JP4464416B2 - 光波測距方式及び測距装置 - Google Patents
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Description
1.三角法方式
この方式は低価格の測距センサ用として実現されているが、原理的に測距精度が不十分で、かつ遠方まで計測できないため本出願が対象とする装置には適用できない。
TOF方式は短い光パルスを送信し、測距対象物から反射したパルスを受信し、その往復飛行時間を計測することにより距離を計測するものである。
この方式は光の速度に直接依存するため近距離の計測や高分解能を要求する用途には不向きである。例えば15mmの分解能を得るためには10GHzのクロックで飛行時間をカウントする必要がある。
位相差方式は高分解能を実現できる方式であるが、高分解能を実現するためには反射光の強度が安定していること及び、雑音が少ない等、安定した反射光を必要とする。その為、受光信号に対して多数回の平均化を行い信号対雑音比を向上させながら計測を行う必要がある。このため計測に要する時間が増加し、静止体のみが計測対象となっている。
疑似乱数信号を用いた測距方式に関し特許文献1に基本的な原理が示されている。
この方式は擬似乱数信号としてM系列やGold系列などの自己相関特性の良好な符号系列で光を強度変調し送信し、目標で反射された光を受信し相関処理を行うことにより距離計測を行う。
この方式によれば、位相差方式において問題となっていた点、つまり、安定な反射光を必ずしも必要とせず、高分解能で外来雑音に強いなどの特徴を実現している。
しかしこの方式では、この相関器(2)32まで導かれる経路が強度変調周波数における位相誤差を大きくする要因となっている。
すなわち、この特許文献1に示された方法では受光素子31で変調された光波を検出し、その変調周波数を出力する場合以下の点で不利となる。
(1)高分解能の計測を行う場合、通常、数百 MHz の信号周波数で強度変調を行う。
受光素子31で検出、出力された信号は当然、強度変調された周波数であるので、後段の増幅器33から相関器(2)32まで、その周波数で動作しなければならない。一般に光波が反射される面は拡散反射であり、受光される信号は著しく微弱であり、数nW 程度を想定しなければならない。このような微弱光から後段の増幅器33で数百MHz の信号の位相を変化させずに増幅することは困難である。
これを数百MHz で安定化させることは困難である。
図1は、本発明の測距装置における装置構成概略一例を示すブロック図である。
図1を参照すると、本発明の測距装置は、所定の周波数を発生する基準発振器1と、基準発振器1が発生する周波数により位相同期回路PLL(1)を介して駆動されてPN符号を発生する符号発生器(1)2と、符号発生器(1)2からの符号出力により符号変調された光波をドライバ3を介して測距ターゲット20に対して発信する送信器4と、測距ターゲット20により反射された光波を受信する受光素子5とを備える。
またPLL(2)は位相比較器2−1とローパスフィルタLPF2−2と電圧に応じて周波数が変化する電圧制御発振回路VCO2と分周器(2)2−3とよりなる。
例えば、1[mm]の距離分解能を得る場合、信号の往復を考慮すると2[mm]を伝搬する時間を計測しなければならない。
大気中の伝搬速度は約3×10 8 [m/s]であるから2[mm]の伝搬時間は6.67[ps](=2[mm]/3×10 8 [m/s])となり、非常に高速かつ高精度な時間計測系を必要とする。このような時間計測系は非常に高価であったり、消費電力が大きいなどの欠点がある。したがって、本発明の測距装置では図3に示すビートダウン法が適用される。
また、LOはビートダウンに必要な局部発振信号器であり周波数f2の信号S2(t)を発生させる。STD OSCは基準発振器を示し、STDは基準信号、DELAYは距離による遅延時間、Mixer1,2はそれぞれ乗算器、LPFはLow Pass Filter、Vrefは参照信号を示す。DelayCNは遅延時間カウンタ、Vdelayは測距信号を示す。
この図3に示す各信号発生器の振幅を1としても一般性を失わないので、S1(t)、S2(t)は、それぞれ次式で表すことができる。
S1(t)=cos(2πf1t) −−−−− (1)
S2(t)=cos(2πf2t) −−−−− (2)
S1(t)×S2(t)=cos(2πf1t)×cos(2πf2t)=(1/2)×[cos{2π(f1+f2)t}+cos{2π(f1−f2)t}]−−−−−(3)
となる。さらにLPF(Low Pass Filter)を経由すると(3)式の右辺第一項は出力されなくなる。
よって、Vrefは
Vref=(1/2)×[cos{2π(f1−f2)t}]−−−−−(4)
となる。
S1(t+φ)×S2(t)=cos(2πf1t+φ)×cos(2πf2t)=(1/2)×[cos{2π(f1+f2)t+φ+cos{2π(f1−f2)t+φ}]−−−−−(5)
となり、LPFを経由すると
Vdelay=(1/2)×[cos{2π(f1−f2)}t+φ]−−−−−(6)
となる。
つまり、f2をf1に近い周波数とすると(f1−f2)は非常に低い周波数とすることができ、f1で生じた遅延時間量が(f1−f2)の低い周波数で計測できることになる。
例えば、f1−f2が10[KHz]程度となるようにf1、f2を選択する。
仮に
f1=800.00[MHz]
f2=799.99[MHz]
とすると
f1−f2=10[KHz]
となる。
通常、図4のようにビートダウンされた信号はゼロクロスコンパレータ及びカウンタ等で、遅延量を時間として計測される。計測された伝搬遅延量φから距離Rを算出すると
R=c/2(1−f2/f1)φ−−−−− (7)
となる。以上が、ビートダウン法による測距の基本原理である。
この時、各周波数の偏差による誤差を考慮すると、同一の基準源に同期している場合、f2/f1はキャンセルされるので距離計測誤差は生じない。
一方、符合発生器(2)6は、符号発生器(1)2が発生する第一のPN符号と同一符号で、かつ微小に周波数の異なる第二のPN符号を発生する。第二のPN符号は、重畳回路へ送出され、バイアス回路からの直流電圧に重畳されて受光素子5に印加される。
この時、受光素子5では、その非線形特性により光の検出と光信号及び符号信号が同時に乗算される。当然、光信号は符号発生器(1)により変調されているので、符号同士の乗算が行われることになる。
相関器7においては第一のPN符号と第二のPN符号との相関値が、積分回路8においては測距ターゲット20により反射された光波のPN符号と第二のPN符号との相関値がそれぞれ演算される。そしてそれら相関値からそれぞれ相関信号が発生される。
図3に示すビートダウン法を適用する場合には、お互いに同期した二つの発振器を用意し、ビートダウンまたは相関処理を行い光波の変調周波数からより低い周波数成分を生成させ時間伸張を行い高分解能な計測を実現している。
しかし、二つの発振器の同期精度が時間伸張率に大きく影響し、誤差の一因となる。また、このような発振器は高価であり、コストを増加させる要因となっている。すなわち、図2に示した様に基準発振器1とPLL(1)及びPLL(2)によって構成される同期発信器が必要となり、同一の基準源に同期した発振器の構成とすることで、VCOなどが必要となりコストが高くなる。
R=c/2(1−f2/f1)φ=c/2((f1−f2)/f1)φ−−−−−(7)
となる。
f1−f2=f BD とおき、
R=c/2((f BD )/f1)φ −−−−− (8)
とすると、この式(8)におけるf BD を図7に示すように別計測系であるf BD CNT(ビートダウンカウンタ)によってリアルタイムにビートダウン信号の周期を測定する様にすれば同期した発振器は必要ではなくなることがわかる。
Claims (6)
- (1)第一のPN符号により符号変調された光波を、測距ターゲットに対して発信する手段と、(2)前記測距ターゲットにより反射された前記光波を受信する手段と、(3)前記第一のPN符号と同一符号で、かつ微小に異なる周波数を有する第二のPN符号を生成する手段と、(4)前記第一のPN符号と前記第二のPN符号との相関値により、送信側相関信号を生成する手段と、(5)第二のPN符号を前記光波を受信する手段に印加して受信側相関信号を生成する手段と、(6)前記送信側相関信号と前記受信側相関信号との位相差を求め、その位相差から前記測距ターゲットまでの距離を算出する手段と、第一のPN符号側の周波数を第二のPN符号側の周波数でビートダウンした信号の周期を測定するビートダウンカウンタとを有し、送信側相関信号と受信側相関信号との間の遅延時間と、前記ビートダウンカウンタによって測定したビートダウン信号の周期とを用いて前記測距ターゲットまでの距離を算出することを特徴とする測距方式。
- 前記光波を受信する手段の出力を積分処理する手段を含む請求項1記載の測距方式。
- (1)PN符号を発生する第一のPN符号発生器と、(2)前記第一のPN符号発生器からの符号出力により符号変調された光波を測距ターゲットに対して送信する送信器と、(3)前記測距ターゲットにより反射された前記光波を受信する受光素子と、(4)前記第一のPN符号発生器が発生するPN符号と同一の符号で微小に異なる周波数の第二のPN符号を発生する第二のPN符号発生器と、(5)前記第一のPN符号発生器が発生する第一のPN符号と、前記第二のPN符号との相関値である送信側相関信号と、第二のPN符号発生器からの第二のPN符号を受光素子に印加して受光素子から出力される受信側相関信号との位相差を計測する位相差計測手段と、第一のPN符号側の周波数を第二のPN符号側の周波数でビートダウンした信号の周期を測定するビートダウンカウンタとを有し、送信側相関信号と受信側相関信号との間の遅延時間と、前記ビートダウンカウンタによって測定したビートダウン信号の周期とを用いて前記測距ターゲットまでの距離を算出することを特徴とする測距装置。
- 第二のPN符号発生器からの第二のPN符号を受光素子に印加して受光素子から出力される信号を積分処理する積分回路を備える請求項3記載の測距装置。
- 第一のPN符号発生器が基準発振器が発生する周波数により駆動されてPN符号を発生し、第二のPN符号発生器は前記基準発振器と微小に異なる周波数を発生する参照用発振器が発生する周波数により駆動されて前記第一のPN符号発生器と同一の符号を発生する請求項3記載の測距装置。
- バイアス回路からの直流電圧と第二のPN符号発生器からの第二のPN符号を重畳回路にて合成した信号が受光素子に印加される請求項3記載の測距装置。
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