JP3942479B2 - 高周波電力増幅モジュール - Google Patents

高周波電力増幅モジュール Download PDF

Info

Publication number
JP3942479B2
JP3942479B2 JP2002125303A JP2002125303A JP3942479B2 JP 3942479 B2 JP3942479 B2 JP 3942479B2 JP 2002125303 A JP2002125303 A JP 2002125303A JP 2002125303 A JP2002125303 A JP 2002125303A JP 3942479 B2 JP3942479 B2 JP 3942479B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
bias control
amplification module
power amplification
frequency power
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2002125303A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003318751A (ja
Inventor
正己 大西
均 赤嶺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Technology Corp
Original Assignee
Renesas Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Technology Corp filed Critical Renesas Technology Corp
Priority to JP2002125303A priority Critical patent/JP3942479B2/ja
Priority to US10/368,475 priority patent/US6972627B2/en
Publication of JP2003318751A publication Critical patent/JP2003318751A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3942479B2 publication Critical patent/JP3942479B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G3/00Gain control in amplifiers or frequency changers
    • H03G3/20Automatic control
    • H03G3/30Automatic control in amplifiers having semiconductor devices
    • H03G3/3036Automatic control in amplifiers having semiconductor devices in high-frequency amplifiers or in frequency-changers
    • H03G3/3042Automatic control in amplifiers having semiconductor devices in high-frequency amplifiers or in frequency-changers in modulators, frequency-changers, transmitters or power amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/66High-frequency adaptations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/30Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/189High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
    • H03F3/19High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/191Tuned amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for
    • H01L2223/64Impedance arrangements
    • H01L2223/66High-frequency adaptations
    • H01L2223/6644Packaging aspects of high-frequency amplifiers
    • H01L2223/665Bias feed arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/02Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/04Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
    • H01L2224/05Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
    • H01L2224/0554External layer
    • H01L2224/0555Shape
    • H01L2224/05552Shape in top view
    • H01L2224/05553Shape in top view being rectangular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/1026Compound semiconductors
    • H01L2924/1032III-V
    • H01L2924/10329Gallium arsenide [GaAs]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2200/00Indexing scheme relating to amplifiers
    • H03F2200/372Noise reduction and elimination in amplifier

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Transmitters (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高周波電力増幅モジュールに関し、特に、高周波信号の高出力増幅技術に適用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
近年、移動体通信の1つとして、携帯電話が広く普及しており、その機能に対しても多様性が求められている。たとえば、携帯電話に用いられる高周波電力増幅モジュールに対しては、通信時間の伸張や画像情報のやり取りなど、短時間により多くの情報を送信するために高効率、高線形性などが要求される。
【0003】
そのため、高周波電力増幅モジュールに使用される電力増幅器に対して求められる仕様も厳しいものになっており、電力利得の出力依存性についても減少させ、かつ動作電流を低減させる必要がある。
【0004】
この高効率、高線形性の特性を得るために、電力増幅器は、複数のGaAs HBT(Heterojunction Bipolar Transistor)を並列接続した、いわゆるマルチフィンガ構成となっている。
【0005】
また、電力増幅器には、温度などによって電力増幅率や出力電力などが変化した際のバイアス補正を制御するバイアス制御回路が設けられている。
【0006】
本発明者が検討したところによれば、バイアス制御回路は、たとえば、2つのトランジスタにより構成されたエミッタフォロワ回路が用いられており、該エミッタフォロワ回路で生成されたバイアス制御信号を電力増幅器におけるHBTのベース端子に供給することにより、バイアス制御を行っている。
【0007】
なお、この種の電力増幅器モジュールについて詳しく述べてある例としては、特開2001−127701号公報があり、この文献には、電力増幅器の電力利得の制御技術について記載されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記のような高周波電力増幅モジュールにおけるバイアス制御技術では、次のような問題点があることが本発明者により見い出された。
【0009】
すなわち、エミッタフォロワを構成するトランジスタが、GaAs HBTの場合、トランジスタにおいて動作可能なベース−エミッタ間電圧(Vbe)は1.4V程度以上であるので、ここでは、2つのトランジスタがあるので、Vbe=Vbe1+Vbe2(1.4V×2)=2.8V程度以上のコントロール電圧が必要となる。
【0010】
さらに、前述の2つのトランジスタを動作させるためのコレクタ電圧は、Vbe電圧よりも大きな電圧が必要であり、コントロール電圧の低電力化が困難となってしまうという問題がある。
【0011】
それにより、高圧のコントロール電圧を生成する電源回路などが必要となり、高周波電力増幅モジュールの小型化、低コスト化、および低消費電力化などの妨げとなっている。
【0012】
また、マルチフィンガの電力増幅器を多段(たとえば、2段)接続した場合、ある一方の電力増幅器に入力された高周波信号が、バイアス制御回路を介して他方の電力増幅器に漏洩してしまい、隣接チャネル漏洩電力(ACPR:Adjacent Channel Leakage Power Ratio)が劣化してしまうという問題がある。
【0013】
本発明の目的は、HBTなどを用いて構成された電力増幅器のバイアス制御を行うバイアス電圧を低電圧化するとともに、ACPRを向上させることのできる高周波電力増幅モジュールを提供することにある。
【0014】
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【0015】
【課題を解決するための手段】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
1.高周波電力増幅モジュールが、ベース端子に入力されるバイアス制御信号に基づいて電流増幅を行うトランジスタと、該バイアス制御信号を生成する第1のバイアス制御回路と、該第1のバイアス制御回路の出力部とトランジスタのベース端子との間に接続されたローパスフィルタと、変換電流から基準電圧を生成する基準電圧生成部とを備え、第1のバイアス制御回路は、バイアス電圧を電流に変換し変換電流を生成する電流変換部と、基準電圧生成部が生成した基準電圧をバッファリングするバッファとを含むものである。
【0016】
また、本願のその他の発明の概要を簡単に示す。
2.前記第1項において、前記トランジスタの前段に接続され、ベース端子に入力されるバイアス制御信号に基づいて電流増幅を行う第2のトランジスタと、該第2のトランジスタに供給されるバイアス制御信号を生成する第2のバイアス制御回路と、変換電流から基準電圧を生成する基準電圧生成部とを備え、第2のバイアス制御回路は、バイアス電圧を電流に変換し、変換電流を生成する電流変換部と、基準電圧生成部が生成した基準電圧をバッファリングするバッファとを含むものである。
3.前記第1項または第2項において、前記電流変換部が、ボルテージフォロワ構成のオペアンプと、該オペアンプの出力部にゲートが接続され、電源電圧と基準電位との間に直列接続され、第1の電流を生成する第1のMOSトランジスタと、オペアンプの出力部にゲートが接続され、電源電圧と前記基準電圧生成部との間に直列接続され、第1の電流と同じ程度の第2の電流を生成する第2のMOSトランジスタとを含み、バッファはボルテージフォロワ結合されたオペアンプを含むものである。
4.前記第1項〜第3項のいずれかにおいて、ローパスフィルタが、第1のバイアス制御回路の出力部とトランジスタのベース端子との間に直列接続されたインダクタンスと、該インダクタンスと基準電位との間に接続された静電容量素子とよりなり、該インダクタンスが、ボンディングワイヤにより形成されたものである。
5.前記第1項〜第4項のいずれかにおいて、第1、および第2のバイアス制御回路の入力部が共通接続され、バイアス電圧が共通して入力されるものである。
6.前記第1項〜第5項のいずれかにおいて、前記バッファにおけるオペアンプの入力側端子にローパスフィルタを設けたものである。
7.前記第1項〜第6項のいずれかにおいて、前記トランジスタは、互いに並列接続された複数のトランジスタを含むものである。
8.前記第2項〜第7項のいずれかにおいて、前記第2のトランジスタは、互いに並列接続された複数の第2のトランジスタを含むものである。
9.前記第1項〜第8項のいずれかにおいて、前記トランジスタは、GaAs HBTよりなるものである。
10.前記第2項〜第9項のいずれかにおいて、前記第2のトランジスタは、GaAs HBTよりなるものである。
【0017】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【0018】
図1は、本発明の一実施の形態による移動体通信機器の概略を示すブロック図、図2は、図1の移動体通信機器に設けられた電力増幅モジュールのブロック図、図3は、図2の電力増幅モジュールの回路図、図4は、図3の電力増幅モジュールに設けられたローパスフィルタを構成するインダクタンスの説明図である。
【0019】
本実施の形態において、携帯電話などの移動体通信機器1は、図1に示すように、アンテナ2、分波器3、低雑音増幅器4、および電力増幅モジュール(高周波電力増幅モジュール)5などから構成されている。
【0020】
アンテナ2は、通信電波の授受を行う。このアンテナ2には分波器3が接続されており、該分波器3には、低雑音増幅器4、ならびに電力増幅モジュール5がそれぞれ接続されている。
【0021】
分波器3は、アンテナ2から送受信される送信側信号と受信側信号とを分波するフィルタである。低雑音増幅器4は受信信号の増幅を行い、電力増幅モジュール5は送信信号の増幅を行う。
【0022】
アンテナ2で受信された受信信号は、分波器3を介して低雑音増幅器4によって増幅され、その後、後段の周波数変換回路などに出力される。また、変調された送信信号は、電力増幅モジュール5によって基地局まで到達可能な電力まで増幅された後、分波器3を通りアンテナ2から送信される。
【0023】
さらに、電力増幅モジュール5の構成について説明する。
【0024】
電力増幅モジュール5は、図2に示すように、高周波増幅部6、およびバイアスコントロール回路7から構成されている。高周波増幅部6は、初段増幅器8と後段増幅器9とが直列接続された構成からなる。
【0025】
初段増幅器8の入力部は高周波増幅部6の信号入力部となり、後段増幅器9の出力部は高周波増幅部6の信号出力部となる。初段増幅器8は分波器3を介して入力された入力信号を増幅し、後段増幅器9は、該初段増幅器8から出力された信号を増幅する。
【0026】
バイアスコントロール回路7は、高周波増幅部6が温度などによって電力増幅率や出力電力などが変化した際のバイアス補正制御を行う。
【0027】
さらに、電力増幅モジュール5の回路構成について、図3を用いて説明する。
【0028】
高周波増幅部6は、初段増幅器8、後段増幅器9、基準電圧発生回路(基準電圧生成部)10,11、コンデンサ12〜14、チョークコイル15,16、ならびにローパスフィルタ17,18から構成されている。
【0029】
初段増幅器8は、トランジスタ(第2のトランジスタ)HBTa、および抵抗Ra1,Ra2から構成されており、後段増幅器9は、トランジスタHBTb、ならびに抵抗Rb1,Rb2から構成されている。トランジスタHBTa,HBTbは、ヘテロ接合バイポーラトランジスタによって構成されている。
【0030】
ここで、図3において、初段増幅器8は、1つのトランジスタHBTaからなる構成としたが、複数個のトランジスタHBTaが並列接続された、いわゆるマルチフィンガトランジスタから構成するようにしてもよい。
【0031】
後段増幅器9も同様に、図3では、1つのトランジスタHBTbよりなる構成としたが、複数個のトランジスタHBTbが並列接続された構成からなるマルチフィンガトランジスタであってもよい。
【0032】
また、抵抗Ra1,Rb1はバラスト抵抗であり、抵抗Ra2,Rb2は電圧降下発生用抵抗である。これら抵抗Ra2,Rb2は、温度上昇などによってトランジスタHBTa,HBTbに流れる電流が増大した際に電圧降下を起こさせることにより、該トランジスタHBTa,HBTbの熱暴走を抑制する。チョークコイル15,16は高周波信号の漏れを抑止する。
【0033】
トランジスタHBTaのベースには、抵抗Ra1の一方の接続部が接続されており、該抵抗Ra1の他方の接続部には、抵抗Ra2の一方の接続部、およびコンデンサ12の一方の接続部がそれぞれ接続されている。
【0034】
コンデンサ12の他方の接続部には、入力信号RFinが入力されるように接続されている。トランジスタHBTaのコレクタには、チョークコイル15の他方の接続部、およびコンデンサ13の一方の接続部がそれぞれ接続されている。
チョークコイル15の一方の接続部には、電源電圧VCCが接続されている。
【0035】
コンデンサ13の他方の接続部には、抵抗Rb1,Rb2の一方の接続部がそれぞれ接続されており、該抵抗Rb1の他方の接続部には、トランジスタHBTbのベースが接続されている。
【0036】
トランジスタHBTbのコレクタには、コンデンサ14の一方の接続部、およびチョークコイル16の他方の接続部がそれぞれ接続されている。チョークコイル16の一方の接続部には、電源電圧VCCが接続されており、コンデンサ14を介して出力信号RFoutが出力されるように接続されている。
【0037】
トランジスタHBTa,HBTbのエミッタには、基準電位VSS(グランド電位)がそれぞれ接続されている。
【0038】
また、基準電圧発生回路10,11は、トランジスタTr1,Tr2、ならびに抵抗R1,R2からそれぞれ構成されている。トランジスタTr1,Tr2も同様に、ヘテロ接合バイポーラトランジスタからなり、ダイオード接続されている。
【0039】
トランジスタTr1,Tr2のベースには、抵抗R1,R2の一方の接続部が接続されている。このトランジスタTr1,Tr2のエミッタには基準電位VSSが接続されており、該トランジスタTr1,Tr2のコレクタには抵抗R1,R2の他方の接続部が接続されている。
【0040】
バイアスコントロール回路7は、電流変換部7a,7b、および増幅部7c,7dから構成される。電流変換部(第1のバイアス制御回路)7aは、バッファアンプ(オペアンプ)BA1、抵抗RR1〜RR3、トランジスタT1,T2からなる。
【0041】
電流変換部(第2のバイアス制御回路)7bは、バッファアンプ(オペアンプ)BA3、抵抗RR4〜RR6、トランジスタT3,T4からなる。トランジスタT1〜T4はMOSトランジスタからなる。
【0042】
また、増幅部(第1のバイアス制御回路)7cはバッファアンプ(オペアンプ)BA2からなり、増幅部7d(第2のバイアス制御回路)はバッファアンプ(オペアンプ)BA4から構成されている。
【0043】
抵抗RR1,RR4の一方の接続部には、制御回路などから出力されるバイアス電圧Vcontが入力されるように接続されている。抵抗RR1の他方の接続部には、抵抗RR2の一方の接続部、およびバッファアンプBA1の正(+)側入力端子がそれぞれ接続されている。
【0044】
バッファアンプBA1の出力端子には、トランジスタT1,T2のゲートがそれぞれ接続されている。トランジスタT1,T2の一方の接続部には、電源電圧VCCが接続されている。
【0045】
トランジスタT1の他方の接続部には、抵抗RR3の一方の接続部、ならびにバッファアンプBA1の負(−)側端子がそれぞれ接続されている。抵抗RR2,RR3の他方の接続部には、基準電位VSSがそれぞれ接続されている。
【0046】
トランジスタT2の他方の接続部には、バッファアンプBA2の正側入力端子、および出力端子がそれぞれ接続されている。また、トランジスタT2の他方の接続部には、基準電圧発生回路10におけるトランジスタTr1のコレクタが接続されている。
【0047】
バッファアンプBA2の出力端子には、該バッファアンプBA2の負側入力端子が接続されており、このバッファアンプBA2の出力端子からバイアス制御信号BCが出力される。
【0048】
また、バッファアンプBA3,BA4、抵抗RR4〜RR6、トランジスタT3,T4においても、前述したバッファアンプBA1,BA2、抵抗RR1〜RR3、トランジスタT1,T2の接続構成と同様であるので説明は省略する。
【0049】
ローパスフィルタ17,18は、インダクタンスLp1、コンデンサ(静電容量素子)Cp1、およびインダクタンスLp2、コンデンサ(静電容量素子)Cp2からそれぞれ構成されている。
【0050】
コンデンサCp1,Cp2は、変調された高周波信号のエンベロープ周波数でインピーダンスが0Ωに近づき、該エンベロープ周波数を減衰させる。インダクタンスンスLp1,Lp2は、変調信号の搬送周波数でのインピーダンスの変化を抑える。
【0051】
インダクタンスLp1の一方の接続部には、コンデンサCp1の一方の接続部、およびバッファアンプBA2の出力端子が接続されており、インダクタンスLp1の他方の接続部には、後段増幅器9における抵抗Rb2の他方の接続部が接続されている。
【0052】
さらに、インダクタンスLp2の一方の接続部には、コンデンサCp2の一方の接続部、およびバッファアンプBA4の出力端子が接続されており、インダクタンスLp2の他方の接続部には、初段増幅器8における抵抗Ra2の他方の接続部が接続されている。
【0053】
よって、バッファアンプBA2,BA4の出力端子から出力されるバイアス制御信号BCは、ローパスフィルタ17,18を介してそれぞれ後段増幅器9、初段増幅器8に出力される。
【0054】
次に、本実施の形態によるバイアスコントロール回路7の作用について説明する。
【0055】
なお、ここでは、バッファアンプBA1,BA2、抵抗RR1〜RR3、トランジスタT1,T2の動作について説明するが、バッファアンプBA3,BA4、抵抗RR4〜RR6、トランジスタT3,T4においても同様の動作を行うものである。
【0056】
まず、バイアスコントロール回路7にバイアス電圧Vcontが入力されると、抵抗RR1,RR2で分圧された電圧がバッファアンプBA1の正側入力端子に入力される。
【0057】
バッファアンプBA1はボルテージフォロワ構成となっているので、バッファアンプBA1の正側入力端子に入力された電圧が増幅されて該バッファアンプBA1の出力端子から出力される。
【0058】
バッファアンプBA1から出力された電圧は、トランジスタT1によって電流変換される。トランジスタT2は、トランジスタT1に流れる電流を基準電流とし、その基準電流と同じ電流値を流す。
【0059】
ここで、トランジスタT2はMOSトランジスタであるので、該トランジスタT2における一方、および他方の接続部の間(ドレイン/ソース間)での電圧降下がほとんどなく、バイアス電圧Vcontの電圧値を低下させことができる。
よって、バイアス電圧Vcontの低電圧化が可能となる。
【0060】
そして、トランジスタT2から供給された電流は、基準電圧発生回路10によってある基準電圧が生成され、この基準電圧をバッファアンプBA2が増幅し、バイアス制御信号BCとして出力する。
【0061】
バイアス制御信号BCは、ローパスフィルタ17を介して高周波増幅部6に出力される。ローパスフィルタ17では、バイアス用DC成分は通過し、エンベロープ周波数はローインピーダンス、搬送周波数はハイインピーダンスとしている。これにより隣接チャネル漏洩電力を改善することができる。
【0062】
また、ローパスフィルタ17のインダクタンスLp1の形成技術について、図4を用いて説明する。ここでは、インダクタンスLp1について説明するが、インダクタンスLp2においても同様に形成されている。
【0063】
インダクタンスLp1は、電力増幅モジュール5における高周波増幅部6とバイアスコントロール回路7とにそれぞれボンディング電極BP1,BP2を設けるとともに、それらボンディング電極BP1,BP2の間にも任意の位置に複数のボンディング電極BP3を設け、それらボンディング電極BP1〜BP3をボンディングワイヤWによって接続することにより形成する。これにより、フレキシブルにインダクタンス成分を構成することができる。
【0064】
それにより、実施の形態によれば、バイアスコントロール回路7のバイアス電圧Vcontを低電圧化することができるので、電力増幅モジュール5の小型化、低コスト化、ならびに低消費電力化などを実現することができる。
【0065】
また、ローパスフィルタ17,18により、隣接チャネル漏洩電力の劣化を低減することができる。
【0066】
さらに、本実施の形態では、高周波増幅部6とバイアスコントロール回路7との間にローパスフィルタ17,18を設けた構成としたが、たとえば、図5に示すように、バイアスコントロール回路7におけるバッファアンプBA2,BA4にローパスフィルタ19,20を設けるようにしてもよい。
【0067】
この場合、ローパスフィルタ19は、抵抗Rp1,Rp2、およびコンデンサ(静電容量素子)Cp3,Cp4から構成されている。ローパスフィルタ20においても、同様に、抵抗Rp3,Rp4、ならびにコンデンサCp5,Cp6から構成されている。
【0068】
ローパスフィルタ19において、抵抗Rp2の一方の接続部には、トランジスタT2の他方の接続部が接続されており、該抵抗Rp2の他方の接続部には、抵抗Rp1の一方の接続部、およびコンデンサCp3の一方の接続部がそれぞれ接続されている。
【0069】
コンデンサCp3の他方の接続部には、バッファアンプBA2の出力端子が接続されており、抵抗Rp1の他方の接続部には、コンデンサCp4の一方の接続部、ならびにバッファアンプBA2の正側入力端子が接続されている。コンデンサCp4の他方の接続部には、基準電位VSSが接続されている。
【0070】
ローパスフィルタ20における接続構成は、ローパスフィルタ19と同一であるので説明は省略する。また、高周波増幅部6、およびバイアスコントロール回路7におけるその他の回路接続構成についても、図3と同じであるので説明は省略する。
【0071】
このローパスフィルタ19,20が設けられたバッファアンプBA2,BA4では、エンベロープ周波数(5MHz程度以下)の帯域を減衰させる構成を持たせることで、バイアスコントロール回路7を介して漏れこむ雑音信号を低減させ、受信帯域雑音を低減することができる。また、上記した、隣接チャネル漏洩電力の低減にも効果がある。
【0072】
以上、本発明者によってなされた発明を発明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0073】
たとえば、前記実施の形態においては、高周波増幅部の初段増幅器、および後段増幅器が、ローパスフィルタを介してバイアスコントロール信号を入力する構成としたが、このローパスフィルタは、後段増幅のみにローパスフィルタを介してバイアスコントロール信号を入力する構成としても、良好に隣接チャネル漏洩電力の劣化を低減することができる。
【0074】
【発明の効果】
本願によって開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、以下のとおりである。
【0075】
(1)バイアスコントロール制御回路のバイアス電圧を低電圧化することができるので、高周波電力増幅モジュールの小型化、低コスト化、ならびに低消費電力化などを実現することができる。
【0076】
(2)また、ローパスフィルタにより、隣接チャネル漏洩電力の劣化を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態による移動体通信機器の概略を示すブロック図である。
【図2】図1の移動体通信機器に設けられた電力増幅モジュールのブロック図である。
【図3】図2の電力増幅モジュールにおける回路図である。
【図4】図3の電力増幅モジュールに設けられたローパスフィルタを構成するインダクタンスの説明図である。
【図5】本発明の他の実施の形態による移動体通信機器に設けられた電力増幅モジュールの回路図である。
【符号の説明】
1 移動体通信機器
2 アンテナ
3 分波器
4 低雑音増幅器
5 電力増幅モジュール(高周波電力増幅モジュール)
6 高周波増幅部
7 バイアスコントロール回路
7a 電流変換部(第1のバイアス制御回路)
7b 電流変換部(第2のバイアス制御回路)
7c 増幅部(第1のバイアス制御回路)
7d 増幅部(第2のバイアス制御回路)
8 初段増幅器
9 後段増幅器
10,11 基準電圧発生回路(基準電圧生成部)
12〜14 コンデンサ
15,16 チョークコイル
17,18 ローパスフィルタ
19,20 ローパスフィルタ
HBTa トランジスタ(第2のトランジスタ)
HBTb トランジスタ
Tr1,Tr2 トランジスタ
T1〜T4 トランジスタ
Ra1,Ra2 抵抗
Rb1,Rb2 抵抗
R1,R2 抵抗
RR1〜RR3 抵抗
RR4〜RR6 抵抗
Rp1,Rp2 抵抗
BA1〜BA4 バッファアンプ(オペアンプ)
Lp1,Lp2 インダクタンス
Cp1,Cp2 コンデンサ(静電容量素子)
Cp3,Cp4 コンデンサ(静電容量素子)
BP1〜BP3 ボンディング電極
W ボンディングワイヤ

Claims (10)

  1. ベース端子に入力されるバイアス制御信号に基づいて電流増幅を行うトランジスタと、
    前記バイアス制御信号を生成する第1のバイアス制御回路と、
    前記第1のバイアス制御回路の出力部と前記トランジスタのベース端子との間に接続されたローパスフィルタと、
    変換電流から基準電圧を生成する基準電圧生成部とを備え、
    前記第1のバイアス制御回路は、
    バイアス電圧を電流に変換し変換電流を生成する電流変換部と、
    前記基準電圧生成部が生成した基準電圧をバッファリングし、バイアス制御信号とするバッファとを含み、
    前記電流変換部は、
    ボルテージフォロワ構成のオペアンプと、
    前記オペアンプの出力部にゲートが接続され、電源電圧と基準電位との間に直列接続され、第1の電流を生成する第1のMOSトランジスタと、
    前記オペアンプの出力部にゲートが接続され、電源電圧と前記基準電圧生成部との間に直列接続され、前記第1の電流と同じ程度の第2の電流を生成する第2のMOSトランジスタとを含むことを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  2. 請求項1記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、
    前記トランジスタの前段に接続され、ベース端子に入力されるバイアス制御信号に基づいて電流増幅を行う第2のトランジスタと、
    前記第2のトランジスタに供給されるバイアス制御信号を生成する第2のバイアス制御回路と、
    変換電流から基準電圧を生成する基準電圧生成部とを備え、
    前記第2のバイアス制御回路は、
    バイアス電圧を電流に変換し、変換電流を生成する電流変換部と、
    前記基準電圧生成部が生成した基準電圧をバッファリングするバッファとを含むことを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  3. 請求項1または2記載の高周波電力増幅モジュールにおいて
    記バッファはボルテージフォロワ結合されたオペアンプを含むことを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  4. 請求項1〜3のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、
    前記ローパスフィルタが、
    前記第1のバイアス制御回路の出力部と前記トランジスタのベース端子との間に直列接続されたインダクタンスと、
    前記インダクタンスと基準電位との間に接続された静電容量素子とを含み、
    前記インダクタンスが、ボンディングワイヤにより形成されていることを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  5. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、
    前記第1、および第2のバイアス制御回路の入力部が共通接続され、前記バイアス電圧が共通して入力されることを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  6. 請求項1〜5のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、前記バッファにおけるオペアンプの入力側端子にローパスフィルタを設けたことを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  7. 請求項1〜6のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、前記トランジスタは、互いに並列接続された複数のトランジスタを含むことを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  8. 請求項2〜7のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、前記第2のトランジスタは、互いに並列接続された複数の第2のトランジスタを含むことを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  9. 請求項1〜8のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、前記トランジスタは、GaAs HBTであることを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
  10. 請求項2〜9のいずれか1項に記載の高周波電力増幅モジュールにおいて、前記第2のトランジスタは、GaAs HBTであることを特徴とする高周波電力増幅モジュール。
JP2002125303A 2002-04-26 2002-04-26 高周波電力増幅モジュール Expired - Lifetime JP3942479B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002125303A JP3942479B2 (ja) 2002-04-26 2002-04-26 高周波電力増幅モジュール
US10/368,475 US6972627B2 (en) 2002-04-26 2003-02-20 High frequency power amplifier module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002125303A JP3942479B2 (ja) 2002-04-26 2002-04-26 高周波電力増幅モジュール

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003318751A JP2003318751A (ja) 2003-11-07
JP3942479B2 true JP3942479B2 (ja) 2007-07-11

Family

ID=29243768

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002125303A Expired - Lifetime JP3942479B2 (ja) 2002-04-26 2002-04-26 高周波電力増幅モジュール

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6972627B2 (ja)
JP (1) JP3942479B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6961553B2 (en) * 2003-04-11 2005-11-01 Motorola, Inc. Bidirectional distributed amplifier
JP2005143079A (ja) * 2003-10-14 2005-06-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波電力増幅器
US7180367B2 (en) 2005-01-07 2007-02-20 U.S. Monolithics, L.L.C. Systems, methods and devices for differential active bias of multi-stage amplifiers
US11036262B1 (en) 2008-01-14 2021-06-15 Micro Mobio Corporation Radio frequency power amplifier with adjacent channel leakage correction circuit
US9088258B2 (en) * 2008-01-14 2015-07-21 Micro Mobio Corporation RF power amplifier with linearity control
CN102097539B (zh) * 2011-01-20 2012-09-19 南昌航空大学 连续调制半导体异质结光生电压的装置及方法
US10938360B1 (en) 2011-10-26 2021-03-02 Micro Mobio Corporation Multimode multiband wireless device with broadband power amplifier
RU2522042C1 (ru) * 2013-04-26 2014-07-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный университет экономики и сервиса" (ФГБОУ ВПО "ЮРГУЭС") Быстродействующий драйвер емкостной нагрузки
JP5900756B2 (ja) * 2014-02-28 2016-04-06 株式会社村田製作所 電力増幅モジュール
EP3698472A1 (en) * 2017-10-17 2020-08-26 ams International AG Input current-tolerant amplifier input stage for mems sensors and other devices
US10608595B1 (en) 2018-09-24 2020-03-31 Nxp Usa, Inc. Systems and methods for automatically biasing power amplifiers
US11515617B1 (en) 2019-04-03 2022-11-29 Micro Mobio Corporation Radio frequency active antenna system in a package
US10972054B2 (en) 2019-05-10 2021-04-06 Nxp Usa, Inc. Systems and methods for automatically biasing power amplifiers using a controllable current source

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2592204Y2 (ja) * 1992-10-09 1999-03-17 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 パワーアンプ用温度補償回路
CN1352826A (zh) * 1999-04-16 2002-06-05 高通股份有限公司 有选择地控制放大器性能的系统和方法
JP2001094361A (ja) * 1999-09-17 2001-04-06 New Japan Radio Co Ltd 高周波増幅回路
JP2001127701A (ja) * 1999-10-28 2001-05-11 Hitachi Ltd 電力増幅器モジュール
JP3851073B2 (ja) * 1999-10-29 2006-11-29 株式会社ルネサステクノロジ 無線通信装置及び半導体装置
JP3474825B2 (ja) * 2000-03-13 2003-12-08 富士通カンタムデバイス株式会社 高周波電力増幅器および通信装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2003318751A (ja) 2003-11-07
US6972627B2 (en) 2005-12-06
US20030201827A1 (en) 2003-10-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101043202B (zh) 高频功率放大器
KR101126993B1 (ko) 파워 증폭기에서의 동적 바이어스 제어
US7728662B2 (en) Saturated power amplifier with selectable and variable output power levels
JP4014072B2 (ja) 電力増幅器モジュール
US10355653B2 (en) Power amplifier circuit
US8564366B2 (en) High-frequency power amplifier device
JP4330549B2 (ja) 高周波電力増幅装置
JP3942479B2 (ja) 高周波電力増幅モジュール
US7944306B2 (en) Dual bias control circuit
JP2006333060A (ja) 高周波電力増幅及びそれを用いた無線通信装置
JP3664990B2 (ja) 高周波回路及び通信システム
Hassan et al. High efficiency envelope tracking power amplifier with very low quiescent power for 20 MHz LTE
JP2006319737A (ja) 半導体集積回路装置
JP3631060B2 (ja) 線形増幅器及びこれを用いた無線通信装置
US6897732B2 (en) Amplifier
JP2007019585A (ja) 高周波電力増幅器および無線通信装置
JP2006157435A (ja) 歪補償回路、それを用いた電力増幅器および電力増幅器を備える通信装置
JP2004521545A (ja) 直結バイアス回路を有する高周波増幅回路
WO2008004034A1 (en) Integrated amplifier bias circuit
CN116232246A (zh) 射频功率放大器
JP2006093773A (ja) 高周波電力増幅モジュール
JP2007174553A (ja) 高周波電力増幅用電子部品および無線通信装置
KR100591062B1 (ko) 역방향 다이오드를 이용한 전치 왜곡형 선형 전력 증폭기
Shinjo et al. A 20 mA quiescent current CV/CC parallel operation HBT power amplifier for W-CDMA terminals
Park et al. Demonstration of on-chip appended power amplifier for improved efficiency at low power region

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061129

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061205

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070202

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070306

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070403

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3942479

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100413

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110413

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110413

Year of fee payment: 4

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110413

Year of fee payment: 4

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120413

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120413

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130413

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140413

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

EXPY Cancellation because of completion of term