JP4205621B2 - リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
放射の投影ビームを供給するための放射システム、
望ましいパターンに従って投影ビームをパターン形成するように働らくパターン形成手段を支持するための支持構造、
基板を保持するための基板テーブル、および
パターン形成されたビームを基板の標的部分上に投影するための投影システムを備え、
前記放射システムおよび/または前記照射システムが、少なくとも第1および第2光学要素と、前記第1および第2光学要素を所定位置に維持するための位置決めシステムとを備える、リソグラフィ投影装置に関する。
マスク。マスクの概念はリソグラフィではよく知られており、それにはバイナリ・マスク、交番位相シフト・マスク、および減衰位相シフト・マスクなどのマスクの種類ばかりでなく、様々なハイブリッド・マスクの種類が含まれる。このようなマスクを放射ビーム中に配置すると、マスク上のパターンに従って、マスク上に当たる放射を選択的に透過(透過マスクの場合)または反射(反射マスクの場合)する。マスクの場合は、その支持構造が一般にマスク・テーブルであり、それによって入射する放射ビーム中の望ましい位置に確実にマスクを保持でき、また望ましければビームに対して確実にマスクを移動することができる。
プログラマブル・ミラー・アレイ。このような装置の一実施例は、粘弾性制御層および反射表面を有するマトリックス駆動表面である。このような装置の背後にある基本原理は、(例えば、)反射表面のアドレス指定領域が、入射光を回折光として反射するのに対して、非アドレス指定領域は入射光を非回折光として反射するというものである。適切なフィルタを使用すると、前記の非回折光を反射ビームから取り除き、回折光のみを残すことが可能であり、このような方式で、ビームがマトリックス駆動表面のアドレス指定パターンに従ってパターン形成される。プログラマブル・ミラー・アレイの別法による一実施例は微小ミラーのマトリックス配置を用いるものであり、それぞれの微小ミラーを、適切な局在電界の印加によってまたは圧電駆動手段の使用によって、軸周りに個々に傾斜させることができる。この場合も、アドレス指定ミラーが入射する放射ビームを非アドレス指定ミラーとは異なる方向に反射するように、ミラーをマトリックス駆動可能であり、このような方式で、反射ビームをマトリックス駆動ミラーのアドレス指定パターンに従ってパターン形成する。必要なマトリックス駆動は適切な電子手段を使用して実行可能である。以上に説明した2つの状況では、パターン形成手段は、1つまたは複数のプログラマブル・ミラー・アレイを備えることができる。本明細書に言及するミラー・アレイに関するさらなる情報は、例えば、参照により本明細書に援用する、米国特許第5,296,891号明細書および第5,523,193号明細書、ならびにPCT特許出願国際公開第98/38597号パンフレットおよび第98/33096号パンフレットから収集可能である。プログラマブル・ミラー・アレイの場合では、前記支持構造を、例えば、必要に応じて固定式または可動式でもよい架台またはテーブルとして実施することができる。
プログラマブルLCDアレイ。このような構造の一実施例が、参照により本明細書に援用する米国特許第5,229,872号明細書に見られる。上記と同様に、この場合も支持構造を、例えば、必要に応じて固定式または可動式でもよい架台またはテーブルとして実施することができる。
簡略化のために、本明細書の他の部分が、いくつかの箇所でマスクおよびマスク・テーブルを含む実施例に具体的に関する場合があるが、そのような場合に論じる一般的な原理は、上述のパターン形成手段のより広義の文脈において理解されるべきである。
前記位置決めシステムが、前記第2光学要素に対する少なくとも第1光学要素の相対位置を直接測定するための少なくとも1つの位置センサを備え、それによって前記位置決めシステムが前記第1および第2光学要素を所定の相対位置に維持することを特徴とする。
放射感光性材料の層によって少なくとも一部が被覆されている基板を提供する工程と、
放射システムを使用して放射の投影ビームを供給する工程と、
投影ビームの断面にパターンを与えるためにパターン形成手段を使用する工程と、
投影システムを使用して放射のパターン形成されたビームを基板の標的部分上に投影する工程とを含み、
前記放射システムと前記投影システムの少なくとも一方が、少なくとも第1および第2光学要素と、前記第1および第2光学要素を所定位置に維持するための位置決めシステムとを備える、デバイス製造方法であって、
前記第1および第2光学要素の相対位置を直接測定する工程と、
それらの相対位置を前記直接測定する工程に応答して前記第1および第2光学要素の位置を制御する工程とを特徴とする方法が提供される。
放射(例えば、EUV放射)の投影ビームPBを供給するための、この特定の場合では放射源LAも含む放射システムEx、ILと;
マスクMA(例えば、レチクル)を保持するためのマスク保持器が備わり、かつ要素PLに対してマスクを正確に位置決めする第1位置決め手段に連結されている第1物体テーブル(マスク・テーブル)MTと;
基板W(例えば、レジストが塗布されているシリコン・ウェハ)を保持するための基板保持器が備わり、かつ要素PLに対して基板を正確に位置決めする第2位置決め手段に連結されている第2物体テーブル(基板テーブル)WTと;
マスクMAの照射された部分を基板Wの標的部分C(例えば、1つまたは複数のダイを含む)の上に結像するための投影システム(「レンズ」)PL(例えば、反射ミラー・システム)とを備える。
この図に示すように、この装置は反射型である(すなわち、反射マスクを有する)。しかし、一般には、例えば、それが透過型であってもよい(例えば、透過マスクを有する)。これに代えて、装置は、上で参照した種類のプログラマブル・ミラー・アレイなどの、別の種類のパターン形成手段を用いることもできる。
1.ステップ方式では、マスク・テーブルMTを基本的に静止状態に維持し、マスク像全体を1回の試み(すなわち、単一「閃光」)で標的部分C上に投影する。次いでビームPBが異なる標的部分Cを照射できるように、基板テーブルWTをxおよび/またはy方向に移動する。
2.スキャン方式では、所与の標的部分Cを単一「閃光」で露光しないこと以外は、基本的に同じシナリオが該当する。ただし、投影ビームPBにマスク像全体にわたって走査させるように、マスク・テーブルMTが所与の方向(いわゆる「走査方向」であり、例えば、y方向)に移動可能であり、並行して、基板テーブルWTを速度V=Mvで同方向または逆方向に同期移動する。前式でMはレンズPLの倍率(典型的にはM=1/4または1/5)である。このようにして、分解能を損なわずに済むように、相対的に大きな標的部分Cを露光することができる。
IFM1=ΔX*sin(β)+ΔZ*cos(β) (1)
IFM2=−ΔX*sin(β)+ΔZ*cos(β) (2)
上式で、ΔXおよびΔZは制御されかつ追跡される反射器のXおよびX方向の相対変位量である。したがってΔXおよびΔZは次式のように導出される。
ΔX=(IFM1−IFM2)/(2*sinβ) (3)
ΔZ=(IFM1+IFM2)/(2*cosβ) (4)
AM 調整手段
B1〜B6 レーザ・ビーム
C 標的部分
C1〜C3 制御回路
CO 集光器
Ex ビーム拡大器
FF 強制架台
IF1〜IF9 干渉型測定装置
IF10、IF11 仮想測定システム
IL 照射システム
IN 積分器
LA 放射源
LP 投影システム
M1〜M6 反射器
MA マスク
MF1、MF2 第1基準架台、第2基準架台
MT マスク・テーブル
PB 放射ビーム
PL レンズ要素
POB 投影光学ボックス
W 基板
WT 基板テーブル
21、24 偏光ビーム・スプリッタ
22、25 コーナー・キューブ
23、26 検出器
31〜48 延長部
49、50 近接センサ
Claims (10)
- 放射の投影ビームを供給するための放射システム、
望ましいパターンに従って前記投影ビームをパターン形成するように働らくパターン形成手段を支持するための支持構造、
基板を保持するための基板テーブル、および
前記パターン形成されたビームを前記基板の標的部分上に投影するための投影システムを備え、
前記放射システムおよび/または前記投影システムが、少なくとも第1および第2反射器と、前記第1および第2反射器を所定位置に維持するための位置決めシステムとを備える、リソグラフィ投影装置であって、
前記位置決めシステムが、前記第2反射器に対して少なくとも前記第1反射器の相対位置を直接測定するための少なくとも1つの位置センサを備え、それによって前記位置決めシステムが前記第1および第2反射器を所定の相対位置に維持することを特徴とするリソグラフィ投影装置。 - 前記位置決めシステムが、前記第1および第2反射器の1つもしくは複数の相対位置ならびに/または1つもしくは複数の角度を測定するための少なくとも1つの干渉型変位測定装置を備える、請求項1に記載の装置。
- 前記反射器の少なくとも一方が、干渉計ビームのためのビーム誘導要素を支持する固定延長部を有する、請求項2に記載の装置。
- 前記第1および第2反射器の少なくとも一方が、前記第1および第2反射器の他方にまたはその延長部に近接する固定延長部を有し、前記位置決めシステムが、前記第1および第2反射器の相対位置を測定するために、1つもしくは複数の前記固定延長部および/または1つもしくは複数の前記反射器の上に装着した、光学的もしくは容量性符号器またはアナログ式容量性センサを備える、請求項1に記載の装置。
- 基準架台をさらに備え、前記位置決めシステムが、前記基準架台に対して前記第1反射器の位置を測定するための測定装置を備える、前記請求項のいずれか一項に記載の装置。
- 前記位置決めシステムが、前記第1および第2反射器をそれぞれ変位させるための第1および第2アクチュエータと、前記第1および第2アクチュエータを制御するための第1および第2制御器とを備え、前記第1制御器が前記基準架台に対する前記第1反射器の測定位置に応答し、前記第2制御器が前記第1および第2反射器の測定相対位置に応答する、請求項5に記載の装置。
- 前記位置決めシステムが、前記第1および第2反射器をそれぞれ変位させるための第1および第2アクチュエータと、前記第1および第2アクチュエータを制御するための第1および第2制御器とを備え、前記第1制御器が前記基準架台に対する前記第1反射器の測定位置に応答し、前記第2制御器が、前記基準架台に対する前記第1反射器の測定位置と、前記第1および第2反射器の測定相対位置との和に応答する、請求項5に記載の装置。
- 前記パターン形成手段のための支持構造と前記基板テーブルの少なくとも一方の位置を前記基準架台に対して測定するための別の変位測定装置をさらに備える、請求項5、6、または7に記載の装置。
- 前記第1および第2反射器が多層ミラーを含む、前記請求項のいずれか一項に記載の装置。
- 放射感光性材料の層によって少なくとも一部が被覆されている基板を提供する工程と、
放射システムを使用して放射の投影ビームを供給する工程と、
前記投影ビームの断面にパターンを与えるためにパターン形成手段を使用する工程と、
投影システムを使用して前記放射のパターン形成されたビームを前記基板の標的部分上に投影する工程とを含み、
前記放射システムと前記投影システムの少なくとも一方が、少なくとも第1および第2反射器と、前記第1および第2反射器を所定位置に維持するための位置決めシステムとを備える、デバイス製造方法であって、
前記第1および第2反射器の相対位置を直接測定する工程と、
それらの相対位置を前記直接測定する工程に応答して前記第1および第2反射器の位置を制御する工程とを特徴とする方法。
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