JP4110171B2 - 接続ユニットおよび試験装置 - Google Patents
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- 電子デバイスを載置するパフォーマンスボードと、前記電子デバイスの試験を制御する制御信号を生成するテスタ制御部とを電気的に接続する接続ユニットであって、
前記テスタ制御部と電気的に接続される試験基板を異なる複数の保持位置に付け換え可能に収容する基板収容部と、
前記保持位置に保持された前記試験基板と一端が接続され、前記パフォーマンスボードと他端が接続される接続ケーブルと、
前記基板収容部における異なる複数の固定位置に付け換え可能に、いずれかの前記固定位置に固定され、当該固定位置に対応して予め定められた前記保持位置に、前記試験基板を保持する保持部材と、
前記保持部材が固定される前記固定位置に対応して予め定められた設置位置に取り外し可能に設置され、前記試験基板が前記基板収容部の内部に挿入される場合に、当該試験基板の一辺をガイドするガイド部材と
を備える接続ユニット。 - 前記保持位置に保持された前記試験基板と一端が接続され、前記テスタ制御部と他端が接続される制御部用ケーブルを更に備える請求項1に記載の接続ユニット。
- 前記基板収容部は、前記保持部材を取りつける面において、前記複数の固定位置のそれぞれに対応して列状に形成された複数の孔部を有し、
前記保持部材は、前記孔部と係合すべき突起を有する請求項1に記載の接続ユニット。 - 前記基板収容部は、複数の前記試験基板を収容し、
前記接続ユニットは、
一端及び他端がそれぞれ異なる前記試験基板と接続される基板間ケーブルを更に備える請求項1に記載の接続ユニット。 - 前記基板収容部は、複数の前記試験基板を収容し、
前記接続ユニットは、
複数の前記試験基板とそれぞれ接続される接続基板を更に備える請求項1に記載の接続ユニット。 - 前記試験基板と一端が接続され、前記テスタ制御部と他端が接続される制御部用ケーブルを更に備え、
前記接続基板は、複数の前記試験基板と前記制御部用ケーブルとを電気的に接続する請求項5に記載の接続ユニット。 - 電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスを載置するパフォーマンスボードと、
前記電子デバイスの試験を制御する制御信号を生成するテスタ制御部と、
前記パフォーマンスボードおよび前記テスタ制御部を電気的に接続する接続ユニットと
を備え、
前記接続ユニットは、
前記テスタ制御部と電気的に接続される試験基板を異なる複数の保持位置に付け換え可能に収容する基板収容部と、
前記保持位置に保持された前記試験基板と一端が接続され、前記パフォーマンスボードと他端が接続される接続ケーブルと、
前記基板収容部における異なる複数の固定位置に付け換え可能に、いずれかの前記固定位置に固定され、当該固定位置に対応して予め定められた前記保持位置に、前記試験基板を保持する保持部材と、
前記保持部材が固定される前記固定位置に対応して予め定められた設置位置に取り外し可能に設置され、前記試験基板が前記基板収容部の内部に挿入される場合に、当該試験基板の一辺をガイドするガイド部材と
を有する試験装置。 - 前記接続ユニットは、前記保持位置に保持された前記試験基板と一端が接 続され、前記テスタ制御部と他端が接続される制御部用ケーブルを更に有する請求項7に記載の試験装置。
- 前記基板収容部は、複数の前記試験基板を収容し、
前記接続ユニットは、一端及び他端がそれぞれ異なる前記試験基板と接続される基板間ケーブルを更に有する請求項7に記載の試験装置。 - 前記基板収容部は、複数の前記試験基板を収容し、
前記接続ユニットは、複数の前記試験基板とそれぞれ接続される接続基板を更に備える請求項7に記載の試験装置。
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