JP4110573B2 - パルスパターン発生装置 - Google Patents
パルスパターン発生装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4110573B2 JP4110573B2 JP2003322383A JP2003322383A JP4110573B2 JP 4110573 B2 JP4110573 B2 JP 4110573B2 JP 2003322383 A JP2003322383 A JP 2003322383A JP 2003322383 A JP2003322383 A JP 2003322383A JP 4110573 B2 JP4110573 B2 JP 4110573B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- output
- pulse pattern
- signal
- digital
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31708—Analysis of signal quality
- G01R31/3171—BER [Bit Error Rate] test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31928—Formatter
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
また、図6は、図5に示す装置が出力する試験用信号のアイパターン(クロスポイントは50%)を示した図である。
電圧値設定部10のパルスパターン発生回路11が、小振幅のパルスパターン信号を増幅器25に出力する。また、電圧値設定部10が、パルスパターン発生回路11のパルスパターン信号に同期して、DA変換器21〜24の電圧値を設定する。これにより、各DA変換器21〜24は、設定された電圧値を出力する。
デジタル信号の波形品質を測定するための所定のパターンの試験用信号を、複数のデジタルアナログ変換器を用いて生成し、被試験対象に出力するパルスパターン発生装置であって、
前記試験用信号のアイパターンの形状を定める複数のパラメータの値を設定するパラメータ設定部と、
前記パラメータの値が設定される設定範囲内で、前記パラメータの値に対応する前記デジタルアナログ変換器への出力値を記憶する記憶部と、
前記パラメータ設定部のパラメータの値と前記記憶部の出力値とから、前記デジタルアナログ変換器への出力値を演算する演算部と、
この演算部の演算結果に基づいて前記デジタルアナログ変換器に、前記デジタルアナログ変換器が出力する電圧値の設定を行う電圧値設定部と
を設けたことを特徴とするものである。
試験用信号は、擬似ランダムパターン信号であることを特徴とするものである。
パラメータ設定部で設定されるパラメータは、
前記アイパターンのクロスポイントと、
前記アイパターンの振幅と
であることを特徴とするものである。
演算部は、前記パラメータ設定部が設定するパラメータの値に対応する出力値を、前記記憶部の出力値から補間して求めることを特徴とするものである。
記憶部に記憶されるデジタルアナログ変換器への出力値は、実測値であることを特徴とするものである。
記憶部に記憶されるデジタルアナログ変換器への出力値は、モデル値または統計値であることを特徴とするものである。
前記試験用信号の伝送速度は、10[Gbps]よりも速いことを特徴とするものである。
請求項1〜7によれば、アイパターンの形状ごとにデジタルアナログ変換器の出力値をあらかじめ記憶部に格納しておき、演算部が記憶部の出力値を用いて、パラメータ設定部で設定されるアイパターンの形状となる出力値を演算し、この演算結果に基づいて電圧値設定部がデジタルアナログ変換器の設定を行う。これにより、アイパターンの形状を変更しても波形品質の高い試験用信号を出力することができる。
図1は本発明の一実施例を示す構成図である。ここで、図5と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図1において、パラーメータ設定部30が新たに設けられ、アイパターンの形状を定める複数のパラメータ(クロスポイント、振幅)の値を設定する。
まず、記憶部40にパラメータの値と出力値との特性をあらかじめ記憶させる。例えば、図1に示す装置の製造時またはメンテナンス時に行う。この記憶させる動作から説明する。波形生成部20の出力側に図示しないオシロスコープを接続し、波形生成部20から出力されるパルスパターン信号をオシロスコープで測定する。この際、パルスパターン信号のクロック成分で掃引のトリガをかけ、ロウレベルからハイレベルへ変化する波形、ハイレベルからロウレベルへ変化する波形、ロウレベルが連続する波形、ハイレベルが連続する波形を重なり合わせて、アイパターンを表示させる。
パラメータ設定部30が図示しない表示部(例えば、CRTや液晶)に、図3に示す画面を表示する。図3において、テキストボックス100、スクロールバー101のいずれかで振幅を設定し、テキストボックス102、スクロールバー103のいずれかでクロスポイントを設定する。なお、振幅、クロスポイントは、記憶部40に記憶されている設定範囲しかユーザが設定できないように表示するとよい。
図1に示す装置において、波形生成部20に4個のDA変換器21〜24を用いる構成を示したが、何個用いてもよい。同様に、増幅器25、上限値クリップ回路26、下限値クリップ回路27のほかにパルスパターン信号を生成するための回路(例えば、波形整形器、位相調整器等)を波形生成部20に設けてもよい。
30 パラメータ設定部
40 記憶部
50 演算部
60 電圧値設定部
Claims (7)
- デジタル信号の波形品質を測定するための所定のパターンの試験用信号を、複数のデジタルアナログ変換器を用いて生成し、被試験対象に出力するパルスパターン発生装置であって、
前記試験用信号のアイパターンの形状を定める複数のパラメータの値を設定するパラメータ設定部と、
前記パラメータの値が設定される設定範囲内で、前記パラメータの値に対応する前記デジタルアナログ変換器への出力値を記憶する記憶部と、
前記パラメータ設定部のパラメータの値と前記記憶部の出力値とから、前記デジタルアナログ変換器への出力値を演算する演算部と、
この演算部の演算結果に基づいて前記デジタルアナログ変換器に、前記デジタルアナログ変換器が出力する電圧値の設定を行う電圧値設定部と
を設けたことを特徴とするパルスパターン発生装置。 - 試験用信号は、擬似ランダムパターン信号であることを特徴とする請求項1記載のパルスパターン発生装置。
- パラメータ設定部で設定されるパラメータは、
前記アイパターンのクロスポイントと、
前記アイパターンの振幅と
であることを特徴とする請求項1または2記載のパルスパターン発生装置。 - 演算部は、前記パラメータ設定部が設定するパラメータの値に対応する出力値を、前記記憶部の出力値から補間して求めることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のパルスパターン発生装置。
- 記憶部に記憶されるデジタルアナログ変換器への出力値は、実測値であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のパルスパターン発生装置。
- 記憶部に記憶されるデジタルアナログ変換器への出力値は、モデル値または統計値であることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載のパルスパターン発生装置。
- 前記試験用信号の伝送速度は、10[Gbps]よりも速いことを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のパルスパターン発生装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003322383A JP4110573B2 (ja) | 2003-09-16 | 2003-09-16 | パルスパターン発生装置 |
US10/897,073 US7522660B2 (en) | 2003-09-16 | 2004-07-23 | Pulse pattern generating apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003322383A JP4110573B2 (ja) | 2003-09-16 | 2003-09-16 | パルスパターン発生装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005094172A JP2005094172A (ja) | 2005-04-07 |
JP4110573B2 true JP4110573B2 (ja) | 2008-07-02 |
Family
ID=34269990
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003322383A Expired - Fee Related JP4110573B2 (ja) | 2003-09-16 | 2003-09-16 | パルスパターン発生装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7522660B2 (ja) |
JP (1) | JP4110573B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH065569U (ja) * | 1991-12-17 | 1994-01-25 | 郁雄 堀内 | 茶 碗 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100712519B1 (ko) * | 2005-07-25 | 2007-04-27 | 삼성전자주식회사 | 아이 마스크를 이용하여 회로의 특성을 검출하는 테스트장비 및 테스트 방법 |
JP5109278B2 (ja) | 2006-03-30 | 2012-12-26 | 日本電気株式会社 | プリエンファシス自動調整方法及びデータ伝送システム |
JP5496940B2 (ja) | 2010-08-11 | 2014-05-21 | アンリツ株式会社 | エンファシス付加装置及びエンファシス付加方法 |
CN102724000B (zh) * | 2011-03-29 | 2015-08-12 | 中兴通讯股份有限公司 | 占用带宽测试系统及方法 |
US10613513B2 (en) * | 2013-02-11 | 2020-04-07 | The Aerospace Corporation | Systems and methods for modifying material substrates |
US10838406B2 (en) | 2013-02-11 | 2020-11-17 | The Aerospace Corporation | Systems and methods for the patterning of material substrates |
CN107707258B (zh) * | 2017-10-31 | 2022-06-10 | 上海兆芯集成电路有限公司 | 眼图产生器 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL7213388A (ja) * | 1971-12-01 | 1974-04-08 | ||
BE793458A (fr) * | 1971-12-30 | 1973-06-28 | Philips Nv | Dispositif d'egalisation automatique |
JPH01152969A (ja) * | 1987-12-07 | 1989-06-15 | Toshiba Corp | インバータ制御装置 |
JPH03136100A (ja) * | 1989-10-20 | 1991-06-10 | Canon Inc | 音声処理方法及び装置 |
DE4138661C1 (ja) * | 1991-11-25 | 1993-06-03 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De | |
SI9300025A (en) * | 1993-01-21 | 1994-09-30 | Spase Drakul | Digital communication system in n-dimensional vector space for transmission coded waveforms in bandlimited chanels |
JPH08331102A (ja) | 1995-05-30 | 1996-12-13 | Ando Electric Co Ltd | 符号誤り率測定装置 |
US6430235B1 (en) * | 1998-11-05 | 2002-08-06 | Wireless Facilities, Inc. | Non-data-aided feedforward timing synchronization method |
JP3309158B2 (ja) | 1999-11-12 | 2002-07-29 | アンリツ株式会社 | ディジタル信号の品質評価装置 |
DE60038672T2 (de) * | 1999-12-24 | 2009-05-28 | Anritsu Corp. | Wandergenerator und diesen enthaltender digitaler leitungsprüfer |
US6806877B2 (en) * | 2001-12-18 | 2004-10-19 | Agilent Technologies, Inc. | Method for generating eye masks using a parametric representation |
US7231558B2 (en) * | 2002-03-18 | 2007-06-12 | Finisar Corporation | System and method for network error rate testing |
-
2003
- 2003-09-16 JP JP2003322383A patent/JP4110573B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-07-23 US US10/897,073 patent/US7522660B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH065569U (ja) * | 1991-12-17 | 1994-01-25 | 郁雄 堀内 | 茶 碗 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7522660B2 (en) | 2009-04-21 |
US20050058190A1 (en) | 2005-03-17 |
JP2005094172A (ja) | 2005-04-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4110573B2 (ja) | パルスパターン発生装置 | |
JP4925017B2 (ja) | 被測定信号の繰り返し周波数検出方法及びそれを用いるサンプリング装置並びに波形観測システム | |
US6477198B1 (en) | Quality cause measurement display | |
JP4605157B2 (ja) | 波形生成方法、レーダ装置及びレーダ装置用発振装置 | |
US6037780A (en) | Device for measuring transmission delay time in a transmission cable | |
JP2006090788A (ja) | 伝送マージンの検証装置、その検証方法及び検証プログラム | |
CN101852830B (zh) | 抖动测量装置 | |
US5138267A (en) | Method of calibrating output levels of a waveform analyzing apparatus | |
JP5331375B2 (ja) | サンプリング装置および試験装置 | |
JP4729273B2 (ja) | 周波数検出方法、サンプリング装置および波形観測システム | |
US10866079B2 (en) | Position sensing device | |
CA2130895A1 (en) | Process for detecting non-linear behavior in a digital data transmission path to be examined | |
JP4215347B2 (ja) | 移相器 | |
JP2004286511A (ja) | 光サンプリング装置および光波形観測システム | |
JP2004289826A (ja) | 反復信号のサンプリングレートを確定するためのシステム及び方法 | |
JP2014215048A (ja) | 電源装置およびそれを用いた試験装置 | |
JP4476709B2 (ja) | サンプリング装置および波形観測システム | |
JP2008278031A (ja) | 差動出力装置および任意波形発生装置 | |
JP2011033467A (ja) | 加振制御方法及び加振制御装置並びに振動試験装置 | |
JP2002131398A (ja) | 電圧発生器 | |
EP3428674B1 (en) | Comb signal generator, measuring device and method | |
JPH07113857A (ja) | 測定装置 | |
RU2125287C1 (ru) | Способ определения коэффициентов передаточных функций линейных динамических объектов | |
JPS5849047B2 (ja) | 波形整形回路 | |
JP4746975B2 (ja) | 半導体回路の試験方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060516 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080117 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080317 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080330 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110418 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |