JP4036815B2 - 洗浄装置 - Google Patents

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Description

この発明は、たとえば液晶表示素子や、PDP(プラズマディスプレイパネル)などのフラットパネルディスプレイや、半導体の製造工程などで用いられる洗浄装置に関する。
例えば液晶表示素子、PDP(プラズマディスプレイパネル)などのフラットパネルディスプレイや半導体の製造工程で用いられる従来の洗浄方法としては、回転するブラシを被洗浄基板表面にこすりつけるブラシ洗浄、洗浄液に超音波を照射して発生したキャビティーの崩壊時の衝撃力を利用したキャビテーション洗浄、高周波の振動加速度を利用するメガソニック洗浄、洗浄液を高速で噴射して流れの剪断力を利用する高速流れ洗浄などが提案されている。
また、これらの洗浄方法においては、洗浄液の中に複数枚の被洗浄基板を一度に浸漬して洗浄する、ディップ方式、または、被洗浄基板に向けて洗浄液を噴射して1枚ごとに洗浄する、枚葉方式が用いられる。最近では、高い清浄度を達成することができ、大型基板の洗浄に際してコスト的に有利な枚葉方式が多く用いられる。
枚葉方式の1つとして、被洗浄基板に噴射される洗浄液に、たとえば超音波による振動を付加し、超音波振動による洗浄液の加速および直進流によって、被洗浄基板から微粒子を除去する洗浄方法が実用化されている。超音波を利用した超音波洗浄装置に使用される超音波振動子には、周波数が低すぎると洗浄液に対する超音波付加の効果が発現しにくく、また周波数が高すぎると、キャビテーションによる被洗浄基板の損傷が懸念されるので、1MHz前後の周波数が利用されている。
また、特許文献1には、洗浄槽と超音波振動子と反射板とを備え、洗浄槽に洗浄液を貯留した洗浄装置が開示されている。この洗浄装置においては、超音波振動子から発振された超音波を反射板で反射して定在波を発生させて、定在波の腹を被洗浄基板の表面に位置させている。
特許文献2には、次のような洗浄装置が開示されている。図13に示すような、ノズル構成体150は、洗浄液105を導入する導入通路110と、洗浄処理後の洗浄液105を洗浄処理の系外へ排出するための排出通路112とを有している。排出通路の端部には、吸引ポンプ113が設けられている。導入通路110と排出通路112とは、交差部114で連結されており、交差部114には被洗浄基板101に向けて開口する開口部106が設けられている。交差部114には、振動子120が設けられている。
被洗浄基板101は搬送ローラ102により矢印Fの方向に搬送され、ノズル構成体150の交差部114に設けられた超音波振動子120の発振が、開口部106から洗浄液105を介して被洗浄基板101に伝わり、被洗浄基板101上のパーティクルが除去される。
吸引ポンプ113の吸引圧力を制御することにより、開口部106の大気と接触している洗浄液105の圧力と大気圧と均衡をとるようになっている。つまり、開口部106の大気と接触している洗浄液105の圧力Pと大気圧Pとの関係をP≒Pとすることにより開口部106を介して被洗浄基板101に供給され、被洗浄基板101に接触した洗浄液105は外部に漏れることなく排出通路112から排出される。すなわち、導入通路110から被洗浄基板101に供給した洗浄液105が、洗浄液を供給した部分以外の部分に接触することなく被洗浄基板101上から除去される。
特開2000−107710号公報 特開平10−163153号公報
液晶表示素子、PDP(プラズマディスプレイパネル)等のフラットパネルディスプレイは、多面取りにおける生産性向上のため、今後ますます基板の大型化と高精細化が要求されるが、従来の洗浄装置および洗浄方法では以下の課題が残されている。
大型基板で従来と同等以上の生産能力を確保するために、基板の搬送速度は高速化されている。ここで、超音波振動による洗浄性能は、被洗浄基板に対する超音波照射時間に比例するので、搬送速度が高速化されて基板単位面積当りの超音波照射時間が短くなると、洗浄性能が低下する。
特許文献1記載の洗浄装置は洗浄槽に洗浄液を貯留しているので、大型基板に対応するためには洗浄槽も大型化する必要があり、洗浄液の使用量および処理コストが増大するという問題点がある。また、印加する超音波の周波数が100KHz以下のため、1μm以下の微小パーティクルに対応できないという問題点がある。
特許文献2記載の洗浄装置では、超音波を被洗浄基板の裏面で反射させて定在波を形成するため、定在波の振幅が最大である腹の位置を被洗浄基板の表面に安定させることが困難になる。
さらに、被洗浄基板101が大型化することにより、被洗浄基板101の反りの影響が大きくなるが、反りの大きい被洗浄基板101に対応するためには、交差部114の下面と、搬送ローラ102の上端面との間の距離を大きくする必要がある。その場合開口部106において大気と接触している洗浄液105の圧力Pと大気圧Pとをほぼ等しい関係に保つことが困難となる。
したがって、本発明の目的は、液晶表示素子、PDP(プラズマディスプレイパネル)等のフラットパネルディスプレイや半導体の製造工程などで用いられるガラス基板、シリコン基板などを洗浄する際に、超音波の定在波を安定的に発生させることができ、また、洗浄液の使用量を減少させることができる洗浄装置を提供することにある。
この発明に基づいた洗浄装置に従えば、被洗浄基板をその被洗浄面を上向きにして搬送する搬送機構と、被洗浄基板の上記被洗浄面に洗浄液を噴射する高圧ノズルと、上記被洗浄基板の下面に超音波を印加した液体を噴射する超音波ノズルと、上記超音波ノズル上方における、上記洗浄液の液膜厚を安定化させる液膜厚安定化手段とを備えている。
上記洗浄装置によれば、液膜厚安定化手段を備えているので、高圧ノズルから噴射された洗浄液の液膜厚が安定する。これにより定在波を安定的に発生させやすくなり、被洗浄基板の被洗浄面に付着したパーティクルに、安定して振動エネルギを与えることができる。また、超音波を、被洗浄基板の下面に噴射した液体を媒体として被洗浄基板に伝播させ、さらに、この液体と、被洗浄基板の被洗浄面に噴射した洗浄液により超音波を伝播して定在波を発生させるので、従来の洗浄装置のような洗浄液を貯留する洗浄槽が不要となる。これにより被洗浄基板が大型化した場合でも、洗浄液の使用量の増加を最小限にすることができる。
上記洗浄装置において好ましくは、上記超音波ノズルから噴出される液体に印加される超音波の波長をλとすると、上記超音波ノズルから噴射される液体に超音波を印加する振動子と上記被洗浄面との距離が略λ/2の自然数倍である。この構成により、被洗浄面に超音波ノズルから噴射される液体に印加される超音波の腹の位置が被洗浄基板の被洗浄面に略一致させやすくなり、被洗浄基板の被洗浄面のパーティクルに与える振動エネルギを最大化することができて、洗浄能力が向上する。
上記洗浄装置においてさらに好ましくは、上記液膜厚安定化手段は、上記被洗浄面と対向し所定の間隔を保った平面を有する液膜厚安定化部材で構成されている。この構成によると、液膜厚安定化手段の平面により、被洗浄基板上の液膜厚を安定化させることができる。
上記洗浄装置においてさらに好ましくは、上記液膜厚安定化部材は、上記超音波ノズルの上方を覆い、超音波ノズルから噴射される液体に印加された超音波を反射する反射板で構成され、上記被洗浄面と上記反射板との隙間は洗浄液で満たされている。この構成によると、液膜厚安定化部材を、超音波を反射する反射板で構成したので、超音波ノズルから噴射される液体に印加された超音波を、反射板で反射することができる。これにより定在波を安定的に発生させやすくなり、被洗浄基板の被洗浄面に付着したパーティクルに、安定して振動エネルギを与えることができる。
上記洗浄装置においてさらに好ましくは、上記被洗浄基板の被洗浄面が、上記振動子と上記反射板との間に発生する定在波の腹の位置に配置される。この構成によると、被洗浄面のパーティクルに与える振動エネルギを最大化することができる。
上記洗浄装置において、反射板を、ゴム板で構成し、反射板の内表面を透過しその外表面で反射する超音波の成分よりも、反射板の内表面で反射する超音波の成分の方が多くなるように構成する。振動子が発生させる超音波の波長をλとしたとき、反射板の内表面と被洗浄基板の被洗浄面との距離を略λ/4の奇数倍とすることにより、定在波の腹を被洗浄基板の被洗浄面に位置させることができる。
上記洗浄装置において上記液膜厚安定化手段を、その中心軸が上記被洗浄基板の搬送方向と直交する方向に延び、上記被洗浄面に対向する円筒面を有する長尺部材で構成してもよい。この構成によると、円筒面により被洗浄面上における液膜厚を安定化させることができる。
上記洗浄装置においてさらに好ましくは、上記超音波ノズルから噴射される液体に印加された超音波の波長をλとすると、上記超音波ノズル上方における上記洗浄液の液膜厚は、略λ/4の奇数倍である。この構成によると、洗浄液の液膜表面で反射した超音波による定在波の腹と、被洗浄基板の被洗浄面とを一致させやすくなる。
上記洗浄装置においてさらに好ましくは、上記超音波ノズルから噴射される液体に印加された超音波は、1MHz以上の周波数成分を含んでいる。この構成によると、微小なパーティクルを除去する能力が向上する。
本発明の洗浄装置によると、安定して定在波を発生させることができるので、安定して高い洗浄性能が得られ、また洗浄液を貯留する必要がないので洗浄液の使用量を少なくすることができる。
(実施の形態1)
以下、本実施の形態における洗浄装置について、図面に基づき説明する。なお、図1は、本実施の形態における洗浄装置の構造を示す側面図であり、図2は、同洗浄装置の構造を示す平面図であり、図3および図4は、同洗浄装置の動作を説明する説明図である。
図1および図2に示すように、本実施の形態の洗浄装置は、被洗浄基板1を搬送する搬送機構としての搬送ローラ2と、被洗浄基板1の被洗浄面1aの側に位置して超音波を反射する液膜厚安定化手段としての反射板9と、被洗浄基板1の被洗浄面1aと反射板9の内表面9aとの間に洗浄液5を噴射する高圧ノズル3と、被洗浄基板1の被洗浄面1aの裏面1bに超音波を印加した液体8を噴射する超音波ノズル7とを備えている。
被洗浄基板1は搬送ローラ2上に載置され、図1および図2にAで示す矢印の方向に搬送される。被洗浄基板1の被洗浄面1aの上方に配置された高圧ノズル3は、被洗浄基板1の被洗浄面1aに対して一定の角度で傾斜して配置されている。高圧ノズル3のスリット状の噴出口4から洗浄液5が、被洗浄基板1の搬送方向と逆方向に高速噴射される。図1および図2にその方向を矢印Bで示す。図2に示すように、高圧ノズル3は、被洗浄基板1の全幅に亙るように形成されており、被洗浄基板1の全幅に対して洗浄液5を噴射することができる。
被洗浄基板1の裏面1bの側に、被洗浄基板1の下面に対して垂直に超音波ノズル7が配置されている。超音波ノズル7から、超音波が印加された液体8が上方向、すなわち被洗浄基板1の裏面1bの法線方向に噴出される。この超音波ノズル7は、図2に示すように、被洗浄基板1の全幅に亙るように形成されており、被洗浄基板1の裏面1bの全幅に対して液体8を噴射することができる。このように液体8を噴射することにより、被洗浄基板1の裏面1bを洗浄すると同時に、液体8に印加された超音波により被洗浄基板1の被洗浄面1aに付着したパーティクル6を振動させ、浮上させることができる。この浮上したパーティクル6は、高圧ノズル3から噴射された洗浄液5の高速の流れにより被洗浄基板1の表面から除去される。
被洗浄基板1の被洗浄面1a側である被洗浄基板1の上方には、反射板9が被洗浄基板1と平行に配置されている。また、この反射板9は、被洗浄基板1上における洗浄液5の液膜厚を安定させ、さらに、超音波ノズル7から噴出する液体8に印加された超音波を反射するためのものであるので、液体8の超音波ノズル7から噴出される方向の延長線と直交するように配置されている。高圧ノズル3から噴出された洗浄液5は被洗浄基板1と反射板9との間を流れる。このとき、被洗浄基板1と反射板9との間が洗浄液5により満たされるように、高圧ノズル3から噴射される洗浄液5の噴射速度および噴射量が調整される。
反射板9と、被洗浄基板1と、超音波を発生させる振動子10との位置関係を図3により説明する。これら三者の最適な配置は、反射板9の材質により変化するが、まず反射板9がガラス板の場合について説明する。
振動子10から発振された超音波は、超音波ノズル7から噴射される液体8を媒体として被洗浄基板1に到達する。このとき、液体8と、ガラス板で構成された被洗浄基板1の音響インピーダンスは、略同じオーダーなので超音波の大部分は被洗浄基板1を透過する。この超音波は、高圧ノズル3から噴射された洗浄液5に伝播し反射板9に到達する。ガラス板で構成された反射板9と液体である洗浄液5の音響インピーダンスは略同程度なので、超音波は反射板9の内表面9aを透過し、反射板9の内部に伝播する。固体の反射板9と、反射板9の外表面9bに接する大気の音響インピーダンスはオーダーが大きく異なるので、超音波は反射板9の外表面9bで反射される。
このとき反射板9が、超音波の振幅が0となる節の位置に配置されていると、反射板9の外表面9bで反射された超音波は、反射板9、洗浄液5、被洗浄基板1、液体8と順に伝播して振動子10に戻る定在波11が生成される。ここで、定在波11は振動子10の上面で振幅が最大(腹の位置)となり、反射板9の底面で振幅が0(節の位置)となる。
超音波の振動エネルギーをパーティクル6に最も有効に作用させる為には、定在波11の振幅が最大となる腹の位置と、被洗浄基板1の被洗浄面1aとが一致するように設定すれば良い。そのためには反射板9の外表面9bと被洗浄基板1の被洗浄面1aとの距離が、超音波の波長をλとしたとき、λ/4の奇数倍となるようにすればよい。図3ではλ/4の1倍の場合を示している。また、被洗浄基板1の被洗浄面1aと振動子10の上面との距離は、λ/2の自然数倍となるようにすればよい。図3では、λ/2の2倍の場合を示している。
反射板9がガラス板のように、反射板9の内表面9aで反射する超音波の成分よりも、内表面9aを透過し反射板9の外表面9bで反射する超音波の成分の方が多くなるような材料の場合には、上記のように反射板9と被洗浄基板1と振動子10との位置関係を設定することで、定在波の腹と被洗浄基板1の被洗浄面1aの位置とを一致させることができ、被洗浄基板1の被洗浄面1aに付着するパーティクルに与える超音波の振動エネルギを最大にすることができる。
次に、図4を用いて反射板9が、その表面で超音波を反射しやすい材質の場合について説明する。ここでは、そのような材料として軟質ゴムを用いている。軟質ゴムの音響インピーダンスは、洗浄液5の音響インピーダンスの約1/20と小さいので、洗浄液5を伝播してきた超音波は反射板9の内表面9aでほとんど反射される。超音波の振動エネルギーを、被洗浄面1aに付着したパーティクル6に最も有効に作用させる為には、上述のように、定在波11の腹の位置が被洗浄基板1の被洗浄面1aと一致するようにすれば良い。そのためには、図4に示すように、反射板9の内表面9aと被洗浄基板1の被洗浄面1aとの距離がλ/4の奇数倍となるようにすればよい。図4ではλ/4の1倍の場合を示している。
また、被洗浄基板1の被洗浄面1aと振動子10の上面との距離はλ/2の自然数倍となるようにすればよい。図4ではλ/2の2倍の場合を示している。なお、反射板9の内部に空洞があり空気などの気体が充填されている場合は、反射板9の音響インピーダンスは洗浄液5の音響インピーダンスの1/20よりもさらに小さくなるので、反射板9の内表面9aで反射される超音波のエネルギーはさらに増大する。
このように、反射板9が、軟質ゴムや内部に空洞を有する板などのように、反射板9の内表面9aを透過し、その外表面9bで反射する超音波の成分よりも、反射板9の内表面9aで反射する超音波の成分の方が多くなるような材質の場合には、上記のように反射板9と被洗浄基板1と振動子10との位置関係を設定することで、定在波の腹と被洗浄基板1の被洗浄面1aの位置とを一致させることができ、被洗浄基板1の被洗浄面1aに付着するパーティクルに与える超音波の振動エネルギを最大にすることができる。
高圧ノズル3の被洗浄基板1に対する傾斜角は、高圧ノズル3からの洗浄液5の噴流が被洗浄基板1に衝突した際のエネルギーロスを小さくするために、被洗浄基板1に対し水平に近いほうが望ましく、具体的には被洗浄基板1に対して10°以上、20°以下の範囲が望ましい。一般に噴流の被洗浄基板1の被洗浄面1aに沿う方向の流速成分は、噴出流速のコサイン成分になるので、設置角度が20°の場合には、流速の減衰が10%以下であるのに対して、設置角度が20°以上になると流速の減衰が10%以上と大きくなり、洗浄力が低下する。一方、設置角度が10度未満になると、被洗浄基板1と高圧ノズル3からの洗浄液5の、被洗浄基板1の被洗浄面1aへの接触が不十分で洗浄力が低下する上、洗浄装置内の設置スペースも大きくなるので、この点からも傾斜角は10°以上20°以下の範囲が望ましい。
高圧ノズル3からの洗浄液5の成分と超音波ノズル7からの液体8の成分とは、洗浄目的によって同一の場合と、異なる場合とがある。たとえば、購入直後の被洗浄基板1を洗浄する場合には、被洗浄基板1の両面は略同程度に汚染されているので、高圧ノズル3からの洗浄液5と超音波ノズル7からの液体8とは同じ成分のものを用いる。また成膜処理等のプロセス後の被洗浄基板1においては、その被洗浄面1aはひどく汚染されているので高圧ノズル3からの洗浄液5は強力な洗浄力を持つ薬液を使用し、裏面はあまり汚染されていないので超音波ノズル7からの液体8は超純水を使用することが考えられる。上記のような強力な洗浄力を持つ薬液として、アルカリ水素水、オゾン水、過酸化水素水、硫酸、塩酸、硝酸、亜臨界水、超臨界水、磁化水等のいずれか、またはこれらの混合液を用いることができる。
本発明で除去すべきパーティクルは1μm以下の微小粒子をターゲットにしているので、液体8に印加する超音波は、1MHz以上の周波数を有するメガソニック超音波が好ましい。メガソニック超音波は、エネルギが大きいため1μm以下の微小粒子を振動させることができ、このような微小粒子を洗浄中に被洗浄基板1の被洗浄面1aから浮き上がらせることができる。
本実施の形態では、被洗浄基板1の被洗浄面1aの側に、液膜厚安定化手段としての反射板9を配置したが、この実施の形態の洗浄装置の作用を、このような反射板9を設けない洗浄装置を用いた比較例との対比において、以下に説明する。
図5は比較例の洗浄装置の構造を示している。図5に示すように、本実施の形態の洗浄装置との差異は、反射板9の有無のみである。比較例の洗浄装置においては、高圧ノズル3のスリット状の噴出口4から洗浄液5が高速で被洗浄基板1の搬送方向(矢印Aで示す)と、逆方向(矢印Bで示す)に噴出される。さらに被洗浄基板1の被洗浄面1aに、超音波ノズル7から超音波を印加した液体8が上方向に噴出されて、被洗浄基板1の裏面1bを洗浄すると同時に、被洗浄基板1の被洗浄面1aのパーティクル6を振動させて浮上させ、被洗浄基板1の被洗浄面1aから除去する。
このとき、洗浄液5は被洗浄基板1の被洗浄面1aに沿って搬送方向Aと逆方向に流れるが、液膜厚安定化手段が存在しないため、洗浄液5の界面12は波打っており、また、界面12と被洗浄基板1との距離は時間とともに変動する。洗浄液5と大気とは、その音響インピーダンスはオーダーが大きく異なるので、振動子10から発振された超音波の大部分は界面12で反射される。
定在波が発生して腹が被洗浄基板1の表面に位置するのは、図6に実線で示す、界面12aと被洗浄基板1との距離がλ/4の場合のみであり、図6に破線で示すような、界面12bと被洗浄基板1との距離がλ/4に一致しない場合には定在波が立たない。そのため、比較例の場合には、定在波が安定しないため、安定した洗浄性能を得ることは困難である。また超音波の一部は界面12を透過して大気中に放出されるので、その分の超音波の振動エネルギーはロスされて、洗浄に寄与しない。
これに対し本実施の形態の洗浄装置においては、反射板9が設けられているので、超音波は常に同一の位置で反射され、安定して定在波を発生させることができる。これにより安定して高い洗浄能力を確保することができる。また、反射板9により超音波を反射させるので、その損失を最小限にすることができ、パーティクル6を振動させるエネルギが大きくなり、洗浄力が向上する。
また、特許文献1記載の洗浄装置においては、洗浄槽に洗浄液を貯留する構造なので、基板の大型化に伴い洗浄槽も大型化し、大量の洗浄液が必要になり環境への負荷が大きいという問題点がある。これに対し本実施の形態の洗浄装置および洗浄方法では、洗浄液5および液体8はそれぞれ高圧ノズル3および超音波ノズル7から必要な箇所にのみ噴射しており、大量の洗浄液を貯留する洗浄槽は必要ないので、省水型で環境に優しい洗浄を実現することができる。
また、被洗浄基板1の被洗浄面1aには、高圧ノズル3から速い流速の洗浄液5を噴射することができるので、特許文献1記載の洗浄装置のように、洗浄槽内で循環する洗浄液により洗浄する場合に比べて、洗浄力が向上する。
(実施の形態2)
実施の形態2における洗浄装置について、図面に基づき説明する。なお、図7は本発明の実施の形態における洗浄装置の構造を示す縦断面図である。図8は、同洗浄装置の構造を示す平面図である。図9は、同洗浄装置の動作を説明する説明図である。
本実施の形態の洗浄装置は、矢印Aに示す搬送方向に搬送される被洗浄基板1の洗浄すべき面である被洗浄面1aから、付着微粒子を、ジェット流と超音波による振動を用いて除去する装置である。この洗浄装置は、被洗浄基板1の被洗浄面1aから間隔をあけて設けられ、被洗浄面1aに洗浄液5を噴射する高圧ノズル3と、被洗浄基板1の裏面1bから間隔をあけて設けられ、裏面1bに液体8を噴射する超音波ノズル7と、超音波ノズル7から噴射される液体8に超音波による振動を付加する振動子10とを備えている。
被洗浄基板1は、搬送手段によって、図中矢印Aの方向に搬送される。搬送手段は、複数の搬送ローラ2と、電動機13と、複数の搬送ローラ2相互を連結するベルト14とを含む。電動機13による回転駆動力がベルト14を介して各搬送ローラ2に伝達され、各搬送ローラ2が軸線まわりに回転し、被洗浄基板1が矢印Aの方向に搬送される。被洗浄基板1は、搬送される途上において、超音波ノズル7および高圧ノズル3から液体8や洗浄液5が噴射される領域を通過するとき洗浄される。
スリット状のギャップ17を有する高圧ノズル3は被洗浄基板1に対して一定の角度で傾斜して配置され、ポンプで加圧された洗浄液5が矢印Cの方向に供給される。ギャップ17から高速でカーテン状の洗浄液5を、被洗浄基板1の搬送方向と逆方向に噴出する。噴射されたカーテン状の洗浄液5の水膜の幅、つまり、水膜の搬送方向に直角方向の長さは、被洗浄基板1の搬送方向に直角な方向の長さよりも長い。高圧ノズル3の被洗浄基板1に対する傾斜角は、10〜70°の範囲が望ましい。この傾斜角は、高圧ノズル3からの洗浄液5の噴流が被洗浄基板1に衝突した際の衝撃力と、衝突後の剪断流速を決めるパラメータである。
超音波ノズル7は、被洗浄基板1の搬送方向に直角方向に延び、ノズル開口部の搬送方向に直角方向の長さは、被洗浄基板1の搬送方向に直角な方向の長さよりも長い。振動子10は、超音波ノズル7に内包されている。超音波の周波数が低すぎると振動の効果が発現せず、周波数が高すぎるとキャビテーションによって被洗浄基板1が損傷を受ける恐れがあるので、1MHzの超音波が好適に用いられる。
超音波ノズル7は、振動子10により発生した超音波を液体8に印加し、液体8を上方向に噴出することで、被洗浄基板1の裏面1bを洗浄する。同時に、液体8に印加された超音波は被洗浄基板1の被洗浄面1aのパーティクルも振動、浮上させ、高圧ノズル3からの洗浄液5の流れにより、被洗浄基板1の被洗浄面1aからパーティクルを除去する。
そして、超音波ノズル7の上方にカバー20を被洗浄基板1と平行に配置する。カバー20の被洗浄基板1に対向する面には、洗浄液補充手段としての、洗浄液を噴出する噴射孔21が複数設けられている。そして、洗浄液5が矢印Eの方向に供給されると、噴射孔21から被洗浄基板1側に洗浄液5が噴出する構造となっている。
高圧ノズル3はギャップ17から洗浄液5をカーテン状に吹き出し、水膜を形成する。ギャップ17が狭いほど水膜の厚さは薄い。洗浄する被洗浄基板1は洗浄前までの工程で反っている場合もある。そのような被洗浄基板1を洗浄する場合は、カバー20の下面と、搬送ローラ2の被洗浄基板1の裏面1bが当接する位置との距離D1(図9参照)を被洗浄基板1の反り量を考慮して広くとる必要がある。また、高圧ノズル3からの洗浄液5の厚さは薄い方が好ましい。
つまり、大型基板の洗浄の場合、高圧ノズル3の幅は被洗浄基板1より広く、洗浄液5の流量を少なくするためには水膜5aを薄くする必要がある。高圧ノズル3からの噴出のためのポンプの負担を小さくすることにも寄与する。
高圧ノズル3からの水膜5aの厚さが薄く、カバー20の下面と搬送ローラ2の被洗浄基板1の裏面1bが当接する位置との距離が大きい場合、カバー20の下面と被洗浄基板1の被洗浄面1aとの間を洗浄液5で満たすため、洗浄液5を噴射孔21から被洗浄基板1側に供給する。これによりカバー20の下面と被洗浄基板1の被洗浄面1aの間が洗浄液で満たされ、振動子10で発振した超音波が液体8、被洗浄基板1、洗浄液5、カバー20間を伝播可能となる。
カバー20と被洗浄基板1と振動子10の位置関係を図9により説明する。振動子10から発振された超音波は、超音波ノズル7から噴射される液体8を媒体として被洗浄基板1に到達する。液体と固体の音響インピーダンスは、ほぼ同じオーダーなので、超音波の大部分は被洗浄基板1を透過して高圧ノズル3(図示せず)から噴射された洗浄液5に伝播しカバー20に到達する。カバー20(固体)と洗浄液5(液体)の音響インピーダンスは、ほぼ同じなので超音波はカバー20の内表面を透過する。しかし、カバー20(固体)と大気(気体)の音響インピーダンスはオーダーが大きく異なるので超音波はカバー20の外表面で反射される。
ここでカバー20の外表面が超音波の振幅が0になる位置に配置されていると、カバー20の外表面で反射された超音波は洗浄液5、被洗浄基板1、液体8と順に伝播して振動子10に戻る定在波11が生成される。定在波11は振動子10の上面で振幅が最大(腹の位置)になり、カバー20の底面で振幅が0(節の位置)になる。
超音波の振動エネルギーを被洗浄面1a上のパーティクルに最も有効に作用させる為には、定在波11の腹の位置が被洗浄基板1の被洗浄面1aに位置するように設定すれば良く、そのためにはカバー20の外表面と被洗浄基板1の被洗浄面1aとの距離D2がλ/4(λは定在波の波長)の奇数倍となるようにすればよい。図9において、D2はλ/4の3倍としている。また被洗浄基板1の被洗浄面1aと振動子10の上面との距離D3は、λ/2の自然数倍となるようにすればよい。図9において、D3はλ/4の3倍としている。
以上により、安定で、ロスが少なく、かつ、効率のよい定在波を形成する超音波洗浄が可能であると同時に、省水型で環境に配慮した洗浄装置が実現できる。
この実施例では、洗浄液5と液体8として純水の使用を前提として説明しているが、強力な洗浄力を持つアルカリ水素水、オゾン水、過酸化水素水等の薬液やこれらの混合液を使用してもよい。
(実施の形態3)
実施の形態3における洗浄装置について、図面に基づき説明する。なお、図10は、本実施の形態の洗浄装置の構造を示す縦断面図である。図11は、同洗浄装置の動作を説明する説明図である。実施の形態2と異なるのはカバー部分のみであり、図7から図9と同等の機能を有する構成には、同一の参照番号を付し、その説明は繰り返さない。
本実施の形態においては、実施の形態2より高圧ノズル3のギャップ17を広くしており、ギャップ17から、カーテン状に吹き出す洗浄液5の水膜の厚さが厚くなるように設定している。また、カバー25をその下面と被洗浄基板1の被洗浄面1aとの距離Dがλ/4(λは定在波の波長)の奇数倍となるように設けている。図11では、D4は、λ/4の1倍としている。
このように構成することで、高圧ノズル3から噴射された洗浄液5による比較的厚い水膜5aは、カバー25によりその流量が制限され、超音波ノズル7の上方での洗浄液5の液膜厚が安定する。
カバー25と被洗浄基板1と振動子10の位置関係を図11により説明する。振動子10から発振された超音波は、超音波ノズル7から液体8を媒体として被洗浄基板1に到達するが、液体と固体の音響インピーダンスはほぼ同じオーダーなので、超音波の大部分は被洗浄基板1を透過して高圧ノズル3(図示せず)から噴射された洗浄液5に伝播し、洗浄液5と大気との界面に到達する。
洗浄液5(液体)と大気(気体)の音響インピーダンスはオーダーが大きく異なるので、超音波は洗浄液5(液体)と大気との界面5bで反射される。ここで界面5bが、超音波の振幅が0になる位置に配置されていると、界面5bで反射された超音波により、洗浄液5、被洗浄基板1、液体8と伝播して振動子10に戻る定在波11が生成される。定在波11は振動子10の上面で振幅が最大(腹の位置)になり、界面5bで振幅が0(節の位置)になる。
ここで、界面5bの位置を決めるのは、カバー25の設置高さである。カバー25の下面を構成する平面が、界面5bに対して最適な高さになるよう設置される。
超音波の振動エネルギーを、被洗浄面1a上のパーティクルに最も有効に作用させる為には、定在波11の腹の位置が被洗浄基板1の被洗浄面1aと一致するように設定すれば良く、そのためにはカバー25の下面と被洗浄基板1の被洗浄面1aとの距離D4が、λ/4(λは定在波の波長)の奇数倍となるようにすればよい。図11では、λ/4の1倍としている。また、被洗浄基板1の被洗浄面1aと振動子10の上面の距離D3は、λ/2(λは定在波の波長)の自然数倍となるようにすればよい。図11では、λ/2の2倍としている。
次に実施の形態3の変形例について、図面に基づき説明する。なお、図12は、実施の形態3の変形例における洗浄装置の動作を説明する説明図である。
前述の断面が矩形のカバー25を、断面が円形の円筒30に置き換えたものである。円筒30の役割は前述のカバー25と同じである。この円筒30により、高圧ノズル3から噴射された洗浄液5の液膜厚を一定にすることができる。ここでは、液膜厚安定化手段を円筒30で構成しているが、この場合には被洗浄面1a上における洗浄液の液膜厚は、円筒30の被洗浄面1aに対向する円筒面の最下位置と被洗浄面1aとの距離D4と一致する。したがって、この変形例の場合には、D4がλ/4の奇数倍となるように設定する。図12では、λ/4の1倍としている。
本実施の形態の洗浄装置によれば、被洗浄基板1を搬送ローラ2で移動させ、被洗浄基板1の上方に設置された高圧ノズル3の噴出した洗浄液5と、被洗浄基板1の下方に設置された超音波ノズル7により超音波を印加して基板洗浄を行い、高圧ノズル3からの洗浄液5が被洗浄面1a上を流れ、超音波ノズル7の上方に到達するまでに洗浄液5の液膜厚を安定させる液膜厚安定化手段としてのカバー25または円筒30を設けている。液膜厚安定化手段により被洗浄基板1上の液膜厚を均一にできるため、振動子10の設定が容易である。
また、洗浄中に振動子10の設定条件が変動しないため、調整した最適な条件で、液体8に超音波を印加することができ、被洗浄面1aがその腹と一致する安定した定在波を発生させることができる。
以上により、安定で、ロスが少なく、かつ、効率のよい定在波を形成する超音波洗浄が可能であると同時に、省水型で環境に配慮した洗浄装置が実現できる。
なお、今回開示した上記実施の形態はすべての点で例示であって、限定的な解釈の根拠となるものではない。したがって、本発明の技術的範囲は、上記した実施の形態のみによって解釈されるのではなく、特許請求の範囲の記載に基づいて画定される。また、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
この発明に基づいた実施の形態1における洗浄装置の構造を示す側面図である。 この発明に基づいた実施の形態1における洗浄装置の構造を示す平面図である。 この発明に基づいた実施の形態1における洗浄装置の動作を説明する説明図である。 この発明に基づいた実施の形態1における洗浄装置の動作を説明する説明図である。 比較例の洗浄装置の構造を示す側面図である。 比較例の洗浄装置の動作を説明する説明図である。 この発明に基づいた実施の形態2における洗浄装置の構造を示す縦断面図である。 この発明に基づいた実施の形態2における洗浄装置の構造を示す平面図である。 この発明に基づいた実施の形態2における洗浄装置の動作を説明する説明図である。 この発明に基づいた実施の形態3における洗浄装置の構造を示す縦断面図である。 この発明に基づいた実施の形態3における洗浄装置の動作を説明する説明図である。 この発明に基づいた実施の形態3の変形例における洗浄装置の動作を説明する説明図である。 従来の洗浄装置の構造を示す縦断面図である。
符号の説明
1 被洗浄基板、1a 被洗浄面、2 搬送ローラ、3 高圧ノズル、5 洗浄液、7 超音波ノズル、8 液体、9 反射板、10 振動子、11 定在波、20 カバー(液膜厚安定化手段)、21 噴射孔(洗浄液補充手段)、25 カバー(液膜厚安定化手段)、30 円筒(液膜厚安定化手段)。

Claims (5)

  1. 被洗浄基板を、その被洗浄面を上向きにして搬送する搬送機構と、
    被洗浄基板の前記被洗浄面に洗浄液を噴射する高圧ノズルと、
    前記被洗浄基板の下面に超音波を印加した液体を噴射する超音波ノズルと、
    前記超音波ノズル上方における、前記洗浄液の液膜厚を安定化させる液膜厚安定化手段とを備え
    該液膜厚安定化手段は前記被洗浄面と対向し所定の間隔を保った平面を有するゴム板からなる、洗浄装置。
  2. 被洗浄基板を、その被洗浄面を上向きにして搬送する搬送機構と、
    被洗浄基板の前記被洗浄面に洗浄液を噴射する高圧ノズルと、
    前記被洗浄基板の下面に超音波を印加した液体を噴射する超音波ノズルと、
    前記超音波ノズル上方における、前記洗浄液の液膜厚を安定化させる液膜厚安定化手段とを備え、
    該液膜厚安定化手段はその中心軸が前記被洗浄基板の搬送方向と直交する方向に延び、前記被洗浄面に対向する円筒面を有する長尺部材で構成された、洗浄装置。
  3. 前記超音波ノズルから噴射される液体に印加された超音波の波長をλとすると、前記超音波ノズル上方における前記洗浄液の液膜厚は、略λ/4の奇数倍である、請求項1または2に記載の洗浄装置。
  4. 前記超音波ノズルから噴出される液体に印加される超音波の波長をλとすると、前記超音波ノズルから噴射される液体に超音波を印加する振動子と前記被洗浄面との距離が略λ/2の自然数倍である、請求項1から3のいずれかに記載の洗浄装置。
  5. 前記超音波ノズルから噴射される液体に印加された超音波は、1MHz以上の周波数成分を含む、請求項1から4のいずれかに記載の洗浄装置。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4448789B2 (ja) * 2005-04-25 2010-04-14 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 材料表面の処理方法及びその装置
JP4652959B2 (ja) * 2005-11-30 2011-03-16 芝浦メカトロニクス株式会社 基板の処理装置
JP4641964B2 (ja) * 2006-03-30 2011-03-02 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置および基板処理方法
US20080245390A1 (en) * 2007-04-03 2008-10-09 Lam Research Corporation Method for cleaning semiconductor wafer surfaces by applying periodic shear stress to the cleaning solution
TWI340677B (en) 2008-06-06 2011-04-21 Ind Tech Res Inst Scrap removal method and apparatus
US8539969B2 (en) * 2010-07-30 2013-09-24 Sematech, Inc. Gigasonic brush for cleaning surfaces
CN102662267A (zh) * 2012-04-25 2012-09-12 深圳市华星光电技术有限公司 液晶面板的制作方法
US9151980B2 (en) 2012-04-25 2015-10-06 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Method for manufacturing liquid crystal panel
JP2015185813A (ja) 2014-03-26 2015-10-22 株式会社Screenホールディングス 基板洗浄方法および基板洗浄装置
JP6805708B2 (ja) * 2016-10-13 2020-12-23 澁谷工業株式会社 洗浄装置
JP6763843B2 (ja) * 2017-10-25 2020-09-30 株式会社カイジョー 超音波洗浄装置及び超音波洗浄システム

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06343933A (ja) * 1993-06-08 1994-12-20 Hitachi Zosen Corp 超音波反射板を用いた超音波洗浄法
JP3722337B2 (ja) * 1998-05-28 2005-11-30 忠弘 大見 ウエット処理装置
JP2000107710A (ja) * 1998-09-30 2000-04-18 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 超音波基板処理装置
JP2000262989A (ja) * 1999-01-13 2000-09-26 Uct Kk 基板洗浄装置
JP2002159922A (ja) * 2000-11-29 2002-06-04 Sharp Corp 超音波洗浄装置

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