JP4111908B2 - 走査電子顕微鏡 - Google Patents
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Description
104…高電圧制御電源、105…収束レンズ、
106…収束レンズ制御電源、107…絞り板、108…偏向コイル、
109…偏向コイル制御電源、110…一次電子線、
111…対物レンズ、112…対物レンズ制御電源、
113…試料、114…試料ステージ、115…ステージ制御部、
116…二次電子、117…二次電子検出器、
118…二次電子信号アンプ、119…制御演算部、
120…描画部、121…試料像表示部、122…入力部、
123…記憶部、124…通常走査領域、
125…本発明における走査領域、126…垂直カーソル線
Claims (12)
- 電子線源と、該電子線源より放出された電子線を試料上に収束して走査する電子線走査部と、電子線照射によって試料から発生した二次信号を検出する検出器と、前記検出器によって検出された二次信号をもとに複数の画像信号を積算して試料画像を形成する描画部とを備える走査電子顕微鏡において、
前記電子線走査部によって試料上に走査される電子線の走査パターンは、1つの走査線位置について前記積算に用いる複数回の走査を反復してから次の走査線の走査に移るものであることを特徴とする走査電子顕微鏡。 - 請求項1記載の走査電子顕微鏡において、前記描画部は複数のフレームの画像信号を積算して試料画像を形成するものであり、前記試料上の走査領域は互いに平行な複数の走査線の集合として形成されることを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項2記載の走査電子顕微鏡において、前記複数の走査パターンが予め設定され、当該複数の走査パターンのうちの一つを選択する選択部を有することを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項1記載の走査電子顕微鏡において、前記1つの走査線位置について、一度走査されてから次の走査が来るまでの時間は、ArFレジストの化学反応の時定数より短いことを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項1記載の走査電子顕微鏡において、前記試料画像の形成に用いる画像信号の積算数が予め複数設定され、当該複数の積算数のうちの一つを選択する選択部を有することを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項1記載の走査電子顕微鏡において、前記描画部は複数のフレームの画像信号を積算して試料画像を形成するものであり、前記電子線走査部による走査線の数が選択可能に複数用意されていることを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項6記載の走査電子顕微鏡において、前記複数の走査線の数が予め設定され、当該複数の走査線の数のうちの一つを選択する選択部を有することを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項6項記載の走査電子顕微鏡において、前記フレームの数が選択可能であることを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項1記載の走査電子顕微鏡において、前記描画部は複数のフレームの画像信号を積算して試料画像を形成するものであり、前記電子線走査部による走査線の走査幅が選択可能に複数用意されていることを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項9記載の走査電子顕微鏡において、前記複数の走査幅が予め設定され、当該複数の走査幅のうちの一つを選択する選択部を有することを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 請求項10項記載の走査電子顕微鏡において、前記フレームの数が選択可能であることを特徴とする走査電子顕微鏡。
- 電子線源と、
該電子線源より放出された電子線を試料上に収束して走査する電子線走査部と、
電子線照射によって試料から発生した二次信号を検出する検出器と、
前記検出器によって検出された二次信号をもとに複数の画像信号を積算して試料画像を形成する描画部とを備える走査電子顕微鏡において、
前記画像信号の積算数を選択する選択部を備え、
前記電子線走査部は、当該選択部での積算数分、1つの走査線位置における走査を反復してから次の走査線の走査に移るように前記電子線を走査することを特徴とする走査電子顕微鏡。
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