JP4249956B2 - パワーモジュールの検査方法および検査装置 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 29
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Images
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/129—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of components or parts made of semiconducting materials; of LV components or parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/40—Testing power supplies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、パワーモジュールを検査する方法に関し、特に、パワーモジュールの正確な絶縁状態を点検するための検査方法に関する。本発明は、特に、鉄道車両における車上パワーコンバータのパワーモジュールの検査に適用される。また、本発明は、本発明に係る検査方法を実施するための装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
国際電気技術委員会(IEC)規格1287−1は、鉄道車両における車上パワーコンバータの検査方法を開示しており、その目的は、完全に組み立てられたコンバータの正確な絶縁状態を点検することである。この方法では、コンバータおよびコレクタの主端子と、エミッタと、半導体部品の全てを制御するゲートとが互いに接続される。その後、互いに接続された端子と、パワーモジュールの構成部品を支持する絶縁基板を支持する金属ベースプレートとの間に交流電圧または直流電圧が印加されると、部分放電のレベルが測定される。
【0003】
この種の検査方法は、パワーモジュールで使用される絶縁スタックの単なる一部でしかない基板に関連する絶縁しか検査できず、例えば構成部品の封入に関連する絶縁を検査できないという欠点を有している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明の目的は、電力端子間または様々な絶縁材料同士の界面で構成部品を覆う絶縁ゲル中の部分放電を検出することができる簡単且つ経済的なパワーモジュール検査方法を提案することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この目的のため、本発明は、コントロールゲートと、エミッタと、コレクタと、絶縁基板上の少なくとも1つの電力部品と、前記電力部品とアンチパラレルに接続されたダイオードとを有するパワーモジュールの検査方法において、直流電源に重畳された交流電源がパワーモジュールのコレクタとエミッタとの間に接続されたときに、エミッタとコレクタとの間で生じる部分放電を測定し、ダイオードが通電しないように、コレクタとエミッタとの間でモジュールによって受けられる電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たし、コントロールゲートとエミッタとの間に接続された直流電源によって検査中に電力部品がOFF状態に維持されることを特徴とするパワーモジュールの検査方法を提供する。
【0006】
本発明の他の特徴によれば、パワーモジュールは、複数のエミッタと、複数のコレクタと、共通のコントロールゲートと、並列に接続された複数の電力部品と、各電力部品とアンチパラレルに接続された1つのダイオードとを有し、検査方法は、直流電源に重畳された交流電源がパワーモジュールのコレクタとエミッタとの間に接続されたときに、互いに電気的に接続されたエミッタと互いに電気的に接続されたコレクタとの間で生じる部分放電を測定し、ダイオードが通電しないように、コレクタとエミッタとの間でモジュールによって受けられる電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たし、共通のコントロールゲートとエミッタとの間に接続された直流電源によって検査中に電力部品がOFF状態に維持されることを特徴とする。
【0007】
本発明の他の特徴によれば、電力部品がIGBTである。
【0008】
また、本発明は、前述した方法を実施するためのパワーモジュールの検査装置において、直流電源に重畳された交流電源に接続されるようになっている2つの端子と、2つの端子間の部分放電を測定するための手段とを有し、端子間の電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たすことを特徴とする検査装置を提供する。
【0009】
本発明の他の特徴によれば、2つの端子は、交流電圧ジェネレータに直列な直流電圧ジェネレータに接続されるようになっている。
【0010】
本発明の他の特徴によれば、2つの端子は、交流電圧ジェネレータに並列な直流電圧ジェネレータに接続されるようになっている。
【0011】
本発明の他の特徴によれば、電源端子は、パワーモジュールの様々なコレクタ同士を接続する第1の回路と、パワーモジュールの様々なエミッタ同士を接続する第2の回路とにそれぞれ接続される。
【0012】
【発明の実施の形態】
本発明の目的、形態、利点は、本発明の特定の一実施形態に関する以下の説明によって更に明らかとなる。以下の説明は、非限定的な単なる一例として与えられており、添付図面と関連している。
【0013】
図面の読み取りを容易にするため、本発明の理解に必要な構成部品のみが図示されている。各図面においては、同じ構成部品に同一の参照符号が付されている。
【0014】
図1は、IEC規格1287−1に準拠する従来技術の方法にしたがって検査される、鉄道車両における車上パワーコンバータのパワーモジュール1を示している。
【0015】
検査されるパワーモジュ−ル1は、電気的に並列に接続され且つ金属ベースプレート8上に支持された3つの電力部品2を有している。図2に単独で詳細に示される各電力部品2は、IGBT3とアンチパラレル(逆平行)に接続された対応するダイオード4とを支持する絶縁基板5を有している。ダイオード4は、モジュール1内に電流を反転可能に形成する。IGBT3およびダイオード4は、従来通り、絶縁ゲルで覆われている。
【0016】
各IGBT3は、コレクタ10と、エミッタ11と、ON/OFF用の従来のコントロールゲート12とを有している。3つのIGBT3のコントロールゲート12は、互いに接続されて、1つの共通の端子を形成している。この共通の端子は、図1に示されるパワーモジュール1の側方に配置されており、3つのIGBT3の状態(ON/OFF状態)を制御する。
【0017】
IEC規格1287−1に従う検査方法では、パワーモジュールの全ての接続子、すなわち、コレクタ10とエミッタ11とコントロールゲート12とが第1の回路6によって互いに接続される。その後、検査装置20により、第1の回路6と、金属ベースプレート8に接触する第2の回路7との間に、電圧が印加される。図示の例では、装置20が交流電圧を供給する。また、これと同時に、測定機器21により、第1の回路6と第2の回路7との間で、放電レベルが測定される。この種の検査方法は、絶縁基板5に関連する絶縁体しか検査できないという欠点を有している。
【0018】
図3は、本発明の特定の一実施形態に係る検査方法によって検査される、図1に示されるパワーモジュール1を示している。この図において、パワーモジュールのコレクタ10同士は、検査装置30の第1の端子31に接続された第1の回路13によって、互いに電気的に接続されている。パワーモジュール1のエミッタ11同士は、検査装置30の第2の端子32に接続された第2の回路14によって、互いに電気的に接続されている。検査装置30は、2つの端子31、32間に、直流電圧ジェネレータ34に直列に接続された交流電圧ジェネレータ33を有している。交流電圧ジェネレータ33および直流電圧ジェネレータ34の電圧値は、端子31、32間の電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たし、パワーモジュール1がマイナスではない可変電圧で検査されるように設定される。これは、ダイオード4の通電によって部分放電の測定ができなくなることを防止するためである。モジュール1の3つの電力部品2のIGBT3をOFFにするため、ジェネレータ(発電機)15により、コントロールゲート端子12と、第2の回路14によって互いに接続されたエミッタ11との間に、直流電圧が印加される。これら全ての給電状態が確認されると、従来の測定機器21により、第1の回路13と第2の回路14との間で部分放電が測定される。
【0019】
図4は、図3に示される装置と異なる検査装置30の異なる実施形態を示している。図3に示される装置と異なる点は、端子31、32間で、直流電圧ジェネレータ34が交流電圧ジェネレータ33と並列に接続されるとともに、端子31、32間の電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たすようにジェネレータ33、34が設定されている点である。この実施形態において、部分放電を測定する測定機器21は、検査装置30の端子32と、パワーモジュールのエミッタ11に接続される第2の回路14との間にある。端子31は依然として第1の回路に直接に接続されており、検査方法は、図3に関して説明した検査方法と比較して変わりはない。
【0020】
この種の検査方法は、電力部品の封入に起因する部分放電を検出できるという利点を有している。したがって、本発明に係る検査方法は、絶縁ゲル内、エミッタのリード線とコレクタの金属部との間、電力端子間、あるいは、様々な絶縁材料同士の接合部、例えばゲルとエポキシ樹脂との間の接着部で、部分放電を検出する。
【0021】
また、この検査方法は、パワーモジュールの実際の使用中に生じる状態に近い状態下で、部分放電を測定できるという利点を有している。
【0022】
この種の検査方法は、非常に簡単に実施でき、また、予知保全の目的で、パワーモジュールの特性パラメータの経時的な変化を監視するために使用できるため、有益である。
【0023】
無論、本発明は、単なる一例として与えられて図示された前述の実施形態に限定されない。本発明は、特に様々な構成部品の種類という観点から、あるいは、技術的に等価な物と置き換えることによって、本発明の保護範囲から逸脱することなく改良を加えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】IEC規格1287−1に従う検査方法によって検査されるパワーモジュールの概略図である。
【図2】IGBTの形態を成す図1に示されるパワーモジュールの電力部品を単独で概略的に示している。
【図3】本発明の第1の実施形態に係る検査装置によって検査される、図1に示されるパワーモジュールの概略図である。
【図4】本発明の第2の実施形態に係る検査装置によって検査される、図1に示されるパワーモジュールの概略図である。
【符号の説明】
1 パワーモジュール
2 電力部品
3 IGBT
4 ダイオード
5 絶縁基板
6、13 第1の回路
7、14 第2の回路
8 金属ベースプレート
10 コレクタ
11 エミッタ
12 コントロールゲート
15 ジェネレータ
20、30 検査装置
21 測定機器
31 第1の端子
32 第2の端子
33 交流電圧ジェネレータ
34 直流電圧ジェネレータ
Claims (7)
- コントロールゲート(12)と、エミッタ(11)と、コレクタ(10)と、絶縁基板(5)上の少なくとも1つの電力部品(3)と、前記電力部品(3)とアンチパラレルに接続されたダイオード(4)とを有するパワーモジュール(1)の検査方法において、直流電源に重畳された交流電源が前記パワーモジュール(1)の前記コレクタ(10)と前記エミッタ(11)との間に接続されたときに、前記エミッタ(11)と前記コレクタ(10)との間で生じる部分放電を測定し、前記ダイオード(4)が通電しないように、前記コレクタ(10)と前記エミッタ(11)との間で前記モジュール(1)によって受けられる電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たし、前記コントロールゲート(12)と前記エミッタ(11)との間に接続された直流電源によって検査中に前記電力部品(3)がOFF状態に維持されることを特徴とするパワーモジュール(1)の検査方法。
- 複数のエミッタ(11)と、複数のコレクタ(10)と、共通のコントロールゲート(12)と、並列に接続された複数の電力部品(3)と、各電力部品(3)とアンチパラレルに接続された1つのダイオード(4)とを有するパワーモジュール(1)の検査方法であって、直流電源に重畳された交流電源が前記パワーモジュール(1)の前記コレクタ(10)と前記エミッタ(11)との間に接続されたときに、互いに電気的に接続された前記エミッタ(11)と互いに電気的に接続された前記コレクタ(10)との間で生じる部分放電を測定し、前記ダイオード(4)が通電しないように、前記コレクタ(10)と前記エミッタ(11)との間で前記モジュール(1)によって受けられる電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たし、前記共通のコントロールゲート(12)と前記エミッタ(11)との間に接続された直流電源によって検査中に前記電力部品(3)がOFF状態に維持されることを特徴とする請求項1に記載のパワーモジュール(1)の検査方法。
- 前記電力部品(3)がIGBTであることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 請求項1から3のいずれか1項に記載の方法を実施するためのパワーモジュール(1)の検査装置において、直流電源に重畳された交流電源に接続されるようになっている2つの端子(31、32)と、前記2つの端子(31、32)間の部分放電を測定するための手段(21)とを有し、前記2つの端子(31、32)間の電圧VtestがVtest>0という条件を常に満たすことを特徴とする検査装置。
- 前記2つの端子(31、32)は、交流電圧ジェネレータ(33)に直列な直流電圧ジェネレータ(34)に接続されるようになっていることを特徴とする請求項4に記載の検査装置。
- 前記2つの端子(31、32)は、交流電圧ジェネレータ(33)に並列な直流電圧ジェネレータ(34)に接続されるようになっていることを特徴とする請求項4に記載の検査装置。
- 前記電源端子(31、32)は、前記パワーモジュール(1)の様々な前記コレクタ(10)同士を接続する第1の回路(13)と、前記パワーモジュール(1)の様々な前記エミッタ(11)同士を接続する第2の回路(14)とにそれぞれ接続されることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の検査装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR0110388 | 2001-08-02 | ||
FR0110388A FR2828288B1 (fr) | 2001-08-02 | 2001-08-02 | Procede et dispositif de test d'un module de puissance |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003130909A JP2003130909A (ja) | 2003-05-08 |
JP4249956B2 true JP4249956B2 (ja) | 2009-04-08 |
Family
ID=8866234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002221359A Expired - Fee Related JP4249956B2 (ja) | 2001-08-02 | 2002-07-30 | パワーモジュールの検査方法および検査装置 |
Country Status (14)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6836125B2 (ja) |
EP (1) | EP1281978B1 (ja) |
JP (1) | JP4249956B2 (ja) |
KR (1) | KR100986928B1 (ja) |
CN (1) | CN1272636C (ja) |
AT (1) | ATE428935T1 (ja) |
AU (1) | AU2002300263B2 (ja) |
CA (1) | CA2396190C (ja) |
DE (1) | DE60231940D1 (ja) |
ES (1) | ES2329661T3 (ja) |
FR (1) | FR2828288B1 (ja) |
HK (1) | HK1052746B (ja) |
RU (1) | RU2298201C2 (ja) |
TW (1) | TWI221205B (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7085906B2 (ja) | 2018-06-04 | 2022-06-17 | 三菱電機株式会社 | 情報管理システム、端末装置および情報管理方法 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7486099B1 (en) | 2008-02-28 | 2009-02-03 | Caterpillar Inc. | System and method for testing power transistors |
US8427331B2 (en) * | 2008-12-31 | 2013-04-23 | Caterpillar Inc. | System and method for testing power transistors |
WO2010122889A1 (ja) * | 2009-04-22 | 2010-10-28 | 三菱電機株式会社 | パワーモジュールの絶縁劣化検知装置および方法、ならびにパワーモジュールシステム |
CN102540023B (zh) * | 2011-12-13 | 2017-04-05 | 上海电机系统节能工程技术研究中心有限公司 | 绝缘结构局部放电信号检测装置 |
CN111273105B (zh) * | 2020-03-03 | 2021-12-14 | 海信集团有限公司 | 一种智能家电设备及其供电检测方法 |
FR3116347B1 (fr) | 2020-11-17 | 2022-12-09 | Safran Electrical & Power | Procédé et dispositif de test d’un module de puissance |
CN114325062B (zh) * | 2022-03-10 | 2022-06-10 | 杭州飞仕得科技有限公司 | 一种功率模组的电流测试方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05333089A (ja) * | 1992-06-02 | 1993-12-17 | Toshiba Corp | 大電力半導体素子の試験回路 |
US5523620A (en) * | 1994-02-14 | 1996-06-04 | Delco Electronics Corporation | Coplanar linear dual switch module |
JPH09162255A (ja) * | 1995-12-06 | 1997-06-20 | Fuji Electric Co Ltd | 半導体素子の試験装置 |
DE19725836C2 (de) * | 1997-06-18 | 2001-10-04 | Infineon Technologies Ag | Leistungshalbleiter-Anordnung auf DCB-Substrat |
JPH1114694A (ja) * | 1997-06-20 | 1999-01-22 | Sanmei Denki Kk | パワーモジュールにおけるワイヤボンディング部の耐久性能試験方法 |
US6054765A (en) * | 1998-04-27 | 2000-04-25 | Delco Electronics Corporation | Parallel dual switch module |
JP2001013204A (ja) * | 1999-06-29 | 2001-01-19 | Toshiba Corp | パワーデバイス試験装置 |
US6300878B1 (en) * | 2000-01-13 | 2001-10-09 | Cooper Industries, Inc. | Constant current regulator using IGBT control |
-
2001
- 2001-08-02 FR FR0110388A patent/FR2828288B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-07-05 AT AT02291688T patent/ATE428935T1/de active
- 2002-07-05 EP EP02291688A patent/EP1281978B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 2002-07-05 ES ES02291688T patent/ES2329661T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2002-07-05 DE DE60231940T patent/DE60231940D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2002-07-23 US US10/200,191 patent/US6836125B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-07-25 AU AU2002300263A patent/AU2002300263B2/en not_active Ceased
- 2002-07-29 TW TW091116907A patent/TWI221205B/zh not_active IP Right Cessation
- 2002-07-29 KR KR1020020044745A patent/KR100986928B1/ko active IP Right Grant
- 2002-07-30 CA CA2396190A patent/CA2396190C/fr not_active Expired - Fee Related
- 2002-07-30 JP JP2002221359A patent/JP4249956B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2002-08-01 RU RU2002121000/28A patent/RU2298201C2/ru not_active IP Right Cessation
- 2002-08-02 CN CNB021274827A patent/CN1272636C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-07-09 HK HK03104946.4A patent/HK1052746B/zh not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7085906B2 (ja) | 2018-06-04 | 2022-06-17 | 三菱電機株式会社 | 情報管理システム、端末装置および情報管理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2003130909A (ja) | 2003-05-08 |
AU2002300263B2 (en) | 2006-12-07 |
HK1052746A1 (en) | 2003-09-26 |
CN1405571A (zh) | 2003-03-26 |
US20030025522A1 (en) | 2003-02-06 |
DE60231940D1 (de) | 2009-05-28 |
EP1281978B1 (fr) | 2009-04-15 |
EP1281978A1 (fr) | 2003-02-05 |
CA2396190C (fr) | 2010-05-04 |
FR2828288A1 (fr) | 2003-02-07 |
HK1052746B (zh) | 2007-04-20 |
FR2828288B1 (fr) | 2003-10-24 |
ATE428935T1 (de) | 2009-05-15 |
KR20030011668A (ko) | 2003-02-11 |
ES2329661T3 (es) | 2009-11-30 |
CN1272636C (zh) | 2006-08-30 |
RU2298201C2 (ru) | 2007-04-27 |
TWI221205B (en) | 2004-09-21 |
CA2396190A1 (fr) | 2003-02-02 |
KR100986928B1 (ko) | 2010-10-08 |
US6836125B2 (en) | 2004-12-28 |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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