JP4482434B2 - 撮像モジュール - Google Patents

撮像モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP4482434B2
JP4482434B2 JP2004353881A JP2004353881A JP4482434B2 JP 4482434 B2 JP4482434 B2 JP 4482434B2 JP 2004353881 A JP2004353881 A JP 2004353881A JP 2004353881 A JP2004353881 A JP 2004353881A JP 4482434 B2 JP4482434 B2 JP 4482434B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
imaging module
partition wall
light receiving
dust
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004353881A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006165964A (ja
Inventor
哲 白石
富成 小島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP2004353881A priority Critical patent/JP4482434B2/ja
Priority to US11/295,342 priority patent/US20060119730A1/en
Priority to CNA2005101279111A priority patent/CN1787213A/zh
Publication of JP2006165964A publication Critical patent/JP2006165964A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4482434B2 publication Critical patent/JP4482434B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/50Constructional details
    • H04N23/52Elements optimising image sensor operation, e.g. for electromagnetic interference [EMI] protection or temperature control by heat transfer or cooling elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19105Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Description

本発明は撮像装置に使用される撮像素子を搭載した撮像モジュールに関する。
CCDやCMOSといった撮像素子を搭載した撮像モジュールでは、製品の組立工程あるいは製品組立後に、撮像モジュール内に残留していた塵埃が撮像素子の表面あるいは撮像モジュールに装着されている光学フィルター等の光学部品の表面に付着し、映像に黒点として表れるという不良が発生することがある。
撮像モジュール製品の不良事由として、このような塵埃が撮像素子や光学部品の表面に付着することによる不良がかなりの程度あることから、塵埃付着による不良発生を防止する方法として、クリーンルーム内で組立作業を行う方法や、基板等の塵埃を除去して組み立てる方法が行われている。
なお、撮像モジュールでの塵埃等による影響を防止する方法として、基板の貫通孔に受光部を臨ませて撮像素子を取り付ける際に、アンダーフィル材を用いて撮像素子を取り付けることによって、撮像モジュール組立後に撮像素子の受光面に塵埃が付着しないようにする方法がある(特許文献1参照)。また、セラミック基板にアンダーフィル材を用いて撮像素子を封着するとともに、撮像素子に対置するようにセラミック基板に光学フィルタを取り付けて撮像素子の受光部を密封することにより、塵埃による影響を防止する方法がある(特許文献2参照)。
特開2004−235547号公報 特開2004−29590号公報
前述したように、撮像モジュール製品では、撮像素子の表面に塵埃が付着することにより、映像に黒点があらわれるといった不良が無視できないことから、製造方法の見直しが図られたりしているのであるが、塵埃を確実に除去することは難しく、製造方法や製造工程の見直しのみでは十分とはいえない。
また、撮像モジュールの製品形態が、撮像素子の受光面を部品によって完全に密封する形式のものでなかったり、撮像素子が制御用の基板に搭載されて撮像モジュールのホルダ内に収納される形態であったりする場合は、製品に応じた、塵埃に起因する不良発生を防止する方策が求められる。
本発明は、このような撮像モジュールにおける塵埃による不良発生を防止することを目的としてなされたものであり、製造工程中あるいは製品製造後に撮像素子や光学部品の表面に塵埃が付着することを防止し、これによって塵埃による不良発生を抑えることを可能にした撮像モジュールを提供するものである。
本発明は、上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、受光レンズを支持する筒体部とケーシング部とからなるホルダに、撮像素子およびチップ部品を搭載した基板が、該撮像素子の受光面を前記受光レンズに位置合わせして、前記ケーシング部に装着された撮像モジュールにおいて、前記基板が前記ケーシング部の開口端面に接着されて、前記ケーシング部の内部に密封空間が形成されており、前記密封空間には、第1空間領域と、該第1空間領域の外側の第2空間領域とが設けられており、前記第1空間領域と前記第2空間領域とを分断するような仕切り壁が、前記ケーシング部の内面に設けられており、前記第1空間領域の前記基板上に、前記撮像素子が搭載されており、前記第2空間領域の前記基板上に、前記チップ部品が搭載されていることを特徴とする。
また、前記仕切り壁と前記基板との間には隙間が設けられていることを特徴とする。また、前記撮像素子は、前記基板上に形成されている接続電極とボンディングワイヤによって接続されていることを特徴とする。
また、前記仕切り壁が、前記ケーシング部の内面から前記基板に向けて延設されていることを特徴とする。
また、前記ケーシング部の内面に、前記受光レンズに対向して前記筒体部の開口孔を密封する配置に、フィルターが設けられ、前記ケーシング部の内部が前記フィルターと前記基板とによって開口部が閉止されて、前記密封空間が形成されており、前記仕切り壁が、前記フィルターの配置領域の外側に配置されていることを特徴とする。
また、前記仕切り壁が、前記第2空間領域を、複数の領域に区分するように設けられていることを特徴とする。これによって、前記撮像素子等に塵埃が付着することをさらに効果的に防止することができる。
また、受光レンズを支持する筒体部とケーシング部とからなるホルダに、撮像素子を搭載した基板が、該撮像素子の受光面を前記受光レンズに位置合わせして、前記ケーシング部に装着された撮像モジュールにおいて、前記ケーシング部の内面に、前記受光レンズに対向して前記筒体部の開口孔を密封する配置に、赤外線カット用のフィルターが設けられ、該フィルターが配置された領域の外側領域の前記ケーシング部の内面が、樹脂により封止されていることを特徴とする。
また、受光レンズを支持する筒体部とケーシング部とからなるホルダに、撮像素子を搭載した基板が、該撮像素子の受光面を前記受光レンズに位置合わせして、前記ケーシング部に装着された撮像モジュールにおいて、前記基板の前記撮像素子が搭載された外側領域が、樹脂により封止されていることを特徴とする。
また、前記封止用の樹脂として、粘着性を有する樹脂材が用いられていることにより、さらに撮像素子の受光面等に塵埃が付着することを防止することができる。
本発明に係る撮像モジュールによれば、製品組立時あるいは製品を実装した後に、部品の内面等に付着していた塵埃が部品から剥離あるいは落下して、撮像素子の受光面等に移動して付着することを抑制することができ、これによって塵埃による不良発生を防止することが可能となり、製品の歩留まり、不良率を改善することができる。
以下、本発明の好適な実施の形態について、添付図面にしたがって詳細に説明する。
(第1の実施の形態)
図1は、本発明に係る撮像モジュール10の第1の実施の形態の構成を示す断面図である。撮像モジュール10は、受光レンズ21および赤外線カット用のガラスフィルター22を支持するホルダ20と、撮像素子31およびチップ部品32を搭載する基板30とから構成される。
ホルダ20の本体は、受光レンズ21を保持する円筒状に形成された筒体部20aと、基板30の撮像素子31が搭載された一方の面を密封する平面形状が矩形に形成されたケーシング部20bとからなる。
受光レンズ21は筒状に形成されたアタッチメント24に支持され、アタッチメント24は筒体部20aにねじ込まれてホルダ20に支持される。ガラスフィルター22は筒体部20aとケーシング部20bとの連結部のケーシング部20bの内面に、受光レンズ21に対向する配置で、筒体部20aの開口孔23を密封するように接着されている。
また、基板30はケーシング部20bの開口端面に接着され、ケーシング部20bの内部はガラスフィルター22と基板30によって開口部が閉止されて密封空間となる。基板30をケーシング部20bの端面に位置合わせして接合することにより、基板30に搭載された撮像素子31の受光面がガラスフィルター22に対向して配置され、撮像素子31の受光面は受光レンズ21の光軸に位置合わせされる。
本実施形態の撮像モジュール10において特徴的な構成は、ホルダ20のケーシング部20bに撮像素子31の外周側面に沿って仕切り壁20cを設けたことにある。仕切り壁20cはケーシング部20bの内面、本実施形態においては筒体部20aの基部近傍から基板30に向けて突出するように設けられる。
この仕切り壁20cは、ホルダ20内に残留している塵埃が撮像素子31の受光面(ガラスフィルター22に対向する面)側に進入することを抑えるためのもので、ケーシング部20bの周辺部、すなわち基板30上で撮像素子31が配置されている領域の外側領域から撮像素子31の側へ塵埃が移動することを抑制する作用をなす。
図2に、基板30を撮像素子31を搭載した面側から見た平面図を示す。本実施形態の撮像モジュール10では、基板30の中央部に撮像素子31が配置され、撮像素子31を挟んだ両側にキャパシタや抵抗等のチップ部品32と接続電極33が配されている。撮像素子31と接続電極33とはボンディングワイヤ34を用いたワイヤボンディングによって電気的に接続され、チップ部品32と接続電極33とは基板30の表面に形成された配線パターン35を介して電気的に接続される。
本実施形態の撮像モジュール10では、基板30の略寸法と略同幅に形成された撮像素子31を基板30に搭載しているから、仕切り壁20cは、撮像素子31の長手方向の側縁位置に沿って、ケーシング部20bを幅方向に横断するように設けている。仕切り壁20cは、撮像素子31の受光面に塵埃が付着することを抑制するためのものであるから、撮像素子31の受光面を他領域から隔離して分断するように設けるとともに、撮像素子31の受光面を遮らないように設ける。
仕切り壁20cによって、撮像素子31に塵埃が入り込まないようにする作用は、仕切り壁20cの高さ(延出長さ)が高いほど有効である。本実施形態では、撮像素子31と接続電極33とをワイヤボンディングによって接続しているから、仕切り壁20cの高さをボンディングワイヤ34と仕切り壁20cとが干渉しない程度の高さに設定している。ワイヤボンディングによらずに撮像素子31を表面実装する場合には、仕切り壁20cの端部を基板30の表面に接触させ、あるいは基板30の表面に略接触する程度にまで仕切り壁20cの高さを高くすることができる。
本実施形態の撮像モジュール10のように、ホルダ20のケーシング部20bの開口端面に基板30を接合し、ケーシング部20b内に撮像素子31と各種チップ部品32等を密封した形態に構成した場合には、図3(従来の撮像モジュール11の構成)に示すように、撮像素子31とチップ部品32がケーシング部20bの共通空間内に収納されるから、基板30に塵埃が付着していたような場合には、塵埃は簡単に撮像素子31の側に移動して、撮像素子31の表面に塵埃が付着することが起こり得る。
とくに、基板30にいくつものチップ部品32が搭載されていたり、多数個の接続電極33が形成されていたりして、基板30が入り組んだ構造となっている場合には、塵埃が付着しやすく、基板30等に付着した塵埃が除去されにくいことから、塵埃が部品に付着して残留しがちであり、撮像モジュール10を組み立てる際や、組み立てた撮像モジュール10を電子装置に組み込んだ状態で、基板30等に付着していた塵埃が基板30等から剥離して移動し、撮像素子31やガラスフィルター22の表面に付着することが起こり得る。
本実施形態の撮像モジュール10の場合には、ホルダ20に仕切り壁20cを設けることにより、塵埃が付着して残留している可能性の高い基板30の部品搭載領域と撮像素子31とを分離する形態としているから、基板30等から塵埃が剥離してケーシング部20b内で塵埃が移動する場合でも、撮像素子31が配置されている領域まで塵埃が移動することを抑制することができ、撮像素子31の受光面に塵埃が付着することを防止し、塵埃が撮像素子31の受光面等に付着して不良品となることを防止することができる。
なお、上記実施形態ではホルダ20のケーシング部20bを幅方向に横断するように仕切り壁20cを設けたが、仕切り壁20cの配置は上記実施形態の例に限らず適宜選択することが可能である。たとえば、撮像素子31の側縁部に沿って撮像素子31を囲むように仕切り壁20cを設ける方法、仕切り壁20cを井桁状に配置し、あるいはケーシング部20bの内部を複数の領域に細かく区分するように仕切り壁を設けて、塵埃の移動をできるだけ妨げるようにする方法も有効である。
ホルダ20は樹脂による一体成形によって形成されるから、ホルダ20に仕切り壁20cを設けた場合でも、樹脂成形によって容易に仕切り壁20cを形成することができ、従来の製造工程を変えることなく製造できるという利点もある。また、製品に応じて仕切り壁20cを適宜デザインに設計できるという利点もある。
(第2の実施の形態)
図4〜6は、本発明に係る撮像モジュールの第2の実施形態の構成を示す。本実施形態の撮像モジュール12におけるホルダ20の本体の構成および基板30の構成は、図3に示す従来の撮像モジュール11におけるホルダ20および基板30の構成と同様である。すなわち、本実施形態の撮像モジュール12のホルダ20の本体は筒体部20aおよびケーシング部20bからなり、基板30には撮像素子31とチップ部品32とが搭載されている。
また、ホルダ20の筒体部20aに受光レンズ21が保持され、ホルダ20の筒体部20aとケーシング部20bとの連結部に、ケーシング部20bの内面側から筒体部20aの開口孔23を塞ぐようにガラスフィルター22が封着されていること、基板30に搭載された撮像素子31と接続電極33とがワイヤボンディングによって接続されていること等の構成も上述した第1の実施の形態における撮像モジュール10と同様である。
本実施形態の撮像モジュール12において特徴的な構成は、ホルダ20についてみると、ケーシング部20bの内面に封着したガラスフィルター22の周囲に樹脂26をポッティングし、樹脂26によりホルダ20のケーシング部20bの内面(ガラスフィルター22を取り付けた面)を封止する形態としたことにある。
図5にホルダ20をガラスフィルター22を取り付けた面側から見た状態を示す。ケーシング部20bの内面には、ガラスフィルター22の周縁部を係止してガラスフィルター22を位置決めしてホルダ20に係止するための矩形の支持枠20dが設けられ、支持枠20dとケーシング部20bの側面板とによって囲まれた領域内に樹脂26がポッティングされている。ここでは支持枠20dは樹脂26を流れ止めするダムとしても作用している。
また、基板30についてみると、図4に示すように、基板30に搭載された撮像素子31を除いて、基板30に搭載されたチップ部品32が樹脂36によって封止されていることを特徴とする。樹脂36は基板30上にポッティングされ、基板30上に搭載されたチップ部品32、接続電極33が樹脂36中に埋没している。
図6は、基板30の平面図を示す。撮像素子31の周囲とチップ部品32が搭載されている領域を囲むように流れ止め枠30aが設けられ、流れ止め枠30aの内側に樹脂36がポッティングされている。
本実施形態の撮像モジュール12では、ホルダ20のケーシング部20bの内面(ケーシング部20bのガラスフィルター22が封着された面)が樹脂26によって封止されているから、ケーシング部20bの内面に付着していた塵埃が樹脂26によって封鎖され、撮像モジュール12を組み立てたりする場合に、ケーシング部20bから塵埃が剥離したり、落下したりすることを防止することができ、塵埃が撮像素子31の表面に付着するといった問題を解消することができる。
ホルダ20のケーシング部20bの内面に形成される支持枠20dの構造が比較的複雑な形態になっている場合でも、樹脂26によってこれらの構造部分が封止されることにより、これらの構造部分に塵埃が付着して残留していても塵埃が剥離したりすることが防止され、塵埃に起因する不良発生を防止することができる。ホルダ20のケーシング部20bではコーナー部に塵埃が溜まったりすることもあり得るが、ケーシング部20bのコーナー部を含めて樹脂26によって封止することにより、塵埃による不良発生を防止することが可能になる。
また、基板30についても、チップ部品32等の複雑で入り組んだ構造部分については、樹脂36によって被覆することにより、これらの構造部分に塵埃が残留していても、塵埃が部品から剥離したりすることが防止でき、塵埃による不良発生を防止することができる。チップ部品32等が搭載されていることによって基板30の構造が複雑になっている場合には、塵埃を完全に除去することが難しいが、本実施形態のように樹脂36によって塵埃が外部に出ないようにする方法であれば、塵埃による不良発生を効果的に防止することができるという利点がある。
樹脂26、36としてはポッティングによって塗布できる樹脂であれば適宜樹脂材を使用することができる。
また、樹脂26、36はポッティング後、加熱硬化させる樹脂材を使用することもできるし、室温で自然硬化する樹脂材を使用することもできる。硬化状態でタック性(粘着性)を有する樹脂材を使用した場合には、樹脂26、36に塵埃が接触すると、塵埃の移動が妨げられ、塵埃による不良発生をさらに効果的に抑制することが可能になる。
なお、図4に示す実施形態ではホルダ20と基板30の双方について、樹脂26、36を用いて封止する構成としたが、ホルダ20と基板30の一方についてのみ、樹脂26、36によって封止するようにしてもよい。また、樹脂26、36によって封止する方法と実施の形態1で説明したホルダ20に仕切り壁20cを設ける方法とを併用することも可能である。
撮像モジュールの第1の実施形態の構成を示す断面図である。 基板の平面図である。 撮像モジュールの従来の構成を示す断面図である。 撮像モジュールの第2の実施形態の構成を示す断面図である。 ホルダの底面図である。 基板の平面図である。
符号の説明
10、11、12 撮像モジュール
20 ホルダ
20a 筒体部
20b ケーシング部
20c 仕切り壁
20d 支持枠
21 受光レンズ
22 ガラスフィルター
23 開口孔
24 アタッチメント
26、36 樹脂
30 基板
30a 流れ止め枠
31 撮像素子
32 チップ部品

Claims (6)

  1. 受光レンズを支持する筒体部とケーシング部とからなるホルダに、撮像素子およびチップ部品を搭載した基板が、該撮像素子の受光面を前記受光レンズに位置合わせして、前記ケーシング部に装着された撮像モジュールにおいて、
    前記基板が前記ケーシング部の開口端面に接着されて、前記ケーシング部の内部に密封空間が形成されており、
    前記密封空間には、第1空間領域と、該第1空間領域の外側の第2空間領域とが設けられており、
    前記第1空間領域と前記第2空間領域とを分断するような仕切り壁が、前記ケーシング部の内面に設けられており、
    前記第1空間領域の前記基板上に、前記撮像素子が搭載されており、
    前記第2空間領域の前記基板上に、前記チップ部品が搭載されていることを特徴とする撮像モジュール。
  2. 前記仕切り壁と前記基板との間には隙間が設けられていることを特徴とする請求項1記載の撮像モジュール。
  3. 前記撮像素子は、前記基板上に形成されている接続電極とボンディングワイヤによって接続されていることを特徴とする請求項2記載の撮像モジュール。
  4. 前記仕切り壁が、前記ケーシング部の内面から前記基板に向けて延設されていることを特徴とする請求項1、2または3記載の撮像モジュール。
  5. 前記ケーシング部の内面に、前記受光レンズに対向して前記筒体部の開口孔を密封する配置に、フィルターが設けられ、
    前記ケーシング部の内部が前記フィルターと前記基板とによって開口部が閉止されて、前記密封空間が形成されており、
    前記仕切り壁が、前記フィルターの配置領域の外側に配置されていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項記載の撮像モジュール。
  6. 前記仕切り壁が、前記第2空間領域を、複数の領域に区分するように設けられていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項記載の撮像モジュール。
JP2004353881A 2004-12-07 2004-12-07 撮像モジュール Expired - Fee Related JP4482434B2 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004353881A JP4482434B2 (ja) 2004-12-07 2004-12-07 撮像モジュール
US11/295,342 US20060119730A1 (en) 2004-12-07 2005-12-06 Image pickup module
CNA2005101279111A CN1787213A (zh) 2004-12-07 2005-12-07 摄像模块

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004353881A JP4482434B2 (ja) 2004-12-07 2004-12-07 撮像モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006165964A JP2006165964A (ja) 2006-06-22
JP4482434B2 true JP4482434B2 (ja) 2010-06-16

Family

ID=36573727

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004353881A Expired - Fee Related JP4482434B2 (ja) 2004-12-07 2004-12-07 撮像モジュール

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20060119730A1 (ja)
JP (1) JP4482434B2 (ja)
CN (1) CN1787213A (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5082542B2 (ja) 2007-03-29 2012-11-28 ソニー株式会社 固体撮像装置
CN101308238A (zh) * 2007-05-15 2008-11-19 佛山普立华科技有限公司 相机模组
JP4543072B2 (ja) * 2007-10-24 2010-09-15 シャープ株式会社 ケース部材、センサモジュールおよび電子情報機器
KR100983045B1 (ko) 2008-12-18 2010-09-17 삼성전기주식회사 카메라 모듈 및 이의 제조방법
DE102009027514B4 (de) 2009-07-08 2018-06-28 Robert Bosch Gmbh Kameramodul und Verfahren zu dessen Herstellung
CN103780805A (zh) * 2012-10-26 2014-05-07 深圳欧菲光科技股份有限公司 相机模组支架及相机模组
KR102171366B1 (ko) * 2013-09-13 2020-10-29 엘지이노텍 주식회사 카메라 모듈
CN114647056A (zh) * 2020-12-19 2022-06-21 晋城三赢精密电子有限公司 镜头模组及电子装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004056061A (ja) * 2002-05-27 2004-02-19 Kyocera Corp 撮像素子収納用パッケージ
JP2004304567A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Seiko Precision Inc 固体撮像装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3393247B2 (ja) * 1995-09-29 2003-04-07 ソニー株式会社 光学装置およびその製造方法
JP3540281B2 (ja) * 2001-02-02 2004-07-07 シャープ株式会社 撮像装置
KR100718421B1 (ko) * 2002-06-28 2007-05-14 교세라 가부시키가이샤 소형 모듈 카메라, 카메라 모듈, 카메라 모듈 제조 방법 및 촬상 소자의 패키징 방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004056061A (ja) * 2002-05-27 2004-02-19 Kyocera Corp 撮像素子収納用パッケージ
JP2004304567A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Seiko Precision Inc 固体撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20060119730A1 (en) 2006-06-08
CN1787213A (zh) 2006-06-14
JP2006165964A (ja) 2006-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5082542B2 (ja) 固体撮像装置
US8519457B2 (en) Solid-state image pickup device and a camera module
US7720374B2 (en) Camera module
KR100730726B1 (ko) 카메라 모듈
US20060119730A1 (en) Image pickup module
US20070228403A1 (en) Micro-element package module and manufacturing method thereof
JP6806808B2 (ja) 感光性アセンブリとカメラモジュール及びその製造方法
JP4391585B1 (ja) カメラモジュール及びその製造方法
US20070034772A1 (en) Image sensor chip package
US20080203512A1 (en) Image sensor chip package
EP1696489A2 (en) Solid-state imaging device
JP2020035925A (ja) 配線板を備えるユニット、モジュールおよび機器
JP4157109B2 (ja) 保護カバーの取付構造
JP2007235276A (ja) 撮像デバイス
JP2006005612A (ja) 撮像モジュール
JP2007329813A (ja) 固体撮像装置及びこの固体撮像装置を備えた撮像装置
KR100840153B1 (ko) 카메라 모듈
JP4453447B2 (ja) 固体撮像素子収納パッケージ、および固体撮像素子収納パッケージの製造方法
JP3696142B2 (ja) 固体撮像装置
CN101647115A (zh) 半导体装置及其制造方法、拾光模块
US20070057169A1 (en) Package structure for an optical sensor
JP4578168B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
KR200393882Y1 (ko) 카메라 모듈의 화상소자용 패키징 구조물
JP2006186067A (ja) フィルター付き撮像素子およびその製造方法
JP2008258793A (ja) カメラモジュール

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070823

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091211

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100216

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100316

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100319

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4482434

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130326

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140326

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees