JP4178242B2 - 斜め配線を有するlsiの配線容量の抽出方法およびその抽出プログラム - Google Patents
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Description
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程とを有することを特徴とする。
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記着目配線と斜め配線とを所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程とを有することを特徴とする。
図12は、本実施の形態における容量抽出方法のフローチャート図である。更に、図13は、本実施の形態における配線モデル生成工程のフローチャート図である。容量抽出工程S20では、図10,図11で説明したように、配線セグメント毎に容量C値の抽出が行われる。図12、図13は、一つの配線セグメントに対する処理フローを示している。
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程とを有することを特徴とする配線容量抽出方法。
前記配線モデル生成工程は、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて、前記所定の距離を求める工程を含むことを特徴とする配線容量抽出方法。
前記配線モデル生成工程は、前記配線セグメントの着目配線と隣接配線との距離が所定の閾値距離を超える部分を有するときは、当該閾値距離を超える部分は閾値距離を隔てて平行になるように置き換え、前記閾値距離を超えない部分については、前記所定の距離を隔てて平行になるように置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。
前記レイアウトデータは、X,Y方向に延びる主軸配線と、当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含み、前記着目配線が主軸配線で、前記隣接配線が斜め配線の場合は、前記配線モデル生成工程において、当該隣接配線を前記着目配線に平行な主軸配線に置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。
前記レイアウトデータは、X,Y方向に延びる主軸配線と、当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含み、前記着目配線が斜め配線で、前記隣接配線が主軸配線の場合は、前記配線モデル生成工程において、当該着目配線を前記隣接配線に平行な主軸配線に置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。
前記レイアウトデータは、X,Y方向に延びる主軸配線と、当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含み、前記着目配線と前記隣接配線がともに斜め配線の場合は、前記配線モデル生成工程において、当該着目配線と前記隣接配線とを互いに平行な主軸配線に置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。
前記容量抽出工程は、隣接配線との距離のパラメータに対応して容量値を有する容量ルールテーブルを参照して、前記所定の距離にマッチングするパラメータに対応する容量値を当該配線セグメントの容量値として抽出する工程を有することを特徴とする容量抽出方法。
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記着目配線と斜め配線とを所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程とを有することを特徴とする配線容量抽出方法。
前記配線セグメントの前記着目配線と隣接配線の一方が主軸配線で他方が斜め配線の場合に、 前記配線モデル生成工程は、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて、前記所定の距離を求める工程を含むことを特徴とする配線容量抽出方法。
前記手順は、
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成手順と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出手順とを有することを特徴とする配線容量抽出プログラム。
前記配線モデル生成手順は、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて、前記所定の距離を求める手順を含むことを特徴とする配線容量抽出プログラム。
前記配線モデル生成手順は、前記配線セグメントの着目配線と隣接配線との距離が所定の閾値距離を超える部分を有するときは、当該閾値距離を超える部分は閾値距離を隔てて平行になるように置き換え、前記閾値距離を超えない部分については、前記所定の距離を隔てて平行になるように置き換えることを特徴とする配線容量抽出プログラム。
前記手順は、
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記着目配線と斜め配線とを所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成手順と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出手順とを有することを特徴とする配線容量抽出プログラム。
前記配線セグメントの前記着目配線と隣接配線の一方が主軸配線で他方が斜め配線の場合に、 前記配線モデル生成手順は、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて、前記所定の距離を求める手順を含むことを特徴とする配線容量抽出プログラム。
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程と、
前記抽出した容量に基づいて求められる前記着目配線の遅延時間にしたがって、集積回路の論理検証を行う論理検証工程とを有することを特徴とする集積回路の論理検証方法。
前記手順は、
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成手順と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出手順と、
前記抽出した容量に基づいて求められる前記着目配線の遅延時間にしたがって、集積回路の論理検証を行う論理検証手順とを有することを特徴とする集積回路の論理検証プログラム。
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記着目配線と斜め配線とを所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程と、
前記抽出した容量に基づいて求められる前記着目配線の遅延時間にしたがって、集積回路の論理検証を行う論理検証工程とを有することを特徴とする集積回路の論理検証方法。
前記手順は、
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記着目配線と斜め配線とを所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成手順と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出手順と、
前記抽出した容量に基づいて求められる前記着目配線の遅延時間にしたがって、集積回路の論理検証を行う論理検証手順とを有することを特徴とする集積回路の論理検証プログラム。
F22:配線モデル、P18:RLC抽出ツール、20:演算ユニット
LNX:着目配線、LNY:隣接配線、LNY1m、LNY2m:配線モデル
Claims (8)
- コンピュータが、
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて所定の距離を求め、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して前記所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程とを実行し、
集積回路の接続配線の容量値を抽出することを特徴とする配線容量抽出方法。 - 請求項1において、
前記配線モデル生成工程は、前記配線セグメントの着目配線と隣接配線との距離が所定の閾値距離を超える部分を有するときは、当該閾値距離を超える部分は閾値距離を隔てて平行になるように置き換え、前記閾値距離を超えない部分については、前記所定の距離を隔てて平行になるように置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。 - 請求項1において、
前記レイアウトデータは、X,Y方向に延びる主軸配線と、当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含み、前記着目配線が主軸配線で、前記隣接配線が斜め配線の場合は、前記配線モデル生成工程において、当該隣接配線を前記着目配線に平行な主軸配線に置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。 - 請求項1において、
前記レイアウトデータは、X,Y方向に延びる主軸配線と、当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含み、前記着目配線が斜め配線で、前記隣接配線が主軸配線の場合は、前記配線モデル生成工程において、当該着目配線を前記隣接配線に平行な主軸配線に置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。 - 請求項1において、
前記レイアウトデータは、X,Y方向に延びる主軸配線と、当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含み、前記着目配線と前記隣接配線がともに斜め配線の場合は、前記配線モデル生成工程において、当該着目配線と前記隣接配線とを互いに平行な主軸配線に置き換えることを特徴とする配線容量抽出方法。 - コンピュータが、
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記配線セグメントの前記着目配線と隣接配線の一方が主軸配線で他方が斜め配線の場合に、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて所定の距離を求め、前記着目配線と斜め配線とを前記所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程とを実行し、
集積回路の接続配線の容量値を抽出することを特徴とする配線容量抽出方法。 - コンピュータが、
前記接続配線のレイアウトデータに含まれ、着目配線とそれに隣接する隣接配線とが平行でない配線セグメントについて、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて所定の距離を求め、当該着目配線または隣接配線のいずれか一方の方向を他方に対して前記所定の距離を隔てて平行になるように置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程と、
前記抽出した容量に基づいて求められる前記着目配線の遅延時間にしたがって、集積回路の論理検証を行う論理検証工程とを実行し、
集積回路の論理検証を行うことを特徴とする集積回路の論理検証方法。 - コンピュータが、
X,Y方向に延びる主軸配線と当該X,Y方向に対して斜め方向に延びる斜め配線とを含む接続配線のレイアウトデータに含まれ、いずれか一方が前記斜め配線である着目配線とそれに隣接する隣接配線とを含む配線セグメントに対して、前記配線セグメントの前記着目配線と隣接配線の一方が主軸配線で他方が斜め配線の場合に、前記配線セグメントの始点と終点との間で前記着目配線と隣接配線との距離に応じて積分した容量値に基づいて所定の距離を求め、前記着目配線と斜め配線とを前記所定の距離を隔てて平行にするように、当該斜め配線を主軸配線に置き換えて配線モデルデータを生成する配線モデル生成工程と、
当該配線モデルデータに含まれる着目配線の前記配線セグメントについて、前記所定の距離に基づいて容量値を抽出する容量抽出工程と、
前記抽出した容量に基づいて求められる前記着目配線の遅延時間にしたがって、集積回路の論理検証を行う論理検証工程とを実行し、
集積回路の論理検証を行うことを特徴とする集積回路の論理検証方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004051812A JP4178242B2 (ja) | 2004-02-26 | 2004-02-26 | 斜め配線を有するlsiの配線容量の抽出方法およびその抽出プログラム |
US10/898,960 US7185296B2 (en) | 2004-02-26 | 2004-07-27 | Method of extraction of wire capacitances in LSI device having diagonal wires and extraction program for same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004051812A JP4178242B2 (ja) | 2004-02-26 | 2004-02-26 | 斜め配線を有するlsiの配線容量の抽出方法およびその抽出プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005242681A JP2005242681A (ja) | 2005-09-08 |
JP4178242B2 true JP4178242B2 (ja) | 2008-11-12 |
Family
ID=34879632
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004051812A Expired - Fee Related JP4178242B2 (ja) | 2004-02-26 | 2004-02-26 | 斜め配線を有するlsiの配線容量の抽出方法およびその抽出プログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7185296B2 (ja) |
JP (1) | JP4178242B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7100135B2 (en) * | 2004-06-18 | 2006-08-29 | Intel Corporation | Method and system to evaluate signal line spacing |
JP4509703B2 (ja) * | 2004-09-01 | 2010-07-21 | 富士通株式会社 | 配線容量算出装置、配線容量算出方法および配線容量算出プログラム |
JP4316469B2 (ja) * | 2004-10-15 | 2009-08-19 | 株式会社東芝 | 自動設計装置 |
JP2007165489A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Nec Electronics Corp | 半導体装置及びその設計方法 |
US7376921B2 (en) * | 2006-02-17 | 2008-05-20 | Athena Design Systems, Inc. | Methods for tiling integrated circuit designs |
US20080109778A1 (en) * | 2006-10-23 | 2008-05-08 | Inventec Corporation | Setting method of line pitch/line width layout for logic circuit |
JP2010287001A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Fujitsu Ltd | 設計支援プログラム、設計支援装置、および設計支援方法 |
KR101712628B1 (ko) * | 2010-05-03 | 2017-03-06 | 삼성전자 주식회사 | 가변 콘택을 포함한 반도체 소자 |
TW201211808A (en) * | 2010-09-10 | 2012-03-16 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for checking electrical rules |
US8365117B2 (en) * | 2011-06-13 | 2013-01-29 | International Business Machines Corporation | Solutions for on-chip modeling of open termination of fringe capacitance |
US9886541B2 (en) | 2015-12-08 | 2018-02-06 | International Business Machines Corporation | Process for improving capacitance extraction performance |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06120343A (ja) | 1992-10-08 | 1994-04-28 | Fujitsu Ltd | 配線容量演算装置及び配線容量算出方法 |
US6185722B1 (en) * | 1997-03-20 | 2001-02-06 | International Business Machines Corporation | Three dimensional track-based parasitic extraction |
US6077309A (en) * | 1998-01-07 | 2000-06-20 | Mentor Graphics Corporation | Method and apparatus for locating coordinated starting points for routing a differential pair of traces |
JP3786791B2 (ja) | 1999-01-11 | 2006-06-14 | 松下電器産業株式会社 | 容量計算装置及び容量計算方法 |
US6665845B1 (en) * | 2000-02-25 | 2003-12-16 | Sun Microsystems, Inc. | System and method for topology based noise estimation of submicron integrated circuit designs |
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-
2004
- 2004-02-26 JP JP2004051812A patent/JP4178242B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-07-27 US US10/898,960 patent/US7185296B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005242681A (ja) | 2005-09-08 |
US20050193354A1 (en) | 2005-09-01 |
US7185296B2 (en) | 2007-02-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051026 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080430 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080619 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080729 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20080731 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080731 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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S533 | Written request for registration of change of name |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
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