JP4102118B2 - 走査型プローブ顕微鏡及び調整治具 - Google Patents

走査型プローブ顕微鏡及び調整治具 Download PDF

Info

Publication number
JP4102118B2
JP4102118B2 JP2002180134A JP2002180134A JP4102118B2 JP 4102118 B2 JP4102118 B2 JP 4102118B2 JP 2002180134 A JP2002180134 A JP 2002180134A JP 2002180134 A JP2002180134 A JP 2002180134A JP 4102118 B2 JP4102118 B2 JP 4102118B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
holder
base
slider
lever
cantilever
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002180134A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004020534A (ja
Inventor
裕史 宮本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp filed Critical Olympus Corp
Priority to JP2002180134A priority Critical patent/JP4102118B2/ja
Publication of JP2004020534A publication Critical patent/JP2004020534A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4102118B2 publication Critical patent/JP4102118B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、走査型プローブ顕微鏡及び調整治具に関する。
【0002】
【従来の技術】
走査型トンネル顕微鏡(STM)や原子間力顕微鏡(AFM)など、簡単な構成で原子サイズレベルの高い縦横方向分解能を有する走査型プローブ顕微鏡(SPM)が提案されている。SPMの一つに、先端に探針を設けたカンチレバーを用いるタイプがある。カンチレバーの先端に支持された探針を試料に近づけると、探針先端と試料表面の両原子間に相互作用が働き、その強さに応じてカンチレバーの先端が上下方向(Z方向)に変位する。試料表面の所望の領域の範囲内で探針を表面方向(XY方向)に走査すれば、その領域の各点における相互作用がカンチレバーの変位として確認される。例えば、相互作用を原子間力とした場合、その強さは探針先端と試料表面の間隔に依存するため、走査領域の各点での高さ情報(Z位置)が得られる。この高さ情報を試料表面上での位置情報(XY位置)に同期させて処理すれば、試料表面の三次元的な画像が得られる。
【0003】
カンチレバータイプのSPMでは、カンチレバーの先端の変位を検出するセンサが必要である。このようなセンサには一般に光学的な手法によるものが用いられ、光学系の各素子とカンチレバー先端との間で光学調整を行う必要がある。このため、SPMには、光学系に対するカンチレバーの位置を調整する位置調整機構が必ず設けられている。通常、このような位置調整機構はカンチレバーを移動可能に保持するよう構成されている。このようなSPMでは、カンチレバーを付け換える度に光学調整を行う必要があり、交換に伴う時間的損失が多い。
【0004】
そこで、特開平9−15250に、予め、レバーホルダにカンチレバーを位置決めして保持し、カンチレバーホルダをホルダ保持手段に装着するSPMが開示されている。このSPMでは、装着後のカンチレバーの光学調整を不要にして交換に伴うSPMの非可動時間の削減を実現している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
このようなSPMでは、カンチレバーの位置決めを行うために、カンチレバーをアーム機構で掴み、レバーホルダに対してカンチレバー自体を相対的に移動する調整治具を用いていた。しかしながら、カンチレバーは極めて小さく、また、その形状も多種であるため、様々なアーム機構が必要になるばかりでなく、作業も困難であった。
【0006】
本発明は、より簡単にかつ短時間に位置決め作業を行うことができる走査型プローブ顕微鏡及び調整治具を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の請求項1に係わる走査型プローブ顕微鏡は、
カンチレバーと、
このカンチレバーを保持するホルダスライダと、ホルダベースと、ホルダスライダがホルダベースに対して移動可能なようにホルダスライダを支持する支持手段とを有しているレバーホルダと、
基部と、
この基部に設けられていて、前記レバーホルダのホルダベースを着脱可能に保持し、ホルダベースを保持した状態でホルダベースを基部に対して位置決めするレバーホルダ保持部と、
を備えており、
前記ホルダベースが前記基部に位置決めされた状態で前記ホルダスライダに保持された前記カンチレバーが規準位置に位置するよう、レバーホルダ保持部にホルダベースが保持されていない状態でホルダスライダがホルダベースに対して移動される。
【0008】
本発明の請求項2に係わる走査型プローブ顕微鏡では、前記レバーホルダの支持手段は、前記ホルダベースの表面に設けられているガイド部と、このガイド部に前記ホルダスライダを押し付けるクランプ機構とを有しており、ホルダスライダはガイド部に押し付けられた状態でガイド部に沿って移動する。
【0009】
本発明の請求項3に係わる走査型プローブ顕微鏡では、前記レバーホルダの支持手段は、前記ホルダベースの表面に設けられているガイド部と、磁力によりこのガイド部に前記ホルダスライダを押し付ける磁力押付け手段とを有しており、ホルダスライダはガイド部に押し付けられた状態でガイド部に沿って移動する。
【0010】
本発明の請求項4に係わる調整治具は、前記走査型プローブ顕微鏡に設けられた前記レバーホルダの前記ホルダスライダを前記ホルダベースに対して移動させ、調整治具は、
本体と、
この本体に設けられていて、前記レバーホルダのホルダベースを着脱可能に保持し、ホルダベースを保持した状態でホルダベースを本体に対して位置決めするレバーホルダ調整保持部と、
前記ホルダベースが本体に対して位置決めされた状態で、前記ホルダスライダをホルダベースに対して移動するホルダスライダ駆動手段と、
前記ホルダベースが本体に対して位置決めされた状態で、前記ホルダスライダに保持された前記カンチレバーの拡大光学像を取得する拡大光学系と、
この拡大光学像に、前記カンチレバーの照準位置を指示する照準マーカーを重畳する照準手段と、
を備えており、
前記照準位置は、
前記レバーホルダ調整保持部に前記ホルダベースを保持させてホルダベースを前記本体に対して位置決めし、
ホルダスライダ駆動手段を用いてホルダスライダをホルダベースに対して移動させてホルダスライダに保持されたカンチレバーを照準位置に位置させ、
前記レバーホルダ保持部に前記ホルダベースを保持させてホルダベースを前記基部に対して位置決めすると、
カンチレバーが前記規準位置に位置するよう設定されている。
【0011】
ホルダベースを前記本体に対して位置決めした状態で、拡大光学系を用いてカンチレバーを観察しながら、ホルダスライダ駆動手段を用いてホルダスライダをホルダベースに対して移動させることで、照準マーカーにより指示された照準位置にカンチレバーを位置させることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1〜図7を参照して、本発明の実施の形態に係わる走査型プローブ顕微鏡及びを説明する。先ず、図1〜図3を参照して本発明の第1の実施の形態の走査型プローブ顕微鏡を説明する。図1は走査型プローブ顕微鏡の側面図である。図中のZ軸の正の方向は上に向いている。本実施の形態の走査型プローブ顕微鏡はレバー走査型の走査型プローブ顕微鏡である。探針23を先端に有するカンチレバー20が、レバーホルダ30に保持されている。レバーホルダ30はセンサヘッド12に設けられたレバーホルダ保持部17に取り付けられている。センサヘッド12は基部として用いられている。センサヘッド12は、センサヘッド12を走査するスキャナ11を介して本体10に取り付けられている。図1では、センサヘッド12とレバーホルダ30の断面が示されている。センサヘッド12には、光源13、ミラー14、受光素子16が内蔵されている。これらは探針23の変位を検出する光テコセンサを構成している。
【0013】
図2はカンチレバー20の先端の平面図である。レバー支持部21にはレバー22が支持されている。レバー22の先端に探針23が設けられている。レバー22の所定の部分15には、光源13から出射し、ミラー14で偏向された光が照射される。レバーホルダ30はレバーホルダ保持部17に着脱可能に取り付けられる。レバーホルダ保持部17は取り付けがなされたときの位置再現性が極めて高くなるように、高精度に加工されている。
【0014】
図3はレバーホルダ30の平面図である。カンチレバー20はクランプ機構34によりホルダスライダ33に着脱可能に保持されている。クランプ機構34は一端がピンでホルダスライダ33に固定された板バネにより形成されている。ホルダスライダ33は、ホルダスライダ33がホルダベース31に対して移動可能なように、支持手段により支持されている。
【0015】
支持手段は、ホルダベース31の表面に設けられているガイド部31aと、ガイド部31aにホルダスライダ33を押し付けるクランプ機構32とにより構成されている。ホルダベース31の一面は平滑にされている。この平滑な表面がガイド部31aとして用いられている。ホルダスライダ33はガイド部31aに押し付けられた状態でガイド部31aに沿って移動する。クランプ機構32は一端がピンでホルダベース31に固定された板バネにより形成されている。レバーホルダ30はホルダスライダ33、ホルダベース31及び支持手段により構成されている。カンチレバー20を交換する場合は、ホルダスライダ33に対してクランプ機構34の板バネを持ち上げて、カンチレバー20を外し、別のカンチレバー20をクランプ機構34で挟む。
【0016】
ホルダベース31は蟻組みを用いてレバーホルダ保持部17に着脱可能に保持される。レバーホルダ保持部17は蟻溝を有している。ホルダベース31の両側にはレバーホルダ保持部17の蟻溝に嵌合する突出部31bが形成されている。レバーホルダ保持部17はホルダベース31を保持した状態でレバーホルダ30をセンサヘッド12に対して位置決めする。即ち、蟻溝に突出部31bが嵌合すると、センサヘッド12に対するホルダベース31の位置が決まる。蟻溝と突出部31bとは、着脱の位置再現性が比較的高い数μm以下になるよう高精度に加工されている。
【0017】
ホルダベース31がセンサヘッド12に位置決めされた状態でホルダスライダ33に保持されたカンチレバー20が規準位置に位置するよう、レバーホルダ保持部17にホルダベース31が保持されていない状態でホルダスライダ33がホルダベース31に対して移動される。規準位置は、カンチレバー20が規準位置に位置するときに、センサヘッド12に設けられた光テコセンサの光がカンチレバー20のレバー22の所定の部分15(図2参照)に照射される位置である。上述したように、ホルダベース31をレバーホルダ保持部17に対して着脱する際に着脱の位置再現性が比較的高い。従って、上述のようにホルダスライダ33がホルダベース31に対して移動された後にホルダベース31をレバーホルダ保持部17に保持させると、カンチレバー20は極めて精度良く規準位置に位置する。即ち、カンチレバー20交換時の探針23の位置再現性が高い。
【0018】
次に、図4〜図6を参照して実施の形態の調整治具を説明する。図4は調整治具40の側面図である。本体41には光学顕微鏡42、XYZステージ43、レバーホルダ調整保持部50が搭載されている。レバーホルダ調整保持部50は、ホルダベース31を着脱可能に保持し、ホルダベース31を保持した状態でホルダベース31を本体41に対して位置決めする。XYZステージ43にはホルダスライダ33の周縁を支持することができるアーム44が固定されている。XYZステージ43とアーム44は、ホルダベース31が本体41に対して位置決めされた状態で、ホルダスライダ33をホルダベース31に対して移動するホルダスライダ駆動手段として用いられている。光学顕微鏡42は、ホルダベース31が本体41に対して位置決めされた状態で、ホルダスライダ33に保持されたカンチレバー20の拡大光学像を取得する。光学顕微鏡42は拡大光学系として用いられている。
【0019】
図5はレバーホルダ調整保持部50に取り付けられたレバーホルダ30の斜視図である。レバーホルダ調整保持部50には、レバーホルダ保持部17の蟻溝と同じ蟻溝51が形成されている。ホルダベース31の両側に形成された突出部31bにはV字形の切欠き35が形成されている。蟻溝51にはクリック機構が設けられている。クリック機構はバネ52により付勢された球53により構成されている。突出部31bを蟻溝51に嵌合させると、球53がV字形の切欠き35に押し当てられる。これにより、ホルダベース31は蟻溝51の内壁に押し当てられるので、ホルダベース31は本体41に対して高精度に位置決めされる。このため、ホルダベース31をレバーホルダ調整保持部50に対して着脱する際に着脱の位置再現性は高い。
【0020】
カンチレバー20の交換手順について説明する。先ず、走査型プローブ顕微鏡から、カンチレバー20が取り付けられたレバーホルダ30を取り外す。次に、レバーホルダ調整保持部50にホルダベース31を保持させてホルダベース31を本体41に対して位置決めする。次に、レバーホルダ30からカンチレバー20を取り外し、別のカンチレバー20を取り付ける。カンチレバー20はクランプ機構34の板バネとホルダベースとの間に挟まれているだけなので、カンチレバー20は位置決めされていない。
【0021】
図6は光学顕微鏡42を用いてカンチレバー20を観察した様子を示す図である。光学顕微鏡42には、光学顕微鏡42により取得されたカンチレバー20の拡大光学像に、カンチレバー20の照準位置を指示する照準マーカーを重畳する照準手段が内蔵されている。カンチレバー20を交換後に光学顕微鏡42を用いてカンチレバー20を観察すると、照準マーカー、即ちクロスライン42aが同時に観察できる。クロスライン42aは、カンチレバー20が取り付けられたレバーホルダ30を走査型プローブ顕微鏡に取り付けた状態で、光テコセンサの光がカンチレバー20のレバー22の所定の部分15(図2参照)に照射されるよう、カンチレバー20の探針23を位置合わせするための指標である。クロスライン42aにより指示された照準位置は、光テコセンサの光がレバー22の部分15に照射されるときにカンチレバー20が位置する位置である。
【0022】
別のカンチレバー20を取り付けた後、ホルダスライダ駆動手段を用いてホルダスライダ33をホルダベース31に対して移動させてホルダスライダ33に保持されたカンチレバー20を照準位置に位置させる。このとき、光学顕微鏡42を用いて探針23の位置を観察しながら、クロスライン42aに探針23を合わせる。カンチレバー20を照準位置に位置させるには、XYZステージ43を用いてアーム44をZ方向(上下方向)に移動させることにより、アーム44にホルダスライダ33の周縁を支持させた後、XYZステージ43を用いてホルダスライダ33をXY方向(水平方向)に移動させる。XY方向に移動させるとき、ホルダスライダ33はホルダベース31のガイド部31a(図3及び図5参照)に押し付けられた状態でガイド部31aに沿って移動する。カンチレバー20が照準位置に位置したら、XYZステージ43を用いてZ方向にアーム44を移動させてアーム44をホルダスライダ33から離す。
【0023】
この後、レバーホルダ30を調整治具から取り外し、走査型プローブ顕微鏡のレバーホルダ保持部17にレバーホルダ30のホルダベース31を保持させてホルダベース31をセンサヘッド12に対して位置決めすると、カンチレバー20が上述した規準位置に位置する。走査型プローブ顕微鏡のレバーホルダ保持部17の蟻溝の構造と、調整治具40のレバーホルダ調整保持部50の蟻溝51の構造とは同じであり、レバーホルダ30はレバーホルダ保持部17及びレバーホルダ調整保持部50のどちらにも位置再現性良く着脱可能に取り付けられる。
【0024】
本実施の形態では平滑な表面がガイド部31aとして用いられているが、ホルダベース31の表面に形成された1方向又は2方向に延びるガイド溝がガイド部31aとして用いられても良い。この場合、ガイド溝の延びる方向がホルダスライダ33の移動方向を規定する。
【0025】
また、本実施の形態ではアーム44はホルダスライダ33の周縁を支持するよう構成されているが、弾性部材でホルダスライダを抑える機構として、Z方向に押圧することで平行移動することも可能であることはいうまでもない。
【0026】
本実施の形態の調整治具を用いれば、カンチレバー20を保持したホルダスライダ33をホルダベース31に対して移動させることで、カンチレバー20の形状に左右されることなくカンチレバー20を規準位置に位置させることができる。従って、カンチレバー20の交換を短時間で行うことができる。
【0027】
次に、図7を参照して本発明の第2の実施の形態の走査型プローブ顕微鏡を説明する。本実施の形態の構成は、基本的に第1の実施の形態の構成と同じである。本実施の形態において、第1の実施の形態の走査型プローブ顕微鏡の図1〜図3を参照して説明した構成部材と実質的に同一の構成部材は、第1の実施の形態の対応する構成部材を指示していた参照符号と同じ参照符号を付して詳細な説明を省略する。本実施の形態の構成が第1の実施の形態の構成と異なる点は、ホルダスライダ33をホルダベース31に対して移動可能なように支持する支持手段の構成である。図7は走査型プローブ顕微鏡のレバーホルダ30の断面図である。本実施の形態の支持手段は板バネの代わりに磁力によりホルダベース31のガイド部31aにホルダスライダ33を押し付ける磁力押付け手段を有している。磁力押付け手段はホルダベース31に内蔵された磁性体36により構成されている。調整治具によりホルダベース31に対してホルダスライダ33が移動される際に、第1の実施の形態と同様にホルダスライダ33はガイド部31aに押し付けられた状態でガイド部31aに沿って移動する。調整治具によりホルダベース31に対してホルダスライダ33が移動される際に、ホルダベース31はよりスムーズに移動される。
【0028】
尚、本発明は上述した実施の形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変形や応用が可能であることは勿論である。
【0029】
【発明の効果】
本発明によれば、調整治具を用いてホルダベースに対してホルダスライダを移動させた後にレバーホルダを走査型プローブ顕微鏡のレバーホルダ保持部に装着するだけでカンチレバーは精度良く照準位置に位置する。従って、カンチレバーの交換時の光学調整が不要になり、時間的損失がなくなる。これにより、走査型プローブ顕微鏡の非可動時間が減少する。また、調整治具を利用してカンチレバーを保持したホルダスライダをホルダベースに対して移動させることで、カンチレバーの形状に左右されることなくカンチレバーを規準位置に位置させることができる。従って、カンチレバーの交換を短時間で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態における走査型プローブ顕微鏡の側面図。
【図2】カンチレバーの先端の平面図。
【図3】レバーホルダの平面図。
【図4】本発明の実施の形態における調整治具の側面図。
【図5】図4の調整治具のレバーホルダ調整保持部に取り付けられたレバーホルダの斜視図。
【図6】図4の調整治具の光学顕微鏡を用いてカンチレバーを観察した様子を示す図。
【図7】本発明の第2の実施の形態における走査型プローブ顕微鏡のレバーホルダの断面図。
【符号の説明】
12 センサヘッド(基部)
17 レバーホルダ保持部
20 カンチレバー
23 探針
30 レバーホルダ
31 ホルダベース
31a ガイド部(支持手段)
32 クランプ機構(支持手段)
33 ホルダスライダ
34 クランプ機構
36 磁性体(磁力押付け手段)
40 調整治具
41 本体
42 光学顕微鏡(拡大光学系)
42a クロスライン(照準マーカー)
43 XYZステージ(ホルダスライダ駆動手段)
44 アーム(ホルダスライダ駆動手段)
50 レバーホルダ調整保持部

Claims (4)

  1. カンチレバーと、
    このカンチレバーを保持するホルダスライダと、ホルダベースと、ホルダスライダがホルダベースに対して移動可能なようにホルダスライダを支持する支持手段とを有しているレバーホルダと、
    基部と、
    この基部に設けられていて、前記レバーホルダのホルダベースを着脱可能に保持し、ホルダベースを保持した状態でホルダベースを基部に対して位置決めするレバーホルダ保持部と、
    を備えており、
    前記ホルダベースが前記基部に位置決めされた状態で前記ホルダスライダに保持された前記カンチレバーが規準位置に位置するよう、レバーホルダ保持部にホルダベースが保持されていない状態でホルダスライダがホルダベースに対して移動されることを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。
  2. 前記レバーホルダの支持手段は、前記ホルダベースの表面に設けられているガイド部と、このガイド部に前記ホルダスライダを押し付けるクランプ機構とを有しており、ホルダスライダはガイド部に押し付けられた状態でガイド部に沿って移動することを特徴とする請求項1に記載の走査型プローブ顕微鏡。
  3. 前記レバーホルダの支持手段は、前記ホルダベースの表面に設けられているガイド部と、磁力によりこのガイド部に前記ホルダスライダを押し付ける磁力押付け手段とを有しており、ホルダスライダはガイド部に押し付けられた状態でガイド部に沿って移動することを特徴とする請求項1に記載の走査型プローブ顕微鏡。
  4. 請求項1乃至3いずれか1項に記載の走査型プローブ顕微鏡に設けられた前記レバーホルダの前記ホルダスライダを前記ホルダベースに対して移動させる調整治具であって、
    本体と、
    この本体に設けられていて、前記レバーホルダのホルダベースを着脱可能に保持し、ホルダベースを保持した状態でホルダベースを本体に対して位置決めするレバーホルダ調整保持部と、
    前記ホルダベースが本体に対して位置決めされた状態で、前記ホルダスライダをホルダベースに対して移動するホルダスライダ駆動手段と、
    前記ホルダベースが本体に対して位置決めされた状態で、前記ホルダスライダに保持された前記カンチレバーの拡大光学像を取得する拡大光学系と、
    この拡大光学像に、前記カンチレバーの照準位置を指示する照準マーカーを重畳する照準手段と、
    を備えており、
    前記照準位置は、
    前記レバーホルダ調整保持部に前記ホルダベースを保持させてホルダベースを前記本体に対して位置決めし、
    ホルダスライダ駆動手段を用いてホルダスライダをホルダベースに対して移動させてホルダスライダに保持されたカンチレバーを照準位置に位置させ、
    前記レバーホルダ保持部に前記ホルダベースを保持させてホルダベースを前記基部に対して位置決めすると、
    カンチレバーが前記規準位置に位置するよう設定されていることを特徴とする調整治具。
JP2002180134A 2002-06-20 2002-06-20 走査型プローブ顕微鏡及び調整治具 Expired - Fee Related JP4102118B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002180134A JP4102118B2 (ja) 2002-06-20 2002-06-20 走査型プローブ顕微鏡及び調整治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002180134A JP4102118B2 (ja) 2002-06-20 2002-06-20 走査型プローブ顕微鏡及び調整治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004020534A JP2004020534A (ja) 2004-01-22
JP4102118B2 true JP4102118B2 (ja) 2008-06-18

Family

ID=31177354

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002180134A Expired - Fee Related JP4102118B2 (ja) 2002-06-20 2002-06-20 走査型プローブ顕微鏡及び調整治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4102118B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006072081A (ja) * 2004-09-03 2006-03-16 Keyence Corp 顕微鏡装置
CN105683763B (zh) * 2013-10-31 2018-11-27 株式会社岛津制作所 悬臂安装夹具及具备该悬臂安装夹具的扫描探针显微镜
CN104122416A (zh) * 2014-08-07 2014-10-29 苏州飞时曼精密仪器有限公司 一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004020534A (ja) 2004-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4121961B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡
US5854487A (en) Scanning probe microscope providing unobstructed top down and bottom up views
US5448399A (en) Optical system for scanning microscope
US7709791B2 (en) Scanning probe microscope with automatic probe replacement function
US8209766B2 (en) Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure
JP4102118B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡及び調整治具
US20130014296A1 (en) Probe assembly for a scanning probe microscope
US20100031402A1 (en) Probe aligning method for probe microscope and probe microscope operated by the same
US20060284084A1 (en) Probe manufacturing method, probe, and scanning probe microsope
EP1876437A1 (en) Scanning stage for scanning probe microscope
EP1927845A1 (en) Cantilever holder and scanning probe microscope including the same
JP3780028B2 (ja) 走査型プローブ顕微鏡用の調整治具
JP2003140053A (ja) 光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡
US20100218285A1 (en) Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure
JP2006072081A (ja) 顕微鏡装置
JPH10267948A (ja) 走査型プローブ顕微鏡
JPH0829435A (ja) カンチレバー着脱機構
JPH01287403A (ja) 走査型トンネル顕微鏡
JP2000329772A (ja) 走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具
JP2004301728A (ja) 顕微鏡対物レボルバ取付型走査型プローブユニット
JPH05256642A (ja) 原子間力顕微鏡
US20090200462A1 (en) Scanning probe microscope capable of measuring samples having overhang structure
JP2006023443A (ja) 顕微鏡装置
JPH0854404A (ja) 原子間力顕微鏡ユニット
Hung et al. Automatic probe alignment for atomic force microscope

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050607

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080311

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080321

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110328

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110328

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120328

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120328

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130328

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140328

Year of fee payment: 6

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees