JP4496907B2 - 磁気測定回路 - Google Patents
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なお、従来の磁気測定回路に関する文献として特許文献1、2が知られている。
本発明は、上記の磁気測定回路において、前記所定のクロック数は、前記電圧発生手段の前記第1のステップ幅による発生電圧値と前記増幅手段の出力電圧値とを前記所定の比率で加算した電圧値が前記閾値電圧値を超えるのに必要なクロック数よりも所定クロック数少ないクロック数に設定されていることを特徴とする。
図10に、図2における制御回路6(16)の主要部の構成を示す。カウンタ6aは積分型A/Dを構成する。クロックCOUNTCKによりアップカウントし、リセット(RESET)入力を備えている。一時レジスタ6bは、カウンタ6aの値をインターフェイス7を介してCPU8が読むため一時的に保持する。下限設定6cは、A/D動作時に下限電圧を設定する。固定値16としてある。オフセットレジスタ6dは、インターフェイス7を介してCPU8が設定する。比較器6eはカウンタ6aの値と下限設定6cまたはオフセットレジスタ6dの値を比較する。A/D制御部6fは、インターフェイス7を介してCPU8からの指示により測定の開始、A/D動作の切り換え、各種タイミング信号発生を行う。パワーダウン制御部6gは省電力化のために測定動作を行っていない部分を休止状態とする。A/D制御部6fに入力される信号CMP(図1参照)、カウンタ6aのクロックCOUNTCKは、テスト時には切り換えてテスト用信号を入力する。なお、下限設定6cはこの実施形態においては固定値であるが、レジスタとしてインターフェイス7を介してCPU8から入力してもよい。
ここではZ軸方向の地磁気測定について示したが、X軸、Y軸についても同様の切換方法ができる。その場合は、図3において、増幅器24、25、26をもう1組用意する。各増幅器を図5と同様の構成としてpd信号をX軸測定、Y軸測定に応じて制御すればよい。
このA/Dコンバータ5は(1)オフセット測定、(2)通常データ測定の2処理によってA/D変換を行う。すなわち、従来のA/Dコンバータは図8(b)に示すように、一定の細かいステップで比較電圧を最下限電圧から順次上昇させつつクロックパルスをカウントし、比較電圧が被変換電圧を超えた時のカウント値を変換データとして出力していたが、このA/Dコンバータ5は図8(a)に示すように、まず、(1)オフセット測定によって粗いステップで概略の変換データを取得し、次いで、(2)通常データ測定によって概略変換データの近傍において細かいステップで比較電圧を順次上昇させて正確な変換データを得るようになっている。以下、詳述する。
図6はオフセット測定の動作を示すタイミングチャートである。以下、X軸方向の地磁気の強さを測定する場合について説明する。この場合、制御回路6のA/D制御部6fは、まず、FET21(図3)をONとする信号Xを出力し、また、スイッチS1X、S3X、S1、S3、S5をONとする信号Xを出力する。次いで、クロックパルスCK、”H”レベルのリセット信号RES、”L”レベルの信号UDおよびFINをA/Dコンバータ5へ出力する(図6の時刻t1)。
また、制御回路6からリセット信号RESとして”H”レベルの信号が出力されると、コンデンサC3(図1)の両端が短絡されてコンデンサC3が放電され、また、演算増幅器45の反転入力端および出力端間が短絡されることから、演算増幅器45の出力信号Vintegが非反転入力端の信号と同じ信号VRとなる。
Q3(t)=−C3(Vinteg(t)−VR)…(1)
となる。次に、スイッチSc1、Sc3がON、スイッチSc2、Sc4がOFFになると、コンデンサC1の両端が短絡され、また、演算増幅器45の反転入力端とコンデンサC1との間が開放されることから、コンデンサC1、C3の電荷Q1(t+1)、Q3(t+1)はそれぞれ、
Q1(t+1)=0…(2) Q3(t+1)=Q3(t)…(3)
となる。
Q1(t+2)=C1(VCCーVR)…(4)
となり、また、コンデンサC3の充電電荷Q3(t+2)は、
Q3(t+2)=Q3(t+1)+Q1(t+2)
=Q3(t)+Q1(t+2)…(5)
となる。また、Q3(t+2)については、
Q3(t+2)=−C3(Vinteg(t+2)−VR)…(6)
なる関係が成り立つ。
−C3(Vinteg(t+2)−VR)=−C3(Vinteg(t)−VR)
+C1(VCCーVR)…(7)
なる式が得られ、この(7)式から、
Vinteg(t+2)=Vinteg(t)−(C1/C3)(VCC−VR)…(8)
なる式が得られる。
Cstep=(VCC−VR)・C1/C3
なるステップ幅で逐次下降する。この下降が16ステップ行われた時点で、カウンタ6aの値と下限設定6cの値が一致したことを比較器6eで検出し、制御回路6が信号UDを”H”に変化させる(図6の時刻t3)。この時、信号Vintegは次の電圧となっている。
Vinteg=VR−16Cstep
これは、測定に当たっての下限の電圧値(図8(a)のMINに相当)にVintegを設定したことである。
Q1(t)=0…(9)
Q3(t)=−C3(Vinteg(t)−VR)…(10)
となる。次に、スイッチSc1、Sc4がON、スイッチSc2、Sc3がOFFになると、コンデンサC1が電圧(VCC−VR)によって充電され、また、演算増幅器45の反転入力端とコンデンサC1との間が開放されることから、コンデンサC1、C3の電荷Q1(t+1)、Q3(t+1)は、
Q1(t+1)=C1(VCC−VR)…(11)
Q3(t+1)=Q3(t)…(12)
となる。
Q1(t+2)=0…(13)
Q3(t+2)=Q3(t+1)−Q1(t+1)
=Q3(t)−Q1(t+1)…(14)
となる。また、Q3(t+2)については、
Q3(t+2)=−C3(Vinteg(t+2)−VR)…(15)
なる関係が成り立つ。
−C3(Vinteg(t+2)−VR)=−C3(Vinteg(t)−VR)
−C1(VCCーVR)…(16)
なる式が得られ、この(16)式から、
Vinteg(t+2)=Vinteg(t)+(C1/C3)(VCC−VR)…(17)
なる式が得られる。
Vai=(Vamp+Vinteg)/2
となり、この信号Vaiも信号Vintegの上昇に伴って逐次上昇する。そして、時刻t4において、信号Vaiが電圧VRを越えると、コンパレータ41の出力信号CMPが反転し、”H”レベルとなる。制御回路6のA/D変換部6fはこの信号CMP”H”を受けて、カウンタ6aのアップカウントを停止する(COUNTCKを止める)。この時のカウンタのカウント値がオフセットデータとなり、CPU8はインターフェイス7を介して一時レジスタ6bから読み出し、内部のレジスタ(またはメモリ)にセットされる。また、CMPが”H”レベルになったことをCPU8へ通知し、CPU8が直ちに一時レジスタ6bの値を読み出すこともできる。この場合は、カウンタ6aを停止させなくてもよい。
図7に通常データ測定時のタイミングチャートを示す。通常データ測定においては、CPU8は前述のオフセット測定により得られた予め保持しているオフセットデータよりも少なめ(図8の場合は12をセット)をオフセットレジスタ6dに書き込み、比較器6eの入力をオフセットレジスタ6d側に切り換え、測定開始をA/D制御部6fに指示する。制御回路6のA/D制御部6fは、まず、クロックパルスCK、”H”レベルのリセット信号RES、”L”レベルの信号UDおよびFINをA/Dコンバータ5へ出力し(時刻t5)、次いで、時刻t6においてリセット信号RESを”L”に戻す。以後、信号Vintegがステップ幅Cstepで逐次下降する。この下降が16ステップ行われた時点で、制御回路6が信号UDを”H”に変化させる(図7の時刻t7)。この時、信号Vintegは(VR−16Cstep)となっている。そして、信号UDが”H”に変化すると、以後、演算増幅器45の出力信号Vintegが、階段状に上昇する。以上の動作は上述した図6における時刻t1〜t4の動作と同じである。
Fstep=(VSUB−VR)・C2/C3
なるステップ幅で逐次上昇する。ここで、コンデンサC2の容量はコンデンサC1の容量よりはるかに小さい容量が選ばれており、また、電圧VSUBも電圧VCCより小さい電圧である。この結果、ステップ幅Fstepはステップ幅Cstepよりはるかに小さくなり、信号Vintegは時刻t7〜t8の間よりはるかに小さいステップで上昇する。
また、通常の動作状態では、オフセット値はほとんど変化しないはずである。したがって、オフセット測定(図6)は測定毎に行う必要がない。通常は、通常データ測定(図7)のみを行えばよいので、大きく測定時間を短縮することができる。オフセット測定は、機器の動作開始時や、外部磁界の影響等でオフセット値が狂ってしまった時に必要に応じて行えばよい。
なお、上記実施形態において、サンプルホールド回路31を設けず、増幅器26の出力を直接A/Dコンバータ5に入力してもよい。
また、上記実施形態は、信号Vintegを上昇させて変換データの測定を行っているが、逆に、信号Vintegを下降させて測定を行なってもよい。
Claims (3)
- 磁気の強さを測定する磁気センサと、
前記磁気センサの出力を増幅する増幅手段と、
所定のクロック数に対応する第1期間に、クロックパルスに同期して第1のステップ幅で単調増加する電圧を発生させ、その後の第2期間に、クロックパルスに同期して前記第1のステップ幅より小さい第2のステップ幅で前記第1期間終了時の電圧から単調増加する電圧を発生させる電圧発生手段と、
前記第2期間の開始から、前記電圧発生手段の発生電圧値と前記増幅手段の出力電圧値とを所定の比率で加算した電圧値が閾値電圧値以上となるまで、クロックパルスをカウントし、カウント結果を前記磁気の強さを表すデータとして出力するカウント手段と、
を具備することを特徴とする磁気測定回路。 - 前記所定のクロック数は、前記電圧発生手段の前記第1のステップ幅による発生電圧値と前記増幅手段の出力電圧値とを前記所定の比率で加算した電圧値が前記閾値電圧値を超えるのに必要なクロック数よりも所定クロック数少ないクロック数に設定されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気測定回路。
- 前記磁気センサはMR素子またはGMR素子によって構成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の磁気測定回路。
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