JP4333741B2 - ディスプレイ用部材の露光方法およびプラズマディスプレイ用部材の製造方法 - Google Patents
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Description
2:基板
3:隔壁
4:補助隔壁
4−1:パターン標準部
4−2:パターン終端部
5:感光層
このような隔壁層を形成する方法として、本発明では絶縁性無機成分と感光性有機成分からなる感光性ペーストを用いたフォトリソグラフィー法が好ましく適用される。
酸化ビスマス :10〜40重量部
酸化ケイ素 : 3〜50重量部
酸化ホウ素 :10〜40重量部
酸化バリウム : 8〜20重量部
酸化アルミニウム:10〜30重量部。
酸化リチウム : 2〜15重量部
酸化ケイ素 :15〜50重量部
酸化ホウ素 :15〜40重量部
酸化バリウム : 2〜15重量部
酸化アルミニウム: 6〜25重量部。
L−2(mm) ≦ L(mm) ≦ L+5(mm)
であることが好ましい。このような長さとすることで、後術する本発明の露光方法を有効に実施することができる。尚、パターン長さとは、一方向へ連続した線状パターンの長さをいう。
ガラス基板PD200(サイズ:964×570mm)上に感光性銀ペースト用いてアドレス電極を作成した。感光性銀ペーストを塗布、乾燥、露光、現像、焼成工程を経て、線幅100μm、厚み3μm、ピッチ300μmのアドレス電極を形成した。
実施例1において、露光動作時の基板の移動を実施しなかった(基板もフォトマスクも静止状態)他は同一手法にて隔壁パターンを得た後、画像検査を実施した。検査の結果、得られた隔壁パターンはフォトマスクに付着した黒色異物部分での断線、欠けが無数に発生したものであった。
実施例1の露光動作において、基板とフォトマスクの位置を合わせた後、一度10秒間露光動作を実施し、その後基板をフォトマスク上に配設されたストライプパターンの延長上に0.5mm移動させ、再度10秒間露光動作を実施した他は同一手法にて隔壁パターンを得た。得られた隔壁パターンを画像検査装置にて欠陥検査を実施した。検査の結果、得られた隔壁パターンは、フォトマスク上の黒色異物に相当する部位は若干細り気味であったが、断線、欠け、太り、短絡などの欠陥はないものであった。
ガラス基板PD200(サイズ:964×570mm)上に感光性銀ペースト用いてアドレス電極を作成した。感光性銀ペーストを塗布、乾燥、露光、現像、焼成工程を経て、線幅100μm、厚み3μm、ピッチ300μmのアドレス電極を形成した。
得られた隔壁パターンを画像検査装置(Vテクノロジー製 スーパーネプチューン9000)にて欠陥検査を実施した。検査の結果、得られた隔壁パターンに断線、欠け、太り、短絡などの欠陥はないものであった。
実施例2において、補助隔壁および隔壁露光動作時の基板の移動を実施しなかった(基板もフォトマスクも静止状態)他は同一手法にて井桁形状の隔壁パターンを得た後、画像検査を実施した。検査の結果、得られた補助隔壁および隔壁パターンはフォトマスクに付着
した黒色異物部分での断線、欠けが無数に発生したものであった。
実施例1において、感光性ペーストの塗布膜の露光に用いたフォトマスク(終端部幅および標準部幅が50μm)を、ストライプパターン長さ530mm、ストライプパターン長手方向終端部から内側に0.8mmの範囲の幅(終端部幅)を80μmに変更した他は同一手法により隔壁パターンを得た。すなわち、このフォトマスクの終端部幅は標準部幅の1.6倍である。得られた隔壁パターンを画像検査装置にて欠陥検査を実施した。検査の結果、得られた隔壁パターンに断線、欠け、太り、短絡などの欠陥はないものであった。
Claims (3)
- 基板上に感光層が形成されたディスプレイ用部材に対し、ストライプ状のパターンを有するフォトマスクを介して露光動作を行うディスプレイ用部材の露光方法であって、フォトマスクのパターンの長さが、得られるパターンの長さより長く、かつ前記感光層の塗布幅よりも長いフォトマスクを用い、露光動作中にフォトマスクと基板とを前記ストライプの方向に対して平行方向に相対移動させることを特徴とするディスプレイ用部材の露光方法。
- 相対移動させる距離が0.03〜10mmであることを特徴とする請求項1に記載のディスプレイ用部材の露光方法。
- 請求項1または2に記載の露光方法を用いたディスプレイ用部材の製造方法。
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