JP2015094642A - 探傷装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 116
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 114
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 74
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 189
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 15
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 21
- 206010052428 Wound Diseases 0.000 description 19
- 208000027418 Wounds and injury Diseases 0.000 description 19
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 description 10
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 4
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 208000032544 Cicatrix Diseases 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000002932 luster Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 231100000241 scar Toxicity 0.000 description 1
- 230000037387 scars Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink
Abstract
Description
被検査体に光を照射する偏光フィルタを有する照明装置と、
前記被検査体の表面を撮像する偏光フィルタを有する撮像装置と、
前記撮像装置によって撮像された画像から前記被検査体の表面の傷部を検出する検出装置とを備える探傷装置において、
前記照明装置の照射方向とは異なる方向から前記検査体に光を照射する、少なくとも1つ以上の斜光照明装置を備え、
前記斜光照明装置は、それぞれ光を照射するものであって、1つの該斜光照明装置の光の照射毎に連動して前記撮像装置が順次撮像することを特徴とする。
前記照明装置の照射方向と、前記斜光照明装置の照射方向とのなす角度が、60°以上90°未満であることを特徴とする。
前記斜光照明装置の光源は、発光ダイオード(LED)であることを特徴とする。
前記斜光照明装置は、偏光フィルタを備えることを特徴とする。
前記斜光照明装置は、前記被検査体に対して回動可能であることを特徴とする。
前記被検査体を載置するとともに、該被検査体を回動可能とする載置装置を備えることを特徴とする。
20 照明装置
21 偏光フィルタ
30 撮像装置
31 偏光フィルタ
40 検出装置
50 斜光照明装置ユニット
51,53,55,57 斜光照明装置
52,54,56,58 偏光フィルタ
60,160,260 被検査体
70 打痕(傷部)
170 クラック(傷部)
Claims (6)
- 被検査体に光を照射する偏光フィルタを有する照明装置と、
前記被検査体の表面を撮像する偏光フィルタを有する撮像装置と、
前記撮像装置によって撮像された画像から前記被検査体の表面の傷部を検出する検出装置とを備える探傷装置において、
前記照明装置の照射方向とは異なる方向から前記検査体に光を照射する、少なくとも1つ以上の斜光照明装置を備え、
前記斜光照明装置は、それぞれ光を照射するものであって、1つの該斜光照明装置の光の照射毎に連動して前記撮像装置が順次撮像することを特徴とする、探傷装置。 - 前記照明装置の照射方向と、前記斜光照明装置の照射方向とのなす角度が、60°以上90°未満であることを特徴とする、請求項1に記載の探傷装置。
- 前記斜光照明装置の光源は、発光ダイオード(LED)であることを特徴とする、請求項1または2に記載の探傷装置。
- 前記斜光照明装置は、偏光フィルタを備えることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載の探傷装置。
- 前記斜光照明装置は、前記被検査体に対して回動可能であることを特徴とする、請求項1〜4のいずれかに記載の探傷装置。
- 前記被検査体を載置するとともに、該被検査体を回動可能とする載置装置を備えることを特徴とする、請求項1〜5のいずれかに記載の探傷装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013233550A JP2015094642A (ja) | 2013-11-11 | 2013-11-11 | 探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2013233550A JP2015094642A (ja) | 2013-11-11 | 2013-11-11 | 探傷装置 |
Publications (1)
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JP2015094642A true JP2015094642A (ja) | 2015-05-18 |
Family
ID=53197135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2013233550A Pending JP2015094642A (ja) | 2013-11-11 | 2013-11-11 | 探傷装置 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2015094642A (ja) |
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