JP4327693B2 - 光ディスク装置及び光検知信号処理方法 - Google Patents
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Description
実際の光ディスク装置では分割受光部が搭載されているピックアップヘッドとトラッキング誤差信号生成回路が搭載された部分は別体となって、その間がケーブルで接続されており、かつ、回路基板上の部品配置の制約により、分割受光部からトラッキング誤差信号生成回までの配線長は分割受光部を構成する受光素子それぞれで異なるので、配線の伝達特性が揃わない。例えば、遅延時間が揃っていない場合、各受光素子からの光検知信号がトラッキング誤差信号生成回路まで到達する時間が異なることとなる。
シフトレジスタ402は、数値を蓄積する部分(レジスタ)が縦続接続されているもので、外部からのタイミング信号により蓄積した数値を順次転送する。シフトレジスタ402は、発振器403から一定周期で数値を転送するためのタイミング信号が入力されていて、一定周期で数値を隣接するレジスタへ転送する。
図6は又、本発明の第3実施形態におけるトラッキング誤差信号生成のブロック図を示す。第3実施形態の構成は第2実施形態と同様であるので各部の詳細説明は省略する。
このように遅延時間可変回路の出力信号の遅延時間差を小さくする構成とすることにより、一種のフィードバックループを構成するので、検出器400の検出遅延時間に対するゲイン誤差、遅延時間可変回路の遅延時間指令値に対するオフセット誤差・ゲイン誤差に影響されずに、遅延時間差の補正を行える。
Claims (27)
- レーザービームを光ディスクに照射し、その反射ビームを第1及び第2受光素子を含む受光部にて受光し、前記反射ビームに対応する第1及び第2光検知信号を提供する光ピックアップと、
前記光ピックアップから前記第1及び第2光検知信号を受信し、前記第1及び第2光検知信号の信号伝播遅延時間差を測定する測定手段と、
前記第1及び第2光検知信号の遅延時間が同一となるように、前記信号伝播遅延時間差に基づいて該第1及び第2光検知信号を遅延する遅延手段と、
前記遅延手段により遅延された前記第1及び第2光検知信号を処理し、処理された信号を提供する信号処理回路と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記ピックアップは前記レーザービームを集光する対物レンズと、前記対物レンズにより集光した前記レーザービームが、回転する前記光ディスク上に形成されたトラック上をトレースするように前記対物レンズをディスク半径方向に移動させるトラッキングアクチュエータを含み、
前記処理回路は、前記遅延手段により遅延された前記第1及び第2光検知信号に基づいて、トラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差生成回路を含み、
前記光ディスク装置は更に前記トラッキング誤差信号に基づいて、前記トラッキングアクチュエータを制御するトラッキング制御手段を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記測定手段において測定に用いられる測定用信号を発生する信号発生回路と、
前記光ピックアップの前記第1及び第2受光素子の直後に設けられ、該第1及び第2受光素子から提供される前記第1及び第2光検知信号と、前記測定用信号の一方を選択し、選択した信号を前記遅延手段に提供する選択手段と、
前記測定手段の測定時に、前記選択手段が前記測定用信号を選択するよう前記選択手段に制御信号を提供する制御部と、
を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記半導体レーザに駆動電流を提供するレーザ駆動手段と、
前記光ディスクの情報再生時、前記駆動電流に高周波信号を重畳する高周波重畳手段と、
前記測定手段の測定時に、前記高周波信号の周波数を下げるよう前記高周波重畳手段を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記半導体レーザに駆動電流を提供するレーザ駆動手段と、
前記測定手段の測定時に、前記駆動電流を測定用信号により変調し、前記半導体レーザの出射パワーを変動させる手段と、
を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記信号発生器は、
信号波形を記憶するメモリと、
アドレス情報を発生して前記メモリ内に記憶されたデータを順次読み出す読み出し手段と、
前記メモリから読み出されたデータをD/A変換するD/A変換器とを具備することを特徴とする請求項3記載の光ディスク装置。 - 前記遅延手段は、
複数の途中出力タップを有する遅延線と、
前記信号伝播遅延時間差に基づいて、前記複数タップのうち1つを選択し、該選択したタップから遅延された光検知信号を提供する選択手段とを具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記遅延手段は、全域通過フィルターを使用した遅延時間可変回路を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。
- 前記遅延手段は電荷結合素子(CCD)を使用した遅延時間可変回路630を具備することを特徴とする請求項1項記載の光ディスク装置。
- 前記遅延手段は、
前記選択手段により選択及び提供される光検知信号をA/D変換するA/D変換器と、
前記A/D変換器により変換されたデータを格納し、格納したデータを所定周期のクロック信号に基づいてシフトするシフトレジスタと、
前記信号伝播遅延時間差に基づいて、前記シフトレジスタにおける1つのレジスタを選択し、選択されたレジスタに蓄積された電荷を供給する選択手段と、
を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記測定手段は、前記信号発生器からの信号と信号発生器が発生すべき理想的な信号との相互相関を判断し、相互相関を示す信号を出力する相互相関判断手段と、
前記相互相関判断手段の出力信号を2値化する2値化手段と、
前記2値化手段の出力信号と前記信号発生器の信号発生タイミングに基づいて、前記信号伝播遅延時間差を提供する手段を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 相互相関判断手段はSAWコンボルバを具備することを特徴とする請求項11記載の光ディスク装置。
- 前記測定手段は、前記信号発生器から信号を発生させた時刻と、前記信号発生器からの信号を2値化して信号を検出した時刻との時間差を検出することを特徴とする請求項3記載の光ディスク装置。
- 前記測定手段は、前記遅延時間差の期間に、定電流源によって充電されたコンデンサに発生する電位差を用いて前記遅延時間差を測定することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。
- 前記検出手段は、前記遅延時間差の期間に、発振器から発生したパルスの数をカウンタによって計数した値に基づいて前記遅延時間差を測定することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。
- レーザービームを光ディスクに照射し、その反射ビームを第1及び第2受光素子を含む受光部にて受光し、前記反射ビームに対応する第1及び第2光検知信号を提供する光ピックアップと、
前記光ピックアップから前記第1及び第2光検知信号を受信し、前記第1及び第2光検知信号の信号伝播遅延時間差を測定する測定手段と、
前記第1及び第2光検知信号の遅延時間が同一となるように、前記信号伝播遅延時間差に基づいて該第1及び第2光検知信号を遅延する遅延手段と、
前記遅延手段により遅延された前記第1及び第2光検知信号から、該第1及び第2光検知信号の伝送経路の伝達周波数特性を判断する特性判断手段と、
前記特性判断手段により判断された前記伝達特性に応じて、その周波数伝達特性が変更され、前記遅延手段により遅延された前記第1及び第2光検知信号を補正する可変イコライザと、
前記可変イコライザにより補正された前記第1及び第2光検知信号から、再生情報である2値化されたデータを抽出する信号処理回路と、
を具備することを特徴とする光ディスク装置。 - 前記測定手段の測定に用いられる測定用信号を発生する信号発生回路と、
前記光ピックアップの前記第1及び第2受光素子の直後に設けられ、該第1及び第2受光素子から提供される前記第1及び第2光検知信号と、前記測定用信号の一方を選択し、選択した信号を前記遅延手段に提供する選択手段と、
前記測定手段の測定時に、前記選択手段が前記測定用信号を選択するよう前記選択手段に制御信号を提供する制御部と、
を具備することを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。 - 前記半導体レーザに駆動電流を提供するレーザ駆動手段と、
前記光ディスクの情報再生時、前記駆動電流に高周波信号を重畳する高周波重畳手段と、
前記測定手段の測定時に、前記高周波信号の周波数を下げるよう前記高周波重畳手段を制御する制御部と、
を具備することを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 前記半導体レーザに駆動電流を提供するレーザ駆動手段と、
前記測定手段の測定時に、前記駆動電流を測定用信号により変調し、前記半導体レーザの出射パワーを変動させる手段と、
を具備することを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。 - 前記可変イコライザとして、中心周波数とブースト量が可変のバンドパスフィルターを用いていることを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。
- 前記可変イコライザとして、カットオフ周波数とブースト量が可変のハイパスフィルターを用いていることを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。
- 前記伝達周波数特性を判断する特性判断手段として、高速フーリエ変換(FFT)を用いていることを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。
- 前記伝達周波数特性を判断する特性判断手段として、バンドパスフィルターを複数並べそれぞれのフィルターが出力する振幅エネルギーを用いていることを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。
- 前記伝達周波数特性の計測のために使用する信号として、一定時間内を観測した時に一様な周波数スペクトラムとなる信号を用いていることを特徴とする請求項16記載の光ディスク装置。
- 伝達周波数特性の計測のために使用する信号として、振幅が一定でバンドパスフィルターの中心周波数にあわせた正弦波を一定時間ごとに順次切り換えた信号を用いられていることを特徴とする請求項22記載の光ディスク装置。
- 光ディスク装置における光検知信号処理方法であって、
レーザービームを光ディスクに照射し、その反射ビームを第1及び第2受光素子を含む受光部にて受光し、前記反射ビームに対応する第1及び第2光検知信号を提供し、
前記第1及び第2光検知信号を受信し、前記第1及び第2光検知信号の信号伝播遅延時間差を測定し、
前記第1及び第2光検知信号の遅延時間が同一となるように、前記信号伝播遅延時間差に基づいて該第1及び第2光検知信号を遅延し、
前記遅延された前記第1及び第2光検知信号を処理し、処理された信号を提供することを具備する光検知信号処理方法。 - 光ディスク装置における光検知信号処理方法であって、
レーザービームを光ディスクに照射し、その反射ビームを第1及び第2受光素子を含む受光部にて受光し、前記反射ビームに対応する第1及び第2光検知信号を提供し、
前記第1及び第2光検知信号を受信し、前記第1及び第2光検知信号の信号伝播遅延時間差を測定し、
前記第1及び第2光検知信号の遅延時間が同一となるように、前記信号伝播遅延時間差に基づいて該第1及び第2光検知信号を遅延し、
前記遅延された前記第1及び第2光検知信号から、該第1及び第2光検知信号の伝送経路の伝達周波数特性を判断し、
前記判断された伝達周波数特性に応じて、可変イコライザの周波数伝達特性を変更し、
前記遅延された前記第1及び第2光検知信号を前記可変イコライザにより補正し、
前記可変イコライザにより補正された前記第1及び第2光検知信号から、再生情報である2値化されたデータを抽出することを具備する光検知信号処理方法。
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