JPH0829435A - カンチレバー着脱機構 - Google Patents

カンチレバー着脱機構

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JPH0829435A
JPH0829435A JP16514794A JP16514794A JPH0829435A JP H0829435 A JPH0829435 A JP H0829435A JP 16514794 A JP16514794 A JP 16514794A JP 16514794 A JP16514794 A JP 16514794A JP H0829435 A JPH0829435 A JP H0829435A
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JP
Japan
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cantilever
holder
attaching
probe
base
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Application number
JP16514794A
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English (en)
Inventor
Hideki Nagaoka
秀樹 長岡
Norio Maruyama
則夫 丸山
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0829435A publication Critical patent/JPH0829435A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】簡単且つ短時間にカンチレバーを交換可能で且
つ交換前後の使用状態をほぼ一致させることが可能なコ
ンパクトなカンチレバー着脱機構を提供する。 【構成】自由端に探針2を有するカンチレバー4の基端
を支持する基板6を着脱自在に構成され且つカンチレバ
ーを所定方向に位置決め保持可能なホルダ26と、カン
チレバーを水平面Hに対して所定の傾斜角度θに位置決
めさせると共に探針を所定位置に位置決めさせるよう
に、ホルダを着脱自在に支持可能な支持台28とを備え
る。支持台には、ホルダを挿脱可能なアリ溝30が形成
されており、ホルダには、基板を着脱可能な着脱部32
が設けられている。着脱部は、基盤を角度θだけ傾斜さ
せて装着可能な装着面32aと、基盤の当接面6bを当
接支持する第1のガイド面32bと、バリ6aを回避し
て傾斜延出され且つその延出端によって基盤の側面6c
を当接支持する第2のガイド面32cとを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば走査型プローブ
顕微鏡に用いられるカンチレバーを着脱自在に支持する
カンチレバー着脱機構に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、自由端に尖鋭化された探針を有す
るカンチレバーによって、試料の表面情報を測定する走
査型プローブ顕微鏡として、例えば原子間力顕微鏡(A
FM)や磁気力顕微鏡(MFM)等が知られている。
【0003】この種の走査型プローブ顕微鏡は、試料を
カンチレバーに対して走査させる試料走査型と、カンチ
レバーを試料に対して走査させるカンチレバー走査型と
に大別されるが、いずれの場合も、探針と試料との間に
働く相互作用によって生じるカンチレバーの変位量が一
定になるようにフィードバック制御をかけながら、試料
の表面情報が測定されている。
【0004】図3には、その1例として、カンチレバー
走査型プローブ顕微鏡の構成が概略的に示されている。
図3に示すように、カンチレバー走査型プローブ顕微鏡
は、自由端に探針2を有するカンチレバー4と、このカ
ンチレバー4が水平面Hに対して所定の傾斜角度θにな
るように、カンチレバー4の基端を支持する基板6と、
この基板6を支持し且つ基板6を移動させることによっ
て、カンチレバー4の自由端を所定位置に位置決めする
移動機構8と、探針2と試料10との間の相互作用によ
って生じるカンチレバー4の変位を光学的に検出する変
位検出光学系とを具備した走査ユニット12を備えてお
り、この走査ユニット12は、アプローチ機構部14に
よって支持された圧電体16に接続されている。
【0005】走査ユニット12に設けられた変位検出光
学系は、光てこ法によってカンチレバー4の変位を検出
可能に構成されており、レーザー光をカンチレバー4の
反射面に出射する半導体レーザ18と、反射面から反射
した反射光を受光して、その受光量に対応した電気信号
を出力する受光素子20とを備えている。
【0006】このような構成によれば、ホストコンピュ
ータ22から出力された信号に基づいて、制御回路24
は、アプローチ機構部14を介して走査ユニット12を
下降させて、探針2を試料10から所定距離に位置付け
る。
【0007】このとき、探針2と試料10との間に生じ
た相互作用によって、カンチレバー4は所定量だけ変位
する。この変位量は、上記変位検出光学系によって光学
的に検出され、その変位量に対応した電気信号がホスト
コンピュータ22に入力される。ホストコンピュータ2
2は、入力した電気信号に基づいて、制御回路24に所
定の信号を送信する。なお、上記変位検出光学系の光軸
上にカンチレバー4の反射面が位置付けられていない場
合には、例えば移動機構8によって、カンチレバー4の
位置を調節することになる。
【0008】制御回路24は、送信された信号に基づい
て、カンチレバー4の変位が一定に維持されるように、
圧電体16を駆動制御しながら、走査ユニット12を試
料10に沿って移動制御する。このとき、制御回路24
から出力される制御信号に基づいて、試料10の表面情
報がホストコンピュータ22上に画像化されることにな
る。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述したような走査型
プローブ顕微鏡において、カンチレバー4は、最も重要
な部品であり、その自由端に設けられた探針2の尖鋭化
の程度によって測定データの善し悪しが決定される。
【0010】従って、高精度な測定データを得るために
は、カンチレバー4は頻繁に交換する必要がある。しか
しながら、カンチレバー4は、一般的に、長さ100〜
200μm、幅50μm、厚さ0.4〜4μm程度の薄
膜微小部品であり、その自由端に設けられている探針2
の長さも約6μmと短く耐久性もそれほど高くはない。
【0011】そこで、カンチレバー4の基端を支持する
基板6ごと交換することが考えられる。しかし、新たな
カンチレバー4を基板6を介して移動機構8に取り付け
たときにも、その都度、カンチレバー4の自由端の位置
合わせや貼着位置の調節等の作業は大変手間がかかり面
倒である。更に、カンチレバー4の傾斜角度θを調整し
なければならず更に手間がかかる。
【0012】そこで、走査ユニット12を圧電体16か
ら取り外してしまうことも考えられるが、走査ユニット
12の取り外し作業には、種々の電気系統の取り外し作
業も必要となり、カンチレバー4の交換作業とは無関係
の作業をも強いられる。
【0013】また、カンチレバー4の交換に際し、交換
後のカンチレバー4の位置が、交換前の位置にほぼ一致
させることが望まれるが、上述した各交換作業におい
て、新たなカンチレバー4を従前に使用されていたカン
チレバー4の使用状態と少なくとも近い位置若しくは同
様になるように再現させること、即ち、傾斜角度θやカ
ンチレバー4の自由端の位置を交換前後で互いにほぼ一
致させることは極めて困難である。
【0014】本発明は、このような課題を解決するため
になされており、その目的は、簡単且つ短時間にカンチ
レバーの交換が可能であって且つ交換前後の使用状態を
ほぼ一致させることが可能なコンパクトなカンチレバー
着脱機構を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明のカンチレバー着脱機構は、自由端に
探針を有するカンチレバーの基端を支持する基板を着脱
自在に構成され且つ前記カンチレバーを所定方向に所定
角度で位置決め保持可能なホルダと、前記カンチレバー
を基準面に対して所定の傾斜角度に位置決めさせると共
に前記カンチレバーの探針を所定位置に位置決めさせる
ように、前記ホルダを着脱自在に支持可能な支持台とを
備えている。
【0016】
【作用】ホルダを支持台に装着することによって、カン
チレバーが基準面に対して所定の傾斜角度に位置決めさ
れる共にカンチレバーの探針が所定位置に位置決めされ
る。
【0017】
【実施例】以下、本発明の一実施例に係るカンチレバー
着脱機構について、添付図面を参照して説明する。な
お、本実施例の説明に際し、図3に開示された構成と同
一の構成には同一符号を付して、その説明を省略する。
【0018】図1(a)に示すように、本実施例のカン
チレバー着脱機構は、自由端に探針2を有するカンチレ
バー4の基端を支持する基板6を着脱自在に構成され且
つカンチレバー4を所定方向に所定角度で位置決め保持
可能なホルダ26と、カンチレバー4を基準面即ち水平
面Hに対して所定の傾斜角度θに位置決めさせると共に
カンチレバー4の探針2を所定位置に位置決めさせるよ
うに、ホルダ26を着脱自在に支持可能な支持台28と
を備えている。
【0019】具体的には、本実施例のカンチレバー着脱
機構は、上記の走査ユニット12の移動機構8に固定さ
れた支持台28に対してホルダ26を装着させることに
よって、カンチレバー4を水平面Hに対して所定の傾斜
角度θに位置決めさせると共にカンチレバー4の探針2
を所定位置(従前に使用されていたカンチレバー4の探
針2の位置とほぼ等しい位置)に位置決めさせるように
構成されている。なお、傾斜角度θは、0<θ≦約10
°なる関係を満足することが好ましい。
【0020】図1(b),(c)及び図2(a)に示す
ように、支持台28には、ホルダ26を挿脱可能な断面
台形状のアリ溝30(図2(a)参照)が形成されてい
る。また、ホルダ26は、自由端に探針2を有するカン
チレバー4の基端を支持する基板6を着脱可能な着脱部
32を備えており、全体として断面台形状のアリ部材と
して構成されている。また、ホルダ26は磁性体によっ
て構成され、支持台28には、磁石(図示しない)が内
蔵されている。このため、支持台28のアリ溝30に挿
入されたホルダ26は、磁気作用によって吸引固定され
ることになる。
【0021】一方、図1(b),(c)に示すように、
カンチレバー4の基端を支持する基板6は、通常ガラス
基板で複数個の基板6が一体的に形成されている。この
ため、必要に応じて1個づつ折り取られて使用されてい
る。従って、折り取られた個々の基板6には、夫々、そ
の底部両側にバリ6aが残存している。
【0022】このような基板6を着脱可能な着脱部32
には、ホルダ26を支持台28に装着させた際カンチレ
バー4が水平面H(図1(a)参照)に対して所定の傾
斜角度θに位置決めされるように、基盤6を装着可能な
装着面32aと、この装着面32a上に装着させる基盤
6の向きを一定の方向にガイドする第1及び第2のガイ
ド面32b,32cとが設けられている。
【0023】装着面32aは、ホルダ26の一部を所定
の傾斜角度で切り欠いて形成されており、この傾斜角度
は、カンチレバー4の傾斜角度θに対応している。第1
のガイド面32bは、図1(b)中矢印S方向から装着
される基盤6の当接面6bが均等に当接支持可能に形成
されている。
【0024】第2のガイド面32cは、第1のガイド面
32bに直交して連続形成されており、基盤6のバリ6
aを回避して傾斜延出され且つその延出端によって基盤
6の側面6c(図1(b)、(c)参照)を当接支持可
能に形成されている(特に、図1(c)参照)。
【0025】このような構成によれば、使用済みカンチ
レバー4を交換する場合、まず、ホルダ26を支持台2
8から引き抜いた後、使用済みカンチレバー4の交換が
容易な向きにホルダ26を反転させ(図1(b)参
照)、使用済みカンチレバー4を取り除く。
【0026】次に、新しいカンチレバー4を支持した基
盤6を図1(b)中矢印S方向から着脱部32に挿入し
て、当接面6bを第1のガイド面32bに当接させる。
この後、基盤6を図1(b)中矢印T方向にスライドさ
せて、基盤6の側面6cを第2のガイド面32cに当接
させる。
【0027】この結果、基盤6は、その当接面6b及び
側面6cが第1及び第2のガイド面32b,32cによ
ってガイドされた状態で装着面32a上に装着される。
この後、図2に示すように、ホルダ26を支持台28の
アリ溝30に挿入させると、ホルダ26は、磁気作用に
よって支持台28に吸引固定される。
【0028】この結果、図1(a)に示すように、カン
チレバー4は、水平面Hに対して傾斜角度θに位置決め
されると共に、探針2は、従前の使用状態とほぼ一致し
た位置に位置決めされる。
【0029】このように、本実施例によれば、交換の前
後でカンチレバー4の位置をほぼ一致させることができ
るため、交換後のカンチレバー4の位置合わせ等の再調
整も僅かな微調整で足りる。従って、交換後の測定準備
の一連の作業も短時間で行うことが可能となる。しか
も、本実施例のカンチレバー着脱機構は、その構成が簡
単であり、種々対応した形状に加工することもできるた
め、機構全体のコンパクト化を実現させることができ
る。
【0030】なお、本発明は、上述した実施例の構成に
限定されることはなく、以下のように変更しても、上記
実施例と同様の作用効果を実現することができる。即
ち、図2(b)に示すように、ホルダ26の長手方向に
突設されたピン34を支持台28に形成された穴部36
に挿入することによって、ホルダ26を支持台28に装
着させることも可能である。この場合も上記実施例と同
様に、ピン34を磁性体で構成し且つ支持台28に磁石
(図示しない)を内蔵させることによって、穴部36に
挿入させたピン34を磁気作用を介して支持台28に吸
引固定させることが可能となる。
【0031】また、図2(c)に示すように、ホルダ2
6の長手方向に直交する方向に突設された一対のピン3
8を支持台28に形成された一対の穴部40に挿入する
ことによって、ホルダ26を支持台28に装着させるこ
とも可能である。この場合も上記実施例と同様に、一対
のピン38を磁性体で構成し且つ支持台28に磁石(図
示しない)を内蔵させることによって、一対の穴部40
に挿入させた一対のピン38を磁気作用を介して支持台
28に吸引固定させることが可能となる。
【0032】更に、上述した記載では、磁気作用によっ
てホルダ26を支持台28に吸引固定させているが、図
1(a)において、ホルダ26を一定の摩擦作用によっ
てアリ溝30内に保持させる方法、図1(b)におい
て、ピン34を一定の摩擦作用によって穴部36内に保
持させる方法、図1(c)において、一対のピン38を
一定の摩擦作用によって一対の穴部40内に保持させる
方法を適用することも可能である。
【0033】
【発明の効果】本発明のカンチレバー着脱機構によれ
ば、交換の前後でカンチレバーの位置をほぼ一致させる
ことができるため、交換後のカンチレバーの位置合わせ
等の再調整も僅かな微調整で足りる。従って、交換後の
測定準備の一連の作業も短時間で行うことが可能とな
る。しかも、本実施例のカンチレバー着脱機構は、その
構成が簡単であり、種々対応した形状に加工することも
できるため、機構全体のコンパクト化を実現させること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、本発明の一実施例に係るカンチレバ
ー着脱機構によってカンチレバーが走査ユニットに取り
付けられている状態を示す図、(b)は、ホルダの着脱
部にカンチレバーを支持する基盤を装着させる工程を示
す図、(c)は、着脱部に基盤を装着させた状態を図1
(b)の矢印C側から見た側面図。
【図2】(a)は、カンチレバーが取り付けられたホル
ダを支持台のアリ溝内に挿入させる状態を示す斜視図、
(b)は、本発明の変形例を示す図であって、ホルダの
長手方向に突設されたピンを支持台に形成された穴部に
挿入させる状態を示す斜視図、(c)は、本発明の他の
変形例を示す図であって、ホルダの長手方向に直交して
突設された一対のピンを支持台に形成された一対の穴部
に挿入させる状態を示す斜視図。
【図3】カンチレバー走査型プローブ顕微鏡の構成を概
略的に示す図。
【符号の説明】
2…探針、4…カンチレバー、6…基盤、6a…バリ、
6b…当接面、6c…側面、26…ホルダ、28…支持
台、30…アリ溝、32…着脱部、32a…装着面、3
2b…第1のガイド面、32c…第2のガイド面、θ…
傾斜角度。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 自由端に探針を有するカンチレバーの基
    端を支持する基板を着脱自在に構成され且つ前記カンチ
    レバーを所定方向に所定角度で位置決め保持可能なホル
    ダと、 前記カンチレバーを基準面に対して所定の傾斜角度に位
    置決めさせると共に前記カンチレバーの探針を所定位置
    に位置決めさせるように、前記ホルダを着脱自在に支持
    可能な支持台とを備えていることを特徴とするカンチレ
    バー着脱機構。
JP16514794A 1994-07-18 1994-07-18 カンチレバー着脱機構 Pending JPH0829435A (ja)

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JP16514794A JPH0829435A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 カンチレバー着脱機構

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JP16514794A JPH0829435A (ja) 1994-07-18 1994-07-18 カンチレバー着脱機構

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006072081A (ja) * 2004-09-03 2006-03-16 Keyence Corp 顕微鏡装置
JP2007309698A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Mitsutoyo Corp プローブ、および、表面性状測定装置
JP2007316062A (ja) * 2006-05-26 2007-12-06 Nanoworld Ag 走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ
EP1927845A1 (en) 2006-11-29 2008-06-04 Olympus Corporation Cantilever holder and scanning probe microscope including the same
CN104122416A (zh) * 2014-08-07 2014-10-29 苏州飞时曼精密仪器有限公司 一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置
KR20170066901A (ko) * 2015-12-07 2017-06-15 삼성전자주식회사 프로브 교환 장치 및 방법

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006072081A (ja) * 2004-09-03 2006-03-16 Keyence Corp 顕微鏡装置
JP2007309698A (ja) * 2006-05-16 2007-11-29 Mitsutoyo Corp プローブ、および、表面性状測定装置
JP2007316062A (ja) * 2006-05-26 2007-12-06 Nanoworld Ag 走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ
JP4575399B2 (ja) * 2006-05-26 2010-11-04 ナノワールド アーゲー 走査型プローブ顕微鏡用自動位置決め走査プローブ
EP1927845A1 (en) 2006-11-29 2008-06-04 Olympus Corporation Cantilever holder and scanning probe microscope including the same
CN104122416A (zh) * 2014-08-07 2014-10-29 苏州飞时曼精密仪器有限公司 一种基于扫描探针显微镜的激光检测装置
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030422