JP4148639B2 - 鋼部材の使用形態とその使用環境の設定方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この出願の発明は、鋼部材の使用形態とその使用環境の設定方法に関するものである。さらに詳しくは、この出願の発明は、引張り強さ1000MPaを超える高強度鋼等を用いた鋼部材において、遅れ破壊を発生させないようにすることのできる、鋼部材の使用形態とその使用環境の設定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術とその課題】
従来より、引張り強さが1000MPaを超える高強度鋼が開発されてきているが、このような高強度鋼の場合には、遅れ破壊が発生する危険性が高いため、実用化されている例は少ない。
【0003】
そこで、以上のような遅れ破壊の発生が懸念される鋼部材については、従来では、試験片形状で変化すると同じ負荷荷重であっても遅れ破壊発生状況が変化することから、なによりも応力集中を減少させる部材形状にすることが検討されてきている。
【0004】
しかしながら、実際には、遅れ破壊を、鋼部材の形状による応力状態によって制御することは可能ではなく、ボルトのような複雑形状の部材には、非常に大きな安全率をとって設計することが必要であった。
【0005】
また、鋼材の水素に対する抵抗力を示す限界拡散性水素量を上昇させるための方策も検討されてきているが、依然として、遅れ破壊を有効に制御することには成功していないのが実情である。
【0006】
そこで、この出願の発明は、以上のとおりの従来技術の問題点を解消し、鋼材の遅れ破壊を部材の応力状態の制御によって有効に防止し、複雑な形状の部材であっても鋼材の材料特性の限界ぎりぎりでの設計をも可能とする、新しい方策を提供することを課題としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】
この出願の発明は、上記のとおりの課題を解決するものとして、第1には、部材の使用中に鋼中に侵入する侵入拡散性水素量よりも限界拡散性水素量が大きい条件下の次式
で示されるWeibull 応力以下となるように部材の形状および使用応力条件を定めることを特徴とする鋼部材の使用形態の設定方法を提供する。
【0008】
また、この出願の発明は、上記第1の発明について、第2には、単純形状の試験片で限界拡散性水素量とWeibull 応力との関係を求め、また部材の使用中に侵入する侵入拡散性水素量を求め、次いで、侵入拡散性水素量が限界拡散性水素量と等しくなるWeibull 応力を求め、この求められたWeibull 応力以下のWeibull 応力で、部材の形状および使用応力条件を定めることを特徴とする鋼部材の使用形態の設定方法を提供し、第3には、Weibull 応力は、次式
【0009】
【数3】
【0010】
により有限要素法によって電子演算装置で算出することを特徴とする高強度鋼部材の使用形態の設定方法を提供する。
【0011】
そして、この出願の発明は、第4には、所定の次式
で示されるWeibull 応力の場合の限界拡散性水素量よりも部材の使用中に鋼中に侵入する侵入拡散性水素量が小さくなるように部材の使用環境を定めることを特徴とする鋼部材の使用環境の設定方法を提供し、第5には、Weibull 応力は、次式
【0012】
【数4】
【0013】
により有限要素法によって電子演算装置で算出することを特徴とする上記の鋼部材の使用環境の設定方法を提供する。
【0014】
さらにこの出願の発明は、第6には、部材の限界拡散性水素量に対応する次式
で示されるWeibull 応力と、部材の使用中に鋼中に侵入する侵入拡散性水素量に対応する前記Weibull 応力とを比較し、後者の応力が前者の応力よりも大きいことをもって遅れ破壊の発生を判別することを特徴とする鋼部材の遅れ破壊の評価方法を提供する。
【0015】
以上のとおりのこの出願の発明は、部材形状および使用応力条件によらずに一義的に遅れ破壊の発生を評価するためにはWeibull 応力σwと限界拡散水素量Hcをパラメーターとすることができること、そして遅れ破壊を発生しない条件は、部材の使用中の鋼材中に侵入する拡散性水素量HEよりも前記の限界拡散水素量Hcが大きいことであるとの、発明者により得られた知見に基づいている。
【0016】
従って、この出願の発明においては、遅れ破壊を防止するために、前記Hc>HEの条件を満たすσwの範囲において、適宜に部材形状や使用応力条件を設定すること、あるいは、部材の使用環境条件を設定すればよい。
【0017】
【発明の実施の形態】
この出願の発明は上記のとおりの構造をもつものであるが、以下にその実施の形態について説明する。
【0018】
まず、この出願の発明の、鋼部材の使用形態の設定方法では、前記のとおり、部材の使用中に鋼中に侵入する侵入拡散性水素量よりも限界拡散性水素量が大きい条件下のWeibull 応力以下となるように部材の形状および使用応力条件を定めることを特徴としている。
【0019】
この方法においては、たとえば、より詳しくは、図1にそのためのプロセスを示したように、まず、単純形状の試験片で限界拡散性水素量(Hc)を測定し、またWeibull 応力を算出した後に、両者の関係を求め、限界拡散性水素量(Hc)−Weibull 応力(σw)曲線を作成する。また、一方で、部材の使用中に侵入する侵入拡散性水素量(HE)を求める。次いで、前記の曲線から、侵入拡散性水素量(HE)が限界拡散性水素量(Hc)と等しくなるWeibull 応力(σwA)を求め、この求められたWeibull 応力(σwA)以下のWeibull 応力(σwB)条件において、実部材の形状および使用応力条件を定めることができる。
【0020】
つまり、実部材の形状や応力条件は、
Hc>HE
σwA>σwB
において、適宜に定めればよいことになる。
【0021】
ここで、Hc、すなわち限界拡散性水素量について説明すると、この限界拡散性水素量(Hc)は、ある荷重負荷条件下で試験片が破断しない場合の鋼中に含まれた最大の拡散性水素量を意味している。このHcの求め方としては、たとえば次の手法が望ましものとして示されている。まず、鋼材中への水素拡散については、試験片中に陰極電解チャージにより水素を導入し、試験片表面にCdメッキを施した後に加熱等によって試験片中の水素分布を均一化し、一定荷重を負荷し、100時間後に破断しない最大の拡散性水素量を求めることである。そして、拡散性水素量そのものの測定は、試料を加熱したときに350℃以下で放出される水素量として測定可能である。この水素量の測定は、サンプルの温度を1時間に50℃以上800℃以下の範囲で一定とした条件で昇温させながら350℃までにサンプルより放出された水素を四重極質量分析計もしくはガスクロマトグラフィーを用いて定量することが好ましい。
【0022】
一方、部材の使用中に侵入する侵入拡散性水素量(HE)については、使用環境をできるだけ忠実に再現した試験機中に試験片を設置し、曝露試験として行うことが望ましい。この場合の水素量そのものの測定は前記Hcと同様とすることができる。
【0023】
また、Weibull 応力(σw)は、水素割れ発生の駆動力を示すものであって、このWeibull 応力については、その算出手法に解釈の幅があるものの、この出願の発明では、前記のとおり、次式
【0024】
【数5】
【0025】
により有限要素法により求めることができる。
【0026】
この式は、すでに知られたものであって、南二三吉、“機械の研究,第51巻,第12号,第79〜88頁(1999)を参考にすることができる。
【0027】
この式においては、σeffは、破壊を支配する力であって、最大主応力を示すものとすることができ、Voは、破壊の基本体積で、一定値を示し、Vf
は、破壊のプロセスゾーンを示し、破壊に寄与する可能性のある領域である。
【0028】
なお、Voは、任意の値をとっても Weibull応力の相対的な比較には影響しないことから、たとえば1mm3とすることができる。また、Vfについては、図2に示したように、応力の負荷方向(α)に対し、斜線部で示した領域とすることができる。
【0029】
さらにまた、mは、形状の異なる試験片での実験結果が Weibull応力により一義的に整理できるように決定することができる。通常は、概ね10〜30であって、このmは、南二三吉らの手法によって求めることが好ましいが、20程度でうまく整理できることが多いので、20に固定してもよい。
【0030】
前記の有限要素法によるWeibull 応力の算出では、電子計算機(コンピューター)等の電子演算装置を用いることができる。
【0031】
前記のとおりのWeibull 応力(σwB)を条件として、実部材の形状や使用応力条件は適宜に設計することができる。
【0032】
そして、この出願の発明においては、所定のWeibull 応力の場合の限界拡散性水素量よりも部材の使用中に鋼中に侵入する侵入拡散性水素量が小さくなるように部材の使用環境を定めることもできる。
【0033】
ここで言うところの使用環境とは、たとえば、高強度ボルトを使用する環境等を意味している。
【0034】
この出願の発明によれば、以上のことからも明らかなように、鋼材の遅れ破壊の評価も可能になる。
【0035】
以上のとおりのこの出願の発明によれば、遅れ破壊を発生させない領域を鋼材毎に明確にして実部材を設計することができ、また、形状の複雑な部材であっても、材料特性の限界ぎりぎりでの設計が可能になる。
【0036】
このため、遅れ破壊発生の精度の良い予測と、その防止が明瞭に考慮されることにより、これまで実用化されなかった引張り強度1000MPaを超える高強度鋼が実際的に使用されることになる。種々の装置、機械等の軽量化が図られ、社会全体としてのエネルギー使用効率が向上することになる。
【0037】
なお、この出願の発明が対象とする鋼材は、その組成において各種のものであてよく、特に、この発明は、従来、実際的に使用される例の少なかった、引張り強度1000MPaを超える高強度鋼に対し、好適に適用される。
【0038】
そこで以下に実施例を示し、さらに詳しく、この出願の発明について説明する。
【0039】
【実施例】
直径10mmの試験片中央部に環状ノッチを有するTS1400MPa級SCM440鋼(Fe−0.40C−0.24Si−0.8Mn−0.02P−0.007S−1.0Cr−0.16Mo)を用いて表1に示す条件で遅れ破壊試験を行い、Hcを求めた。一方で各条件でのσwを、有限要素法手法(陰解法)を用いた解析を行うためのソフトウエア:FEMコードABAQUS−Standard(日本HKS,市販)を用いて求めた。
【0040】
【表1】
【0041】
このσwの算出においては、Vo=1mm3 、m=20とした。σeffは種々変化することになる。たとえば表1でKt=4.9、負荷応力/切り欠き引張強さ=0.47の条件では、図3に例示したように、2544MPaから587MPaの間に分布している。また、Vfは、前記のように、図2のように定義している。
【0042】
算出の結果、KtによらずσwとHcは一義的な関係を持つ、図4の曲線を得た。一方、この鋼種のHEは0.05ppm〜0.09ppmであることが報告されている(櫛田隆弘:遅れ破壊解明の新展開、材料の組織と特性部会編、日本鉄鋼協会、東京、(1995)、145)図4からHcが0.09ppmとなるσwは2300MPaである。一方で、図5に試験片への平均負荷応力σとHcの関係を示す。HcがHEよりも大きくなるσはKt応力集中係数により異なる。次に、遅れ破壊試験を行ったのと同じ応力条件で暴露試験を行った。試験方法は、試験片に所定の荷重を負荷し、朝、晩2回3%食塩水を吹き付けた。図6では、実施例として、各条件の破壊確率とσwとの関係を示す。σwが2300MPa未満の条件では割れ発生確率は0であったのに対し2300MPa以上の条件では遅れ破壊発生確率はσwの増加とともに高くなった。このことから、遅れ破壊試験を行っていない形状でもσwが2300MPa未満の条件で設計すればよいことがわかる。一方、図7では、比較例として破壊確率とσの関係を示す。応力集中係数が異なると破断確率が0となる限界のσも異なり、遅れ破壊試験を行ったものと異なる形状のものは設計できないことは明白である。
【0043】
実施例で示した鋼種は遅れ破壊の起点には旧γ粒界破壊が観察された。しかしながら、最近開発されている材料には、遅れ破壊の起点に旧γ粒界破壊ではなく、擬へき開が観察されるものがある。破壊が起点旧γ粒界割れから擬へき開へと変化すると、材料の水素に対する抵抗力が向上する、すなわちHcが大きくなる。一方で、この発明は、材料の割れに対する応力の寄与を定量評価したものであるので、割れ形態に関係なく、種々の鋼種に適用できる。
【0044】
【発明の効果】
以上詳しく説明したとおり、この出願の発明によって、遅れ破壊を発生させた領域を鋼材毎に明確にして実部材を設計することができ、また、形状の複雑な部材であっても、材料特性の限界ぎりぎりでの設計が可能になる。
【0045】
このため、遅れ破壊発生の精度の良い予測と、その防止が明瞭に考慮されることにより、これまで実用化されなかった引張り強度1000MPaを超える高強度鋼が実際的に使用されることになる。種々の装置、機械等の軽量化が図られ、社会全体としてのエネルギー使用効率が向上することになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の作業プロセスを例示したブロック図である。
【図2】Vfについて説明した図である。
【図3】ノッチ底からの距離と最大主応力との関係を例示した図である。
【図4】限界拡散性水素量−Weibull 応力曲線である。
【図5】限界拡散性水素量−平均負荷応力曲線である。
【図6】遅れ破壊発生確率−Weibull 応力曲線である。
【図7】遅れ破壊発生確率−平均負荷応力曲線である。
Claims (6)
- 単純形状の試験片で限界拡散性水素量とWeibull 応力との関係を求め、また部材の使用中に侵入する侵入拡散性水素量を求め、次いで、侵入拡散性水素量が限界拡散性水素量と等しくなるWeibull 応力を求め、この求められたWeibull 応力以下のWeibull 応力で、部材の形状および使用応力条件を定めることを特徴とする請求項1の鋼部材の使用形態の設定方法。
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Families Citing this family (82)
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US8176296B2 (en) | 2000-10-26 | 2012-05-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable microcontroller architecture |
US8103496B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-01-24 | Cypress Semicondutor Corporation | Breakpoint control in an in-circuit emulation system |
US8149048B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-04-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for programmable power management in a programmable analog circuit block |
US8160864B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-04-17 | Cypress Semiconductor Corporation | In-circuit emulator and pod synchronized boot |
US6724220B1 (en) | 2000-10-26 | 2004-04-20 | Cyress Semiconductor Corporation | Programmable microcontroller architecture (mixed analog/digital) |
US7765095B1 (en) | 2000-10-26 | 2010-07-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Conditional branching in an in-circuit emulation system |
US7406674B1 (en) | 2001-10-24 | 2008-07-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and apparatus for generating microcontroller configuration information |
US8078970B1 (en) | 2001-11-09 | 2011-12-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Graphical user interface with user-selectable list-box |
US8042093B1 (en) | 2001-11-15 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | System providing automatic source code generation for personalization and parameterization of user modules |
US7770113B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-08-03 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for dynamically generating a configuration datasheet |
US7844437B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-11-30 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for performing next placements and pruning of disallowed placements for programming an integrated circuit |
US8069405B1 (en) | 2001-11-19 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | User interface for efficiently browsing an electronic document using data-driven tabs |
US7774190B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-08-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Sleep and stall in an in-circuit emulation system |
US6971004B1 (en) | 2001-11-19 | 2005-11-29 | Cypress Semiconductor Corp. | System and method of dynamically reconfiguring a programmable integrated circuit |
US7438477B2 (en) | 2001-11-29 | 2008-10-21 | Ntn Corporation | Bearing part, heat treatment method thereof, and rolling bearing |
US8103497B1 (en) | 2002-03-28 | 2012-01-24 | Cypress Semiconductor Corporation | External interface for event architecture |
US7308608B1 (en) | 2002-05-01 | 2007-12-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Reconfigurable testing system and method |
US7761845B1 (en) | 2002-09-09 | 2010-07-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Method for parameterizing a user module |
JP4718781B2 (ja) | 2003-02-28 | 2011-07-06 | Ntn株式会社 | トランスミッションの構成部品および円錐ころ軸受 |
JP2004301321A (ja) | 2003-03-14 | 2004-10-28 | Ntn Corp | オルタネータ用軸受およびプーリ用軸受 |
JP4152283B2 (ja) * | 2003-08-29 | 2008-09-17 | Ntn株式会社 | 軸受部品の熱処理方法 |
EP1707831B1 (en) | 2004-01-09 | 2012-02-01 | NTN Corporation | Thrust needle roller bearing, support structure receiving thrust load of compressor for car air-conditioner, support structure receiving thrust load of automatic transmission, support structure for nonstep variable speed gear, and support structure receiving thrust load of manual transmission |
JP4540351B2 (ja) | 2004-01-15 | 2010-09-08 | Ntn株式会社 | 鋼の熱処理方法および軸受部品の製造方法 |
US7295049B1 (en) | 2004-03-25 | 2007-11-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and circuit for rapid alignment of signals |
WO2006002353A2 (en) * | 2004-06-23 | 2006-01-05 | Medical Metrix Solutions, Inc | Anatomical visualization and measurement system |
US7899516B2 (en) * | 2004-06-23 | 2011-03-01 | M2S, Inc. | Method and apparatus for determining the risk of rupture of a blood vessel using the contiguous element defined area |
US8069436B2 (en) | 2004-08-13 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Providing hardware independence to automate code generation of processing device firmware |
US8286125B2 (en) | 2004-08-13 | 2012-10-09 | Cypress Semiconductor Corporation | Model for a hardware device-independent method of defining embedded firmware for programmable systems |
US7332976B1 (en) | 2005-02-04 | 2008-02-19 | Cypress Semiconductor Corporation | Poly-phase frequency synthesis oscillator |
US7400183B1 (en) | 2005-05-05 | 2008-07-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Voltage controlled oscillator delay cell and method |
US8089461B2 (en) | 2005-06-23 | 2012-01-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch wake for electronic devices |
JP2007046717A (ja) * | 2005-08-10 | 2007-02-22 | Ntn Corp | ジョイント用爪付き転動軸 |
US8085067B1 (en) | 2005-12-21 | 2011-12-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Differential-to-single ended signal converter circuit and method |
US7312616B2 (en) | 2006-01-20 | 2007-12-25 | Cypress Semiconductor Corporation | Successive approximate capacitance measurement circuit |
US20070176903A1 (en) * | 2006-01-31 | 2007-08-02 | Dahlin Jeffrey J | Capacitive touch sensor button activation |
US8067948B2 (en) | 2006-03-27 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Input/output multiplexer bus |
US8144125B2 (en) | 2006-03-30 | 2012-03-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for reducing average scan rate to detect a conductive object on a sensing device |
US7721609B2 (en) | 2006-03-31 | 2010-05-25 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and apparatus for sensing the force with which a button is pressed |
US8040142B1 (en) | 2006-03-31 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch detection techniques for capacitive touch sense systems |
US8537121B2 (en) * | 2006-05-26 | 2013-09-17 | Cypress Semiconductor Corporation | Multi-function slider in touchpad |
US8089472B2 (en) | 2006-05-26 | 2012-01-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Bidirectional slider with delete function |
US8040321B2 (en) | 2006-07-10 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch-sensor with shared capacitive sensors |
US9507465B2 (en) | 2006-07-25 | 2016-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Technique for increasing the sensitivity of capacitive sensor arrays |
US9766738B1 (en) | 2006-08-23 | 2017-09-19 | Cypress Semiconductor Corporation | Position and usage based prioritization for capacitance sense interface |
US8547114B2 (en) * | 2006-11-14 | 2013-10-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to code converter with sigma-delta modulator |
US8089288B1 (en) | 2006-11-16 | 2012-01-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Charge accumulation capacitance sensor with linear transfer characteristic |
US8058937B2 (en) | 2007-01-30 | 2011-11-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Setting a discharge rate and a charge rate of a relaxation oscillator circuit |
US8130025B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-03-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Numerical band gap |
US8092083B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-01-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Temperature sensor with digital bandgap |
US8026739B2 (en) | 2007-04-17 | 2011-09-27 | Cypress Semiconductor Corporation | System level interconnect with programmable switching |
US8516025B2 (en) | 2007-04-17 | 2013-08-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Clock driven dynamic datapath chaining |
US9564902B2 (en) | 2007-04-17 | 2017-02-07 | Cypress Semiconductor Corporation | Dynamically configurable and re-configurable data path |
US8040266B2 (en) | 2007-04-17 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable sigma-delta analog-to-digital converter |
US7737724B2 (en) | 2007-04-17 | 2010-06-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Universal digital block interconnection and channel routing |
US8266575B1 (en) | 2007-04-25 | 2012-09-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Systems and methods for dynamically reconfiguring a programmable system on a chip |
US9720805B1 (en) | 2007-04-25 | 2017-08-01 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for controlling a target device |
US8065653B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Configuration of programmable IC design elements |
US8144126B2 (en) | 2007-05-07 | 2012-03-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Reducing sleep current in a capacitance sensing system |
US9500686B1 (en) | 2007-06-29 | 2016-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance measurement system and methods |
US8570053B1 (en) | 2007-07-03 | 2013-10-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitive field sensor with sigma-delta modulator |
WO2009006556A1 (en) | 2007-07-03 | 2009-01-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Normalizing capacitive sensor array signals |
US8089289B1 (en) | 2007-07-03 | 2012-01-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitive field sensor with sigma-delta modulator |
US8169238B1 (en) | 2007-07-03 | 2012-05-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitance to frequency converter |
US8049569B1 (en) | 2007-09-05 | 2011-11-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Circuit and method for improving the accuracy of a crystal-less oscillator having dual-frequency modes |
JP5038113B2 (ja) * | 2007-12-05 | 2012-10-03 | 川崎重工業株式会社 | 構造物の破壊評価方法 |
JP5247160B2 (ja) * | 2008-01-17 | 2013-07-24 | 株式会社アールデック | 水素量測定装置 |
US8525798B2 (en) | 2008-01-28 | 2013-09-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch sensing |
US8487912B1 (en) | 2008-02-01 | 2013-07-16 | Cypress Semiconductor Corporation | Capacitive sense touch device with hysteresis threshold |
US8358142B2 (en) | 2008-02-27 | 2013-01-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance |
US8319505B1 (en) | 2008-10-24 | 2012-11-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Methods and circuits for measuring mutual and self capacitance |
US9104273B1 (en) | 2008-02-29 | 2015-08-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Multi-touch sensing method |
US8321174B1 (en) | 2008-09-26 | 2012-11-27 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method to measure capacitance of capacitive sensor array |
US8487639B1 (en) | 2008-11-21 | 2013-07-16 | Cypress Semiconductor Corporation | Receive demodulator for capacitive sensing |
US8866500B2 (en) | 2009-03-26 | 2014-10-21 | Cypress Semiconductor Corporation | Multi-functional capacitance sensing circuit with a current conveyor |
JP2010256351A (ja) * | 2009-04-01 | 2010-11-11 | Nippon Steel Corp | 部材の疲労破壊確率推定装置、部材の疲労破壊確率推定方法、及びコンピュータプログラム |
US9448964B2 (en) | 2009-05-04 | 2016-09-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Autonomous control in a programmable system |
US8723827B2 (en) | 2009-07-28 | 2014-05-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Predictive touch surface scanning |
US9268441B2 (en) | 2011-04-05 | 2016-02-23 | Parade Technologies, Ltd. | Active integrator for a capacitive sense array |
JP6186658B2 (ja) * | 2013-11-29 | 2017-08-30 | 三菱重工業株式会社 | 溶接構造物の設計方法、及び溶接構造物の製造方法 |
CN104198672B (zh) * | 2014-09-01 | 2016-03-02 | 北京科技大学 | 基于平面应力状态应力集中的桥梁缆索锈蚀监测方法 |
JP6973193B2 (ja) * | 2017-03-22 | 2021-11-24 | 日本製鉄株式会社 | 耐水素脆化特性評価方法 |
CN109753733B (zh) * | 2019-01-08 | 2023-01-31 | 哈尔滨工业大学(深圳) | 一种空间钢结构施工合拢温度确定方法及系统 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4475963A (en) * | 1981-02-05 | 1984-10-09 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | Method for postweld heat treatment |
JPS58153140A (ja) * | 1982-03-08 | 1983-09-12 | Masami Kobayashi | 金属片の破壊試験装置 |
US4552024A (en) * | 1984-04-10 | 1985-11-12 | Ford Motor Company | Device for directly analyzing strength of ceramic tool bits |
CA1307880C (en) * | 1987-10-07 | 1992-09-29 | Bradley J. Miller | Thermally stable joints between materials with different thermal expansion coefficients |
JPH08145862A (ja) * | 1994-11-28 | 1996-06-07 | Nippon Steel Corp | 金属材の遅れ破壊評価方法 |
JPH08210958A (ja) * | 1995-02-07 | 1996-08-20 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 配管・圧力容器の破壊モニタリング方法 |
JPH08334445A (ja) * | 1995-06-08 | 1996-12-17 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | き裂部のwps効果モニタ方法 |
JP3020162B1 (ja) * | 1998-12-17 | 2000-03-15 | 広島大学長 | 構造物の長期応力度モニタリングのための犠牲試験片及びその使用方法 |
WO2000064835A1 (en) * | 1999-04-23 | 2000-11-02 | Wheeler Lewis T | Method of manufacturing a ceramic valve ball |
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