JP4149986B2 - 平板表示素子 - Google Patents

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Description

本発明は平板表示素子に係り、さらに詳細には共通電源線(Vddライン)が一定の屈曲を形成して共通電源線の配線幅を減らしてパネルの大きさを減らすことができる平板表示素子に関する。
図1Aは、通常の有機電界発光素子の発光表示部及び非発光表示部を概略的に示す平面図であって、図1Bは図1AのI−I線に沿って切断した断面図で従来の有機電界発光素子の共通電源線の積層構造を示す断面図である。
図1Aを参照すれば、通常の有機電界発光素子は発光表示部100と非発光表示部200とを備えており、前記非発光表示部はパネルの外廓部に位置するようになる。パネル外廓部の非発光表示部には発光表示部に共通電圧を供給するための共通電源線54が配線されている。
パネル外廓部の非発光表示部200にある共通電源線54は図1Bに示したように、基板10上にバッファー層15が形成されて、前記バッファー層15上部に形成されているゲート絶縁膜30、層間絶縁膜40上部にソース/ドレイン電極と同一な物質で積層して形成される。
従来の場合には下部に共通電源線下部には電気的ショートを防止するためにゲートライン等のような信号線を形成しないようになって、これにより一定の配線抵抗を維持するためには共通電源線の幅が1.5mmに広くなってパネルの大きさ自体が大きくなるようになるという問題点がある。
また、従来の有機電界発光素子はパネル外廓部の共通電源線の配線だけでなく発光表示部に配線されている共通電源線の配線の幅によってもパネル大きさが大きくなるようになる。
図2Aは、図1Aの有機電界発光素子の発光表示部の平面構造を示した平面図であって、図2Bは図2AのII−II線に沿って断面構造を示した図面である。
図2Bを参照すれば、透明な絶縁基板10上部に画素電極及び駆動薄膜トランジスタが形成される第A領域と、共通電源線が配線されるB領域と、キャパシターが形成されるC領域と、が備わる。
前記絶縁基板10上にはバッファー層15が形成されて、バッファー層15上部のA領域のうち薄膜トランジスタが形成される領域にはソース/ドレイン領域21、22が形成された半導体層20、ゲート電極31そしてコンタクトホール41、42を介してそれぞれソース/ドレイン領域21、22と連結されるソース/ドレイン電極51、52を備えた駆動薄膜トランジスタが形成されて、第C領域には第1電極32及び第2電極53で構成されるキャパシターが形成される。
そして、半導体層20、ゲート電極31及び第1電極32そしてソース/ドレイン電極51、52及び第2電極53間には絶縁膜、すなわち、ゲート絶縁膜30、層間絶縁膜40及び保護膜60が形成される。
前記保護膜60上には前記ソース/ドレイン電極51、52のうち一つ、例えば、ドレイン電極52とビアホール61を介して連結する画素電極70がアノード電極として形成されて、前記画素電極70を含んだ保護膜60上には前記画素電極70の一部分を露出させる開口部81を備えた平坦化膜80が形成される。
前記開口部81には有機発光層90が形成されて、その上にカソード電極95が形成される。
図2Aを参照すれば、前記有機電界発光素子は複数の信号線、すなわち、走査信号を印加するゲートライン35とデータ信号を供給するデータライン55とそしてすべての画素に同一な共通電圧Vddを印加して駆動薄膜トランジスタを駆動するのに必要な基準電圧を付与する共通電源供給線(Vddライン)54とを備える。
前記信号線35、54、55により限られた各画素領域ごとに画素がそれぞれ配列されるが、各画素は前記信号線に連結された複数の薄膜トランジスタと一つのキャパシターと有機電界発光素子とで構成される。
従来の有機電界発光素子は前記ゲート電極31を形成する時ゲートライン31及びキャパシターの第1電極32が形成されて、前記ソース/ドレイン電極51、52を形成する時、データライン55と電源供給線54とキャパシターの第2電極53とが形成される。この時、ソース/ドレイン電極のうち一つの電極とキャパシターの第2電極53とは共通電源線54から延長形成される構造を有する。すなわち、ソース/ドレイン電極を形成する時同時に共通電源線を共に形成する。
発光表示部100の場合にも共通電源線54はパネル外廓の非発光表示部200と同一な形態で積層しているのでその配線幅によってパネルの大きさが増加するという問題点がある。
本発明は上で説明したような問題点を解決するために案出したものであって、本発明の目的は電源供給線の幅を減らすことができながらも従来構造の配線抵抗を維持することができる供給電源線の配線構造を備える平板表示素子を提供することにある。
本発明は前記した目的を達成するために、
第1電極及び第2電極を備えており、その間に有機発光層を含む有機発光部と;
前記有機発光部を制御するための少なくとも2個以上の薄膜トランジスタと;
前記薄膜トランジスタに走査信号を供給する走査信号線と;
前記薄膜トランジスタにデータを供給するためのデータ信号線と;
前記有機発光部に電流を供給するための共通電源線を備えている表示領域と;
前記表示領域外のパネル上に前記共通電源線と連結されて少なくとも1個以上の屈曲部を有する外廓共通電源線と;を備えることを特徴とする平板表示素子を提供する。
また、本発明は、
絶縁基板と;
前記絶縁基板全面にかけて形成されているバッファー層と;
前記バッファー層上部に形成されるゲート絶縁層と;
前記ゲート絶縁層上部に形成されて屈曲の形態でパターニングしている層間絶縁膜と;
前記層間絶縁膜上部に形成される共通電源線と;を含むことを特徴とする平板表示素子を提供する。
以上のように本発明では共通電源線の配線構造を屈曲を有するようにしたりまたは二重配線構造を形成したりすることによって同一な配線抵抗である場合その配線幅を減らすことができて、配線抵抗による電圧降下(IR drop)を最小化させることができる。また、配線幅を減らすことによって全体的に平板表示素子のパネルの大きさを減少させることができる。
以下、本発明を添付した図面を参照してさらに詳細に説明する。
図3は、本発明の一実施形態による有機電界発光素子の発光表示部及び非発光表示部を概略的に示す平面図である。
図4Aは、図3のI′−I′ラインに沿って切断された断面図で本発明の第1実施形態による断面図である。
図4Aを参照すれば、本発明の第1実施形態による有機電界発光素子は先に、発光表示部100及び非発光表示部200に共通で用いられる基板10上部に基板10全面にかけてバッファー層15が形成されている。そうしてから、発光表示部100には多結晶シリコーンを用いて半導体層を形成して、再び基板全面にかけてゲート絶縁膜30を形成する。
そうしてから、前記ゲート絶縁膜上に発光表示部100の半導体層上部にゲート電極を形成して、前記ゲート電極を含んで基板全面にかけて層間絶縁膜40を形成する。前記層間絶縁膜40のうち発光表示部100の層間絶縁膜40をエッチングしてソース/ドレイン領域をそれぞれ露出させる第1及び第2コンタクトホールを形成して、図4Aに示したように同時に非発光領域200で共通電源線54が形成される領域の層間絶縁膜40を長さ方向(図3のy軸方向)に屈曲を形成するようにエッチングしてパターニングする。
この時、非発光領域200の層間絶縁膜40は共通電源線が通常の配線抵抗を維持しながらも配線幅を減らすことができるようにするためのことであってこのような屈曲部は1以上が形成されなければならない。前記屈曲部は凹凸形態であるものが望ましく、この時屈曲部間の距離bは共通電源線が積層される厚さaの2倍以上でなければならない。
前記層間絶縁膜40をパターニングした後基板全面にかけて金属電極物質を蒸着した次にパターニングして、発光表示部100の薄膜トランジスタ部分には前記第1及び第2コンタクトホールを介してソース/ドレイン領域とそれぞれコンタクトされるソース/ドレイン電極が形成され、非発光表示部には前記ソース/ドレイン電極のうち一つから延びて共通電源線54が形成される。
本実施形態では共通電源線54が形成される非発光表示部200の層間絶縁膜40のエッチングはコンタクトホール形成時のエッチング工程と同時に進められるのでマスク工程が追加されなくて、共通電源線が一定の屈曲を形成するので電流が流れる単位面積が増加することによって同一配線抵抗を維持する場合従来の配線構造よりもその配線幅が減ることによって全体パネル大きさを減らすことができる。
図4Bは、図3のI′−I′線に沿って切断した断面図で本発明の第2実施形態による平板表示素子の共通電源線の積層構造を示す断面図である。
図4Bを参照すれば、第2実施形態ではゲート絶縁膜までは第1実施形態と同一な方法で同一な構成で形成される。
そうしてから、発光表示部100のゲート電極形成時非発光表示部200の共通電源線54が形成される領域上にもゲート金属物質を積層する。発光表示部100にはゲート電極物質をパターニングしてゲート電極を形成して非発光表示部200にはゲート電極物質を残存させる。
続いて、基板全面にかけてゲート絶縁膜30上部に基板全面にかけて層間絶縁膜40を形成する。前記層間絶縁膜40のうち発光表示部100の層間絶縁膜54はエッチングしてソース/ドレイン領域をそれぞれ露出させる第1及び第2コンタクトホールを形成して、図4Bに示したように同時に非発光表示部200には共通電源線が形成される領域の層間絶縁膜を長さ方向(図3のy軸方向)に屈曲を形成するようにエッチングしてパターニングする。
この時、前記非発光表示部200の層間絶縁膜54は共通電源線が通常の配線抵抗を維持しながらも配線幅を減らすことができるようにするためのことであってこのような屈曲部は1以上が形成されなければならない。前記屈曲部は凹凸形態であるものが望ましく、この時屈曲部間の距離bは共通電源線が積層される厚さaの2倍以上でなければならない。
前記層間絶縁膜54をパターニングした後基板全面にかけて金属電極物質を蒸着した次にパターニングしてA領域の薄膜トランジスタ部分には前記第1及び第2コンタクトホールを介してソース/ドレイン領域とそれぞれコンタクトされるソース/ドレイン電極を形成すると同時に非発光表示部200には前記ソース/ドレイン電極のうち一つから延びて共通電源線54が形成される。この時、非発光表示部200の共通電源線54の屈曲部下部と下部のゲート金属物質、すなわち共通電源補助線33とが接触するようになる。
これにより、第2実施形態の非発光表示部200の共通電源線54は金属配線が二重配線構造に形成されるので電流が流れることができる幅が増加するようになって同一な配線抵抗を維持するならば従来の共通電源線よりも金属配線の幅を減らすことができる。
図5Aは、図2AのII−II線に沿って切断された断面図で本発明の第3実施形態による平板表示素子の積層構造を示す断面図である。
図5Aを参照すれば、画素電極及び薄膜トランジスタが形成されるA領域と共通電源線が配置されるB領域とキャパシターが形成されるC領域とを備える絶縁基板10が提供される。前記絶縁基板10上部にバッファー層15を形成する。
前記A領域のうちから薄膜トランジスタが形成される部分上に半導体層20を形成して、前記半導体層20を含んだ基板全面にかけてゲート絶縁膜30を形成する。そうしてから、前記ゲート絶縁膜上にA領域の半導体層上部にゲート電極31と、C領域のキャパシターが形成されるゲート絶縁膜上部にキャパシターの第1電極32とを形成する。続いて、前記半導体層20にn型またはp型の不純物のうち一つ、例えばp型不純物をイオン注入してソース/ドレイン領域21、22を形成し、半導体層20のうちゲート電極31下部の部分はチャネル層として作用する。
続いて、前記ゲート電極31及びキャパシターの第1電極32が形成されているゲート絶縁膜30上部に基板全面にかけて層間絶縁膜40を形成する。前記層間絶縁膜40のうちA領域の層間絶縁膜をエッチングしてソース/ドレイン領域21、22をそれぞれ露出させる第1及び第2コンタクトホール36、37を形成して、図5Aに示したように同時に共通電源線が形成されるB領域の層間絶縁膜を長さ方向(図2Aのy軸方向)に屈曲を形成するようにエッチングしてパターニングする。
この時、前記B領域の層間絶縁膜は共通電源線が通常の配線抵抗を維持しながらも配線幅を減らすことができるようにするためのことであってこのような屈曲部は1以上が形成されなければならない。前記屈曲部は凹凸形態であるものが望ましく、この時屈曲部間の距離bは共通電源線が積層される厚さaの2倍以上でなければならない。
層間絶縁膜をパターニングした後基板全面にかけてソース/ドレイン金属電極物質を蒸着した次にパターニングしてA領域の薄膜トランジスタ部分には前記第1及び第2コンタクトホール36、37を介してソース/ドレイン領域21、22とそれぞれコンタクトされるソース/ドレイン電極41、42を形成すると同時にB領域上部には前記ソース/ドレイン電極41、42のうち一つから延びて共通電源線が形成される。一方、C領域にはソース/ドレイン電極41、42のうち一つが延びてキャパシターの第2電極43を形成する。
これにより、本発明の平板表示素子の画素領域の駆動薄膜トランジスタはソース/ドレイン電極のうち一つの電極とキャパシターの第2電極とが共通電源線と連結されて電源を供給受けるようになる。
本実施形態では共通電源線が形成されるB領域の層間絶縁膜のエッチングはコンタクトホール形成時のエッチング工程と同時に進められるのでマスク工程が追加されなくて、共通電源線が一定の屈曲を形成するので電流が流れる単位面積が増加することによって同一配線抵抗を維持する場合従来の配線構造よりもその配線幅が減ることによって全体パネル大きさを減らすことができる。
図5Bは、II−II線に沿って切断された断面図で本発明の第4実施形態による平板表示素子の積層構造を示す断面図である。
図5Bを参照すれば、第4実施形態ではゲート絶縁膜までは第3実施形態と同一な方法で同一な構成で形成される。
そうしてから、ゲート電極31形成時共通電源線が形成されるB領域上にもゲート金属物質を積層する。ゲート電極物質をパターニングしてゲート電極31及びキャパシター第1電極を形成してB領域上にはゲート電極物質が残存する。
続いて、前記半導体層20にn型またはp型の不純物のうち一つ、例えばp型不純物をイオン注入してソース/ドレイン領域21、22を形成し、半導体層20のうちゲート電極31下部の部分はチャネル層として作用する。
続いて、前記ゲート電極31及びキャパシターの第1電極32が形成されているゲート絶縁膜30上部に基板全面にかけて層間絶縁膜40を形成する。前記層間絶縁膜40のうちA領域の層間絶縁膜をエッチングしてソース/ドレイン領域21、22をそれぞれ露出させる第1及び第2コンタクトホール36、37を形成して、図3Bに示したように同時に共通電源線が形成されるB領域の層間絶縁膜を長さ方向(図2Aのy軸方向)に屈曲を形成するようにエッチングしてパターニングする。
この時、前記B領域の層間絶縁膜は共通電源線が通常の配線抵抗を維持しながらも配線幅を減らすことができるようにするためのことであってこのような屈曲部は1以上が形成されなければならない。前記屈曲部は凹凸形態であるものが望ましく、この時屈曲部間の距離bは共通電源線が積層される厚さaの2倍以上でなければならない。
層間絶縁膜をパターニングした後基板全面にかけてソース/ドレイン金属電極物質を蒸着した次にパターニングしてA領域の薄膜トランジスタ部分には前記第1及び第2コンタクトホール36、37を介してソース/ドレイン領域21、22とそれぞれコンタクトされるソース/ドレイン電極41、42を形成すると同時にB領域上部には前記ソース/ドレイン電極41、42のうち一つから延びて共通電源線が形成される。一方、C領域にはソース/ドレイン電極41、42のうち一つが延びてキャパシターの第2電極43を形成する。この時、B領域の上部の共通電源線の屈曲部下部と下部のゲート金属物質、すなわち共通電源補助線33とが接触するようになる。
これにより、第4実施形態のB領域の共通電源線は金属配線が二重配線構造に形成されるので電流が流れることができる幅が増加するようになって同一な配線抵抗を維持するならば従来の共通電源線よりも金属配線の幅を減らすことができる。
一方、本発明の実施例では前記発光表示部100の共通電源線54及び非発光表示部200の共通電源線54がそれぞれ独立的に屈曲を有する形態に形成されると説明されているが、これとは別個に前記発光表示部100の共通電源線54と非発光表示部200の共通電源線54とが同時に屈曲を有する形態に形成されてもよい。
本発明で用いることができる平板表示素子としては有機電界発光装置または液晶表示素子を用いることができるが、これに限られるのではない。
通常の有機電界発光素子の発光表示部及び非発光表示部を概略的に示す平面図である。 図1AのI−I線に沿って切断した断面図で従来の平板表示素子の共通電源線の積層構造を示す断面図である。 図1Aの有機電界発光素子の発光表示部の平面構造を示した平面図である。 図2AのII−II線に沿って切断された断面を示した断面図である。 本発明の一実施形態による有機電界発光素子の発光表示部及び非発光表示部を概略的に示す平面図である。 図3のI′−I′線に沿って切断した断面図で本発明の第1実施例による平板表示素子の共通電源線の積層構造を示す断面図である。 図1AのI′−I′線に沿って切断した断面図で本発明の第2実施形態による平板表示素子の共通電源線の積層構造を示す断面図である。 図2AのII−II線に沿って切断された断面図で本発明の第3実施形態による平板表示素子の積層構造を示す断面図である。 図2AのII−II線に沿って切断された断面図で本発明の第4実施形態による平板表示素子の積層構造を示す断面図である。
符号の説明
31 ゲート電極
33 共通電源補助線
54 共通電源線

Claims (21)

  1. 第1電極及び第2電極を備えており、その間に有機発光層を含む有機発光部と;
    前記有機発光部を制御するための少なくとも2個以上の薄膜トランジスタと;
    前記薄膜トランジスタに走査信号を供給する走査信号線と;
    前記薄膜トランジスタにデータを供給するためのデータ信号線と;
    前記有機発光部に電流を供給するための共通電源線を備えている表示領域と;
    前記発光表示部外の非発光表示部のパネル上に前記共通電源線と連結されると共に該共通電源線の延伸する方向に対する断面方向において屈曲する、少なくとも1個以上の屈曲部を有する外廓共通電源線と、
    を備えることを特徴とする平板表示素子。
  2. 前記屈曲部の形態は凹凸形態であることを特徴とする請求項1に記載の平板表示素子。
  3. 前記外廓共通電源線下部には共通電源補助線が形成されて前記共通電源線と共通電源補助線とが直接接触することを特徴とする請求項1に記載の平板表示素子。
  4. 前記共通電源補助線は薄膜トランジスタのゲート電極と同一な物質であることを特徴とする請求項3に記載の平板表示素子。
  5. 前記共通電源補助線はゲート電極と同一な工程で形成されることを特徴とする請求項3に記載の平板表示素子。
  6. 前記屈曲部は複数個備えられ、隣接する前記屈曲部間の凹部の幅は前記共通電源線の積層厚さの2倍以上であることを特徴とする請求項に記載の平板表示素子。
  7. 前記屈曲部は前記共通電源線の長さ方向に形成されることを特徴とする請求項1に記載の平板表示素子。
  8. 前記平板表示素子有機電界発光表示装置であることを特徴とする請求項1に記載の平板表示素子。
  9. 前記表示領域の共通電源線が1以上の屈曲部を有することを特徴とする請求項1に記載の平板表示素子。
  10. 前記屈曲部の形態は凹凸形態であることを特徴とする請求項9に記載の平板表示素子。
  11. 前記外廓共通電源線下部には共通電源補助線が形成されて前記共通電源線と共通電源補助線とが直接接触することを特徴とする請求項9に記載の平板表示素子。
  12. 前記発光表示部の共通電源線下部に共通電源補助線が形成されて前記共通電源線と共通電源補助線とが直接接触することを特徴とする請求項11に記載の平板表示素子。
  13. 前記共通電源補助線は薄膜トランジスタのゲート電極と同一な物質であることを特徴とする請求項11または12に記載の平板表示素子。
  14. 絶縁基板と;
    前記絶縁基板全面にかけて形成されているバッファー層と;
    前記バッファー層上部に形成されるゲート絶縁層と;
    前記ゲート絶縁層上部に形成されて屈曲の形態でパターニングされている層間絶縁膜と;
    前記層間絶縁膜の屈曲の形態でパターニングされた上部に形成されて薄膜トランジスタと連結されている共通電源線と;
    を含み、
    前記屈曲は前記共通電源線の延伸する方向に対する断面方向において形成されていることを特徴とする平板表示素子。
  15. 前記屈曲の形態は凹凸形態であることを特徴とする請求項14に記載の平板表示素子。
  16. 前記平板表示素子は前記層間絶縁膜下部とゲート絶縁層上部との間に共通電源補助線をさらに含み、前記共通電源補助線と前記共通電源線の屈曲部の下部とが接触することを特徴とする請求項14に記載の平板表示素子。
  17. 前記共通電源補助線は薄膜トランジスタのゲート電極と同一な物質であることを特徴とする請求項16に記載の平板表示素子。
  18. 前記共通電源補助線はゲート電極と同一な工程で形成されることを特徴とする請求項16に記載の平板表示素子。
  19. 前記屈曲部間の幅は前記共通電源線の積層厚さの2倍以上であることを特徴とする請求項14に記載の平板表示素子。
  20. 前記屈曲部は共通電源線の長さ方向に形成されることを特徴とする請求項14に記載の平板表示素子。
  21. 前記平板表示素子有機電界発光表示装置であることを特徴とする請求項14に記載の平板表示素子。
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