JP4260104B2 - 光ディスクおよび光ディスク装置 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスクおよびレーザ光を光ディスクに照射して情報を記録および／もしくは再生する光ディスク装置に関するものであり、特に、ディスク種別を判別する際に用いて好適なものである。

近年、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等、さまざまな光ディスクが開発され商品化されている。これらの光ディスクは、何れもディスク径が同じであるものの、使用されるレーザ光が異なっており、このため、互換記録再生を行う場合には、対応する数種の波長のレーザ光を出射可能な互換型光ピックアップが光ディスク装置に搭載される。

かかる光ディスク装置においては、装着された光ディスクの種別を判別し、対応する波長のレーザ光を記録／再生用レーザ光として選択設定する手段が必要となる。ここで、装着された光ディスクの種別判定は、たとえば、予め光ディスクの管理領域に記録されているディスク種別情報を再生して行うことができる。

しかし、この場合には、まず管理領域を読むためのレーザ光を選択設定しなければならず、このとき、選択設定したレーザ光が装着されたディスクに対応したものでなければ、再度、レーザ光を切り替えて読み取り動作を行わなければならない。この場合、先の読み取り動作は無駄なものとなってしまい、ディスク判別処理に長期間を要することとなる。

かかる判別手法の他、装着された光ディスクの反射率を検知し、それをもとに当該ディスクの種別を判定する手法が知られている。しかしこの場合、ディスク判別を可能とするために低い反射率の材料を反射層材料として用いると再生信号のＳＮが悪くなるとの問題が生じ、逆に、記録再生に好適な高い反射率を持った材料を反射層材料として用いると、他のディスクとの間で反射率の差を持たせ難くなり、ディスク判別を円滑に行えなくなる。

この他、以下に示す特許文献１には、ＣＤ用レーザ光を照射したときのディスク反射光から得られるＬＶＬ信号の波形（振幅）の違いから、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤを識別する技術が記載されている。しかし、この場合には、ＬＶＬ信号の波形（振幅）の違いが小さいことから、ディスク判別を円滑に行い得ないとの危惧がある。
特開２００４−１５２３７７号公報

上記課題に鑑み本発明は、光ディスクの記録再生特性を阻害することなく、迅速かつ円滑にディスク判別を行い得る光ディスクおよび光ディスク装置を提供することを課題とする。

請求項１の発明は、ディスク上に設定されたディスク判別領域に、ディスクに対し記録および／もしくは再生する際に使用されるレーザ光の波長よりも小さいピッチで、且つ記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造が形成され、さらに、該凹凸構造上に反射層が形成されていることを特徴とする光ディスクである。

本発明によれば、ディスク判別領域に対応する位置に波長の異なるレーザ光を順次照射することにより、装着されたディスクがどの種別のものであるかを識別することができる。本発明に係る凹凸構造は照射レーザ光の波長よりも小さい特定波長にて反射率のピークを有することが本願発明者によって確認されている。よって、たとえば、かかる反射率特性と、異なる波長のレーザ光を照射したときの反射率とを対比することにより、装着されたディスクの種別を識別することができる。凹凸構造が形成されていない平坦な反射層の反射率は、通常、照射レーザ光の波長が大きくなるにつれて大きくなる。したがって、当該ディスクに対応する波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造を形成すると、波長の異なるレーザ光をディスク判別領域に対応する位置に照射することにより、当該位置に凹凸構造が形成されているかを検知することができる。そして、この検知結果から、装着されたディスクの種別を判定することができる。

ここで、ディスク判別領域は、請求項２に記載のように、データを記録および／もしくは再生する領域以外の領域に設定することができる。より具体的には、請求項３に記載のように、データを記録および／もしくは再生する領域よりもさらに内周側の領域にディスク判別領域を設定することができる。

こうすると、光ディスクの記録再生特性を阻害することなく凹凸構造に基づくディスク判別を行うことができる。また、凹凸構造をデータの記録および／もしくは再生領域以外の領域に設定するため、凹凸構造の配置によって光ディスクのデータ容量が低下することもない。さらに、請求項３のようにすると、凹凸構造に基づくディスク判別を行った後、迅速に、内周領域にあるリードインの読み取りに移行することができる。

このとき、凹凸構造は、請求項４に記載のように、当該ディスクに対応する波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、あらゆる波長のレーザ光が照射されたときの反射率の中でほぼピーク値となるようにして形成することができる。

こうすると、波長の異なるレーザ光のうち装着されたディスクに対応する波長のレーザ光がディスク判別領域に対応する位置に照射されたときに反射率が最大となるため、装着されたディスクないしそれに用いられる波長のレーザ光を円滑に識別することができる。

請求項５の発明は、ディスク上に設定されたディスク判別領域に、ディスクに対し記録および／もしくは再生の際に使用されるレーザ光の波長よりも小さいピッチで、且つ記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造が形成され、さらに該凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクに対しデータを記録および／もしくは再生する光ディスク装置であって、異なる波長のレーザ光を出射可能な光ピックアップと、前記ディスク判別領域に前記光ピックアップを位置づける手段と、前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して当該ディスクの種別を判別する手段とを有することを特徴とする。

請求項６の発明は、請求項５に記載の発明において、前記ディスク種別を判別する手段は、前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して波長毎の反射率を検出し、検出したそれぞれの反射率を比較して当該ディスクの種別を判別することを特徴とする。

請求項７の発明は、請求項５または６の発明において、前記ディスク種別の判別結果に応じて前記光ピックアップから出射するレーザ光の波長を設定することを特徴とする。

請求項８の発明は、ディスク上に設定されたディスク判別領域に、ディスクに対し記録および／もしくは再生する際に使用されるレーザ光の波長よりも小さいピッチで、且つ記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造が形成され、さらに該凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクに対しデータを記録および／もしくは再生する光ディスク装置であって、異なる波長のレーザ光を出射可能な光ピックアップと、前記ディスク判別領域に前記光ピックアップを位置づける手段と、前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して当該ディスクに使用されるべき波長のレーザ光を設定する手段とを有することを特徴とする。

請求項９の発明は、請求項８の発明において、前記レーザ光を設定する手段は、前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して波長毎の反射率を検出し、検出したそれぞれの反射率を比較して当該ディスクに使用されるべき波長のレーザ光を設定することを特徴とする。

請求項１０の発明は、請求項９の発明において、前記レーザ光を設定する手段は、それぞれの波長に対応して検出された反射率のうち最も大きな反射率を与える波長のレーザ光を当該ディスクに使用されるべきレーザ光として設定することを特徴とする。

請求項５ないし１０の発明によれば、請求項１に係る発明が適用された光ディスクに対して、ディスク種別の判定ならびに使用レーザ光の設定を円滑に行うことができる。

上記のように本発明によれば、光ディスクの記録再生特性を阻害することなく、迅速かつ円滑にディスク判別を行い得る光ディスクおよび光ディスク装置を提供することができる。

本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。

なお、本発明における「ディスク判別領域」は、以下の実施形態では「ナノ領域」として示されている。また、本発明における「データを記録および／もしくは再生する領域」は、以下の実施形態では「プログラム領域」として示されている。

ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。

以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。なお、本実施の形態では、記録／再生用のレーザ光として、波長５００ｎｍのレーザ光と波長８００ｎｍのレーザ光が用いられる。また、ディスクの層構造は、既存の反射型ディスクと同様、透明基板、記録層、反射層、保護層、印刷層等が積層された構造となっている。

まず、図１に実施の形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す。

同図（ａ）は、記録／再生用のレーザ光として波長８００ｎｍのレーザ光が用いられる光ディスク（以下、「通常ディスク」という）のエリアフォーマットを示しており、同図（ｂ）は、記録／再生用のレーザ光として波長５００ｎｍのレーザ光が用いられる光ディスク（以下、「ナノ構造ディスク」という）のエリアフォーマットを示している。

同図（ａ）を参照して、通常ディスクは、内周側から順に、クランプ領域、ミラー領域、プログラム領域に区分されている。クランプ領域は、光ディスク装置内のクランパーによってクランプされる領域である。ミラー領域は、反射層によって平坦なミラー面が形成されている領域である。プログラム領域は、リードイン領域、管理領域、データ領域、リードアウト領域等、データの記録／再生が行われる領域である。

同図（ｂ）を参照して、ナノ構造ディスクには、通常ディスクのミラー領域の一部にナノ領域がさらに配されている。このナノ領域には、基板上に記録／再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されている。

図２は、基板上に形成された凹凸構造の二次電子写真像を示すものである。同図（ａ）は上面側から撮像したときの写真像、同図（ｂ）は斜め上面側から撮像したときの写真像である。なお、同図の写真像は、凹凸構造上にＣｏ50Ａｌ50at.％の合金膜をスパッタによって２０ｎｍ形成した後、電子写真撮像のためにＰｔ−Ｐｄを１０Å蒸着した状態で撮像を行ったときのものである。

同図に示すように、かかる基板上には、縦横均等に一定ピッチにて円柱状の突起が並ぶようにして、凹凸構造が形成されている。この写真像における凹凸構造のピッチ（隣り合う円柱状突起間の距離）は、縦横ともに２５０ｎｍであり、円柱状突起の高さは、１７０ｎｍとなっている。

かかる基板は、以下のようにして形成することができる。

まず、シリコン原盤にスピンコートによりレジストを塗布する。ここで用いられるレジストは電子ビーム用のものである。その後、ＥＢ描画（電子ビームカッティング）にて、上記ピッチの凹凸構造と、プログラム領域のピット、グルーブ等を形成する。この描画後、現像処理を行い、ＲＩＥ加工を行う。さらに、酸素プラズマアッシングを行って、残存するレジストを除去する。これにより、シリコン原盤上に凹凸構造が形成される（Ｓｉ原基）。

次に、このＳｉ原基に対し、Ｎｉスパッタを行い、さらに、電解めっきによって、Ｎｉを堆積する。そして、堆積したＮｉ層をＳｉ原盤から剥離して、スタンパを作製する。このスタンパを用いて、射出成形により基板１０を作製する。これにより、凹凸構造とピット、グルーブ等が転写された基板が形成される。

なお、基板材料としては、ポリカーボネートやポリオレフィンといった透光性材料を用いることができる。基板材料は、これ以外に、生分解性材料を用いることもできる。こうすると、廃棄時における環境負荷等を小さくすることができる。

図３は、かかる凹凸構造上に反射層を形成したときの波長−反射率特性の測定結果を示すものである。

この測定は、上記のようにして生成した基板上に、Ｃｏ50Ａｌ50at.%の合金膜（反射層）を、スパッタによって２０nm形成して行った。ここでは、基板材料として、ポリカーボネートを用いた。なお、反射層の形成は、以下のようにして行った。

真空チャンバで５×１０−５Pa以上まで真空引きを行ったのち、Arガスを導入し、０．６Paの雰囲気中でスパッタを行った。チャンバ内には、CoターゲットとAlターゲットを設置し、同時にそれぞれに電力を投入することにより合金化するCo-スパッタ法を用いてＣｏ50Ａｌ50at.%の合金膜（反射膜）を製膜した。尚、基板１０は、反射膜を均一に製膜するために、放電中に、４０rpmで自公転させた。

このようにして基板上に反射層を形成した後、波長を変えながら反射率の測定を行った。

図３（ａ）は、上記の如く凹凸構造のピッチ（隣り合う円柱状突起間の距離）を縦横とも２５０ｎｍとし、その高さを１７０ｎｍとしたときの測定結果（実線）である。同図には、比較例として、反射層形成面が平坦なガラス基板上にＣｏ50Ａｌ50at.%の合金膜をスパッタによって２０nm形成した場合の反射率の測定結果（点線）を重ねて示してある。

同図を参照すると、基板上に上記のような凹凸構造を形成した場合、平坦なＡｌ−Ｃｏ膜を形成したガラス基板に比べ、反射率が３５〜４０％程度低下することが分かる。このことから、凹凸構造を形成すると、凹凸構造を形成しない鏡面部分との間で大きな反射率差を発現させることができることが分かる。

また、同図から、凹凸構造を形成した場合の反射率特性は、波長５００ｎｍ辺りにピークを有していることが分かる。一方、反射層が平坦なＡｌ−Ｃｏ膜である場合には、波長が長くなるにつれて反射率が大きくなっている。

かかる特性上の相違を利用することにより、図１に示す通常ディスクとナノ構造ディスクを光ディスク装置側で区別することができる。すなわち、ディスク上、図１のナノ領域に対応する位置に波長５００ｎｍのレーザ光と波長８００ｎｍのレーザ光を照射し、さらに、このときの反射率の相違を検出することにより、そのディスクが通常ディスクとナノ構造ディスクの何れであるかを判別することができる。

具体的には、波長５００ｎｍのレーザ光を照射したときの反射率Ｒ１と、波長８００ｎｍのレーザ光を照射したときの反射率Ｒ２を比較し、これらがＲ１＞Ｒ２の関係にあれば、そのディスクは、ナノ領域に対応する位置に凹凸構造が形成されたナノ構造ディスクであり、Ｒ１＜Ｒ２であれば、ナノ領域に対応する位置に凹凸構造が形成されていない通常ディスクである。

図４に、光ディスク装置の構成例を示す。

図において、１はＣＰＵ（Central Processing Unit）、２はＣＰＵ１からの指令に応じて半導体レーザ３を駆動するレーザ駆動回路、３は波長５００ｎｍのレーザ光と波長８００ｎｍのレーザ光を出射可能な光ピックアップ、４は光ピックアップ３内に配された光検出器３ｂからの信号を演算ないし増幅して各種信号を対応する回路に出力する再生信号増幅回路、５は再生信号増幅回路４から供給されるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号および同期信号と、ＣＰＵ１からのアクセス指令をもとに、各種サーボ信号を生成し、これらをサーボ機構６およびスピンドルモータ７に供給するサーボ回路、６はサーボ回路５から供給されるフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号に応じて光ピックアップ３に配された対物レンズを駆動するとともに、アクセスサーボ信号に応じて光ピックアップ３をディスク径方向に駆動するサーボ機構、７はサーボ回路５から供給されるモータサーボ信号に応じてディスクを所定の速度にて回転駆動するスピンドルモータである。

図５に、ディスク判別時の処理フローチャートを示す。

光ディスク装置にディスクが装着されると、まず、Ｓ１０１にて、光ピックアップ３がディスク上のナノ領域に対応する位置に移動される。次いで、Ｓ１０２にて、光ピックアップ３から波長５００ｎｍのレーザ光が出射されるとともにフォーカスサーボがＯＮされる。しかる後、Ｓ１０３にて、再生信号増幅回路４から供給される再生ＲＦ信号の振幅値をもとに、ナノ領域に対応する位置における反射率Ｒ１がＣＰＵ１にて算出される。

しかして、波長５００ｎｍのレーザ光が出射したときの反射率Ｒ１が算出されると、Ｓ１０４にて、波長５００ｎｍのレーザ光がＯＦＦとされ、代わりに、波長８００ｎｍのレーザ光がＯＮ、フォーカスサーボがＯＮとされる。そして、上記と同様、Ｓ１０５にて、再生信号増幅回路４から供給される再生ＲＦ信号の振幅値をもとに、ナノ領域に対応する位置における反射率Ｒ２がＣＰＵ１にて算出される。

しかる後、Ｓ１０６にて、上記の如く算出された反射率Ｒ１、Ｒ２の大小関係が判定される。ここで、Ｒ１＜Ｒ２であれば、Ｓ１０７にて、装着されたディスクは通常ディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長８００ｎｍのレーザ光が選択設定される。他方、Ｒ１＞Ｒ２であれば、Ｓ１０８にて、装着されたディスクはナノ構造ディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長５００ｎｍのレーザ光が選択設定される。

しかして、記録／再生用レーザ光が選択設定されると、その後、当該レーザ光を用いた記録／再生動作が実行される。なお、記録／再生動作の実行前に、Ｓ１０７またはＳ１０８にて選択設定したレーザ光にてディスクから管理情報の読み出しを行い、当該ディスクの判別結果が正しいかを検証・確認するようにしても良い。

本実施の形態によれば、ディスク上、ナノ領域に対応する位置に波長５００ｎｍのレーザ光と波長８００ｎｍのレーザ光を照射するのみで、円滑に、当該ディスクの判別を行うことができる。また、通常は使用されていない領域にナノ領域を配置するものであるため、ナノ領域の配置によってディスク容量が減少することもない。さらに、ディスク判別時にレーザ光がプログラム領域に照射されることがないため、レーザ光照射による記録層の劣化が生じることはなく、ディスクの記録再生特性に悪影響を与えることもない。

なお、上述の反射率測定は、低パワーのレーザ光によっても可能であるため、プログラム領域にレーザ光が照射されることがあっても記録層の劣化が生じることはない。低パワーレーザ光であってもナノ構造によって反射率が大きく変化するため、反射率変化によるディスク判別を円滑に行うことができる。

また、本実施の形態では、ナノ構造の形成によって反射率が変化するものであるため、反射層に利用される材料を制限する必要はない。したがって、反射層材料として高反射率の材料を用いることができ、プログラム領域における記録再生特性を高く維持することができる。

なお、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、他にも種々の変更が可能である。

たとえば、上記実施の形態では、記録／再生用のレーザ光として波長５００ｎｍのレーザ光と波長８００ｎｍのレーザ光を用いるディスクを例示したが、これ以外の波長のレーザ光を用いるディスクにも適用可能である。

上述の凹凸構造は、面内方向のピッチを変化させることにより、反射率がピークとなる波長を適宜シフトさせることができる。図３（ｂ）は、図３（ａ）における測定例において、凹凸構造のピッチ（隣り合う円柱状突起間の距離）を２５０ｎｍから２００ｎｍに変化させたときの波長−反射率特性の測定結果である。同図に示す如く、ピッチを２５０ｎｍから２００ｎｍに変化させることにより、反射率ピークを与える波長が５００ｎｍから４００ｎｍ近傍にシフトしている。したがって、記録／再生用レーザ光として波長４００ｎｍ近傍のレーザ光を用いるディスクの場合には、凹凸構造のピッチを２００ｎｍ程度に設定すれば良い。

かかる場合、図５の処理フローにおけるＳ１０２が波長４００ｎｍのレーザ光をＯＮするものに変更される。ずなわち、波長４００ｎｍのレーザ光をＯＮしたときの反射率Ｒ１と、波長８００ｎｍのレーザ光をＯＮしたときの反射率Ｒ２を比較し、Ｒ１＜Ｒ２のときは、装着されたディスクは通常ディスクであるとして、波長８００ｎｍのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択する。他方、Ｒ１＞Ｒ２のときは、装着されたディスクはナノ構造ディスクであるとして、波長４００ｎｍのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択する。

また、波長４００ｎｍのレーザ光と、波長５００ｎｍのレーザ光と、波長８００ｎｍのレーザ光をそれぞれ記録／再生用レーザ光として用いるディスクを互換記録／再生する光ディスク装置では、図５の処理フローは図６のように変更される。

すなわち、光ピックアップ３をディスク上のナノ領域に対応する位置に移動させた後（Ｓ２０１）、波長５００ｎｍのレーザ光をＯＮ(Ｓ２０２)したときの反射率Ｒ１（Ｓ２０３）と、波長８００ｎｍのレーザ光をＯＮ（Ｓ２０４）したときの反射率Ｒ２（Ｓ２０５）と、波長４００ｎｍのレーザ光をＯＮ（Ｓ２０６）したときの反射率Ｒ３（Ｓ２０７）を取得する。そして、これら反射率を比較し、Ｒ１が最大であれば（Ｓ２０８：ＹＥＳ）、装着されたディスクはナノ構造ディスク（波長：５００ｎｍ）であるとして、波長５００ｎｍのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択し、Ｒ２が最大であれば（Ｓ２０８：ＮＯ、Ｓ２０９：ＹＥＳ）、装着されたディスクは通常ディスクであるとして、波長８００ｎｍのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択し、Ｒ３が最大であれば（Ｓ２０８：ＮＯ、Ｓ２０９：ＮＯ）、装着されたディスクはナノ構造ディスク（波長：４００ｎｍ）であるとして、波長４００ｎｍのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択する。

また、このように、それぞれの反射率の大小関係を比較する代わりに、図７に示すように各反射率を閾値Ｒｓと比較し、閾値Ｒｓを超える反射率を与える波長のレーザ光を記録／再生用レーザ光として選択設定するようにしても良い。

さらに、上記実施の形態では、ナノ領域をミラー領域の外周側に配するようにしたが、図８（ａ）に示す如く、ナノ領域をミラー領域の内周側に配するようにしてもよく、また、図８（ｂ）に示す如く、ミラー領域に対応する位置を全てナノ領域として用いるようにしてもよい。この他、ナノ領域はレーザ光を照射可能な任意の位置に適宜設定可能である。但し、ディスク容量の低下を回避するためには、プログラム領域以外の領域に設定するのが望ましい。また、上記では収束光を用いるためにフォーカスサーボをＯＮの状態にして反射率を比較しているが、簡易的にフォーカスサーボをＯＦＦのままで反射率を比較するようにしても良い。

この他、凹凸構造の形状、寸法等も、上記に示されたもの限定されるものではない。本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。

実施の形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す図 実施の形態に係る凹凸構造の二次電子写真像を示す図 実施の形態に係る凹凸構造の波長−反射率特性を示す図 実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図 実施の形態に係るディスク判別時の処理フローチャート 他の実施の形態に係るディスク判別時の処理フローチャート 他の実施の形態に係るディスク判別方法を説明する図 他の実施の形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す図

符号の説明

１ ＣＰＵ
３ 光ピックアップ
４ 再生信号増幅回路
５ サーボ回路
６ サーボ機構
１００ 光ディスク

Claims (10)

1. ディスク上に設定されたディスク判別領域に、ディスクに対し記録および／もしくは再生する際に使用されるレーザ光の波長よりも小さいピッチで、且つ記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造が形成され、さらに、該凹凸構造上に反射層が形成されている、
   ことを特徴とする光ディスク。
2. 請求項１において、
   前記ディスク判別領域は、データが記録および／もしくは再生される領域以外の領域に設定されている、
   ことを特徴とする光ディスク。
3. 請求項２において、
   前記ディスク判別領域は、データが記録および／もしくは再生される領域よりもさらに内周側の領域に設定されている、
   ことを特徴とする光ディスク。
4. 請求項１において、
   前記凹凸構造は、ディスクに対し記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、あらゆる波長のレーザ光が照射されたときの反射率の中でほぼピーク値となるようにして形成されている、
   ことを特徴とする光ディスク。
5. ディスク上に設定されたディスク判別領域に、ディスクに対し記録および／もしくは再生する際に使用されるレーザ光の波長よりも小さいピッチで、且つ記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造が形成され、さらに該凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクに対しデータを記録および／もしくは再生する光ディスク装置であって、
   異なる波長のレーザ光を出射可能な光ピックアップと、
   前記ディスク判別領域に前記光ピックアップを位置づける手段と、
   前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して当該ディスクの種別を判別する手段とを有する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
6. 請求項５において、
   前記ディスク種別を判別する手段は、前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して波長毎の反射率を検出し、検出したそれぞれの反射率を比較して当該ディスクの種別を判別する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
7. 請求項５または６において、
   前記ディスク種別の判別結果に応じて前記光ピックアップから出射するレーザ光の波長を設定する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
8. ディスク上に設定されたディスク判別領域に、ディスクに対し記録および／もしくは再生する際に使用されるレーザ光の波長よりも小さいピッチで、且つ記録および／もしくは再生する際に使用される波長のレーザ光が照射されたときの反射率が、それよりも長い波長のレーザ光が照射されたときの反射率よりも大きくなるようにして凹凸構造が形成され、さらに該凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクに対しデータを記録および／もしくは再生する光ディスク装置であって、
   異なる波長のレーザ光を出射可能な光ピックアップと、
   前記ディスク判別領域に前記光ピックアップを位置づける手段と、
   前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して当該ディスクに使用されるべき波長のレーザ光を設定する手段とを有する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
9. 請求項８において、
   前記レーザ光を設定する手段は、前記ディスク判別領域に異なる波長のレーザ光を照射して波長毎の反射率を検出し、検出したそれぞれの反射率を比較して当該ディスクに使用されるべき波長のレーザ光を設定する、
   ことを特徴とする光ディスク装置。
10. 請求項９において、
    前記レーザ光を設定する手段は、それぞれの波長に対応して検出された反射率のうち最も大きな反射率を与える波長のレーザ光を当該ディスクに使用されるべきレーザ光として設定する、
    ことを特徴とする光ディスク装置。

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