JP4098400B2 - 半導体ディスク装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、揮発性のメモリを記憶媒体とする半導体ディスク装置に関し、特に、前記揮発性のメモリに格納されているデータをバックアップするためのハードディスク(HDD)を有する半導体ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータ等のコンピュータシステムにおいて、記憶媒体に半導体メモリを用い、ハードディスク(HDD)に対するアクセスと同様に、トラック及びセクタを用いたデータのリード/ライトが可能な半導体ディスク装置が注目されている。このような半導体ディスク装置は、従来普及されているHDDに比べ、データのリード/ライトが高速に行うことができるという利点がある。
【0003】
しかし、このような半導体ディスク装置の記憶媒体にDRAM(dynamic random access memory)等の揮発性のメモリを適用した場合、半導体ディスク装置の電源の遮断(オフ)により、半導体メモリに記憶されていたデータが消失してしまう問題がある。このため、電源が遮断されている間、半導体メモリに記憶されていたデータを保持するためのバックアップ用HDDを有する半導体ディスク装置が提供されている。
【0004】
このような半導体ディスク装置では、電源の遮断命令に応じ、所定の時間だけ電源の遮断を遅らせたり、予め設けられているバッテリ等からの電力によって半導体メモリに記憶されているデータをバックアップ用HDDに退避(セーブ)する処理が行われる。
又、電源が投入された際には、退避されたデータを半導体メモリに戻す、リストア処理が行われる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、前述した半導体ディスク装置においては、バックアップ用HDDに欠陥がある場合に、電源の投入において退避されたデータが半導体メモリに正常にリストアされないという不具合が生じる。
【0006】
前記半導体ディスク装置では、図8(a)に示されるように、例えばバックアップ用HDDのメディア上に欠陥がある場合であっても、電源の遮断命令に応じたデータの退避処理は、正常に行われる。このように、メディア上に欠陥があるにもかかわらずデータの退避処理が通常通りに行われた場合、次に、電源が投入された時、図8(b)に示されるように、データのリストア処理が完全に行うことができず、半導体ディスク装置を通常通りに立ち上げることができない。
【0007】
この発明は、前記実情に鑑みてなされたものであり、バックアップ用HDDのメディア上に欠陥がある場合であっても、電源投入時のデータのリストア処理を正常に実行し、半導体メモリに記憶されるデータの破壊・消失を防止することが可能な半導体ディスク装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る半導体ディスク装置は、ディスクアクセス命令に応じてデータがリード/ライトされる揮発性のメモリを有する半導体ディスク装置において、前記メモリの容量より大きい容量をそれぞれ有する第1の領域及び第2の領域が設定されているハードディスクと、前記メモリに記憶されているデータを退避する前記第1の領域の開始アドレス及びサイズを格納する第1のレジスタと、前記第1の領域に退避されるデータと同一のデータを退避する前記第2の領域の開始アドレス及びサイズを格納する第2のレジスタと、前記半導体ディスク装置の電源の遮断に応じ、前記第1のレジスタ及び前記第2のレジスタを参照して、前記メモリに記憶されている同一のデータを、前記第1の領域及び前記第2の領域にそれぞれ記憶させる退避手段と、前記電源の遮断に応じ、前記退避手段に動作電源を供給するバッテリとを具備することを特徴とする。
【0009】
このような構成により、電源遮断時には、退避用に設けられた各領域に、揮発性のメモリに記憶されているデータが退避される。従って、例えば、前記複数の領域の内、いずれかにメディア上の欠陥があり、データの退避が正常に行われなかった場合であっても、他の領域に正常にデータの退避を行うことができる。
【0010】
前記半導体ディスク装置は、更に、電源の供給開始に応じ、前記第1の領域及び前記第2の領域の内の1つの領域に記憶されているデータを読み出し、前記メモリに記憶させるリストア手段と、このリストア手段によるデータ読み出しにおいて、エラーが発生したか否か判定する判定手段と、この判定手段によりエラーが発生したことが判定された場合、エラーが発生した領域とは異なる領域に記憶されているデータを前記メモリに記憶するように前記リストア手段を制御する制御手段とを具備することを特徴とする。
【0011】
このような構成によれば、HDDのメディア上に欠陥がある場合であっても、他の領域に記憶されているデータをメモリに転送することにより、電源投入時のデータリストア処理を正常に実行し、半導体メモリに記憶されるデータの破壊・消失を防止でき、半導体ディスク装置の正常な立ち上げ処理が可能となる。
【0012】
又、前記リストア手段は、所定の大きさのブロック毎にデータを読み出し、前記制御手段は、前記判定手段によりエラーが発生したことが判定された場合、前記エラーが発生した1ブロック分のデータを、前記エラーが発生した領域とは異なる領域から読み出して前記メモリに記憶するように前記リストア手段を制御するように構成しても良い。
【0013】
又、この前記制御手段は、前記判定手段によりエラーが発生したことが判定された場合、前記エラーが発生したブロック以降のデータを、前記エラーが発生した領域とは異なる領域から読み出して前記メモリに記憶するように前記リストア手段を制御するように構成しても良い。
このように、前記制御手段を構成することにより、前記複数の領域それぞれに欠陥がある場合であっても有効なデータリストア処理を実現することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照してこの発明に係る半導体ディスク装置の各実施形態を説明する。
図1は、この発明の第1実施形態に係る半導体ディスク装置をコンピュータシステムに適用した場合の構成を示すブロック図である。
【0015】
図1に示されるコンピュータシステム1では、半導体ディスク装置10がバス20を介してホストコンピュータ30に接続されている。半導体ディスク装置10は、バス20を介して送られるホストコンピュータ30の命令に応じ、各種処理を行う。尚、この実施形態においては、バス20は、SCSI(Small Computer System Interface) 規格に準拠したものとする。
【0016】
半導体ディスク装置10は、制御部11、メモリ12、バックアップHDD(ハードディスク)13、インターフェイス14、スイッチング回路15、バッテリ16、バッテリコントローラ17、及び内部バス18を有し、外部に設けられた電源(PS:Power Supply) から供給される電力に従って動作する。
【0017】
制御部11は、半導体ディスク装置10全体の制御を司るものであり、マイクロプロセッサ110、F/W(ファームウェア)メモリ111、及びレジスタReg1,Reg2を有する。マイクロプロセッサ110は、制御部11の中心部であり、ホストコンピュータ30から送られる命令に従った処理等、各種処理を実行する。F/Wメモリ111は、マイクロプロセッサ110の動作に必要な各種プログラムを記憶する。レジスタReg1及びReg2は、それぞれ、後述する退避領域の開始アドレス及びサイズを記憶する。尚、この実施形態においては、電源19の電源遮断時、レジスタReg1,Reg2に記憶されている内容は、バックアップHDD13の所定の領域に退避される。
【0018】
メモリ12は、DRAM等の揮発性の半導体メモリであり、例えば、16Mバイトの半導体メモリがセットされたSIMMが8個ある構成で、合計128Mバイトのメモリ容量を有する。バックアップHDD13は、少なくともメモリ12のメモリ容量の2倍のメモリ容量を有し、例えば、340Mバイトのメモリ容量を有する。これにより、バックアップHDD13は、メモリ12に記憶されているデータを、2つの異なる領域に記憶することができる。以降、この各領域を図2(a),(b)に示されるように退避領域1,退避領域2と称する。更に、このバックアップHDD13は、F/Wメモリ111、及びレジスタReg1,Reg2に記憶されるデータを記憶するための、例えば、512バイトの所定領域を、前記退避領域1,退避領域2とは異なる領域に有する。
【0019】
インターフェイス14は、SCSI規格に準拠したバス20に対応するインターフェイスであり、バス20を介して接続されるホストコンピュータ30等との間のインターフェイスを行う。スイッチング回路15は、電源19から供給される電力を送る電源ラインの接続を、制御部11の制御に従って接続/遮断する。このスイッチング回路15から送出される電力を供給する電源ラインは、バッテリ16から電力が供給される電源ラインとワイヤードオアとなる。このワイヤードオアからの出力ラインは、マイクロプロセッサ110、メモリ12、バックアップHDD13に接続され、電力が供給される構成となっている。
【0020】
バッテリ16は、リチウム電池等により実現され、半導体ディスク装置10に内蔵されており、バッテリコントローラ17の制御に従って、電源ラインに電力を供給する。バッテリコントローラ17は、内部バス18を介して制御部11から送られる命令に従って、バッテリ16からの電源供給の開始/停止を制御する。但し、半導体ディスク装置10の動作時には、バッテリ16から常に電力が出力されている。
【0021】
電源19は、半導体ディスク装置の動作に必要な電力を生成し、スイッチング回路15の指示に従って電力を供給する。この第1実施形態では、半導体ディスク装置10の外部に設けられているが、装置内部に設けられても良い。
【0022】
ここで、メモリ12からバックアップHDD13へのデータの退避処理及びリストア処理を図2(a),(b)を参照して簡単に説明する。
前述したように、バックアップHDD13には、メモリ12と同様の容量を有する退避領域1及び退避領域2が設けられている。半導体ディスク装置10では、電源が遮断された際、図2(a)に示されるように、メモリ12に記憶されているデータがバックアップHDD13の退避領域1に退避(セーブ)されると共に、退避領域2にも、同様のデータが退避される。一方、電源が投入された場合、バックアップHDD13からメモリ12にデータを戻すリストア処理が行われる。ここで、図2(b)に示されるように退避領域1にメディア上の欠陥があり、このため、退避領域1に退避されていたデータのリストア処理が完了しなかった場合(例えば、データの読み出しが失敗した場合)、退避領域2に退避されていたデータを用いてリストア処理が実行される。
【0023】
次に、この半導体ディスク装置の電源の投入時/遮断時の制御部11の処理を図3及び図4のフローチャートを参照して説明する。
先ず、電源の遮断時におけるデータ退避処理について説明する。この電源遮断時の処理は、図示せぬタイマのカウントに従って発生するタイマ割込みによって実行される。制御部11は、この割込み信号の発生に応じて電源遮断時の処理を開始する。制御部11は、先ず、スイッチング回路15の状態を検出することにより電源が遮断された状態、即ち、電源19から電力の供給されないオフ状態であるか否かを判定する(ステップS1)。ここで、検出されたスイッチング回路15の状態が電源オフを示していない場合、制御部11は、再度スイッチング回路15の状態を検出するよう処理を行う(ステップS2,S3)。再度検出した結果が、電源オフを示していない場合、制御部11は、再び通常の処理に戻る。これは、半導体ディスク装置10が電源の投入された状態で、何らかの通常処理を行うことが可能であることを示す。
【0024】
前記ステップS1において、電源オフが検出された場合、または、再度検出した結果が電源オフを示している場合(ステップS3,YES)、制御部11は、メモリ12に記憶されているデータをバックアップHDD13の退避領域1に退避する処理を開始する。この際、制御部11は、レジスタReg1に記憶されている退避領域1の開始アドレス及びサイズに従って退避処理を実行する。尚、電源19からの電力の供給が遮断されている場合には、前述したように、バッテリ16からの電力が、電源19から供給されていた電力の代わりに、制御部11等の各構成要素に供給されている。
【0025】
次に、制御部11は、このデータ退避が正常に完了したか否かを判定する(ステップS5)。ここでのデータ退避の完了判定とは、バックアップHDD13内でデータのリード/ライトを行うヘッドがメディアに接触するヘッドクラッシュ等、ハードウェアの機構上の問題が生じたか否かの判定を示す。このようなハードウェアの機構上の問題が生じた場合後、バックアップHDD13に対するデータのリード/ライト処理は行われない。即ち、データ退避処理が正常に完了していない場合(ステップS5,NO)、データ退避処理を正常に行うことができない旨の通知をホストコンピュータ30に通知し、ホストコンピュータ30からコンピュータシステム1のオペレータにバックアップHDD13の異常を通知する等のエラー及び異常に対する処理が行われる(ステップS6,S7)。
【0026】
退避領域1へのデータ退避が正常に完了した場合(ステップS5,YES)、制御部11は、メモリ12に記憶されているデータを、即ち、退避領域1に退避したデータと同じデータを退避領域2に退避する処理を行う(ステップS8)。この際、制御部11は、レジスタReg2に記憶されている退避領域2の開始アドレス及びサイズを参照して退避処理を実行する。この後、制御部11は、前記ステップS5と同様にデータ退避が正常に完了したか否かを判定する(ステップS9)。ヘッドクラッシュ等により、データ退避処理が正常に完了していない場合、前述したデータ及び異常に対する処理が行われる(ステップS6,S7)。
【0027】
退避領域2へのデータ退避が正常に完了した場合(ステップS9,YES)、制御部11は、バッテリ16による電源供給を中止するようにバッテリコントローラ17に指示を送る。
【0028】
以上の処理により、電源の遮断に応じ、メモリ12に記憶されているデータが、バックアップHDD13の退避領域1及び退避領域2に退避される。
尚、前述した電源遮断処理は、タイマによるタイマ割込みに応じて実行されているが、電源遮断処理は、これに限らず、例えば、コンピュータシステム1のオペレータにより、スイッチング回路15に電源オフの操作がなされたり、もしくは、ホストコンピュータ30からバス20を介し、半導体ディスク装置10の電源を遮断する旨の命令が送られた場合に割込み信号が発生するようにしてもよい。
【0029】
次に、電源投入時におけるデータのリストア処理について図4を参照して説明する。
先ず、ホストコンピュータ30からバス20を介して電源を投入する命令が送られたり、もしくは、コンピュータシステム1のオペレータがスイッチング回路15をオンにする処理を行った場合、電源19から半導体ディスク装置10の各構成要素に動作用の電力が供給され、割込み信号が発生する。この割込み信号に応じ、電源投入時の処理が開始される。
【0030】
制御部11は、先ず、バックアップHDD13の退避領域1に記憶されているデータを、メモリ12に記憶する処理(リストア処理)を開始する(ステップS11)。この後、制御部11は、退避領域1からのデータ読み出しが完了したか否かを判定する(ステップS12)。即ち、ここでは、バックアップHDD13の退避領域1から正しくデータが読み込めたか否の判定を行う。ここで、データの読み出しが完了している場合、制御部11は、電源投入に応じた半導体ディスク装置10の立ち上げが完了したとして、通常の処理を開始する。
【0031】
退避領域1からのデータの読み出しが完了しなかった場合(ステップS12,NO)、例えば、前記図2(b)に示されるように退避領域1内にメディア上の欠陥があり、このためデータの転送が正常に行われなかった場合、制御部11は、バックアップHDD13の退避領域2に記憶されているデータを、メモリ12に転送する処理を開始する(ステップS13)。この後、制御部11は、退避領域2に記憶されているデータが正常に読み出されたか否かを判定する(ステップS14)。ここで、データの読み出しが完了している場合、制御部11は、電源投入に応じた半導体ディスク装置10の立ち上げが完了したとして、通常の処理を開始する。
【0032】
退避領域2からのデータの読み出しが完了しなかった場合(ステップS14,NO)、制御部11は、リストア処理が失敗したことを示すステータスを所定のレジスタに保持し、電源投入時の処理を終了する(ステップS15)。
【0033】
リストア処理が失敗した後は、ホストコンピュータ30から何らかの命令が半導体ディスク装置10に送られた場合に、前記ステップS15において保持されたステータスが読み出され、これにより、ホストコンピュータ30は、半導体ディスク装置10においてリストア処理が失敗したことを認識する。
【0034】
以上の処理により、いずれかの退避領域に退避したデータが、メディア上の欠陥によって破壊・消失されていても、他方の退避領域に退避されたデータを用いて電源投入に応じたリストア処理を実行することができる。
【0035】
特に、メディア上の欠陥には進行性の欠陥があり、データ退避処理において、再読み出しを行い(ベリファイ処理)、バックアップHDDのメディア上に正常に退避されたことが認識された場合であっても、時間の経過に応じてデータが破壊・消失する恐れがある。このような場合であっても、前述した実施形態いおいては、2つの異なる領域にデータを退避することにより、いずれかの領域で進行性の欠陥によりデータが破壊・消失した場合であっても、他方の領域に退避されたデータを用いてリストア処理を実行することができる。
【0036】
尚、前述した第1実施形態においては、メモリに記憶されているデータを退避するため、退避領域を2つ設けているがこれに限らず、3つ以上の複数の退避領域を異なる領域に設けても良い。
【0037】
次に、この発明に係る半導体ディスク装置の第2実施形態について説明する。
但し、この第2実施形態における半導体ディスク装置の構成は、前述した第1実施形態の構成と同様(図1参照)であるので詳細な説明は省略する。更に、この第2実施形態におけるデータ退避処理も前記第1実施形態と同様であり、詳細な説明は省略する。
【0038】
この第2実施形態では、データのリストア処理に特徴があり、これを図5を参照して説明する。この第2実施例では、データのリストア処理が所定のサイズ、ここでは512バイトのブロック毎に行われている。図5に示される退避領域1及び退避領域2は、前記図2(a),(b)に示される退避領域と同様に、メモリ12と同様の容量を有する。
【0039】
ここで、図5に示されるように、退避領域1にメディア欠陥があることを仮定する。この第2実施形態では、このメディア欠陥ために、データ読み出しが正常に行われない場合、このメディア欠陥を含んだブロックについてのみ、退避領域2からデータ読み出しが行われる。
【0040】
このようなリストア処理を図6に示されるフローチャートを参照して詳細に説明する。尚、各構成要素は、前記第1実施形態と同様の参照符号を用いて説明する。
【0041】
先ず、ホストコンピュータ30からバス20を介して電源を投入する命令が送られたり、もしくは、コンピュータシステム1のオペレータがスイッチング回路15をオンにする処理を行った場合、電源19から半導体ディスク装置10の各構成要素に動作用の電力が供給され、割り込み信号が発生する。この割り込み信号に応じ、電源投入時の処理が開始される。
【0042】
制御部11は、例えば、変数nを用いて、ブロック数をカウントしながらリストア処理を実行する。尚、メモリ12は、ブロック1〜mまでのm個のブロック数により構成される。制御部11は、先ず、退避領域1のブロック1からメモリへのデータ転送を開始する(ステップS21,22)。
【0043】
ここで、制御部11は、前記ブロック1のデータ読み出しが正常に行われたか否かを判定する(ステップS23)。データ読み出しが正常に行われた場合(ステップS23,YES)、制御部11は、ブロック数nが、最大ブロック数mと等しいか否かを判定する(ステップS24)。
【0044】
ブロック数nが、最大ブロック数mと等しい場合には(ステップS24,YES)、このリストア処理は終了する。ブロック数がmと等しくない場合には(ステップS24,NO)、nが1つだけインクリメントされて再びステップS22の処理に戻る(ステップS25)。
【0045】
即ち、退避領域1からのデータ読み出しが失敗しない限り、ステップS22,S23,S24,S25のループ処理によって、リストア処理が完了する。
前記ステップS23において、データ読み出しが正常に行われなかった場合、制御部11は、退避領域2のブロックnからメモリへのデータ転送を開始する(ステップS26)。この後、制御部11は、前記ブロックnのデータ読み出しが正常に行われたか否かを判定する(ステップS27)。データ読み出しが正常に行われた場合(ステップS27,YES)、前記ステップS24の処理に戻る。
【0046】
ブロックnのデータ読み出しが、退避領域2からも正常に行われなかった場合(ステップS27,NO)、制御部11は、リストア処理が失敗したことを示すステータスを所定のレジスタに保持し、電源投入時の処理を終了する(ステップS28)。
【0047】
リストア処理が失敗した後は、ホストコンピュータ30から何らかの命令が半導体ディスク装置10に送られた場合に、前記ステップS28において保持されたステータスが読み出され、これにより、ホストコンピュータ30は、半導体ディスク装置10においてリストア処理が失敗したことを認識する。
【0048】
以上の処理により、いずれかの退避領域に退避したデータが、メディア上の欠陥によって破壊・消失されていても、他方の退避領域に退避されたデータを用いて電源投入に応じたリストア処理を実行することができる。
【0049】
特に、この第2実施形態では、欠陥の検出されたブロックについてのみ、他の退避領域からデータ読み出しが行われるため、各退避領域それぞれに欠陥があった場合でも有効なリストア処理を実現することができる。
【0050】
次に、この発明に係る半導体ディスク装置の第3実施形態について説明する。
但し、この第3実施形態における半導体ディスク装置の構成は、前述した第1実施形態の構成と同様(図1参照)であるので詳細な説明は省略する。更に、この第3実施形態におけるデータ退避処理も前記第1実施形態と同様であり、詳細な説明は省略する。
【0051】
この第3実施形態も、前述した第2実施形態と同様にリストア処理に特徴がある。特にこの第3実施形態では、前述した第2実施形態と異なり、第1の退避領域において、欠陥によりデータ読み出しが不可能な場合、以降のデータ読み出しを第2の退避領域から行い、又、この第2の退避領域においてデータの正常な読み出しができなかった場合には、再び前記第1の退避領域からデータ読み出しを行うことを特徴としている。
【0052】
このリストア処理の詳細を、図7に示されるフローチャートを参照して説明する。
この第3実施形態においても、制御部11は、変数nを用いて、ブロック数をカウントしながらリストア処理を実行する。同じく、メモリ12は、ブロック1〜mまでのm個のブロック数により構成される。
【0053】
先ず、ホストコンピュータ30からバス20を介して電源を投入する命令が送られたり、もしくは、コンピュータシステム1のオペレータがスイッチング回路15をオンにする処理を行った場合、電源19から半導体ディスク装置10の各構成要素に動作用の電力が供給され、割り込み信号が発生する。この割り込み信号に応じ、電源投入時の処理が開始される。
【0054】
制御部11は、先ず、退避領域1のブロック1からメモリへのデータ転送を開始する(ステップS31,32)。
ここで、制御部11は、前記ブロック1のデータ読み出しが正常に行われたか否かを判定する(ステップS33)。データ読み出しが正常に行われた場合(ステップS33,YES)、制御部11は、ブロック数nが、最大ブロック数mと等しいか否かを判定する(ステップS34)。
【0055】
ブロック数nが、最大ブロック数mと等しい場合には(ステップS34,YES)、このリストア処理は終了する。ブロック数がmと等しくない場合には(ステップS34,NO)、nが1つだけインクリメントされて再びステップS32の処理に戻る(ステップS35)。
【0056】
即ち、退避領域1からのデータ読み出しが失敗しない限り、ステップS32,S33,S34,S35のループ処理によって、リストア処理が完了する。
前記ステップS33において、データ読み出しが正常に行われなかった場合、制御部11は、退避領域2のブロックnからメモリへのデータ転送を開始する(ステップS36)。この後、制御部11は、前記ブロックnのデータ読み出しが正常に行われたか否かを判定する(ステップS37)。データ読み出しが正常に行われた場合(ステップS37,YES)、制御部11は、ブロック数nが、最大ブロック数mと等しいか否かを判定する(ステップS38)。
【0057】
ブロック数nが、最大ブロック数mと等しい場合には(ステップS38,YES)、このリストア処理は終了する。ブロック数がmと等しくない場合には(ステップS38,NO)、制御部11は、nを1つだけインクリメントした後、退避領域2のブロックnからメモリへのデータ転送を開始する(ステップS39,S40)。
【0058】
この後、制御部11は、前記ブロックnのデータ読み出しが正常に行われたか否かを判定する(ステップS41)。データ読み出しが正常に行われた場合(ステップS41,YES)、制御部11は、ブロック数nが、最大ブロック数mと等しいか否かを判定する(ステップS42)。
【0059】
ブロック数nが、最大ブロック数mと等しい場合には(ステップS42,YES)、このリストア処理は終了する。ブロック数がmと等しくない場合には(ステップS42,NO)、制御部11は、ステップS39の処理に戻る。
【0060】
即ち、一旦、退避領域2からのデータ読み出しが行われると、データ読み出しが失敗しない限り、退避領域2からのデータ読み出しが継続される(ステップS39,S40,S41,S42)。
【0061】
前記ステップS41において、データ読み出しが正常に行われなかった場合(ステップS41,NO)、制御部11は、退避領域1のブロックnからメモリへのデータ転送を開始する(ステップS43)。この後、制御部11は、前記ブロックnのデータ読み出しが正常に行われたか否かを判定する(ステップS44)。データ読み出しが正常に行われた場合(ステップS44,YES)、制御部11は、再びステップS34の処理に戻る。
【0062】
即ち、再度、退避領域1からのデータ読み出しが行われると、データ読み出しが失敗しない限り、退避領域1からのデータ読み出しが継続される(ステップS34,S35,S32,S33)。
【0063】
前記ステップS37,S44において、データの読み出しが正常に行われなかったと判定された場合、これは、同一のブロックに対して、退避領域1及び退避領域2いずれからもデータが正常に読み出されなかったことを意味する。従って、この場合には(ステップS37,NO、又はステップS44,NO)、制御部11は、リストア処理が失敗したことを示すステータスを所定のレジスタに保持し、電源投入時の処理を終了する(ステップS45,S46)。
【0064】
リストア処理が失敗した後は、ホストコンピュータ30から何らかの命令が半導体ディスク装置10に送られた場合に、前記ステップS45,S46において保持されたステータスが読み出され、これにより、ホストコンピュータ30は、半導体ディスク装置10においてリストア処理が失敗したことを認識する。
【0065】
以上の処理により、いずれかの退避領域に退避したデータが、メディア上の欠陥によって破壊・消失されていても、他方の退避領域に退避されたデータを用いて電源投入に応じたリストア処理を実行することができる。
【0066】
特に、この第3実施形態では、欠陥の検出されたブロックについてのみ、他の退避領域からデータ読み出しが行われるため、前記第2実施形態と同様に、各退避領域それぞれに欠陥があった場合でも有効なリストア処理を実現することができる。
【0067】
【発明の効果】
以上詳述したように、この発明によれば、揮発性のメモリに記憶されているデータをバックアップするためのHDDの退避領域を複数領域設け、電源遮断時には、各領域にメモリに記憶されているデータを退避する。これにより、HDDのメディア上に欠陥がある場合であっても、他の領域に記憶されているデータをメモリに転送することにより、電源投入時のデータリストア処理を正常に実行し、半導体メモリに記憶されるデータの破壊・消失を防止でき、正常な立ち上げ処理が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施形態に係る半導体ディスク装置を適用したコンピュータシステムの構成を示すブロック図。
【図2】この第1実施形態において、揮発性のメモリからバックアップ用のハードディスクへのデータ退避処理、及びハードディスクからメモリへのリストア処理を説明するための概念図。
【図3】この第1実施形態において、揮発性のメモリからバックアップ用のハードディスクへのデータ退避処理を説明するためのフローチャート。
【図4】この第1実施形態において、バックアップ用のハードディスクから揮発性のメモリへのデータのリストア処理を説明するためのフローチャート。
【図5】この発明の第2実施形態において、揮発性のメモリからバックアップ用のハードディスクへのデータ退避処理、及びハードディスクからメモリへのリストア処理を説明するための概念図。
【図6】この第2実施形態にいおいて、バックアップ用のハードディスクから揮発性のメモリへのデータのリストア処理を説明するためのフローチャート。
【図7】この発明の第3実施形態において、バックアップ用のハードディスクから揮発性のメモリへのデータのリストア処理を説明するためのフローチャート。
【図8】従来の揮発性のメモリからバックアップ用のハードディスクへのデータ退避処理、及びハードディスクからメモリへのリストア処理を説明するための概念図。
【符号の説明】
1…コンピュータシステム、10…半導体ディスク装置、11…制御部、12…メモリ、13…バックアップHDD、14…インターフェイス、15…スイッチング回路、16…バッテリ、17…バッテリコントローラ、18…内部バス、19…電源(PS)、20…バス、30…ホストコンピュータ。
Claims (4)
- ディスクアクセス命令に応じてデータがリード/ライトされる揮発性のメモリを有する半導体ディスク装置において、
前記メモリの容量より大きい容量をそれぞれ有する第1の領域及び第2の領域が設定されているハードディスクと、
前記メモリに記憶されているデータを退避する前記第1の領域の開始アドレス及びサイズを格納する第1のレジスタと、
前記第1の領域に退避されるデータと同一のデータを退避する前記第2の領域の開始アドレス及びサイズを格納する第2のレジスタと、
前記半導体ディスク装置の電源の遮断に応じ、前記第1のレジスタ及び前記第2のレジスタを参照して、前記メモリに記憶されている同一のデータを、前記第1の領域及び前記第2の領域にそれぞれ記憶させる退避手段と、
前記電源の遮断に応じ、前記退避手段に動作電源を供給するバッテリと
を具備することを特徴とする半導体ディスク装置。 - 電源の供給開始に応じ、前記第1の領域及び前記第2の領域の内の1つの領域に記憶されているデータを読み出し、前記メモリに記憶させるリストア手段と、
このリストア手段によるデータ読み出しにおいて、エラーが発生したか否か判定する判定手段と、
この判定手段によりエラーが発生したことが判定された場合、エラーが発生した領域とは異なる領域に記憶されているデータを前記メモリに記憶するように前記リストア手段を制御する制御手段と
を具備することを特徴とする請求項1記載の半導体ディスク装置。 - 前記リストア手段は、所定の大きさのブロック毎にデータを読み出し、
前記制御手段は、前記判定手段によりエラーが発生したことが判定された場合、前記エラーが発生した1ブロック分のデータを、前記エラーが発生した領域とは異なる領域から読み出して前記メモリに記憶するように前記リストア手段を制御する、ことを特徴とする請求項2記載の半導体ディスク装置。 - 前記リストア手段は、所定の大きさのブロック毎にデータを読み出し、
前記制御手段は、前記判定手段によりエラーが発生したことが判定された場合、前記エラーが発生したブロック以降のデータを、前記エラーが発生した領域とは異なる領域から読み出して前記メモリに記憶するように前記リストア手段を制御する、ことを特徴とする請求項2記載の半導体ディスク装置。
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