JP4051379B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体装置の製造方法に関し、特に、少なくも電極パッド及び導電部材が樹脂で覆われるようにした半導体装置の製造方法に関する。
半導体装置においては、水分による腐食や塵・埃等から電極パッドやワイヤ等の金属部材を保護するために、これらの金属部材と外気との接触を防ぐ必要がある。そのため、これらの金属部材を樹脂で封止する方法がある。
従来の樹脂封止型の半導体装置の製造は、一般的に以下のような工程で行われていた。
すなわち、所定の回路と電極端子とを有する基板上に、半導体素子を形成したベアチップを搭載する工程と、電極端子とベアチップ上の電極パッドとをワイヤ等で配線して電気的に接続する工程と、その後に、ワイヤ及びベアチップ全体を樹脂で封止する工程と、封止が完了した基板を所定の形状に切断する工程とで、半導体装置を製造していた。半導体素子がフォトダイオード、フォトトランジスタ、CCD、レーザダイオード等の受光素子又は発光素子等の光学素又である場合、封止には透明樹脂が使用される(特許文献1参照)。
特開2005−5363号公報
上記樹脂封止型の半導体装置の製造方法に関しては、以下のような問題点があった。
(1)ワイヤ及びベアチップ全体を樹脂で封止するためには、金型が必要であり、大きな設備投資が要求された。また、金型及びその他、樹脂モールドのための機器や設備のメンテナンスの負担が大きいという問題もあった。
(2)はんだリフロー時等の加熱工程において、封止樹脂とベアチップとの熱膨張率の差による熱応力が生じ、ベアチップに割れや欠けが発生する。あるいは、ワイヤの接続が切れるという懸念もあった。
(3)半導体素子が光学素子の場合に用いられる透明樹脂は、一般に不透明な黒色樹脂等に比べて高価であった。
本発明は、このような実情に鑑みてなされた発明であり、低コストで半導体装置を製造できると共に、その半導体装置の信頼性を確保できる半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の観点に係る半導体装置の製造方法は、
半導体素子が形成されると共に対向する2つの辺のそれぞれに、該辺に沿った外周部に電極パッドが形成されているベアチップを、電極端子を有する基板に搭載する工程と、
前記ベアチップ上に形成された電極パッドと前記電極端子とを導電部材で電気的に接続する工程と、
少なくとも前記電極パッドおよび導電部材が樹脂で覆われるように樹脂を塗布する塗布工程とを有し、
前記塗布工程では、前記電極パッドが形成された側の辺に沿って樹脂を塗布する第1の工程の後に、該電極パッドが形成されていない側の辺に沿って樹脂を塗布する第2の工程を行い、該第1の工程および第2の工程においては、前記ベアチップの側面部が樹脂で覆われるように前記樹脂を塗布し、
前記ベアチップ上の前記電極パッドが形成されている面の中心部に樹脂の非被覆面が形成されるようにしたことを特徴とする。
尚、前記半導体素子は、受光部または発光部を有する光学素子を含み、該受光部または発光部が前記ベアチップ上の前記電極パッドが形成されている面の中心部に配置され、
前記塗布工程において、前記受光部または発光部が樹脂で覆われないように樹脂を塗布してもよい。
水分や塵・埃等から保護するために、ベアチップ全体ではなく、少なくとも被覆することが必要な電極パッドとワイヤが樹脂で覆われるようにする。さらに、樹脂の吸湿等の影響を防ぐためにベアチップ側面部も樹脂で覆われるようにする。したがって、金型を使った樹脂封止によらずに、ディスペンス法等により樹脂を塗布すればよく、簡易かつ安価に、半導体装置を製造できる。また、熱応力差の影響が緩和され、半導体装置の信頼性を確保できる。また、半導体素子が光学素子を含む場合であっても不透明な樹脂も使用できる。
以下、図面に基づき、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態に係る半導体装置の構成を示す平面図である。
この半導体装置は、半導体素子1が形成されたベアチップ2を基板10に搭載した装置である。
基板10は、例えば矩形であり、基板10上の中央には、ダイパッド11が形成されると共に、基板10の外縁近傍には、外部との接続を可能にする複数の電極端子12が、各辺に沿って形成されている。
ベアチップ2は、基板10のダイパッド11の上に取付けられている。ベアチップ2の外形も矩形である。ベアチップ2上には、ベアチップ2の一辺に沿って複数の電極パッド3が形成されると共に、その辺に対向する辺に沿って複数の電極パッド3が形成されている。ベアチップ2の電極パッド3と基板10の電極端子12とがワイヤ5により、電気的に接続されている。
ベアチップ2の2辺に並んだ電極パッド3及びワイヤ5が、すべて樹脂6で被覆されている。
次に、この半導体装置の製造方法を説明する。
図2は、図1の半導体装置の製造工程の説明図である。
複数の半導体装置を製造するために、当初の基板10には、1つの半導体装置を構成するためのダイパッド11及び複数の電極端子12のパターンが、マトリクス状に複数組形成されている。
このような基板10に対して、図2(a)のベアチップ搭載工程、図2(b)の接続工程、図2(c)の塗布工程、図2(d)のダイシング工程を行うことにより、図1の半導体装置が製造される。
図2(a)のベアチップ搭載工程では、電極端子12が設けられた基板10に、半導体素子1が形成されたベアチップ2を搭載する。基板10上のベアチップ2が搭載されるためのダイパット11部分には、予め接着用ペースト材が塗布されており、基板10ごと加熱炉内に入れ、接着用ペースト材を熱硬化させてベアチップ2を基板10に固定する。
図2(b)の接続工程では、ワイヤボンダを用いてベアチップ2の表面の外周部に形成された電極パッド3と基板10上の電極端子12とをワイヤ5で電気的に接続する。
図2(c)の塗布工程では、ベアチップ2の電極パッド3が形成された辺に沿って電極パッド3とワイヤ5およびワイヤ5の周辺部分に樹脂6を塗布して覆う。樹脂6には、熱硬化性のエポキシ樹脂等が使用できる。
この塗布工程では、基板10をX,Yの2方向に移動可能なXYステージ(図示略)に乗せ、ディスペンサに装着されたシリンダから充填された樹脂6を押し出すと同時に、シリンダ先端とXYステージが相対的に所定距離だけX方向に移動するように、シリンダまたは/およびXYステージを動かし、ベアチップ2の一辺について電極パッド3とワイヤ5およびワイヤ5の周辺を樹脂6で覆う。ベアチップ2の外周部の一辺について樹脂6が塗布された後は、同列上に並べられた隣接するベアチップ2についても同様にして順次に樹脂6を塗布していく。
次いで、樹脂6が塗布された辺に対向する側についても同様に樹脂6を塗布して電極パッド3とワイヤ5およびワイヤ5の周辺を樹脂6で被覆する。尚、シリンダは1本でなく、2本以上の複数本を使用して塗布してもよい。 各ベアチップ2の電極パッド3が形成された対向する2辺について樹脂6の塗布が終了した基板10は、加熱炉内路に入れられ、塗布した樹脂6を熱硬化させる。
図2(d)のダイシング工程では、ダイシングカッターを用いてベアチップ2を搭載した基板10を所定の位置で切断し、ベアチップ2単位で半導体装置を分離する。
以上により、図1の半導体装置が形成される。
本実施形態の半導体装置は、ベアチップ全体ではなく、少なくとも電極パッド3とワイヤ5が樹脂6で被覆されるようにするものである。したがって、金型を使った樹脂封止によらずに、ディスペンス法等により樹脂6を塗布すればよく、簡易且つ安価に半導体装置を製造できる。また、熱応力差の影響が緩和され、半導体装置の信頼性を確保できる。
[第2の実施形態]
図3は、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の平面図である。
この半導体装置は、半導体素子21が形成されたベアチップ22を基板30に搭載した装置である。
基板30は、例えば矩形であり、基板30上の中央には、ダイパッド31が形成されると共に、基板30の1辺とそれに対向する辺の近傍には、外部との接続を可能にする複数の電極端子32が、辺に沿って形成されている。
ベアチップ22は、基板30のダイパッド31の上に取付けられている。ベアチップ22の外形も矩形である。ベアチップ22上には、ベアチップ22の一辺に沿って複数の電極パッド23が形成されると共に、その辺に対向する辺に沿って複数の電極パッド23が形成されている。
ベアチップ22の電極パッド23と基板30の電極端子32とがワイヤ25により、電気的に接続されている。
ベアチップ22の2列の電極パッド23及びワイヤ25が、すべて樹脂26で被覆されている。ベアチップ22の電極パッド23が形成されていない残りの辺も、樹脂26で覆われている。
次に、この半導体装置の製造方法を説明する。
図4は、図3の半導体装置の製造方法の説明図である。
複数の半導体装置を製造するために、当初の基板30には、1つの半導体装置を構成するためのダイパッド31及び複数の電極端子32のパターンが、マトリクス状に複数組形成されている。
このような基板30に対して、図4(a)のベアチップ搭載工程、図4(b)の接続工程、図4(c)の塗布工程、図4(d)のダイシング工程を行うことにより、図3の半導体装置が製造される。
図4(a)のベアチップ搭載工程は、第1の実施形態のベアチップ搭載工程と同様であり、電極端子32が設けられた基板30に、半導体素子21が形成されたベアチップ22を搭載する。基板30上のベアチップ22が搭載されるためのダイパット31部分には、予め接着用ペースト材が塗布されており、基板30ごと加熱炉内に入れ、接着用ペースト材を熱硬化させてベアチップ22を基板30に固定する。
図4(b)の接続工程も、第1の実施形態の接続工程と同様であり、ワイヤボンダを用いてベアチップ22の表面の外周部に形成された電極パッド23と基板30上の電極端子32とをワイヤ25で電気的に接続する。
図4(c)の塗布工程では、電極パッド23が形成されワイヤ25がボンディングされている側の2辺について、先に樹脂26を塗布し、その後に電極パッド23の形成されていない残りの2辺について樹脂26を塗布することとする。
即ち、基板30をXYステージ(図示略)に乗せ、ディスペンサに装着されたシリンダから充填された樹脂26を押し出すと同時に、ベアチップ22の電極パッド23が形成されている1辺の方向に、シリンダおよび/またはXYステージを所定距離だけ移動し、ベアチップ22の電極パッド23の形成されている一辺について電極パッド23とワイヤ25およびワイヤ25の周辺を樹脂26で覆う。
ベアチップ22の外周部の一辺について樹脂26が塗布された後は、同列上に並べられた隣接するベアチップ22についても同様にして順次に樹脂26を塗布していく。
次いで、樹脂26が塗布された辺に対向する辺についても同様に樹脂26を塗布して電極パッド23とワイヤ25およびワイヤ25の周辺を樹脂26で被覆する。
その後、ベアチップ22上の残された辺について樹脂26を塗布する
尚、シリンダは1本ではなく、2本以上の複数本を使用して樹脂26を塗布
してもよい。
各ベアチップ2の辺の全てについて樹脂26の塗布が終了した基板30は加熱炉内に入れられ、塗布した樹脂26を熱硬化させる。
図4(d)のダイシング工程では、ダイシングカッターを用いてベアチップ22を搭載した基板30を所定の位置で切断し、ベアチップ22単位で半導体装置を分離する。
以上の工程で、図3の半導体装置が製造される。
ここで、本実施形態の半導体装置の利点を説明する。
図5は、図3の半導体装置の利点の説明図である。
図3の半導体装置は図1の半導体装置に比べ、ベアチップ22の全ての辺について電極パッド23とワイヤ25および側面部を樹脂26で覆うことにより、樹脂26の端面からの吸湿を防ぎ、より高い信頼性が得られうる。
しかし、ベアチップ22の直交する2辺に塗布された樹脂26の接触界面内部には、先に塗布された樹脂26に上からかぶせるようにして更に樹脂26が塗布されるため、空気が内包される恐れがある。
ところが、電極パッド23が形成された辺よりも電極パッド23が形成されていない辺について先に樹脂26を塗布してしまうと、図5(a)のように、樹脂26の接触界面がよりワイヤ25および電極パッド23に近接した位置にくるため、内包された空気およびこの空気に含まれる水分が、はんだリフロー時の加熱によって膨張することで樹脂にクラックが生じたり、あるいは半導体装置の性能を劣化させたりするおそれがある。
これに対し、本実施形態では、図5(b)のように、電極パッド23が形成された辺に先に樹脂26で被覆するので、樹脂の接触界面がワイヤ25および電極パッド23からより離れた位置にくるため、半導体装置の信頼性を高く維持できる。
[第3の実施形態]
図6は本発明の第3の実施形態にかかる半導体装置の平面図である。
この半導体装置は光学素子41が形成されたベアチップ42を基板50に搭載した装置である。
基板50は、例えば矩形であり、基板50上の中央には、ダイパッド51が形成されると共に、基板50の1辺とそれに対向する辺の近傍には、外部との接続を可能にする複数の電極端子52が、辺に沿って形成されている。
ベアチップ42は、基板50のダイパッド51の上に取付けられている。ベアチップ42の外形も矩形である。ベアチップ42上には、ベアチップ42の一辺に沿って複数の電極パッド43が形成されると共に、その辺に対向する辺に沿って複数の電極パッド43が形成されている。
ベアチップ42の中央には、光学素子41の発光部或いは受光部44が形成されている。ベアチップ42の電極パッド43と基板50の電極端子52とがワイヤ45により、電気的に接続されている。
ベアチップ42の2列の電極パッド43及びワイヤ45が、すべて樹脂46で被覆されている。ベアチップ42の電極パッド43が形成されていない残りの辺についても、樹脂46で覆われている。光学素子41の発光部又は受光部44は、樹脂46で覆われず、開口している。
この半導体装置の製造方法は、光学素子41の受光部または発光部44が樹脂46で覆われることなく開口するようにする以外は、第2の実施形態と同様の製造方法である。
なお、塗布工程において使用する樹脂は、半導体素子が光学素子41を含むが、従来のように透明樹脂を用いることを要しない。
本発明の第1の実施形態に係る半導体装置の平面図である。 図1の半導体装置の製造工程の説明図である。 本発明の第2の実施形態に係る半導体装置の平面図である。 図3の半導体装置の製造工程の説明図である。 図3の半導体装置の利点を示す説明図である。 本発明の第3の実施形態に係る半導体装置の平面図である。
符号の説明
1,21 半導体素子
2,22,42 ベアチップ
3,23,43 電極パッド
5,25,45 ワイヤ
6,26,46 樹脂
10,30,50 基板
11,31,51 ダイパッド
12,32,52 電極端子
41 光学素子
44 発光部または受光部

Claims (2)

  1. 半導体素子が形成されると共に対向する2つの辺のそれぞれに、該辺に沿った外周部に電極パッドが形成されているベアチップを、電極端子を有する基板に搭載する工程と、
    前記ベアチップ上に形成された電極パッドと前記電極端子とを導電部材で電気的に接続する工程と、
    少なくとも前記電極パッドおよび導電部材が樹脂で覆われるように樹脂を塗布する塗布工程とを有し、
    前記塗布工程では、前記電極パッドが形成された側の辺に沿って樹脂を塗布する第1の工程の後に、該電極パッドが形成されていない側の辺に沿って樹脂を塗布する第2の工程を行い、該第1の工程および第2の工程においては、前記ベアチップの側面部が樹脂で覆われるように前記樹脂を塗布し、
    前記ベアチップ上の前記電極パッドが形成されている面の中心部に樹脂の非被覆面が形成されるようにしたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
  2. 前記半導体素子は、受光部または発光部を有する光学素子を含み、該受光部または発光部が前記ベアチップ上の前記電極パッドが形成されている面の中心部に配置され、
    前記塗布工程において、前記受光部または発光部が樹脂で覆われないように樹脂を塗布することを特徴とする請求項に記載の半導体装置の製造方法。
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