JP4071894B2 - 円筒形状試料用のｘ線元素マッピング装置 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備えるＸ線元素マッピング装置を用いたマッピングは、Ｘ線が照射されている位置に、試料の各測定点を適宜移動させることにより行われる。そして、従来のＸ線元素マッピング装置では、前記試料の移動を、試料を載置した試料ステージを水平方向に動かすことによって行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記の構成では、試料が円筒形状である場合、Ｘ線が照射される位置に、試料の各測定点を移動させるためには、曲面的な外面を有する円筒形状試料を水平方向つまり平面的に移動させるだけでは対応することができず、人の手によって、何度も試料を載置しなおす必要があることから手間がかかり、また、平面的な試料に比べて、得られるマッピング像の精度が悪くなるという問題があった。
【０００４】
本発明は上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、円筒形状試料のマッピングを容易に、かつ精度良く行うことのできるＸ線元素マッピング装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置は、円筒形状試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備え、前記試料ステージ上に、円筒形状試料をその軸芯回りに回動自在に保持し、また、前記試料ステージを少なくとも円筒形状試料の軸芯方向に移動自在とした円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置であって、
試料ステージが移動機構に保持される一方、
試料ステージの上に、円筒形状試料の両端が保持される一対の軸受け部を設け、一対の軸受け部のうち、一方の軸受け部は、回転軸部に設けられて回転軸部と共に回転する挟持部を円筒形状試料の一端に嵌め込み可能に有するとともに、他方の軸受け部は、円筒形状試料の軸芯方向へ移動可能な回転軸部に設けられてこの回転軸部と共に回転する挟持部を円筒形状試料の他端に嵌め込み可能に有する。
【０００６】
上記の構成により、円筒形状試料のマッピングを容易に、かつ精度良く行うことのできるＸ線元素マッピング装置を提供することが可能となる。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を、図を参照しながら説明する。
図１は本発明の一実施例における円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの構成を概略的に示す斜視図である。
円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄは、円筒形状試料Ｓが設置される試料ステージ１と、前記円筒形状試料ＳにＸ線を照射するＸ線管２と、このＸ線照射により前記円筒形状試料Ｓにおいて生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器３とを備えている。
【０００８】
図２は上記円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの構成を概略的に示す図である。
Ｘ線管２からの入射Ｘ線ａが試料ステージ１上の円筒形状試料Ｓの一部に照射され、蛍光Ｘ線ｂが発生する。この蛍光Ｘ線ｂは例えば半導体検出器（ＳＳＤ）よりなるＸ線検出器３で検出される。上記Ｘ線検出器３からの出力はパルスプロセッサー（図示せず）で処理され、円筒形状試料Ｓ中に含まれる元素とその強度を分析する。その後、このパルスプロセッサーからの信号はコンピュータデータ処理部４に入力され、装置全体を統括制御するコンピュータ５にて画像表示などが行われる。
【０００９】
そして、円筒形状試料Ｓ全体にわたって測定を行うには、前記Ｘ線管２を制御するためのＸ線管コントローラ６と、試料ステージ１を所定の方向に動かすステージコントローラ７とにコンピュータデータ処理部４からの信号を入力する。すると、前記Ｘ線管２からのＸ線が照射される位置に円筒形状試料Ｓの各測定点が動かされることにより、各測定点における蛍光Ｘ線が検出され、円筒形状試料Ｓ中の各測定点の蛍光Ｘ線の種類と強度から含有元素の分布が測定される。
【００１０】
図３は円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの主要部の構成を概略的に示す斜視図である。
試料ステージ１の上には、円筒形状試料Ｓの両端が保持される軸受け部８、９が設けられており、軸受け部８には、回転伝達ベルト１０を介して回転用モータ１１が接続されている。また、螺軸２１と一対のガイド杆２２とモータ２３を有する移動機構Ｍに、前記試料ステージ１が保持されている。詳述すると、前記ガイド杆２２および螺軸２１には、試料ステージ１の下部に設けられたガイド部２４および内部に雌ねじが形成されている雌ねじ部材２５（図４参照）が外嵌されている。そして、前記モータ２３により螺軸２１を回転させると、螺軸２１に外嵌された雌ねじ部材２５が試料ステージ１に保持された円筒形状試料Ｓの軸芯方向（以下、Ｘ方向という）に移動し、それに伴って試料ステージ１もガイド杆２２に沿ってＸ方向に移動する構成となっている。
【００１１】
図４は円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの主要部の構成を概略的に示す縦断面図である。
前記軸受け部８は、ほぼ円柱形状の回転軸部１２と、回転軸部１２の一端にビス止めなどで固定されたプーリー１３と、回転軸部１２の他端にビス止めなどで固定された挟持部１４と、内部に設けたベアリング１５により回転軸部１２の中央部を回動自在に保持する保持部１６とからなる。
【００１２】
前記プーリー１３の外周に設けられた凹入部１７には、前記回転伝達ベルト１０が掛けられ、前記回転用モータ１１の回転が、回転伝達ベルト１０を介してプーリー１３に伝わるようになっている。
【００１３】
前記挟持部１４の外周の先端側には、先端に向かって細くなるテーパ面が形成され、円筒形状試料Ｓの一端に嵌め込むことができるようになっているとともに、後端側には、鍔部１４ａが設けられている。
【００１４】
前記軸受け部９の構成において、前記軸受け部８の回転軸部１２、挟持部１４およびベアリング１５とほぼ同じ構造のものは、それぞれ回転軸部１２’、挟持部１４’およびベアリング１５’として一部の説明を省く。軸受け部９の回転軸部１２’の先端には、軸受け部８と同様に挟持部１４’が設けられているが、ビス止めなどで固定されているのではなく、ベアリング１５’によって回転軸部１２’の軸芯回りに回動自在に接続されている。また、回転軸部１２’の後端側は、先端側よりも断面の径が大きくなっているとともに、本体１８と、伝動機構１７とハンドル部１９とからなる調節機構２０に接続されており、ハンドル部１９を回転させると、その回転が伝達機構１７に伝達され、伝達機構１７により、回転軸部１２’がＸ方向へ移動することから、円筒形状試料Ｓの軸芯方向の長さに応じてハンドル部１９の回転を調整することにより、一端に挟持部１４が嵌め込まれている円筒形状試料Ｓの他端に、挟持部１４’を嵌め込むことができる。
【００１５】
上記の構成では、試料ステージ１をＸ方向にのみ移動可能としているが、これに限るものではなく、例えば、従来のＸＹ方向に移動可能な試料ステージに対応させるために、試料ステージ１をＹ方向（図４の奥行き方向）に移動可能としてもよい。
【００１６】
また、上記の構成では、挟持部１４、１４’を円筒形状試料Ｓの両端の内側にそれぞれ嵌め込むとしているが、これに限るものではなく、例えば、挟持部１４、１４’を、円筒形状試料Ｓの両端の外側を保持するように構成してもよい。
【００１７】
次に、前記Ｘ線元素マッピング装置Ｄへの設置方法および測定方法について説明する。 まず、挟持部１４を円筒形状試料Ｓの一端に嵌め込み、Ｘ方向に移動自在な挟持部１４’を適宜調節して他端に嵌め込めば、後端の鍔部１４ａ、１４ａ’により円筒形状試料Ｓを挟持することができ、以上で設置は完了する。そして、この挟持状態にある円筒形状試料Ｓは、回転用モータ１１の操作により、軸芯回りに自在に回転させることが可能となるため、この軸芯回りの回転と、試料ステージ１のＸ方向の移動とを連動させれば、円筒形状試料Ｓの外周全面に対するマッピングを容易に行うことができる。
【００１８】
図５（Ａ）は、円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄによる円筒形状試料Ｓの測定方法の構成を概略的に示す部分拡大斜視図である。
円筒形状試料Ｓの各測定部分のマッピング像は、Ｘ線管２から照射されたＸ線ａにより発生した蛍光Ｘ線ｂを、Ｘ線検出器３で検出すれば得ることができる。まず、円筒形状試料Ｓに軸芯回りの回転を加えずにＸ方向へだけ適宜移動させる。そして、円筒形状試料Ｓの特定部分の一端から他端までのマッピッグ像が得られれば、円筒形状試料ＳのＸ方向への移動を止め、軸芯回りの回転を適宜加える。その後、軸芯回りの回転を止めるとともに、再び円筒形状試料ＳをＸ方向へだけ適宜移動させ、円筒形状試料Ｓの前記と異なる特定部分の一端から他端までのマッピングを行う。このような操作を繰り返せば、円筒形状試料Ｓ全面のマッピングを平面的に得ることができる。この場合の円筒形状試料Ｓに対するＸ線照射部分の軌跡ｃは、図５（Ｂ）のようになる。
【００１９】
また、上記の方法に代えて、次のようにしてもよい。即ち、まず、円筒形状試料ＳをＸ方向へは移動させず、軸芯回りの回転だけを加えて一回転させる。そして、特定部分の一周分のマッピング像が得られれば、円筒形状試料Ｓの軸芯回りの回転を止め、Ｘ方向へ適宜移動させた後、再び円筒形状試料Ｓに軸芯回りの回転だけを加えて特定部分の一周分のマッピングを行う。このような操作を繰り返しても、円筒形状試料Ｓ全面のマッピングを平面的に得ることができる。この場合の円筒形状試料Ｓに対するＸ線照射部分の軌跡ｃは、図５（Ｃ）のようになる。
【００２０】
また、適宜の速度で円筒形状試料ＳをＸ方向へ移動させると同時に、軸芯回りの回転を加えながらマッピングをおこなってもよい。この場合には、円筒形状試料Ｓのマッピングを連続的に行うことができる。
【００２１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置は、試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備えるＸ線元素マッピング装置において、前記試料ステージ上に、円筒形状試料をその軸芯回りに回動自在に保持し、さらに、前記試料ステージを少なくとも円筒形状試料の軸芯方向に移動自在としたことから、円筒形状試料のマッピングを容易に、かつ精度良く行うことのできるＸ線元素マッピング装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施例における円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の構成を概略的に示す斜視図である。
【図２】 上記円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の構成を概略的に示す図である。
【図３】 円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の主要部の構成を概略的に示す斜視図である。
【図４】 円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の主要部の構成を概略的に示す縦断面図である。
【図５】 （Ａ）は円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置による円筒形状試料の測定方法の構成を概略的に示す部分拡大斜視図であり、（Ｂ）および（Ｃ）は、円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置により、Ｘ方向および軸芯回りの回転方向にマッピングを行った場合の円筒形状試料に対するＸ線照射部分の軌跡を概略的に示す図である。
【符号の説明】
１…試料ステージ、２…Ｘ線管、３…Ｘ線検出器、８，９…軸受け部、１２，１２’…回転軸部、１４，１４’…挟持部、Ｄ…円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置、Ｓ…円筒形状試料、Ｍ…移動機構。
【発明の属する技術分野】
本発明は、円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備えるＸ線元素マッピング装置を用いたマッピングは、Ｘ線が照射されている位置に、試料の各測定点を適宜移動させることにより行われる。そして、従来のＸ線元素マッピング装置では、前記試料の移動を、試料を載置した試料ステージを水平方向に動かすことによって行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記の構成では、試料が円筒形状である場合、Ｘ線が照射される位置に、試料の各測定点を移動させるためには、曲面的な外面を有する円筒形状試料を水平方向つまり平面的に移動させるだけでは対応することができず、人の手によって、何度も試料を載置しなおす必要があることから手間がかかり、また、平面的な試料に比べて、得られるマッピング像の精度が悪くなるという問題があった。
【０００４】
本発明は上述の事柄に留意してなされたもので、その目的は、円筒形状試料のマッピングを容易に、かつ精度良く行うことのできるＸ線元素マッピング装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置は、円筒形状試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備え、前記試料ステージ上に、円筒形状試料をその軸芯回りに回動自在に保持し、また、前記試料ステージを少なくとも円筒形状試料の軸芯方向に移動自在とした円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置であって、
試料ステージが移動機構に保持される一方、
試料ステージの上に、円筒形状試料の両端が保持される一対の軸受け部を設け、一対の軸受け部のうち、一方の軸受け部は、回転軸部に設けられて回転軸部と共に回転する挟持部を円筒形状試料の一端に嵌め込み可能に有するとともに、他方の軸受け部は、円筒形状試料の軸芯方向へ移動可能な回転軸部に設けられてこの回転軸部と共に回転する挟持部を円筒形状試料の他端に嵌め込み可能に有する。
【０００６】
上記の構成により、円筒形状試料のマッピングを容易に、かつ精度良く行うことのできるＸ線元素マッピング装置を提供することが可能となる。
【０００７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施例を、図を参照しながら説明する。
図１は本発明の一実施例における円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの構成を概略的に示す斜視図である。
円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄは、円筒形状試料Ｓが設置される試料ステージ１と、前記円筒形状試料ＳにＸ線を照射するＸ線管２と、このＸ線照射により前記円筒形状試料Ｓにおいて生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器３とを備えている。
【０００８】
図２は上記円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの構成を概略的に示す図である。
Ｘ線管２からの入射Ｘ線ａが試料ステージ１上の円筒形状試料Ｓの一部に照射され、蛍光Ｘ線ｂが発生する。この蛍光Ｘ線ｂは例えば半導体検出器（ＳＳＤ）よりなるＸ線検出器３で検出される。上記Ｘ線検出器３からの出力はパルスプロセッサー（図示せず）で処理され、円筒形状試料Ｓ中に含まれる元素とその強度を分析する。その後、このパルスプロセッサーからの信号はコンピュータデータ処理部４に入力され、装置全体を統括制御するコンピュータ５にて画像表示などが行われる。
【０００９】
そして、円筒形状試料Ｓ全体にわたって測定を行うには、前記Ｘ線管２を制御するためのＸ線管コントローラ６と、試料ステージ１を所定の方向に動かすステージコントローラ７とにコンピュータデータ処理部４からの信号を入力する。すると、前記Ｘ線管２からのＸ線が照射される位置に円筒形状試料Ｓの各測定点が動かされることにより、各測定点における蛍光Ｘ線が検出され、円筒形状試料Ｓ中の各測定点の蛍光Ｘ線の種類と強度から含有元素の分布が測定される。
【００１０】
図３は円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの主要部の構成を概略的に示す斜視図である。
試料ステージ１の上には、円筒形状試料Ｓの両端が保持される軸受け部８、９が設けられており、軸受け部８には、回転伝達ベルト１０を介して回転用モータ１１が接続されている。また、螺軸２１と一対のガイド杆２２とモータ２３を有する移動機構Ｍに、前記試料ステージ１が保持されている。詳述すると、前記ガイド杆２２および螺軸２１には、試料ステージ１の下部に設けられたガイド部２４および内部に雌ねじが形成されている雌ねじ部材２５（図４参照）が外嵌されている。そして、前記モータ２３により螺軸２１を回転させると、螺軸２１に外嵌された雌ねじ部材２５が試料ステージ１に保持された円筒形状試料Ｓの軸芯方向（以下、Ｘ方向という）に移動し、それに伴って試料ステージ１もガイド杆２２に沿ってＸ方向に移動する構成となっている。
【００１１】
図４は円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄの主要部の構成を概略的に示す縦断面図である。
前記軸受け部８は、ほぼ円柱形状の回転軸部１２と、回転軸部１２の一端にビス止めなどで固定されたプーリー１３と、回転軸部１２の他端にビス止めなどで固定された挟持部１４と、内部に設けたベアリング１５により回転軸部１２の中央部を回動自在に保持する保持部１６とからなる。
【００１２】
前記プーリー１３の外周に設けられた凹入部１７には、前記回転伝達ベルト１０が掛けられ、前記回転用モータ１１の回転が、回転伝達ベルト１０を介してプーリー１３に伝わるようになっている。
【００１３】
前記挟持部１４の外周の先端側には、先端に向かって細くなるテーパ面が形成され、円筒形状試料Ｓの一端に嵌め込むことができるようになっているとともに、後端側には、鍔部１４ａが設けられている。
【００１４】
前記軸受け部９の構成において、前記軸受け部８の回転軸部１２、挟持部１４およびベアリング１５とほぼ同じ構造のものは、それぞれ回転軸部１２’、挟持部１４’およびベアリング１５’として一部の説明を省く。軸受け部９の回転軸部１２’の先端には、軸受け部８と同様に挟持部１４’が設けられているが、ビス止めなどで固定されているのではなく、ベアリング１５’によって回転軸部１２’の軸芯回りに回動自在に接続されている。また、回転軸部１２’の後端側は、先端側よりも断面の径が大きくなっているとともに、本体１８と、伝動機構１７とハンドル部１９とからなる調節機構２０に接続されており、ハンドル部１９を回転させると、その回転が伝達機構１７に伝達され、伝達機構１７により、回転軸部１２’がＸ方向へ移動することから、円筒形状試料Ｓの軸芯方向の長さに応じてハンドル部１９の回転を調整することにより、一端に挟持部１４が嵌め込まれている円筒形状試料Ｓの他端に、挟持部１４’を嵌め込むことができる。
【００１５】
上記の構成では、試料ステージ１をＸ方向にのみ移動可能としているが、これに限るものではなく、例えば、従来のＸＹ方向に移動可能な試料ステージに対応させるために、試料ステージ１をＹ方向（図４の奥行き方向）に移動可能としてもよい。
【００１６】
また、上記の構成では、挟持部１４、１４’を円筒形状試料Ｓの両端の内側にそれぞれ嵌め込むとしているが、これに限るものではなく、例えば、挟持部１４、１４’を、円筒形状試料Ｓの両端の外側を保持するように構成してもよい。
【００１７】
次に、前記Ｘ線元素マッピング装置Ｄへの設置方法および測定方法について説明する。 まず、挟持部１４を円筒形状試料Ｓの一端に嵌め込み、Ｘ方向に移動自在な挟持部１４’を適宜調節して他端に嵌め込めば、後端の鍔部１４ａ、１４ａ’により円筒形状試料Ｓを挟持することができ、以上で設置は完了する。そして、この挟持状態にある円筒形状試料Ｓは、回転用モータ１１の操作により、軸芯回りに自在に回転させることが可能となるため、この軸芯回りの回転と、試料ステージ１のＸ方向の移動とを連動させれば、円筒形状試料Ｓの外周全面に対するマッピングを容易に行うことができる。
【００１８】
図５（Ａ）は、円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置Ｄによる円筒形状試料Ｓの測定方法の構成を概略的に示す部分拡大斜視図である。
円筒形状試料Ｓの各測定部分のマッピング像は、Ｘ線管２から照射されたＸ線ａにより発生した蛍光Ｘ線ｂを、Ｘ線検出器３で検出すれば得ることができる。まず、円筒形状試料Ｓに軸芯回りの回転を加えずにＸ方向へだけ適宜移動させる。そして、円筒形状試料Ｓの特定部分の一端から他端までのマッピッグ像が得られれば、円筒形状試料ＳのＸ方向への移動を止め、軸芯回りの回転を適宜加える。その後、軸芯回りの回転を止めるとともに、再び円筒形状試料ＳをＸ方向へだけ適宜移動させ、円筒形状試料Ｓの前記と異なる特定部分の一端から他端までのマッピングを行う。このような操作を繰り返せば、円筒形状試料Ｓ全面のマッピングを平面的に得ることができる。この場合の円筒形状試料Ｓに対するＸ線照射部分の軌跡ｃは、図５（Ｂ）のようになる。
【００１９】
また、上記の方法に代えて、次のようにしてもよい。即ち、まず、円筒形状試料ＳをＸ方向へは移動させず、軸芯回りの回転だけを加えて一回転させる。そして、特定部分の一周分のマッピング像が得られれば、円筒形状試料Ｓの軸芯回りの回転を止め、Ｘ方向へ適宜移動させた後、再び円筒形状試料Ｓに軸芯回りの回転だけを加えて特定部分の一周分のマッピングを行う。このような操作を繰り返しても、円筒形状試料Ｓ全面のマッピングを平面的に得ることができる。この場合の円筒形状試料Ｓに対するＸ線照射部分の軌跡ｃは、図５（Ｃ）のようになる。
【００２０】
また、適宜の速度で円筒形状試料ＳをＸ方向へ移動させると同時に、軸芯回りの回転を加えながらマッピングをおこなってもよい。この場合には、円筒形状試料Ｓのマッピングを連続的に行うことができる。
【００２１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置は、試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備えるＸ線元素マッピング装置において、前記試料ステージ上に、円筒形状試料をその軸芯回りに回動自在に保持し、さらに、前記試料ステージを少なくとも円筒形状試料の軸芯方向に移動自在としたことから、円筒形状試料のマッピングを容易に、かつ精度良く行うことのできるＸ線元素マッピング装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施例における円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の構成を概略的に示す斜視図である。
【図２】 上記円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の構成を概略的に示す図である。
【図３】 円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の主要部の構成を概略的に示す斜視図である。
【図４】 円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置の主要部の構成を概略的に示す縦断面図である。
【図５】 （Ａ）は円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置による円筒形状試料の測定方法の構成を概略的に示す部分拡大斜視図であり、（Ｂ）および（Ｃ）は、円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置により、Ｘ方向および軸芯回りの回転方向にマッピングを行った場合の円筒形状試料に対するＸ線照射部分の軌跡を概略的に示す図である。
【符号の説明】
１…試料ステージ、２…Ｘ線管、３…Ｘ線検出器、８，９…軸受け部、１２，１２’…回転軸部、１４，１４’…挟持部、Ｄ…円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置、Ｓ…円筒形状試料、Ｍ…移動機構。
Claims (2)
- 円筒形状試料を載置する試料ステージと、前記試料にＸ線を照射するＸ線管と、このＸ線照射により前記試料において生ずる蛍光Ｘ線を検出するＸ線検出器とを備え、前記試料ステージ上に、円筒形状試料をその軸芯回りに回動自在に保持し、また、前記試料ステージを少なくとも円筒形状試料の軸芯方向に移動自在とした円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置であって、
試料ステージが移動機構に保持される一方、
試料ステージの上に、円筒形状試料の両端が保持される一対の軸受け部を設け、一対の軸受け部のうち、一方の軸受け部は、回転軸部に設けられて回転軸部と共に回転する挟持部を円筒形状試料の一端に嵌め込み可能に有するとともに、他方の軸受け部は、円筒形状試料の軸芯方向へ移動可能な回転軸部に設けられてこの回転軸部と共に回転する挟持部を円筒形状試料の他端に嵌め込み可能に有することを特徴とする円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置。 - 移動機構は、螺軸と一対のガイド杆とモータを有し、ガイド杆および螺軸には、試料ステージの下部に設けられたガイド部および内部に雌ねじが形成されている雌ねじ部材が外嵌され、前記モータにより前記螺軸を回転させると、前記螺軸に外嵌された雌ねじ部材が試料ステージに保持された円筒形状試料の軸芯方向に移動し、それに伴って試料ステージが前記ガイド杆に沿って円筒形状試料の軸芯方向に移動するよう構成される一方、
一方の軸受け部には、回転伝達ベルトを介して回転用モータが接続されており、前記一方の軸受け部は、回転軸部と、この回転軸部の一端に固定されたプーリーと、前記回転軸部の他端に固定された挟持部と、内部に設けたベアリングにより前記回転軸部の中央部を回動自在に保持する保持部とからなり、前記プーリーの外周に設けられた凹入部には、前記回転伝達ベルトが掛けられ、前記回転用モータの回転が、回転伝達ベルトを介してプーリーに伝わるように構成されており、 前記挟持部の外周の先端側には、先端に向かって細くなるテーパ面が形成され、円筒形状試料の一端に嵌め込み可能に構成されているとともに、前記挟持部の外周の後端側には、鍔部が設けられており、
また、他方の軸受け部は、一方の軸受け部の回転軸部、挟持部およびベアリングと同じ構造の回転軸部、挟持部およびベアリングをそれぞれ有し、他方の軸受け部の回転軸部の先端には挟持部が設けられ、この挟持部は、回転軸部に固定されることなく、ベアリングによって回転軸部の軸芯回りに回動自在に接続されており、また、この回転軸部の後端側は、先端側よりも断面の径が大きくなっているとともに、本体と、伝動機構とハンドル部とからなる調節機構に接続されており、このハンドル部を回転させると、その回転が伝達機構に伝達され、伝達機構により、回転軸部が円筒形状試料の軸芯方向へ移動可能に構成されている請求項１に記載の円筒形状試料用のＸ線元素マッピング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15347699A JP4071894B2 (ja) | 1999-06-01 | 1999-06-01 | 円筒形状試料用のｘ線元素マッピング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15347699A JP4071894B2 (ja) | 1999-06-01 | 1999-06-01 | 円筒形状試料用のｘ線元素マッピング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000338064A JP2000338064A (ja) | 2000-12-08 |
| JP4071894B2 true JP4071894B2 (ja) | 2008-04-02 |
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ID=15563417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15347699A Expired - Fee Related JP4071894B2 (ja) | 1999-06-01 | 1999-06-01 | 円筒形状試料用のｘ線元素マッピング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4071894B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5397784B2 (ja) * | 2011-01-31 | 2014-01-22 | 新日鐵住金株式会社 | 鋼材の鋼種判定方法 |
| CN113406128B (zh) * | 2021-07-23 | 2022-11-11 | 重庆大学 | 一种x射线衍射仪用的控温附件 |
-
1999
- 1999-06-01 JP JP15347699A patent/JP4071894B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2000338064A (ja) | 2000-12-08 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20051214 |
|
| A977 | Report on retrieval |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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| A521 | Written amendment |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140125 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
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