JP2003130909A - パワーモジュールの検査方法および検査装置 - Google Patents
パワーモジュールの検査方法および検査装置Info
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/129—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of components or parts made of semiconducting materials; of LV components or parts
-
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- G01R31/40—Testing power supplies
-
- G—PHYSICS
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- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電力端子間または様々な絶縁材料同士の界面
で構成部品を覆う絶縁ゲル中の部分放電を検出すること
ができる簡単且つ経済的なパワーモジュール検査方法を
提供する。 【解決手段】 パワーモジュール（１）の検査方法にお
いて、直流電源に重畳された交流電源がパワーモジュー
ル（１）のコレクタ（１０）とエミッタ（１１）との間
に接続され、ダイオード（４）が通電しないように、コ
レクタ（１０）とエミッタ（１１）との間でモジュール
（１）によって受けられる電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ
＞０という条件を常に満たし、コントロールゲート（１
２）とエミッタ（１１）との間に接続された直流電源に
よって検査中に電力部品（３）がＯＦＦ状態に維持され
る場合に、エミッタ（１１）とコレクタ（１０）との間
で生じる部分放電を測定することを特徴とするパワーモ
ジュール（１）の検査方法。
で構成部品を覆う絶縁ゲル中の部分放電を検出すること
ができる簡単且つ経済的なパワーモジュール検査方法を
提供する。 【解決手段】 パワーモジュール（１）の検査方法にお
いて、直流電源に重畳された交流電源がパワーモジュー
ル（１）のコレクタ（１０）とエミッタ（１１）との間
に接続され、ダイオード（４）が通電しないように、コ
レクタ（１０）とエミッタ（１１）との間でモジュール
（１）によって受けられる電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ
＞０という条件を常に満たし、コントロールゲート（１
２）とエミッタ（１１）との間に接続された直流電源に
よって検査中に電力部品（３）がＯＦＦ状態に維持され
る場合に、エミッタ（１１）とコレクタ（１０）との間
で生じる部分放電を測定することを特徴とするパワーモ
ジュール（１）の検査方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パワーモジュール
を検査する方法に関し、特に、パワーモジュールの正確
な絶縁状態を点検するための検査方法に関する。本発明
は、特に、鉄道車両における車上パワーコンバータのパ
ワーモジュールの検査に適用される。また、本発明は、
本発明に係る検査方法を実施するための装置に関する。
を検査する方法に関し、特に、パワーモジュールの正確
な絶縁状態を点検するための検査方法に関する。本発明
は、特に、鉄道車両における車上パワーコンバータのパ
ワーモジュールの検査に適用される。また、本発明は、
本発明に係る検査方法を実施するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】国際電気技術委員会（ＩＥＣ）規格１２
８７−１は、鉄道車両における車上パワーコンバータの
検査方法を開示しており、その目的は、完全に組み立て
られたコンバータの正確な絶縁状態を点検することであ
る。この方法では、コンバータおよびコレクタの主端子
と、エミッタと、半導体部品の全てを制御するゲートと
が互いに接続される。その後、互いに接続された端子
と、パワーモジュールの構成部品を支持する絶縁基板を
支持する金属ベースプレートとの間に交流電圧または直
流電圧が印加されると、部分放電のレベルが測定され
る。
８７−１は、鉄道車両における車上パワーコンバータの
検査方法を開示しており、その目的は、完全に組み立て
られたコンバータの正確な絶縁状態を点検することであ
る。この方法では、コンバータおよびコレクタの主端子
と、エミッタと、半導体部品の全てを制御するゲートと
が互いに接続される。その後、互いに接続された端子
と、パワーモジュールの構成部品を支持する絶縁基板を
支持する金属ベースプレートとの間に交流電圧または直
流電圧が印加されると、部分放電のレベルが測定され
る。
【０００３】この種の検査方法は、パワーモジュールで
使用される絶縁スタックの単なる一部でしかない基板に
関連する絶縁しか検査できず、例えば構成部品の封入に
関連する絶縁を検査できないという欠点を有している。
使用される絶縁スタックの単なる一部でしかない基板に
関連する絶縁しか検査できず、例えば構成部品の封入に
関連する絶縁を検査できないという欠点を有している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、電力端子間または様々な絶縁材料同士の界面で
構成部品を覆う絶縁ゲル中の部分放電を検出することが
できる簡単且つ経済的なパワーモジュール検査方法を提
案することである。
目的は、電力端子間または様々な絶縁材料同士の界面で
構成部品を覆う絶縁ゲル中の部分放電を検出することが
できる簡単且つ経済的なパワーモジュール検査方法を提
案することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的のため、本発明
は、コントロールゲートと、エミッタと、コレクタと、
絶縁基板上の少なくとも１つの電力部品と、前記電力部
品とアンチパラレルに接続されたダイオードとを有する
パワーモジュールの検査方法において、直流電源に重畳
された交流電源がパワーモジュールのコレクタとエミッ
タとの間に接続されたときに、エミッタとコレクタとの
間で生じる部分放電を測定し、ダイオードが通電しない
ように、コレクタとエミッタとの間でモジュールによっ
て受けられる電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条
件を常に満たし、コントロールゲートとエミッタとの間
に接続された直流電源によって検査中に電力部品がＯＦ
Ｆ状態に維持されることを特徴とするパワーモジュール
の検査方法を提供する。
は、コントロールゲートと、エミッタと、コレクタと、
絶縁基板上の少なくとも１つの電力部品と、前記電力部
品とアンチパラレルに接続されたダイオードとを有する
パワーモジュールの検査方法において、直流電源に重畳
された交流電源がパワーモジュールのコレクタとエミッ
タとの間に接続されたときに、エミッタとコレクタとの
間で生じる部分放電を測定し、ダイオードが通電しない
ように、コレクタとエミッタとの間でモジュールによっ
て受けられる電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条
件を常に満たし、コントロールゲートとエミッタとの間
に接続された直流電源によって検査中に電力部品がＯＦ
Ｆ状態に維持されることを特徴とするパワーモジュール
の検査方法を提供する。
【０００６】本発明の他の特徴によれば、パワーモジュ
ールは、複数のエミッタと、複数のコレクタと、共通の
コントロールゲートと、並列に接続された複数の電力部
品と、各電力部品とアンチパラレルに接続された１つの
ダイオードとを有し、検査方法は、直流電源に重畳され
た交流電源がパワーモジュールのコレクタとエミッタと
の間に接続されたときに、互いに電気的に接続されたエ
ミッタと互いに電気的に接続されたコレクタとの間で生
じる部分放電を測定し、ダイオードが通電しないよう
に、コレクタとエミッタとの間でモジュールによって受
けられる電圧Ｖｔ ｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条件を
常に満たし、共通のコントロールゲートとエミッタとの
間に接続された直流電源によって検査中に電力部品がＯ
ＦＦ状態に維持されることを特徴とする。
ールは、複数のエミッタと、複数のコレクタと、共通の
コントロールゲートと、並列に接続された複数の電力部
品と、各電力部品とアンチパラレルに接続された１つの
ダイオードとを有し、検査方法は、直流電源に重畳され
た交流電源がパワーモジュールのコレクタとエミッタと
の間に接続されたときに、互いに電気的に接続されたエ
ミッタと互いに電気的に接続されたコレクタとの間で生
じる部分放電を測定し、ダイオードが通電しないよう
に、コレクタとエミッタとの間でモジュールによって受
けられる電圧Ｖｔ ｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条件を
常に満たし、共通のコントロールゲートとエミッタとの
間に接続された直流電源によって検査中に電力部品がＯ
ＦＦ状態に維持されることを特徴とする。
【０００７】本発明の他の特徴によれば、電力部品がＩ
ＧＢＴである。
ＧＢＴである。
【０００８】また、本発明は、前述した方法を実施する
ためのパワーモジュールの検査装置において、直流電源
に重畳された交流電源に接続されるようになっている２
つの端子と、２つの端子間の部分放電を測定するための
手段とを有し、端子間の電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞
０という条件を常に満たすことを特徴とする検査装置を
提供する。
ためのパワーモジュールの検査装置において、直流電源
に重畳された交流電源に接続されるようになっている２
つの端子と、２つの端子間の部分放電を測定するための
手段とを有し、端子間の電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞
０という条件を常に満たすことを特徴とする検査装置を
提供する。
【０００９】本発明の他の特徴によれば、２つの端子
は、交流電圧ジェネレータに直列な直流電圧ジェネレー
タに接続されるようになっている。
は、交流電圧ジェネレータに直列な直流電圧ジェネレー
タに接続されるようになっている。
【００１０】本発明の他の特徴によれば、２つの端子
は、交流電圧ジェネレータに並列な直流電圧ジェネレー
タに接続されるようになっている。
は、交流電圧ジェネレータに並列な直流電圧ジェネレー
タに接続されるようになっている。
【００１１】本発明の他の特徴によれば、電源端子は、
パワーモジュールの様々なコレクタ同士を接続する第１
の回路と、パワーモジュールの様々なエミッタ同士を接
続する第２の回路とにそれぞれ接続される。
パワーモジュールの様々なコレクタ同士を接続する第１
の回路と、パワーモジュールの様々なエミッタ同士を接
続する第２の回路とにそれぞれ接続される。
【００１２】
【発明の実施の形態】本発明の目的、形態、利点は、本
発明の特定の一実施形態に関する以下の説明によって更
に明らかとなる。以下の説明は、非限定的な単なる一例
として与えられており、添付図面と関連している。
発明の特定の一実施形態に関する以下の説明によって更
に明らかとなる。以下の説明は、非限定的な単なる一例
として与えられており、添付図面と関連している。
【００１３】図面の読み取りを容易にするため、本発明
の理解に必要な構成部品のみが図示されている。各図面
においては、同じ構成部品に同一の参照符号が付されて
いる。
の理解に必要な構成部品のみが図示されている。各図面
においては、同じ構成部品に同一の参照符号が付されて
いる。
【００１４】図１は、ＩＥＣ規格１２８７−１に準拠す
る従来技術の方法にしたがって検査される、鉄道車両に
おける車上パワーコンバータのパワーモジュール１を示
している。
る従来技術の方法にしたがって検査される、鉄道車両に
おける車上パワーコンバータのパワーモジュール１を示
している。
【００１５】検査されるパワーモジュ−ル１は、電気的
に並列に接続され且つ金属ベースプレート８上に支持さ
れた３つの電力部品２を有している。図２に単独で詳細
に示される各電力部品２は、ＩＧＢＴ３とアンチパラレ
ル（逆平行）に接続された対応するダイオード４とを支
持する絶縁基板５を有している。ダイオード４は、モジ
ュール１内に電流を反転可能に形成する。ＩＧＢＴ３お
よびダイオード４は、従来通り、絶縁ゲルで覆われてい
る。
に並列に接続され且つ金属ベースプレート８上に支持さ
れた３つの電力部品２を有している。図２に単独で詳細
に示される各電力部品２は、ＩＧＢＴ３とアンチパラレ
ル（逆平行）に接続された対応するダイオード４とを支
持する絶縁基板５を有している。ダイオード４は、モジ
ュール１内に電流を反転可能に形成する。ＩＧＢＴ３お
よびダイオード４は、従来通り、絶縁ゲルで覆われてい
る。
【００１６】各ＩＧＢＴ３は、コレクタ１０と、エミッ
タ１１と、ＯＮ／ＯＦＦ用の従来のコントロールゲート
１２とを有している。３つのＩＧＢＴ３のコントロール
ゲート１２は、互いに接続されて、１つの共通の端子を
形成している。この共通の端子は、図１に示されるパワ
ーモジュール１の側方に配置されており、３つのＩＧＢ
Ｔ３の状態（ＯＮ／ＯＦＦ状態）を制御する。
タ１１と、ＯＮ／ＯＦＦ用の従来のコントロールゲート
１２とを有している。３つのＩＧＢＴ３のコントロール
ゲート１２は、互いに接続されて、１つの共通の端子を
形成している。この共通の端子は、図１に示されるパワ
ーモジュール１の側方に配置されており、３つのＩＧＢ
Ｔ３の状態（ＯＮ／ＯＦＦ状態）を制御する。
【００１７】ＩＥＣ規格１２８７−１に従う検査方法で
は、パワーモジュールの全ての接続子、すなわち、コレ
クタ１０とエミッタ１１とコントロールゲート１２とが
第１の回路６によって互いに接続される。その後、検査
装置２０により、第１の回路６と、金属ベースプレート
８に接触する第２の回路７との間に、電圧が印加され
る。図示の例では、装置２０が交流電圧を供給する。ま
た、これと同時に、測定機器２１により、第１の回路６
と第２の回路７との間で、放電レベルが測定される。こ
の種の検査方法は、絶縁基板５に関連する絶縁体しか検
査できないという欠点を有している。
は、パワーモジュールの全ての接続子、すなわち、コレ
クタ１０とエミッタ１１とコントロールゲート１２とが
第１の回路６によって互いに接続される。その後、検査
装置２０により、第１の回路６と、金属ベースプレート
８に接触する第２の回路７との間に、電圧が印加され
る。図示の例では、装置２０が交流電圧を供給する。ま
た、これと同時に、測定機器２１により、第１の回路６
と第２の回路７との間で、放電レベルが測定される。こ
の種の検査方法は、絶縁基板５に関連する絶縁体しか検
査できないという欠点を有している。
【００１８】図３は、本発明の特定の一実施形態に係る
検査方法によって検査される、図１に示されるパワーモ
ジュール１を示している。この図において、パワーモジ
ュールのコレクタ１０同士は、検査装置３０の第１の端
子３１に接続された第１の回路１３によって、互いに電
気的に接続されている。パワーモジュール１のエミッタ
１１同士は、検査装置３０の第２の端子３２に接続され
た第２の回路１４によって、互いに電気的に接続されて
いる。検査装置３０は、２つの端子３１、３２間に、直
流電圧ジェネレータ３４に直列に接続された交流電圧ジ
ェネレータ３３を有している。交流電圧ジェネレータ３
３および直流電圧ジェネレータ３４の電圧値は、端子３
１、３２間の電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条
件を常に満たし、パワーモジュール１がマイナスではな
い可変電圧で検査されるように設定される。これは、ダ
イオード４の通電によって部分放電の測定ができなくな
ることを防止するためである。モジュール１の３つの電
力部品２のＩＧＢＴ３をＯＦＦにするため、ジェネレー
タ（発電機）１５により、コントロールゲート端子１２
と、第２の回路１４によって互いに接続されたエミッタ
１１との間に、直流電圧が印加される。これら全ての給
電状態が確認されると、従来の測定機器２１により、第
１の回路１３と第２の回路１４との間で部分放電が測定
される。
検査方法によって検査される、図１に示されるパワーモ
ジュール１を示している。この図において、パワーモジ
ュールのコレクタ１０同士は、検査装置３０の第１の端
子３１に接続された第１の回路１３によって、互いに電
気的に接続されている。パワーモジュール１のエミッタ
１１同士は、検査装置３０の第２の端子３２に接続され
た第２の回路１４によって、互いに電気的に接続されて
いる。検査装置３０は、２つの端子３１、３２間に、直
流電圧ジェネレータ３４に直列に接続された交流電圧ジ
ェネレータ３３を有している。交流電圧ジェネレータ３
３および直流電圧ジェネレータ３４の電圧値は、端子３
１、３２間の電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条
件を常に満たし、パワーモジュール１がマイナスではな
い可変電圧で検査されるように設定される。これは、ダ
イオード４の通電によって部分放電の測定ができなくな
ることを防止するためである。モジュール１の３つの電
力部品２のＩＧＢＴ３をＯＦＦにするため、ジェネレー
タ（発電機）１５により、コントロールゲート端子１２
と、第２の回路１４によって互いに接続されたエミッタ
１１との間に、直流電圧が印加される。これら全ての給
電状態が確認されると、従来の測定機器２１により、第
１の回路１３と第２の回路１４との間で部分放電が測定
される。
【００１９】図４は、図３に示される装置と異なる検査
装置３０の異なる実施形態を示している。図３に示され
る装置と異なる点は、端子３１、３２間で、直流電圧ジ
ェネレータ３４が交流電圧ジェネレータ３３と並列に接
続されるとともに、端子３１、３２間の電圧Ｖｔｅｓｔ
がＶｔｅｓｔ＞０という条件を常に満たすようにジェネ
レータ３３、３４が設定されている点である。この実施
形態において、部分放電を測定する測定機器２１は、検
査装置３０の端子３２と、パワーモジュールのエミッタ
１１に接続される第２の回路１４との間にある。端子３
１は依然として第１の回路に直接に接続されており、検
査方法は、図３に関して説明した検査方法と比較して変
わりはない。
装置３０の異なる実施形態を示している。図３に示され
る装置と異なる点は、端子３１、３２間で、直流電圧ジ
ェネレータ３４が交流電圧ジェネレータ３３と並列に接
続されるとともに、端子３１、３２間の電圧Ｖｔｅｓｔ
がＶｔｅｓｔ＞０という条件を常に満たすようにジェネ
レータ３３、３４が設定されている点である。この実施
形態において、部分放電を測定する測定機器２１は、検
査装置３０の端子３２と、パワーモジュールのエミッタ
１１に接続される第２の回路１４との間にある。端子３
１は依然として第１の回路に直接に接続されており、検
査方法は、図３に関して説明した検査方法と比較して変
わりはない。
【００２０】この種の検査方法は、電力部品の封入に起
因する部分放電を検出できるという利点を有している。
したがって、本発明に係る検査方法は、絶縁ゲル内、エ
ミッタのリード線とコレクタの金属部との間、電力端子
間、あるいは、様々な絶縁材料同士の接合部、例えばゲ
ルとエポキシ樹脂との間の接着部で、部分放電を検出す
る。
因する部分放電を検出できるという利点を有している。
したがって、本発明に係る検査方法は、絶縁ゲル内、エ
ミッタのリード線とコレクタの金属部との間、電力端子
間、あるいは、様々な絶縁材料同士の接合部、例えばゲ
ルとエポキシ樹脂との間の接着部で、部分放電を検出す
る。
【００２１】また、この検査方法は、パワーモジュール
の実際の使用中に生じる状態に近い状態下で、部分放電
を測定できるという利点を有している。
の実際の使用中に生じる状態に近い状態下で、部分放電
を測定できるという利点を有している。
【００２２】この種の検査方法は、非常に簡単に実施で
き、また、予知保全の目的で、パワーモジュールの特性
パラメータの経時的な変化を監視するために使用できる
ため、有益である。
き、また、予知保全の目的で、パワーモジュールの特性
パラメータの経時的な変化を監視するために使用できる
ため、有益である。
【００２３】無論、本発明は、単なる一例として与えら
れて図示された前述の実施形態に限定されない。本発明
は、特に様々な構成部品の種類という観点から、あるい
は、技術的に等価な物と置き換えることによって、本発
明の保護範囲から逸脱することなく改良を加えることが
できる。
れて図示された前述の実施形態に限定されない。本発明
は、特に様々な構成部品の種類という観点から、あるい
は、技術的に等価な物と置き換えることによって、本発
明の保護範囲から逸脱することなく改良を加えることが
できる。
【図１】ＩＥＣ規格１２８７−１に従う検査方法によっ
て検査されるパワーモジュールの概略図である。
て検査されるパワーモジュールの概略図である。
【図２】ＩＧＢＴの形態を成す図１に示されるパワーモ
ジュールの電力部品を単独で概略的に示している。
ジュールの電力部品を単独で概略的に示している。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る検査装置によっ
て検査される、図１に示されるパワーモジュールの概略
図である。
て検査される、図１に示されるパワーモジュールの概略
図である。
【図４】本発明の第２の実施形態に係る検査装置によっ
て検査される、図１に示されるパワーモジュールの概略
図である。
て検査される、図１に示されるパワーモジュールの概略
図である。
１ パワーモジュール
２ 電力部品
３ ＩＧＢＴ
４ ダイオード
５ 絶縁基板
６、１３ 第１の回路
７、１４ 第２の回路
８ 金属ベースプレート
１０ コレクタ
１１ エミッタ
１２ コントロールゲート
１５ ジェネレータ
２０、３０ 検査装置
２１ 測定機器
３１ 第１の端子
３２ 第２の端子
３３ 交流電圧ジェネレータ
３４ 直流電圧ジェネレータ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 ジヨゼ・セズ
フランス国、33150・スノン、クール・ビ
クトル・ユーゴー、29
(72)発明者 ソラン・ダンキユレスキユ
フランス国、31000・トウールーズ、リ
ユ・サン・アントワーヌ・ドユ・テ、７
(72)発明者 テイエリー・ルベ
フランス国、31830・プレザンス、ルー
ト・ドウ・フオントウネイユ、２
Ｆターム(参考） 2G015 AA22 AA24 AA25 CA01
5H740 AA08 MM01
Claims (7)
- 【請求項１】 コントロールゲート（１２）と、エミッ
タ（１１）と、コレクタ（１０）と、絶縁基板（５）上
の少なくとも１つの電力部品（３）と、前記電力部品
（３）とアンチパラレルに接続されたダイオード（４）
とを有するパワーモジュール（１）の検査方法におい
て、直流電源に重畳された交流電源が前記パワーモジュ
ール（１）の前記コレクタ（１０）と前記エミッタ（１
１）との間に接続されたときに、前記エミッタ（１１）
と前記コレクタ（１０）との間で生じる部分放電を測定
し、前記ダイオード（４）が通電しないように、前記コ
レクタ（１０）と前記エミッタ（１１）との間で前記モ
ジュール（１）によって受けられる電圧ＶｔｅｓｔがＶ
ｔｅｓｔ＞０という条件を常に満たし、前記コントロー
ルゲート（１２）と前記エミッタ（１１）との間に接続
された直流電源によって検査中に前記電力部品（３）が
ＯＦＦ状態に維持されることを特徴とするパワーモジュ
ール（１）の検査方法。 - 【請求項２】 複数のエミッタ（１１）と、複数のコレ
クタ（１０）と、共通のコントロールゲート（１２）
と、並列に接続された複数の電力部品（３）と、各電力
部品（３）とアンチパラレルに接続された１つのダイオ
ード（４）とを有するパワーモジュール（１）の検査方
法であって、直流電源に重畳された交流電源が前記パワ
ーモジュール（１）の前記コレクタ（１０）と前記エミ
ッタ（１１）との間に接続されたときに、互いに電気的
に接続された前記エミッタ（１１）と互いに電気的に接
続された前記コレクタ（１０）との間で生じる部分放電
を測定し、前記ダイオード（４）が通電しないように、
前記コレクタ（１０）と前記エミッタ（１１）との間で
前記モジュール（１）によって受けられる電圧Ｖｔ
ｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条件を常に満たし、前記
共通のコントロールゲート（１２）と前記エミッタ（１
１）との間に接続された直流電源によって検査中に前記
電力部品（３）がＯＦＦ状態に維持されることを特徴と
する請求項１に記載のパワーモジュール（１）の検査方
法。 - 【請求項３】 前記電力部品（３）がＩＧＢＴであるこ
とを特徴とする請求項１または２に記載の方法。 - 【請求項４】 請求項１から３のいずれか１項に記載の
方法を実施するためのパワーモジュール（１）の検査装
置において、直流電源に重畳された交流電源に接続され
るようになっている２つの端子（３１、３２）と、前記
２つの端子（３１、３２）間の部分放電を測定するため
の手段（２１）とを有し、前記２つの端子（３１、３
２）間の電圧ＶｔｅｓｔがＶｔｅｓｔ＞０という条件を
常に満たすことを特徴とする検査装置。 - 【請求項５】 前記２つの端子（３１、３２）は、交流
電圧ジェネレータ（３３）に直列な直流電圧ジェネレー
タ（３４）に接続されるようになっていることを特徴と
する請求項４に記載の検査装置。 - 【請求項６】 前記２つの端子（３１、３２）は、交流
電圧ジェネレータ（３３）に並列な直流電圧ジェネレー
タ（３４）に接続されるようになっていることを特徴と
する請求項４に記載の検査装置。 - 【請求項７】 前記電源端子（３１、３２）は、前記パ
ワーモジュール（１）の様々な前記コレクタ（１０）同
士を接続する第１の回路（１３）と、前記パワーモジュ
ール（１）の様々な前記エミッタ（１１）同士を接続す
る第２の回路（１４）とにそれぞれ接続されることを特
徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の検査装
置。
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