JP4357373B2 - 高信頼性制御装置 - Google Patents
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Description
11 比較回路
12 自己チェック回路
121 テストパターン発生回路
122 フォールト注入回路
2 プロセッサ
3 記憶装置
D 読み出し時におけるバス上のデータの流れ
Claims (3)
- プロセッサと、該プロセッサから独立に書き込みおよび読み出しを受ける記憶装置とからなる複数の処理装置を並列に設けるとともに、前記複数のプロセッサの演算結果を比較し、前記プロセッサの処理の正当性を診断する比較装置を備えた多重化処理装置を有する高信頼性制御装置において、
前記比較装置は、前記複数の記憶装置内の内容を比較して前記記憶装置のエラー検知を行う比較回路と、該比較回路の正常性をチェックする自己チェック回路と、を備え、
該自己チェック回路は、フリップフロップを従属接続して最後端のフリップフロップの出力が最先端のフリップフロップに接続されたフォールトのパターンを発生するテストパターン発生回路と、該テストパターン発生回路の1段おきのフリップフロップの出力を前記比較回路の複数系統のデータ入力に注入する複数のフォールト注入回路と、を備えている
ことを特徴とする多重化処理装置を有する高信頼性制御装置。 - 請求項1に記載の高信頼性制御装置において、
前記比較装置の診断結果の出力が「正常」と「異常」を交互に繰り返す場合には、前記比較装置は正常と判断され、
前記比較装置の診断結果の出力が「正常」と「正常」を繰り返す場合、または「異常」と「異常」を繰り返す場合には、前記比較装置は異常と判断される
ことを特徴とする多重化処理装置を有する高信頼性制御装置。 - 請求項1または請求項2に記載の高信頼性制御装置において、
前記複数の処理装置のそれぞれのプロセッサは、同一動作周波数で同一の処理を行い、
前記比較回路は、制御サイクル中のアイドル時間を利用して上記複数の記憶装置内の内容を順次読み出し、他系の記憶装置内の内容とビット単位で比較することによって、記憶装置のエラー検知を行う
ことを特徴とする多重化処理装置を有する高信頼性制御装置。
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