JP4460026B2 - 抵抗膜層を備えた銅箔 - Google Patents

抵抗膜層を備えた銅箔 Download PDF

Info

Publication number
JP4460026B2
JP4460026B2 JP2009503343A JP2009503343A JP4460026B2 JP 4460026 B2 JP4460026 B2 JP 4460026B2 JP 2009503343 A JP2009503343 A JP 2009503343A JP 2009503343 A JP2009503343 A JP 2009503343A JP 4460026 B2 JP4460026 B2 JP 4460026B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
copper foil
layer
copper
zinc
thickness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009503343A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2009063764A1 (ja
Inventor
俊雄 黒沢
勝 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Mining Holdings Inc
Original Assignee
Nippon Mining and Metals Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Mining and Metals Co Ltd filed Critical Nippon Mining and Metals Co Ltd
Application granted granted Critical
Publication of JP4460026B2 publication Critical patent/JP4460026B2/ja
Publication of JPWO2009063764A1 publication Critical patent/JPWO2009063764A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/06Wires; Strips; Foils
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/10Electroplating with more than one layer of the same or of different metals
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/30Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
    • C23C28/32Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer
    • C23C28/321Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one pure metallic layer with at least one metal alloy layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/30Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
    • C23C28/34Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates
    • C23C28/345Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates with at least one oxide layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C28/00Coating for obtaining at least two superposed coatings either by methods not provided for in a single one of groups C23C2/00 - C23C26/00 or by combinations of methods provided for in subclasses C23C and C25C or C25D
    • C23C28/30Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer
    • C23C28/34Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates
    • C23C28/345Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates with at least one oxide layer
    • C23C28/3455Coatings combining at least one metallic layer and at least one inorganic non-metallic layer including at least one inorganic non-metallic material layer, e.g. metal carbide, nitride, boride, silicide layer and their mixtures, enamels, phosphates and sulphates with at least one oxide layer with a refractory ceramic layer, e.g. refractory metal oxide, ZrO2, rare earth oxides or a thermal barrier system comprising at least one refractory oxide layer
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D1/00Electroforming
    • C25D1/04Wires; Strips; Foils
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D5/00Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
    • C25D5/48After-treatment of electroplated surfaces
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/16Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor
    • H05K1/167Printed circuits incorporating printed electric components, e.g. printed resistor, capacitor, inductor incorporating printed resistors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/56Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys
    • C25D3/58Electroplating: Baths therefor from solutions of alloys containing more than 50% by weight of copper
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0335Layered conductors or foils
    • H05K2201/0355Metal foils
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/03Metal processing
    • H05K2203/0361Stripping a part of an upper metal layer to expose a lower metal layer, e.g. by etching or using a laser
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/07Treatments involving liquids, e.g. plating, rinsing
    • H05K2203/0703Plating
    • H05K2203/0723Electroplating, e.g. finish plating

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)
  • Non-Insulated Conductors (AREA)

Description

本発明は、膜の密着性に優れ、ピール強度が高い抵抗膜層を備えた銅箔に関する。
プリント回路基板の配線材料として、一般に銅箔が使用されている。この銅箔は、その製造法により電解銅箔と圧延銅箔に分けられる。この銅箔は、厚さは5μmの非常に薄い銅箔から140μm程度の厚い銅箔まで、その範囲を任意に調整することができる。
これら銅箔は、エポキシやポリイミド等の樹脂からなる基板に接合され、プリント回路用基板として使用される。銅箔には基板となる樹脂との接着強度を十分確保することが求められるが、その為に、電解銅箔は一般に製箔時に形成されるマット面と呼ばれる粗面を利用し、更にその上に表面粗化処理を施して使用する。又、圧延銅箔も同様にその表面に粗化処理を施して使用される。
最近、配線材料である銅箔に、更に電気抵抗材料からなる薄膜層を形成することが提案されている(特許文献1、2参照)。電子回路基板には、電気抵抗素子が不可欠であるが、抵抗層を備えた銅箔を使用すれば、銅箔に形成された電気抵抗膜層を、塩化第二銅等のエッチング溶液を用いて、抵抗素子を露出させるだけでよい。
したがって、抵抗の基板内蔵化により、従来のようにチップ抵抗素子を、半田接合法を用いて基板上に表面実装する手法しかなかったものに比べ、限られた基板の表面積を有効に利用することが可能となる。
また、多層基板内部に抵抗素子を形成することによる設計上の制約が少なくなり、回路長の短縮が可能となることにより電気的特性の改善も図れる。したがって、抵抗層を備えた銅箔を使用すれば、半田接合が不要となるか又は大きく軽減され、軽量化・信頼性向上が図れる。このように、電気抵抗膜を内蔵した基板は多くの利点を持っている。
これらの抵抗材料に用いるベースとなる銅箔は、その上に更に抵抗層を形成することを前提に表面処理を施されており、一般のプリント基板配線用とは通常異なるが、粗化により樹脂との接着強度を確保している点は同様である。
抵抗材料の接着強度を評価する場合、銅箔と抵抗膜間の強度及び抵抗膜と樹脂間の強度の双方を検討する必要があり、引張り試験等ではどちらか、弱い方の界面から剥離が起こる。何れの場合でも表面粗さが大きいほど、その接着強度は高い。接着強度は、表面粗さと、それ以外の表面化学種(元素種)等の要素により影響されると考えられる。
一方、高性能化し続けるプリント回路基板として求められている、更なる微小抵抗回路の形成や、高周波特性の改善の要求により、抵抗材料の表面粗さを抑えることが求められている。その実現の為には、表面粗さに頼らない接着強度の向上が不可欠となる。
特許第3311338号公報 特許第3452557号公報
本発明は、銅箔に更に電気抵抗膜層を形成することにより、抵抗の基板内蔵化を可能とし、且つその接着性を向上させた抵抗膜層を有する銅箔を提供する。
本発明者等は、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、銅箔と電気抵抗膜層との間に接着力を高める層を形成することが有効であるとの知見を得た。
この知見に基づき、本発明は
1)銅箔の粗化面又は光沢面に、単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を備え、この銅−亜鉛合金層の上に、酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルから選択した少なくとも1成分からなる5Å〜100Åの間の厚さを有する安定化層を形成し、当該安定化層の上に電気抵抗材料からなる膜層を備えている電気抵抗膜層を備えた銅箔、を提供する。
電気抵抗膜層を備えた銅箔を回路基板用の膜として利用する場合には、銅箔に酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルから選択した少なくとも1成分からなる安定化層を形成し、さらにその上に電気抵抗層を形成すれば、銅箔との充分な接着強度が得られると考えられてきた。しかし、ベースとなる銅箔に粗化レベルを下げた粗さの小さい銅箔を用いた場合には、接着力が十分ではない場合があると言う問題が発生した。
これを改善するために、前記安定化層を形成する前に、単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を形成することが有効であることを見出した。銅箔及び銅−亜鉛合金層と安定化層との間、そして電気抵抗膜層との接着力の改善は、ピール強度をもって評価できる。
必要に応じて、このような表面処理を施した銅箔の面に、単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を形成する。この工程は、接着強度を向上させるための、重要な工程である。単位面積当りの亜鉛含有量が1000μg/dm未満の銅−亜鉛合金層では、接着強度は向上しない。また、単位面積当りの亜鉛含有量が9000μg/dmを超える銅−亜鉛合金層では、耐薬品性(エッチング液による腐食)が劣るので、好ましくない。多量の亜鉛の含有は、耐食性が低下するという問題を生ずるからである。
この銅−亜鉛合金層は、電気めっきにより形成することができる。電気めっきにおける銅−亜鉛合金の亜鉛含有量は任意である。すなわち、電気めっき後亜鉛が銅箔へ拡散した層を含むものである。単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層となるものであれば良い。この結果、銅−亜鉛合金層の厚さは、およそ100〜1200Åの範囲に相当する。
このようにして形成した銅−亜鉛合金層の上に、酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルから選択した少なくとも1成分からなる5Å〜100Åの間の厚さを有する安定化層を形成する。
この安定化層は、上記に述べた通り、その効果に限界はあるが銅箔との密着性も向上させる効果も備えている。
酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルは安定化層としていずれも有効であり、またこれらを複合して使用することもできる。この安定化層は、銅箔の酸化腐食を防ぎ、また銅による誘電体基材の分解を防ぐとともに、安定したピール強度を維持する機能を有するものである。そして、通常5Å〜100Åの間の厚さとするが、必要に応じて100Å以上の厚さ、すなわち200〜300Åの厚さとすることもできる。但し、5Å未満では、安定化層としての役割をすることができず、また接着力も低下するので、望ましくない。
このようにして形成した安定化層の上に、電気抵抗膜層を形成する。電気抵抗膜層は、回路設計に応じて任意に決定されるものである。すなわち、電気抵抗材料の種類と膜厚の選択は、抵抗素子の機能を考慮して決定されるものであり、特に制限はない。
電気抵抗素子の材料として用いられる例としては、例えばバナジウム、タングステン、ジルコニウム、モリブデン、タンタル、ニッケル、クロム等の材料を挙げることができる。このように電気抵抗が比較的高い金属であれば、それぞれ単独の膜として又は他の元素との合金膜として使用することができる。
また、アルミニウム、シリコン、銅、鉄、インジウム、亜鉛、錫等の、比較的電気抵抗の低い材料であっても、それを他の元素と合金化することにより、電気抵抗が高くなる材料であれば、当然使用できる。
例えば、NiCr合金、NiCrAlSi合金等の電気抵抗素子が注目されている材料である。また、上記の元素の酸化物、窒化物、ケイ化物の群から選択された材料酸化物、窒化物、ケイ化物も使用できる。上記の通り、これらの材料の選択は回路設計に応じて任意に選択されるものであり、これらの材料に制限されるものでないことは理解されるべきことである。
この電気抵抗膜層の形成に際しては、スパッタリング法、真空蒸着法、イオンビームめっき法などの物理的表面処理方法、熱分解法、気相反応法などの化学的表面処理法、又は電気めっき法、無電解めっき法などの湿式表面処理法を用いて形成することができる。
一般には、電気めっき法が低コストで製造できる利点がある。また、スパッタリング法は、均一な厚みの膜であり、かつ等方性を備えているので、品質の高い抵抗素子を得ることができるという利点がある。
この電気抵抗膜層の形成は、膜の用途に応じて形成されるものであり、その場合の付着方法又はめっき方法は、その電気抵抗膜層の性質に応じて、適宜選択することが望ましいと言える。
本願発明の抵抗膜層を備えた銅箔は、
2)箔厚が5〜70μmの銅箔、特に5〜35μm銅箔を使用することができる。この銅箔の厚みは、用途に応じて任意に選択できるが、製造条件からくる制約もあり、上記の範囲で製造するのが効率的である。
3)さらに、本願発明は、電解銅箔のマット面(粗面)又は圧延銅箔の粗化処理を施した面に、電気抵抗層を形成した銅箔を提供する。
電解銅箔のマット面に、さらに節(ふし)こぶ状の粒子を付着させる粗化処理を行うこともできる。また、必要に応じて、圧延銅箔への粗化処理も行うこともできる。上記粗化処理によって、Rz0.3〜10.0μmの低プロファイル銅箔又は標準プロファイル等の粗化面を得ることができる。
本発明の電気抵抗膜層を内蔵した銅箔を使用することにより、回路設計の際に、新たに電気抵抗素子を単独に形成する必要がなく、銅箔に形成された電気抵抗膜層を、塩化第二銅等のエッチング溶液を用いて、抵抗素子を露出させるだけでよいので、半田接合が不要となるか又は大きく軽減され、実装工程が著しく簡素化されるという効果を有する。
また、実装部品や半田数が低減される結果、スペースが拡張でき小型軽量になるという利点もある。これによって回路設計の自由度を向上させることができる。また、このように銅箔に抵抗体が内蔵されることにより、高周波領域での信号特性が改善される効果を備えている。
さらに、本願発明は、このような電気抵抗膜層を内蔵した銅箔に伴う欠点である接着力の低下を改善することができ、良好な耐熱性及び耐酸性を備えているという優れた効果を有する。
電解銅箔製造装置の概要を示す図である。 表面処理装置の概要を示す図である。
電解銅箔の製造装置の概要をに示す。この装置は、電解液を収容する電解槽の中に、陰極ドラムが設置されている。この陰極ドラム1は電解液中に部分的(ほぼ下半分)に浸漬された状態で回転するようになっている。
この陰極ドラム1の外周下半分を取り囲むように、不溶性アノード(陽極)2が設けられている。この陰極ドラム1とアノード2の間は一定の間隙3があり、この間を電解液が流動するようになっている。の装置には2枚のアノード板が配置されている。
このでは、下方から電解液が供給され、この電解液は陰極ドラム1とアノード2の間隙3を通り、アノード2の上縁から溢流し、さらにこの電解液は循環するように構成されている。陰極ドラム1とアノード2の間には整流器を介して、両者の間に所定の電圧が維持できるようになっている。
陰極ドラム1が回転するにつれ、電解液から電着した銅は厚みを増大し、ある厚み以上になったところで、この生箔4を剥離し、連続的に巻き取っていく。このようにして製造された生箔は、陰極ドラム1とアノード2の間の距離、供給される電解液の流速あるいは供給する電気量により厚みを調整する。
このような銅箔製造装置によって製造される銅箔は、陰極ドラムと接触する面は鏡面(光沢面)となるが、反対側の面は凸凹のある粗面(マット面)となる。この電解銅箔の厚さは任意に選択できる。通常、9μm〜35μmの厚さの銅箔を使用することができる。
このようにして製造した銅箔は、次に表面の酸化物皮膜を取り除く清浄化工程を経、さらに水による洗浄工程を行う。清浄化工程では、通常、10〜80g/Lの硫酸水溶液を使用する。
上記においては、電解銅箔の製造について説明したが、圧延銅箔については、溶解及び鋳造したインゴットを、焼鈍及び熱間圧延、さらには冷間圧延を施して必要な厚みの銅箔として製造することができる。圧延銅箔は、いずれも光沢面となっているので、必要に応じて、粗化処理を施す。この粗化処理は、すでに公知の粗化処理を用いることができる。
粗化処理の一例を示すと、次の通りである。また、この粗化処理は、電解銅箔の光沢面及びマット面(粗面)にも適用できる。
Cuイオン濃度:10〜30g/L
硫酸濃度:20〜100g/L
電解液温:20〜60°C
電流密度:5〜80A/dm
処理時間:0.5〜30秒
このようにして製造した電解銅箔又は圧延銅箔に、亜鉛−銅合金めっき処理を行う。この亜鉛−銅合金めっき処理の浴組成と電気めっき条件は、次の通りである。
(亜鉛−銅合金めっき浴組成と処理条件)
浴組成
CuCN:60〜120g/L
Zn(CN):1〜10g/L
NaOH:40〜100g/L
Na(CN):10〜30g/L
pH:10〜13
浴温:60〜80°C
電流密度:100〜10000A/dm
処理時間:2〜60秒
これによって、単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を形成することができる。上記電気めっきは、好適な亜鉛−銅合金めっき条件である。単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を形成することができれば、上記に制限される必要はない。
したがって、銅上に亜鉛めっきを行って、それを加熱拡散させて銅−亜鉛合金層を形成しても良い。また、一般にプレス工程で熱がかかるので、亜鉛めっきが形成されていれば、加熱拡散により銅−亜鉛合金層が形成されるので、それを利用しても良い。好適な亜鉛めっきの例を下記に示す。
(亜鉛めっき浴組成とめっき条件)
浴組成
ZnSO・7HO:50〜350g/L
pH:2.5〜4.5
浴温:40〜60°C
電流密度:5〜40A/m
処理時間:1〜30秒
次に、亜鉛−銅合金層の上に、酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルから選択した少なくとも1成分からなる5Å〜100Åの間の厚さを有する安定化層を形成する。
一つの実施形態として、亜鉛イオンとクロムイオンとを含む電解溶液を用いて被覆層を形成することができる。電解溶液中の亜鉛イオン源としては、例えば、ZnSO ,ZnCO ,ZnCrO などを用いることができる。電解溶液中のクロムイオン源としては、6価クロムの塩または化合物、例えば、ZnCrO ,CrOなどを用いることができる。
電解溶液中の亜鉛イオンの濃度は、0.1〜2g/L、好ましくは0.3〜0.6g/L、さらに好ましくは0.4〜0.5g/Lの範囲とするのが良い。また、電解溶液中のクロムイオンの濃度は、0.3〜5g/L、好ましくは0.5〜約3g/L、さらに好ましくは0.5〜1.0g/Lの範囲とするのが良い。なお、これらの条件は、あくまで効率的なめっきを行うための条件であり、必要に応じて、この条件の範囲外とすることも可能である。
別の実施形態として、前記安定化層を形成するために、酸化ニッケルとニッケル金属、又は酸化亜鉛あるいは酸化クロム、あるいはこれらを共に被覆することができる。電解溶液のニッケルイオン源としては、Ni SO ,NiCO などのいずれか、またはこれらを組み合わせることもきる。
ニッケルイオンの電解溶液中の濃度は、0.2g/L〜1.2g/Lとするのが好適である。さらに米国特許5、908、544号に記載されているリンを含むような安定化層を使用することもできる。なお、これらの条件は、あくまで酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルから選択した少なくとも1成分からなる5Å〜100Åの間の厚さを有する安定化層を効率的に形成するための条件であり、必要に応じて、上記の条件の範囲外とすることも可能である。
電解溶液にはNa SO のような他の従来の添加物を、1〜50g/L、好ましくは10〜20g/L、さらに好ましくは12〜18g/Lの範囲の濃度で含むことができる。電解溶液のpHは一般に3〜6、好ましくは4〜5、さらに好ましくは4.8〜5.0までの範囲とするのが望ましい。
電解溶液の温度は、20°C〜100°C、好ましくは25°C〜45°C、さらに好ましくは26°C〜44°Cとするのが好適である。
図2に示すように、銅箔12に電流密度を付与するため銅箔12の各側に隣接して陽極48を配置する。案内ローラ46は陰極ローラであり、電源(図示しない)により陽極48に電圧が加えられると、例えば酸化亜鉛と酸化クロムからなる安定化層49が銅箔12の露出した光沢側14及びマット面16の上に堆積される。図3は光沢側14と光沢のない側16の上に安定化層49を有する銅箔12を示す断面図である。
電流密度は、1から100A/ft (約10.8から約1080A/m )、好ましくは25〜50A/ft (約270から約540A/m )までの範囲、さらに好ましくは30A/ft(約320A/m )である。多数の陽極を設けるときは、電流密度は陽極同士の間で変えることができる。
好適なめっき時間は、1から〜30秒、好ましくは5〜20秒、さらに好ましくは約15秒である。ある実施形態では、合計処理時間は光沢側すなわち平滑側上では約3から約10秒であり、光沢のない側の上では約1から約5秒である。
また、好適な例として、電解溶液中の亜鉛イオンに対するクロムイオンのモル比は0.2〜10、好ましくは1〜5、さらに好ましくは約1.4とするのが良い。本発明によれば、銅箔に適用される安定化層の厚さは5Å〜100Åとするのが良い。好ましくは20Å〜50Åである。
以上述べてきた実施形態においては、安定化層は酸化クロムと酸化亜鉛で構成しているが、安定化層を酸化クロムのみで構成しても良い。
酸化クロム安定化層を適用するための浴の好適な条件は、次の通りである。
1−10g/L Cr O溶液
5g/L Cr O が好ましい
pH−2
浴の温度:25°C
5−10秒で10−30A/ft(108−320A/m
浸漬処理:10秒
安定化層を形成するプロセスに続き、洗浄を行う。洗浄工程では、例えば銅箔の上下に配置された噴霧装置銅箔(安定化層を有する)の面上に、水噴霧をして、これをすすいで清浄にし、残留する電解溶液をそこから除去する。噴霧ノズルの下に配置した容器で洗浄した溶液を回収することができる。
上面に安定化層を有する銅箔は、さらに乾燥を行う。実施形態に示すように、強制空気乾燥器を銅箔の上下に配置して、そこから空気を噴出させて銅箔の面を乾燥させる。
安定化層を形成した銅箔に、さらに電気抵抗材料からなる層を形成する。この電気抵抗層の例として、例えば、NiCr合金、NiCrAlSi合金等の電気抵抗素子を挙げることができる。この電気抵抗材料からなる層は、回路基板設計からくる要求であり、これは任意に選択できる。したがって、特定の材料に限定される必要はない。
また、基材(下地材)との密着性を向上させるために、必要に応じ抵抗層の上に各種のシラン処理を実施しても良い。しかし、このシラン処理は任意であり、本願発明はこれに限定されるものではない。
次に、実施例を説明する。なお、以下の実施例は、本願発明の理解を容易にするためのものであり、これに制限されるものではない。すなわち、本願発明の技術思想に基づく変形、実施態様、他の例は、本願発明に含まれるものである。
(実施例1)
本実施例においては、厚さ18μm電着銅箔を使用した。この電解銅箔の粗面(マット面)側に銅−亜鉛合金層を形成した。
この銅−亜鉛合金層は、次の処理条件で実施し、単位面積当りの亜鉛含有量が約3500μg/dm(下2桁は四捨五入した)である銅−亜鉛合金層を形成した。被覆量は、処理時間により調節した。
(銅−亜鉛合金めっきの浴組成とめっき条件)
浴組成
CuCN:90g/L
Zn(CN):5g/L
NaOH:70g/L
Na(CN):20g/L
浴温:70°C
電流密度:500A/dm
処理時間:5〜20秒
次に、銅−亜鉛合金層上に、次の処理条件で、約50Åの酸化亜鉛−酸化クロムからなる安定化層を形成した。
(安定化処理の浴組成と処理条件)
浴組成
ZnSOとしての亜鉛 0.53g/L
CrOとしてのクロム 0.6g/L
NaSO11g/L
浴のpH:5.0
浴の温度:42°C
電流密度:85−160A/m
めっき時間:3−4秒
次に、80%ニッケル(Ni)と20%クロム(Cr)よりなる合金の電気抵抗材料を下記の条件で、前記安定化層上に付着させた。
Ni/Cr合金スパッタリング:
14インチのスパッタリング装置
電力:5−8kw
線速度:1.4−2.2ft/min(0.43−0.67m/min)
Ni/Cr合金の厚さ:約100Å、
なお、この抵抗材料のシート抵抗率は、約160Ω/スクエアであった。
以上の銅箔への被覆層について、常態ピール値、半田処理後のピール値(耐熱性)、塩酸処理後のピール値(耐塩酸性)を調べた。
なお、半田処理後のピール値については、260°Cの溶融半田浴中に20秒間、浸漬した(すなわち加熱処理を受けた状態)後にピール値を測定したもの、すなわち半田処理後のピール値は、この処理(熱影響を受けた)後のピール値を示すものである。これは、耐熱性を評価するためのものである。
また、塩酸処理後のピール値については、18wt%塩酸を用い、室温で1時間浸漬した後のピール値を示すものである。すなわち、耐塩酸性を評価するものである。以下、同様である。
以上の結果、常態ピール値は、0.81kg/cmとなり、半田処理後のピール値(耐熱性)は、0.77kg/cmとなり、さらに塩酸処理後のピール値(耐塩酸性)は0.70kg/cmとなり、半田処理後及び塩酸処理後も劣化が少なく、いずれも良好な性質を示した。
(実施例2−11)[亜鉛含有量]
次に、良好な特性を示した実施例1の条件を基本とし、単位面積当りの亜鉛含有量を替えた場合(1000〜9000μg/dm)の、銅−亜鉛合金層を形成した。同様に、2桁以下は四捨五入した。銅−亜鉛合金層の亜鉛含有量以外の処理条件は、実施例1と同様である。被覆量は、処理時間により調節した。この結果を、表1に示す。
なお、比較として、本願発明の条件外の、亜鉛含有量の銅−亜鉛合金層を形成したものを、比較例1及び比較例2として、示した。
表1から明らかなように、銅−亜鉛合金層中の亜鉛含有量が約3500μg/dm(2桁以下は四捨五入した。下記に説明する比較例も同様に、2桁以下を四捨五入した。)である場合(実施例1)、常態ピール強度、耐熱性、耐塩酸性が良好で、バランスの取れた性質を示した。
これに対して、単位面積当りの亜鉛含有量が増加するにつれ、常態ピール強度と耐熱性は向上するが、逆に耐塩酸性が低下する傾向を示した。逆に、単位面積当りの亜鉛含有量が減少するにつれ、耐塩酸性は向上するが、常態ピール強度と耐熱性が低下する傾向を示した。
比較例1は亜鉛含有量が少ないために、常態ピール強度、耐熱性、耐塩酸性のいずれもが低く、また比較例2は、亜鉛含有量が多過ぎるため常態ピール強度、耐熱性は高いが、耐塩酸性が悪く、いずれも許容できる限界を超えており、実用に適していないことが分かった。このように、銅−亜鉛合金層の存在は、常態ピール強度、耐熱性、耐塩酸性を向上させるためには、極めて有効であることが分かる。
(実施例1−実施例1−4)[銅箔の厚さ]
次に、良好な特性を示した実施例1の条件を基本とし、銅箔の厚さを替えた場合の常態ピール強度、耐熱性、耐塩酸性を調べた。銅箔の厚さを替えた以外は、実施例1と同様である。被覆量は、処理時間により調節した。この結果を、表2に示す。
実施例1の場合、電解銅箔の厚さ18μmで実施したが、9μm〜35μmの範囲で替えて実施した場合は、常態ピールは箔厚みに応じて大きく変わった。すなわち銅箔の厚さが増加するにしたがってピール強度が増加した。
しかし、半田処理後のピール値の劣化率及び塩酸処理後のピール劣化率は、それほど大きく変化しなかった。したがって、半田後のピール強度及び塩酸処理後のピール強度は、処理後の劣化率の観点では、銅箔の厚さには大きく影響を受けないことが分かった。この結果を表2に示す。一般的には、銅箔の厚さが増加することにより、ピール強度は増加すると言える。
(実施例12)[シラン処理]
本実施例においては、厚さ18μm、35μmの電着銅箔を使用すると共に、この電解銅箔の粗面をそのまま使用した場合及び粗化処理した面に、実施例1と同様の条件、すなわち銅−亜鉛合金めっきの浴を用いて、実施例1と同様のめっき条件で、銅−亜鉛合金めっき層を形成した。
なお、上記粗化処理の条件は、次の通りである。
Cuイオン濃度:20g/L
硫酸濃度:60g/L
電解液温:40°C
電流密度:30A/dm
処理時間:5秒
上記によって、単位面積当りの亜鉛含有量が約3500mg/m(下2桁は四捨五入した)である銅−亜鉛合金層を形成した。次に、この銅−亜鉛合金層上に、実施例1と同様にして、Cr−Zn酸化物の安定化層を形成した。
さらに、このCr−Zn酸化物の安定化層上に、80%ニッケル(Ni)と20%クロム(Cr)よりなる合金の電気抵抗材料をスパッタリングにより形成した。この条件も実施例1と同様である。
次に、抵抗層の上に、シラン処理(TEOS:Tetraethoxysilane)を施した。この結果を表3に示す。この表3に示すように、常態ピール強度が向上し、シラン処理が有効であることが分かる。
(実施例13)[Cr抵抗膜]
上記実施例1の条件下で、単位面積当りの亜鉛含有量が約3500μg/dm(下2桁は四捨五入した)である銅−亜鉛合金層を形成し、このCu−Zn合金層上に、Cr−Zn酸化物の安定化層を形成した。
次に、このCr−Zn酸化物の安定化層上に、クロムの抵抗膜をスパッタリングにより形成した。
クロムスパッタリングの条件は、次の通りである。
14インチのスパッタリング装置を使用した。
電力:5−8kw
線速度:1.8−2.8ft/min(0.55−0.85m/min)
クロムの厚さ:100Å、1000Å、1200Å、2000Å、3000Å、4000Åの6種
本実施例13について、常態ピール強度、耐熱性、耐塩酸性を調べたが、実施例1と同様であり、表には示さないが、いずれも良好な性質を示した。以上から、抵抗層の種類及び厚さに無関係に、銅−亜鉛合金層を形成が有効であることが分かった。
(実施例14〜実施例14−4)[Ni/Cr/Al/Si合金抵抗膜]
上記実施例1の条件下で、単位面積当りの亜鉛含有量が約3500μg/dm(下2桁は四捨五入した)である銅−亜鉛合金層を形成し、この銅−亜鉛合金層上に、クロム−亜鉛酸化物の安定化層を形成した。
次いで、このクロム−亜鉛酸化物の安定化層上に、56%ニッケル(Ni)、38%クロム(Cr)およびドーパントとして4%アルミニウム(Al)と2%シリコン(Si)よりなる合金を、下記の条件で付着させた。
Ni/Cr/Al/Si合金スパッタリング:
14インチのスパッタリング装置
電力:0.85−2.3kw
線速度:0.49ft/min(0.15m/min)
シート抵抗率:約90〜300Ω/スクエア
本実施例14〜実施例14−4について、表4に示すシート抵抗の膜を形成した。この時の常態ピール強度、耐熱性、耐塩酸性を調べたが、実施例1と同様であり、表4に示す様に、いずれも良好な性質を示した。以上から、Ni/Cr/Al/Si合金抵抗層とは無関係に、銅−亜鉛合金層を形成が有効であることが分かった。
(実施例15〜実施例15−4)[圧延銅箔]
本実施例では、9μm、12μm、18μm、35μmの圧延銅箔を使用した。この圧延銅箔に次の条件で、粗化処理を施した。
Cuイオン濃度:20g/L
硫酸濃度:60g/L
電解液温:40°C
電流密度:30A/dm
処理時間:5秒
次に、この粗化処理を施した圧延銅箔に下記の条件で3500μg/dmのZnめっき層を形成した。亜鉛めっきの厚さは処理時間で調節した。
亜鉛めっき浴組成:
ZnSO・7HO:50〜350g/L
pH:3
浴温:50°C
電流密度:20A/m
処理時間:2〜3秒
この処理層を形成した銅箔を300°Cで加熱処理し、銅−亜鉛の合金層を形成した。このようにして形成された銅−亜鉛合金層の単位面積当りの亜鉛含有量は、約3500μg/dm(下2桁は四捨五入した)となった。
次に、銅−亜鉛合金層上に、次の処理条件で、約50Åの酸化亜鉛−酸化クロムからなる安定化層を形成した。
安定化処理:
ZnSOとしての亜鉛 0.53g/L
CrOとしてのクロム 0.6g/L
NaSO11g/L
浴のpH:5.0
浴の温度:42°C
電流密度:85−160A/m
めっき時間:3−4秒
次に、80%ニッケル(Ni)と20%クロム(Cr)よりなる合金の電気抵抗材料を下記の条件で、前記安定化層上に付着させた。
Ni/Cr合金スパッタリング:
14インチのスパッタリング装置
電力:5−8kw
線速度:1.4−2.2ft/min(0.43−0.67m/min)
Ni/Cr合金の厚さ:約100Å、
なお、この抵抗材料のシート抵抗率は、約160Ω/スクエアであった。
以上の銅箔への被覆層について、常態ピール強度、耐熱性(半田処理後のピール強度)、耐塩酸性(塩酸処理後のピール強度)を調べた。この結果を、表5に示す。この表5に示すように、常態ピール強度は、0.64〜1.22kg/cmとなり、半田浸漬後のピール強度は、0.60〜1.16kg/cmとなり、さらに18wt%塩酸浸漬後のピール強度性は0.53〜1.09kg/cmとなって、いずれも良好な性質を示した。
また、上記実施例2−11と同様にCu−Zn合金層の厚さを替えた場合の試験を行ったが、同じ結果となった。したがって、電解銅箔及び圧延銅箔は、いずれも単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を形成することが接着力の向上(常態ピール強度の増加)と、耐熱性及び耐酸性に有効であることが分かった。
本発明は、電気抵抗膜層を内蔵した銅箔を使用することにより、回路設計の際に、新たに電気抵抗素子を単独に形成する必要がなく、銅箔に形成された電気抵抗膜層を、塩化第二銅等のエッチング溶液を用いて、抵抗素子を露出させるだけでよいので、半田接合が不要となるか又は大きく軽減され、実装工程が著しく簡素化されるという効果を有するものであり、回路設計及び製作工程を著しく軽減し、銅箔に抵抗体が内蔵されることにより、高周波領域での信号特性が改善される効果を備えている。さらに、本願発明は、このような電気抵抗膜層を内蔵した銅箔に伴う欠点である接着力の低下を改善することができ、良好な耐熱性及び耐酸性を備えているという優れた効果を有するので、プリント回路基板として有用である。
1:陰極ドラム
2:不溶性アノード(陽極)
3:間隙
4:生箔
11:原料銅箔(生箔)
12:銅箔
14:銅箔光沢面
20:前処理工程
22:前処理槽
24:下部案内ローラ
26:案内ローラ
30:洗浄槽
32:水洗ノズル
34:水洗槽
40:安定化工程
42:電槽
44:下部案内ローラ
46:案内ローラ(陰極ローラ)
48:陽極
60:乾燥機
62:ヒーター
72:スパッタ装置
76:ターゲット
77:ガス導入管
100:銅−亜鉛工程

Claims (3)

  1. 銅箔の粗化面又は光沢面に、単位面積当りの亜鉛含有量が1000〜9000μg/dmである銅−亜鉛合金層を備え、この銅−亜鉛合金層の上に、酸化亜鉛、酸化クロム、酸化ニッケルから選択した少なくとも1成分からなる5Å〜100Åの間の厚さを有する安定化層を形成し、当該安定化層の上に、バナジウム、タングステン、ジルコニウム、モリブデン、タンタル、ニッケル、クロムから選択した金属若しくはこれらの合金、アルミニウム、シリコン、銅、鉄、インジウム、亜鉛、錫から選択した元素の合金、又は前記金属又は元素の酸化物、窒化物若しくはケイ化物から選択した電気抵抗材料からなる膜層を備えていることを特徴とする電気抵抗膜層を備えた銅箔。
  2. 銅箔の箔厚が5〜35μmであることを特徴とする請求項1記載の抵抗膜層を備えた銅箔。
  3. 電解銅箔のマット面又は圧延銅箔の粗化処理を施した面側に、電気抵抗層を形成することを特徴とする請求項1又は2記載の抵抗膜層を備えた銅箔。
JP2009503343A 2007-11-14 2008-11-04 抵抗膜層を備えた銅箔 Active JP4460026B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007295117 2007-11-14
JP2007295117 2007-11-14
PCT/JP2008/070006 WO2009063764A1 (ja) 2007-11-14 2008-11-04 抵抗膜層を備えた銅箔

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP4460026B2 true JP4460026B2 (ja) 2010-05-12
JPWO2009063764A1 JPWO2009063764A1 (ja) 2011-03-31

Family

ID=40638616

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009503343A Active JP4460026B2 (ja) 2007-11-14 2008-11-04 抵抗膜層を備えた銅箔

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4460026B2 (ja)
KR (2) KR101188146B1 (ja)
TW (1) TWI443226B (ja)
WO (1) WO2009063764A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2644753A4 (en) * 2010-11-22 2014-08-06 Mitsui Mining & Smelting Co SURFACE-TREATED COPPER FOIL

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012132592A1 (ja) * 2011-03-28 2012-10-04 Jx日鉱日石金属株式会社 電気抵抗膜を備えた金属箔及びその製造方法
WO2012132593A1 (ja) * 2011-03-31 2012-10-04 Jx日鉱日石金属株式会社 電気抵抗層を備えた金属箔及び同金属箔を用いたプリント回路用基板
JP5919656B2 (ja) * 2011-06-14 2016-05-18 大日本印刷株式会社 太陽電池用集電シートの配線パターン形成用の導電性基材
EP2722417B1 (en) 2011-06-14 2018-06-27 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Conductive base for forming wiring pattern of collector sheet for solar cells, and method for producing collector sheet for solar cells
KR102101046B1 (ko) * 2012-05-22 2020-04-14 미쓰이금속광업주식회사 구리박, 부극 집전체 및 비수계 2차 전지의 부극재
JP5742859B2 (ja) * 2013-01-30 2015-07-01 日立金属株式会社 高速伝送ケーブル用導体、及びその製造方法、並びに高速伝送ケーブル

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5925297A (ja) * 1982-08-03 1984-02-09 日本電解株式会社 印刷回路用銅箔
JPH07233497A (ja) * 1994-02-24 1995-09-05 Nippon Denkai Kk 非シアン系銅−亜鉛電気めっき浴、これを用いたプリント配線板用銅箔の表面処理方法及びプリント配線板用銅箔
JP3311338B2 (ja) * 2000-02-08 2002-08-05 ジーエイ−テック インク(ディービーエイ ゴールド エレクトロニックス インク) プリント回路板用の、クロムで被覆された銅を形成する方法
JP2002319407A (ja) * 2001-04-23 2002-10-31 Sanyo Electric Co Ltd リチウム二次電池用電極及びリチウム二次電池
JP3452557B2 (ja) * 2000-07-31 2003-09-29 グールド エレクトロニクス インコーポレイテッド プリント回路基板で用いられる銅層上に抵抗材料を形成する方法およびシート材料

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5925297A (ja) * 1982-08-03 1984-02-09 日本電解株式会社 印刷回路用銅箔
JPH07233497A (ja) * 1994-02-24 1995-09-05 Nippon Denkai Kk 非シアン系銅−亜鉛電気めっき浴、これを用いたプリント配線板用銅箔の表面処理方法及びプリント配線板用銅箔
JP3311338B2 (ja) * 2000-02-08 2002-08-05 ジーエイ−テック インク(ディービーエイ ゴールド エレクトロニックス インク) プリント回路板用の、クロムで被覆された銅を形成する方法
JP3452557B2 (ja) * 2000-07-31 2003-09-29 グールド エレクトロニクス インコーポレイテッド プリント回路基板で用いられる銅層上に抵抗材料を形成する方法およびシート材料
JP2002319407A (ja) * 2001-04-23 2002-10-31 Sanyo Electric Co Ltd リチウム二次電池用電極及びリチウム二次電池

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2644753A4 (en) * 2010-11-22 2014-08-06 Mitsui Mining & Smelting Co SURFACE-TREATED COPPER FOIL
US9138964B2 (en) 2010-11-22 2015-09-22 Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd Surface-treated copper foil

Also Published As

Publication number Publication date
TWI443226B (zh) 2014-07-01
KR20120084784A (ko) 2012-07-30
KR101188146B1 (ko) 2012-10-05
TW200927993A (en) 2009-07-01
JPWO2009063764A1 (ja) 2011-03-31
WO2009063764A1 (ja) 2009-05-22
KR20100030654A (ko) 2010-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4460026B2 (ja) 抵抗膜層を備えた銅箔
KR100613958B1 (ko) 표면처리 구리박 및 고주파대응기판
JP3670186B2 (ja) プリント配線板用表面処理銅箔の製造方法
KR101343667B1 (ko) 동박 및 그 제조 방법
JP2001177204A (ja) 表面処理銅箔及びその表面処理銅箔の製造方法
JP5435505B2 (ja) レプリカ用金属箔及びその製造方法、絶縁基板、配線基板
WO2003102277A1 (fr) Feuille de cuivre traitee en surface pour substrat dielectrique faible, stratifie cuivre comportant cette feuille et carte a cablage imprime
WO2006028207A1 (ja) プライマー樹脂層を備えたキャリア箔付電解銅箔及びその製造方法
KR20150126008A (ko) 캐리어 부착 동박, 그것을 사용한 구리 피복 적층판, 프린트 배선판, 전자 기기 및 프린트 배선판의 제조 방법
JP3250994B2 (ja) 電解銅箔
KR20110117255A (ko) 전기 저항막 부착 금속박 및 그 제조 방법
KR100755377B1 (ko) 표면처리 동박의 제조방법
KR100743512B1 (ko) 표면처리 동박의 제조방법
WO1996025838A1 (fr) Feuille de cuivre pour circuit imprime multicouche a haute densite
JP4217778B2 (ja) 抵抗層付き導電性基材、抵抗層付き回路基板及び抵抗回路配線板
JP6975845B2 (ja) 表面処理銅箔、銅張積層板、及びプリント配線板の製造方法
JP2011116074A (ja) 電気抵抗膜を備えた金属箔及び同金属箔を用いたプリント回路用基板
TWI530390B (zh) A metal foil having a resistive layer, and a substrate for a printed circuit using the metal foil
JP5443157B2 (ja) 高周波用銅箔及びそれを用いた銅張積層板とその製造方法
JP6329727B2 (ja) キャリア付銅箔、キャリア付銅箔の製造方法、プリント配線板、プリント回路板、銅張積層板、及び、プリント配線板の製造方法
JP2927968B2 (ja) 高密度多層プリント回路内層用銅箔および該銅箔を内層回路用に用いた高密度多層プリント回路基板

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100209

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100210

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4460026

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130219

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140219

Year of fee payment: 4

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250