JP3452795B2 - Coating film forming method and coating device - Google Patents
Coating film forming method and coating deviceInfo
- Publication number
- JP3452795B2 JP3452795B2 JP13097098A JP13097098A JP3452795B2 JP 3452795 B2 JP3452795 B2 JP 3452795B2 JP 13097098 A JP13097098 A JP 13097098A JP 13097098 A JP13097098 A JP 13097098A JP 3452795 B2 JP3452795 B2 JP 3452795B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- coating
- coating liquid
- spraying
- solvent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Coating Apparatus (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置(L
CD)基板や半導体基板の表面上に、例えばレジスト膜
のような溶剤による液状塗布膜を形成するための塗布膜
形成方法および塗布装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device (L
The present invention relates to a coating film forming method and a coating device for forming a liquid coating film with a solvent such as a resist film on the surface of a (CD) substrate or a semiconductor substrate.
【0002】[0002]
【従来の技術】例えば、LCD基板の製造においては、
LCD基板にフォトレジストを塗布し、フォトリソグラ
フィ技術を用いて回路パターンをフォトレジストに転写
し、これを現像処理することにより回路が形成される。
この工程には、塗布液を基板の表面上に供給する塗布膜
形成工程が含まれる。2. Description of the Related Art For example, in manufacturing an LCD substrate,
A circuit is formed by applying a photoresist to the LCD substrate, transferring the circuit pattern to the photoresist using a photolithography technique, and developing the photoresist.
This step includes a coating film forming step of supplying the coating liquid onto the surface of the substrate.
【0003】この場合のレジスト膜の形成方法として
は、例えば、矩形のLCD基板を処理容器内に配設され
た載置台上に載置固定し、処理容器の開口部を蓋体で閉
塞して、処理容器と載置台とを共に回転させ、この基板
上面の中心部に溶剤と感光性樹脂とからなるレジスト液
(塗布液)を滴下し、このレジスト液を基板の回転力と
遠心力とにより基板中心部から周縁部に向けて渦巻状に
拡散させて塗布する方法が知られている。As a method of forming the resist film in this case, for example, a rectangular LCD substrate is mounted and fixed on a mounting table arranged in the processing container, and the opening of the processing container is closed with a lid. , The processing container and the mounting table are rotated together, a resist solution (coating solution) consisting of a solvent and a photosensitive resin is dropped on the central portion of the upper surface of the substrate, and the resist solution is applied by the rotational force and centrifugal force of the substrate A method is known in which a substrate is diffused in a spiral shape from the central portion toward the peripheral portion and applied.
【0004】この方法においては、基板の回転させて基
板中心部から周縁部に向けてレジスト液を拡散させて基
板上にレジスト液を塗布し、中心位置よりも周速が著し
く大きい外周部から相当量のレジスト液を処理容器に向
って飛散させている。この場合、滴下するレジスト液の
うち基板面に塗布される量は10〜20%であり、残り
の80〜90%は処理容器に向って飛散させている。In this method, the substrate is rotated to diffuse the resist liquid from the center of the substrate toward the peripheral portion to apply the resist liquid onto the substrate, and the peripheral speed is significantly higher than the central position. A certain amount of resist liquid is scattered toward the processing container. In this case, the amount of the dropped resist solution applied to the substrate surface is 10 to 20%, and the remaining 80 to 90% is scattered toward the processing container.
【0005】特に、矩形であるLCD基板にレジスト液
を塗布する場合には、基板全面に塗り残しなくレジスト
液を塗布するために、非常に多量のレジスト液を無駄に
することになる。近年、LCD基板の大型化が進んでお
り、従来の方法では、レジスト液の無駄がさらに多くな
る。In particular, when a resist solution is applied to a rectangular LCD substrate, a very large amount of resist solution is wasted because the resist solution is applied to the entire surface of the substrate without being left uncoated. In recent years, the size of LCD substrates has been increasing, and the conventional method causes more waste of resist liquid.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】本発明はかかる点に鑑
みてなされたものであり、使用する塗布液の量を極力少
なくすることができる塗布膜形成方法および塗布装置を
提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a coating film forming method and a coating apparatus capable of minimizing the amount of coating liquid used. To do.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の第1の観点によれば、処理容器内に収容さ
れた基板の表面上に塗布液を供給して塗布膜を形成する
塗布膜形成方法であって、前記基板を回転させない状態
で、塗布液噴霧手段を基板面に沿って走査させながら基
板の表面上に塗布液を噴霧することにより基板表面の全
面に塗布液を塗布し、塗布膜を形成する工程と、前記基
板を回転させて、前記塗布膜の膜厚を整える工程とを具
備することを特徴とする塗布膜形成方法が提供される。In order to solve the above problems, according to a first aspect of the present invention, a coating liquid is supplied onto the surface of a substrate contained in a processing container to form a coating film. a coating film forming method of, in a state of not rotating the substrate, the entire substrate surface by spraying a coating solution a coating solution spray means onto the surface of the substrate while scanning along the substrate surface
There is provided a coating film forming method comprising: a step of applying a coating liquid to a surface to form a coating film; and a step of rotating the substrate to adjust the film thickness of the coating film.
【0008】上記構成によれば、基板に塗布液を塗布す
る際に、基板を回転させない状態で塗布液を噴霧する手
段を移動させて、基板の表面上に塗布液を噴霧して基板
全面に塗布液を塗布するので、従来のように基板を回転
させることなく基板にまんべんなく塗布液を供給するこ
とができ、基板回転の遠心力により塗布液を飛散させる
ことを防止することができる。したがって、基板全面に
塗布するのに必要な塗布液の量を少なくすることがで
き、しかも周囲に飛散する無駄な塗布液も少なくするこ
とができるので、塗布液の使用量を極めて少なくするこ
とができる。特に、基板のサイズが大きくなると、その
周縁部における回転による遠心力が大きくなり、塗布液
が飛散する確率が高くなるので、基板を回転させない状
態で塗布液を噴霧することは省塗布液の観点から有効で
ある。また、塗布液を噴霧する手段を移動させて、基板
の表面上に塗布液を噴霧して基板全面に塗布液を塗布す
ることにより、基板のサイズが大きくても十分に塗布液
を基板全面に塗布することができる。 According to the above construction, when the coating liquid is applied to the substrate, the coating liquid is sprayed without rotating the substrate.
Move the step and spray the coating liquid on the surface of the substrate
Since applying the coating solution to the entire surface, can be supplied evenly coating liquid Rukoto without substrate was as in the conventional substrate rotating <br/>, prevent to scatter the coating liquid by centrifugal force of the substrate rotating can do. Therefore, it is possible to reduce the amount of the coating liquid required to coat the entire surface of the substrate, and also to reduce the wasteful coating liquid scattered around, so that the amount of the coating liquid used can be extremely reduced. it can. In particular, as the size of the substrate increases, the centrifugal force due to the rotation at the peripheral edge increases, and the probability that the coating liquid will scatter increases, so spraying the coating liquid without rotating the substrate is a viewpoint of saving coating liquid. Is effective from. Also, by moving the means for spraying the coating liquid, the substrate
Spray the coating liquid on the surface of the
As a result, even if the size of the substrate is large
Can be applied to the entire surface of the substrate.
【0009】上記塗布方法において、前記塗布膜を形成
する工程に先立って基板の表面上に溶剤を塗布する工程
をさらに有することができる。 In the above coating method, the coating film is formed.
The step of applying a solvent on the surface of the substrate prior to the step of
Can be further included.
【0010】このように、塗布液の供給に先立って基板
の表面上に溶剤を塗布することにより、基板表面上に塗
布液を噴霧したときに塗布液が溶剤を介して基板表面に
拡散する。したがって、基板全面に対してむらなく塗布
液を塗布することができ、一層塗布液量を少なくするこ
とができる。溶剤を塗布する際に溶剤を噴霧することに
より、少ない溶剤量でも基板表面に均一に溶剤を塗布す
ることができる。 [0010] Thus, by applying the solvent onto the surface of the substrate prior to the supply of the coating liquid, the coating liquid is spread on the substrate surface through a solvent when sprayed a coating liquid on the substrate surface. Therefore, the coating liquid can be uniformly applied to the entire surface of the substrate, and the amount of the coating liquid can be further reduced. To spray the solvent when applying it
Even if a small amount of solvent is used, the solvent can be applied uniformly to the substrate surface.
You can
【0011】また、前記基板表面に塗布膜を形成した
後、処理容器を蓋体で閉塞して、前記基板を前記処理容
器内に封入する工程を具備し、その後膜厚を整える工程
を実施することにより、膜厚の均一性を良好にすること
ができる。この場合に、基板とともに処理容器も回転さ
せることにより、回転中に処理容器内を密閉状態とする
ことが容易となる。 Further, after forming a coating film on the surface of the substrate, there is provided a step of closing the processing container with a lid to seal the substrate in the processing container, and then performing a step of adjusting the film thickness. As a result, the uniformity of the film thickness can be improved. In this case, the processing vessel is rotated together with the substrate.
To keep the inside of the processing container sealed during rotation.
It will be easy.
【0012】本発明の第2の観点によれば、処理容器内
に収容された基板の表面上に塗布液を供給して塗布膜を
形成する塗布装置であって、開口部を有するカップ形状
をなし、基板を包囲する処理容器と、基板の表面を水平
にした状態で前記基板を支持する支持手段と、前記支持
手段を回転させることにより前記基板を回転させる基板
回転手段と、前記基板の表面に塗布液を噴霧する塗布液
噴霧手段と、前記塗布液噴霧手段を基板面に沿って走査
させる走査手段と、前記塗布液噴霧手段を覆う塗布液カ
バーと、前記塗布液カバーの内側を洗浄する洗浄手段と
を具備することを特徴とする塗布装置が提供される。According to a second aspect of the present invention, there is provided a coating device for forming a coating film by supplying a coating liquid onto the surface of a substrate housed in a processing container, which has a cup shape having an opening. None, a processing container surrounding the substrate, a supporting means for supporting the substrate in a state where the surface of the substrate is horizontal, a substrate rotating means for rotating the substrate by rotating the supporting means, and a surface of the substrate Coating liquid spraying means for spraying the coating liquid onto the substrate, and scanning the coating liquid spraying means along the substrate surface
And causing the scanning means, the coating liquid mosquito covering the coating liquid spraying unit
There is provided a coating device comprising a bar and a cleaning means for cleaning the inside of the coating liquid cover .
【0013】このように、塗布液を噴霧して基板に供給
するので、塗布液が基板全体に行き渡りやすく、基板全
面に塗布するのに必要な塗布液の量を少なくすることが
でき、しかも周囲に飛散する無駄な塗布液も少なくする
ことができ、塗布液の使用量を極めて少なくすることが
できる。また、基板の表面に塗布液を噴霧する塗布液噴
霧手段を基板面に沿って走査する走査手段を備えている
ので、基板のサイズが大きくても十分に塗布液を基板全
面に塗布することができる。さらに、塗布液噴霧手段を
塗布液カバーで覆うことにより、塗布液が周囲に飛散す
ることを防止することができ、カバー内側を洗浄する洗
浄手段を設けることにより、乾燥した塗布液がパーティ
クルとなることを防止することができる。 [0013] Thus, since supplied to the substrate by spraying a coating solution, the coating solution tends spreads across the substrate, the substrate total
To reduce the amount of coating liquid required to coat the surface
Can be done, and less wasted coating liquid is scattered around
It is possible to reduce the amount of coating liquid used
it can. Further, since the coating liquid spraying means for spraying the coating liquid on the surface of the substrate is provided with the scanning means for scanning along the surface of the substrate, it is possible to sufficiently coat the coating liquid on the entire surface of the substrate even if the size of the substrate is large. it can. Furthermore, the application liquid spraying means
By covering with the coating liquid cover, the coating liquid will be scattered around.
The inside of the cover can be washed to prevent
By providing a cleaning means, the dried coating liquid can
It is possible to prevent it from becoming a loop.
【0014】本発明の第3の観点によれば、処理容器内
に収容された基板の表面上に塗布液を供給して塗布膜を
形成する塗布装置であって、開口部を有するカップ形状
をなし、基板を包囲する処理容器と、基板の表面を水平
にした状態で前記基板を支持する支持手段と、前記基板
の表面に塗布液を噴霧する塗布液噴霧手段と、前記塗布
液噴霧手段を基板面に沿って走査させる走査手段とを具
備し、前記走査手段により前記塗布液噴霧手段を走査さ
せながら前記塗布液噴霧手段から、停止した状態の前記
基板の全面に塗布液を供給することを特徴とする塗布装
置が提供される。According to a third aspect of the present invention, there is provided a coating apparatus for supplying a coating liquid onto a surface of a substrate housed in a processing container to form a coating film, which has a cup shape having an opening. None, a processing container surrounding the substrate, a supporting means for supporting the substrate in a state where the surface of the substrate is horizontal, a coating solution spraying means for spraying a coating solution onto the surface of the substrate, and the coating solution spraying means. A scanning unit configured to scan along the surface of the substrate, and supplying the coating liquid from the coating liquid spraying unit to the entire surface of the substrate in a stopped state while scanning the coating liquid spraying unit by the scanning unit. A featured applicator is provided.
【0015】このように、塗布液を噴霧して基板に供給
するので、第2の観点と同様、塗布液の使用量を極めて
少なくすることができ、また、基板の表面に塗布液を噴
霧する塗布液噴霧手段を基板面に沿って走査する走査手
段を備え、走査手段により前記塗布液噴霧手段を走査さ
せながら前記塗布液噴霧手段から、停止した状態の前記
基板の全面に塗布液を供給するので、基板のサイズが大
きくても十分に塗布液を基板全面に塗布することができ
る。As described above, since the coating liquid is sprayed and supplied to the substrate, the amount of the coating liquid used can be extremely reduced as in the second aspect, and the coating liquid is sprayed on the surface of the substrate. A scanning unit that scans the coating liquid spraying unit along the substrate surface is provided, and the coating liquid is supplied from the coating liquid spraying unit to the entire surface of the substrate in a stopped state while scanning the coating liquid spraying unit by the scanning unit. Therefore, the coating liquid can be sufficiently applied to the entire surface of the substrate even if the size of the substrate is large.
【0016】上記第3の観点おいて、前記支持手段を回
転させることによりその上の基板を回転させる基板回転
手段をさらに具備し、基板に塗布液を噴霧した後にこの
基板回転手段により基板を回転させることにより塗布膜
の膜厚が整えられるように構成することができる。 In the third aspect, the support means is rotated.
Rotate the substrate on it by rotating it Rotate substrate
Means is further provided, and after spraying the coating liquid on the substrate,
Coating film by rotating the substrate by the substrate rotating means
The film thickness can be adjusted.
【0017】上記第2および第3の観点において、前記
塗布液噴霧手段は、塗布液を噴霧する塗布液ノズルと、
前記塗布液ノズルを支持するシャフトとを有し、前記走
査手段は、前記シャフトを回転および進退させるように
構成することができる。また、塗布液を噴霧する複数の
塗布液ノズルと、前記複数の塗布液ノズルを支持する支
持部材とを有し、前記走査手段は、前記支持部材を直線
的に移動させるように構成することもできる。この場合
に、前記複数の塗布液ノズルを個々にまたは一体的に旋
回する手段をさらに具備してもよい。 In the above second and third aspects,
The coating liquid spraying means includes a coating liquid nozzle for spraying the coating liquid,
A shaft supporting the coating liquid nozzle,
The inspection means to rotate and advance and retract the shaft.
Can be configured. In addition, a plurality of spraying application liquids
A coating liquid nozzle and a support for supporting the plurality of coating liquid nozzles.
And a holding member, wherein the scanning means linearly moves the support member.
It can also be configured to be moved manually. in this case
In addition, the plurality of coating liquid nozzles may be rotated individually or integrally.
You may further provide the means to rotate.
【0018】上記第2および第3の観点において、前記
基板の表面に塗布液の溶剤を供給す る溶剤供給手段をさ
らに具備してもよい。これにより、基板表面上に溶剤を
介して塗布液を拡散させて塗布することができ、基板全
面に対してむらなく塗布液を塗布することができ、塗布
液の使用量を一層低減することができる。In the above second and third aspects,
Solvent supply means that to supply solvent for the coating liquid to the surface of the substrate
You may equip them. As a result, the coating liquid can be applied to the surface of the substrate by diffusing it through the solvent, the coating liquid can be evenly applied to the entire surface of the substrate, and the amount of the coating liquid used can be further reduced. it can.
【0019】また、前記溶剤供給手段を基板面に沿って
走査する走査手段をさらに具備してもよい。さらに、前
記溶剤供給手段が、溶剤を噴霧して供給してもよい。こ
れにより、少ない溶剤量でも基板表面に均一に溶剤を塗
布することができる。この場合に、前記溶剤供給手段を
覆う溶剤カバーをさらに具備するにより、噴霧した溶剤
が周囲に飛散することを防止することができる。溶剤カ
バーに排気部を設けカバー内を排気することもできる。
また、溶剤カバーが、排気部と溶剤供給手段とを隔てる
隔壁を有することにより、溶剤供給手段から出された溶
剤の蒸気が周囲に拡散することをより一層効果的に防止
することができる。Further , the solvent supply means is provided along the substrate surface.
You may further comprise the scanning means to scan. Further, the solvent supply means may spray and supply the solvent . This
Thereby , the solvent can be uniformly applied to the substrate surface even with a small amount of solvent. In this case, it is possible to prevent the sprayed solvent from scattering around by further including a solvent cover that covers the solvent supply means. The solvent cover may be provided with an exhaust unit to exhaust the inside of the cover.
Further, since the solvent cover has the partition wall that separates the exhaust part and the solvent supply means, it is possible to more effectively prevent the vapor of the solvent discharged from the solvent supply means from diffusing to the surroundings.
【0020】上記第2および第3の観点の装置におい
て、処理容器を閉塞する蓋体を有することにより、基板
表面に塗布膜を形成した後、処理容器を蓋体で閉塞し
て、前記基板を前記処理容器内に封入することができる
ので、膜厚の均一性を良好にすることができる。さらに
また、基板とともに処理容器も回転させることにより、
回転中に処理容器内を密閉状態とすることが容易とな
る。In the devices of the second and third aspects,
By having a lid for closing the processing container, the coating film can be formed on the surface of the substrate , and then the processing container can be closed with the lid to seal the substrate in the processing container. The thickness uniformity can be improved. Furthermore, by rotating the processing container together with the substrate,
It becomes easy to make the inside of the processing container hermetically closed during rotation.
【0021】また、上記第3の観点の装置において塗布
液噴霧手段を塗布液カバーで覆うことにより、塗布液が
周囲に飛散することを防止することができる。この場合
に、カバー内側を洗浄する洗浄手段を設けることによ
り、乾燥した塗布液がパーティクルとなることを防止す
ることができる。また、塗布液カバーに排気部を設けカ
バー内を排気することもできる。また、塗布液カバー
が、排気部と溶剤供給手段とを隔てる隔壁を有すること
により、塗布液噴霧手段から噴霧された塗布液が周囲に
拡散することをより一層効果的に防止することができ
る。Further, by covering the coating liquid spraying means with the coating liquid cover in the apparatus of the third aspect, it is possible to prevent the coating liquid from scattering around. In this case, by providing a cleaning means for cleaning the inside of the cover, it is possible to prevent the dried coating liquid from becoming particles. Further, the coating liquid cover may be provided with an exhaust portion to exhaust the inside of the cover. Further, since the coating liquid cover has the partition wall that separates the exhaust unit and the solvent supply unit, the coating liquid sprayed from the coating liquid spraying unit can be more effectively prevented from diffusing to the surroundings.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施の形態について詳細に説明する。図1は、本発
明が適用されるLCD基板の塗布・現像処理システムを
示す平面図である。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a plan view showing an LCD substrate coating / developing system to which the present invention is applied.
【0023】この塗布・現像処理システムは、複数の基
板Gを収容するカセットCを載置するカセットステーシ
ョン1と、基板Gにレジスト塗布および現像を含む一連
の処理を施すための複数の処理ユニットを備えた処理部
2と、露光装置(図示せず)との間で基板Gの受け渡し
を行うためのインターフェース部3とを備えており、処
理部2の両端にそれぞれカセットステーション2および
インターフェース部3が配置されている。This coating / developing system includes a cassette station 1 for mounting a cassette C containing a plurality of substrates G and a plurality of processing units for performing a series of processes including resist coating and development on the substrates G. The processing unit 2 is provided with an interface unit 3 for transferring the substrate G to and from an exposure apparatus (not shown). The cassette station 2 and the interface unit 3 are provided at both ends of the processing unit 2, respectively. It is arranged.
【0024】カセットステーション1は、カセットCと
処理部2との間でLCD基板の搬送を行うための搬送機
構10を備えている。そして、カセットステーション1
においてカセットCの搬入出が行われる。また、搬送機
構10はカセットの配列方向に沿って設けられた搬送路
10a上を移動可能な搬送アーム11を備え、この搬送
アーム11によりカセットCと処理部2との間で基板G
の搬送が行われる。The cassette station 1 is equipped with a carrying mechanism 10 for carrying the LCD substrate between the cassette C and the processing section 2. And cassette station 1
In, the loading and unloading of the cassette C is performed. Further, the transfer mechanism 10 includes a transfer arm 11 that can move on a transfer path 10a provided along the arrangement direction of the cassettes, and the transfer arm 11 allows the substrate G to be transferred between the cassette C and the processing section 2.
Is carried.
【0025】処理部2は、前段部2aと中段部2bと後
段部2cとに分かれており、それぞれ中央に搬送路1
2、13、14を有し、これら搬送路の両側に各処理ユ
ニットが配設されている。そして、これらの間には中継
部15、16が設けられている。The processing section 2 is divided into a front section 2a, a middle section 2b and a rear section 2c, and the transport path 1 is located at the center of each section.
2, 13, and 14, and the processing units are arranged on both sides of these conveyance paths. Further, relay units 15 and 16 are provided between them.
【0026】前段部2aは、搬送路12に沿って移動可
能な主搬送装置17を備えており、搬送路12の一方側
には、2つの洗浄ユニット(SCR)21a、21bが
配置されており、搬送路12の他方側には紫外線照射・
冷却ユニット(UV/COL)25、それぞれ上下2段
に積層されてなる加熱処理ユニット(HP)26および
冷却ユニット(COL)27が配置されている。The front stage portion 2a is provided with a main carrier device 17 which can move along the transport path 12, and two cleaning units (SCR) 21a and 21b are arranged on one side of the transport path 12. , UV irradiation on the other side of the transport path 12
A cooling unit (UV / COL) 25, a heat treatment unit (HP) 26 and a cooling unit (COL) 27, which are vertically stacked in two stages, are arranged.
【0027】また、中段部2bは、搬送路13に沿って
移動可能な主搬送装置18を備えており、搬送路13の
一方側には、レジスト塗布処理ユニット(CT)22お
よび基板Gの周縁部のレジストを除去する周縁レジスト
除去ユニット(ER)23が一体的に設けられており、
搬送路13の他方側には、二段積層されてなる加熱処理
ユニット(HP)28、加熱処理ユニットと冷却処理ユ
ニットが上下に積層されてなる加熱処理・冷却ユニット
(HP/COL)29、およびアドヒージョン処理ユニ
ットと冷却ユニットとが上下に積層されてなるアドヒー
ジョン処理・冷却ユニット(AD/COL)30が配置
されている。Further, the middle section 2b is provided with a main transfer device 18 which is movable along the transfer path 13, and on one side of the transfer path 13, the resist coating processing unit (CT) 22 and the peripheral edge of the substrate G are provided. A peripheral edge resist removal unit (ER) 23 that removes the resist in a certain portion is integrally provided,
On the other side of the transport path 13, a heat treatment unit (HP) 28 formed by stacking in two stages, a heat treatment / cooling unit (HP / COL) 29 formed by stacking a heat treatment unit and a cooling treatment unit vertically, and An adhesion processing / cooling unit (AD / COL) 30 in which an adhesion processing unit and a cooling unit are vertically stacked is arranged.
【0028】さらに、後段部2cは、搬送路14に沿っ
て移動可能な主搬送装置19を備えており、搬送路14
の一方側には、3つの現像処理ユニット24a、24
b、24cが配置されており、搬送路14の他方側には
上下2段に積層されてなる加熱処理ユニット31、およ
び加熱処理ユニットと冷却処理ユニットが上下に積層さ
れてなる2つの加熱処理・冷却ユニット(HP/CO
L)32、33が配置されている。Further, the rear stage portion 2c is provided with a main transfer device 19 which can move along the transfer path 14,
On one side, three development processing units 24a, 24
b and 24c are arranged, on the other side of the transport path 14, a heat treatment unit 31 which is vertically stacked in two layers, and two heat treatment units in which a heat treatment unit and a cooling treatment unit are vertically stacked. Cooling unit (HP / CO
L) 32 and 33 are arranged.
【0029】なお、処理部2は、搬送路を挟んで一方の
側に洗浄処理ユニット21a、レジスト処理ユニット2
2、現像処理ユニット24aのようなスピナー系ユニッ
トのみを配置しており、他方の側に加熱処理ユニットや
冷却処理ユニット等の熱系処理ユニットのみを配置する
構造となっている。The processing section 2 has a cleaning processing unit 21a and a resist processing unit 2 on one side across the transport path.
2. Only the spinner system unit such as the development processing unit 24a is arranged, and only the thermal system processing unit such as the heat processing unit or the cooling processing unit is arranged on the other side.
【0030】また、中継部15、16のスピナー系ユニ
ット配置側の部分には、薬液供給ユニット34が配置さ
れており、さらに主搬送装置の出し入れが可能なスペー
ス35が設けられている。Further, a chemical solution supply unit 34 is arranged at the portion of the relay portions 15 and 16 on the side where the spinner system unit is arranged, and further a space 35 is provided in which the main carrier can be taken in and out.
【0031】上記主搬送装置17,18,19は、それ
ぞれ水平面内の2方向のX軸駆動機構、Y軸駆動機構、
および垂直方向のZ軸駆動機構を備えており、さらにZ
軸を中心に回転する回転駆動機構を備えている。The main transfer devices 17, 18, and 19 are respectively provided with an X-axis drive mechanism, a Y-axis drive mechanism in two directions in a horizontal plane,
And a vertical Z-axis drive mechanism.
It has a rotary drive mechanism that rotates about an axis.
【0032】上記主搬送装置17は、搬送機構10の搬
送アーム11との間で基板Gの受け渡しを行うととも
に、前段部2aの各処理ユニットに対する基板Gの搬入
・搬出、さらには中継部15との間で基板Gの受け渡し
を行う機能を有している。また、主搬送装置18は中継
部15との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、中段
部2bの各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、
さらには中継部16との間の基板Gの受け渡しを行う機
能を有している。さらに、主搬送装置19は中継部16
との間で基板Gの受け渡しを行うとともに、後段部2c
の各処理ユニットに対する基板Gの搬入・搬出、さらに
はインターフェース部3との間の基板Gの受け渡しを行
う機能を有している。なお、中継部15、16は冷却プ
レートとしても機能する。[0032] The main transfer device 17, transportable of the transport mechanism 10
It has a function of transferring the substrate G to and from the transfer arm 11, carrying in and out the substrate G to and from each processing unit of the pre-stage section 2a, and further transferring the substrate G to and from the relay section 15. There is. Further, the main transfer device 18 transfers the substrate G to and from the relay unit 15, and carries in / out the substrate G from / to each processing unit of the middle stage section 2b.
Further, it has a function of transferring the substrate G to and from the relay section 16. Further, the main carrier 19 is connected to the relay unit 16
The substrate G is transferred to and from the rear stage part 2c.
The substrate G has a function of loading and unloading the substrate G with respect to each processing unit, and further, delivering the substrate G to and from the interface unit 3. The relay portions 15 and 16 also function as cooling plates.
【0033】インターフェース部3は、処理部2との間
で基板を受け渡しする際に一時的に基板を保持するエク
ステンション36と、さらにその両側に設けられた、バ
ッファーカセットを配置する2つのバッファーステージ
37と、これらと露光装置(図示せず)との間の基板G
の搬入出を行う搬送機構38とを備えている。搬送機構
38はエクステンション36およびバッファステージ3
7の配列方向に沿って設けられた搬送路38a上を移動
可能な搬送アーム39を備え、この搬送アーム39によ
り処理部2と露光装置との間で基板Gの搬送が行われ
る。The interface section 3 has an extension 36 for temporarily holding the substrate when transferring the substrate to and from the processing section 2, and two buffer stages 37 provided on both sides of the extension 36 for arranging a buffer cassette. And the substrate G between these and the exposure apparatus (not shown)
And a transport mechanism 38 for loading and unloading the same. The transport mechanism 38 includes the extension 36 and the buffer stage 3.
A transfer arm 39 that is movable along a transfer path 38a provided along the arrangement direction of 7 is provided, and the transfer arm 39 transfers the substrate G between the processing unit 2 and the exposure apparatus.
【0034】このように各処理ユニットを集約して一体
化することにより、省スペース化および処理の効率化を
図ることができる。By thus integrating and integrating the processing units, it is possible to save space and improve processing efficiency.
【0035】このように構成される塗布・現像処理シス
テムにおいては、カセットC内の基板Gが、処理部2に
搬送され、処理部2では、まず、前段部2aの紫外線照
射・冷却ユニット(UV/COL)25で表面改質・洗
浄処理およびその後の冷却処理の後、洗浄ユニット(S
CR)21a,21bでスクラバー洗浄が施され、加熱
処理ユニット(HP)26の一つで加熱乾燥された後、
冷却ユニット(COL)27の一つで冷却される。In the coating / developing processing system having such a structure, the substrate G in the cassette C is conveyed to the processing section 2, and in the processing section 2, first, the ultraviolet irradiation / cooling unit (UV) of the pre-stage section 2a is first. / COL) 25 after surface modification / cleaning treatment and subsequent cooling treatment , cleaning unit (S
After scrubber cleaning with CR) 21a and 21b and heat drying with one of the heat treatment units (HP) 26,
It is cooled by one of the cooling units (COL) 27.
【0036】その後、基板Gは中段部2bに搬送され、
レジストの定着性を高めるために、ユニット30の上段
のアドヒージョン処理ユニット(AD)にて疎水化処理
(HMDS処理)され、冷却ユニット(COL)で冷却
後、レジスト塗布ユニット(CT)22でレジストが塗
布され、周縁レジスト除去ユニット(ER)23で基板
Gの周縁の余分なレジストが除去される。その後、基板
Gは、中段部2bの中の加熱処理ユニット(HP)の一
つでプリベーク処理され、ユニット29または30の下
段の冷却ユニット(COL)で冷却される。After that, the substrate G is transferred to the middle stage portion 2b,
In order to improve the fixability of the resist, the upper part of the unit 30 is subjected to a hydrophobic treatment (HMDS treatment) in an adhesion treatment unit (AD), cooled in a cooling unit (COL), and then resist-coated in a resist coating unit (CT) 22. After being applied, the peripheral resist removing unit (ER) 23 removes excess resist on the peripheral edge of the substrate G. After that, the substrate G is pre-baked by one of the heat treatment units (HP) in the middle section 2b and cooled by the lower cooling unit (COL) of the unit 29 or 30.
【0037】その後、基板Gは中継部16から主搬送装
置19にてインターフェース部3を介して露光装置に搬
送されてそこで所定のパターンが露光される。そして、
基板Gは再びインターフェース部3を介して搬入され、
現像処理ユニット(DEV)24a,24b,24cの
いずれかで現像処理され、所定の回路パターンが形成さ
れる。現像処理された基板Gは、後段部2cのいずれか
の加熱処理ユニット(HP)にてポストベーク処理が施
された後、冷却ユニット(COL)にて冷却され、主搬
送装置19,18,17および搬送機構10によってカ
セットステーション1上の所定のカセットに収容され
る。After that, the substrate G is transferred from the relay section 16 to the exposure apparatus via the interface section 3 by the main transfer apparatus 19 and the predetermined pattern is exposed there. And
The board G is carried in again via the interface unit 3,
Development is performed by any of the development processing units (DEV) 24a, 24b, 24c, and a predetermined circuit pattern is formed. The developed substrate G is post-baked by any one of the heat treatment units (HP) of the rear stage section 2c and then cooled by the cooling unit (COL), and the main transfer devices 19, 18, 17 are processed. And, it is accommodated in a predetermined cassette on the cassette station 1 by the transport mechanism 10.
【0038】次に、本発明の塗布膜形成方法および塗布
装置が適用されるレジスト塗布ユニット25について説
明する。Next, the resist coating unit 25 to which the coating film forming method and coating apparatus of the present invention are applied will be described.
【0039】図2は、本発明の一実施形態に係る塗布装
置である塗布ユニット25を示すものであり、LCD基
板Gを水平状態に真空吸着によって回転可能に保持する
スピンチャック40と、このスピンチャック40の上部
および外周部を包囲する処理室41を有する上方部が開
口したカップ状の回転可能な処理容器(回転カップ)4
2と、回転カップ42の開口部42aを閉止可能に、か
つ回転カップ42に対して着脱可能に設けられた蓋体4
6と、この蓋体46を閉止位置と待機位置との間で移動
させるロボットアーム50と、回転カップ42の外周側
を取囲むように配置された中空リング状のドレンカップ
44と、スピンチャック40と回転カップ42とを回転
させる駆動モータ51と、スピンチャック40の上方位
置に移動可能に設けられた噴頭90と、この噴頭90を
把持して噴頭待機位置と基板上方位置間で移動させる移
動機構100とを備えている。噴頭90は、塗布液の溶
剤(溶媒)A(例えばシンナー)を供給する溶剤供給ノ
ズル70と塗布液であるレジスト液Bを供給する塗布液
供給ノズル80とを近接させて一体に取り付けた構造を
有している。FIG. 2 shows a coating unit 25, which is a coating apparatus according to an embodiment of the present invention. The spin chuck 40 holds the LCD substrate G in a horizontal state rotatably by vacuum suction, and the spin chuck 40. A cup-shaped rotatable processing container (rotating cup) 4 having a processing chamber 41 surrounding the upper and outer peripheral portions of the chuck 40 and having an open upper portion.
2 and a lid body 4 which is provided so as to be capable of closing the opening 42a of the rotary cup 42 and detachably attached to the rotary cup 42.
6, a robot arm 50 for moving the lid 46 between a closed position and a standby position, a hollow ring-shaped drain cup 44 arranged so as to surround the outer peripheral side of the rotary cup 42, and the spin chuck 40. A drive motor 51 for rotating the rotary cup 42 and the rotary cup 42, a nozzle head 90 movably provided above the spin chuck 40, and a moving mechanism for holding the nozzle head 90 and moving it between the nozzle head standby position and the substrate upper position. 100 and. The spray head 90 has a structure in which a solvent supply nozzle 70 for supplying a solvent (solvent) A (for example, thinner) of a coating liquid and a coating liquid supply nozzle 80 for supplying a resist liquid B which is a coating liquid are closely attached to each other. Have
【0040】ノズル70,80からの溶剤供給路および
レジスト液供給路のそれぞれには、中を流れる溶剤Aお
よびレジスト液Bを予め設定された温度(例えば23
℃)にするための温度調整液Dを循環供給する温度調整
機構91が設けられている。The solvent A and the resist solution B flowing through the nozzles 70 and 80 are supplied to the solvent supply path and the resist solution supply path, respectively.
A temperature adjusting mechanism 91 is provided to circulate and supply the temperature adjusting liquid D for controlling the temperature.
【0041】上記スピンチャック40は、例えばポリエ
ーテルエーテルケトン(PEEK)のような耐熱性合成
樹脂で形成され、予め設定されたプログラムに基いて駆
動し、回転速度を可変できる駆動モータ51の駆動によ
って回転される回転軸52を介して水平方向に回転(自
転)可能であり、また回転軸52に連結される昇降シリ
ンダ53の駆動によって上下方向に移動可能である。こ
の場合、回転軸52はスプライン軸受57に上下方向に
摺動可能に連結されている。スプライン軸受57は、固
定カラー54の内周面にベアリング55aを介して回転
可能に装着される回転内筒56aの内周面に嵌着されて
いる。スプライン軸受57には従動プーリ58aが装着
されており、従動プーリ58aには駆動モータ51の駆
動軸51aに装着された駆動プーリ51bとの間にベル
ト59aが掛け渡されている。したがって、駆動モータ
51の駆動によってベルト59aを介して回転軸52が
回転してスピンチャック40が回転される。また、回転
軸52の下部側は図示しない筒体内に配設されており、
この筒体内において回転軸52がバキュームシール部6
0を介して昇降シリンダ53に連結され、昇降シリンダ
53の駆動によって回転軸52が上下方向に移動可能と
なっており、これによりスピンチャックが上下方向に移
動する。The spin chuck 40 is formed of a heat-resistant synthetic resin such as polyetheretherketone (PEEK), and is driven by a drive motor 51 which can be driven according to a preset program and whose rotation speed can be varied. It can rotate (rotate) in the horizontal direction via a rotating shaft 52 that is rotated, and can move in the vertical direction by driving an elevating cylinder 53 connected to the rotating shaft 52. In this case, the rotary shaft 52 is connected to the spline bearing 57 so as to be vertically slidable. The spline bearing 57 is fitted to the inner peripheral surface of a rotating inner cylinder 56a that is rotatably mounted on the inner peripheral surface of the fixed collar 54 via a bearing 55a. A driven pulley 58a is attached to the spline bearing 57, and a belt 59a is stretched between the driven pulley 58a and the drive pulley 51b attached to the drive shaft 51a of the drive motor 51. Therefore, the rotation shaft 52 is rotated by the drive of the drive motor 51 via the belt 59a, and the spin chuck 40 is rotated. Further, the lower side of the rotary shaft 52 is disposed in a cylinder body (not shown),
In this cylinder, the rotary shaft 52 is attached to the vacuum seal portion 6
The rotary shaft 52 is connected to the lifting cylinder 53 via 0, and the rotating shaft 52 is movable in the vertical direction by driving the lifting cylinder 53, whereby the spin chuck moves in the vertical direction.
【0042】上記固定カラー54の外周面にベアリング
55bを介して装着される回転外筒56bの上端部には
連結筒61が固定されており、上記回転カップ42はこ
の連結筒61を介して取り付けられている。回転カップ
42の底部42bとスピンチャック40の下面との間に
は、シール機能を有するベアリング52が介在されてお
り、回転カップ42がスピンチャック40に対して相対
的に回転可能である。そして、回転外筒56bには従動
プーリ58bが装着されており、この従動プーリ58b
と上記駆動モータ51に装着された駆動プーリ51bに
はベルト59bが掛け渡されている。したがって、この
ベルト59bによって駆動モータ51からの駆動が回転
カップ42に伝達されて回転カップ42が回転される。A connecting cylinder 61 is fixed to the upper end of a rotating outer cylinder 56b mounted on the outer peripheral surface of the fixed collar 54 via a bearing 55b, and the rotary cup 42 is attached via the connecting cylinder 61. Has been. A bearing 52 having a sealing function is interposed between the bottom portion 42b of the rotary cup 42 and the lower surface of the spin chuck 40, and the rotary cup 42 is rotatable relative to the spin chuck 40. A driven pulley 58b is attached to the rotating outer cylinder 56b.
A belt 59b is wound around the drive pulley 51b mounted on the drive motor 51. Therefore, the drive from the drive motor 51 is transmitted to the rotary cup 42 by the belt 59b, and the rotary cup 42 is rotated.
【0043】この場合、従動プーリ58bの直径は上記
回転軸52に装着された従動プーリ58aの直径と同一
に形成され、同一の駆動モータ51にベルト59a,5
9bが掛け渡されているので、回転カップ42とスピン
チャック40とは同一速度で回転される。In this case, the diameter of the driven pulley 58b is formed to be the same as the diameter of the driven pulley 58a mounted on the rotary shaft 52, and the belts 59a, 5a and 5b are attached to the same drive motor 51.
Since 9b is bridged, the rotating cup 42 and the spin chuck 40 are rotated at the same speed.
【0044】回転カップ42は上方に向かって縮径され
た側壁42cを有しており、この側壁42c面はテーパ
面42eとなっている。この側壁42cの上端には、内
方側に向って内向きフランジ42dが形成されている。
回転カップ42の内向きフランジ42dには周方向に適
宜間隔をおいて給気孔64が穿設され、側壁42cの下
部側の周方向の適宜位置には排気孔65が穿設されてい
る。このように給気孔64と排気孔65を設けることに
より、回転カップ42が回転する際に、給気孔64から
処理室41内に流れる空気が排気孔65から外部に流れ
るので、回転カップ42の回転時に処理室41内が負圧
になるのを防止することができ、処理後に回転カップ4
2から蓋体46を開放する際に大きな力を要することな
く、蓋体46を容易に開放することができる。The rotary cup 42 has a side wall 42c whose diameter is reduced upward, and the surface of the side wall 42c is a tapered surface 42e. An inward flange 42d is formed on the upper end of the side wall 42c toward the inner side.
The inward flange 42d of the rotary cup 42 is provided with air supply holes 64 at appropriate intervals in the circumferential direction, and exhaust holes 65 are provided at appropriate positions in the circumferential direction on the lower side of the side wall 42c. By providing the air supply hole 64 and the exhaust hole 65 in this manner, when the rotary cup 42 rotates, the air flowing from the air supply hole 64 into the processing chamber 41 flows from the exhaust hole 65 to the outside. At times, it is possible to prevent the pressure inside the processing chamber 41 from becoming negative, and after processing, the rotation cup 4
It is possible to easily open the lid body 46 without requiring a large force when opening the lid body 46 from 2.
【0045】一方、上記ドレンカップ44の内部には環
状通路44aが設けられており、その外周壁の適宜箇所
(例えば周方向の4箇所)には排気口66が設けられて
いて、この排気口66は排気装置(図示せず)に連結さ
れている。またドレンカップ44の内周側上方部には、
環状通路44aおよび排気口66に連通する放射状の排
気通路67が形成されている。このようにドレンカップ
44の外周部に排気口66を設けると共に、ドレンカッ
プ44の内周側上方部に排気通路67を形成することに
より、回転処理時に処理室41内で遠心力により飛散し
排気孔64を通ってドレンカップ44内に流れ込んだミ
ストが回転カップ42の上部側へ舞い上がることが防止
され、ミストを排気口66から外部に排出させることが
できる。On the other hand, an annular passage 44a is provided inside the drain cup 44, and exhaust ports 66 are provided at appropriate locations (for example, four locations in the circumferential direction) on the outer peripheral wall thereof. 66 is connected to an exhaust device (not shown). Further, in the upper portion on the inner peripheral side of the drain cup 44,
A radial exhaust passage 67 communicating with the annular passage 44a and the exhaust port 66 is formed. As described above, the exhaust port 66 is provided on the outer peripheral portion of the drain cup 44, and the exhaust passage 67 is formed on the upper inner peripheral side portion of the drain cup 44. The mist that has flowed into the drain cup 44 through the hole 64 is prevented from rising to the upper side of the rotary cup 42, and the mist can be discharged from the exhaust port 66 to the outside.
【0046】上記環状通路44aは、ドレンカップ44
の底部から起立する外側壁44bとドレンカップ44の
天井部から垂下する内側壁44cとで区画され、これに
より迂回路が形成されるため排気が均一に行うことが可
能である。また、外側壁44bと内側壁44cとの間に
位置する底部44dには周方向沿って適宜間隔をおいて
ドレン孔44eが設けられている。The annular passage 44a has a drain cup 44.
The outer wall 44b standing up from the bottom of the drain cup 44 and the inner wall 44c hanging from the ceiling of the drain cup 44 define a detour path, so that exhaust can be performed uniformly. Further, drain holes 44e are provided in the bottom portion 44d located between the outer side wall 44b and the inner side wall 44c at appropriate intervals along the circumferential direction.
【0047】また、ドレンカップ44の内周面には、上
記回転カップ42のテーパ面42eに対応するテーパを
有するテーパ面44fが形成されており、回転カップ4
2のテーパ面42eとドレンカップ44のテーパ面44
fとの間に微少隙間が形成されている。このように下方
に向って拡開するテーパ状の微少隙間を形成することに
よって、回転カップ42の回転時に微少隙間の上下の間
で生じる周速差から圧力差が誘発され、この圧力差が回
転カップ42の外周部の微少隙間の上側から下側に向う
気流を助長させてドレンカップ44内の排気ミストが上
記微少隙間を通って回転カップ42外へ飛散するのを防
止することができる。A taper surface 44f having a taper corresponding to the taper surface 42e of the rotary cup 42 is formed on the inner peripheral surface of the drain cup 44.
2 of the tapered surface 42e and the tapered surface 44 of the drain cup 44
A minute gap is formed with f. By forming the tapered minute gap that expands downwards in this way, a pressure difference is induced from the peripheral speed difference that occurs between the upper and lower sides of the minute gap when the rotary cup 42 rotates, and this pressure difference rotates. It is possible to promote the air flow from the upper side to the lower side of the minute gap in the outer peripheral portion of the cup 42 to prevent the exhaust mist in the drain cup 44 from scattering through the minute gap to the outside of the rotary cup 42.
【0048】また、微小隙間を通って上方に向い回転カ
ップ42外へ飛散しようとするミストがあっても、排気
通路67、ドレンカップ44内の環状通路44aを通っ
て、排気口66から排出される。ここでは、ドレンカッ
プ44が回転カップ42の外周側を取囲むように配置さ
れる場合について説明したが、ドレンカップ44は必ず
しも回転カップ42の外周側に配置される必要はなく、
回転カップ42の下部側に配置してもよい。Further, even if there is a mist that is directed upward through the minute gap and is scattered outside the rotary cup 42, it is discharged from the exhaust port 66 through the exhaust passage 67 and the annular passage 44a in the drain cup 44. It Here, the case where the drain cup 44 is arranged so as to surround the outer peripheral side of the rotary cup 42 has been described, but the drain cup 44 does not necessarily have to be arranged on the outer peripheral side of the rotary cup 42.
It may be arranged on the lower side of the rotating cup 42.
【0049】上記蓋体46には、その上面中央に上方に
向かって伸びる支持部材49が設けられており、その上
端には支持部材49よりも大径の頭部48が設けられて
いる。蓋体46を開閉する場合には、蓋体46の上面に
支持部材49を介して設けられた頭部48の下に、図2
の二点鎖線で示すように、ロボットアーム50を挿入
し、頭部48に設けられた係止溝にロボットアーム50
から突出する係止ピン50aを係合させた後、ロボット
アーム50を上下動させる。A supporting member 49 extending upward is provided at the center of the upper surface of the lid 46, and a head portion 48 having a diameter larger than that of the supporting member 49 is provided at the upper end thereof. When the lid 46 is opened and closed, the cover 46 is placed under the head 48 provided on the upper surface of the lid 46 via the support member 49.
As shown by the chain double-dashed line, the robot arm 50 is inserted, and the robot arm 50 is inserted into the locking groove provided on the head 48.
After engaging the locking pin 50a protruding from the robot arm 50, the robot arm 50 is moved up and down.
【0050】なお、上記蓋体46と基板Gとの中間位置
に、中心部分で蓋体46に取着された基板G以上の大き
さの多孔板等にて形成されるバッフル板(図示せず)を
配置することも可能である。このようにバッフル板を配
置することにより、塗布処理時にさらに確実に処理室4
1内の乱流の発生を防止することができる。A baffle plate (not shown) formed of a perforated plate having a size larger than that of the substrate G attached to the lid 46 at the central portion is provided at an intermediate position between the lid 46 and the substrate G. ) Can also be arranged. By arranging the baffle plate in this way, the processing chamber 4 can be more reliably operated during the coating process.
It is possible to prevent the generation of turbulent flow in the nozzle 1.
【0051】上記溶剤供給ノズル70は、溶剤供給路で
ある溶剤供給チューブ71と開閉バルブ72を介して溶
剤タンク73に接続されており、溶剤タンク73内に窒
素(N2)ガスを供給することによって、その加圧力に
より溶剤タンク73内の溶剤Aが基板G上に供給され
る。この場合にN2ガスの加圧力を制御することによっ
て溶剤Aの流量が制御され、所定時間中、所定量の溶剤
Aが供給される。なお、溶剤供給ノズルは、溶剤を噴霧
するようにしてもよい。The solvent supply nozzle 70 is connected to a solvent tank 73 via a solvent supply tube 71 which is a solvent supply path and an opening / closing valve 72, and supplies nitrogen (N 2 ) gas into the solvent tank 73. Thus, the solvent A in the solvent tank 73 is supplied onto the substrate G by the applied pressure. In this case, the flow rate of the solvent A is controlled by controlling the pressure of the N 2 gas, and a predetermined amount of the solvent A is supplied for a predetermined time. The solvent supply nozzle may spray the solvent.
【0052】レジスト液供給ノズル80は、レジスト液
を噴霧できるように複数の微孔で構成されており、レジ
スト液供給路であるレジスト液供給チューブ81を介し
てレジスト液Bを収容するレジスト液タンク82(塗布
液供給源)に連通されている。このチューブ81には、
サックバックバルブ83、エアーオペレーションバルブ
84、レジスト液B中の気泡を分離除去するための気泡
除去機構85、フィルタ86およびベローズポンプ87
が順次設けられている。このベローズポンプ87は、駆
動部により伸縮可能となっており、この伸縮が制御され
ることにより所定量のレジスト液Bがレジスト液供給ノ
ズル80を介して基板Gの表面に噴霧されることが可能
となっている。このベローズポンプ87により従来のレ
ジスト液Bの供給量より少量のレジスト液Bの供給量制
御を可能としている。この駆動部は、一端がベローズポ
ンプの一端に取り付けられたネジ88aと、このネジに
螺合されるナット88bとからなるボールネジ機構88
と、このナット88bを回転させることによりネジ88
aを直線動させるステッピングモータ89とにより構成
されている。The resist solution supply nozzle 80 is composed of a plurality of fine holes so that the resist solution can be sprayed, and a resist solution tank for containing the resist solution B via a resist solution supply tube 81 which is a resist solution supply passage. 82 (coating liquid supply source). In this tube 81,
A suck back valve 83, an air operation valve 84, a bubble removing mechanism 85 for separating and removing bubbles in the resist solution B, a filter 86 and a bellows pump 87.
Are provided in sequence. The bellows pump 87 can be expanded and contracted by a driving unit, and by controlling the expansion and contraction, a predetermined amount of resist liquid B can be sprayed onto the surface of the substrate G through the resist liquid supply nozzle 80. Has become. The bellows pump 87 makes it possible to control the supply amount of the resist liquid B which is smaller than the conventional supply amount of the resist liquid B. This drive unit has a ball screw mechanism 88 including a screw 88a having one end attached to one end of a bellows pump and a nut 88b screwed to the screw 88a.
And by rotating this nut 88b, the screw 88
and a stepping motor 89 that linearly moves a.
【0053】上記レジスト液供給系に設けられたサック
バックバルブ83は、レジスト液供給ノズル80からの
レジスト液吐出後、レジスト液供給ノズル80先端内壁
部に表面張力によって残留しているレジスト液Bをレジ
スト液供給ノズル80内に引き戻し、これによって残留
レジスト液の固化を阻止するためのものである。この場
合、少量のレジスト液Bを吐出するレジスト液供給ノズ
ル80において、通常通りサックバックバルブ83の負
圧作用によってレジスト液Bをレジスト液供給ノズル8
0内に引き戻すと、ノズル80先端付近の空気も一緒に
ノズル80内に巻き込まれてしまい、ノズル80先端に
付着したレジスト液Bの残渣がノズル80内に入り、ノ
ズル80の目詰まりを起こすばかりか、乾燥したレジス
トがパーティクルとなり基板Gが汚染されると共に、歩
留まりの低下をきたすという虞れがある。After sucking the resist solution from the resist solution supply nozzle 80, the suck back valve 83 provided in the resist solution supply system removes the resist solution B remaining on the inner wall of the tip of the resist solution supply nozzle 80 due to surface tension. This is to return the resist liquid to the inside of the resist liquid supply nozzle 80, thereby preventing solidification of the residual resist liquid. In this case, in the resist liquid supply nozzle 80 that discharges a small amount of the resist liquid B, the resist liquid B is normally supplied by the negative pressure of the suck back valve 83.
When it is pulled back to 0, the air near the tip of the nozzle 80 is also entrained in the nozzle 80, and the residue of the resist solution B adhering to the tip of the nozzle 80 enters the nozzle 80, causing clogging of the nozzle 80. In addition, the dried resist may become particles to contaminate the substrate G and reduce the yield.
【0054】噴頭90は移動機構100により移動可能
に設けられている。具体的には、図3に示すように、移
動機構100は、噴頭90を支持する支持部材101
と、この支持部材101を回転可能および進退可能に支
持する回転シャフト102と、支持部材101を駆動す
る駆動手段(図示せず)とから主に構成されている。こ
の構成により、支持部材101に設けられた噴頭90
は、回転シャフト102を回転軸として図中の矢印E方
向に回転することおよび図中の矢印F方向に進退可能と
なっており、噴頭90を図中の矢印E,F方向に移動さ
せながら溶剤供給ノズル70やレジスト供給ノズル80
からレジスト液や溶剤を基板Gに対して供給するように
なっている。The jet nozzle 90 is movably provided by a moving mechanism 100. Specifically, as shown in FIG. 3, the moving mechanism 100 includes a support member 101 that supports the jet nozzle 90.
And a rotation shaft 102 that rotatably and advancingly supports the support member 101, and drive means (not shown) that drives the support member 101. With this configuration, the spout 90 provided on the support member 101
Is capable of rotating in the direction of arrow E in the drawing with the rotating shaft 102 as the axis of rotation and advancing and retreating in the direction of arrow F in the drawing. While moving the nozzle 90 in the directions of arrows E and F in the drawing, the solvent Supply nozzle 70 and resist supply nozzle 80
The resist solution and solvent are supplied to the substrate G from the above.
【0055】上記構成の塗布装置により基板G表面にレ
ジスト液を塗布する第1の方法について説明する。ま
ず、回転カップ42の蓋体46が開放され、基板Gが図
示しない搬送アームによって静止したスピンチャック4
0上に搬送され、基板Gが真空吸着によってスピンチャ
ック40に保持される。A first method of applying the resist solution onto the surface of the substrate G by the application device having the above structure will be described. First, the spin chuck 4 in which the lid 46 of the rotary cup 42 is opened and the substrate G is stopped by a transfer arm (not shown)
0, and the substrate G is held by the spin chuck 40 by vacuum suction.
【0056】この状態で、移動機構100により回転シ
ャフト102を軸として支持部材101を図3における
矢印E方向に回転させて噴頭90の位置を移動させなが
ら、基板Gを回転させない状態でレジスト供給ノズル8
0からレジスト液を基板Gに向けて噴霧する。さらに、
レジスト液を噴霧した状態で支持部材101を矢印F方
向に進退させて基板G全面に対してむらなくレジスト液
を塗布して基板G全面にレジスト膜を形成する。In this state, the moving mechanism 100 rotates the support member 101 about the rotary shaft 102 in the direction of arrow E in FIG. 3 to move the position of the jet nozzle 90, while the substrate G is not rotated. 8
The resist solution is sprayed onto the substrate G from 0. further,
While the resist solution is sprayed, the supporting member 101 is moved back and forth in the direction of arrow F, and the resist solution is uniformly applied to the entire surface of the substrate G to form a resist film on the entire surface of the substrate G.
【0057】次いで、レジスト液の供給を停止した後、
レジスト液供給ノズル80を待機位置に移動し、ロボッ
トアーム50によって蓋体46を回転カップ42の上方
開口部42aに閉止して回転カップ42内に基板Gを封
入する。Then, after stopping the supply of the resist solution,
The resist solution supply nozzle 80 is moved to the standby position, and the robot arm 50 closes the lid 46 in the upper opening 42a of the rotary cup 42 to seal the substrate G in the rotary cup 42.
【0058】このようにして回転カップ42の開口部4
2aを蓋体46で閉止し密閉した状態で、スピンチャッ
ク40および回転カップ42を回転(例えば、回転数:
1350rpm,加速度:500rpm/sec)させ
てレジスト膜の膜厚を整える。In this way, the opening 4 of the rotary cup 42
The spin chuck 40 and the rotary cup 42 are rotated (for example , the number of rotations: 2a) with the lid 46 closed and sealed.
1350 rpm, acceleration: 500 rpm / sec) to adjust the film thickness of the resist film.
【0059】塗布処理が終了した後、スピンチャック4
0および回転カップ42の回転を停止した後、ロボット
アーム50によって蓋体46を待機位置に移動させて、
図示しない搬送アームによって基板Gを取出して、塗布
作業を完了する。After the coating process is completed, the spin chuck 4
0 and the rotation of the rotary cup 42 are stopped, the lid 46 is moved to the standby position by the robot arm 50,
The substrate G is taken out by a transfer arm (not shown), and the coating operation is completed.
【0060】次に、上記構成の塗布装置により基板G表
面にレジスト液を塗布する第2の方法について説明す
る。まず、回転カップ42の蓋体46が開放され、基板
Gが図示しない搬送アームによって静止したスピンチャ
ック40上に搬送され、基板Gが真空吸着によってスピ
ンチャック40に保持される。Next, the second method for applying the resist solution to the surface of the substrate G by the application device having the above-mentioned structure will be described. First, the lid 46 of the rotary cup 42 is opened, the substrate G is transferred onto the stationary spin chuck 40 by a transfer arm (not shown), and the substrate G is held on the spin chuck 40 by vacuum suction.
【0061】この状態で、スピンチャック40を回転駆
動させ、基板Gを処理時の定常回転より低速に回転(例
えば、回転数:100〜600rpm,加速度:300
〜500rpm/sec)させると同時に、回転カップ
42を同じ速度で回転させる。この回転中に、移動機構
100によって支持部材101に把持されて基板Gの中
心部上方に移動された噴頭90の溶剤供給ノズル70か
ら基板表面に塗布液の溶剤Aとして例えばエチルセロソ
ルブアセテート(ECA)を例えば26.7cc供給
(例えば滴下)する。また、基板Gを回転させずに静止
した状態で溶剤Aを滴下し、その後回転しても良い。In this state, the spin chuck 40 is rotationally driven to rotate the substrate G at a speed lower than the steady rotation during processing (for example , rotation speed: 100 to 600 rpm, acceleration: 300).
(About 500 rpm / sec), the rotary cup 42 is rotated at the same speed. During this rotation, for example, ethyl cellosolve acetate (ECA) is used as the solvent A of the coating liquid on the surface of the substrate from the solvent supply nozzle 70 of the jet nozzle 90 which is gripped by the supporting member 101 by the moving mechanism 100 and moved above the center of the substrate G. Is supplied (for example, dropped) by 26.7 cc. Further, the solvent A may be dropped while the substrate G is stationary without being rotated, and then the substrate G may be rotated.
【0062】このようにして溶剤Aを供給した後、スピ
ンチャック40および回転カップ42の回転数を上記低
速回転数に維持した状態で溶剤Aの供給を停止し、その
後スピンチャック40および回転カップ42の回転を停
止する。After the solvent A is supplied in this manner, the supply of the solvent A is stopped while the rotation speeds of the spin chuck 40 and the rotary cup 42 are maintained at the low speed rotation speed, and then the spin chuck 40 and the rotary cup 42. Stop rotating.
【0063】この状態で、移動機構100により回転シ
ャフト102を軸として支持部材101を図3における
矢印E方向に回転させて噴頭90の位置を移動させなが
ら、レジスト供給ノズル80からレジスト液Bを基板G
に向けて噴霧する。さらに、レジスト液Bを噴霧した状
態で支持部材101を矢印F方向に進退させて基板G全
面に対してむらなくレジスト液を塗布して基板G全面に
レジスト膜を形成する。In this state, the moving mechanism 100 rotates the supporting member 101 about the rotary shaft 102 in the direction of arrow E in FIG. 3 to move the position of the jet nozzle 90, while the resist supply nozzle 80 transfers the resist solution B onto the substrate. G
Spray towards. Further, while the resist solution B is being sprayed, the supporting member 101 is moved back and forth in the direction of arrow F, and the resist solution is uniformly applied to the entire surface of the substrate G to form a resist film on the entire surface of the substrate G.
【0064】このようにしてレジスト液Bを噴霧した
後、レジスト液Bの供給を停止すると同時に、スピンチ
ャック40および回転カップ42の回転を停止する。そ
の後、レジスト液供給を停止し、レジスト液供給ノズル
80を待機位置に移動した後、ロボットアーム50によ
って蓋体46を回転カップ42の上方開口部42aに閉
止して回転カップ42内に基板Gを封入する。After spraying the resist solution B in this way, the supply of the resist solution B is stopped and at the same time, the rotation of the spin chuck 40 and the rotary cup 42 is stopped. After that, the supply of the resist solution is stopped, the resist solution supply nozzle 80 is moved to the standby position, and then the lid 46 is closed by the robot arm 50 at the upper opening 42 a of the rotary cup 42 to place the substrate G in the rotary cup 42. Encapsulate.
【0065】このようにして回転カップ42の開口部4
2aを蓋体46で閉止し密閉した状態で、スピンチャッ
ク40および回転カップ42を回転(例えば、回転数:
1350rpm,加速度:500rpm/sec)させ
てレジスト膜の膜厚を整える。In this way, the opening 4 of the rotary cup 42
The spin chuck 40 and the rotary cup 42 are rotated (for example , the number of rotations: 2a) with the lid 46 closed and sealed.
1350 rpm, acceleration: 500 rpm / sec) to adjust the film thickness of the resist film.
【0066】塗布処理が終了した後、スピンチャック4
0および回転カップ42の回転を停止した後、ロボット
アーム50によって蓋体46を待機位置に移動させて、
図示しない搬送アームによって基板Gを取出して、塗布
作業を完了する。After the coating process is completed, the spin chuck 4
0 and the rotation of the rotary cup 42 are stopped, the lid 46 is moved to the standby position by the robot arm 50,
The substrate G is taken out by a transfer arm (not shown), and the coating operation is completed.
【0067】以上のように、レジスト液を噴霧すること
により、基板Gにまんべんなくレジスト液を供給するこ
とができるので、基板Gの全面に塗布するのに必要なレ
ジスト液の量を少なくすることができる。As described above, by spraying the resist liquid, the resist liquid can be evenly supplied to the substrate G, so that the amount of the resist liquid required for coating the entire surface of the substrate G can be reduced. it can.
【0068】また、基板Gの表面にレジスト液を噴霧す
る際に基板Gを回転させない状態にすることにより、基
板Gの回転の遠心力によりレジスト液が飛散することを
防止することができるので、無駄なレジスト量を少なく
することができ、レジストの使用量を極めて少なくする
ことができる。Further, since the substrate G is not rotated when the resist liquid is sprayed on the surface of the substrate G, it is possible to prevent the resist liquid from scattering due to the centrifugal force of the rotation of the substrate G. The amount of wasted resist can be reduced, and the amount of resist used can be extremely reduced.
【0069】さらに、レジスト液の噴霧に先立って、基
板Gの表面に溶剤Aを塗布することにより、レジスト液
を噴霧したときに、レジスト液が溶剤Aを介して基板G
の表面に拡散するので、基板Gの全面に対してレジスト
液をむらなく塗布することができる。Furthermore, by coating the surface of the substrate G with the solvent A prior to spraying the resist solution, when the resist solution is sprayed, the resist solution is transferred through the solvent A to the substrate G.
Since it diffuses to the surface of the substrate, the resist solution can be evenly applied to the entire surface of the substrate G.
【0070】さらにまた、上記のように基板Gを回転さ
せない状態で支持部材101を移動させて、基板Gの表
面上にレジスト液を噴霧することにより、基板のサイズ
が大きくても十分に塗布液を基板全面に塗布することが
できるようになる。また、基板Gを回転させる際に回転
カップ42も回転させる機構を採用したので、回転中に
処理容器内を密閉状態とすることが容易となる。Furthermore, by moving the supporting member 101 without rotating the substrate G and spraying the resist solution onto the surface of the substrate G as described above, the coating solution can be sufficiently applied even if the size of the substrate is large. Can be applied to the entire surface of the substrate. Further, since the mechanism that rotates the rotating cup 42 when the substrate G is rotated is adopted, it becomes easy to keep the inside of the processing container in a sealed state during the rotation.
【0071】次に、レジスト液供給ノズルの他の例につ
いて説明する。ここでは、複数のレジスト液供給ノズル
80’を設け、各ノズルからレジスト液を噴霧する場合
について説明する。図4に示すように、回転カップ42
を挟むように矢印H方向に移動可能な一対のシャフト1
05が設けられており、4個のレジスト液供給ノズル8
0’が両シャフト105間に掛け渡された支持部材10
4に支持されている。各ノズル80’へのレジスト液の
供給はレジスト液供給チューブ81’を介して行われ
る。回転カップ42の外側には各シャフト105をガイ
ドする一対のガイド部材106が設けられている。各ガ
イド部材106の外側にはそれぞれ一対のプーリー10
9が取り付けられており、プーリー109にはベルト1
07が巻き掛けられている。ベルト107にはシャフト
105が取り付けられており、また一方のプーリーはモ
ーター108の軸に取り付けられている。したがって、
モーター108の回転によって、一対のシャフト105
は、それぞれガイドレール106にガイドされつつ、ベ
ルト駆動により矢印H方向に沿って移動され、これにと
もなって支持部材104に支持されたレジスト液供給ノ
ズル80’が矢印H方向に沿って移動可能となってい
る。そして、レジスト液供給ノズル80’は、レジスト
液を塗布しない場合には、基板Gから離隔した2点鎖線
で示す退避位置に移動される。Next, another example of the resist solution supply nozzle will be described. Here, a case where a plurality of resist solution supply nozzles 80 'are provided and the resist solution is sprayed from each nozzle will be described. As shown in FIG. 4, the rotating cup 42
A pair of shafts 1 that can move in the direction of arrow H so as to sandwich
05 is provided, and four resist solution supply nozzles 8 are provided.
Support member 10 in which 0'is hung between both shafts 105
It is supported by 4. The resist solution is supplied to each nozzle 80 'through a resist solution supply tube 81'. A pair of guide members 106 that guide the shafts 105 are provided outside the rotary cup 42. A pair of pulleys 10 is provided outside each guide member 106.
9 is attached, and the belt 1 is attached to the pulley 109.
07 is wrapped around. A shaft 105 is attached to the belt 107, and one pulley is attached to a shaft of a motor 108. Therefore,
By the rotation of the motor 108, the pair of shafts 105
Are moved along the arrow H direction by the belt drive while being guided by the guide rails 106, respectively, so that the resist solution supply nozzle 80 ′ supported by the supporting member 104 can be moved along the arrow H direction. Has become. Then, the resist solution supply nozzle 80 ′ is moved to a retracted position shown by a two-dot chain line separated from the substrate G when the resist solution is not applied.
【0072】この場合においては、複数のレジスト供給
ノズル80’を設けたので、効率良く基板G全面にレジ
スト液を噴霧することができる。なお、レジスト供給ノ
ズル80’を個々にまたは一体的に旋回する構成にして
レジスト液を種々の方向に噴霧するようにしても良い。
また、この場合に、溶剤供給ノズルはレジスト供給ノズ
ルと別個に設けてもよいし、複数のノズルのうちいくつ
かのノズルを溶剤供給ノズルとして用いて、上述したよ
うに、溶剤およびレジスト液を供給するようにしても良
い。In this case, since the plurality of resist supply nozzles 80 'are provided, the resist solution can be efficiently sprayed on the entire surface of the substrate G. The resist supply nozzles 80 'may be individually or integrally swirled to spray the resist liquid in various directions.
In this case, the solvent supply nozzle may be provided separately from the resist supply nozzle, or some of the plurality of nozzles may be used as solvent supply nozzles to supply the solvent and the resist solution as described above. It may be done.
【0073】次に、溶剤供給ノズルの他の例について説
明する。上記実施の形態では溶剤供給ノズル70は通常
の滴下式ノズルを用いているが、この例では図5に示す
ように、噴霧式の溶剤供給ノズル70’を用いている。
このように溶剤供給ノズルを噴霧式とすることにより、
より少ない溶剤量で基板表面に均一に溶剤Aを塗布して
濡れ性を改善することができる。また、図6に示すよう
に、複数の噴霧式の溶剤ノズル70”を設けてもよい。
この場合には、回転カップ42を挟むように矢印H方向
に移動可能な一対のシャフト111が設けられており、
4個の噴霧式の溶剤ノズル70”が両シャフト111間
に掛け渡された支持部材110に支持されている。各ノ
ズル70”への溶剤の供給は溶剤供給チューブ71”を
介して行われる。このように、複数の噴霧式の溶剤供給
ノズル70”を設ることにより、効率良く基板G全面に
溶剤を噴霧することができる。なお、溶剤供給ノズル7
0”を個々にまたは一体的に旋回する構成にして溶剤を
種々の方向に噴霧するようにしても良い。なお、このよ
うにノズルを平行移動させる他、基板Gを回転するよう
にしてもよい。Next, another example of the solvent supply nozzle will be described. In the above-described embodiment, the solvent supply nozzle 70 is a normal dropping type nozzle, but in this example, a spray type solvent supply nozzle 70 'is used as shown in FIG.
By making the solvent supply nozzle a spray type in this way,
The solvent A can be uniformly applied to the substrate surface with a smaller amount of solvent to improve the wettability. Further, as shown in FIG. 6, a plurality of spray type solvent nozzles 70 ″ may be provided.
In this case, a pair of shafts 111 that are movable in the arrow H direction so as to sandwich the rotary cup 42 are provided,
Four spray-type solvent nozzles 70 ″ are supported by a support member 110 that is stretched between both shafts 111. The solvent is supplied to each nozzle 70 ″ through a solvent supply tube 71 ″. In this way, by providing a plurality of spray-type solvent supply nozzles 70 ″, the solvent can be efficiently sprayed onto the entire surface of the substrate G. The solvent supply nozzle 7
The solvent may be sprayed in various directions by rotating 0 ″ individually or integrally. In addition to the parallel movement of the nozzles in this way, the substrate G may be rotated. .
【0074】本実施の形態では、レジスト液を噴霧して
基板Gに供給するが、このようにレジスト液を噴霧する
場合には、霧状のレジスト液がまき散らかされ、周囲に
付着するおそれがある。これを防止するには、図7に示
すように、レジスト液供給ノズルをカバーで覆うことが
有効である。ここでは、図3に示すような複数のレジス
ト液供給ノズル80’をカバー120で覆った状態を示
している。このカバー120の上面から、レジスト液供
給チューブ81’がその内部に挿入され、カバー120
内においてノズル80’からレジスト液が噴霧されるよ
うになっている。また、カバー120の上面には2つの
排気ダクト121が接続されており、カバー120内を
排気可能になっている。さらに、カバー120の側面か
ら複数の洗浄ノズル123がカバー120内に挿入され
ており、ノズル123に接続された洗浄液チューブ12
2から洗浄液、例えばシンナーが噴出可能となってい
る。これにより、カバー120内面に付着したレジスト
を洗い落とすことができ、乾燥したレジストがパーティ
クルとなって飛散することを防止することができる。In this embodiment, the resist solution is sprayed and supplied to the substrate G. However, when spraying the resist solution in this way, there is a risk that the atomized resist solution is scattered and adheres to the surroundings. is there. In order to prevent this, as shown in FIG. 7, it is effective to cover the resist solution supply nozzle with a cover. Here, a state in which a plurality of resist liquid supply nozzles 80 'as shown in FIG. 3 are covered with a cover 120 is shown. The resist solution supply tube 81 ′ is inserted into the inside of the cover 120 from the upper surface of the cover 120.
The resist liquid is sprayed from the nozzle 80 'inside. Further, two exhaust ducts 121 are connected to the upper surface of the cover 120 so that the inside of the cover 120 can be exhausted. Further, a plurality of cleaning nozzles 123 are inserted into the cover 120 from the side surface of the cover 120, and the cleaning liquid tube 12 connected to the nozzles 123.
A cleaning liquid, for example, a thinner can be ejected from the nozzle 2. As a result, the resist attached to the inner surface of the cover 120 can be washed off, and the dried resist can be prevented from scattering as particles.
【0075】また、溶剤を噴霧する場合にも同様に、溶
剤が周囲に噴霧状に飛散する。これを防止するには、図
8に示すように、溶剤供給ノズルをカバーで覆うことが
有効である。ここでは、図6に示すような複数の溶剤供
給ノズル70”をカバー130で覆った状態を示してい
る。このカバー130の上面から、レジスト液供給チュ
ーブ71”がその内部に挿入され、カバー130内にお
いてノズル70”から溶剤が噴霧されるようになってい
る。また、カバー130の上面には2つの排気ダクト1
31が接続されており、カバー130内を排気可能にな
っている。Similarly, when the solvent is sprayed, the solvent is also sprayed around. To prevent this, as shown in FIG. 8, it is effective to cover the solvent supply nozzle with a cover. Here, a state is shown in which a plurality of solvent supply nozzles 70 ″ as shown in FIG. 6 are covered with a cover 130. From the upper surface of this cover 130, a resist solution supply tube 71 ″ is inserted, and the cover 130 is opened. The solvent is sprayed from inside the nozzle 70 ″. Further, the two exhaust ducts 1 are provided on the upper surface of the cover 130.
31 is connected so that the inside of the cover 130 can be exhausted.
【0076】上記レジスト供給ノズル80’のカバー1
20は、図9に示すように、その中に仕切125を設
け、中央のスプレー領域126とその両外側の排気領域
127に分離してもよい。各排気領域127には排気ダ
クト121’が接続されており、この排気ダクト12
1’を介して排気される。このような構成においては、
排気領域127を排気することにより、ノズル80’か
ら噴霧されたレジストが周囲に拡散することをより一層
効果的に防止することができる。このような構造は、溶
剤供給ノズル70”のカバー130にも同様に適用する
ことができる。Cover 1 of the resist supply nozzle 80 '
As shown in FIG. 9, the 20 may be provided with a partition 125 therein to be divided into a central spray area 126 and an exhaust area 127 on both outer sides thereof. An exhaust duct 121 ′ is connected to each exhaust region 127.
Exhausted via 1 '. In such a configuration,
By exhausting the exhaust region 127, the resist sprayed from the nozzle 80 ′ can be more effectively prevented from diffusing to the surroundings. Such a structure can be similarly applied to the cover 130 of the solvent supply nozzle 70 ″.
【0077】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず、種々の変形が可能である。例えば、上記実施の形態
では、処理容器を基板と共に回転させているが、基板の
みを回転させてもよい。また、レジスト膜厚を整える際
に回転カップを蓋体で閉止したが、必ずしも蓋体で閉止
する必要はない。さらに、上記実施の形態では、本発明
をレジスト塗布ユニット25に適用し、塗布液としてレ
ジスト液を用いた例について説明しているが、本発明を
現像ユニット29に適用し、塗布液として現像液を用い
ても上記と同様の効果が得られるし、また、さらに他の
塗布液を用いることも可能である。さらにまた、本発明
は、レジスト塗布・現像システムに限定されず適用可能
である。さらにまた、上記実施の形態では、被処理体と
してLCD基板を用いた場合について示したが、これに
限らず半導体ウエハ等他の基板への塗布膜形成にも適用
することができる。The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made. For example, in the above embodiment, the processing container is rotated together with the substrate, but only the substrate may be rotated. Although the rotary cup is closed with the lid when adjusting the resist film thickness, it is not always necessary to close the rotary cup with the lid. Further, in the above embodiment, the present invention is applied to the resist coating unit 25 and the resist liquid is used as the coating liquid. However, the present invention is applied to the developing unit 29 and the developing liquid is used as the coating liquid. The same effect as above can be obtained by using, and it is also possible to use other coating liquid. Furthermore, the present invention is applicable without being limited to the resist coating / developing system. Furthermore, in the above-described embodiment, the case where the LCD substrate is used as the object to be processed has been described, but the present invention is not limited to this and can be applied to the formation of a coating film on another substrate such as a semiconductor wafer.
【0078】[0078]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板に塗布液を塗布する際に、基板を回転させない状態
で塗布液を噴霧する手段を移動させて、基板の表面上に
塗布液を噴霧して基板全面に塗布液を塗布するので、従
来のように基板を回転させることなく基板にまんべんな
く塗布液を供給することができ、基板回転の遠心力によ
り塗布液を飛散させることを防止することができる。し
たがって、基板全面に塗布するのに必要な塗布液の量を
少なくすることができ、しかも周囲に飛散する無駄な塗
布液も少なくすることができるので、塗布液の使用量を
極めて少なくすることができる。特に、基板のサイズが
大きくなると、その周縁部における回転による遠心力が
大きくなり、塗布液が飛散する確率が高くなるので、基
板を回転させない状態で塗布液を噴霧することは省塗布
液の観点から有効である。また、塗布液を噴霧する手段
を移動させて、基板の表面上に塗布液を噴霧して基板全
面に塗布液を塗布することにより、基板のサイズが大き
くても十分に塗布液を基板全面に塗布することができ
る。 As described above, according to the present invention,
The state where the substrate is not rotated when applying the coating liquid to the substrate
On the surface of the substrate by moving the means for spraying the coating liquid with
Since applying the coating solution on the entire surface of the substrate by spraying a coating solution, follow
Can be supplied evenly coating liquid Rukoto substrate without rotating the substrate as come, it is possible to prevent to scatter the coating liquid by centrifugal force of the substrate rotation. Therefore, it is possible to reduce the amount of the coating liquid required to coat the entire surface of the substrate, and also to reduce the wasteful coating liquid scattered around, so that the amount of the coating liquid used can be extremely reduced. it can. In particular, as the size of the substrate increases, the centrifugal force due to the rotation at the peripheral edge increases, and the probability that the coating liquid will scatter increases, so spraying the coating liquid without rotating the substrate is a viewpoint of saving coating liquid. Is effective from. Also, means for spraying the coating liquid
To move the substrate and spray the coating liquid onto the surface of the substrate.
The size of the substrate can be increased by applying the coating liquid to the surface.
The coating liquid can be applied to the entire surface of the substrate
It
【0079】また、処理容器内に収容された基板の表面
上に塗布液を供給して塗布膜を形成する塗布装置であっ
て、開口部を有するカップ形状をなし、基板を包囲する
処理容器と、基板の表面を水平にした状態で前記基板を
支持する支持手段と、前記支持手段を回転させることに
より前記基板を回転させる基板回転手段と、前記基板の
表面に塗布液を噴霧する塗布液噴霧手段と、前記塗布液
噴霧手段を基板面に沿って走査させる走査手段と、前記
塗布液噴霧手段を覆う塗布液カバーと、前記塗布液カバ
ーの内側を洗浄する洗浄手段とを具備する構成により、
塗布液が基板全体に行き渡りやすく、塗布液の使用量を
極めて少なくすることができ、また、基板の表面に塗布
液を噴霧する塗布液噴霧手段を基板面に沿って走査する
走査手段を備えているので、基板のサイズが大きくても
十分に塗布液を基板全面に塗布することができ、さら
に、塗布液噴霧手段を塗布液カバーで覆うことにより、
塗布液が周囲に飛散することを防止することができ、カ
バー内側を洗浄する洗浄手段を設けることにより、乾燥
した塗布液がパーティクルとなることを防止することが
できる。 The surface of the substrate housed in the processing container
It is a coating device that supplies a coating liquid on top to form a coating film.
To form a cup shape with an opening to surround the substrate
Place the substrate in a state that the surface of the substrate is horizontal with the processing container.
Supporting means for supporting and rotating the supporting means
A substrate rotating means for rotating the substrate,
Coating liquid spraying means for spraying the coating liquid onto the surface, and the coating liquid
Scanning means for scanning the spraying means along the surface of the substrate;
A coating liquid cover for covering the coating liquid spraying means, and the coating liquid cover.
The cleaning means for cleaning the inside of the
The coating liquid can easily spread over the entire substrate, reducing the amount of coating liquid used.
Can be extremely reduced and applied to the surface of the substrate
The coating liquid spraying means for spraying the liquid is scanned along the surface of the substrate.
Since it has a scanning means, even if the size of the substrate is large
The coating solution can be applied to the entire surface of the substrate sufficiently
By covering the coating solution spraying means with the coating solution cover,
The coating liquid can be prevented from splashing around,
Drying by providing cleaning means to clean the inside of the bar
It is possible to prevent the applied coating liquid from becoming particles.
it can.
【0080】さらに、処理容器内に収容された基板の表
面上に塗布液を供給して塗布膜を形成する塗布装置であ
って、開口部を有するカップ形状をなし、基板を包囲す
る処理容器と、基板の表面を水平にした状態で前記基板
を支持する支持手段と、前記基板の表面に塗布液を噴霧
する塗布液噴霧手段と、前記塗布液噴霧手段を基板面に
沿って走査させる走査手段とを具備し、前記走査手段に
より前記塗布液噴霧手段を走査させながら前記塗布液噴
霧手段から、停止した状態の前記基板の全面に塗布液を
供給するので、塗布液の使用量を極めて少なくすること
ができ、また、基板のサイズが大きくても十分に塗布液
を基板全面に塗布することができる。Furthermore, a coating apparatus for forming a coating film by supplying a coating liquid onto the surface of a substrate housed in the processing container, the processing container having a cup shape having an opening and surrounding the substrate. Supporting means for supporting the substrate with the surface of the substrate horizontal, coating solution spraying means for spraying the coating solution on the surface of the substrate, and scanning means for scanning the coating solution spraying means along the substrate surface. Since the coating liquid is supplied from the coating liquid spraying device to the entire surface of the substrate in the stopped state while scanning the coating liquid spraying device by the scanning device, the usage amount of the coating liquid is extremely reduced. In addition, the coating liquid can be sufficiently applied to the entire surface of the substrate even if the size of the substrate is large.
【図1】本発明の対象となる塗布液形成方法および塗布
装置が適用されるレジスト塗布・現像システムを示す平
面図。FIG. 1 is a plan view showing a resist coating / developing system to which a coating liquid forming method and a coating apparatus, which are objects of the present invention, are applied.
【図2】本発明の塗布液形成方法の実施に適用される塗
布装置としてのレジスト塗布ユニットを示す断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view showing a resist coating unit as a coating device applied for carrying out the coating liquid forming method of the present invention.
【図3】図2のレジスト塗布ユニットにおけるレジスト
液供給ノズルの走査方法を示す斜視図。3 is a perspective view showing a scanning method of a resist solution supply nozzle in the resist coating unit of FIG.
【図4】複数のレジスト液供給ノズルを有する塗布装置
の概略構成をレジスト液供給ノズルの走査機構ともに示
す斜視図。FIG. 4 is a perspective view showing a schematic configuration of a coating apparatus having a plurality of resist solution supply nozzles together with a scanning mechanism of the resist solution supply nozzles.
【図5】噴霧式の溶剤供給ノズルを備えた噴頭を示す概
略図。FIG. 5 is a schematic view showing a jet head provided with a spray type solvent supply nozzle.
【図6】複数の噴霧式溶剤供給ノズルを有する塗布装置
の概略構成を示す斜視図。FIG. 6 is a perspective view showing a schematic configuration of a coating apparatus having a plurality of spray type solvent supply nozzles.
【図7】複数のレジスト液供給ノズルがカバーに覆われ
た状態を示す斜視図。FIG. 7 is a perspective view showing a state in which a plurality of resist solution supply nozzles are covered with a cover.
【図8】複数の噴霧式溶剤供給ノズルがカバーに覆われ
た状態を示す斜視図。FIG. 8 is a perspective view showing a state in which a plurality of spray type solvent supply nozzles are covered with a cover.
【図9】複数のレジスト液供給ノズルを覆うカバーの他
の例を示す断面図。FIG. 9 is a cross-sectional view showing another example of a cover that covers a plurality of resist solution supply nozzles.
40…スピンチャック 41…処理室 42…回転カップ 44…ドレンカップ 46…蓋体 50…ロボットアーム 51…駆動モータ 70,70’,70”…溶媒供給ノズル 80,80’…レジスト液供給ノズル 90…噴頭 100,110…移動機構 101,112…支持部材 102…回転シャフト 111…可動シャフト G…基板 40 ... Spin chuck 41 ... Processing room 42 ... Rotating cup 44 ... Drain cup 46 ... Lid 50 ... Robot arm 51 ... Drive motor 70, 70 ', 70 "... Solvent supply nozzle 80, 80 '... Resist solution supply nozzle 90 ... Spout 100, 110 ... Moving mechanism 101, 112 ... Support member 102 ... rotating shaft 111 ... Movable shaft G ... Substrate
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平8−255745(JP,A) 特開 平6−210230(JP,A) 特開 平7−328517(JP,A) 特開 平6−262125(JP,A) 特開 平1−227437(JP,A) 実開 昭58−174282(JP,U) 実開 平1−124271(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B05C 11/08 B05B 1/00 H01L 21/027 ─────────────────────────────────────────────────── --Continued from the front page (56) Reference JP-A-8-255745 (JP, A) JP-A-6-210230 (JP, A) JP-A-7-328517 (JP, A) JP-A-6- 262125 (JP, A) JP-A-1-227437 (JP, A) Actually developed 58-174282 (JP, U) Actually developed 1-12-14271 (JP, U) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) B05C 11/08 B05B 1/00 H01L 21/027
Claims (23)
塗布液を供給して塗布膜を形成する塗布膜形成方法であ
って、 前記基板を回転させない状態で、塗布液噴霧手段を基板
面に沿って走査させながら基板の表面上に塗布液を噴霧
することにより基板表面の全面に塗布液を塗布し、塗布
膜を形成する工程と、 前記基板を回転させて、前記塗布膜の膜厚を整える工程
と を具備することを特徴とする塗布膜形成方法。1. A coating film forming method for forming a coating film by supplying a coating liquid onto the surface of a substrate housed in a processing container, wherein the coating liquid spraying means is provided on the substrate without rotating the substrate. Coating the coating liquid on the entire surface of the substrate by spraying the coating liquid on the surface of the substrate while scanning along the surface to form a coating film; and rotating the substrate to form a film of the coating film. And a step of adjusting the thickness.
板の表面上に溶剤を塗布する工程をさらに有することを
特徴とする請求項1に記載の塗布膜形成方法。2. The method for forming a coating film according to claim 1, further comprising the step of coating a solvent on the surface of the substrate prior to the step of forming the coating film.
ことを特徴とする請求項2に記載の塗布膜形成方法。3. The coating film forming method according to claim 2, wherein the coating of the solvent is performed by spraying the solvent.
理容器を蓋体で閉塞して、前記基板を前記処理容器内に
封入する工程を具備し、その後膜厚を整える工程を実施
することを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか
1項に記載の塗布膜形成方法。4. A step of forming a coating film on the surface of the substrate, closing the processing container with a lid to seal the substrate in the processing container, and then performing a step of adjusting the film thickness. The coating film forming method according to any one of claims 1 to 3, wherein:
記処理容器を回転させて行うことを特徴とする請求項4
に記載の塗布膜形成方法。5. The step of adjusting the film thickness is performed by rotating the processing container together with the substrate.
The method for forming a coating film according to item 4.
塗布液を供給して塗布膜を形成する塗布装置であって、 開口部を有するカップ形状をなし、基板を包囲する処理
容器と、 基板の表面を水平にした状態で前記基板を支持する支持
手段と、 前記支持手段を回転させることにより前記基板を回転さ
せる基板回転手段と、 前記基板の表面に塗布液を噴霧する塗布液噴霧手段と、 前記塗布液噴霧手段を基板面に沿って走査させる走査手
段と、 前記塗布液噴霧手段を覆う塗布液カバーと、 前記塗布液カバーの内側を洗浄する洗浄手段と を具備することを特徴とする塗布装置。6. A coating apparatus for forming a coating film by supplying a coating liquid onto the surface of a substrate housed in a processing container, the processing container having a cup shape having an opening and surrounding the substrate. Supporting means for supporting the substrate in a state where the surface of the substrate is horizontal, substrate rotating means for rotating the substrate by rotating the supporting means, and coating liquid spray for spraying the coating liquid on the surface of the substrate Means, a scanning means for scanning the coating solution spraying means along the substrate surface, a coating solution cover for covering the coating solution spraying means, and a cleaning means for cleaning the inside of the coating solution cover. And coating equipment.
塗布液を供給して塗布膜を形成する塗布装置であって、 開口部を有するカップ形状をなし、基板を包囲する処理
容器と、 基板の表面を水平にした状態で前記基板を支持する支持
手段と、 前記基板の表面に塗布液を噴霧する塗布液噴霧手段と、 前記塗布液噴霧手段を基板面に沿って走査させる走査手
段と を具備し、前記走査手段により前記塗布液噴霧手段を走
査させながら前記塗布液噴霧手段から、停止した状態の
前記基板の全面に塗布液を供給することを特徴とする塗
布装置。7. A coating apparatus for forming a coating film by supplying a coating liquid onto the surface of a substrate housed in a processing container, the processing container having a cup shape having an opening and surrounding the substrate. Supporting means for supporting the substrate in a state where the surface of the substrate is horizontal; coating solution spraying means for spraying a coating solution on the surface of the substrate; and scanning means for scanning the coating solution spraying means along the substrate surface. A coating apparatus comprising: a coating solution spraying means for scanning the coating solution spraying means by the scanning means to supply the coating solution from the coating solution spraying means to the entire surface of the substrate in a stopped state.
の上の基板を回転させる基板回転手段をさらに具備し、
基板に塗布液を噴霧した後にこの基板回転手段により基
板を回転させることにより塗布膜の膜厚が整えられるこ
とを特徴とする請求項7に記載の塗布装置。8. Further comprising substrate rotating means for rotating the substrate thereon by rotating the supporting means,
The coating device according to claim 7, wherein the coating film is adjusted in thickness by spraying the coating liquid onto the substrate and then rotating the substrate by the substrate rotating means.
る塗布液ノズルと、前記塗布液ノズルを支持するシャフ
トとを有し、前記走査手段は、前記シャフトを回転およ
び進退させることを特徴とする請求項6から請求項8の
いずれか1項に記載の塗布装置。9. The coating liquid spraying unit has a coating liquid nozzle for spraying the coating liquid, and a shaft supporting the coating liquid nozzle, and the scanning unit rotates and reciprocates the shaft. The coating device according to any one of claims 6 to 8.
する複数の塗布液ノズルと、前記複数の塗布液ノズルを
支持する支持部材とを有し、前記走査手段は、前記支持
部材を直線的に移動させることを特徴とする請求項6か
ら請求項8のいずれか1項に記載の塗布装置。10. The coating liquid spraying unit has a plurality of coating liquid nozzles for spraying the coating liquid, and a support member for supporting the plurality of coating liquid nozzles, and the scanning unit linearly moves the support member. The coating device according to claim 6, wherein the coating device is moved mechanically.
は一体的に旋回する手段をさらに具備することを特徴と
する請求項10に記載の塗布装置。11. The coating apparatus according to claim 10, further comprising a unit for individually or integrally rotating the plurality of coating liquid nozzles.
する溶剤供給手段をさらに具備することを特徴とする請
求項6から請求項11のいずれか1項に記載の塗布装
置。12. The coating apparatus according to claim 6, further comprising a solvent supply unit that supplies a solvent for the coating liquid onto the surface of the substrate.
査する走査手段をさらに具備することを特徴とする請求
項12に記載の塗布装置。13. The coating apparatus according to claim 12, further comprising a scanning unit that scans the solvent supply unit along the surface of the substrate.
供給することを特徴とする請求項12または請求項13
に記載の塗布装置。14. The solvent supply unit supplies the solvent by spraying the solvent.
The coating device according to 1.
さらに具備することを特徴とする請求項14に記載の塗
布装置。15. The coating apparatus according to claim 14, further comprising a solvent cover that covers the solvent supply unit.
ることを特徴とする請求項15に記載の塗布装置。16. The coating apparatus according to claim 15, wherein the solvent cover has an exhaust portion.
溶剤供給手段とを隔てる隔壁を有することを特徴とする
請求項16に記載の塗布装置。17. The coating apparatus according to claim 16, wherein the solvent cover has a partition wall that separates the exhaust unit and the solvent supply unit.
をさらに具備することを特徴とする請求項6から請求項
17のいずれか1項に記載の塗布装置。18. The coating apparatus according to claim 6, further comprising a lid that closes an opening of the processing container.
せる容器回転手段をさらに具備することを特徴とする請
求項18に記載の塗布装置。19. The coating apparatus according to claim 18, further comprising container rotating means for rotating the processing container together with the substrate.
ーをさらに具備することを特徴とする請求項7から請求
項19のいずれか1項に記載の塗布装置。20. The coating apparatus according to claim 7, further comprising a coating liquid cover that covers the coating liquid spraying means.
いることを特徴とする請求項20に記載の塗布装置。21. The coating apparatus according to claim 20, wherein the coating liquid cover has an exhaust portion.
記塗布液噴霧手段とを隔てる隔壁を有することを特徴と
する請求項21に記載の塗布装置。22. The coating apparatus according to claim 21, wherein the coating liquid cover has a partition wall that separates the exhaust unit from the coating liquid spraying unit.
浄手段をさらに具備することを特徴とする請求項20か
ら請求項22のいずれか1項に記載の塗布装置。23. The coating apparatus according to claim 20, further comprising cleaning means for cleaning the inside of the coating liquid cover.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13097098A JP3452795B2 (en) | 1997-05-07 | 1998-04-27 | Coating film forming method and coating device |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9-131616 | 1997-05-07 | ||
JP13161697 | 1997-05-07 | ||
JP13097098A JP3452795B2 (en) | 1997-05-07 | 1998-04-27 | Coating film forming method and coating device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1119565A JPH1119565A (en) | 1999-01-26 |
JP3452795B2 true JP3452795B2 (en) | 2003-09-29 |
Family
ID=26465943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13097098A Expired - Fee Related JP3452795B2 (en) | 1997-05-07 | 1998-04-27 | Coating film forming method and coating device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3452795B2 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030000645A (en) * | 2001-06-26 | 2003-01-06 | 주식회사 실리콘 테크 | Nozzle driving method for photoresist dispense on semiconductor wafer |
JP4075527B2 (en) * | 2002-08-28 | 2008-04-16 | 日本電気株式会社 | Resist coating method and resist coating apparatus |
NL2014597B1 (en) * | 2015-04-08 | 2017-01-20 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Method and device for applying a coating to a substrate. |
US10593638B2 (en) * | 2017-03-29 | 2020-03-17 | Xilinx, Inc. | Methods of interconnect for high density 2.5D and 3D integration |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58174282U (en) * | 1982-05-17 | 1983-11-21 | 沖電気工業株式会社 | spray equipment |
JPH01124271U (en) * | 1988-02-19 | 1989-08-24 | ||
JP2558490B2 (en) * | 1988-03-07 | 1996-11-27 | 東京エレクトロン株式会社 | Development device |
US5366757A (en) * | 1992-10-30 | 1994-11-22 | International Business Machines Corporation | In situ resist control during spray and spin in vapor |
JP3337150B2 (en) * | 1993-01-20 | 2002-10-21 | シャープ株式会社 | Spin type coating equipment |
JP3595909B2 (en) * | 1994-06-10 | 2004-12-02 | ノードソン株式会社 | Spin coating method by spray coating |
JP3194071B2 (en) * | 1995-03-15 | 2001-07-30 | 東京エレクトロン株式会社 | Method and apparatus for forming coating film |
-
1998
- 1998-04-27 JP JP13097098A patent/JP3452795B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1119565A (en) | 1999-01-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100529999B1 (en) | Coating film forming method and coating device | |
KR100284559B1 (en) | Treatment method and processing device | |
KR100588110B1 (en) | Coating film forming apparatus and method | |
KR100655564B1 (en) | Coating processing apparatus | |
JP3777542B2 (en) | NOZZLE DEVICE, COATING DEVICE, AND COATING METHOD | |
JP3456919B2 (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
JP3452795B2 (en) | Coating film forming method and coating device | |
JP2001189260A (en) | Liquid processing device and method therefor | |
JP3189087B2 (en) | Processing device and processing method | |
JP3466898B2 (en) | Coating film forming method and coating device | |
JPH11207250A (en) | Film forming method | |
JP3740377B2 (en) | Liquid supply device | |
JP3114084B2 (en) | Processing method and processing apparatus | |
JP3840388B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP3352417B2 (en) | Coating film forming method and coating device | |
JP2001252604A (en) | Treating liquid discharge nozzle and liquid treating device | |
JP3421557B2 (en) | Coating method and coating apparatus | |
JP3277278B2 (en) | Processing device and processing method | |
JP3189113B2 (en) | Processing device and processing method | |
KR100740239B1 (en) | Coating apparatus and coating method | |
JP2000288450A (en) | Formation of coating film and coating device | |
KR100739214B1 (en) | Method and apparatus of forming coating film | |
JP2002153799A (en) | Coating apparatus and coating method | |
JPH09213621A (en) | Coating film forming method and its equipment | |
JPH0262549A (en) | Spin developer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120718 Year of fee payment: 9 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |