JP4187511B2 - 撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法 - Google Patents
撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4187511B2 JP4187511B2 JP2002334442A JP2002334442A JP4187511B2 JP 4187511 B2 JP4187511 B2 JP 4187511B2 JP 2002334442 A JP2002334442 A JP 2002334442A JP 2002334442 A JP2002334442 A JP 2002334442A JP 4187511 B2 JP4187511 B2 JP 4187511B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- jig
- imaging camera
- absolute
- pattern
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法に関し、特に、電子部品を基板に自動的に実装する電子部品実装分野などに適した撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来のロータリー型電子部品実装機の一般的な構成は図6に示すようなものとされている(例えば、特許文献1参照)。
【0003】
電子部品実装機には、電子部品を供給する電子部品供給手段10と、この電子部品供給手段10から供給された電子部品1を基板2上に装着する電子部品実装手段20とが設けられている。
【0004】
電子部品供給手段10は、複数の部品供給機11を並列させた姿勢で載せてX軸方向に移動自在の可動テーブル12と、可動テーブル12をX軸方向に移動させるモータなどからなるテーブル駆動機構13とから構成されている。各部品供給機11には、リール14が装填されており、各リール14は、多数の電子部品を一列に収納したテープを保持している。各部品供給機11が駆動されると、テープに収納された電子部品が部品供給位置15に順次に引き出されて、一個ずつ取り出される。
【0005】
電子部品実装手段20は、複数のノズル21を有する回転体22と、回転体22および各ノズル21の位置を認識しながら支持するインデックス装置23と、回転体22を回転させるための回転体駆動機構24および減速機25と、電子部品1の吸着姿勢などを撮像する撮像カメラ26と、撮像カメラ26により撮像された画像のデータに基づいて電子部品の吸着姿勢を解析する姿勢解析装置27と、各構成要素を制御する制御装置28などから構成されている。また、図示しないが、基板2の位置を認識するための撮像カメラなども設けられている。そして、回転体駆動機構24からの動力が減速機25を介してインデックス装置23に伝わることで、インデックス装置23に力を入力する入力軸29の連続回転が回転体22の間欠的な回転動作に変換される。回転体22の周囲に等間隔に配置されている複数のノズル21は、それぞれの軸を中心とした回転および昇降が可能である。
【0006】
任意の部品供給機11がノズル21の真下に位置決めされると、下降したノズル21が下降され、このにノズル21より電子部品1が吸着される。その後、ノズル21が上昇され、吸着している電子部品1が、回転体22の回転によって図6における手前側位置に搬送される。この搬送過程で、撮像カメラ26の真上にノズル21が位置決めされ、撮像カメラ26により、ノズル21で吸着された電子部品1の画像が取り込まれる。その取り込まれた画像は、姿勢解析装置27によって、電子部品1の吸着状態の解析に使用され、その解析結果をもとに制御装置28が電子部品1の位置補正および角度補正が行われる。この補正は、回路基板2に対する電子部品1の装着位置および装着角度を調整するためのものである。
【0007】
電子部品1が装着される基板2は、基板支持台32上に水平に支持されている。基板支持台32にはX軸駆動機構30およびY軸駆動機構31が結合されており、これらのX軸駆動機構30およびY軸駆動機構31が駆動されて基板支持台32がX方向ないしY方向に移動されることで基板2が水平面内の任意の位置に移動され、目的の位置で位置決めされる。
【0008】
電子部品1を基板2に装着するときには、ノズル21の真下の位置に、基板2上のあらかじめ設定された実装位置が位置するように位置決めさせる。そして、電子部品1を吸着したノズル21が下降され、下降された時点でノズル21による電子部品1の吸着を解放させて、電子部品1を基板2上の所望の実装位置に装着する。その後、ノズル21は上昇されて復帰される。
【0009】
このような一連の動作によって、一個の電子部品1の実装動作が完了するのであり、複数の電子部品1を実装する場合には、予め指定しておいた電子部品実装位置情報の実装順序(以下、NCプログラムと呼ぶ)に従って、上述の実装動作がそれぞれの電子部品1に対して繰り返し行われる。
【0010】
装着時に補正を行う際には、電子部品1の姿勢や基板2に付与された基板マークを撮像カメラ26によって認識させて制御装置28により補正量を求める。この場合に、精度よく補正を行うためには、その撮像カメラ26が電子部品実装機の基準になる方向(例えばX軸方向)に対して何度傾いているかをできるだけ正確に計測する必要がある。なお、基準になる方向に対する傾きを絶対傾きと呼ぶことにする。
【0011】
現状のカメラ傾き登録処理の流れを図7に示す。
まず、ステップS1にて、絶対傾きが既知である治具パターンを計測対象の撮像カメラ26によって撮像して、治具パターンの傾きを認識させる。次のステップS2では治具パターンの傾きの認識結果からカメラ傾きを計算する。治具パターンの絶対傾きをθ、治具パターンのカメラ座標系における傾きの認識結果をψとすると、その撮像カメラ26の傾き角度(絶対傾き)は
θ−ψ
となる。たとえば、絶対角度θの治具パターンの認識結果が0[deg]となる場合、このカメラの傾きはθ[deg]であるといえる。治具パターンの絶対傾きθは、機械的もしくは制御的に保証する必要がある。例えば、機械的に保証するなら、X軸方向に移動するピックアップ(位置検知用部品)を治具側面にあてて、治具パターンとX軸方向の平行を保証する方法などがある。また制御的に保証するには、既に絶対傾きが分かっている別の撮像カメラで治具パターンの傾きを計測し、治具の絶対傾きを求める方法などがある。図7に示すステップS3では、求まったカメラ傾きを返値として返すようになっている。
【0012】
【特許文献1】
特開平11−225000号公報
【0013】
【発明が解決しようとする課題】
ここで、撮像カメラ26の分解能と傾き計測精度との関係について図8を参照しながら説明する。図8における35は撮像カメラ26の視野であり、視野35内に認識された治具パターン36の一辺に注目する。この治具パターン36の一辺の両端部36a,36bを拡大すると、この一辺は、撮像カメラ26の同一箇所に並ぶ画素の範囲内において、最も傾きが大きい場合のライン37から最も傾きが小さいライン38までの角度範囲内を取りうる。つまり、最も傾きが大きい場合のライン37から最も傾きが小さいライン38までの角度の差がこの撮像カメラ26を使って長さLの辺を計測した場合の角度計測精度(誤差)ということになる。なお、図8におけるdは、撮像カメラ26のカメラスケール(単位pixel(画素)あたりの実空間長さ)である。
【0014】
撮像カメラ26の分解能はその設備が実装動作に必要なレベルを元に決定されているが、撮像カメラ26の絶対傾きの計測精度は一般に実装動作に必要なレベルより高いことが多い。例えば、長辺の長さが2mmの電子部品1を装着する際の傾き精度保証範囲が±0.5°である場合、撮像カメラ26の分解能は
2[mm]×sin0.5°≒17.5[μm/pixel]
あればよい。ところが、撮像カメラ26自身の絶対傾きを登録する際にも同じように計測誤差が発生するため、実際の装着傾きは±0.5°より悪くなる。
【0015】
しかし、撮像カメラ26の絶対傾き計測精度を基準に電子部品1を撮像する撮像カメラ26の分解能を決定すると、撮像カメラ26として非常に高分解能を要求される。上記の例において、4mm角の治具パターンを使ってカメラ傾きを登録すると考えれば、カメラ絶対傾きの精度を±0.01°以下に抑えるには
4[mm]×sin0.01°≒0.7[μm/pixel]
の分解能が必要となる。つまり、この撮像カメラ26は少なくとも
4[mm]/0.7[μm/pixel]=3265万画素
の解像度が必要になり、現実的ではない。つまり、従来のように単に傾きが既知の治具パターンを計測するだけでは、十分なカメラ傾き計測精度は得られないことになる。
【0016】
同じ事は基板2を撮像する撮像カメラ(基板カメラと称す)についても言うことができる。基板カメラの場合、基板カメラの絶対傾きが誤差を持って登録されている場合、基板マークが視野中心から外れるほど計測精度が悪くなる。例えば、分解能が15[μm/pixel],絶対傾きの誤差が0.5°の基板カメラで基板マークを視野中心からX方向に100pixel離れたところで認識した場合、この基板マークの近傍に装着する電子部品1はY軸方向に
15[μm/pixel]×100[pixel]×sin0.5°=13[μm]
の装着誤差を発生する。
【0017】
このように、撮像カメラの絶対傾きの計測誤差は計測に使用する治具パターンの絶対角度に対して、そのカメラスケールに関係した周期的な傾向を持っている。撮像カメラや治具の取り付け方によっては常に同じ誤差を持つため、治具を固定したまま単に傾き計測を複数回行って平均を取っても、計測精度の向上は望めない。
【0018】
上記のように、現状においては、撮像カメラの分解能と傾き登録で使用する治具のサイズから決まる角度の計測限界があり、撮像カメラの絶対傾きが比較的大きな誤差を持ったまま登録される場合がある。そのため、その誤差分だけ、電子部品1が傾いて装着されたり、全体に歪んで装着位置補正をするなど、精度面で悪影響を及ぼす恐れがあった。
【0019】
本発明は上記課題を解決するもので、撮像カメラのカメラスケールに対応する計測誤差以上の高精度まで、撮像カメラの絶対傾きを計測することができる撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法を提供することを目的とするものである。
【0020】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、傾きが既知である治具パターンを微小回転させ、あるいは複数の治具パターンを選択しながら、撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで傾きが異なる治具パターンを撮像カメラで認識し、治具パターンの傾き認識結果とそのときの絶対傾きとを直線近似することにより、撮像カメラの絶対傾きの計測精度を向上させるものである。
【0021】
【発明の実施の形態】
本発明の請求項1記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置は、撮像対象物の姿勢を撮像するための撮像カメラと、前記撮像カメラの撮像範囲内で、絶対傾きが既知である治具パターンを有する治具を前記撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで微小回転させる回転手段と、前記治具を微小回転させながら前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させ、既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する制御演算手段とを備えたことを特徴とする。
【0022】
本発明の請求項2記載の撮像カメラの絶対傾き計測方法は、絶対傾きが既知である治具パターンを有する治具を撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで微小回転させながら前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させる工程と、既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する工程とを含むことを特徴とする。
【0023】
本発明の請求項3記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置は、撮像対象物の姿勢を撮像する撮像カメラと、前記撮像カメラの撮像範囲内で、絶対傾きが既知であり、それぞれが前記撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで異なる絶対傾きの複数の治具パターンを有する治具をカメラ光軸に垂直な平面内で所定方向に沿って移動させる移動手段と、前記治具を前記所定方向に沿って移動させながら、視野内の前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させ、既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する制御演算手段とを備えたことを特徴とする。
【0024】
本発明の請求項4記載の撮像カメラの絶対傾き計測方法は、絶対傾きが既知であり、それぞれが撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで異なる絶対傾きの複数の治具パターンが所定方向に並べられた治具を前記所定方向に移動させながら、前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させる工程と、既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する工程とを含むことを特徴とする。
【0025】
これらの構成ならびに方法によれば、いずれも絶対角度が微小に異なるパターンを計測させることで、撮像カメラの絶対傾きの計測精度を向上させることができる。
【0026】
請求項5記載の発明は、請求項1に記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置において、撮像カメラのカメラスケールと治具パターンの寸法とに基づいて治具の回転範囲を決定する制御手段を備えたことを特徴とする。
【0027】
請求項6記載の発明は、請求項3に記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置において、撮像カメラのカメラスケールと治具パターンの寸法とに基づいて、複数の治具パターンのうちのどの治具パターンを選択するかを決定する制御手段を備えたことを特徴とする。
【0028】
これらの請求項5、6に記載の構成によれば、必ず1周期分以上のデータをサンプリングすることを保証することができ、例えば撮像カメラを交換してカメラスケールが変わった場合も自動的に新しい撮像カメラのスケールに応じて治具回転範囲を決定することができる。
【0029】
本発明の請求項7記載の電子部品実装機は、請求項1、3、5、6の何れかに記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置を備えたことを特徴とする。
この構成によれば、撮像カメラの絶対傾きが高精度で得られるので、この撮像カメラを部品姿勢撮像用や基板姿勢撮像用として用いることで、部品姿勢の位置決めの信頼性や基板姿勢の位置決めの信頼性が向上する。
【0030】
以下、本発明の実施の形態にかかる撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法を図面に基づき説明する。
図1(a),(b)はそれぞれ、計測対象としての撮像カメラと、この計測に用いる治具との関係を示す斜視図である。
【0031】
絶対傾きを計測する計測対象としての撮像カメラは、図1(a)に示すように、電子部品を撮像する部品撮像用の撮像カメラ26のように、この撮像カメラ26の撮像対象が、回転手段39により回転できる構成であるものに対して適用する場合と、図2(b)に示すように、基板を撮像する基板撮像用の撮像カメラ50のように、この撮像カメラ50の撮像対象が、この撮像対象を載置した平面内において、移動手段51により指定した座標に沿う所定の直線方向(例えば、X方向や、Y方向)に移動できる構成であるものに対して適用する場合との2つの場合がある。
【0032】
まず、図1(a)に示すように、撮像カメラ26の撮像対象が、回転手段39により回転できる構成であるものに対して適用する場合について説明する。
撮像カメラ26の撮像対象箇所に、治具パターン36が描かれている治具40を載置する。そして、絶対傾き計測装置を備えた電子部品実装機に設けられた制御装置(図示せず)により、以下のような制御動作を行わせる。回転手段39によって治具40を、撮像カメラ26の視野35内において、認識分解能よりも小さい指定した微小レベルとなるように微小角度毎に回転させながら、治具パターン36を撮像カメラ26により認識させる。
【0033】
図2は、このように治具40を回転させながら、治具パターン36を撮像カメラ26により認識させ、この認識結果に基づいて撮像カメラ26の絶対傾きを計測する制御動作の流れを示したフローチャートである。
【0034】
まず、ステップS11で、治具を取り付けているθ軸の位置決め目標位置である目標角度テーブルθTbl[0〜n−1]を作成する。この目標角度テーブルの大きさをnとする(ただし、nは2以上の整数である)。正方形の治具パターン36を使って撮像カメラ26の絶対傾きを計測するに際し、治具パターン36の1辺の長さをL、撮像カメラ26によるカメラスケール(単位ピクセルあたりの実空間長さ)をFとすると、カメラ絶対傾き計測誤差の周期は
【0035】
【数1】
となる。つまり、図8に示すように、撮像カメラ26で治具パターン36を撮像した場合に、治具パターン36における任意の直線線分(図8に示すように、ほぼX軸に対して平行に近いもの)を、その線分の中央の点で回転させた場合に、角度Δθだけ回転させる毎に左端の点が、1つずつ画素がシフトする。この場合の中点から左端までの距離はL/2であり、角度Δθだけ回転した際の左端の座標の円周方向移動量はFになるので、
【0036】
【数2】
となる。また、線分の左端と同様に右端でも同じような現象が発生するので、左端もしくは右端のどちらかが、1画素分だけシフトする周期は、およそ
【0037】
【数3】
となる。ここで、2F/Lが0°に十分近い領域では
【0038】
【数4】
と近似でき、これにより、角度誤差の周期は、上記(数1)で示される値となる。
【0039】
したがって、n個のサンプルにより、ちょうどα周期分のサンプリングを行った場合には、目標角度テーブルのピッチは
【0040】
【数5】
となる。
【0041】
これにより、第i番目の要素の角度である第i要素角度θTbl[i]は、0°を中心として角度を割り振った場合には、例えば次のように決めることができる。
【0042】
【数6】
したがって、このようにして、目標角度テーブルθTbl[0〜n−1]を作成する。
【0043】
次に、ステップS12で、インデックスiに0をセット(初期化)するとともに、サンプル数をnとする。
そして、ステップS13で、回転手段39により治具40を絶対角度θTbl[i]に回転させ、ステップS14で、計測対象である撮像カメラ26で治具パターン36を認識させて、治具パターン36の傾きを計測し、ステップS15で、治具傾きを結果テーブルψTb1[i]に登録する。
【0044】
この後、次のステップS16で、iを1加算し、ステップS17で、iをnと比較し、i<nであればステップS13へ、そうでなければステップS18へ遷移する。すなわち、iが0からn−1である場合の各要素角度θTblに対応する結果テーブルψTb1を登録する。
【0045】
そして、ステップS18で、目標角度テーブルθTbl[0〜n−1]と結果テーブルψTb1[0〜n−1]とから、治具絶対角度θと治具認識結果ψとの関係式を直線近似によって求める。近似式は、
ψ=aθ+b
と表される。そして、治具認識結果ψが0である場合には、治具絶対角度θが撮像カメラ26の絶対傾きθCAMとなるので、
0=aθCAM+b
である。したがって、
θCAM=−(b/a)
である。ステップS19において、この近似式より撮像カメラ26の絶対傾きである、−(b/a)を求め、ステップS20で、算出して求まったカメラ傾き(撮像カメラ26の絶対傾きθCAM)を返値として返す。
【0046】
これにより、撮像カメラ26の撮像対象が、回転手段39により回転できる構成である場合に、この撮像カメラ26のカメラ絶対傾きを、計測誤差の影響を最小限に抑えて、撮像カメラ26の認識分解能よりも高い精度で計測することができる。
【0047】
なお、撮像カメラ26によるカメラスケール(単位ピクセルあたりの実空間長さ)は予めわかっているので、治具40の回転範囲を、カメラスケールと治具パターン36の寸法から自動的に決定するようにしてもよい。なお、この場合に、治具40の回転範囲は、カメラ絶対傾き計測誤差の1周期以上のデータをサンプリングするように構成する。
【0048】
これによれば、例えば撮像カメラを交換してスケールが変わった場合でも自動的に新しい撮像カメラのスケールに応じて治具回転範囲を決定することができ、治具40の回転範囲を人が手動で設定しなくてもよいため手間が省けるとともに、人により誤った設定をすることが防止されて、信頼性が向上する。
【0049】
次に、図1(b)に示すように、撮像カメラ50の撮像対象が、この撮像対象を載置した平面内において、移動手段51により指定の直線方向に移動できる構成であるものに対して適用する場合について説明する。
【0050】
この場合に使用する治具52には、図3に示すように、少しずつ傾きが異なるあらゆる角度の複数の治具パターン53が所定方向に沿って並べられて配置されている。なお、治具パターン53間の間隔は必ずしも等間隔である必要はないが、その間隔は既知であり制御部に入力されて、その距離だけ移動手段51により移動可能な状態となっている必要がある。
【0051】
そして、移動手段51により治具52上に設けられた複数の治具パターン53のうちの、指定の角度の治具パターン53を撮像カメラ50の視野内に移動させながら撮像する。
【0052】
図4は、このように治具52を移動させながら、治具パターン53を撮像カメラ50により認識させ、この認識結果に基づいて撮像カメラ50の絶対傾きを計測する制御動作の流れを示したフローチャートである。
【0053】
まず、ステップS21で、治具52を移動させる際の位置決め目標位置である目標座標テーブルXTbl[0〜n−1],YTbl[0〜n−1]を作成する(ただし、nは2以上の整数である)。ここで、治具52を目標座標テーブルXTbl[i],YTbl[i]へ移動させた場合、複数ある治具パターン53のうちの第i番目の治具パターン53が撮像カメラ50に映るように目標座標テーブルを作成する。なお、第i番目の治具パターン53の絶対角度はθTbl[i]であるとする。
【0054】
次に、ステップS22で、インデックスiに0をセット(初期化)するとともに、サンプル数をnとする。
そして、ステップS23で、移動手段51により治具52を目標座標テーブルXTbl[i],YTbl[i]へ移動することにより、第i番目の治具パターン53を撮像カメラ50の視野に入れる。そして、ステップS24からステップS30において、図2におけるステップS14からステップS20の場合と同様にして、目標座標テーブルXTbl[0〜n−1],YTbl[0〜n−1]と結果テーブルψTb1[0〜n−1]とから、治具絶対角度θと治具認識結果ψとの関係式を直線近似によって求め、この近似式よりカメラ傾きを求めて、カメラ傾きを返値として返す。
【0055】
この場合に、治具絶対角度θと治具認識結果ψとは、例えば最小二乗法により直線近似することができる。図5により、計測結果と近似直線との関係を示す。図5における、(ア)は第i番目の計測サンプルの値、(イ)はこの第i番目の計測サンプルの近似角度誤差、(ウ)は治具パターン53の絶対傾きと認識結果から求めた近似直線、(エ)は治具認識結果が0°となる治具パターン53の絶対傾きである。
【0056】
第i番目の計測サンプルにおける近似角度誤差Δψ[i](=p)は
【0057】
【数7】
となるので、この角度誤差の最小二乗和が最小となるようにa、bを決めればよい。ところが、治具絶対角度θと治具認識結果ψとの変化量は、全体的には一致するはずであり、a=1であることは明らかであるので、求めるのはbだけでよいことになる。
【0058】
誤差の二乗和をSとすると
【0059】
【数8】
となる。ところが、a=1であることは明らかなので、Sはbの関数であるとみなすことができる。b2の係数nは正なので、S(b)の傾きが0になる場合がS(b)の最小値である。つまり、S(b)を最小にするbは
【0060】
【数9】
を満たすので、これを解けばよい。左辺は
【0061】
【数10】
となるので
【0062】
【数11】
となる。
【0063】
これにより、認識結果ψ=0[deg]となるような治具絶対角度θ[deg](=(ウ))はすなわちカメラ傾きそのものである。従って、このカメラの傾きは
【0064】
【数12】
となる。
【0065】
これにより、カメラ絶対傾きを、計測誤差の影響を最小限に抑えることができて、高い精度で計測することができる。
これにより、撮像カメラ50の撮像対象が、この撮像対象を載置した平面内において、移動手段51により指定の直線方向に移動できる構成である場合にも、この撮像カメラ50のカメラ絶対傾きを、計測誤差の影響を最小限に抑えて、撮像カメラ50の認識分解能よりも高い精度で計測することができる。
【0066】
なお、撮像カメラ50によるカメラスケール(単位ピクセルあたりの実空間長さ)および治具パターン53の寸法は予めわかっているので、これらの寸法に基づいて、複数の治具パターン53のうちどの治具パターン53を選択するかを自動的に決定するようにしてもよい。なお、この場合に、治具パターン53の選択範囲は、カメラ絶対傾き計測誤差の1周期以上のデータをサンプリングできるように構成する。
【0067】
これによれば、例えば撮像カメラを交換してスケールが変わった場合でも自動的に新しい撮像カメラのスケールに応じて治具回転範囲を決定することができ、治具パターン53の選択を人が行わなくても済むので手間が省けるとともに、人により誤った選択をすることが防止されて、信頼性が向上する。
【0068】
なお、治具パターン36,53は十分な角度計測精度を保証するためにもできるだけ高精度である必要がある。角度精度は治具パターン36,53の形状、寸法のほか、治具パターン36,53そのものの加工(もしくは印刷)精度にも依存する。高精度な治具の加工法としては、ガラス製のベース上にスパッタリングで治具パターン36,53を印刷する方法が挙げられる。スパッタリングの精度を誤差約±0.001mmとすると、4.0mm角の正方形パターンを印刷する場合、印刷の角度精度は
【0069】
【数13】
となる。撮像カメラ26、50の絶対角度を±0.01[deg]の精度で出すには治具パターン36,53の傾きは±0.001[deg]程度は必要になると思われる。そこで精度の不足分は、治具パターン36,53を予め高精度測定器などで計測する(以下、治具パターン予備計測とよぶ)ことによって補うようにする。治具パターンの傾き8−3は各パターンの絶対角度が既知であればよく、必ずしも±0.001[deg]の精度で等間隔である必要はない。
【0070】
治具パターン予備計測を使用して治具パターン36,53の絶対角度を保証する場合は、カメラ絶対傾きの計測者が操作画面から治具パターン予備計測結果を入力するなどの操作が必要になる。治具パターン予備計測は、治具作成時に1度計測すればよく、カメラ絶対傾きの度に計測する必要はない。治具40、52の一部に治具パターン予備計測の結果を印字しておけば、カメラ絶対傾きの計測者は印字された値を操作画面から入力すればよい。また、治具パターン予備計測結果をバーコード状にして治具面上に印刷し、カメラから自動入力するようにすればなお便利である。
【0071】
なお、治具パターン36,53の角度計測誤差は先述のように
【0072】
【数14】
の周期性を持つため、治具40を回転させる場合の角度範囲や治具52を移動させた際の治具パターン53の角度範囲は、それぞれ角度周期の整数倍であることが望ましい。
【0073】
また、図1(a)および図2に基づく上記実施の形態の撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法を電子部品実装機における部品姿勢撮像用の撮像カメラに適用したり、図1(b)、図3および図4に基づく上記実施の形態の撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法を電子部品実装機における基板姿勢撮像用の撮像カメラに適用したりすることで、電子部品の姿勢の認識を高精度で行うことができるとともに、基板の電子部品の姿勢の認識を高精度で行うことができ、この結果、回転体の回転方向や基板の移動方向など、部品姿勢の位置決めの信頼性や基板姿勢の位置決めの信頼性が向上する。
【0074】
また、電子部品実装機に用いる場合でも、ロータリー型の電子部品実装機に限るものではなく、全ての電子部品実装機に適用可能である。また、図1(b)、図3および図4に基づく上記実施の形態の撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法を用いて、マーク認識によって補正を行う接着剤塗布機、挿入機、検査機などにも適用可能である。
【0075】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、傾きが既知である治具パターンを微小回転させ、あるいは複数の治具パターンを選択しながら、撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで傾きが異なる治具パターンを撮像カメラで認識し、治具パターンの傾き認識結果とそのときの絶対傾きとを直線近似して、撮像カメラの絶対傾きを計測することで、撮像カメラの認識の分解能で決定する角度計測精度よりも高いオーダーでのカメラ傾き計測が可能になり、電子部品の姿勢の認識を高い精度で行うことができる。
【0076】
また、撮像カメラのカメラスケールと治具パターンの寸法とに基づいて治具の回転範囲を決定したり、複数の治具パターンのうちのどの治具パターンを選択するかを決定したりすることで、治具パターンの回転角度や選択動作の決定を人が行わなくても済むので手間が省けるとともに、人により誤った選択をすることが防止されて、信頼性が向上する。
【0077】
また、電子部品実装機に、上記撮像カメラの絶対傾き計測装置を備えることで、部品姿勢の位置決めの信頼性や基板姿勢の位置決めの信頼性が向上し、ひいてはX方向、Y方向、回転角度θなどに関する部品実装精度が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b)はそれぞれ、本発明の実施の形態に係る撮像カメラの絶対傾き計測装置における計測対象としての撮像カメラと、この計測に用いる治具との関係を示す斜視図。
【図2】本発明の実施の形態に係る撮像カメラの絶対傾き計測方法を示すフローチャート。
【図3】本発明の他の実施の形態に係る撮像カメラの絶対傾き計測装置における治具の平面図。
【図4】本発明の他の実施の形態に係る撮像カメラの絶対傾き計測方法を示すフローチャート。
【図5】同撮像カメラの絶対傾き計測方法における治具傾き計測結果と近似直線の関係を概念的に示す図。
【図6】電子部品実装機の構成を概略的に示す斜視図。
【図7】従来のカメラ傾き計測処理を示すフローチャート。
【図8】カメラ分解能と傾き計測誤差の関係を概念的に示す図。
【符号の説明】
1 電子部品
2 基板
12 可動テーブル
13 テーブル駆動機構
20 電子部品実装手段
21 ノズル
22 回転体
24 回転体駆動機構
26、50 撮像カメラ
28 制御装置
39 回転手段
36、53 治具パターン
43、52 治具
51 移動手段
Claims (7)
- 撮像対象物の姿勢を撮像するための撮像カメラと、
前記撮像カメラの撮像範囲内で、絶対傾きが既知である治具パターンを有する治具を前記撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで微小回転させる回転手段と、
前記治具を微小回転させながら前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させ、既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する制御演算手段と
を備えた撮像カメラの絶対傾き計測装置。 - 絶対傾きが既知である治具パターンを有する治具を撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで微小回転させながら前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させる工程と、
既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する工程と
を含む撮像カメラの絶対傾き計測方法。 - 撮像対象物の姿勢を撮像する撮像カメラと、
前記撮像カメラの撮像範囲内で、絶対傾きが既知であり、それぞれが前記撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで異なる絶対傾きの複数の治具パターンを有する治具をカメラ光軸に垂直な平面内で所定方向に沿って移動させる移動手段と、
前記治具を前記所定方向に沿って移動させながら、視野内の前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させ、既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する制御演算手段と
を備えた撮像カメラの絶対傾き計測装置。 - 絶対傾きが既知であり、それぞれが撮像カメラの認識分解能より細かいレベルで異なる絶対傾きの複数の治具パターンが所定方向に並べられた治具を前記所定方向に移動させながら、前記治具パターンの位置を前記撮像カメラで認識させる工程と、
既知情報である前記治具パターンの絶対傾きと前記撮像カメラによる前記治具パターンの傾きの認識結果との関係を直線近似することにより、前記撮像カメラの絶対傾きを算出する工程と
を含む撮像カメラの絶対傾き計測方法。 - 撮像カメラのカメラスケールと治具パターンの寸法とに基づいて治具の回転範囲を決定する制御手段を備えた
請求項1に記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置。 - 撮像カメラのカメラスケールと治具パターンの寸法とに基づいて、複数の治具パターンのうちのどの治具パターンを選択するかを決定する制御手段を備えた請求項3に記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置。
- 請求項1、3、5、6の何れかに記載の撮像カメラの絶対傾き計測装置を備えた電子部品実装機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002334442A JP4187511B2 (ja) | 2002-11-19 | 2002-11-19 | 撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002334442A JP4187511B2 (ja) | 2002-11-19 | 2002-11-19 | 撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004172242A JP2004172242A (ja) | 2004-06-17 |
JP4187511B2 true JP4187511B2 (ja) | 2008-11-26 |
Family
ID=32698815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002334442A Expired - Fee Related JP4187511B2 (ja) | 2002-11-19 | 2002-11-19 | 撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4187511B2 (ja) |
-
2002
- 2002-11-19 JP JP2002334442A patent/JP4187511B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004172242A (ja) | 2004-06-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6744499B2 (en) | Calibration methods for placement machines incorporating on-head linescan sensing | |
JPH03257354A (ja) | はんだ印刷検査装置 | |
JP5318334B2 (ja) | 対象物の位置検出方法及び装置 | |
CN112950724A (zh) | 丝印视觉标定方法及装置 | |
US6563530B1 (en) | Camera position-correcting method and system and dummy component for use in camera position correction | |
JP6889778B2 (ja) | 部品実装装置 | |
JP2004281958A (ja) | 部品実装方法及び装置 | |
JP2000321025A (ja) | 処理装置の移動誤差検出装置及びその方法 | |
JP4187511B2 (ja) | 撮像カメラの絶対傾き計測装置および絶対傾き計測方法 | |
JP5572247B2 (ja) | 画像歪補正方法 | |
JP2001124700A (ja) | ラインセンサーカメラを備えた検査機のキャリブレーション方法 | |
JP2014006202A (ja) | 起点座標補正方法 | |
JP2004288824A (ja) | 電子部品装着装置のキャリブレーション法及びその方法を用いた装置 | |
JP3341855B2 (ja) | ワーク位置決めステージ装置及びそれにおける制御パラメータの補正更新方法並びにチップボンディング装置 | |
JPH0541598A (ja) | 部品実装位置補正方法 | |
JP3112581B2 (ja) | 位置決め装置および印刷装置 | |
JP3687167B2 (ja) | 部品装着装置及びその部品位置計測手段の校正使用方法 | |
JPH116711A (ja) | 計測用撮像装置の校正値測定方法 | |
JP3725993B2 (ja) | 電子部品実装回路基板の検査方法及びその装置 | |
JPH09246794A (ja) | 電子部品実装装置および電子部品実装装置におけるノズルの位置検出方法 | |
JPH06160054A (ja) | 画像処理装置 | |
JP2000258121A (ja) | 複数カメラ校正用のマスター基板及び画像認識カメラの校正方法 | |
JP2000068696A (ja) | 部品認識装着装置及び部品認識方法 | |
JP2005183412A (ja) | 電子部品実装装置 | |
JPH08181062A (ja) | 位置決め装置及び位置決め方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051024 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080502 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080520 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080715 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080812 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080909 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110919 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120919 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130919 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |