JP3915978B2 - レーザドップラ振動計 - Google Patents

レーザドップラ振動計 Download PDF

Info

Publication number
JP3915978B2
JP3915978B2 JP2002305988A JP2002305988A JP3915978B2 JP 3915978 B2 JP3915978 B2 JP 3915978B2 JP 2002305988 A JP2002305988 A JP 2002305988A JP 2002305988 A JP2002305988 A JP 2002305988A JP 3915978 B2 JP3915978 B2 JP 3915978B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measurement
mirror
measurement object
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2002305988A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004138590A (ja
Inventor
秀和 水島
賢一郎 室崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Graphtec Corp
Original Assignee
Graphtec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Graphtec Corp filed Critical Graphtec Corp
Priority to JP2002305988A priority Critical patent/JP3915978B2/ja
Publication of JP2004138590A publication Critical patent/JP2004138590A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3915978B2 publication Critical patent/JP3915978B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザ光を測定対象に照射し、その反射レーザ光からドップラ効果により付加される振動成分を取り出すことにより、測定対象の振動状態を測定するレーザドップラ振動計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
測定対象物にレーザビームを照射して非接触で振動測定を行うこの種の装置は、干渉計のレンズ−ミラー系がモータまたは圧電素子或いはその両方で動かされて、複数の測定点において振動測定を行うことができるよう構成されている。図3は、この種の振動計の構成を示す図であり、図において1は振動センサ、2は一対のガルバノメータミラーよりなる光学系、3は凸レンズ、4は測定対象物、5はCCDカメラユニットである。
【0003】
【特許文献1】
特開平11−281471号公報
【0004】
図3において、振動センサ1は、図示しない光源から発生されたレーザ光を基準光と測定光に分割し、この測定光を測定対象物に照射してその反射光を基準光と重ねて干渉させることにより、測定対象物の振動に応じた周波数シフト量を検出し、これにより振動状態を測定するよう構成されている。光学系2は、可動型反射ミラーである一対のガルバノメータミラー21,22よりなり、このガルバノメータミラーはそれぞれミラーを保持しているガルバノメータ(またはガルバノモータ)に所定の電圧(制御信号)を印加してその回転角度を変位させ、レーザ光の反射角度を調整するよう構成されている。また、Xガルバノメータミラー21は、制御信号に応じてレーザ光のX方向の反射角度を調整し、このXガルバノメータミラー21のモータに対して90度の角度をもって配置されるYガルバノメータミラー22は、制御信号に応じてレーザ光のY方向の反射角度を調整する。したがって、X,Yガルバノメータミラー21,22を制御することにより、振動センサ1から出力される測定光の照射位置をX,Y軸方向に任意にコントロールすることが出来るよう構成されている。
【0005】
Xガルバノメータミラー21,Yガルバノメータミラー22が、各々反射角度が90度、即ち図においてはそれぞれ振動センサ1からの出力光に対して45度をなす角度に位置づけられる状態を中立の位置(基準位置)とし、ミラーM2はこの状態でYガルバノメータミラー22からのレーザ光を測定対象物4に対して垂直に照射するように位置づけられている。また、この中立状態において、測定対象物4から反射するレーザ光は、入射したレーザ光と同じ経路で振動センサ1に測定光として入力される。
【0006】
レンズ3は、光学系2の素子がそれぞれ中立位置にある状態で測定対象物に照射され、反射するレーザ光が、その中心に入射するよう位置づけられるとともに、この状態におけるXガルバノメータミラー21のレーザ光反射点が焦点となるように位置づけられている。これにより、光学系2が中立位置にある状態での測定光の経路が、レンズ3の光軸となる。これにより、ミラーM2からレンズ3に照射されるレーザ光は、レンズ3を通過するとこの光軸に平行となり、測定対象物4に対して垂直に照射される。すなわち、Xガルバノメータミラー21およびYガルバノメータミラー22の姿勢を変化させて反射角度を変更しても、測定光は測定対象物4に垂直に照射され、その反射光は入射光と同じ経路で振動センサ1に入力されるよう構成されている。これにより、安定した測定が行えるよう構成されている。
【0007】
また、この装置においては、測定対象物4にレーザ光が照射されている状態を視認するためのCCDユニット5が設けられており、このCCDユニット5は、ハーフミラーであるミラーM2を透過したレーザ光が照射されるように、測定対象物4の法線上、即ちレンズ3の光軸上に設けられている。CCDカメラ50には測定対象物4に照射されているレーザ光のビームスポットが映し出されるが、輝度が極めて高いこのビームスポットによるハレーションの発生を防ぐため、ハーフミラー51から照射される光は、振動センサ1で使用されるレーザの波長のみを減光する減光フィルタ52を介してCCDカメラ50に入力されるよう構成されている。
【0008】
この装置において測定対象物4の振動状態を測定する場合、操作者は振動センサ1からのレーザスポットの照射位置をCCDカメラ50からの映像により確認しながらXガルバノメータミラー21およびYガルバノメータミラー22を調整し、これにより測定対象物4上の任意の位置にレーザ光を照射して、その振動状態を測定するよう構成されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
この従来の装置においては、CCDカメラユニット5が測定対象物4の法線上に設置されており、これにより測定対象物4の全体像を捉えることができるが、例えば振動センサ1からのレーザ照射ポイントをクローズアップするような場合においては、特定の構図でしか行うことができなかった。このため、光学系2の各ガルバノメータミラー21,22を操作してレーザビームの照射位置を変更した場合に、その測定光の画像がCCDカメラユニットの画像から外れてしまうといった不具合が生じていた。この変更される測定光の照射位置を高倍率で確認するためには、CCDカメラユニット5の撮影角度を光学系2に追従するよう変更すればよいが、CCDカメラユニット5の姿勢を変更する機構が必要となるとともに、高速に操作されるビームスポットに追従させるための複雑な制御が必要となり、装置自体の製作コストが上昇するという問題が生じていた。
【0010】
本発明はこれらの不具合を解決するためになされたもので、振動センサの測定光が測定対象物に照射されるそのビームスポットを、走査に追従するとともに高倍率で確認することができるレーザドップラ振動計を提供することを目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明のレーザドップラ振動計においては、光源から発生されたレーザ光を基準光と測定光に分割し、この測定光を測定対象物に照射してその反射光を基準光と重ねて干渉させることにより、測定対象物の振動に応じた周波数シフト量を検出し、これにより振動状態を測定する振動センサと、この振動センサから出射される測定光を、制御信号に基づいてX軸方向についての反射角度が調整される第1の可動型反射ミラーと、この第1の可動型反射ミラーより反射された振動センサからの測定光を、制御信号に基づいて上記X軸方向に直交するY軸方向についての反射角度が調整される第2の可動型反射ミラーとからなる光学系と、この第1の可動型反射ミラー及び第2の可動型反射ミラーよりなる光学系と振動センサ間における測定光の光路上に設けられる半透過手段と、この半透過手段より反射される測定光ならびに測定対象物表面からの反射光を受光して、測定対象物の表面状態を撮像する撮像手段とを設けて構成した。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づいて本発明のレーザドップラ振動計を詳細に説明する。
図1は本発明のレーザドップラ振動計の構成を示す図で、上述の従来のレーザドップラ振動計と同等な構成については同一符号を以て示されている。
本発明のレーザドップラ振動計も、従来のレーザドップラ振動計と同様に、図示しない光源から発生されたレーザ光を基準光と測定光に分割し、この測定光を測定対象物4に照射してその反射光を基準光と重ねて干渉させることにより、測定対象物4の振動に応じた周波数シフト量を検出し、これにより振動状態を測定するよう構成された振動センサ1と、それぞれミラーを保持しているガルバノメータに所定の制御信号を印加してその回転角度を変位させ、レーザ光の反射角度を調整するよう構成された可動型反射ミラーである一対のX,Yガルバノメータミラー21,22よりなる光学系2を有しており、Xガルバノメータミラー21は、制御信号に応じてレーザ光のX方向の反射角度を調整し、このXガルバノメータミラー21のモータに対して90度の角度をもって配置されるYガルバノメータミラー22は、制御信号に応じてレーザ光のY方向の反射角度を調整するよう構成されており、X,Yガルバノメータミラー21,22を制御することにより、振動センサ1から出力される測定光の照射位置をX,Y軸方向に任意にコントロールすることが出来るよう構成されている。
【0013】
本発明のレーザドップラ振動計においては、振動センサ1および光学系2間の光路上、即ち、ミラーM1とXガルバノメータミラー21のレーザ光経路上に半透過手段であるハーフミラー51が設けられ、CCDカメラユニット5には、このハーフミラー51から反射される測定光ならびに測定対象物4の表面の反射光が入射されるよう構成されている。即ち、振動センサ1から出力されたレーザ光は、ミラーM1を介してハーフミラー51を透過し、Xガルバノメータミラー21に照射され、Yガルバノメータミラー22,ミラーM2,レンズ3をそれぞれ介して測定対象物4に照射される。更に1の測定光は測定対象物4の表面で反射し、元の光路と同じ経路でレンズ3,ミラーM2,Yガルバノメータミラー22,Xガルバノメータミラー21のそれぞれに反射,照射され、ハーフミラー51により分光される。ハーフミラー51により分光され、これを透過した測定光は、ミラーM1を介して振動センサ1に戻り、振動状態の測定に供される。他方、ハーフミラー51で反射したもう一方の測定光は、ミラーM3を介してCCDカメラユニット5に入射される。
また、CCDカメラユニット5においては、測定対象物4の表面状態を撮像することができる。
図2は、CCDカメラユニット5による測定対象物4の表面状態の撮像を示す説明図である。
【0014】
操作者は先ず、撮像する測定対象物4の表面の大きさを、視認するモニタの画面上で所望の大きさとなるよう、その横方向のサイズ(これをL1とする)を決定し、これに合わせてCCDカメラ50に接続される顕微鏡リレーレンズ54ならびに顕微鏡対物レンズ55の倍率を設定する。
次に、レンズ3から測定対象物4間での距離をS1,レンズ3の焦点距離をf1とすると、図に示す虚像1のレンズ3からの距離S1’はガウスの定理より次式で表すことができる。
1/f1 = 1/S1 + 1/S1’
これを整理すると、距離S1’は
S1’ = (f1 × S1) / (S1 − f1)
となる。
ここで、f1>S1の時、虚像1は測定対象物4と同じ天地を有し、図に示されるように測定対象物4の方向に映し出される。この時、上記設定した撮像サイズL1とこれに対応する虚像1のサイズL1’は、次式で表される。
m1 = S1’/S1 = L1’/L1
(ここでm1は横倍率)
これを整理すると、
L1’ = m1 × L1
次に、リレーレンズ53を虚像1から距離S2の位置に配置し、リレーレンズ53の焦点距離をf2、虚像2とリレーレンズ53の距離をS2’とすると、S2’はガウスの定理より次式で表すことができる。
1/f2 = 1/S2 + 1/S2’ ・・・(1)
これを整理すると、距離S2’は
S2’ = (f2 × S2) / (S2 − f2)
となる。
ここで、虚像2の大きさをL2’とすると、横倍率m2は次式で表される。
m2 = S2’/S2 = L2’/L2
これを整理すると、
L2’ = m2 × L2
となり、撮像サイズL2は上記虚像1のサイズL1’となるので、
L2’ = m2 × L1’
これをL1’=m1×L1に代入すると、
L2’ = m2 × m1 × L1
となり、顕微鏡対物レンズ55により撮像する像をL1=L2’とすると、
m1 = 1 / m2
となる。したがって、虚像2を物体と同じ大きさに結像するには、m1に対して逆数を持つ横倍率m2で結像すればよいので、
S1’/S1 = S2 / S2’
整理して、
S2’ = (S1 × S2) / S1’
ここで、リレーレンズ53からの焦点距離f2は、上式(1)を整理して、
f2 = (S2 × S2’) /(S1 + S1’)
となる。
したがって、リレーレンズ53の焦点距離f2が定められている場合のS2は、次式で求められる。
S2 = f1 × (S1 + S1’) / S1
以上のように、レンズ3,測定対象物4およびリレーレンズ53の配置を決定することができる。
【0015】
本願発明によれば、走査型のレーザドップラ振動計において、その測定光の光軸をレンズ中心の光軸に対してそれぞれ平行にするために配置されたレンズで虚像を結像する。さらにこれをリレーレンズによって結像し、その虚像2をCCDカメラにより撮像することにより、顕微鏡型の光学系の作動距離を長くとることが可能となる。さらに、レーザビームのスポットの動きに同期してCCDカメラの視野を移動させることができ、常にモニタ上の所定位置に留めることができる。
【0016】
【発明の効果】
以上詳述したとおり、本発明のレーザドップラ振動計においては、光源から発生されたレーザ光を基準光と測定光に分割し、この測定光を測定対象物に照射してその反射光を基準光と重ねて干渉させることにより、測定対象物の振動に応じた周波数シフト量を検出し、これにより振動状態を測定する振動センサと、この振動センサから出射される測定光を、制御信号に基づいてX軸方向についての反射角度が調整される第1の可動型反射ミラーと、この第1の可動型反射ミラーより反射された振動センサからの測定光を、制御信号に基づいて上記X軸方向に直交するY軸方向についての反射角度が調整される第2の可動型反射ミラーとからなる光学系と、振動センサおよび光学系間の光路上に設けられた半透過手段と、この半透過手段より反射される測定光ならびに測定対象物表面からの反射光を受光して、測定対象物の表面状態を撮像する撮像手段とを設けて構成したので、振動センサの測定光が測定対象物に照射されるそのビームスポットを、走査に追従するとともに高倍率で確認することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレーザドップラ振動計の構成を示す図である。
【図2】本発明のレーザドップラ振動計の構成を示す図である。
【図3】従来のレーザドップラ振動計の構成を示す図である。
【符号の説明】
1 振動センサ
2 光学系
3 凸レンズ
4 測定対象物
5 CCDカメラユニット

Claims (1)

  1. 光源から発生されたレーザ光を基準光と測定光に分割し、この測定光を測定対象物に照射してその反射光を基準光と重ねて干渉させることにより、測定対象物の振動に応じた周波数シフト量を検出し、これにより振動状態を測定する振動センサと、
    上記振動センサから出射される測定光を制御信号に基づいてX軸方向についての反射角度が調整される第1の可動型反射ミラーと、この第1の可動型反射ミラーより反射された振動センサからの測定光を制御信号に基づいて上記X軸方向に直交するY軸方向についての反射角度が調整される第2の可動型反射ミラーと、からなる光学系と、
    上記第1の可動型反射ミラー及び第2の可動型反射ミラーよりなる光学系と上記振動センサ間における測定光の光路上に設けられる半透過手段と、この半透過手段より反射される測定光ならびに測定対象物表面からの反射光を受光して、測定対象物の表面状態を撮像する撮像手段と、
    を有することを特徴とするレーザドップラ振動計。
JP2002305988A 2002-10-21 2002-10-21 レーザドップラ振動計 Expired - Fee Related JP3915978B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002305988A JP3915978B2 (ja) 2002-10-21 2002-10-21 レーザドップラ振動計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002305988A JP3915978B2 (ja) 2002-10-21 2002-10-21 レーザドップラ振動計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2004138590A JP2004138590A (ja) 2004-05-13
JP3915978B2 true JP3915978B2 (ja) 2007-05-16

Family

ID=32452920

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002305988A Expired - Fee Related JP3915978B2 (ja) 2002-10-21 2002-10-21 レーザドップラ振動計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3915978B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1327200C (zh) * 2004-06-15 2007-07-18 北京航空航天大学 数字激光图像测振仪
JP4842875B2 (ja) * 2007-03-30 2011-12-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ 電子顕微鏡
CN109632072B (zh) * 2018-11-23 2021-02-02 温州市特种设备检测研究院 一种基于单点式激光测振仪的二维扫描实验装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05187972A (ja) * 1992-01-16 1993-07-27 Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd 動翼の振動モード判定方法及び動翼の振動モード判定装置
JP3444310B2 (ja) * 1993-10-20 2003-09-08 東京電力株式会社 光学式振動検出装置
JP2943040B2 (ja) * 1993-11-04 1999-08-30 セイコーインスツルメンツ株式会社 振動測定装置
JPH0949757A (ja) * 1995-08-07 1997-02-18 Suzuki Motor Corp 焦点位置検出装置及びこれを用いたレーザ振動計
JPH10221159A (ja) * 1997-02-12 1998-08-21 Toshiba Corp レ−ザドプラ方式振動分布測定装置
JPH10253443A (ja) * 1997-03-06 1998-09-25 Graphtec Corp レーザ利用振動測定器
DE19861203B4 (de) * 1998-02-16 2004-01-29 Polytec Gmbh Verfahren und Vorrichtun gzur flächenhaften Schwingungsanalyse
JP2000221077A (ja) * 1999-02-02 2000-08-11 Ono Sokki Co Ltd 振動計測装置
JP2003149041A (ja) * 2001-11-15 2003-05-21 Ono Sokki Co Ltd レーザドプラ振動計
JP3891418B2 (ja) * 2002-09-24 2007-03-14 グラフテック株式会社 レーザドップラ振動計

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004138590A (ja) 2004-05-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7153552B2 (ja) 合焦状態参照サブシステムを含む可変焦点距離レンズシステム
EP2724361B1 (en) Illumination control
US7443513B2 (en) Apparatus for optical measurement of an object
US4636626A (en) Apparatus for aligning mask and wafer used in semiconductor circuit element fabrication
JP4895353B2 (ja) 干渉計、及び形状の測定方法
JP2010190722A (ja) 欠陥検査方法及び欠陥検査装置
US11465235B2 (en) Laser light irradiating device
KR20180104594A (ko) 레이저광 조사 장치
US6084672A (en) Device for optically measuring an object using a laser interferometer
JP5162783B2 (ja) 走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡
KR101023193B1 (ko) 삼차원 형상 측정용 엘티피 시스템
JP3915978B2 (ja) レーザドップラ振動計
US11409199B2 (en) Pattern drawing device
KR101826127B1 (ko) 광학적 웨이퍼 검사 장치
JP3455775B2 (ja) 光駆動型波面補正映像方法及び装置
JPH10239036A (ja) 3次元計測用光学装置
US11131871B2 (en) Laser processing device and operation checking method
KR101423829B1 (ko) 투영격자의 진폭을 적용한 3차원 형상 측정장치 및 방법
KR101239409B1 (ko) 2d 형상 정보와 3d 형상 정보의 동시 획득이 가능하며 레이저와 백색광을 광원으로 한 위상천이기반 형상측정장치 및 형상측정방법
JP3891418B2 (ja) レーザドップラ振動計
JPH095046A (ja) 立体形状測定装置
KR102336453B1 (ko) 복수의 fov 구현이 가능한 결함 판별장치
KR102116618B1 (ko) 광학 시편 표면 검사 장치 및 그 제어 방법
JP2002296004A (ja) 斜入射干渉計装置の結像光学系
JP3143527B2 (ja) 光軸補正手段の特性検査装置及び特性検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051012

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20061110

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061228

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070131

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070131

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3915978

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110216

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120216

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130216

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140216

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees