JP4255119B2

JP4255119B2 - スイッチングプローブ

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Publication number: JP4255119B2
Application number: JP2003342843A
Authority: JP
Inventors: 明澤田
Original assignee: Suncall Corp
Current assignee: Suncall Corp
Priority date: 2003-10-01
Filing date: 2003-10-01
Publication date: 2009-04-15
Anticipated expiration: 2023-10-01
Also published as: JP2005106718A

Description

本発明はスイッチングプローブに関し、特に、検査回路の構成を簡単化することができるスイッチングプローブに関するものである。

従来、ワイヤーハーネスなどの雄雌コネクタの内部に設けられた端子の位置が、端子の長さ方向において正常か否かを検出し、コネクタを良品と不良品とに分別するスイッチングプローブが種々提案されている。
例えば、特許文献１には、雌コネクタの端子の位置が正常か否かを検査するための多段ピンスイッチ( スイッチングプローブ) が記載されている。この多段ピンスイッチは、摺動方向に同軸に配設された探りピン、第１接点ピン、第２接点ピンと、夫々のピンを探りピンの前端側( 即ち、コネクタの端子側) へ付勢する３つの戻しスプリングと、ピン及びスプリングなどを収容するためのケーシングと、夫々のピンと間接的に接続された入出力端子及び電線などを備えている。探りピンに接続された電線と第１接点ピンとに接続された電線とが電気的に接続された検査回路を有し、この検査回路の途中部には第１発光ダイオードが配設されている。また、探りピンに接続された電線と第２接点ピンとの間に接続された電線も電気的に接続されて別の検査回路が形成され、この検査回路の途中部には第２発光ダイオードが配設されている。

この多段ピンスイッチにおいては、ケーシング内で探りピンが戻しスプリングに逆らって後方へ摺動されると、探りピンの後瑞部が第１接点ピンの前端部に当接して、探りピンと第１接点ピンが電気的に接続され、この探りピンと第１接点ピンとの夫々に接続された電線からなる検査回路の第１発光ダイオードが発光する。更に、探りピンが後方に摺動されると、探りピンと第１接点ピンと第２接点ピンとが電気的に接続され、探りピンと第２接点ピンとの夫々に接続された電線からなる検査回路の第２発光ダイオードが発光する。

従って、この多段ピンスイッチにより雌コネクタの端子の位置が正常か否かを検出する場合は、探りピンを雌コネクタの端子孔に挿入しても、探りピンと第１接点ピンと第２接点ピンの何れもが接続されず、第１, 第２発光ダイオードの何れもが発光しない場合は、端子が正常な位置よりも雌コネクタの奥側に位置していると判定される。一方、探りピンと第１接点ピンのみが接続され、第１発光ダイオードのみが発光する場合には端子が正常な位置に配設されていると判定される。更に、探りピンと第１接点ピンと第２接点ピンとが全て接続され、第１, 第２発光ダイオードの両方が発光する場合には端子が正常な位置よりも突出していると判定される。即ち、この多段ピンスイッチにおいては、端子が正常な位置よりも奥側及び突出側の何れの場合でも不良品の雌コネクタを検出することができる。

特開平８−７９８８号公報

しかし、特許文献１の多段ピンスイッチにおいては、探りピンと第１接点ピンとが電気的に接続された状態と、探りピンと第１接点ピンと第２接点ピンとが電気的に接続された状態により端子位置の判定を行っている、即ち、電気的に接続された２つの状態により端子位置の判定を行っているので、この２つの接続された状態を検出するために、探りピンと第１接点ピン及び探りピンと第２接点ピンとを接続する２つの検査回路が必要となり、多段ピンに接続される検査回路が複雑になり、その判定も複雑になるといった問題が生じる。

また、３つのピンに３つの入出力端子を接続するために多段ピンスイッチの構成が複雑になる。特に、第１接点ピンに接続される入出力端子は、ケーシング部材の途中部に穴を形成しこの穴に挿通されて、ケーシング部材の内部に配設された第１接点ピンと接続されるので、ケーシング部材の構造が複雑化すると共に強度が低下する。また、この入出力端子は、ケーシング部材と絶縁しなくてはならず、この入出力端子とケーシング部材の間には絶縁部材が設けられ、多段ピンスイッチの大型化といった問題が生じる。雌コネクタの検査時には、夫々のピンは全て同一方向に摺動されるので、夫々のピンの摺動量に対応したスペースが必要となり、多段ピンスイッチが長大化するといった問題も生じる。

本発明の目的は、検査回路を簡単化でき、ピンの摺動方向の長さを短くすることができるスイッチングプローブを提供しようとするものである。

請求項１の発明は、コネクタの端子にプローブ体を当接させて端子の長さ方向における端子の位置が正常か否かを検査するためのスイッチングプローブにおいて、前記プローブ体を摺動可能に支持すると共にプローブ体と電気的に接続された中空状の本体バレルと、前記本体バレルに電気的絶縁状態にして内挿されたインナーバレルと、前記プローブ体に摺動可能に部分的に挿入され且つ電気的に接続された第１ピンと、前記第１ピンの摺動方向に移動可能に第１ピンと所定間隔空けて同軸上に配設され、切断可能にインナーバレルに電気的に接続された第２ピンと、前記第１ピンをプローブ体に対して本体バレルの内方へ伸長方向に付勢する第１付勢バネと、前記第２ピンを第１ピンの方へ付勢する第２付勢バネであって、前記第１付勢バネよりもバネ定数が大きい第２付勢バネと、前記本体バレルに対してプローブ体を伸長方向へ付勢する第３付勢バネと、前記プローブ体に対して第１ピンを伸長限界と退入限界とに亙って所定ストローク摺動可能にするストローク規制部とを備え、前記プローブ体が前記端子に当接後に、本体バレル内に退入して第１ピンと第２ピンとが電気的に接続され、前記第１ピンと第２ピンとが電気的に接続された状態からプローブ体が前記端子に当接して、第１ピンがプローブ体の内部に退入し、前記第１ピンが退入限界までプローブ体の内部に退入すると、第１ピンが第２ピンを押動して、第２ピンとインナーバレルとが電気的に絶縁されることを特徴とするものである。

このスイッチングプローブによれば、プローブ体をコネクタの端子に当接させて、コネクタの端子の長さ方向における端子の位置が正常か否かを検査する。端子の位置が正常な場合にはプローブ体が端子に当接後に、この当接した状態で更にスイッチングプローブがコネクタ側に押されると、プローブ体が端子によって押動されて第１ピンと共に本体バレル内に退入し、第１ピンと第２ピンとが電気的に接続され、本体バレルからプローブ体、第１ピン、第２ピンを介してインナーバレルまでが電気的に接続される。
このとき、第１ピンと第２ピンとが当接された状態で、プローブ体が更に本体バレルに退入すると、まず、第２付勢バネよりもバネ定数の小さい第１付勢バネが縮小されて、伸長限界にあった第１ピンがプローブ体に退入し、プローブ体と第１ピンと第２ピンとを介して電気的に接続された本体バレルとインナーバレルとの接続が維持される。
このように第１ピンと第２ピンとが接続された状態から、更に当接する端子により押動されてプローブ体が本体バレル内に退入すると、第１ピンと第２ピンとの電気的な接続が維持されつつ、第１ピンがプローブ体の内部に退入し、本体バレルとインナーバレルとの電気的接続が維持される。即ち、端子の正常な位置の範囲と、第１ピンと第２ピンとが電気的に接続された状態から第１ピンの退入限界まで退入するまでの第１ピンの退入ストロークを等しくすることで、正常な位置に配設された端子を全て検出することができる。

一方、端子の位置が正常な位置から突出している場合には、第１ピンが退入限界までプローブ体に退入した状態から更にプローブ体が第３付勢バネに抗して押動されると、第２付勢バネが縮小されて第２ピンがインナーバレルに退入し、インナーバレルと電気的に接続されている第２ピンが、当接する第１ピンによってインナーバレル内で摺動されて、第２ピンとインナーバレルとが電気的に絶縁され、本体バレルとインナーバレルとの電気的な接続が切断される。他方、端子の位置が正常な位置から奥側に位置する場合には、プローブ体が端子と当接しないか若しくは当接して端子によってプローブ体が押動されても第１ピンと第２ピンが当接することがないので、本体バレルとインナーバレルとが電気的に接続されることがない。

請求項１の発明によれば、本体バレルとインナーバレルと第１，第２ピンに加えて、第１〜第３付勢バネとストローク規制部を設けたことにより、端子が正常な位置に配設されている場合には本体バレルとインナーバレルとの電気的な接続が維持され、端子が正常な位置からずれている場合には、位置ずれが突出側か奥側に関わらず本体バレルとインナーバレルとの電気的な接続が切断されるので、本体バレルとインナーバレルとに接続する検査回路を１つ設けるだけで、コネクタの良品を検出することができる。また、検査回路が１つだけで検査可能なため、本体バレルとインナーバレルとに直接的若しくは間接的に接続される入出力端子を２つだけ設ければよいので、スイッチングプローブを小型化することができる。

第１ピンと第２ピンとが電気的に接続された状態から更にプローブ体が本体バレル内に退入した場合、第１ピンはプローブ体の内部に退入するので、スイッチングプローブの長さ方向の長さを縮小化することができる。特に、端子の正常な位置の範囲が大きい場合、スイッチングプローブの長さを従来に比べ大幅に縮小化することができる。

しかも、第１付勢バネを第２付勢バネに比べバネ定数の小さな付勢バネを適用することで、第１ピンと第２ピンとが電気的に接続された後、プローブ体が本体バレル内に退入しても本体バレルとインナーバレルとの電気的な接続を確実に維持することができる。

本発明のスイッチングプローブは、コネクタの端子にプローブ体を当接させて端子の長さ方向における端子の位置が正常か否かを検査するためのスイッチングプローブにおいて、前記プローブ体を摺動可能に支持すると共にプローブ体と電気的に接続された中空状の本体バレルと、前記本体バレルに電気的絶縁状態にして内挿されたインナーバレルと、前記プローブ体に摺動可能に部分的に挿入され且つ電気的に接続された第１ピンと、前記第１ピンの摺動方向に移動可能に第１ピンと所定間隔空けて同軸上に配設され、切断可能にインナーバレルに電気的に接続された第２ピンと、前記第１ピンをプローブ体に対して本体バレルの内方へ伸長方向に付勢する第１付勢バネと、前記第２ピンを第１ピンの方へ付勢する第２付勢バネであって、前記第１付勢バネよりもバネ定数が大きい第２付勢バネと、前記本体バレルに対してプローブ体を伸長方向へ付勢する第３付勢バネと、前記プローブ体に対して第１ピンを伸長限界と退入限界とに亙って所定ストローク摺動可能にするストローク規制部とを備え、前記プローブ体が前記端子に当接後に、本体バレル内に退入して第１ピンと第２ピンとが電気的に接続され、前記第１ピンと第２ピンとが電気的に接続された状態からプローブ体が前記端子に当接して、第１ピンがプローブ体の内部に退入し、前記第１ピンが退入限界までプローブ体の内部に退入すると、第１ピンが第２ピンを押動して、第２ピンとインナーバレルとが電気的に絶縁されるものである。

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。本実施例は、雌コネクタの端子の位置が正常か否かを検査するスイッチングプローブに本発明を適用した一例である。尚、以下の説明において、図２に示す前方( スイッチングプローブの挿入方向) を前方として説明する。尚、図２, 図３は、検査前の初期状態におけるスイッチングプローブ１の図である。

図１に例示するように、スイッチングプローブ１は、１対の雄雌コネクタ２, ３のうち、雌コネクタ３の端子孔４にプローブ体１３を挿入して、プローブ体１３を端子５に当接させて、端子５の長さ方向における端子５の位置が正常か否かを検査するためのものである。図２, 図３に示すように、スイッチングプローブ１は、真鍮製の本体バレル１０と、ＰＯＭ製( ポリオキシメチレン) の絶縁部材１１と、真鍮製のインナーバレル１２と、真鍮製のプローブ体１３と、真鍮製の第１ピン１４と、真鍮製の第２ピン１５と、ピアノ線製の第１〜第３付勢バネ１６, １７, １８と、真鍮製のターミナル１９とを備えている。

本体バレル１０は、内部に中空部２０を有する略円筒形状に形成されている。本体バレル１０の前端部には、プローブ体１３の前方への移動を所定位置で規制するための規制部２１が形成されている。本体バレル１０の後端部には、絶縁部材１１とインナーバレル１２とターミナル１９の前後方向の移動を規制するためのディンプル２２がかしめによって形成されている。本体バレル１０の後端部の外周部には、検査回路５０に接続される入力端子２３が電気的に接続されている。

絶縁部材１１は、ディンプル２２によって前後方向に摺動不能に本体バレル１０の後半部分に内挿されている。この絶縁部材１１は、外円筒部２５と、前側内円筒部２６と、後側内円筒部２７からなる。外円筒部２５の前端部と前側内円筒部２６の前端部は連結されている。前側内円筒部２６と後側内円筒部２７とは、前後方向に所定間隔空けて配設され、前側内円筒部２６の後瑞と後側内円筒部２７の前端の間にはインナーバレル１２の内周面を露出させるための窓部２８が形成されている。後側内円筒部２７は、後瑞部が閉口され、第２付勢バネ１７とターミナル１９とを絶縁している。外円筒部２５と内円筒部２６, ２７との間には、インナーバレル１２を内挿するための隙間が径方向に所定幅で形成されている。

インナーバレル１２は、ディンプル２２によって摺動不能に、絶縁部材１１の外円筒部２５と内円筒部２６, ２７との間に形成された隙間に嵌合され、本体バレル１０に電気的絶縁状態で内挿されている。インナーバレル１２の窓部２８から露出される部分には、インナーバレル１２と第２ピン１５とを電気的に接続するための接点２９が、周方向の全周に亙ってかしめにより内側に凸設されている。

プローブ体１３は、縦断面が円状若しくはリング状に形成され、本体バレル１０の前端部に摺動可能に支持されている。プローブ体１３は、端子孔４に挿入され端子５と当接されるプローブ部３１と、プローブ部３１よりも大径の被規制部３２と、内部に形成された中空部３３と、ストッパー部３４などからなる。プローブ体１３は、プローブ部３１が規制部２１に、被規制部３２が本体バレル１０の中空部２０の内壁に夫々摺動可能に支持されることで、摺動される際に前後方向にガイドされると共に、本体バレル１０と電気的に接続される。

被規制部３２は、絶縁部材１１の前端部から被規制部３２の後端部に亙って設けられた第３付勢バネ１８により前方へ付勢されているプローブ体１３の前方への移動を規制部２１との協動により規制する。中空部３３は、第１付勢バネ１６を収容すると共に、第１ピン１４の一部を内挿しガイドするためのものである。ストッパー部３４の内周部は、中空部３３の外径よりもやや小径に形成され、第１ピン１４の前後方向の移動を所定範囲で規制する。

第１ピン１４は、段部３７, ３８を有する横円柱状に形成され、前半部が中空部３３に摺動可能に内挿されている。第１ピン１４の前半部には、中空部３３の内径と外径が略同じ被ガイド部３６が形成され、この被ガイド部３６が中空部３３の周壁に接することで第１ピン１４とプローブ体１３が電気的に接続される。また、第１ピン１４の摺動時には、被ガイド部３６が中空部３３の周壁によって前後方向にガイドされる。第１ピン１４の中央部には、前後１対の段部３７, ３８が形成されている。
初期状態においては、段部３７がストッパー部３４に当接して伸長限界になり、中空部３３に設けられた第１付勢バネ１６により常に後方へ付勢されている第１ピン１４の後方への移動が規制されると共に、退入限界においては、段部３８がストッパー部３４に当接されて、第２ピン１５によって前方へ押動される第１ピン１４の前方への移動が規制される。即ち、この段部３７と段部３８との前後方向の長さが第１ピン１４の退入ストロークになる。尚、前記ストッパー部３４と１対の段部３７, ３８が「ストローク規制部」に相当するものである。

第２ピン１５は、段部を有する横円柱状に形成され、第１ピン１４の摺動方向に移動可能に且つ第１ピン１４と摺動方向に所定間隔空けて同軸上に配設されている。第２ピン１５は、絶縁部材１１の内径と同径の前端部４１及び後瑞部４２と、前後端部４１, ４２よりやや小径に形成された中間部４３とからなる。第２ピン１５が前後方向に移動される場合には、前後端部４１, ４２が、絶縁部材１１の内周面によって前後方向にガイドされる。中間部４３の外径は、接点２９と電気的に接続されるのを防ぐために接点２９の内径よりも小径に形成され、一方、後瑞部４２の外径は接点２９の内径よりも大径に形成され、中間部４３と後瑞部４２との境界には、接点２９と切断可能に電気的に接続される段接点４０が形成されている。

従って、図３に示すように、第２付勢バネ１７により第２ピン１５が前方に付勢され、接点２９と段接点４０が電気的に接続された初期状態から、第２ピン１５が後方へ移動されると、接点２９と段接点４０とが離隔され、また、接点２９と中間部４３とも接触することがないので、第２ピン１５とインナーバレル１２とは電気的に絶縁された状態にされる。尚、段接点４０は、第２付勢バネ１７により前方へ付勢されている第２ピン１５の前方への移動を接点２９との協動により初期状態の位置で規制する。

ターミナル１９は、略横円柱状に形成されている。ターミナル１９の前端部は、インナーバレル１２の後端部に電気的に接続されて内挿され、ディンプル２２によって前後方向への移動不能に固定されている。ターミナル１９の後半部は、外部に露出され、後端部には検査回路５０に接続される出力端子４５が電気的に接続されている。

第１付勢バネ１６は、プローブ体１３の中空部３３に収容され第１ピン１４を常に後方( 伸長方向) へ付勢するためのものである。第２付勢バネ１７は、後側内円筒部２７に内挿され第２ピン１５を第１ピン１４が配設された前方へ付勢するためのものである。尚、第１付勢バネ１６のバネ定数は、第２付勢バネ１７のバネ定数よりも小さいものが適用されている。従って、プローブ体１３が後方へ移動されて第１ピン１４と第２ピン１５が当接され、更に、プローブ体１３が後方へ移動されるとバネ力の弱い第１付勢バネ１６により付勢されている第１ピン１４は、バネ力に逆らってプローブ体１３内に退入するが、バネ力の強い第２付勢バネ１７により前方へ付勢されている第２ピン１５は、第１ピン１４が退入限界まで退入するまで、第１ピン１４に押圧されても後方へ移動されることなく、初期状態の位置に止まる。第３付勢バネ１８は、中空部２０に内挿され、プローブ体１３を前方へと付勢するためのものである。

次に検査回路５０について図４を参照して簡単に説明する。本体バレル１０に接続された入力端子２３に電池５１の正極が接続され、この電池５１の負極と出力端子４５との間に発光ダイオード５２が接続されたものである。尚、この検査回路５０は一例であり、適宜変更可能である。

次に、上述したスイッチングプローブ１による雌コネクタ３の検査工程について、図面に基づいて説明する。図５〜図７は概略図であり、左右方向と上下方向の縮尺は異なる。以下の説明において、端子固定用のカバー部材５３の先端部から距離α〜α＋βの範囲に端子５の先端部が位置する場合を正常な端子位置とする。

最初に、端子５の位置が正常な場合( カバー部材５３から端子５の先端の距離がαの場合) における検査工程について図５−１〜図５−２を参照して説明する。まず、図２に示すようにスイッチングプローブ１が初期状態にある状態から、図５−１に示すようにプローブ体１３が雌コネクタ３の端子孔４に挿入されると、プローブ体１３の先端部が端子５の先端部に当接する。その後、規制部２１が雌コネクタ３に当接するまでスイッチングプローブ１が前方に押動されると、プローブ体１３は端子５によって押動され、第３付勢バネ１８の付勢力に逆らってプローブ体１３が第１ピン１４と共に本体バレル１０内に退入し、図５−２に示すように、第１ピン１４の後瑞部と第２ピン１５の前端部が電気的に接続される。従って、この状態では、プローブ体１３、第１ピン１４、第２ピン１５を介して本体バレル１０からインナーバレル１２及びターミナル１９までが電気的に接続され、検査回路５０の発光ダイオード５２が点灯する。

更に、図５−３に示すように、端子５の先端部の位置がカバー部材５３の先端部より距離α＋βの正常な位置に設けられている場合においては、第１ピン１４と第２ピン１５とが電気的に接続された後、規制部２１が雌コネクタ３に当接するまで、当接する端子５によってプローブ体１３が押動されて、更に本体バレル１０内に退入することになるが、第１付勢バネ１６が第２付勢バネ１７よりもバネ力が小さいため、第２付勢バネ１７はバネ長を維持しつつ第１付勢バネ１６のみが縮小されて、第１ピン１４がプローブ体１３内に退入し、第２ピン１５は移動されることなく第２ピン１５とインナーバレル１２との電気的な接続が維持されて、本体バレル１０からインナーバレル１２及びターミナル１９までの接続が維持されるため、発光ダイオード５２の点灯も維持される。
従って、端子５が正常な位置に設けられている場合には、発光ダイオード５２が点灯され、確実に良品が検出されることになる。尚、距離βは、第１ピン１４の退入ストロークと同じ長さになる。

一方、図６に示すように、端子５の先端部がカバー部材５３から距離α＋β以上突出している場合には、規制部２１が雌コネクタ３に当接されるまでプローブ体１３が端子孔４に挿入されると、第１ピン１４がプローブ体１３内に退入限界まで退入した状態から更にプローブ体１３が本体バレル１０内に退入することになるので、第１ピン１４によって第２ピン１５が押動され、第２ピン１５が第２付勢バネ１７の付勢力に逆らって絶縁部材１１内を後方へ摺動されることになり、第２ピン１５の段接点４０とインナーバレル１２の接点２９とが離隔され、第２ピン１５とインナーバレル１２が電気的に絶縁される。従って、点灯していた発光ダイオード５２が消灯することになり、雌コネクタ３が不良品と判定される。

また、図７に示すように、端子５の先端部がカバー部材５３から距離α以下の場合には、規制部２１が雌コネクタ３に当接するまでプローブ体１３が端子孔４に挿入されても、プローブ体１３が端子５に当接しないか若しくは当接しても第１ピン１４と第２ピン１５が当接されるまでプローブ体１３が本体バレル１０内に押動されることがないので、第１ピン１４と第２ピン１５とが電気的に接続されることがなく、発光ダイオード５２が点灯することもなく、雌コネクタ３が不良品と判定される。

次に、以上説明したスイッチングプローブ１の作用及び効果について説明する。
このスイッチングプローブ１においては、図５−１〜図５−３に示すように、端子５が正常な位置に配設されている場合には、プローブ体１３、第１ピン１４、第２ピン１５、インナーバレル１２を介して本体バレル１０からターミナル１９まで電気的に接続されて検査回路５０の発光ダイオード５２が発光する。一方、図６に示すように、端子５が正常な位置よりも突出している場合には、第２ピン１５が後方へ押動されて、第２ピン１５の段接点４０とインナーバレル１２の接点２９とが離隔されて電気的な接続が切断されるので、一時的に発光する発光ダイオード５２が最終的には消灯する。また、図７に示すように、端子５が正常な位置よりも奥側に配設されている場合には、プローブ体１３が当接しないか若しくは当接しても第１ピン１４が第２ピン１５と接続されるまでプローブ体１３が後方へ押動されないため、本体バレル１０からターミナル１９までが電気的に接続されることはなく、発光ダイオード５２が発光することはない。

従って、本体バレル１０とターミナル１９とを接続する検査回路５０を１つ設けるだけで、端子５が正常な位置から奥側及び突出側に配設されているに関わらず、端子５の位置が正常な場合のみ発光ダイオード５２の点灯が維持されるので、雌コネクタ３の良品を確実に検出することができる。また、検査回路５０が１つだけでよいので、入出力端子２３, ４５は２つだけでよくスイッチングプローブ１を小型化することができ、入出力端子２３, ４５を接続する構成を簡単化することもできる。

第１ピン１４と第２ピン１５が電気的に接続されてから、更にプローブ体１３が本体バレル１０内に退入さする場合、第１ピン１４はプローブ体１３内に退入することになるのでスイッチングプローブ１の長さ方向の長さを縮小化することができる。特に、端子５の正常な位置の範囲( 距離β) が大きいコネクタを検査するためのスイッチングプローブ１においては、従来に比べ大幅に縮小化することができる。

第１付勢バネ１６のバネ定数を第２付勢バネ１７のバネ定数よりも小さくするといった簡単な構成を適用することで、第１ピン１４と第２ピン１５とが接続されてから、更にプローブ体１３が後方へ移動されても、第２ピン１５を移動させることなく第１ピン１４のみをプローブ体１３内に退入させることができ、正確に雌コネクタ３の良品を検出することができる。

以上、雌コネクタ３を検査するためのスイッチングプローブに本発明を適用したが、雄コネクタ２を検査するためのスイッチングプローブに本発明を適用してもよい。
尚、本発明は以上説明した実施例に限定されるものではなく、当業者であれば、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で前記実施例に種々の変更を付加して実施することができ、本発明はそれらの変更例をも包含するものである。

本発明の実施例に係る雄雌コネクタを説明する図である。スイッチングプローブの全体図である。スイッチングプローブの断面図である。スイッチングプローブ及び検査回路を説明する回路図である。良品の雌コネクタの検査工程( 初期状態) を説明する図である。良品の雌コネクタの検査工程( 導通状態) を説明する図である。良品の雌コネクタの検査工程( 退入限界) を説明する図である。不良品の雌コネクタ( 端子突出) の検査工程を説明する図である。不良品の雌コネクタ( 端子奥側) の検査工程を説明する図である。

符号の説明

１スイッチングプローブ
２雄コネクタ
４端子孔
５端子
１０本体バレル
１２インナーバレル
１３プローブ体
１４第１ピン
１５第２ピン
１６第１付勢バネ
１７第２付勢バネ

Claims

コネクタの端子にプローブ体を当接させて端子の長さ方向における端子の位置が正常か否かを検査するためのスイッチングプローブにおいて、
前記プローブ体を摺動可能に支持すると共にプローブ体と電気的に接続された中空状の本体バレルと、
前記本体バレルに電気的絶縁状態にして内挿されたインナーバレルと、
前記プローブ体に摺動可能に部分的に挿入され且つ電気的に接続された第１ピンと、
前記第１ピンの摺動方向に移動可能に第１ピンと所定間隔空けて同軸上に配設され、切断可能にインナーバレルに電気的に接続された第２ピンと、
前記第１ピンをプローブ体に対して本体バレルの内方へ伸長方向に付勢する第１付勢バネと、
前記第２ピンを第１ピンの方へ付勢する第２付勢バネであって、前記第１付勢バネよりもバネ定数が大きい第２付勢バネと、
前記本体バレルに対してプローブ体を伸長方向へ付勢する第３付勢バネと、
前記プローブ体に対して第１ピンを伸長限界と退入限界とに亙って所定ストローク摺動可能にするストローク規制部とを備え、
前記プローブ体が前記端子に当接後に、本体バレル内に退入して第１ピンと第２ピンとが電気的に接続され、
前記第１ピンと第２ピンとが電気的に接続された状態からプローブ体が前記端子に当接して、第１ピンがプローブ体の内部に退入し、
前記第１ピンが退入限界までプローブ体の内部に退入すると、第１ピンが第２ピンを押動して、第２ピンとインナーバレルとが電気的に絶縁されることを特徴とするスイッチングプローブ。