JP4140748B2 - Application processing equipment - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置(LCD)のガラス基板等の基板の表面上に、例えばレジスト膜のような塗布液を塗布する塗布処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶ディスプレイ(LCD)の製造においては、ガラス製の矩形のLCD基板にフォトレジスト液を塗布してレジスト膜を形成し、回路パターンに対応してレジスト膜を露光し、これを現像処理するという、いわゆるフォトリソグラフィー技術により回路パターンが形成される。従来から、このような一連の工程を実施するための複数の処理ユニットを備えたレジスト塗布現像処理システムが用いられている。
【0003】
このようなレジスト塗布現像処理システムにおいて、レジスト液を塗布する工程では、矩形のLCD基板(以下、基板という)は、レジストの定着性を高めるために、アドヒージョン処理ユニットにて疎水化処理(HMDS処理)され、冷却ユニットで冷却後、レジスト塗布ユニットに搬入される。
【0004】
レジスト塗布処理ユニットでは、基板がスピンチャック上に保持された状態で回転されながら、その上方に設けられたノズルから基板の表面にレジスト液が供給され、基板の回転による遠心力によってレジスト液が拡散され、これにより、基板の表面全体にレジスト膜が形成される。
【0005】
このレジスト液が塗布された基板は、端面処理ユニット(エッジリムーバー)により周縁の余分なレジストが除去された後、加熱処理ユニットに搬入されてプリベーク処理が行われ、冷却ユニットで冷却され、露光装置に搬送されてそこで所定のパターンが露光され、その後現像処理され、ポストベーク処理が施されて、所定のレジストパターンが形成される。
【0006】
上記レジスト塗布ユニットにおいては、基板をスピンチャックに載置した状態で、これら基板およびスピンチャック回転せずに、基板の中心にレジスト吐出ノズルからレジスト液を吐出する。次いで、スピンチャックを下方から包囲する回転カップに、蓋体を被せるとともに外蓋を装着して、基板を回転カップと蓋体内に封入する。そして、基板を回転カップとともに回転させ、レジスト液を基板の回転力と遠心力とにより基板の中心から周縁に向けて拡散させて、基板上にレジスト膜を形成するとともに、このレジスト膜の膜厚を整える。
【0007】
これにより、基板周囲の空気を回転カップと蓋体内に閉じ込めて、基板周囲に処理に悪影響を及ぼす気流を防止し、レジスト膜の膜厚均一化を図るとともに、回転する基板から遠心力によって余分なレジスト液が回転カップから外部へ飛散することを防止しようとしている。
【0008】
また、基板の周辺の膜厚のコントロールのために、蓋体の下にカップに外気を導入して基板の外側の気流を調整するための整流板をネジ止めし、蓋体の中央の孔から流入した空気を、整流板の上面に沿って外側へ流し、回転カップの底部の外周側部分に形成された流出孔から回転カップ外へ流すようになっている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記回転カップの外側には、固定的に外カップが設けられ、処理の際には、外カップの上に外蓋が装着されるようになっている。従来は、外カップと回転カップとの間の気流は考慮されておらず、固定的に設けられた外カップと回転する回転カップの間に乱流が発生するおそれがあり、回転カップからの排気をスムーズに行うことが困難である。したがって、外カップと回転カップとの間の気流により回転カップ内に所望の気流が形成されなかったり、回転カップから排出されたミストが飛散するおそれがある。
【0010】
一方、このように回転カップに装着される蓋体および外カップに装着される外蓋の2つの蓋体が存在し、一方は回転するカップに装着され、他方は固定的な外カップに装着されるため、その装着機構が複雑にならざるを得ない。
【0011】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであって、回転する処理容器と、その外側に固定的に設けられた外側容器との間に所望の気流を形成することができる塗布処理装置を提供することを目的とする。また、回転する処理容器に装着される蓋体と、その外側に固定的に設けられた外側容器に装着される蓋体を簡易に着脱することが可能な機構を備えた塗布処理装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】
本発明の第1の観点によれば、基板の表面上に塗布液を塗布する塗布処理装置であって、上部に開口を有し、底部の外周側部分に孔を有する、基板を収容する処理容器と、前記処理容器内の基板上に塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルと、前記処理容器と基板とを回転させる回転手段と、前記処理容器の開口を略閉止する第1の蓋体と、前記処理容器の外側に固定的に設けられ、上部に開口を有する外側容器と、前記外側容器の開口を略閉止する第2の蓋体と、前記外側容器の外側に設けられた最外層容器と、を具備し、前記第2の蓋体には、前記処理容器と前記外側容器との間の気流を制御可能なように空気導入口が設けられ、前記外側容器の外側上部には、前記最外層容器に通じる孔が設けられ、前記空気導入口から導入された空気の一部を、前記孔を介して前記最外層容器に排気し、残りを前記外側容器の下方に導くように構成されていることを特徴とする塗布処理装置が提供される。
【0013】
このように処理容器と前記外側容器との間の気流を制御可能なように空気導入口が設けられているので、これらの間の気流により処理容器内の気流に悪影響を及ぼしたり、処理容器から排出されたミストが飛散することを防止することができる。
【0014】
本発明の第2の観点によれば、基板の表面上に塗布液を塗布する塗布処理装置であって、上部に開口を有し、底部の外周側部分に孔を有する、基板を収容する処理容器と、前記処理容器内の基板上に塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルと、前記処理容器と基板とを回転させる回転手段と、前記処理容器の開口を略閉止する第1の蓋体と、前記処理容器の外側に固定的に設けられ、上部に開口を有する外側容器と、前記外側容器の開口を略閉止する第2の蓋体と、前記外側容器の外側に設けられた最外層容器と、前記処理容器内に基板の外周側の上方から下方に向かう気流を形成する気流形成手段とを具備し、前記第2の蓋体には、前記気流形成手段によって形成される気流を制御可能なように空気導入口が設けられ、前記外側容器の外側上部には、前記最外層容器に通じる孔が設けられ、前記空気導入口から導入された空気の一部を、前記孔を介して前記最外層容器に排気し、残りを前記外側容器の下方に導くように構成されていることを特徴とする塗布処理装置が提供される。
【0015】
このように処理容器内に基板の外周側の上方から下方に向かう気流を形成する気流形成手段を設け、第2の蓋体には、前記気流形成手段によって形成される気流を制御可能なように空気導入口が設けられているので、処理容器内の基板の外側部分に所望の気流を確実に形成することができ、また処理容器からのミストの飛散をも防止することができる。
【0016】
本発明の第3の観点によれば、前記第1の観点又は前記第2の観点に係る塗布処理装置において、前記第1の蓋体と前記第2の蓋体とを一括して着脱可能な着脱機構を、さらに具備し、前記着脱機構は、前記第2の蓋体に設けられた結合部材と、前記第1の蓋体に設けられ、前記第2の蓋体の結合部材を係止する係止部材と、前記第2の蓋体を昇降させる昇降手段とを有し、前記昇降手段により前記第2の蓋体を上昇させた際に、前記結合部材が係止部材に係止された状態で前記第1の蓋体と前記第2の蓋体とが結合され、前記昇降手段によりこれらが同時に上昇されてこれら蓋体が取り外され、前記第1および第2の蓋体を装着する際には、これらが一括して下降されるとともに、前記結合部材と前記係止部材とが離間した状態で前記第1の蓋体および前記第2の蓋体が装着されることを特徴とする塗布処理装置が提供される。
【0017】
このように第2の蓋体を上昇させた際に、結合部材が係止部材に係止された状態で第1の蓋体と第2の蓋体とが結合され、昇降手段によりこれらが同時に上昇されてこれら蓋体が取り外され、装着の際には第1の蓋体と第2の蓋体が一括して下降されるとともに、結合部材と係止部材とが離間した状態で前記第1の蓋体および前記第2の蓋体が装着されるというように、これら2つの蓋体は一括して昇降され、しかも接離可能であるから、これら蓋体を簡易な構造で昇降させることができるとともに、効率的にかつ容易に着脱することができる。しかもこれらが装着された際にこれらが離間しているので処理容器のみを回転させることを容易に行うことができる。
【0020】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
まず、本発明の一実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットが搭載されたLCD基板のレジスト塗布・現像処理システムの全体構成について説明する。図1は、そのレジスト塗布・現像処理システムを示す平面図である。
【0021】
この塗布・現像処理システムは、複数の基板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーション1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部2と、露光装置(図示せず)との間で基板Gの受け渡しを行うためのインターフェイス部3とを備えており、処理部2の両端にそれぞれカセットステーション1およびインターフェイス部3が配置されている。
【0022】
カセットステーション1は、カセットCと処理部2との間でLCD基板の搬送を行うための搬送機構10を備えている。そして、カセットステーション1においてカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機構10はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路10a上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬送アーム11によりカセットCと処理部2との間で基板Gの搬送が行われる。
【0023】
処理部2は、前段部2aと中段部2bと後段部2cとに分かれており、それぞれ中央に搬送路12、13、14を有し、これら搬送路の両側に各処理ユニットが配設されている。そして、これらの間には中継部15、16が設けられている。
【0024】
前段部2aは、搬送路12に沿って移動可能な主搬送装置17を備えており、搬送路12の一方側には、2つの洗浄ユニット(SCR)21a、21bが配置されており、搬送路12の他方側には紫外線照射ユニット(UV)と冷却ユニット(COL)とが2段に重ねられた処理ブロック25、加熱処理ユニット(HP)が2段に重ねられてなる処理ブロック26および冷却ユニット(COL)が2段に重ねられてなる処理ブロック27が配置されている。
【0025】
また、中段部2bは、搬送路13に沿って移動可能な主搬送装置18を備えており、搬送路13の一方側には、レジスト塗布処理ユニット(CT)22および基板Gの周縁部のレジストを除去する周縁レジスト除去ユニット(ER)23が一体的に設けられており、搬送路13の他方側には、加熱処理ユニット(HP)が2段に重ねられてなる処理ブロック28、加熱処理ユニット(HP)と冷却処理ユニット(COL)が上下に重ねられてなる処理ブロック29、およびアドヒージョン処理ユニット(AD)と冷却ユニット(COL)とが上下に重ねられてなる処理ブロック30が配置されている。
【0026】
さらに、後段部2cは、搬送路14に沿って移動可能な主搬送装置19を備えており、搬送路14の一方側には、3つの現像処理ユニット(DEV)24a、24b、24cが配置されており、搬送路14の他方側には加熱処理ユニット(HP)が2段に重ねられてなる処理ブロック31、およびともに加熱処理ユニット(HP)と冷却処理ユニット(COL)が上下に重ねられてなる処理ブロック32、33が配置されている。
【0027】
なお、処理部2は、搬送路を挟んで一方の側に洗浄処理ユニット21a、レジスト処理ユニット22、現像処理ユニット24aのようなスピナー系ユニットのみを配置しており、他方の側に加熱処理ユニットや冷却処理ユニット等の熱系処理ユニットのみを配置する構造となっている。
【0028】
また、中継部15、16のスピナー系ユニット配置側の部分には、薬液供給ユニット34が配置されており、さらに主搬送装置のメンテナンスを行うためのスペース35が設けられている。
【0029】
上記主搬送装置17,18,19は、それぞれ水平面内の2方向のX軸駆動機構、Y軸駆動機構、および垂直方向のZ軸駆動機構を備えており、さらにZ軸を中心に回転する回転駆動機構を備えており、それぞれ基板Gを支持するアーム17a,18a,19aを有している。
【0030】
上記主搬送装置17は、搬送機構10のアーム11との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、前段部2aの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらには中継部15との間で基板Gの受け渡しを行う機能を有している。また、主搬送装置18は中継部15との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、中段部2bの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらには中継部16との間の基板Gの受け渡しを行う機能を有している。さらに、主搬送装置19は中継部16との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、後段部2cの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらにはインターフェイス部3との間の基板Gの受け渡しを行う機能を有している。なお、中継部15、16は冷却プレートとしても機能する。
【0031】
インターフェイス部3は、処理部2との間で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエクステンション36と、さらにその両側に設けられた、バッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ37と、これらと露光装置(図示せず)との間の基板Gの搬入出を行う搬送機構38とを備えている。搬送機構38はエクステンション36およびバッファステージ37の配列方向に沿って設けられた搬送路38a上を移動可能な搬送アーム39を備え、この搬送アーム39により処理部2と露光装置との間で基板Gの搬送が行われる。
【0032】
このように各処理ユニットを集約して一体化することにより、省スペース化および処理の効率化を図ることができる。
【0033】
このように構成されたレジスト塗布・現像処理システムにおいては、カセットC内の基板Gが、処理部2に搬送され、処理部2では、まず、前段部2aの処理ブロック25の紫外線照射ユニット(UV)で表面改質・洗浄処理が行われ、冷却処理ユニット(COL)で冷却された後、洗浄ユニット(SCR)21a,21bでスクラバー洗浄が施され、処理ブロック26のいずれかの加熱処理ユニット(HP)で加熱乾燥された後、処理ブロック27のいずれかの冷却ユニット(COL)で冷却される。
【0034】
その後、基板Gは中段部2bに搬送され、レジストの定着性を高めるために、処理ブロック30の上段のアドヒージョン処理ユニット(AD)にて疎水化処理(HMDS処理)され、下段の冷却処理ユニット(COL)で冷却後、レジスト塗布ユニット(CT)22でレジストが塗布され、周縁レジスト除去ユニット(ER)23で基板Gの周縁の余分なレジストが除去される。その後、基板Gは、中段部2bの中の加熱処理ユニット(HP)の一つでプリベーク処理され、処理ブロック29または30の下段の冷却ユニット(COL)で冷却される。
【0035】
その後、基板Gは中継部16から主搬送装置19にてインターフェイス部3を介して露光装置に搬送されてそこで所定のパターンが露光される。そして、基板Gは再びインターフェイス部3を介して搬入され、必要に応じて後段部2cの処理ブロック31,32,33のいずれかの加熱処理ユニット(HP)でポストエクスポージャーベーク処理を施した後、現像処理ユニット(DEV)24a,24b,24cのいずれかで現像処理され、所定の回路パターンが形成される。現像処理された基板Gは、後段部2cのいずれかの加熱処理ユニット(HP)にてポストベーク処理が施された後、いずれかの冷却ユニット(COL)にて冷却され、主搬送装置19,18,17および搬送機構10によってカセットステーション1上の所定のカセットに収容される。
【0036】
次に、本発明の一実施形態に係るレジスト塗布処理ユニット(CT)22について説明する。図2は、本発明の実施の形態に係るレジスト塗布処理ユニットを模式的に示す断面図であって、蓋体を装着した状態を示す図である。
【0037】
図2に示すように、レジスト塗布処理ユニット(CT)22には、基板Gをその面を水平にした状態で吸着保持するスピンチャック40が回転自在に設けられている。このスピンチャック40は基板回転手段である駆動モータ41により回転され、これによってスピンチャック40上の基板Gも回転される。このスピンチャック40およびスピンチャック40上の基板Gを下方から包囲するように有底円筒形状を有する処理容器としての回転カップ43が回転可能に設けられている。この回転カップ43は、カップ回転機構42により、スピンチャック40の回転による基板Gの回転とともに回転されるようになっている。
【0038】
この回転カップ43の外周側には、回転カップ43の外周側と下方側を覆う中空リング状の外カップ(外側容器)44が配置され、さらにその外側にドレインカップ(最外層容器)45が配置されている。このドレインカップ45は、レジスト塗布の際に飛散したレジスト液を下方に導いてその底部に設けられたドレイン排出孔45aからドレインを排出することが可能となっている。また、気体はドレインカップ45の外側に設けられた図示しない排気手段により排気孔45bから排出されるようになっている。外カップ44の外側上部には孔44aが設けられており、外カップ44に供給された空気の一部がこの孔44aを通ってドレインカップ45に導かれ、残部は下方に導かれるようになっている。なお、ドレインカップ45は昇降可能に構成されている。
【0039】
回転カップ43の上部開口には、蓋体(第1の蓋体)46が着脱自在に設けられている。この蓋体46は、回転カップ43が基板Gとともに回転される際、回転カップ43とともに回転するようになっている。蓋体46の上側中央には支持部材48が取り付けられており、支持部材48の中央には孔48aが設けられている。また、蓋体46の下側には気流形成手段としての整流板49がネジ止めされている。この整流板49は蓋体46から微小離隔して設けられており、孔48aから回転カップ43内に導入された空気を回転カップ43の外側部分に導き、基板Gの外周側の上方から下方に向かう気流を形成する機能を有している。回転カップ43の底部の外周側部分には複数の空気の流出孔50が設けられている。
【0040】
外カップ44の上部開口には外蓋(第2の蓋体)47が着脱自在に設けられている。外蓋47はその中央部に前記支持部材48を挿通するとともに空気導入孔として機能する孔51が形成されている。
【0041】
これら蓋体46および外蓋47は着脱機構60により一括して着脱されるようになっている。着脱機構60は、支持部材48に取り付けられたフランジ状をなす係止部材62と、外蓋47の上側に取り付けられた円環状をなす結合部材66と、外蓋47の上面に設けられた昇降アーム68と、昇降アーム68を図示しないガイド部材にガイドさせて昇降させることにより外蓋47を昇降させる例えばシリンダ機構からなる昇降機構69とを有している。係止部材62の下面には複数の凹所64が形成されたリング状部材63が設けられており、一方、結合部材66の上面には凹所64に対応する位置に複数の突起67が設けられていて、昇降機構69により外蓋47を上昇させた際に、突起67が凹所64に嵌合されて位置合わせされた状態で係止部材62が結合部材66を係止して蓋体46と蓋体47とを結合し、蓋体46を外蓋47とともに上昇させることが可能となっている。図示するように蓋体46および外蓋47が装着された状態では係止部材62と結合部材66とは離間している。
【0042】
外カップ44の外側には支持柱70が立設されており、支持柱70からは、基板Gにレジスト液や溶剤を供給するための噴頭72を先端に有するアーム71が延出している。この噴頭72は、塗布液であるレジスト液を吐出するためのレジスト液吐出ノズル73と、シンナー等の溶剤を吐出するための溶剤吐出ノズル74とを有しており、多系統のノズルユニットを構成している。
【0043】
また、アーム71は、支持柱70内の機構(図示せず)により回動可能および昇降可能に構成され、レジスト液や溶剤の吐出時には、後述する図3に示すように、レジスト液吐出ノズル73や溶剤吐出ノズル74が基板G中央の上方に位置され、レジスト液等の吐出後には、図2に示すように、待避位置に移動されるようになっている。
【0044】
次に、以上のように構成されるレジスト塗布ユニット(CT)22における処理動作について図4を参照しながら説明する。
【0045】
まず、図3に示すように、着脱機構60により外蓋47を上昇させ、突起67を凹所64に嵌合させて位置合わせし、結合部材66が係止部材62に係止された状態で蓋体46と外蓋47とを結合する(ST1)。その状態で外蓋47および蓋体46を一括して上昇させて、これらを回転カップ43および外カップ44から外す(ST2)。次いで、基板Gを図示しない搬送アームによりスピンチャック40上に搬送し、スピンチャック40に保持させる(ST3)。そして、アーム71を回動させて、図3に示すように噴頭72を基板G中央の上方に位置させ、溶剤吐出ノズル74から、シンナー等の溶剤を基板Gに吐出させる(ST4)。この際にドレインカップ45を上昇させる。これにより、シンナー等の溶剤が飛散することを防止する。次いで、レジスト液吐出ノズル73から、レジスト液を基板Gに吐出させ、例えば1500rpm程度の回転速度で基板Gを回転させて遠心力によりレジスト液を拡散させ、基板G上にレジスト膜を形成する(ST5)。この際のレジスト液塗布は、基板Gを回転させながら行うこともできる。その際にはドレインカップ45を上昇させた状態としてレジスト液が飛散することを防止する。なお、基板Gを回転させずにレジスト液を供給する場合には、溶剤供給が終了後、ドレインカップ45を元の位置に戻すことが好ましい。
【0046】
その後、着脱機構60により、蓋体46と外蓋47を下降させ、図2に示すように、蓋体46および外蓋47をそれぞれ回転カップ43および外カップ44の上部開口に装着し、それらの上部開口を略閉止する(ST6)。この場合に、まず蓋体46と外蓋47とが結合した状態で下降され、最初に蓋体46が装着された後、外蓋47がさらに下降して結合部材66と係止部材62が離間した状態で外蓋47が装着される。その後、蓋体46および外蓋47が装着された状態で基板Gおよび回転カップ43を所定の回転数、例えば1340rpmで回転させ、レジスト膜の膜厚を整える(ST7)。
【0047】
このレジスト膜厚を整える際に、回転カップ43は蓋体46により略閉止されているため、基板G周囲の空気を回転カップ43と蓋体46内に閉じ込めて、基板G周囲に処理に悪影響を及ぼす気流を防止することができ、レジスト膜の膜厚均一化を図ることができる。また、回転する基板Gから遠心力によって余分なレジスト液が回転カップ43から外部へ飛散することを防止することができる。
【0048】
また、気流蓋体46に気流形成手段としての整流板49が設けられているので、支持部材48の孔48aから回転カップ43内に導入された空気は、整流板49に沿って外側に流され、回転カップ43の底部の外周側部分に形成された流出孔50から回転カップ外へ流出し、膜厚が乱れやすい基板Gの端部近傍に積極的に気流を形成してその部分の乾燥状態を制御し、基板周縁の基板Gのレジスト膜厚を制御してレジスト膜厚の均一性を高く維持することができる。
【0049】
ところで、基板Gとともに回転する回転カップ43には、保護等のため回転しない外カップ44が設けられているが、外カップ44により回転カップ43の全体を覆った場合には、固定的に設けられた外カップ44と回転する回転カップ43の間に乱流が発生するおそれがあり、回転カップ43からの排気をスムーズに行うことが困難である。したがって、外カップ44と回転カップ43との間の気流により回転カップ43内に所望の気流が形成されなかったり、回転カップ43から排出されたミストが飛散するおそれがある。
【0050】
これに対して、本実施形態では、外カップ44を閉止する蓋体47には空気導入孔として機能する孔51が形成されており、この孔51から空気が導入されることにより、外カップ44と回転カップ43との間の気流を制御することが可能となる。
【0051】
すなわち、孔51が形成されることにより、孔51から導入された空気は図示しない排気手段の動作により外カップ44の外側へ向かって流れ、一部は孔44aを通って排気され、残部は下方に導かれる。したがって、外カップ44には、上述した回転カップ43内における基板G端部近傍の好ましい流れを促進するような気流が形成されることとなり、回転カップ43内の基板Gの外側部分に所望の気流を確実に形成することができる。また、外蓋47の孔51の存在により、外カップ44内で中央から外側へ、さらには下方へ向かう気流の道筋が形成され、全体として整流となるため、回転カップ43から排出されるミストの飛散をも防止することができる。
【0052】
このようにして膜厚調整が終了後、基板Gおよび回転カップ43の回転を停止する(ST8)。そして、外蓋47を上昇させて、結合部材66の突起67を蓋体46に取り付けられた係止部材62のリング状部材63に形成された凹所64に嵌合させて位置合わせを行い、係止部材62が結合部材66を係止して蓋体46と蓋体47とを結合し(ST9)、昇降機構69により蓋体46を外蓋47とともに一括して上昇させ、これらを回転カップ43および外側カップから取り外す(ST10)。そして、最後に回転カップ43から基板Gを取り出す(ST11)。
【0053】
このように、着脱機構60は、外蓋47を上昇させた際に、突起67が凹所64に嵌合された状態で、外蓋47に取り付けられた結合部材66が蓋体46に取り付けられた係止部材62に係止されて蓋体46と外蓋47とが同時に上昇されてこれらが取り外され、一方、装着の際には、蓋体46と外蓋47とが一括して下降され、最初に蓋体46が装着された後、外蓋47がさらに下降して結合部材66と係止部材62が離間した状態で外蓋47が装着される。このように、これら2つの蓋体は一括して昇降され、しかも接離可能であるから、これら蓋体を簡易な構造で昇降させることができるとともに、効率的にかつ容易に着脱することができる。しかもこれらが装着された際にこれらが離間しているので回転カップ43のみを回転させることを容易に行うことができる。
【0054】
次に、他の実施形態について説明する。図5は他の実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットを示す断面図である。この実施形態では、従前の実施形態の整流板49の代わりに、蓋体46の外周部分に空気流入孔80が設けられている。他の構成は図2と同様であるから図2と同じものには同じ符号を付して説明を省略する。このように空気流入孔80を設けることにより、この空気流入孔80を介して外部から空気が流入されるとともに、回転カップ43の流出孔50から空気が外部に流出されるような気流が形成される。これにより上記実施形態と同様、基板G端部の周辺に上方から下方へ流れる気流を形成することができ、膜厚が乱れやすい基板Gの端部近傍に積極的に気流を形成してその部分の乾燥状態を制御し、基板周縁の基板Gのレジスト膜厚を制御してレジスト膜厚の均一性を高く維持することができる。
【0055】
本実施形態においても従前の実施形態と同様、外カップ44を閉止する蓋体47には空気導入孔として機能する孔51が形成されており、この孔51から空気が導入されることにより、外カップ44と回転カップ43との間の気流を制御することが可能となり、これにより、回転カップ43内の基板Gの外側部分に所望の気流を確実に形成することができるとともに、回転カップ43から排出されるミストの飛散をも防止することができる。
【0056】
次に、着脱機構の他の例について図6を参照して説明する。この例では着脱機構60’は、支持部材48に取り付けられたフランジ状をなす係止部材91と、外蓋47の上側に垂直に延びた複数の昇降アーム92を介して取り付けられた円環状をなす結合部材93と、昇降アーム92を介して結合部材93を外蓋47とともに昇降する例えばシリンダ機構からなる昇降機構94とを有している。係止部材91の下面には複数の凹所95が形成されており、一方、結合部材93の上面には凹所95に対応する位置に複数の突起96が設けられていて、昇降機構94により外蓋47を上昇した際に、突起96が凹所95に嵌め込まれた状態で係止部材91が結合部材93を係止し、蓋体46を外蓋47とともに上昇させることが可能となっている。このような構造によっても上記実施形態と同様にして蓋体46および外蓋47を着脱することができる。
【0057】
なお、本発明は上記実施の形態に限定されず、種々の変形が可能である。例えば、外蓋47の空気導入孔としてその中央部に孔51を形成したが、これに限るものではなく、図7に示すように、外蓋47の外側部分に孔51を形成してもよく、図8に示すように外蓋47の径方向の複数位置に孔51を形成してもよい。要するに、所望な気流が形成されるように、蓋体47の適宜の位置に孔51を形成すればよい。また、上記実施形態はレジスト塗布・現像処理システムに本発明を適用した場合について説明したが、これに限るものではない。さらに、レジスト液を塗布する場合について示したが、スピンコートにより塗布膜を形成する場合であれば、他の塗布液を適用することも可能である。さらにまた、上記実施の形態では、被処理基板としてLCD基板を用いた場合について示したが、これに限らず半導体ウエハ等他の基板への塗布膜形成にも適用することができる。
【0058】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、処理容器と前記外側容器との間の気流を制御可能なように空気導入口が設けられているので、これらの間の気流により処理容器内の気流に悪影響を及ぼしたり、処理容器から排出されたミストが飛散することを防止することができる。
【0059】
また、処理容器内に基板の外周側の上方から下方に向かう気流を形成する気流形成手段を設け、第2の蓋体には、前記気流形成手段によって形成される気流を制御可能なように空気導入口が設けられているので、処理容器内の基板の外側部分に所望の気流を確実に形成することができ、また処理容器からのミストの飛散をも防止することができる。
【0060】
さらに、第2の蓋体を上昇させた際に、結合部材が係止部材に係止された状態で第1の蓋体と第2の蓋体とが結合され、昇降手段によりこれらが同時に上昇されてこれら蓋体が取り外され、装着の際には第1の蓋体と第2の蓋体が一括して下降されるとともに、結合部材と係止部材とが離間した状態で前記第1の蓋体および前記第2の蓋体が装着されるというように、これら2つの蓋体は一括して昇降され、しかも接離可能であるから、これら蓋体を簡易な構造で昇降させることができるとともに、効率的にかつ容易に着脱することができる。しかもこれらが装着された際にこれらが離間しているので処理容器のみを回転させることを容易に行うことができる。
【0061】
さらにまた、基板に塗布液を供給して塗布した後、第1および第2の蓋体をそれぞれ処理容器および外側容器の開口を略閉止するように装着するとともに第1の蓋体と第2の蓋体とを離間させ、処理容器を基板とともに回転させて塗布膜の膜厚を整えた後、第1の蓋体と第2の蓋体とを一括して開放するので、回転する処理容器と回転しない外側容器に対し、第1および第2の蓋体を容易に着脱することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットが搭載されたLCD基板のレジスト塗布・現像処理システムを示す平面図。
【図2】本発明の一実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットの蓋体および外蓋を装着した状態を示す断面図。
【図3】本発明の一実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットの蓋体および外蓋を外した状態を示す断面図。
【図4】本発明の一実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットの処理動作を説明するためのフローチャート。
【図5】本発明の他の実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットを示す断面図。
【図6】着脱機構の他の例を説明する断面図。
【図7】本発明のさらに他の実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットを部分的に示す断面図。
【図8】本発明のさらに他の実施形態に係るレジスト塗布処理ユニットを部分的に示す断面図。
【符号の説明】
22…レジスト塗布処理ユニット(塗布処理装置)
40…スピンチャック(回転手段)
43…回転カップ(処理容器)
44…外カップ(外側容器)
45…ドレインカップ(最外層容器)
46…蓋体(第1の蓋体)
47…外蓋(第2の蓋体)
49…整流板(気流形成手段)
50…流出孔
51…孔(空気導入口)
60,60’…着脱機構
62,91…係止部材
64,95…凹所
66,93…結合部材
67,96…突起
69,94…昇降機構
73…レジスト液吐出ノズル
74…溶剤吐出ノズル
80…空気流入孔(気流形成手段)
G…基板
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention applies a coating solution such as a resist film on the surface of a substrate such as a glass substrate of a liquid crystal display (LCD). Cloth Coating equipment In place Related.
[0002]
[Prior art]
In the manufacture of a liquid crystal display (LCD), a photoresist liquid is applied to a rectangular LCD substrate made of glass to form a resist film, the resist film is exposed corresponding to a circuit pattern, and this is developed. A circuit pattern is formed by a so-called photolithography technique. Conventionally, a resist coating and developing processing system including a plurality of processing units for performing such a series of steps has been used.
[0003]
In such a resist coating and developing processing system, in the step of applying a resist solution, a rectangular LCD substrate (hereinafter referred to as a substrate) is subjected to a hydrophobizing process (HMDS process) in an adhesion processing unit in order to improve the fixability of the resist. And after being cooled by the cooling unit, it is carried into the resist coating unit.
[0004]
In the resist coating processing unit, while the substrate is rotated while being held on the spin chuck, the resist solution is supplied to the surface of the substrate from the nozzle provided above, and the resist solution is diffused by the centrifugal force generated by the rotation of the substrate. As a result, a resist film is formed on the entire surface of the substrate.
[0005]
The substrate on which the resist solution is applied is removed from excess resist at the peripheral edge by an end surface processing unit (edge remover), then loaded into a heating processing unit, pre-baked, cooled by a cooling unit, and exposed to an exposure apparatus. Then, a predetermined pattern is exposed, and then developed and post-baked to form a predetermined resist pattern.
[0006]
In the resist coating unit, with the substrate placed on the spin chuck, the resist solution is discharged from the resist discharge nozzle to the center of the substrate without rotating the substrate and the spin chuck. Next, a rotating cup that surrounds the spin chuck from below is covered with a lid and an outer lid is attached to enclose the substrate in the rotating cup and the lid. Then, the substrate is rotated together with the rotating cup, and the resist solution is diffused from the center of the substrate toward the periphery by the rotational force and centrifugal force of the substrate to form a resist film on the substrate, and the thickness of the resist film To arrange.
[0007]
As a result, the air around the substrate is confined in the rotating cup and the lid, and an air flow that adversely affects the processing is prevented around the substrate, the resist film is made uniform in thickness, and extraneous to the rotating substrate by centrifugal force. An attempt is made to prevent the resist solution from splashing outside from the rotating cup.
[0008]
In addition, to control the film thickness around the substrate, external air is introduced into the cup under the lid, and a rectifying plate for adjusting the airflow outside the substrate is screwed to the center hole of the lid. The air that has flowed in flows outward along the upper surface of the current plate, and flows out of the rotating cup through an outflow hole formed in the outer peripheral portion of the bottom of the rotating cup.
[0009]
[Problems to be solved by the invention]
By the way, an outer cup is fixedly provided outside the rotating cup, and an outer lid is mounted on the outer cup at the time of processing. Conventionally, the airflow between the outer cup and the rotating cup is not considered, and there is a possibility that turbulent flow may occur between the fixed outer cup and the rotating rotating cup. It is difficult to perform smoothly. Therefore, there is a possibility that a desired airflow is not formed in the rotating cup due to the airflow between the outer cup and the rotating cup, or that the mist discharged from the rotating cup is scattered.
[0010]
On the other hand, there are two lids, a lid attached to the rotating cup and an outer lid attached to the outer cup, one being attached to the rotating cup and the other being attached to the stationary outer cup. Therefore, the mounting mechanism has to be complicated.
[0011]
The present invention has been made in view of such circumstances, and provides a coating processing apparatus capable of forming a desired airflow between a rotating processing container and an outer container fixedly provided on the outer side thereof. The purpose is to do. In addition, a coating processing apparatus provided with a mechanism that can easily attach and detach a lid attached to a rotating processing container and a lid attached to an outer container fixedly provided outside the lid. Place The purpose is to provide.
[0012]
[Means for Solving the Problems]
According to a first aspect of the present invention, there is provided a coating processing apparatus for applying a coating liquid on a surface of a substrate, and having an opening at an upper portion. , Having a hole in the outer peripheral side portion of the bottom, A processing container that accommodates the substrate; a coating liquid discharge nozzle that discharges the coating liquid onto the substrate in the processing container; a rotating means that rotates the processing container and the substrate; and a first opening that substantially closes the opening of the processing container. A first lid, an outer container fixedly provided on the outside of the processing container and having an opening at an upper portion thereof, and a second lid that substantially closes the opening of the outer container; An outermost layer container provided outside the outer container; And the second lid is provided with an air inlet so that the airflow between the processing container and the outer container can be controlled. A hole communicating with the outermost layer container is provided in an outer upper portion of the outer container, and a part of the air introduced from the air introduction port is exhausted to the outermost layer container through the hole, and the rest is discharged. Configured to be guided below the outer container. A coating treatment apparatus is provided.
[0013]
Since the air introduction port is provided so that the airflow between the processing container and the outer container can be controlled in this way, the airflow between them adversely affects the airflow in the processing container, or from the processing container. It is possible to prevent the discharged mist from scattering.
[0014]
According to a second aspect of the present invention, there is provided a coating processing apparatus for applying a coating liquid on a surface of a substrate, and having an opening at an upper portion. , Having a hole in the outer peripheral side portion of the bottom, A processing container that accommodates the substrate; a coating liquid discharge nozzle that discharges the coating liquid onto the substrate in the processing container; a rotating means that rotates the processing container and the substrate; and a first opening that substantially closes the opening of the processing container. 1 lid, an outer container fixedly provided on the outside of the processing container and having an opening at the top thereof, a second lid for substantially closing the opening of the outer container, An outermost layer container provided outside the outer container; An air flow forming means for forming an air flow from the upper side to the lower side of the outer peripheral side of the substrate in the processing container; , And the second lid is provided with an air inlet so that the air flow formed by the air flow forming means can be controlled. A hole communicating with the outermost layer container is provided in an outer upper portion of the outer container, and a part of the air introduced from the air introduction port is exhausted to the outermost layer container through the hole, and the rest is discharged. Configured to be guided below the outer container. A coating treatment apparatus is provided.
[0015]
As described above, the air flow forming means for forming the air flow from the upper side to the lower side on the outer peripheral side of the substrate is provided in the processing container, and the second lid body is configured to control the air flow formed by the air flow forming means. Since the air inlet is provided, a desired airflow can be reliably formed on the outer portion of the substrate in the processing container, and mist scattering from the processing container can also be prevented.
[0016]
According to a third aspect of the present invention In the coating treatment apparatus according to the first aspect or the second aspect, An attachment / detachment mechanism capable of attaching and detaching the first lid and the second lid collectively. And more The attachment / detachment mechanism includes: a coupling member provided on the second lid; a locking member provided on the first lid for locking the coupling member of the second lid; Elevating means for elevating and lowering the second lid, and when the second lid is raised by the elevating means, the first coupling member is engaged with the engagement member. When the first and second lids are mounted, these lids and the second lid are combined, and are lifted simultaneously by the lifting means to remove these lids. A coating processing apparatus is provided, wherein the first lid body and the second lid body are mounted while being lowered collectively and in a state where the coupling member and the locking member are separated from each other. The
[0017]
When the second lid is raised as described above, the first lid and the second lid are coupled in a state where the coupling member is latched to the latching member, and these are simultaneously The lids are lifted to remove them, and the first lid body and the second lid body are lowered all together at the time of attachment, and the first member is separated from the coupling member and the locking member. Since these two lids can be lifted and lowered together, and can be brought into and out of contact with each other as the second lid and the second lid are mounted, the lids can be lifted and lowered with a simple structure. It can be attached and detached efficiently and easily. Moreover, since they are separated when they are mounted, it is possible to easily rotate only the processing container.
[0020]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
First, an overall configuration of a resist coating / developing system for an LCD substrate on which a resist coating unit according to an embodiment of the present invention is mounted will be described. FIG. 1 is a plan view showing the resist coating / developing system.
[0021]
This coating / development processing system includes a cassette station 1 on which a cassette C that accommodates a plurality of substrates G is placed, and a processing including a plurality of processing units for performing a series of processes including resist coating and development on the substrates G. And an interface unit 3 for transferring the substrate G between the exposure unit (not shown), and the cassette station 1 and the interface unit 3 are disposed at both ends of the processing unit 2, respectively. Yes.
[0022]
The cassette station 1 includes a transport mechanism 10 for transporting the LCD substrate between the cassette C and the processing unit 2. Then, the cassette C is loaded and unloaded at the cassette station 1. Further, the transport mechanism 10 includes a transport arm 11 that can move on a transport path 10 a provided along the cassette arrangement direction, and the transport arm 11 can transport the substrate G between the cassette C and the processing unit 2. Done.
[0023]
The processing section 2 is divided into a front stage section 2a, a middle stage section 2b, and a rear stage section 2c. Each of the processing sections 2 has transport paths 12, 13, and 14 at the center, and each processing unit is disposed on both sides of these transport paths. Yes. And between these, the relay parts 15 and 16 are provided.
[0024]
The front section 2a includes a main transport device 17 that can move along the transport path 12, and two cleaning units (SCRs) 21a and 21b are arranged on one side of the transport path 12, and the transport path 12, the processing block 25 in which the ultraviolet irradiation unit (UV) and the cooling unit (COL) are stacked in two stages, the processing block 26 in which the heating processing unit (HP) is stacked in two stages, and the cooling unit. A processing block 27 in which (COL) is stacked in two stages is arranged.
[0025]
The middle stage 2 b includes a main transfer device 18 that can move along the transfer path 13. On one side of the transfer path 13, a resist coating processing unit (CT) 22 and a resist on the peripheral edge of the substrate G are provided. The peripheral resist removing unit (ER) 23 for removing the substrate is integrally provided, and on the other side of the conveyance path 13, the processing block 28 in which the heating processing units (HP) are stacked in two stages, the heating processing unit A processing block 29 in which (HP) and a cooling processing unit (COL) are vertically stacked and a processing block 30 in which an adhesion processing unit (AD) and a cooling unit (COL) are vertically stacked are arranged. .
[0026]
Further, the rear stage portion 2 c includes a main transport device 19 that can move along the transport path 14, and three development processing units (DEV) 24 a, 24 b, and 24 c are disposed on one side of the transport path 14. On the other side of the conveyance path 14, a heat treatment unit (HP) is stacked in two stages, and a heat treatment unit (HP) and a cooling processing unit (COL) are stacked vertically. Processing blocks 32 and 33 are arranged.
[0027]
In the processing unit 2, only a spinner system unit such as the cleaning processing unit 21a, the resist processing unit 22, and the development processing unit 24a is disposed on one side of the conveyance path, and the heating processing unit is disposed on the other side. Only a thermal processing unit such as a cooling processing unit is arranged.
[0028]
Further, a chemical liquid supply unit 34 is disposed at a portion of the relay portions 15 and 16 on the spinner system unit arrangement side, and a space 35 for performing maintenance of the main transfer device is further provided.
[0029]
The main transfer devices 17, 18, and 19 each include a two-direction X-axis drive mechanism, a Y-axis drive mechanism, and a vertical Z-axis drive mechanism in a horizontal plane, and further rotate around the Z-axis. A drive mechanism is provided, and arms 17a, 18a, 19a for supporting the substrate G are provided.
[0030]
The main transfer device 17 transfers the substrate G to and from the arm 11 of the transfer mechanism 10, loads / unloads the substrate G to / from each processing unit of the front stage 2 a, and further transfers the substrate to / from the relay unit 15. It has a function to deliver G. The main transfer device 18 transfers the substrate G to and from the relay unit 15, and loads and unloads the substrate G to / from each processing unit of the middle stage 2 b, and further transfers the substrate G to and from the relay unit 16. It has a function to perform. Further, the main transfer device 19 transfers the substrate G to and from the relay unit 16, loads and unloads the substrate G to / from each processing unit of the rear-stage unit 2 c, and transfers the substrate G to and from the interface unit 3. It has a function to perform. The relay parts 15 and 16 also function as cooling plates.
[0031]
The interface unit 3 includes an extension 36 that temporarily holds a substrate when the substrate is transferred to and from the processing unit 2, two buffer stages 37 that are provided on both sides of the substrate and that are provided with buffer cassettes, and these And a transfer mechanism 38 that carries in and out the substrate G between the exposure apparatus (not shown). The transport mechanism 38 includes a transport arm 39 that can move on a transport path 38 a provided along the arrangement direction of the extension 36 and the buffer stage 37. The transport arm 39 allows the substrate G to be transferred between the processing unit 2 and the exposure apparatus. Is carried out.
[0032]
By consolidating and integrating the processing units in this way, it is possible to save space and improve processing efficiency.
[0033]
In the resist coating / development processing system configured as described above, the substrate G in the cassette C is transported to the processing unit 2, and the processing unit 2 firstly includes an ultraviolet irradiation unit (UV) of the processing block 25 of the preceding stage 2 a. ) Is subjected to surface modification / cleaning processing and cooled by a cooling processing unit (COL), and then scrubber cleaning is performed by cleaning units (SCR) 21a and 21b. After being heated and dried by HP), it is cooled by one of the cooling units (COL) in the processing block 27.
[0034]
Thereafter, the substrate G is transported to the middle stage 2b and subjected to a hydrophobic treatment (HMDS process) in the upper adhesion processing unit (AD) of the processing block 30 in order to improve the fixing property of the resist, and the lower cooling processing unit ( After cooling by COL), a resist is applied by a resist coating unit (CT) 22, and excess resist on the periphery of the substrate G is removed by a peripheral resist removal unit (ER) 23. Thereafter, the substrate G is pre-baked by one of the heat processing units (HP) in the middle stage 2b and cooled by the lower cooling unit (COL) of the processing block 29 or 30.
[0035]
Thereafter, the substrate G is transported from the relay section 16 to the exposure apparatus via the interface section 3 by the main transport apparatus 19, where a predetermined pattern is exposed. And the board | substrate G is again carried in via the interface part 3, and after performing a post-exposure baking process in the heat processing unit (HP) of the process blocks 31, 32, and 33 of the back | latter stage part 2c as needed, Development processing is performed in one of the development processing units (DEV) 24a, 24b, and 24c, and a predetermined circuit pattern is formed. The developed substrate G is subjected to a post-baking process in any one of the heat treatment units (HP) in the rear stage 2c, and is then cooled in any cooling unit (COL). 18 and 17 and the transport mechanism 10 are accommodated in a predetermined cassette on the cassette station 1.
[0036]
Next, a resist coating unit (CT) 22 according to an embodiment of the present invention will be described. FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing the resist coating unit according to the embodiment of the present invention, and shows a state where a lid is attached.
[0037]
As shown in FIG. 2, the resist coating unit (CT) 22 is rotatably provided with a spin chuck 40 that sucks and holds the substrate G with its surface horizontal. The spin chuck 40 is rotated by a drive motor 41 which is a substrate rotating means, whereby the substrate G on the spin chuck 40 is also rotated. A rotary cup 43 as a processing container having a bottomed cylindrical shape is rotatably provided so as to surround the spin chuck 40 and the substrate G on the spin chuck 40 from below. The rotating cup 43 is rotated together with the rotation of the substrate G by the rotation of the spin chuck 40 by the cup rotating mechanism 42.
[0038]
A hollow ring-shaped outer cup (outer container) 44 that covers the outer peripheral side and the lower side of the rotating cup 43 is disposed on the outer peripheral side of the rotating cup 43, and a drain cup (outermost layer container) 45 is further disposed on the outer side. Has been. The drain cup 45 can discharge the drain from a drain discharge hole 45a provided at the bottom by guiding the resist solution scattered when the resist is applied downward. The gas is exhausted from the exhaust hole 45b by an exhaust means (not shown) provided outside the drain cup 45. A hole 44a is provided on the outer upper part of the outer cup 44, and a part of the air supplied to the outer cup 44 is guided to the drain cup 45 through the hole 44a, and the remaining part is guided downward. ing. The drain cup 45 is configured to be movable up and down.
[0039]
A lid (first lid) 46 is detachably provided in the upper opening of the rotating cup 43. The lid 46 is configured to rotate together with the rotating cup 43 when the rotating cup 43 is rotated together with the substrate G. A support member 48 is attached to the upper center of the lid 46, and a hole 48 a is provided in the center of the support member 48. Further, a rectifying plate 49 as an airflow forming means is screwed to the lower side of the lid 46. The rectifying plate 49 is provided at a minute distance from the lid 46, and the air introduced into the rotating cup 43 from the hole 48 a is guided to the outer portion of the rotating cup 43, and from the upper side to the lower side on the outer peripheral side of the substrate G. It has the function of forming an airflow toward it. A plurality of air outlet holes 50 are provided on the outer peripheral side portion of the bottom of the rotating cup 43.
[0040]
An outer lid (second lid) 47 is detachably provided in the upper opening of the outer cup 44. The outer lid 47 is formed with a hole 51 that functions as an air introduction hole while the support member 48 is inserted through the center of the outer lid 47.
[0041]
The lid body 46 and the outer lid 47 are attached and detached together by an attaching / detaching mechanism 60. The attachment / detachment mechanism 60 includes a flange-shaped locking member 62 attached to the support member 48, an annular coupling member 66 attached to the upper side of the outer lid 47, and a lifting / lowering provided on the upper surface of the outer lid 47. The arm 68 and an elevating mechanism 69 made up of, for example, a cylinder mechanism that elevates and lowers the outer lid 47 by guiding the elevating arm 68 by a guide member (not shown) to elevate and lower it. A ring-shaped member 63 formed with a plurality of recesses 64 is provided on the lower surface of the locking member 62, while a plurality of protrusions 67 are provided on the upper surface of the coupling member 66 at positions corresponding to the recesses 64. When the outer lid 47 is raised by the elevating mechanism 69, the locking member 62 locks the coupling member 66 in a state where the projection 67 is fitted and aligned with the recess 64, and the lid body 46 and the lid body 47 are combined, and the lid body 46 can be raised together with the outer lid 47. As shown in the drawing, when the lid body 46 and the outer lid 47 are mounted, the locking member 62 and the coupling member 66 are separated from each other.
[0042]
A support column 70 is erected on the outer side of the outer cup 44, and an arm 71 having a nozzle 72 for supplying a resist solution or a solvent to the substrate G extends from the support column 70. The nozzle 72 has a resist solution discharge nozzle 73 for discharging a resist solution as a coating solution and a solvent discharge nozzle 74 for discharging a solvent such as thinner, and constitutes a multi-system nozzle unit. is doing.
[0043]
Further, the arm 71 is configured to be rotatable and movable up and down by a mechanism (not shown) in the support column 70, and when discharging a resist solution or a solvent, as shown in FIG. 3 described later, a resist solution discharge nozzle 73. The solvent discharge nozzle 74 is positioned above the center of the substrate G, and after discharging the resist solution or the like, as shown in FIG.
[0044]
Next, the processing operation in the resist coating unit (CT) 22 configured as described above will be described with reference to FIG.
[0045]
First, as shown in FIG. 3, the outer lid 47 is raised by the attaching / detaching mechanism 60, the protrusion 67 is fitted into the recess 64 and aligned, and the coupling member 66 is locked to the locking member 62. The lid 46 and the outer lid 47 are coupled (ST1). In this state, the outer lid 47 and the lid body 46 are raised together and removed from the rotating cup 43 and the outer cup 44 (ST2). Next, the substrate G is transported onto the spin chuck 40 by a transport arm (not shown) and held on the spin chuck 40 (ST3). Then, the arm 71 is rotated so that the nozzle 72 is positioned above the center of the substrate G as shown in FIG. 3, and a solvent such as thinner is discharged from the solvent discharge nozzle 74 onto the substrate G (ST4). At this time, the drain cup 45 is raised. This prevents solvent such as thinner from scattering. Next, the resist solution is discharged from the resist solution discharge nozzle 73 onto the substrate G, and the substrate G is rotated at a rotational speed of, for example, about 1500 rpm to diffuse the resist solution by centrifugal force, thereby forming a resist film on the substrate G ( ST5). The resist solution application at this time can also be performed while rotating the substrate G. At that time, the resist liquid is prevented from being scattered as the drain cup 45 is raised. When supplying the resist solution without rotating the substrate G, it is preferable to return the drain cup 45 to the original position after the supply of the solvent is completed.
[0046]
Thereafter, the lid body 46 and the outer lid 47 are lowered by the attaching / detaching mechanism 60, and the lid body 46 and the outer lid 47 are respectively attached to the upper openings of the rotating cup 43 and the outer cup 44, as shown in FIG. The upper opening is substantially closed (ST6). In this case, the lid body 46 and the outer lid 47 are first lowered in a coupled state, and after the lid body 46 is first attached, the outer lid 47 is further lowered to separate the coupling member 66 and the locking member 62. In this state, the outer lid 47 is attached. Thereafter, the substrate G and the rotating cup 43 are rotated at a predetermined rotational speed, for example, 1340 rpm, with the lid body 46 and the outer lid 47 being mounted, and the film thickness of the resist film is adjusted (ST7).
[0047]
When the resist film thickness is adjusted, the rotating cup 43 is substantially closed by the lid 46, so that the air around the substrate G is confined in the rotating cup 43 and the lid 46, and the processing around the substrate G is adversely affected. The airflow exerted can be prevented and the film thickness of the resist film can be made uniform. Further, it is possible to prevent excess resist solution from being scattered from the rotating substrate 43 to the outside by the centrifugal force from the rotating substrate G.
[0048]
Further, since the airflow lid 46 is provided with the rectifying plate 49 as the airflow forming means, the air introduced into the rotary cup 43 from the hole 48 a of the support member 48 is caused to flow outward along the rectifying plate 49. The outflow hole 50 formed in the outer peripheral portion of the bottom of the rotating cup 43 flows out of the rotating cup, and an air flow is positively formed in the vicinity of the end of the substrate G where the film thickness is likely to be disturbed to dry the portion. The uniformity of the resist film thickness can be kept high by controlling the resist film thickness of the substrate G on the periphery of the substrate.
[0049]
By the way, the rotating cup 43 that rotates together with the substrate G is provided with an outer cup 44 that does not rotate for protection or the like. However, when the outer cup 44 covers the entire rotating cup 43, the rotating cup 43 is fixedly provided. Further, turbulent flow may occur between the outer cup 44 and the rotating rotating cup 43, and it is difficult to exhaust the rotating cup 43 smoothly. Therefore, a desired airflow may not be formed in the rotating cup 43 due to the airflow between the outer cup 44 and the rotating cup 43, or mist discharged from the rotating cup 43 may be scattered.
[0050]
On the other hand, in the present embodiment, the lid body 47 that closes the outer cup 44 is formed with a hole 51 that functions as an air introduction hole. By introducing air from the hole 51, the outer cup 44 is formed. And the airflow between the rotary cup 43 and the rotating cup 43 can be controlled.
[0051]
That is, when the hole 51 is formed, the air introduced from the hole 51 flows toward the outside of the outer cup 44 by the operation of an exhaust means (not shown), a part is exhausted through the hole 44a, and the remaining part is downward. Led to. Therefore, an air flow that promotes a preferable flow in the vicinity of the end portion of the substrate G in the rotating cup 43 is formed in the outer cup 44, and a desired air flow is generated in the outer portion of the substrate G in the rotating cup 43. Can be reliably formed. In addition, the presence of the hole 51 in the outer lid 47 forms an air flow path from the center to the outside and further downward in the outer cup 44, and rectifies as a whole, so that the mist discharged from the rotating cup 43 Scattering can also be prevented.
[0052]
After the film thickness adjustment is thus completed, the rotation of the substrate G and the rotating cup 43 is stopped (ST8). Then, the outer lid 47 is raised, and the projection 67 of the coupling member 66 is fitted into the recess 64 formed in the ring-shaped member 63 of the locking member 62 attached to the lid body 46 to perform alignment. The locking member 62 locks the coupling member 66 to couple the lid body 46 and the lid body 47 (ST9), and the lid body 46 is lifted together with the outer lid 47 by the elevating mechanism 69. 43 and the outer cup are removed (ST10). Finally, the substrate G is taken out from the rotating cup 43 (ST11).
[0053]
As described above, when the outer lid 47 is raised, the attaching / detaching mechanism 60 is attached to the lid body 46 with the coupling member 66 attached to the outer lid 47 in a state where the protrusion 67 is fitted in the recess 64. The lid body 46 and the outer lid 47 are simultaneously lifted and removed by being latched by the latching member 62. On the other hand, when mounting, the lid body 46 and the outer lid 47 are collectively lowered. First, after the lid body 46 is mounted, the outer lid 47 is further lowered and the outer lid 47 is mounted in a state where the coupling member 66 and the locking member 62 are separated from each other. Thus, since these two lids can be lifted and lowered together and can be contacted and separated, these lids can be lifted and lowered with a simple structure and can be efficiently and easily attached and detached. . Moreover, since they are separated when they are mounted, it is possible to easily rotate only the rotating cup 43.
[0054]
Next, another embodiment will be described. FIG. 5 is a cross-sectional view showing a resist coating unit according to another embodiment. In this embodiment, an air inflow hole 80 is provided in the outer peripheral portion of the lid 46 instead of the rectifying plate 49 of the previous embodiment. Since other configurations are the same as those in FIG. 2, the same components as those in FIG. By providing the air inflow hole 80 in this manner, air flows from the outside through the air inflow hole 80, and an air flow is formed so that the air flows out from the outflow hole 50 of the rotary cup 43. The As a result, as in the above-described embodiment, an airflow flowing from the upper side to the lower side can be formed around the edge of the substrate G, and the airflow is positively formed in the vicinity of the edge of the substrate G where the film thickness tends to be disturbed. The uniformity of the resist film thickness can be maintained high by controlling the dry state of the substrate and controlling the resist film thickness of the substrate G on the periphery of the substrate.
[0055]
Also in the present embodiment, a hole 51 that functions as an air introduction hole is formed in the lid body 47 that closes the outer cup 44 as in the previous embodiment. It becomes possible to control the airflow between the cup 44 and the rotating cup 43, whereby a desired airflow can be reliably formed on the outer portion of the substrate G in the rotating cup 43, and from the rotating cup 43. It is also possible to prevent the mist discharged from being scattered.
[0056]
Next, another example of the attachment / detachment mechanism will be described with reference to FIG. In this example, the attachment / detachment mechanism 60 ′ has an annular shape attached via a locking member 91 having a flange shape attached to the support member 48 and a plurality of lifting arms 92 extending vertically above the outer lid 47. The connecting member 93 is formed, and an elevating mechanism 94 composed of, for example, a cylinder mechanism that elevates and lowers the connecting member 93 together with the outer lid 47 via the elevating arm 92. A plurality of recesses 95 are formed on the lower surface of the locking member 91, while a plurality of protrusions 96 are provided on the upper surface of the coupling member 93 at positions corresponding to the recesses 95. When the outer lid 47 is raised, the locking member 91 locks the coupling member 93 in a state where the projection 96 is fitted in the recess 95, and the lid body 46 can be raised together with the outer lid 47. Yes. Even with such a structure, the lid 46 and the outer lid 47 can be attached and detached in the same manner as in the above embodiment.
[0057]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various deformation | transformation is possible. For example, although the hole 51 is formed in the central portion as the air introduction hole of the outer lid 47, the present invention is not limited to this, and the hole 51 may be formed in the outer portion of the outer lid 47 as shown in FIG. As shown in FIG. 8, holes 51 may be formed at a plurality of positions in the radial direction of the outer lid 47. In short, the hole 51 may be formed at an appropriate position of the lid 47 so that a desired airflow is formed. Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where this invention was applied to the resist application | coating / development processing system, it is not restricted to this. Furthermore, although the case where a resist solution is applied has been described, other application solutions can be applied as long as a coating film is formed by spin coating. Furthermore, in the above-described embodiment, the case where an LCD substrate is used as the substrate to be processed has been described.
[0058]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, since the air introduction port is provided so as to control the airflow between the processing container and the outer container, the airflow in the processing container is caused by the airflow between them. It is possible to prevent the mist discharged from the processing container from being scattered.
[0059]
In addition, airflow forming means for forming an airflow directed from the upper side to the lower side of the outer peripheral side of the substrate is provided in the processing container, and the second lid body has air so that the airflow formed by the airflow forming means can be controlled. Since the introduction port is provided, a desired airflow can be reliably formed on the outer portion of the substrate in the processing container, and mist can be prevented from scattering from the processing container.
[0060]
Further, when the second lid is raised, the first lid and the second lid are coupled with the coupling member being latched by the latching member, and these are simultaneously raised by the lifting means. Then, these lids are removed, and the first lid and the second lid are lowered together at the time of mounting, and the first member is separated from the coupling member and the locking member. Since the lid body and the second lid body are mounted, these two lid bodies can be lifted and lowered together and can be brought into and out of contact with each other, so that these lid bodies can be lifted and lowered with a simple structure. At the same time, it can be attached and detached efficiently and easily. Moreover, since they are separated when they are mounted, it is possible to easily rotate only the processing container.
[0061]
Furthermore, after supplying and applying the coating liquid to the substrate, the first and second lids are mounted so as to substantially close the openings of the processing container and the outer container, respectively, and the first lid and the second lid are mounted. After separating the lid and rotating the processing container together with the substrate to adjust the film thickness of the coating film, the first lid and the second lid are opened together, so that the rotating processing container The first and second lids can be easily attached to and detached from the outer container that does not rotate.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a resist coating / developing system for an LCD substrate on which a resist coating processing unit according to an embodiment of the present invention is mounted.
FIG. 2 is a cross-sectional view showing a state in which a lid and an outer lid of a resist coating unit according to an embodiment of the present invention are mounted.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state where a lid and an outer lid of a resist coating unit according to an embodiment of the present invention are removed.
FIG. 4 is a flowchart for explaining a processing operation of a resist coating unit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a resist coating unit according to another embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating another example of an attachment / detachment mechanism.
FIG. 7 is a sectional view partially showing a resist coating unit according to still another embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a sectional view partially showing a resist coating unit according to still another embodiment of the present invention.
[Explanation of symbols]
22... Resist coating processing unit (coating processing apparatus)
40 ... Spin chuck (rotating means)
43 ... Rotating cup (processing container)
44 ... Outer cup (outer container)
45 ... Drain cup (outermost layer container)
46: Lid (first lid)
47. Outer lid (second lid)
49 ... Rectifying plate (airflow forming means)
50 ... Outflow hole
51 ... hole (air inlet)
60, 60 '... Detachable mechanism
62, 91 ... locking member
64, 95 ... recess
66, 93 ... coupling member
67, 96 ... projection
69, 94 ... Elevating mechanism
73. Resist liquid discharge nozzle
74 ... Solvent discharge nozzle
80 ... Air inflow hole (air flow forming means)
G ... Board

Claims (8)

基板の表面上に塗布液を塗布する塗布処理装置であって、
上部に開口を有し、底部の外周側部分に孔を有する、基板を収容する処理容器と、
前記処理容器内の基板上に塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルと、
前記処理容器と基板とを回転させる回転手段と、
前記処理容器の開口を略閉止する第1の蓋体と、
前記処理容器の外側に固定的に設けられ、上部に開口を有する外側容器と、
前記外側容器の開口を略閉止する第2の蓋体と、
前記外側容器の外側に設けられた最外層容器と、を具備し、
前記第2の蓋体には、前記処理容器と前記外側容器との間の気流を制御可能なように空気導入口が設けられ、
前記外側容器の外側上部には、前記最外層容器に通じる孔が設けられ、前記空気導入口から導入された空気の一部を、前記孔を介して前記最外層容器に排気し、残りを前記外側容器の下方に導くように構成されていることを特徴とする塗布処理装置。
A coating processing apparatus for applying a coating liquid on the surface of a substrate,
A processing container containing a substrate, having an opening at the top and a hole at the outer peripheral side portion of the bottom;
A coating liquid discharge nozzle for discharging a coating liquid onto a substrate in the processing container;
Rotating means for rotating the processing container and the substrate;
A first lid for substantially closing the opening of the processing container;
An outer container fixedly provided on the outside of the processing container and having an opening in the upper part;
A second lid for substantially closing the opening of the outer container;
An outermost layer container provided outside the outer container,
The second lid is provided with an air inlet so that the airflow between the processing container and the outer container can be controlled,
A hole communicating with the outermost layer container is provided in an outer upper portion of the outer container, and a part of the air introduced from the air introduction port is exhausted to the outermost layer container through the hole, and the rest is A coating treatment apparatus configured to be guided below an outer container.
基板の表面上に塗布液を塗布する塗布処理装置であって、
上部に開口を有し、底部の外周側部分に孔を有する、基板を収容する処理容器と、
前記処理容器内の基板上に塗布液を吐出する塗布液吐出ノズルと、
前記処理容器と基板とを回転させる回転手段と、
前記処理容器の開口を略閉止する第1の蓋体と、
前記処理容器の外側に固定的に設けられ、上部に開口を有する外側容器と、
前記外側容器の開口を略閉止する第2の蓋体と、
前記外側容器の外側に設けられた最外層容器と、
前記処理容器内に基板の外周側の上方から下方に向かう気流を形成する気流形成手段と、を具備し、
前記第2の蓋体には、前記気流形成手段によって形成される気流を制御可能なように空気導入口が設けられ、
前記外側容器の外側上部には、前記最外層容器に通じる孔が設けられ、前記空気導入口から導入された空気の一部を、前記孔を介して前記最外層容器に排気し、残りを前記外側容器の下方に導くように構成されていることを特徴とする塗布処理装置。
A coating processing apparatus for applying a coating liquid on the surface of a substrate,
A processing container containing a substrate, having an opening at the top and a hole at the outer peripheral side portion of the bottom;
A coating liquid discharge nozzle for discharging a coating liquid onto a substrate in the processing container;
Rotating means for rotating the processing container and the substrate;
A first lid for substantially closing the opening of the processing container;
An outer container fixedly provided on the outside of the processing container and having an opening in the upper part;
A second lid for substantially closing the opening of the outer container;
An outermost layer container provided outside the outer container;
An airflow forming means for forming an airflow directed from the upper side to the lower side on the outer peripheral side of the substrate in the processing container,
The second lid is provided with an air inlet so that the airflow formed by the airflow forming means can be controlled,
A hole communicating with the outermost layer container is provided in an outer upper portion of the outer container, and a part of the air introduced from the air introduction port is exhausted to the outermost layer container through the hole, and the rest is A coating treatment apparatus configured to be guided below an outer container.
前記気流形成手段は、前記第1の蓋体の下に設けられ、流入した空気を外側へ導く整流板を有することを特徴とする請求項2に記載の塗布処理装置。  The coating apparatus according to claim 2, wherein the airflow forming unit includes a rectifying plate that is provided under the first lid and guides the air that has flowed in to the outside. 前記気流形成手段は、前記第1の蓋体の外周部分に設けられた空気流入孔を有することを特徴とする請求項2に記載の塗布処理装置。  The said airflow formation means has an air inflow hole provided in the outer peripheral part of the said 1st cover body, The coating processing apparatus of Claim 2 characterized by the above-mentioned. 前記第1の蓋体と前記第2の蓋体とを一括して着脱可能な着脱機構を、さらに具備し、
前記着脱機構は、
前記第2の蓋体に設けられた結合部材と、
前記第1の蓋体に設けられ、前記第2の蓋体の結合部材を係止する係止部材と、
前記第2の蓋体を昇降させる昇降手段とを有し、
前記昇降手段により前記第2の蓋体を上昇させた際に、前記結合部材が係止部材に係止された状態で前記第1の蓋体と前記第2の蓋体とが結合され、前記昇降手段によりこれらが同時に上昇されてこれら蓋体が取り外され、
前記第1および第2の蓋体を装着する際には、これらが一括して下降されるとともに、前記結合部材と前記係止部材とが離間した状態で前記第1の蓋体および前記第2の蓋体が装着されることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の塗布処理装置。
An attachment / detachment mechanism capable of attaching and detaching the first lid and the second lid in a lump;
The attachment / detachment mechanism is
A coupling member provided on the second lid;
A locking member provided on the first lid for locking the coupling member of the second lid;
Elevating means for elevating and lowering the second lid,
When the second lid is raised by the elevating means, the first lid and the second lid are coupled in a state where the coupling member is locked to the locking member, These are lifted simultaneously by the lifting means to remove these lids,
When mounting the first and second lids, they are lowered all at once, and the first lid and the second are in a state where the coupling member and the locking member are separated from each other. The lid | cover body is mounted | worn, The coating processing apparatus of any one of Claims 1-4 characterized by the above-mentioned.
前記結合部には突起が形成され、前記係止部材には凹所が形成され、前記第2の蓋体が上昇した際に、前記突起が前記凹所に挿入されることにより位置合わせされることを特徴とする請求項5に記載の塗布処理装置。  A projection is formed on the coupling portion, a recess is formed on the locking member, and the projection is inserted into the recess when the second lid body is raised. The coating treatment apparatus according to claim 5. 基板に溶剤を吐出する溶剤吐出ノズルをさらに具備し、塗布液の供給に先立って基板に溶剤を吐出することを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の塗布処理装置。  The coating processing apparatus according to claim 1, further comprising a solvent discharge nozzle that discharges the solvent onto the substrate, wherein the solvent is discharged onto the substrate prior to the supply of the coating liquid. . 前記第1の蓋体の中央に、中央に孔が設けられた支持部材を、さらに備え、
前記第2の蓋体が、この第2の蓋体の中央で前記支持部材を挿通し、
空気が、前記支持部材の孔を介して前記処理容器内に導入されるように構成されていることを特徴とする請求項3に記載の塗布処理装置。
In the center of the first lid, further comprising a support member provided with a hole in the center,
The second lid is inserted through the support member at the center of the second lid,
The coating processing apparatus according to claim 3 , wherein the air is introduced into the processing container through a hole of the support member.
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