが、本発明はパチンコ機以外のスロットマシン等の種々の遊技機の制御基板として構成することができる。
【００１８】
本発明は、請求項１に加えて、以下のような請求項を設けることもできる。
例えば、「（請求項２）請求項１に記載の遊技機の制御基板であって、接続／切離回路は制御基板に取り付けられている、遊技機の制御基板。」として構成することができる。これにより、ワンチップマイコンのピン特性を気にせずに周辺回路の検査を行うことができる。
また、「（請求項３）請求項1または２に記載の遊技機の制御基板であって、ワンチップマイクロコンピュータは、遊技機の全体の動作または遊技機の賞球動作を制御する、遊技機の制御基板。」として構成することができる。
請求項３の遊技機の制御基板では、制御回路として、遊技機の全体の動作または遊技機の賞球動作を制御する制御回路を用いている。これにより、不正な遊技が行われることを確実に防止することができる。
また、「（請求項４）遊技機の動作を制御するワンチップマイクロコンピュータと、周辺回路とを備える遊技機の制御基板を検査する遊技機の制御基板の検査方法であって、制御基板に設けられている接続／切離回路によって、ワンチップマイクロコンピュータと周辺回路とを切り離した状態及び接続した状態で制御基板の検査を行う、遊技機の制御基板の検査方法。」として構成することができる。
請求項４に記載の遊技機の制御基板を検査する検査方法では、制御基板に設けられている接続／切離回路によってワンチップマイクロコンピュータと周辺回路との接続を切り離した状態及び接続した状態で制御基板の検査を行う。これにより、請求項１に記載の遊技機と同様に、制御基板の製造が容易となり、また、検査信号によってワンチップマイクロコンピュータが損傷するのを防止しながら、制御基板の検査を容易に短時間で行うことができる。
【００１９】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１に記載の遊技機の制御基板を用いれば、ワンチップマイクロコンピュータを制御基板に装着した状態で、ワンチップコンピュータの損傷を防止しながら、制御基板の検査を容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の遊技機の制御基板の一実施の形態の概略構成図である。
【図２】パチンコ機の構成を示す図である。
【図３】従来の遊技機の制御基板の検査方法を説明する図である。
【図４】従来の遊技機の制御基板の検査方法を説明する図である。
【符号の説明】
１０、１１０ 主制御基板
１１、１１１、１３１ 入力コネクタ
１２、１１２、１３２ 出力コネクタ
１３、１４、４７、１１３、１１４。１３３、１３４ ランド部
１５、１６、１１５、１１６、１３５、１３６ 周辺回路
１７ 接続／切離信号入力部
１８ 検査信号入力部
２０、１２０、１４０ ワンチップマイクロコンピュータ
２１、１２１、１４１ 入力ピン
２２、１２２、１４２ 出力ピン
２３、１２３、１４３ ＣＰＵ
２４、１２４、１４４ 記憶回路
３０ 接続／切離回路
１３０ 賞球制御基板
１５０ 副制御基板
１６０ 表示制御基板
Claims (1)
- 遊技機の動作を制御する制御回路と記憶回路がワンチップ化されたワンチップマイクロコンピュータと、入力信号が入力される入力コネクタと、出力信号を出力する出力コネクタと、前記入力コネクタに入力された入力信号を処理して前記ワンチップマイクロコンピュータに出力する周辺回路と、前記ワンチップマイクロコンピュータから出力された出力信号を処理して前記出力コネクタに出力する周辺回路が設けられている遊技機の制御基板であって、
前記ワンチップマイクロコンピュータには、入力ピンと、出力ピンが設けられており、
前記制御基板には、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部と、前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部と、接続信号または切離信号が入力される接続／切離信号入力部と、検査信号が入力される検査信号入力部と、前記接続／切離信号入力部に接続信号が入力されると低インピーダンスとなり、切離信号が入力されると高インピーダンスとなる接続／切離回路が設けられており、
前記入力コネクタは、前記入力信号を処理する周辺回路を介して前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部に接続され、前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部は、前記接続／切離回路と前記出力信号を処理する周辺回路を介して前記出力コネクタに接続されているとともに、前記検査信号入力部は、前記接続／切離回路と前記出力信号を処理する周辺回路との間に接続されており、
検査装置の端子を前記入力コネクタ、前記出力コネクタ、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部、前記接続／切離信号入力部および前記検査信号入力部に接続し、前記接続／切離信号入力部に切離信号を入力することにより前記接続／切離回路を高インピーダンスとして前記ワンチップマイクロコンピュータの出力ピンが接続されるランド部と前記出力信号を処理する周辺回路を電気的に切り離した状態で、前記入力コネクタに検査信号を入力し、前記ワンチップマイクロコンピュータの入力ピンが接続されるランド部から出力される状態信号を検出することで前記入力信号を処理する周辺回路の検査を行い、また、前記検査信号入力部に検査信号を入力し、前記出力コネクタから出力される状態信号を検出することで前記出力信号を処理する周辺回路の検査を行うように構成されていることを特徴とする遊技機の制御基板。
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