JP5948974B2 - 表面欠陥検査装置 - Google Patents
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Description
まず、本発明の実施の形態にかかる表面欠陥検査装置の構成および機能について説明する。図1は、本発明の実施の形態にかかる表面欠陥検査装置の一構成例を示す模式図である。図2は、被検査金属材に対する撮像部および拡散照明部の位置関係を例示する模式図である。図3は、拡散照明部の一構成例を示す分解模式図である。
β=2α―θ1 ・・・(1)
ここで、Lt2は、位置P1に照射された照明光Lt1の正反射光で表しており、正反射光の進行方向βは、撮像部2の光軸C1と平行な直線であるC4を基準として定義されている。
−(θ1)/2<α<(θ1)/2 ・・・(2)
−(θ1)/2+δ≦(θ2)/2≦(θ1)/2−δ ・・・(3)
また、傾斜角θ1の増加に伴って、表面欠陥検査装置1全体のサイズが大きくなり、検査装置の設置に広い空きスペースが必要となる。このため、表面欠陥検査装置1の設備規模の観点から、傾斜角θ1の上限設定によって、表面欠陥検査装置1の設備規模の大型化を抑制することが望ましい。
L=(60mm/2)×{sin(20°/2)}×2=10.42mm・・・(4)
2 撮像部
3,4 拡散照明部
3a LED基板
3b LED
3c 拡散板
5 金属材回転部
6 欠陥検出部
7 表示部
8 制御部
10 鋼管
10a 有効検査領域
15 単位検査画像
16 全周検査画像
C1 撮像部の光軸
C2,C3 照明の光軸面
C10 管軸
er1〜er4 表面欠陥
Lt1 照明光
Lt2 正反射光
Claims (4)
- 円筒形状の外形を有する金属材の表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、
前記金属材表面の法線方向から前記金属材の有効検査領域の画像を撮像する撮像部と、
円筒形状の前記金属材の長手方向中心軸に垂直な面内で前記撮像部の光軸に対して互いに逆方向に同じ傾斜角θ1だけ傾斜し、前記撮像部の光軸に対して前記傾斜角θ1をなす照射方向の拡散光を前記有効検査領域に照射して、前記有効検査領域を照明する一対の拡散照明部と、
前記有効検査領域の画像をもとに前記有効検査領域内の表面欠陥を検出する欠陥検出部と、
を備え、前記有効検査領域は、前記金属材の外周面のうちの前記傾斜角θ1に比して小さい中心角θ2の円弧面であり、前記中心角θ2は、下式(1)によって定義される範囲内の角度であることを特徴とする表面欠陥検査装置。
−(θ1)/2+δ≦(θ2)/2≦(θ1)/2−δ ・・・(1)
ただし、定数δは、前記撮像部が前記有効検査領域から正反射光を受光せずに拡散反射光のみを観察でき且つ前記有効検査領域内の位置の違いによって表面欠陥の検出寸法が変化しないように、前記有効検査領域に照射される前記拡散光の光源の種類や前記金属材の表面性状によって決定される定数である。 - 前記一対の拡散照明部の各々は、前記金属材の長手方向の中心軸と平行な方向に延伸するバー型照明部であることを特徴とする請求項1に記載の表面欠陥検査装置。
- 前記金属材をその中心軸の周りに回転する金属材回転部と、
前記中心角θ2毎に前記金属材を回転するように前記金属材回転部を制御するとともに、前記金属材が前記中心角θ2だけ回転する都度、前記金属材の有効検査領域の画像を撮像するように前記撮像部を制御する制御部と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の表面欠陥検査装置。 - 前記欠陥検出部は、前記金属材の外周面の全周に亘って前記撮像部が撮像した複数の有効検査領域の画像を蓄積し、前記複数の有効検査領域の画像をもとに、前記金属材の外周面内の表面欠陥を検出することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の表面欠陥検査装置。
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