JP4508821B2 - ポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定方法及び測定装置 - Google Patents
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予め被走査面と想定されている面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置それぞれの主走査方向に沿って、開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットを、主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させながら、前記三角スリット又は非平行対スリットを通過する光量を光電変換してパルス信号を発生させ、そのパルス信号から前記三角スリット又は非平行対スリットの主走査方向位置に応じて前記ポリゴンミラーの各回転でのパルス幅変動幅データδt1、δt2を取得し、前記パルス幅変動幅データδt1、δt2と、
S=H×(δt1−δt2)/(δt1+δt2) ・・・(2)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求めることを特徴とする方法である。
予め被走査面と想定されている面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置それぞれの主走査方向に沿って、開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットを、主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させながら、前記三角スリット又は非平行対スリットを通過する光量を光電変換してパルス信号を発生させ、そのパルス信号と、前記三角スリット又は非平行対スリットの形状データと、走査光ビームの被走査面での速度データとに基づいて、前記三角スリット又は非平行対スリットの主走査方向位置に応じて、走査光ビームの副走査方向への変化幅δ1(X)、δ2(X)を求め、前記変化幅δ1(X)、δ2(X)と、
S=H×(δ1−δ2)/(δ1+δ2) ・・・(1)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求めることを特徴とする方法である。
開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットと、その背後に配置された光電変換手段と、前記スリットと前記光量検出手段とを一体に、被走査面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置で被走査面に沿って平行に主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させる移動手段と、前記光電変換手段からのパルス信号から前記三角スリット又は非平行対スリットの主走査方向位置に応じて前記ポリゴンミラーの各回転でのパルス幅変動幅データδt1、δt2を取得する手段と、
S=H×(δt1−δt2)/(δt1+δt2) ・・・(2)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求める計算手段とを備えていることを特徴とするものである。
開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットと、その背後に配置された光電変換手段と、前記スリットと前記光量検出手段とを一体に、被走査面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置で被走査面に沿って平行に主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させる移動手段と、前記光電変換手段からのパルス信号と、前記三角スリット又は非平行対スリットの形状データと、走査光ビームの被走査面での速度データとに基づいて、前記三角スリット又は非平行対スリットの主走査方向位置に応じて、走査光ビームの副走査方向への変化幅δ1(X)、δ2(X)を求める第1の計算手段と、
S=H×(δ1−δ2)/(δ1+δ2) ・・・(1)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求める第2の計算手段とを備えていることを特徴とするものである。
したがって、被走査面11の前後の一定の距離Hだけ離れた位置13- 、13+ でポリゴンミラー4の回転に伴う走査光ビームB2の中心位置での変化幅δ1、δ2を計測し、その変化幅δ1、δ2から式(1)に基づいて被走査面11に対する共役点Dの位置Sが求まる。そして、この共役点Dの位置Sは、図4の面に垂直な主走査方向全ての位置で求めることができる。
次に、以上のような原理に基づいて、ポリゴンミラー4を用いた面倒れ補正方式の光走査光学系10の共役位置の連続測定方法を、図1を参照にして説明する。本発明による測定装置として、光走査光学系10の被走査面近傍に被走査面に平行に配置された電動ステージ30と、その電動ステージ30のレール31に案内されて被走査面に平行に主走査方向へ一定速度で移動する移動台32とを備えており、その移動台32上に、走査光ビームB2入射側に三角スリット21を設けたスリット板33が、また、その背後に三角スリット21を通過した走査光ビームB2の光強度信号を出す光センサー34が、相互に一体に、かつ、移動台32上の被走査面の前後方向位置が調節可能に取り付けられていて、移動台32の移動に伴って被走査面に平行に主走査方向へ移動するようになっている。
B1…光ビーム
B2…走査光ビーム
B21 、B22 …走査光ビーム
C…集光点
D…共役点(集光点)
1…光源
2…コリメートレンズ
3…シリンドリカルレンズ
4…ポリゴンミラー(回転多面鏡)
5…ポリゴンミラーの偏光反射面
5’…倒れがある偏光反射面
5max+…プラス方向に最も倒れの大きい偏光反射面
5max-…マイナス方向に最も倒れの大きい偏光反射面
6…ポリゴンミラーの回転軸
7…走査光学系
8…反射鏡
9…水平同期検出器(光センサー)
10…光走査光学系
11…被走査面
12max+、12max-…偏光反射面5max+、5max-で反射された走査光ビームB2の主光線13- 、13+ …被走査面の前後に一定の距離Hだけ離れた位置
21…三角スリット
21’…直角三角形のスリット
21”…非平行対スリット
30…電動ステージ
31…レール
32…移動台
33…スリット板
34…光センサー
35…タイムインターバルアナライザ
36…パーソナルコンピュータ
Claims (4)
- ポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定方法であって、
予め被走査面と想定されている面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置それぞれの主走査方向に沿って、開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットを、主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させながら、前記三角スリット又は非平行対スリットを通過する光量を光電変換してパルス信号を発生させ、そのパルス信号から前記三角スリットの主走査方向位置に応じて前記ポリゴンミラーの各回転でのパルス幅変動幅データδt1、δt2、又は、前記非平行対スリットの主走査方向位置に応じて前記ポリゴンミラーの各回転でのパルス間隔変動幅データδt1、δt2を取得し、前記δt1、δt2と、
S=H×(δt1−δt2)/(δt1+δt2) ・・・(2)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求めることを特徴とするポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定方法。ただし、δt1は被走査面の前方で計測した値であり、δt2は被走査面の後方で計測した値である。 - ポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定方法であって、
予め被走査面と想定されている面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置それぞれの主走査方向に沿って、開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットを、主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させながら、前記三角スリット又は非平行対スリットを通過する光量を光電変換してパルス信号を発生させ、そのパルス信号と、前記三角スリット又は非平行対スリットの形状データと、走査光ビームの被走査面での速度データとに基づいて、前記三角スリット又は非平行対スリットの主走査方向位置に応じて、走査光ビームの副走査方向への変化幅δ1(X)、δ2(X)を求め、前記変化幅δ1(X)、δ2(X)と、
S=H×(δ1−δ2)/(δ1+δ2) ・・・(1)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求めることを特徴とするポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定方法。ただし、δ1(X)は被走査面の前方で計測した値であり、δ2(X)は被走査面の後方で計測した値である。 - ポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定装置であって、
開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットと、その背後に配置された光電変換手段と、前記スリットと前記光量検出手段とを一体に、被走査面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置で被走査面に沿って平行に主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させる移動手段と、前記光電変換手段からのパルス信号から前記三角スリットの主走査方向位置に応じて前記ポリゴンミラーの各回転でのパルス幅変動幅データδt1、δt2、又は、前記非平行対スリットの主走査方向位置に応じて前記ポリゴンミラーの各回転でのパルス間隔変動幅データδt1、δt2を取得する手段と、
S=H×(δt1−δt2)/(δt1+δt2) ・・・(2)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求める計算手段とを備えていることを特徴とするポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定装置。ただし、δt1は被走査面の前方で計測した値であり、δt2は被走査面の後方で計測した値である。 - ポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定装置であって、
開口幅が副走査方向へ連続的に変化している三角スリット、又は、2つの直線スリットを副走査方向のスリット間間隔が連続的に変化するように配置してなる非平行対スリットと、その背後に配置された光電変換手段と、前記スリットと前記光量検出手段とを一体に、被走査面の前後の一定の距離Hだけ離れた位置で被走査面に沿って平行に主走査方向へ走査光ビームの移動速度に比較して遅い速度で移動させる移動手段と、前記光電変換手段からのパルス信号と、前記三角スリット又は非平行対スリットの形状データと、走査光ビームの被走査面での速度データとに基づいて、前記三角スリット又は非平行対スリットの主走査方向位置に応じて、走査光ビームの副走査方向への変化幅δ1(X)、δ2(X)を求める第1の計算手段と、
S=H×(δ1−δ2)/(δ1+δ2) ・・・(1)
の関係から、前記光走査光学系の共役点の被走査面に対する位置Sを主走査方向に関して連続的に求める第2の計算手段とを備えていることを特徴とするポリゴンミラーを用いた面倒れ補正方式の光走査光学系の共役位置の連続測定装置。ただし、δ1(X)は被走査面の前方で計測した値であり、δ2(X)は被走査面の後方で計測した値である。
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JP2001050810A (ja) * | 1999-08-13 | 2001-02-23 | Ricoh Co Ltd | 走査光学系のビーム測定方法及び装置 |
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