JP4392557B2 - 検査装置 - Google Patents
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Description
1 第一検査部
11 支持部
12 第一搬送手段
13 第一撮像手段
14 第一照明装置
2 第二検査部
21 リフト手段
22 第二搬送手段
23 第二撮像手段
24 第二照明装置
3 判定装置
4 筐体本体
5 補助光源
9 検査対象物
Claims (4)
- 平板状の検査対象物における欠陥を検査する検査装置であって、
前記検査対象物の一方面が露出するように前記検査対象物を支持する支持部、及び、前記検査対象物の一方面を撮像する第一撮像手段を有する第一検査部と、
前記検査対象物の一方面を吸着して持ち上げるリフト手段、及び、前記検査対象物の他方面を撮像する第二撮像手段を有する第二検査部と、
前記第一撮像手段及び前記第二撮像手段が撮像した検査画像に基づいて前記検査対象物の欠陥を検出する判定装置とを備え、
前記支持部は、透明材料により形成されており、
前記支持部を挟んだ前記第一撮像手段の反対側に配置され、前記第一撮像手段に向けて光を照射する光源を更に備え、
前記判定装置は、前記光源からの照射によって強調された前記検査対象物の側縁を基準として、前記検査対象物の検査画像の傾き補正を行う検査装置。 - 前記支持部は、前記検査対象物が載置される載置面を有する支持部上部と、
前記支持部上部の下部に配置され、前記支持部上部との間に内部空間を形成する支持部下部とを備えており、
前記載置面には、前記内部空間に向けて貫通する吸引孔が形成されており、
前記支持部上部及び前記支持部下部の少なくともいずれか一方には、前記内部空間の空気を吸引する吸引装置が接続される吸引流路が形成されており、
前記支持部上部は、前記支持部下部に対して着脱自在に取り付けられている請求項1に記載の検査装置。 - 前記光源は、赤色光または赤外光を発する請求項1または2に記載の検査装置。
- 前記第一検査部及び前記第二検査部は、互いに水平方向に隣接して配置されており、
前記第一検査部は、前記第一撮像手段の撮像エリア内を移動可能となるように前記支持部を搬送する第一搬送手段を備え、
前記第二検査部は、前記第二撮像手段の撮像エリア内を移動可能となるように前記リフト手段を搬送する第二搬送手段を備えており、
前記第一搬送手段及び前記第二搬送手段は、前記第一撮像手段及び前記第二撮像手段の撮像エリア外において、前記支持部が、前記リフト手段の下方に配置されるように構成されている請求項1〜3のいずれかに記載の検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007307964A JP4392557B2 (ja) | 2007-11-28 | 2007-11-28 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007307964A JP4392557B2 (ja) | 2007-11-28 | 2007-11-28 | 検査装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2009133643A JP2009133643A (ja) | 2009-06-18 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP (1) | JP4392557B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011220806A (ja) * | 2010-04-08 | 2011-11-04 | Japan Electronic Materials Corp | 微細部品外観自動検査装置 |
CN103964214B (zh) * | 2013-02-04 | 2017-04-12 | 李志强 | 一种检测设备及检测方法 |
CN109342458A (zh) * | 2018-11-14 | 2019-02-15 | 大连崇达电路有限公司 | 一种高精密印制线路板外观质量检测装置及其使用方法 |
CN109877060A (zh) * | 2019-03-01 | 2019-06-14 | 东莞市国瓷新材料科技有限公司 | 围坝陶瓷基板的全自动检测设备 |
KR102671663B1 (ko) * | 2021-08-23 | 2024-06-03 | 동원시스템즈 주식회사 | 소형 건전지캔의 크랙 자동검사장치 |
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JP2009133643A (ja) | 2009-06-18 |
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Date | Code | Title | Description |
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A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20090331 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090612 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090929 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121023 Year of fee payment: 3 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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