JP4449362B2 - 画像形成装置および画像検査装置 - Google Patents
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- 基準となる基準画像情報に基づいて記録媒体上に画像を形成する画像形成手段と、
前記記録媒体に形成された画像を読取り、読取画像情報を得る画像読取手段と、
前記基準画像情報の示す画像の、所定の線上に沿った画素の濃度変化を示す関数に関して周波数解析を行う第1周波数解析手段と、
前記読取画像情報の示す画像の、前記第1周波数解析手段が周波数解析の対象とした線上に相当する線上に沿った画素の濃度変化を示す関数に関して周波数解析を行う第2周波数解析手段と、
前記第1および第2周波数解析手段の解析結果の差分を得る解析結果差分手段と、
形成される画像に対し、ある周波数成分を有する不具合を発生させると予測される部位を、当該周波数成分と共に不具合部位リストとして記憶する不具合部位リスト記憶手段と、
前記差分の示す周波数と前記不具合部位リストから、不具合部位の候補を選定する不具合判定手段と、
前記差分の示す周波数成分のピーク値から、前記不具合判定手段により候補として選定された前記不具合部位の不具合の程度を推定する手段と、
前記不具合部位に関して、不具合の進行に関するデータを記憶する進行データ記憶手段と、
前記不具合の程度が許容範囲を越えるまでの時間を、前記推定する手段により推定された不具合の程度と前記不具合の進行に関するデータに基づき算出する手段と、
を有する、画像形成装置。 - 基準となる基準画像情報に基づいて記録媒体上に画像を形成する画像形成手段と、
前記記録媒体に形成された画像を読取り、読取画像情報を得る画像読取手段と、
前記基準画像情報と前記読取画像情報の対応する所定部分の情報を差分して差分画像情報を得る差分画像取得手段と、
前記差分画像情報の示す画像に関して周波数解析を行う差分画像周波数解析手段と、
形成される画像に対し、ある周波数成分を有する不具合を発生させると予測される部位を、当該周波数成分と共に不具合部位リストとして記憶する不具合部位リスト記憶手段と、
前記周波数解析結果に基づく周波数と前記不具合部位リストから、不具合部位の候補を選定する不具合判定手段と、
前記周波数解析結果の周波数成分のピーク値から、前記不具合判定手段により候補として選定された前記不具合部位の不具合の程度を推定する手段と、
前記不具合部位に関して、不具合の進行に関するデータを記憶する進行データ記憶手段と、
前記不具合の程度が許容範囲を越えるまでの時間を、前記推定する手段により推定された不具合の程度と前記不具合の進行に関するデータに基づき算出する手段と、
を有する、画像形成装置。 - 基準となる基準画像情報と、前記基準画像情報に基づいて記録媒体上に形成された画像を読み取ることにより得た読取画像情報とを比較して検査を行う画像検査装置であって、
前記基準画像情報の示す画像の所定の線上に沿った画素の濃度変化を示す関数に関して周波数解析を行う第1周波数解析手段と、
前記読取画像情報の示す画像の、前記第1周波数解析手段が周波数解析の対象とした線上に相当する線上に沿った画素の濃度変化を示す関数に関して周波数解析を行う第2周波数解析手段と、
前記第1および第2周波数解析手段の解析結果の差分を得る解析結果差分手段と、
形成される画像に対し、ある周波数成分を有する不具合を発生させると予測される画像の形成過程のうちの所定の工程を、当該周波数成分と共に不具合工程リストとして記憶するための不具合工程記憶手段と、
前記差分の示す周波数と前記不具合工程リストから、不具合工程の候補を選定する不具合判定手段と、
前記差分の示す周波数成分のピーク値から、前記不具合判定手段により候補として選定された前記不具合工程の不具合の程度を推定する手段と、
前記不具合工程に関して、不具合の進行に関するデータを記憶する進行データ記憶手段と、
前記不具合の程度が許容範囲を越えるまでの時間を、前記推定する手段により推定された不具合の程度と前記不具合の進行に関するデータに基づき算出する手段と、
を有する、画像検査装置。 - 基準となる基準画像情報と、前記基準画像情報に基づいて記録媒体上に形成された画像を読み取ることにより得た読取画像情報とを比較して検査を行う画像検査装置であって、
前記基準画像情報と前記読取画像情報の対応する所定部分の情報を差分して差分画像情報を得る差分画像取得手段と、
前記差分画像情報の示す画像に関して周波数解析を行う差分画像周波数解析手段と、
形成される画像に対し、ある周波数成分を有する不具合を発生させると予測される画像の形成過程のうちの所定の工程を、当該周波数成分と共に不具合工程リストとして記憶するための不具合工程記憶手段と、
前記周波数解析結果に基づく周波数と前記不具合工程リストから、不具合工程の候補を選定する不具合判定手段と、
前記周波数解析結果の周波数成分のピーク値から、前記不具合判定手段により候補として選定された前記不具合工程の不具合の程度を推定する手段と、
前記不具合工程に関して、不具合の進行に関するデータを記憶する進行データ記憶手段と、
前記不具合の程度が許容範囲を越えるまでの時間を、前記推定する手段により推定された不具合の程度と前記不具合の進行に関するデータに基づき算出する手段と、
を有する、画像検査装置。
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