JP4215951B2 - 検波回路 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、AM変調された被変調波信号を復調する検波回路に関する。
【0002】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】
AM変調された被変調波信号を復調する際には、ダイオードが用いられることが多い。第9図はダイオードを使用した検波回路の一例を示す回路図である。被変調波信号は、直流カット用のキャパシタを介してダイオードに入力されて半波整流される。ダイオードの出力はローパスフィルタに入力されて搬送波成分が除去され、もとの信号(以下、「検波信号」と称する)が取り出される。
【0003】
第10図はダイオードの静特性を示す図であり、横軸はアノード・カソード間電圧VF を、縦軸はアノード−カソード間を流れる電流IF をそれぞれ表している。図示のように、ダイオードは二乗特性を有しており、アノード・カソード間電圧VF が小さい領域は非線形な特性を示す。したがって、この領域を用いて検波を行うと、曲線Tで示す被変調波信号は、曲線Uで示すように波形が大きく歪んでしまう。
【0004】
一方、ダイオードは、アノード・カソード間電圧VF が大きい領域では線形な特性を示すため、この領域を用いて検波を行うことにより、波形が歪むことを低減した回路も提案されているが、回路が複雑化する上に、回路を構成する各素子のばらつき等により特性が安定しないという問題がある。
【0005】
また、検波回路全体をチップ化しようとした場合、消費電力等の関係から検波回路を構成するすべての素子をCMOSプロセスで形成するのが望ましいが、ダイオードはCMOSプロセスで作りにくいという問題もある。
【0006】
本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は波形が歪まないように検波を行うことができ、かつ回路全体を容易にチップ化できる検波回路を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明の検波回路は、基本的にはカレントミラー回路と類似した構成を有している。第1および第2のトランジスタの各ゲート端子間には第1の抵抗が接続され、この第1の抵抗の一端に被変調波信号が入力される。また、第2のトランジスタのドレイン端子にはローパスフィルタが接続され、このローパスフィルタから被変調波信号を復調した信号が出力される。第1および第2のトランジスタの各ドレイン端子と所定の固定電源端子との間に接続されている第2および第3の抵抗の抵抗値を調整することにより、第1のトランジスタ側と第2のトランジスタ側のバランスをわざと崩し、被変調波信号の正側成分あるいは負側成分に相関する信号のいずれか一方のみが第2のトランジスタのドレイン端子に現れるようにする。これにより、ローパスフィルタからは、被変調波信号の包絡線成分、すなわち変調前の信号が出力される。
【0008】
また、本発明の検波回路は、基本的にはカレントミラー回路と類似した構成を有している。第1および第2のNPNトランジスタの各ベース端子間には第1の抵抗が接続され、この第1の抵抗の一端に被変調波信号が入力される。また、第2のNPNトランジスタのコレクタ端子にはローパスフィルタが接続され、このローパスフィルタから被変調波信号を復調した信号が出力される。第1および第2のNPNトランジスタの各コレクタ端子と所定の固定電源端子との間に接続されている第2および第3の抵抗の抵抗値を調整することにより、第1のNPNトランジスタ側と第2のNPNトランジスタ側のバランスをわざと崩し、被変調波信号の正側成分あるいは負側成分に相関する信号のいずれか一方のみが第2のNPNトランジスタのコレクタ端子に現れるようにする。これにより、ローパスフィルタからは、被変調波信号の包絡線成分、すなわち変調前の信号が出力される。
【0009】
また、本発明の検波回路は、基本的にはカレントミラー回路と類似した構成を有している。第1および第2のPNPトランジスタの各ベース端子間には第1の抵抗が接続され、この第1の抵抗の一端に被変調波信号が入力される。また、第2のPNPトランジスタのエミッタ端子にはローパスフィルタが接続され、このローパスフィルタから被変調波信号を復調した信号が出力される。第1および第2のPNPトランジスタの各エミッタ端子と所定の固定電源端子との間に接続されている第2および第3の抵抗の抵抗値を調整することにより、第1のPNPトランジスタ側と第2のPNPトランジスタ側のバランスをわざと崩し、被変調波信号の正側成分あるいは負側成分に相関する信号のいずれか一方のみが第2のPNPトランジスタのエミッタ端子に現れるようにする。これにより、ローパスフィルタからは、被変調波信号の包絡線成分、すなわち変調前の信号が出力される。
【0010】
以上の3種類の検波回路においては、第2の抵抗の抵抗値に対する第3の抵抗の抵抗値の比を1以下の所定範囲内の値、例えば0.8に設定することによって、他に特別な回路を付加することなく、被変調波信号の正側包絡線あるいは負側包絡線のいずれか一方に相関する信号のみを抽出することができる。
【0011】
また、第4の抵抗とキャパシタを直列に接続してローパスフィルタを構成することにより、回路構成を簡略化でき、チップ化も容易になる。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を適用した検波回路について、図面を参照しながら具体的に説明する。
【0013】
第1図は、本発明を適用した一実施形態の検波回路の回路図である。この検波回路は、AM変調された被変調波信号を復調するためのものであり、AMラジオ受信機などに用いられる。検波回路の内部には、ソース接地された2つのMOS型のFET1、2が設けられ、これらFET1、2の各ゲート端子は、抵抗3を介して互いに接続され、抵抗3の一方端にはキャパシタ4を介してAM変調された被変調波信号が入力される。これら2つのFET1、2の各ドレイン端子は、それぞれ抵抗5、6を介して電源端子Vddに接続されている。また、一方のFET2のドレイン端子には、抵抗7およびキャパシタ8からなるローパスフィルタ20が接続され、このローパスフィルタ20から検波された信号が出力される。ローパスフィルタ20の出力は、例えば低周波増幅回路(図示せず)で増幅された後、スピーカ(図示せず)から音声出力される。
【0014】
第1図に示した検波回路において、符号10で示す部分は、みかけ上カレントミラー回路と類似した構成を有している。第2図はカレントミラー回路の原理を説明する図である。同図に示すように、カレントミラー回路は、ゲート端子を直結した2つのFET11、12を備えており、一方のFET11のゲート端子とドレイン端子を短絡するとともに、各FET11、12のドレイン端子をそれぞれ抵抗13、14を介して電源端子Vddに接続した構造を有している。
【0015】
第2図に示すFET11、12は、通常は半導体ウエハ上の近接した領域に同一面積で形成され、電気的特性が全く等しくなる。また、FET11のゲート端子とドレイン端子は短絡されているため、FET11のドレイン・ゲート電圧VDGはゼロになり、FET11は非飽和領域で動作する。したがって、FET11のドレイン電流ID とソース電流IS は等しくなる。また、各FET11、12のゲート端子は短絡されているため、双方のゲート電圧VG は等しくなり、抵抗13の両端にかかる電圧と抵抗14の両端にかかる電圧も等しくなる。このため、これら2つの抵抗13、14の抵抗値を等しくすれば、各FET11、12のドレイン電流は常に一定となり、第2図に示すカレントミラー回路は定電流回路として動作する。
【0016】
一方、第1図の符号10で示す部分は、2つの抵抗5、6の各抵抗値を同じにせずに、例えば抵抗5の抵抗値R1 を抵抗6の抵抗値R2 の0.8倍に設定している。このように、2つの抵抗5、6の各抵抗値を異なる値に設定すると、FET1側とFET2側でバランスが崩れ、抵抗5を流れる電流と抵抗6を流れる電流が一致しなくなる。なお、2つの抵抗5、6の抵抗比の設定方法については後述する。
【0017】
また、第1図の符号10で示す部分は、2つのFET1、2の各ゲート端子の間に抵抗3が接続されている。この抵抗3は、入力端子Vinから入力された被変調波信号が第1図の点線矢印の経路を通って流れるのを防止するために設けられている。
【0018】
第3図は、第1図に示した検波回路の動作を説明する図である。同図には、横軸をドレイン・ソース間電圧VDS、縦軸をドレイン電流ID としてゲート端子電圧IG を変化させた場合のFET1、2の動作特性が示されている。以下では、ドレイン・ソース間電圧VDSに応じてドレイン電流ID が急激に変化する領域Aを非飽和領域、ドレイン・ソース間電圧VDSが変化してもドレイン電流ID が変化しない領域Bを飽和領域と呼ぶ。
【0019】
第1図に示した検波回路の直流的動作は、次の(1)式で示される。
【0020】
Vdd=R2 ×ID +VDS …(1)
(1)式を変形すると(2)式のようになる。
【0021】
ID =−(1/R2 )VDS+Vdd/R2 …(2)
この(2)式は直流負荷線を表しており、第3図の直線Pがこれに対応している。
【0022】
一方、第1図に示した検波回路の交流的動作は、ローパスフィルタ20内部のキャパシタ8の容量が十分大きいものとして交流的に短絡状態とみなすと、第4図に示す回路と等価になる。したがって、FET2の出力電圧vDSと電流iC との関係は、交流負荷のインピーダンスをZL とすると、(3)式のようになる。
【0023】
iC =−(1/ZL )vDS …(3)
この(3)式は交流負荷線を表しており、第3図の直線Qがこれに対応している。
【0024】
上述した直流負荷線と交流負荷線とが交差する点が動作点Tであり、この動作点Tを中心として被変調波信号が検波される。動作点Tが仮に第5図に示すようにFET1、2の飽和領域内にある場合、検波回路に入力された被変調波信号(第5図の曲線R′)は、歪むことなくほぼ同じ波形のままでローパスフィルタ20に入力される(第5図の曲線S′)。
【0025】
これに対して、第3図は動作点TをFET1、2の非飽和領域内に設定した状態を示している。この場合には、被変調波信号Sの負側の包絡線に相関する信号のみが抽出され(第3図の曲線S)、この信号をローパスフィルタ20に通すことで、被変調波信号を精度よく検波することができる。
【0026】
このように、被変調波信号を検波するためには、FET1、2を非飽和領域内で動作させることが必要となり、そのために本実施形態の検波回路では、2つの抵抗5、6の各抵抗値が所定値以上に設定されている。
【0027】
例えば、電源電圧Vddを5V、抵抗5を流れる電流を100μA、FET1のオン抵抗を0.2Vとすると、仮に抵抗5の抵抗値R1 が10kΩの場合には、抵抗5の両端電圧は1VになってFET1のドレイン・ソース間に4Vがかかるため、FET1を飽和させることはできない。一方、抵抗5の抵抗値R1 を49kΩにすると、FET1のドレイン・ソース間電圧が0.1Vになるため、FET1は確実に非飽和領域で動作する。したがって、抵抗5、6を流れる電流値や電源電圧値を考慮に入れて抵抗5、6の各抵抗値をある程度大きな値に設定する必要がある。
【0028】
また、本実施形態の検波回路では、抵抗6の抵抗値R2 を抵抗5の抵抗値R1 の約0.8倍に設定している。第6図は、抵抗5と抵抗6の抵抗比を変えたときに動作点Tが移動する様子を示す図である。同図において、実線PはR1 =0.8×R2 の関係を満たす場合の直流負荷線を示し、一点鎖線P′はR1 =R2 の場合の直流負荷線を示している。図示のように、抵抗5、6の抵抗比を0.8(R1 =0.8×R2 )にした場合の動作点Tは、R1 =R2 にした場合の動作点T′よりも非飽和領域側に存在することがわかる。
【0029】
このように、抵抗5と抵抗6の抵抗比を約0.8に維持した状態で、FETが確実に非飽和領域で動作するように2つの抵抗5、6の各抵抗値を定めることにより、第3図に示すように、AM変調された被検波信号の正側あるいは負側の包絡線成分のみを抽出することができる。
【0030】
また、FET1、2の非飽和領域では、ドレイン・ソース間電圧VDSに応じてドレイン電流ID が直線的に変化するため、非飽和領域内に動作点を設定して被変調波信号を検波すると、波形が全く歪まなくなる。また、本実施形態の検波回路は、オペアンプをチップ化する際などによく用いられるカレントミラー回路に類似した回路構成を有しているためチップ化が容易であり、また、チップ化することにより、FET1、2や抵抗5、6の電気的特性のばらつきをなくすことができ、精度の高い検波動作が可能となる。
【0031】
なお、2つの抵抗5、6の抵抗比は必ずしも0.8である必要はなく、FET1、2のhFEや電源電圧Vddの電圧値などとの関係で、適当な値を定めることが望ましい。
【0032】
第1図では、MOSFET1、2を用いて検波回路を構成する例を示したが、バイポーラトランジスタを用いて検波回路を構成することも可能である。例えば、第7図はNPNトランジスタを用いて構成した検波回路の一例を示し、第8図はPNPトランジスタを用いて構成した検波回路の一例を示している。
【0033】
また、第1図に示した検波回路では、2つの抵抗5、6のそれぞれの一方端を共通の電源端子Vddに接続しているが、2つの抵抗5、6のそれぞれの一方端に異なる電圧を印加するようにしてもよい。また、2つのFET1、2のそれぞれのソース端子を接地する代わりに、抵抗などの他の素子に接続してもよい。
【0034】
(産業上の利用可能性)
上述したように、本発明によれば、ダイオードを用いることなくトランジスタの非飽和領域を利用して線形的に検波処理を行うため、被変調波信号を歪ませずに復調することができる。また、カレントミラー回路と類似した回路構成を有するため、検波回路全体を容易にチップ化でき、またチップ化することにより、検波回路を構成する各素子の電気的特性のばらつきをなくすことができる。さらに、第2および第3の抵抗の抵抗値以外は調整箇所がないため、製品間のばらつきをなくすことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明を適用した一実施形態の検波回路の回路図である。
【図2】 カレントミラー回路の原理を説明する図である。
【図3】 動作点が非飽和領域内にある場合の検波回路の動作を説明する図である。
【図4】 図1の検波回路の交流的動作を示す等価回路図である。
【図5】 動作点が飽和領域内にある場合の検波回路の動作を説明する図である。
【図6】 抵抗比を変えたときに動作点が移動する様子を示す図である。
【図7】 NPNトランジスタを用いて構成した検波回路の回路図である。
【図8】 PNPトランジスタを用いて構成した検波回路の回路図である。
【図9】 ダイオードを使用した検波回路の一例を示す回路図である。
【図10】 ダイオードの静特性を示す図である。
Claims (12)
- AM変調された被変調波信号を復調する検波回路において、
ゲート・ドレイン間が短絡された第1のトランジスタと、
ゲート端子に前記被変調波信号が入力される第2のトランジスタと、
前記第1および第2のトランジスタの各ゲート端子の間に接続される第1の抵抗と、
前記第1および第2のトランジスタの各ドレイン端子と所定の固定電源端子との間に接続される第2および第3の抵抗と、
前記第2のトランジスタのドレイン端子に接続され前記被変調波信号を復調した信号を出力するローパスフィルタと、
を備えることを特徴とする検波回路。 - 前記被変調波信号の正側包絡線あるいは負側包絡線のいずれか一方に相関する信号が前記ローパスフィルタから出力されるように前記第2および第3の抵抗の抵抗比を設定することを特徴とする請求項1記載の検波回路。
- 前記第1および第2のトランジスタが非飽和領域で動作するように前記第2および第3の抵抗の抵抗値を調整することを特徴とする請求項2記載の検波回路。
- 前記ローパスフィルタは、第4の抵抗とキャパシタとを直列に接続して構成され、前記第4の抵抗と前記キャパシタとの接続点から復調した信号を出力することを特徴とする請求項1記載の検波回路。
- AM変調された被変調波信号を復調する検波回路において、
ベース・コレクタ間が短絡された第1のNPNトランジスタと、
ベース端子に前記被変調波信号が入力される第2のNPNトランジスタと、
前記第1および第2のNPNトランジスタの各ベース端子の間に接続される第1の抵抗と、
前記第1および第2のNPNトランジスタの各コレクタ端子と所定の固定電源端子との間に接続される第2および第3の抵抗と、
前記第2のNPNトランジスタのコレクタ端子に接続され前記被変調波信号を復調した信号を出力するローパスフィルタと、
を備えることを特徴とする検波回路。 - 前記被変調波信号の正側包絡線あるいは負側包絡線のいずれか一方に相関する信号が前記ローパスフィルタから出力されるように前記第2および第3の抵抗の抵抗比を設定することを特徴とする請求項5記載の検波回路。
- 前記第1および第2のNPNトランジスタが飽和領域で動作するように前記第2および第3の抵抗の抵抗値を調整することを特徴とする請求項6記載の検波回路。
- 前記ローパスフィルタは、第4の抵抗とキャパシタとを直列に接続して構成され、前記第4の抵抗と前記キャパシタとの接続点から復調した信号を出力することを特徴とする請求項5記載の検波回路。
- AM変調された被変調波信号を復調する検波回路において、
ベース・コレクタ間が短絡された第1のPNPトランジスタと、
ベース端子に前記被変調波信号が入力される第2のPNPトランジスタと、
前記第1および第2のPNPトランジスタの各ベース端子の間に接続される第1の抵抗と、
前記第1および第2のPNPトランジスタの各エミッタ端子と所定の固定電源端子との間に接続される第2および第3の抵抗と、
前記第2のPNPトランジスタのエミッタ端子に接続され前記被変調波信号を復調した信号を出力するローパスフィルタと、
を備えることを特徴とする検波回路。 - 前記被変調波信号の正側包絡線あるいは負側包絡線のいずれか一方に相関する信号が前記ローパスフィルタから出力されるように前記第2および第3の抵抗の抵抗比を設定することを特徴とする請求項9記載の検波回路。
- 前記第1および第2のPNPトランジスタが飽和領域で動作するように前記第2および第3の抵抗の抵抗値を調整することを特徴とする請求項10記載の検波回路。
- 前記ローパスフィルタは、第4の抵抗とキャパシタとを直列に接続して構成され、前記第4の抵抗と前記キャパシタとの接続点から復調した信号を出力することを特徴とする請求項9記載の検波回路。
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