JP3905561B2 - 光デバイス及びその形成方法 - Google Patents

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Description

本発明は、光量子バンドギャップによる導波路内への放射線の伝播特性の制御方法及び光デバイス、特に、光量子バンドギャップによる放射線の伝送を左右する光デバイスに関するものである。そのようなデバイスは、目的とする波長の放射線の伝播を維持する物質のエッチングによって形成することができる。ここに記載した態様は、可視光線に関係するものであるが、本発明の原理は紫外線、赤外線、テラヘルツ及びマイクロ波のような他の電磁放射の伝播を制御する技術にも同様に適用できるものである。この明細書中での「光学的」という用語はそのような他の放射線も含んでいる。
ある周期的な誘電体構造では、格子の一定の方向について電磁放射の伝播が禁じられることがある。これらの構造は、光量子バンドギャップ構造として知られている。バックグラウンドの誘電体物質中の深い空気ロッド(deep air rods)の立方又は三角(triangular)格子を基本とした構造は、光量子バンドギャップ(PBG)を示す。バンドギャップのサイズと位置は、波の偏光状態、波の伝播方向、光量子結晶(photonic crystal)の大きさ及び誘電体のコントラストに依存する。バンドギャップの周波数範囲は格子間隔と同程度である。半導体物質は、その大きな誘電体定数のためにPBGの構成に理想的なものである。2次元光量子格子が3次元バンドギャップを有することができるとともに、少なくとも、面外にも大きな波形成分が存在する場合においてもバンドギャップが開いた(open)ままとなっている。
光学的周波数においてバンドギャップを伴う光量子バンド構造は、多方面で利用されている。光量子バンドギャップの重要な特性は、バンドギャップエネルギーの範囲内での自然放射を増幅又は抑制する能力である。これは、半導体レーザーや発光ダイオード(LED)のような光電子光学素子とダイレクトバンドギャップに重要な係わりをもっている。
光量子バンドギャップ構造は、蛍光(レーザーを含む)を放つ物質においても形成される。PBGはこれらの活性のある有用な物質をセンサーにすることができ、又は一つの遷移(又は遷移の組)を他よりも起りやすくすることができる。
センサーとしては、PBGは、構造中にあるエアホールに空気が満ちたときに特定の波長で蛍光を発するように構成される。しかしながら、もし、エアホールに純粋な二酸化炭素又は一酸化炭素のような他のガスが満ちた場合には、ガスの(通常の空気と比較して)異なる屈折率のために、容易に見つけられる蛍光線(line)からPBGを切り離すことができる。PBGの構造は液体識別のために同様の方法で用いることができる。
あるガラスレーザー(例としてはネオジミウムドープのGLSガラス)はいくつかの異なる波長で光を放つ。しばしば、ちょうど単一の線を増幅することが、優先的に選択するために望ましいことがある。この線は線の組のうち最も弱い遷移(transition)のものでもよい。ガラス中にあるPBG構造は望ましくない蛍光線を妨げるように働かせ、また、求められている波長の伝播を促進するように働かせることができる。
特に重要な用途は、低位の発行準位(radiative levels)からの直接の遷移を阻止することによって、ガラス中において高エネルギーレーザー遷移を最適化することである。典型的なレーザーシステムにおいては、低位の遷移は、より強く、より発生しやすいものである。しかし、利用可能な有用な高エネルギー準位(例えば、スペクトルの青色領域)が存在するものの、低エネルギー遷移が全エネルギーを奪うことから、かかる高エネルギー準位は利用できないものである。そのようなレーザーシステムにおいて適切に工夫したPBGは、低エネルギー遷移の発生を防ぎ、それによって高エネルギー準位でのレーザー発生を可能なものとしている。
国際出願No.WO94/16345(マサチューセッツ工科大学)は、光電子バンドギャップを持つ構造中に構成された光導波路を有する低損失光学及び光電子集積回路を開示している。この公報は、そのような導波路からのバンドギャップの中心周波数以外の伝播特性を判定する方法については開示していない。さらに、それには光量子バンドギャップと誘電体導波路の間の有害な相互作用のために、記載されている方法では動作させることができない態様についての記載がある。他に記載された態様では、テーパー状の誘電体導波路内での後方反射の影響のために約束された利点が得られない。
エッチングされたシリコン構造(etched silicon structure)は、レーマン(V.Lehmann)によって電気化学学会誌(J.Electrochem.Soc.Vol.140,No.10,第2836頁,October 1993)に開示されている。しかし、エッチングされたシリコン構造の光デバイスとしての用途については言及していない。開示されたエッチングされたシリコン構造は、シリコンバルクの均質なスラブ(slab of bulk silicon)を酸浴中に置いてエッチングして構成される。エッチングは、2つの相対する実質的に平坦な、シリコンスラブの表面間に電場を形成し、背面を照明することによって行なわれる。結果として得られる構造は、その中に構成された実質的に均等な間隔のホール又は空孔の配列を有している。これらのホールや空孔は巨大空孔と称され、巨大空孔のチップ(tip)において電荷分布の自己調整の現象に関連して電気化学的反応の結果として発生する。
クラウス(Krauss T.F.)らは、ネイチャー誌(Nature 1996(24 October 1996)Vol.383第699-702頁)に光電子バンドギャップ(PBG)について発表した。そのデバイスは、高屈折率のシリコンの半導体導波路に均質なホール配列を形成した2次元格子である。クラウスによれば、調整可能なソースからの放射は、ある角度で入射し、放射線が入射したときと実質的に反対側に置かれた導波路から出射する際に検出される。
発明の開示
本発明によれば、第1光伝送性物質からなる第1領域内に形成された導波路を有する光デバイスであって、前記第1領域が一つ又は複数の第2領域により仕切られており、前記第2領域があらかじめ定められた一つ又は複数の周波数の放射線について少なくとも部分的に非伝送性である光電子バンドギャップを生成するように配置された副領域(sub-regions)の配列を有すると共に、前記導波路の周波数伝送特性が前記第2領域の伝送特性によって少なくとも部分的に決定される光デバイスを提供している。
また、光電子バンドギャップによって少なくとも部分的に仕切られている導波路に結合している多数の第1入力ポート群と多数の第2出力ポート群とを有する光伝送デバイスであって、前記第1入力ポート群の少なくとも一つのポートが第1周波数領域の光信号を通過させるものであり、前記第2出力ポート群の少なくとも一つのポートが第2周波数領域の光信号を通過させるものであり、かつ、前記第1周波数領域及び前記第2周波数領域が前記光電子バンドギャップによって規定されている光伝送デバイスを提供している。
また、光量子バンドギャップによって仕切られている光伝送性物質の領域からなる導波路を有する光活性デバイスであって、前記物質中に准安定エネルギー準位を誘導する不純物を含んでいる光活性デバイスを提供している。
さらに、本発明は、電荷担体の移動により信号を伝送する第1領域と、電磁放射により同一信号を伝送する第2領域と、前記信号と前記同一信号との相互変換のために前記第1領域及び前記第2領域の間に配置された電子光学変換手段とを有するハイブリッド光−電子信号転換デバイスであって、前記第2領域が少なくとも部分的に光電子バンドギャップによって仕切られている第3領域を含んでいるハイブリッド光−電子信号転換デバイスを提供している。
さらにまた、本発明は、光量子バンドギャップで少なくとも部分的に規定される導波路への又は前記導波路からの放射線伝送のための入力ポート又は出力ポートを有する導波路とのカプラであって、前記導波路との間の放射線伝送を増幅するために前記入力ポート又は前記出力ポートは屈折率が段階的に変化している領域を含んでいることよりなる、導波路とのカプラを提供している。
また、第1光伝送物質からなる第1領域内に導波路を形成することよりなる光デバイスの形成方法であって、前記第1領域内にある一つ又は複数の第2領域内に、あらかじめ決められた一つ又は複数の周波数の放射線について少なくとも部分的に非伝送性である光電子バンドギャップを有する副領域の配列を作製すると共に、前記導波路における放射線伝送特性が前記第2領域の伝送特性によって少なくとも部分的に決定される光デバイスの形成方法を提供している。
一形態としての本発明は、導波路を保持する基板と、入力チャネルと少なくとも2つの出力チャネルを前記導波路と光学的に連結したものとからなる光デバイスであって、前記導波路が第1屈折率を持つ物質から構成されるとともにその中に領域の配列を持ち、前記領域が前記導波路とは異なる屈折率を持つことから、デバイスへ入射した放射線ビームが少なくとも2つの出力ビームに分離することよりなる光デバイスを提供している。
好ましくは、各出力ビームの強度は実質的に同じものである。
本発明の特別の態様によれば、光デバイスはWDDMとして使用することができる。WDDMは波長マルチプレクサとして使用することができる。
本発明の特別な態様によれば、その光デバイスは、波長の符号化された大多数の入力チャネルから情報チャネルの組を分離することよりなるものである。
他の態様として、エッチングされた半導体基板と、基板中に設けられた多数のホール又は孔とからなるデバイスであって、前記ホール又は前記孔が不均一、前記ホール間の間隔が不均一、又は前記ホール又は前記孔が不均一かつ前記ホール間の間隔が不均一のいずれかであることにより特徴付けられるデバイスを提供する。
他の態様として、第1屈折率を有する導波路を基板上に設けるステップと、前記導波路内に前記導波路と異なる屈折率を有する複数の領域を設けるステップとからなる光デバイスを生産する方法を提供する。
好ましくは、光デバイスはシリコン基板よりなるエッチングされた半導体から構成され、少なくとも一つの被覆層からなる。
他の態様としては、多数の信号についてのマルチプレクシング法、デマルチプレクシング法、組み合わせ又は分離の方法であって、上述の光デバイスを用いて前記信号を処理することよりなる方法を提供する。
さらに他の態様として、第1誘電定数を有する領域の配列に電磁的信号をさらす(exposing)方法であって前記領域の配列が第2誘電定数により構成されている導波路内に配置されている方法、及び前記誘電定数のうち少なくとも一つを変化させることによって前記信号の特性を変化させる方法とを提供する。
本発明による好ましい光デバイスの一例は、波長分離デマルチプレクサ(WDDM:Wavelength Division De-Multiplexer)である。WDDMは、単一の放射線入射ビームを分離し、移送データとして、2又はそれ以上の異なる波長のビームとする。いずれの分離ビームもそれぞれ違うビームから運ばれた異なるデータを運ぶことができる。波長は、ある一つの波長で移送されるデータが他の波長で移送されるデータと干渉することがないように選択される。その結果として、光ファイバーのような一のデータチャネルにおいても伝送信号の波長から符号化されたいくつかの異なるデータを伝送することができるものとなった。そのため、ファイバー当りの伝送可能なデータの容量は増加している。
従来のWDDMは、チャネルの最小バンド幅が大きくなる傾向があるなどの問題があった。またこれらのデバイスは、不連続な構成要素(components)からなり、配列が困難であり、頑丈でもない。また、偏光に対して感受性のないものであった。
波長マルチプレクサー(wavelength multiplexer)は、あらかじめ定めた出力チャネルの組へ選択された波長信号の組を送ると同時に、多数の出力チャネルへの符号化された入力信号を波長分離型マルチプレクサー(WDM:Wavelength Division Mutiplexer)へと送るデバイスの一つである。したがって、本発明の光デバイスを含む波長マルチプレクサーは、波長選択性という付加された特徴を有するものである。
スプリツタはデータを伝送している単一の入射放射線ビームを、パワーを減少させた2又はそれ以上のビームに分離する。いずれの分離ビームも同一の情報を伝送することができる。その結果、単一のデータチャネルにおいて同時にいくつかの異なる行先へ分配することができる。入力チャネルは、いずれも伝送信号の波長に従って符号化された、又は時間分割マルチプレキシング(TDM)による多数のデータチャネルからなっている。そのような装置において、入力データチャネルからデバイスに入力した全てのデータ信号は、全出力チャネルに同時に発送される。
波長分離マルチプレクサー(WDM)は、入力データチャネルの符号化された波長をあらかじめ定められた出力チャネルのサブグループに選択的に又は同時に発送することができる。出力チャネルのサブグループは、入力データチャネルのいずれの波長とも異なるものとできる。さらに加えて、出力チャネルのサブグループは、本来の入力データチャネルの偏光状態に従ってなおいっそう減少又は増加させることができる。
入力チャネルは、また、電磁的偏光状態によって符号化することができる。これは入力チャネルの容量を倍加する。しかしながら、以前の格子状ビームスプリッタ又はマルチプレクサーは、単一のチャネルからのビーム分離において強度又はパワーが広く変化しているという問題があった。他の問題点としては、スプリッタ及びマルチプレクサーにおいて出力チャネルの最大数が全く小さいということである。本発明は、これらの問題を克服するものであり、データ伝送チャネルの用途に適した光デバイスを提供するものである。
本発明の他の態様による光デバイスの一例としては、光信号クロス接続器(optical signal cross-connect)がある。クロス接続器は、ある信号チャネルからデバイスへのデータ信号入力が同時に全ての他のチャネルへ分配されることから多数のデータチャネル間の双方向通信を可能とする。入力チャネルは伝送波長、電磁的偏光、又は時間分割マルチプレキシング(TDM)によって符号化してデータ信号を伝送できる。従って、単一の信号チャネルにおいていくつかのトランシーバー間で、それらの間での高いチャネルセパレーションを維持しながら同時に双方向通信ができる。現在の交換接続器は、rモード依存(mode dependent)」となることがあり、その結果、出力チャネル間でパワーの点でかなりのばらつきを示すものとなる。さらに加えて、波長選択性は、行先の組へ波長信号の組を発送するためにこの交換に組み込むことができる。
好ましくは、導波路内に設けられた領域の配列は、導波路の表面に直交するホールの軸に沿った規則正しい六角形パターンである。この配置において、単一の入力ビームは、多数の出力ビームに分離する。
好ましくは、入力ビームを6つの出力ビームに分離するものである。
光デバイスは、デバイスに入射する多数の入力ビームが単一の出力ビームに結合させる場合のように、結合器(combiner)の一部として使用される。
好ましくは、導波路の深さは実質的に一定なものである。配列は3次元パターンとして導波路のいたるところに配置できる。
本発明のその他の態様による光デバイスは、統合された光偏光制御装置である。任意の波長についてランダムに偏光している入力ビームは、TE偏光及びTM偏光に分けることができる。本発明はそのようなデバイスとして用いることができ、その結果、チャネルのサブグループによって上述の多重通信化と同様に偏光の多重化ができる。
もし、線欠陥のような欠陥がデバイス中に導入された場合には、集積化された平面導波路における光路中に鋭い屈曲部が生成される。現在、これは他の方法によっては達成できないものである。
さらにまた、その光デバイスは光量子バンドパスフィルターの一部として使用できる。そのような装置において、別の周期格子での「欠陥」の含有は、ストップバンド(stopband)の波長範囲において狭いパスバンドを生成してデバイスのパフォーマンスを向上させる。
配列はその他の形状に構成されてもよく、例えば、四角形又は「擬周期的(quasiperiodic)」なものであってもよい。この形状によって異なる数の出力ビームを与えるものとなる(例えば、四角形格子の場合には4又は2である。)。擬周期的とは、この場合、2つの周期的な格子の積み重ねにより構成され、その結果、均一な格子をなしていない構造を意味している。それはまた格子の構成において、間隔、詰め方、またはそれらの両方の配置についてあらかじめ定められた方法により得られる次元に沿って変化するものである。
他の態様において、本発明は、エッチングされた半導体基板、多数のホール又は孔が基板状に構成され、ホール又は孔は不均一であるか又はホールの間隔が不均一であるか、又はその両方であることにより特徴付けられているデバイスであって、これを提供するものである。
エッチング方法は、導波路ビームスプリッタと90°屈曲部の形成を可能にするものである。屈曲部の半径(損失ゼロのもの)は、他の方法を用いた場合の現在の技術水準では10mmまでであるのに対して、50μmまでである。633nmの放射線を用いた場合の可能な限界は2μmまでである。これはコンピューティング及びコミュニケーションズの応用においてチップ大の光内部接続を実行可能にするものである。
ホール又は孔は、あらかじめ定めた方法によりホールの間隔を変えられて半導体基板じゅうに配列として配置されている。
本発明の一態様において、ホール間の間隔又はホールの径の変化は、光デバイス上での入射放射線の物理特性が変化しうる程度のものである。従って、例えば、第一及び第二隣接の列の間で、配列の端に沿って、ホール間又は孔の間隔が10μmであって、配列のホールの第二及び第三列間において、ホール間の間隔が100μmの場合である。
隣接する列間の間隔は一対の隣接する列から次へと周期的な総和により増加する。ホール又は孔は、列又は柱としてグループ化してもよく、又は円形、三角形、四角形、らせん形又はその他のパターン形状を構成してもよい。
配列中の列間(又は柱間)の間隔の変化は、直線的又は非直線的のいずれのように増加してもよい。例えば、ホール間又は孔間の間隔は「d」として表し、隣接する列Iの間隔の間の関係は、kが任意の正の整数であるとして、In+1=In+kdとして表すことができる。この単純な線形関係については後述する。また、間隔は非直線的に増加しているのは明らかであろう。
WDDMの場合、最も適した欠陥は、ホールの一部の関連のある直径が増加又は減少している箇所にある。
欠陥の組は通常の方式で配列されるか又はおそらく周期的格子全体にランダムに重ね合わされることができる。欠陥のあるホールの量は効果の効率を決めるものである。
屈折率の変数の中間値はホール又は孔に配されるようにすることができる。これは屈折率の中間値を変える手段が提供されるものである。加えて、非線形性は不純物の存在によって導かれるものであり、放射線の吸収又は放出をする准安定エネルギー準位を生成する。
ホール又は孔の屈折率の中間値は、制御器によって電場又は磁場を変化させ、その中間にさらすことによって変化させることができる。そのような変形のデバイスは選択的可変光スイッチを提供する。代替的には屈折率の変数の中間値は、エッチング又は結晶成長による多層構造を構成することである。
光量子バンドギャップ構造は、蛍光性(レーザーを含む)物質において形成されることがある。PBGは、センサーとして有用な活性物質とすることができ、他より生じやすいと思われる一の遷移(又は遷移の組)を作成することができる。
センサーとしては、構造中のエアホールに空気が満ちた場合に、PBGは特定の波長において蛍光性を示すことができる。しかしながら、もし、エアホールに純粋な二酸化炭素又は一酸化炭素などの異なるガスが満ちた場合には、(空気と比べて)異なる屈折率のために、容易に見つけられる蛍光性の線(line)から離れたPBGを調整することができる。PBG構造は液体センサーのために同様の方法で用いることができる。
あるガラスレーザー(例としてはネオジミウムドープのGLSガラス)はいくつかの異なる波長で光を放ち、正に一の線について優先的に増幅するために選択をすることができ、しばしばその線はその線の組の中で最も弱いものである場合がある。ガラス中のPBG構造は望ましくない線の蛍光を妨げ、要求される波長の伝送を促進させることができる。
特に重要な応用は、低位の発光性の準位からの直接的遷移を妨げることから、都合のよいガラス中での高エネルギーレーザー遷移を生じさせることである。典型的なレーザー機構においては、低位遷移(lower lying transitions)は、より強く、より発生しやすいものである。しかし、利用可能で有用な高エネルギー準位(例えば、スペクトルの青色領域)があり、一方、低エネルギー遷移は全エネルギーを奪うことから有用ではない。そのようなレーザー機構においては、適切に設計されたPBGは、発生から低エネルギー遷移を妨げ、それによって高エネルギー準位でのレーザー発生を許容している。
エネルギーバンド中のバンドギャップの端の近辺にある光量子は、PBG構造(バンドギャップ内ではそれ自体止まってしまい、定常波となる。)を通過する間に相当に速度が減少させられる。(情報を伝達して)伝送してきた光量子エネルギーに近いPBG領域を構成することによって、光量子の流れを遅くさせることができ、波動の速度を減少させることができる。これは、データの信号処理をより理にかなった時間スケールで(電気信号の信号処理で遅延線が使われているのと同じやり方で)行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
本発明の態様については、添付図面を参照しながら、一例について説明する。
図1と図2は、波動伝播解析に用いられる説明図である。
図3から図5は、物質のエネルギーバンド構造を示すものである。
図6は、単純な3層平面導波路を示す概略図である。
図7と図8は、窒化ケイ素PBG導波路内の誘導モードによる伝播を示すものである。
図9aから図9cは、種々のデバイスの構造を示すものである。
図10から図12は、誘導モードの概要を説明するものである。
図13は、導波路内でのモード結合を説明するものである。
図14から図18は、それぞれ相違する構造の走査型電子顕微鏡写真である。
図19aと図19bは、それぞれ赤色光と緑色光の伝送を示す写真である。
図20は、導波路内での異なる放射モードによる伝播を示したものである。
図21は、光量子バンドギャップの説明図である。
図22は、誘導モード伝播を図解で説明するもう一つの説明図である。
図23aから図23nは、フェースプレートを構成していく際のステップを概略的に示したものである。
図24は、図8で説明されている方法によって作成されたフェースプレートを示している。
図25は、PBGデバイスの概略図である。
図26と図27は、PBG構造体の走査型電子顕微鏡写真である。
図28から図32までと、図35から図36aまで、及び図36bまでは、PBG構造体を透過する光の伝播を示す写真である。
図33と図34は、説明図である。
図37と図38は、PBG構造体の概略図である。
図39から図41は、PBG構造体を用いた光学素子である。
図39は、デマルチプレキシングの「グループ用」に、または狭くなっているバンドギャップ用に3つのカスケード接続されたバンドギャップデバイスの概略図である。
図40aは、図1に示されているタイプの光デバイスのいくつかを一体化している完全波長デマルチプレクサー(WDM:Wavelength De-Multiplexer)の概略全体図である。この配置において、デマルチプレクサーは、2つの分離した基板によって構成され、その一方は光デバイスを保持しており、他方は光電デイテクターアレイを保持している。2つの基板はその間の接続のために接合されている。デバイスは、いくつかの光デバイスへ信号を発送するために分割された単一の集積光学入力導波路チャネルを有している。光デバイスからの減少したバンド幅の出力信号は、集積光デバイスを経由して個々の光電ディテクターに発送されたものである。
図40bは、ハイブリッドデバイス又はモノリスのデバイスの概略平面図である。図40aの説明に付言すると、ハイブリッドな配置においては、光電ディテクターは、全く異なる物質からなり、光デバイスを支持している基板中に設けられた凹部内に挿入されたものである。凹部は、集積された光導波路から光電ディテクターへの良好な光学的結合のためにデザインされたものである。モノリスの配置の場合には、光電ディテクターは同じ基板上に光学的に両立しうる物質を用いて構成されている。これにより光デバイスと光電ディテクター間の接続インターフェイスを除去でき、さらにデバイスの能率を改良できる。
図40cは、さらなる電気的増幅又は信号処理電気回路が光デバイスを保持している基板上に構成されている場合における、上位のモノリスのデバイス又はハイブリッドデバイスの一部の概略図である。一方で、ディテクターはその上にまたモノリスのように集積でき、又は基板上の凹部に挿入することができる。
図41aは、集積された平坦導波路の長手方向に沿って含まれる鋭い屈曲を形成している光デバイスの配置の概略平面図を示している。これは、複雑なVLS1光電子工学的回路の一部をなすことができる。この装置により、単一の基板上での大規模集積化した光電子工学デバイスの可能性が生まれた。
図41bは、集積光導波路のスプリッタ(splitter)として働く光デバイスの概略平面図を示している。これは、複雑なVLSI光電子工学的回路の一部をなすことができる。
図42aから図42dは、異なるパスバンドギャップの物質の周波数応答のグラフである。
図42aと図42bは、広いストップバンド特性を示し、それは図37aで示されている幾何学によって成し遂げられる。図39に表されているような特性を有するカスケード接続デバイスにより、図7に示されるより狭いストップバンドを持つデバイスが達成できる。
図42dは、図37b及び図37cで示されている格子欠陥を含むサンプルによって得られる狭いパスバンド特性を示している。
図43は、導波路における異なる屈折率の媒体間のインターフェースを示している。
図44aと図44bは、本発明の実施態様の説明のための概略図である。
図45から図47は、本発明の特徴点の走査型電子顕微鏡写真である。
図48と図49は、他の実施態様の説明のための概略図である。
図50から図57は、本発明の実施態様のコンピューターシミュレーションに関して用いられた説明のためのグラフである。
光量子バンド構造体は、光コンピュータ及び光コミュニケーションの用途のために集積光学デバイスとして受動的利用のホストとして有用である。例えば、PBGフィルターデバイスのアレイは完全に集積モノリスのWDMデマルチプレクサーとして機能を果たすように準備されている。最も能動的な応用においては同時に生じるTE及びTMの両方の偏光状態のために完全な光量子バンドギャップが求められるが、偏光依存性は受動光学デバイスにおいて普通に利用されている。
多くの受動的な集積光学的応用のために重要な要請は、第一位のバンドギャップ領域から離れる際の伝送ロスを低くすることである。我々は、選択された波長範囲を超えて強い伝送を確実にするために、導波路として用いるPBGデバイスのモード構造及び広いバンド伝送特性の決定を可能にする方法を発明した。この方法では、誘電体を貫通するようエッチングされた空気のロッド部のマトリックスを持つ誘電体物質の非常に厚いスラブ内への電磁波の伝播に関する光量子分散を見積もるため、3次元平面波解析(M.Plihal,A.A.Maradudin,Physical Review B,44,8565,(1991)及びA.A.Maradudin,A.R.McGurn,Journal of Modern Optics,41,275,(1994))を用いている。既存の導波路理論は、どのエッチングされた層についても平均の屈折率を持つと仮定して、導波路内に形成される誘電体格子構造によって、及び各層についての電磁的(EM)境界条件を解くことにより支持される誘導されたモードを計算するために用いることができる。この3次元近似は、誘導されたモードの視点で考えられ、空気ロッドの方向に沿って調節された有限の波の伝播ベクトル成分を考慮している。有限の「透過面(through plane)」波動ベクトル成分は、計算された分散関係を意味あるように部分修正することができる。導波路デバイスが実際のところ3次元デバイスであることから、余分の自由度は望ましくは無視されるべきではない。
TE偏光波及びTM偏光波とを結びつけて考えられたエネルギー固有値は、3次元平面波解析に関係する計算に関して解けないようにリンクしていることから、分散曲線はかつて計算された固有の偏光状態と結び付けられる。
弱誘電体物質中のTM偏光波においては光量子バンドギャップがないことから、相対的に弱誘電体物質は、たとえ空気の充填部分が非常に低くても、TE偏光波における重要な光量子バンドギャップを保持することができる。
図1と図2とを参照して、本発明の一の実施態様は、スペクトルの可視領域の632.8nmに中心を持つ光バンドギャップに左右される偏光を有する導波路としての光量子結晶21からなっている。この構造は、シリコン基板(図示せず)上に成長させた単一モード窒化ケイ素の導波路のコア及び被覆層を貫通してエッチングされ、三角格子状に配置された空気空孔22の配列からなる。このデバイスは、TE偏光の632.8nmにある赤色光を完全に抑制していることから、下側のバンド端の545nm以下のいずれの偏光状態についても強い伝送を示す。TM偏光の赤色光は強く伝送する。
x−y平面にあり、高さ方向がz方向に延びている光量子平面結晶を考える。光が空気ロッドに垂直に伝播する場合(従って波動伝播ベクトルkはz方向には成分を持たない)、波は電磁(EM)場成分の向きに従って2つの異なった偏光状態に変えられる(図1)。この場合、磁場及び電場ベクトルについてのマクスウエルの場の方程式を解いて2つの独立な光量子バンド線図を別々に導出する(M.Plihal,AA Maradudin,Physical Review B,44,8565,(1991))。このシナリオは、「面内」波動伝播にも参照される。
もし、波が格子面についてある角度で伝播した場合(図2)には、z方向に変化した有限の波動ベクトル成分(kz)があり、電場及び磁場の両方のベクトルが格子面内に変化したある成分を持つことになる(このシナリオは「透過面」の波動伝播として参照されることとなる。)。この場合、電場及び磁場ベクトルに閲する波動方程式は解けないように関連しており、分散関係を得るためには3次元固有値問題を解かなければならない。しかしながら、電場(E)及び磁場(H)のベクトルについての解明は結局は同じ値に帰するものである。従って、バンド構造全体を得るためには場の方程式の内の一つを解くことが必要とされる。
3次元平面波解析においては、周期的誘電構造を通過する単一モードの波E(r)eiωtの振動数ω=ω(k)は以下のように記述できる。すなわち、
Figure 0003905561
rは、3次元位置ベクトル、kは、3次元波動ベクトル
cは、真空中の光速、εは、誘電関数(dielectric function)である。
フーリエドメイン(固体物理学では逆格子空間として知られている)においては、電場ベクトルはブロッホ展開により表現される。
Figure 0003905561
G 2次元逆格子ベクトル
k 3次元波伝播ベクトル
r 3次元位置ベクトル
a(k,G) 3次元ブロッホベクトル係数
誘電関数はフーリエ級数によって表現できる。
Figure 0003905561
フーリエ係数CGは、以下により得られる。
Figure 0003905561
ホーの行列最適化法(C.T.Chan,K.M.Ho,C.M.Soukoulis,Europhysics Letters,16,563(1991))、を用いたところ、等辺3角格子に配列された2次元格子のロッドの半径Rが以下の表現として得られた。
Figure 0003905561
Figure 0003905561
ここでaは格子間隔、εaはロッドの誘電定数、εbはバックグランドの誘電定数、J1(x)は、ベッセル関数の第一項であり、fは空気充填部分の体積である。
デカルト直交座標軸x、y、zに従って式1を書き替え、展開して式2及び式3を代用すると、逆格子空間において以下の波動方程式の組が記述できる。
x成分
Figure 0003905561
y成分
Figure 0003905561
z成分
Figure 0003905561
電場ベクトルは、デカルト直交座標軸x,y,zに従って書き替えられている。
||は、波動伝播ベクトルの格子面内の成分
||は、逆格子ベクトルである。
ω2/c2は、エネルギー固有値のスカラー成分
(k||+G||)x,y,xは、3次元ブロッホベクトル係数である。
(G||-G'||)は、フーリエ係数のスカラー成分である。
これらの表現を合わせて一体の形式とすると、コンピュータを使って作成し、解くことができ、順にいずれのkベクトルも取っている、3次元の固有ベクトル問題(式(8))を得る。
Figure 0003905561
MxからMzは、括弧内に示されるデカルト変数の数値関数である。いずれの関数も逆格子空間ベクトルG及びG’によりアドレスされている正方形副行列を構成している。
この表現は、格子間隔Aの窒化ケイ素のバックグランド誘電体(εb=4)中のエアホール(air holes)の三角格子(εa=1)について解くことができる。基本の並進ベクトルは、
Figure 0003905561
対応する逆格子空間ベクトルは、
Figure 0003905561
逆格子空間ベクトルのサンプルセットは、以下で与えられ、
G=mA+nB
(m,nは、整数値(addressing integers)。)
kベクトルサンプルは、光量子バンドダイアグラムを構成する格子の対称点によって形成される還元ブリルアンゾーンセグメントで周囲を占められている。種々のkZ値についての繰り返し計算によって、分散曲線の挙動は固定空気充填部分に対してモード角θZの関数としてマップされている。
モード角についての分散曲線の展開は、0°(面内波動伝播の場合)から90°(通常の入射又は「透過面」波動伝播の場合)まで増加しており、それは以下のことを示している、すなわち、TE及びTM偏光状態についてのエネルギー固有値問題が計算問題としては解けないようにリンクしているために、どの分散曲線も一度計算された特定の分散状態と結びつけて考えることができる。これが図3から図5に説明されている。
図3は、窒化ケイ素の誘電体バックグランド中の空気充填部分の体積が40%の空気ロッドの格子についてのバンド構造を示しており、平面波81にホーの逆変換行列法(inverse transform matrix method)を結合して用いて従来の2次元平面波解析法を用いて計算されている。2つの偏光状態の分散関係は、比較のために重ね合わされたものである。図5は、3次元平面波解析法でkZ=0として計算された「面内」のバンド構造を示している。この場合の分散関係は均一なものである。従って、図4に示すいずれの分散曲線も図3と比較して特定の偏光状態と結合できる。「透過面」成分kZが増加すると(図5)、最初の2つの分散曲線の下にギャップがT点において現われ、分散曲線は上昇し、わずかに圧縮される。しかしながら、形状及び曲線の低下点は変化することなく維持しており、いずれの分散曲線も特定の偏光状態と結合できる。
単純な3層平面導波路(図6)のモード構造は、2つの主要な境界条件を解くことにより得られる。第一の条件は、境界でのモード角が内部への全反射となる臨界角θcritよりも小さく、そうでなければ光が速やかに導波路を漏れ出るものである。
Figure 0003905561
n=被覆層の屈折率
nc=コアの屈折率
ホール61の次元がバンドギャップに近いλ/4からλ/2のオーダーにあるため、これらは伝播波によっては解くことができない。その代わりに、エッチングされた層は平均的な屈折率で表される還元された(reduced)屈折率を有している。
avg=(nb−na)・(1−f)+na 式10
na=ホールの屈折率
nb=誘電体の屈折率
次に、横の位相の一致条件は、共鳴誘導波に対して高めるために結合されなければならない。
m・λ=kz・Λ−φ 式(11)
m=整数
φ=境界の相転移の和
Λ=格子間隔
Zの代用を作成することによって、モード角の関数として誘導モードの波長を得るために横共鳴条件が再構成される。
Figure 0003905561
θz=モード角
avg=コアの平均屈折率
φ(θz,n)=境界での相転移
b=バッファ層の平均屈折率
c=被覆層の平均屈折率
d=コアの厚み
m=モード数
Λ=格子間隔
導波路境界からの反射での相転移はどの偏光状態とも異なるものである。これによって偏光状態の分離が生じ、非偏光光が平面導波路に沿って伝播する。
TEモードについての相転移
Figure 0003905561
TEモードについての相転移
Figure 0003905561
n=被覆の屈折率
nc=コアの屈折率
θz=モード角
ここで、誘導波モード1は平面波解析と結合されている。もし、kZがゼロより大き場合には導波路モード角は、光量子バンドダイアグラム(図7)のx軸に沿ったどのkベクトルとも結合することができる。しかし、T点のモーメントゼロのkベクトルのモード角はあいまいなまま残っている。
Figure 0003905561
「透過面」モード角
誘導モードの波長はここに固定された導波路の幾何学についてモード角の関数として計算され、これを3次元バンドダイアグラムの上に重ねている。(図8)。誘導モードの線が分散曲線と交差する点は、PBG構造によって支持されている誘導されたブロッホモードの解を示している(D.M.Atkin,P.St.J.Russel,T.A.Birks,Journal of Modern Optics,43,1996(1035))。これらのことは、特定の波長でPBG構造と交差する伝送を得るためには波動ベクトルは励起されなければならないことを示している。誘導モードは、特定波長において存在するかどうかによらず、kZ値の範囲での分散曲線の展開の考察によって決定される。試験として特定された波長での分散曲線と誘導モードの線との交点を見ることは、バンドダイアグラムのシリーズを動画にする(animating)ことによって視覚的に達成することができる。もし、どのkZ値についても誘導されたブロッホモードが存在しない場合には、光量子バンドギャップが存在し、通常の導波路モードはバンド構造によって抑制されている。この解析を行って、いずれの分散曲線も特定の偏光状態と結合されることができることを憶えるべきである。格子構造を通して誘導されたブロッホモードの場の強度プロファイルは、固有ベクトル問題に戻ること、及び誘導ブロッホ波動ベクトルの固有ベクトルを解くことによって作図される。
図8は、T−J対称方向に沿って545nmにTM偏光誘導モードが存在し、T−X方向に沿って600nmにTM偏光誘導モードが存在する窒化ケイ素構造の「3次元」バンドダイアグラムの一例である。モーメントゼロのT点にほぼ中心とされている波動ベクトルは、通常に近い構造への入射のモードと一致する(図7)。これらは内部への全反射の臨界角を超えている漏れ易い(leaky)モードである。従って、誘導モードの線はこれらの境界では不連続となる。図7中の垂直の線は、内部への全反射の限界を示している。
導波路に伝播する波の群速度は、以下により得られる。
Figure 0003905561
これは、分散関係上の反射点におけるブロッホ波(ほとんど対称点について)は、驚くことに、群速度がゼロとなることを示している。これらのモードでの光の結合によって、高品質の因子の定常波が強まる。
従来の導波路では、低誘電性媒体に取り囲まれた高誘電性領域内への内部全反射によって光は閉じ込められていた。誘導モードに維持することが要求される屈折率の著しい差異は極端に小さくできる。この原理は、PBG導波路に関連して利用される(図9)。例えば、エッチングによる導波路構造を貫く微小なホール91によって、エッチングされた層の有効指数(effective index)は減少する。これは導波路のエッチングされた領域中のモード構造を変形させる。光を光量子格子内に制限するためには、コア92の有効指数が被覆層93及びバッファ層94より大きいことを確実にすることが必要である。被覆層及びコア層とも貫くホールのエッチングによって有効指数が同じ比率で減少することから、前記条件はコア/被覆層のインターフェースにおいて満たされるものである(図9a)。主要な問題は基板のバッファ層において生じる。二酸化ケイ素/窒化ケイ素の系では、最大空気充填部分体積が40%が限界であり、これがPBGの最大バンド幅を制限する。
最大空気充填部分体積は、空気空洞95によってバッファ層からエッチングされた導波路の領域を隔てることによって拡大することができる(図9b)。しかしながら、この方法は格子周期が数周期よりも多い物質系において構造的問題に関連するストレスを生じる場合がある。他の解決法としては、
Figure 0003905561
をオーバーエッチングすることであり、バッファ層を隔てることで最大空気充填部分体積は十分に拡大することができる(図9c)。ところが、この場合はコアと同じ比率で有効指数を減らすこととなる。
図10から図12は、操作の全モードでの窒化ケイ素の導波路構造体についての誘導モードプロファイルの例を示している。図中のパーセント表示は、全層中でのモード強度の割合を示している。減衰の概算値についても示している。図10で示されているプロファイルは、この構造では最も普通に用いられる操作モードであり、最大空気充填部分体積の限界に近いものである。モードの最大割合はバッファ層内にある。それによって、この窒化ケイ素構造体は両方の偏光状態について導波路モードを保持できるはずであると示している。この誘導モードは、光量子格子によって弱められ、また、これは可視スペクトル中にPBGの働きで明らかにされている。
図11は、全体として分離された導波路構造が非常に小さい空気ギャップでさえ十分に閉じ込めモードを得ることができることを示している。図10は、極端に損失のある導波路モードの生成を避けるためには、エッチングはバッファ領域内の相当な深さに延ばさなければならないことを示している。
実際としては、導波路デバイスは3つの分離したモノリス集積回路である、入力導波路、PBG領域及び出力導波路からなる。低損失伝送のためには、好ましくはPBG領域と入力及び出力導波路間の結合の強いモードであるべきで、境界では屈折率の変化は平均の範囲内にあることを記憶しておくべきである。
しかしながら、PBG領域内の境界では利用可能ないずれのモードでも光は結合し、2つの領域に大きなモードの重なりがある場合には、結合はもっとも能率的である(図13)。理想的には、導波路モードは誘電体インターフェースでPBG誘導モードに直接屈折させるべきである。後方反射もまた境界で生じ、損失を発生させる。重要な特定の波長についての入力及び出力導波路のモード角及びプロファイルは、PBGコア領域の相対的な厚さを減少又は増加させることによって微調整することができる。
ナノ構造体は、スペクトルの可視領域の633nmに中心を持つ、偏光依存性の光量子バンドギャップを形成している。上記の実施態様による構成のデバイスは、裸眼で、PBG構造体を通過して伝播していく光の振る舞いを観察することができる。
本発明の特定の態様によるデバイスは、単一モード窒化ケイ素導波路の被覆層及びコア層を通してプラズマエッチングされた空気空孔の三角格子を基本とするものである(図8)。この導波路は、熱的に成長した、1.8μmの厚さの二酸化ケイ素の基板バッファ層(n=1.46)、低圧化学気相吸着法(Low Pressure Chemical Vapour Deposition(LPCVD))によって積層された250nmの厚さの窒化ケイ素の導波路層(n=2.02)、及びLPCVD法により積層された薄い(75−180nm)二酸化ケイ素の被覆層とからなる。ウエハーは、コア/バッファのインターフェースを下方に延ばして作製するために直接書込み型電子ビームリソグラフィー及びプラズマエッチングによりパターン化される。ウエハーは、光テストのために最終的には単一のデバイス中に2つに分けている。
我々は、隣接する空孔間に狭いリブを形成しているレジスト壁は直径が大きくなるほど崩壊する傾向にあることから、サブミクロン間隔よりも非常に狭い空孔を作製することが十分に容易であることを見出した。直径が50〜120nmの範囲にある空孔は、標準のプロセスを用いて容易に作製できる。しかし、光量子バンドギャップを生成するためには、空気充填部分体積は20%を超えることが必要である。我々の解決法は、最初の等方性プラズマエッチングの後に、空孔の横展開ができるよう良好に制御されたプロセスを開発するものである。これは、最初の作成後の光量子バンドギャップの微調整を可能にする。
リソグラフィー及びプラズマエッチングプロセスを用いることによって空孔の展開を容易にするとともに、500nmを超える厚さの導波路構造体を貫通して直径が50〜200nmであり、間隔が260nmの良質の空孔を作製することを可能にする。さらに、空孔のプロファイルは、上記で論じた分離型導波路構造体を作製するために改変することができる。
図23は、導波路PBG構造を貫通する断面の走査型電子顕微鏡写真(SEM)である。これは、エッチングされた深さが475nmであって、260nm間隔の空気空孔の三角格子からなる。2つの乾式エッチングプロセス段階は、窒化ケイ素を貫いてエッチングするため、及び下側の二酸化ケイ素バッファ層を貫いて通路に分割するために用いられ、主要な導波路のコアの下側に屈折率を減少させたバッファ層を生成させている。空孔を半分降りたところには、空孔の直径に明瞭なステップ(150nmから75nmまで)があり、これはプロセスが代わったことによるものである。微小な直径の空孔にもかかわらず、どの部分でも壁は非常に等方的である。この構造は、図8に示されている状況(regime)下で操作される大きな空気充填部分のデバイスの始点を構成する。
最初のプラズマエッチングの後、空孔の直径は、物質特有(material-specific)湿式エッチングプロセスにより窒化ケイ素層でのみ拡大する。図15のSEM写真は、300nm間隔の三角格子構造を示している。この場合、窒化ケイ素層を半分貫いたところで乾式エッチングプロセスの切り替えが生じたものである。図15に明瞭に見られる直径のステップは、湿式エッチングプロセスにより丸くされ、空孔を先細にしている。薄い被覆層は、最上部の保護キャップとして置く。空孔の直径はバッファ層での30nmから始まって、窒化物層では115nmから173nmへと先細になり、被覆層では減少して95nmになる。
空孔の壁の等方性は、注意深いポスト−エッチングクリーニング及び乾燥と組み合わせた特別のプレ−エッチング下塗りプロセスにより非常に増強される。これは早く、均一なエッチングの開始と停止を確実なものにする。これが図16のSEM写真にみることができる。しかしながら、窒化物層にある空孔直径のステップ(250nmから175nmへ)は、最初のプラズマエッチングプロセスの変化によるものである。空孔直径は被覆層での120nmから始まる。
同様のプロセスが酸化物バッファ層にも適用されており、多孔性の窒化ケイ素導波路コアの下部を削り落とすことで所望の空孔直径が得られ、図9cに描写されたように空気空洞を生成している。あいにく、この種の構造は、非常にもろく、ある程度の格子周期が必要とされるときのもとの層の成長の間の熱サイクルにより誘導されたストレスによって崩壊することがある。これは、非常に多孔性の二酸化ケイ素のハニカムを生成することにより予防され、それによって多孔性の程度の少ない導波路を保持する。これは、二酸化ケイ素バッファ層中に狭い細管のエッチングされた部分を注意深く拡大することにより達成される(図14及び図16)。その最終結果が図17のSEM写真に示されている。二酸化ケイ素の被覆層は、多孔性の二酸化ケイ素バッファ層の上に置いている窒化ケイ素導波路コア(右下隅)を暴露するために取り去られている。空孔直径は、窒化ケイ素導波路コアで135nmであり、二酸化ケイ素バッファ層で250nmである。アンダーエッチングされたバッファ層では、空孔は驚くほど直線的な壁を有し、その品質は非常に良好である。
空孔の拡大プロセスの開発に用いられたテストサンプルは、導波路内に光量子バンドギャップが見えることを明らかにした。これは2730の空気空孔の列からなり、300nmの間隔の三角格子を構成し、導波路層の覆いを横切ってエッチングされた。空孔は直径200nmで空気充填部分体積はほぼ40%であった。ホールの形成にあたっては、光散乱及び末端効果を補償する必要がある。これは、各ホール及びホールの線について特定のクロック速度を結合することにより達成できる。ある場合には、レジスト露出の修正をするために、陽極から陰極への「レジスフリッピング(resist flipping)」をさけるように電子ビームの焦点をぼかすことが必要である。
特定の態様によるデバイスは、TE偏光及びTM偏光の両偏光状態について緑色光(545nm)の強い伝送を示す(図19a,b)。しかしながら、TM偏光光のビームトラックは、PBG領域の両側にはっきりと見え、さらに両偏光状態についての伝送の確認は、ウエハーの頂端での輝点(bright spot)によって得られる。これは現れ出たビームの位置を示す。
古典的観点から見て、最小の導波路の欠陥からのレーリー散乱によってさえ、短波長誘導モードは、しっかりと弱められものと予想される。この規模では、空気空孔は、全く塊状をなしている。632.8nmの伝送モードの偏光感応抑制と組み合わされる、数千の周期のホールを横切る緑色光の伝送は、赤色光中に光バンドギャップの存在することを示すものである。
PBG導波路の構造を決定する代わりの方法としては、平面波法を使用して光量子バンド構造について導波路境界条件を同時に解くことである。平面波法は格子を横切る多くのサンプル点でのマックスウェル方程式の厳密な解法を必要とすることから、その結果は完全なものであり、有効屈折率のあいまいな値には依存しない。
金属化された導波路のために、境界条件は、2つの導波路の境界では電場のx及びy成分が小さくなってゼロにならなければならず、その結果として、(波動ベクトルの伝播を保存するために)z成分は最大でなければならない。
x=Ey=0 両方の境界において(z=0,d) 式16
しかしながら、誘電体導波路のために、境界条件はわずかに異なる。この場合、被覆層及び基板のバッファ層を貫いている場(field)が消えていくものである。その結果として、全ての場の成分は境界を横断して連続していなければならない。それらは導波路コアの外部へ弱まって一定距離でゼロになるものである。
どの導波路についても一般境界条件は横位相一致条件により、以下のように表現できる。
Z=(mπ−φ)/d 式17
φは、導波路境界からの反射での相変化の和である。
mは、整数のモード数である。
Zは、導波路コア内で測定された、z方向に変えられて伝播している波動ベクトルの大きさである。
dは、導波路コアの厚さである。
図20に示されているように、これは、効果的に、導波路は、(導波路の厚さを横断する)導波路の横方向に整数のモード数が存在することを許容しなければならないことを明確にしている。
横位相一致条件を含む平面波法を変形するためには、これらが構造中の全点の場の成分を記載するもののうちの一つであるから、横位相一致条件を含むブロッホ展開項を変形(デカルト直交軸に沿って変形される)することが必要である。
一度、その結果が3次元固有システムを構成する方程式のファイナルセットへとゆっくりと流れると、(バンド構造を得るために解かれた)、必要とする全ては(that all we need do)、重要なモード数についての位相一致条件を満足するkZ値についてのバンド構造を計算することとわかっている。
もし、我々が固有システムを解き、得られた導波路の幾何学配置とモード数mとから3次元バンドダイアグラムを作図しようとする場合、分散曲線は自由空間波長の関数として伝播モードに一致する波動ベクトルの正確な解を示す。(単純な導波路構造と比較すると、周期的構造における得られた任意の波長でいくつかのモードをとり得るものとしている。これらは誘導されたブロッホモードとして知られている。)
分散曲線が、得られた波長における構造中の許容された波動伝播ベクトルの大きさ及び方向を示していることから、我々は、いずれの誘導ブロッホモードについての有効指数の正確な値を計算するために必要な全ての情報を持っている。さらに、もし、選択された波長での全ブロッホモードについて真の有効指数が知られている場合には、反射係数及び入力導波路とPBG領域間のインターフェースでの重複するモードは計算できる。
有効モード指数の計算において、自由空間伝播波動ベクトル及びPBG格子領域での伝播波動ベクトルはベクトル関係式により関係している。
k=kx+ky+kz=k0mode 式18
0は、自由空間伝播波動ベクトル定数である。
modeは、伝播波によって見られるPBG領域についての有効モード指数である。
微分をとると、
Figure 0003905561
ここでは従来の2次元光量子バンドダイアグラムを考えている。(図21)
これは、「面内」伝播波動ベクトル(kxy)のサンプルセットについての固有値問題を繰り返して解くことにより作図された。
ホスト構造体中の伝播波の波長のみならず、サンプルkベクトルは、構造体中の伝播波の方向に関係している(格子構造中の面の対称性に関係している。)。サンプルkベクトルの選択は、完全に任意であるが、慣習により、対称点の全てを包み込む還元されたブリルアンゾーンのセグメントの周辺にkベクトルをとっている。
特に、
A/λ=k0/2π
であり、y軸に沿ってプロットされた解は許される自由空間波動ベクトル(k0)の伝播モードに直接関係している。その有効モード指数を書くと、
Figure 0003905561
明示的にはA/λの項となる。
いずれのサンプルkベクトルの大きさを評価すること及び分散曲線により示される自由空間kベクトルの解によってkベクトルを分割することによって、いずれの及び全ての分散曲線上のいずれの及び全てのサンプル点と一致する有効モード指数を評価することができる。
被覆層の屈折率より小さい有効指数を有するモードは、取り囲む媒体で失われることとなる。これらは放射モードとして知られている。基板バッファ層の屈折率(that)より小さい有効指数を有するモードは、基板に漏れ、そこでもまた失われることとなる。これらは基板モードとして知られている。
PBG構造における誘導モードの群速度(νg)は、有効モード指数及び自由空間波長(λ)の知見から以下の式を用いて計算することができる。
Figure 0003905561
c=真空中の光速
群速度は、波長に関する有効モード指数の傾きに依存している。これは、それぞれの分散曲線上に順にそれぞれの及び全てのkベクトルサンプル点と結合させた有効モード指数を評価することにより計算できる。結合された分散曲線により示された波長と結合したこれらのデータを使うことによって、有効モード指数を誘導モード波長の関数として表すように作図できる。必要とされる傾きは、主要なサンプル点についてのこれらの曲線の傾きから直接に得られる。
代わりとしては、
Figure 0003905561
これは、伝播波の群速度が、分散曲線の傾きに直接関係していることを示している(バンドダイアグラムにプロットされている。)。分散曲線上のそれぞれのサンプル点は、それ(サンプル点)と結合された特定の群速度を有している。それゆえに、PBG構造中を伝送される伝播モードの速度を、入力導波路とPBG領域との間のモード結合を制御することによって選択する。
例えば、入力導波路とPBG領域との間の境界が正しく設計されるのであれば、入力導波路内を伝わる光は、分散曲線上の屈曲点に置かれたkベクトルを有する誘導ブロッホモードと結合する。この場合、伝播波の群速度はゼロとなり、定常波は構造中に形成される。分散曲線上に屈曲点からわずかにはなれているブロッホモードに結合をする場合、波は非常に小さい群速度で構造中を伝播する。最後にkベクトルが分散曲線が最も急な傾きとなる点にある誘導ブロッホモードに結合する場合には、伝播波は最大速度で伝播する。この場合、PBG構造を「減速」又は光トラップのために用いることができる。
代わりになるものとしては、PBG構造中の伝播波の方向を変えることによって、伝播の速度と構造中の伝播波の波長の両方を変えることができる。これは、光遅延線の基本をなすものである。
PBG導波路構造中の伝播波の波長は、誘導モード指数及び自由空間モード波長の知見(分散曲線により示される)から以下の関係を用いて計算することができる。
Figure 0003905561
代わりになるものとしては、PBG物質中の伝播波ベクトルの大きさから見出すことができる。
Figure 0003905561
一定の条件下、連続した空孔の配列は、強く回折する面を構成する伝播波によって見られる。回折効果は、クロスポート・マルチプレクサーに利用されている並列ビーム分離を起こす。
構造中の伝播波の波長の知見のために、回折現象(第一次又は第二次の並列ビーム分離として)はブラッグ回折条件を適用できるかどうかによって観測される。
mλPBG=2Λsin(φd−φi
mは、回折の次数を示す整数である。
Λは、連続した回折面間の面間隔である。
φdは、回折面の法線に関して測定された回折角である。
φiは、回折面の法線に関して測定された入射角である。
従来の(1次元の)回折格子では、回折次数mは回折されたビーム数として直接に決定できる。例えば、m=0の場合(回折次数ゼロ)、単一のビームがあるものである。しかしながら、2次元格子構造においては、格子の対称面の数と対応する回折次数それぞれについて複数のビームの組があるものといえる。6倍(6-fold)の対称性を有する三角格子の場合には、それぞれの回折次数について6つのビームの組を生じることができる。
回折されたビームの方向は、物質中の波長の知見とブラッグ条件を用いて計算することができる。回折されたビームが格子中の異なる有効指数を持つ他のブロッホモードと結合する場合があることに言及すべきである。
金属で被覆されたPBGを含む導波路中の誘導ブロッホモードの解法及び対応する有効指数のために、第一の目的は、特定の導波路モード及び偏光状態について、「面内」波動ベクトル(kxy)の関数として誘導ブロッホモードの波長を表す正確な2次元バンドダイアグラムを構成することである。
金属で被覆された導波路については(マイクロ波の導管としてなど)、横位相一致条件は以下で与えられる。
z=mπ/d
mは、モード数である。
dは、導波路の厚さである。
これは、kxy及びk0に依存しない単純な関数である。従って、面内の全てのkベクトルサンプル点についてkz値一つを用いて必要とされるバンドダイアグラムを作図することができる。
重要な特定波長での誘導モード解は、水平方向の波長線と分散曲線の交差点により示される。例としては、窒化ケイ素PBG導波路での誘導モードのバンドダイアグラム上で545nmと633nmで示されている(図22)。任意の波長又は偏光状態について、いくつかの誘導ブロッホモード(波長線と交差する分散曲線の数と対応する)をとることができる。
誘導モードの有効指数を評価するためには、バンドダイアグラムに示されているより多くの情報が必要とされる。交差点に対応する「面内」波動ベクトルを見つけることによって、バンド構造計算をわずかに異なるkz値を用いて繰り返されなければならない。事実上、これは3次元分散表面の非常に小さい部分を形成するにすぎない。分散表面の傾きは有効モード指数を与える。
PBGを含む誘電体導波路中の誘導ブロッホモードの解と有効モード指数のた
めに、横位相一致条件は位相項に依存する偏光を含むこととなる。これは、基板バッファと被覆層との短い距離を貫いている波動はつかのまのものであることを反映している。
z=(mπ−φ)/d 式23
φは、2っの導波路の境界からの反射での位相変化の和である。
mは、モード数である。
dは、コアの厚さである。
位相項φは、伝播波ベクトル成分kxyとkzの項で整理することができる。
Figure 0003905561
clad/buffは、バッファ層又は被覆層のいずれか適当な方の屈折率である。PBGデバイスが有限の厚みを持つ場合、それぞれの伝播波動ベクトル(ブロッホ波動ベクトル)は、3次元(例えばk=kx+ky+kz)でなければならない。特別のケース(金属で被覆された導波路のような場合)では、解の全ては波長に関係ない同じkz値をとることとなる。従来のバンドダイアグラムをプロットする場合、kxとkyのベクトル成分は、ブリルアンゾーンの対称点間の「面内」kベクトル回路に明確にされて選択していることにより、グラフ軸の一つに詰めこまれている。これは単一の、より一般的な、一つの軸に沿ってプロットされる結合された波動ベクトルkxyを生じさせる。
3次元解析を行なうためには、分散関係を2次元曲線よりむしろ3次元表面としてみなすことが適している。kz依存性は、新しい軸にそれをマッピングすることにより保存される。kxとkyの波動ベクトル成分は、以前のように単一の軸(kxy)に詰めこまれる。
要求されているkz値の組を見つけるためには、kxyとkzについてのサンプル値の2次元グリッドを超える固有値問題を最初に評価しなければならない。これは、従来のバンドダイアグラム上に普通にプロットされた2次元分散曲線に対抗するものとして3次元分散表面の組として効果的に構成する。位相項によって陥る最大の偏差が−πであることから、サンプルkzを範囲外にすることが分別あることである。
Figure 0003905561
それぞれの分散表面上のそれぞれのサンプル点は、特定の有効モード指数を持ち、モード数が下記式を用いて計算することができる。横の位相一致条件を再整理することにより、モード数は以下のように計算される。
m=(kzd+φ)/π
これによって、それぞれ特定の分散表面に関係する3次元モード数の表面の組を有効に作図することができる。整数のモード数と対応する正確なkz値は、多項式展開を用いてモード表面データを補間することによってそれぞれのkxyサンプル点について順に見つけることができる。
一度正確なkz値が見つかれば、それぞれのkxyサンプル点に対応する正確な有効モード指数は、同様な方法で同じkz値の有効モード指数を補間することにより見つけることができる。
初期のサンプルグリッドの解及び多項式展開の次数への依存によって、誘導ブロッホモード及び対応する有効モード指数についての非常に正確な解を得ることができる。
しかしながら、誘導モードは、PBG構造によって保持されるものであるから、入力導波路から直接そこに(PBG構造体に)光を連結することができるようにする必要がある。入力導波路とPBG構造体との間の境界には、2つの領域間のモード不一致による一定の損失がある。境界では有効モード指数の変化のために後方反射もまた存在する。後方反射及び伝送係数は、この場合の下記のフレネルの式を用いて計算することができる。
Figure 0003905561
θwg=導波路モード角(導波路境界の法線に関して測定される)
θPBG=PBG領域でのブロッホモード角(導波路境界の法線に関して測定される)
PBG構造体中の誘導ブロッホモード角は以下で得られる。
Figure 0003905561
入力導波路モード角φwgは、入力導波路への横位相一致条件を適用すること、及びモード数の関数として解くこと、及び波長と偏光状態により見つけることができる。これは、以下のように記述でき、
mπ=(kzd−φclad−φbuff
d=導波路コアの厚み
m=モード数
zの代わりとして、波長の関数として再整理すると、位相条件は以下のように書けて、
Figure 0003905561
ここで、位相項φbuffとφcladは、以下で与えられ、
Figure 0003905561
適した偏光状態のために、適したnclad/buffの値を用いている。
以下に計算に関する手順の要約を掲げる。
1)計算問題への最良の実践的アプローチは、選択された導波路モードについて、基本的な境界条件を満足するために要求されるものに近いkz値の範囲についての平面波の解を含む3次元表面マップを生成することである。それぞれの分散バンドに関して一の分散表面マップが存在する。
2)サンプルkベクトル及び固有値解により得られる自由空間kベクトルk0の大きさを評価すること、及び一方を他方で割ることによって、有効モード指数が得られる。
3)ステップ2により計算されたそれぞれの分散表面についての有効モード指数の適切な値を用いることによって、モード数のマップをそれぞれのサンプル点についての横位相一致条件を解くことによりkxy及びkzの関数として一般化することができる。それぞれの偏光状態について分離モード指数マップが存在する。
4)それぞれの分散表面について適するモード数マップが走査されて、それにより、順にそれぞれのkxyサンプルを取得し、選択されたモード数に最も近いモード数を探している。これは、選択されたモード数の両側に2つの最も近いkz値を返してくる。多項式展開がサンプル点の範囲を超えて曲線を記述することから、それによって、いずれか一方の知られている解の点は作図される。整数モード数についての正確なkz値は、多項式を解くことにより得られる。これにより、それぞれの「面内」kベクトルサンプル点(kxy)と対応するkzの新しい値の正確なリストが作図される。それぞれの分散バンドについて一のリストが存在する。
5a)ここで2つの選択肢がある。やや正確さに劣る結果を得るものとしては、(ステップ1で計算した)分散表面に戻り、それぞれの面内kベクトルサンプル点及び分散曲線の順について、kzによりアドレスされた点に波長の解を外挿することができる。
5b)代わりのものとしては(また、より正確に)、光量子バンド構造は、それぞれの「面内」kベクトルサンプル点及び分散曲線について計算された新しい正確なkz値を用いることによって再計算することができる。全体のバンド構造は重要な各分散曲線について2回再計算しなければならないため、これはまったく長大なプロセスとなる。
6)最終波長値を用いることによって、従来の2次元光量子バンドダイアグラムがプロットできる。これによって、選択された導波路モード、及び選択された「面内」サンプル波動ベクトルkxyに対応する誘導ブロッホモードの正確な波長を表すことができる。バンドギャップの正確な位置は、重要な特定波長での正確な面内ブロッホモードとして、このダイアグラムから読み取ることができる。
7)新たに訂正された分散曲線上での全サンプル点に対応する最終の有効モード指数は、それぞれの「面内」kベクトルサンプル点及び分散曲線について計算された正確なkz値へ有効モード指数を外挿することによって計算できる。
8)入力導波路中の誘導モード波長は、モード角の関数として評価される。
9)入力導波路とPBG領域間の境界での反射及び伝送係数は、有効モード指数表及び誘導ブロッホモード角を用いることによって計算される。
10)入力導波路及びPBG導波路領域中のモードプロファイルは、2つの領域間に重なるモードによって計算され、理解されている。
厚い二酸化ケイ素バッファ層、250nmの窒化ケイ素コアと厚いシリコーン被覆層とからなる導波路構造体についてシミュレーションが行なわれた。バンド構造が平面波法を用いて計算され、それによって、25の格子点のグリッドを超える固有値システムを評価した。図50は、40の分散バンドに対応する3次元表面のプロットである。kzサンプルベクトルの範囲は、モード数の範囲0→2(例えば、0=モード0、5=モード1)に対応するように選択された。図51は、40の分散表面に対応する3次元有効モード指数表面である。有効モード指数値は、ncoreと0との範囲にあることを特筆しておく。nclad又はnbuffより小さい値のモードは、PBG領域での損失のある放射モード又は基板モードに対応している。図52aは、TM位相角マップであり、図52bは、第一分散表面に対応するTE位相角マップである。図53a及び図53bは、TM及びTEモード数マップである。図54は、それぞれのkベクトルサンプル点と結合されたモード角である(全分散表面について同じ。)。図55は、モード角の関数としての、入力導波路セクションでの誘導モードの波長である。点線はTMモードを表し、実線はTEモードを表している。図56は、導波路モード1についてのバンドダイアグラムであり、図57は、伝送係数に一致する。
本発明の特定の実施態様によるフェースプレートの組立ては、深いホールを作製する方法の例としてここに詳述している。
図23を参照すると、基板10は、3〜5Ωcmのn型<100>方向シリコンウエハからなる。ホールは基板10中に形成される。薄い酸化物層12は、乾燥酸素雰囲気下で、ウエハを酸化することによって基板10に成長させることができる。表面層12は、フォトレジスト14で被覆される。フォトレジスト層14は、この分野における当業者によく知られており、上述の前文中で引用した参考文献中でレーマン(Lehmann)が説明している直接書き込み型の電子ビームリソグラフィーを用いて規則正しい格子パターンとしてパターンされる。フォトレジスト層14は、現像され、その後オーブン(図示せず)中でしっかりと焼かれ、表面の格子点について円形の窓16状に残している。二酸化ケイ素18としてさらされているシリコンの表面は、全体をパターン化した二酸化ケイ素マスクを残すために、プラズマエッチング及びフォトレジスト除去によって取り去られる。ピラミッド状のくぼみ20は水酸化カリウム(KOH)エッチングにシリコン窓をさらすことによって生成する。弗化水素酸(HF)の弱いエタノール溶液は、陽極酸化処理プロセスのために電解液として用いられる。エタノールは、湿潤剤として働く。
陽極酸化処理によって形成される深い大きな空孔の例が図23に説明されている。透明性のために、これは相対的に大きな規模の構造となるが、ホールの配列は、200nmのオーダーの直径が維持される限り、150μmを超えた深さに成長する。
陽極酸化処理後、光量子バンド構造体の利用のために、マイクロ構造を形成するために、酸化と酸化物除去とを繰り返して行なうことによってホールを大きくすることができる。
マクロ空孔構造体が繰り返し酸化を受けると、ホールはいつかは隣のホールと通じて壊れてしまい、ホール間の角のサイトにある独立のシリコンの柱がそのまま残ることとなる。柱の直径は、さらに酸化されると独立して立っている量子線の配列を形成するように減少する。このプロセスを用いることによって、150nm程度の直径に達することができる。
非常に小さい格子サイズ及び光バンドギャップを生成するために必要とされるエアホールの比較的巨大な深さのため、これまでスペクトルの近赤外領域(NIR)又は中赤外領域(MIR)での光量子バンド構造体を作成することが非常に困難であることがわかっていた。本発明の一の実施の態様において、光支援陽極エッチングプロセス(photo-assisted anodic etching process)は、シリコン中の空気ロッドの0.81μmの三角格子を基準とする2次元・中赤外光量子結晶の作製に適用される。45%の空気充填部分と見積もられる40μmの深さに成長させたデバイスの「透過面」の伝送特性は、特別にパーキン−エルマーが改良したフーリエ変換赤外分光計(Perkin-Elmer Fourier Transform Infra-Red(FTIR)spectrometer)を測定に用いて、広いスペクトル領域及び波動伝播の種々の角度についてテストされた。
PBGサンプルは、回転ステージ上に置かれ、FTIR分光計からの光が鏡及び微細な目標への反射を利用して、回転軸上のサンプル表面に合焦される。伝送された光の一部は、As23(三硫化二砒素)のファイバーによって集光され、分光計へ戻される。ファイバーは、通常はない直径150μmの大きなコアであった。ファイバーの他端から現われる光は、放物面鏡で反射されて、FTIR分光計中のカドミウム-水銀−テルル(CMT)検出器上に合焦される。
「透過面」の伝送特性は、広いスペクトル範囲にわたって、構造の面に関して外部からの種々の入射角について、測定された。スペクトル測定は、各測定角について、ファイバーの接続及びシリコン基板の吸着バンド効果を除去したブランクのシリコンスペクトルを対照としてされた。この特定のサンプルについて、光量子バンドギャップは、通常の入射につなぐことにより見出され、それによって、このスペクトルは希薄化のレベルを測定するために参照として用いられる(図7)。インターフェースでの屈折のため、及びデバイスの屈折率の減少を考慮して、60°の大きな外部角の検査範囲が14°の内部角範囲に対応していることを特筆しておきたい。ファイバー接続中の吸着バンドは、ノイズ・スパイクとしてスペクトル上に現われ、最大のものは2500cmのところに現われる。
PBG構造体では、1500からおよそ4800cm-1(2μm〜6.7μm)の範囲に強い減衰を生じ、入射角が格子面の法線から離れて動くにつれて、減衰レベルは、ほとんど直線的に増加した。
スペクトルと理論的に予言された「面内」バンドダイアグラム(プリアル(Plial)らによる((M.Plial,A.A.Maradudin,Physical Review B,44,8565,(1991))255の平面波を用いて平面波法により計算された)とを比較すると、2つの間には良好な一致が得られた。しかしながら、検出されたバンドギャップは、バンドダイアグラムによって示されるより低い波数にまで延びている。現在の光学機器が現実に平行でない光をデバイス中へ発射して同時に格子面内の全ての波動伝播モードを励起していることから、バンドギャップの平均は、事実上、格子面内への波動伝播のすべての角について測定される。そのため、検出されたバンド端を、より低い2つのバンドの平均波数と同等とみなしている。「平均的」なバンドギャップは、1752cm-1から4760cm-1まで延びている。検出されたバンドギャップは1500〜4800cm-1に延びている。スペクトルノイズによる低い方のバンド端の不明確さを記憶に留めておくことによって、観測と予測によるバンド端の間に非常に良好な一致が見られる。
慣例的に、マイクロチャネルプレート(microchannel plates)は、ガラスキャピラリーチューブの束を重ねて形成されており、それによって、結果として格子間隔を数μmにまで減らすように作製する。チューブは光電子放出性(photo-emissive)の物質で被覆される。製造過程は、非常に集約的な労働であり、(最終的な格子間隔で決定される)最大の分解能は、キャピラリーチューブの崩壊を招くことなく、また、外部積層欠陥を導くことなくファイバーの束を形成することの技術的困難性により制限される。また、これらの問題は、マイクロチャネルプレートの最大直径を制限する。現存するこれらのプレートの大きさは、典型的には7mmまでの格子間隔に制限され、全体の直径は2cmまでとなる。
マイクロチャネルプレートは、図23に関して略述されている過程の変形を用いて有利に作製することができる。前記のようなプレートを含むイメージ増幅装置は、図24に線図的に描写されている。これは、上述の方法を適用して物OからマイクロチャネルプレートMPの一方の面S1上に放射線を投射するように位置どりされたレンズLを含んでいる。電位差が他方の表面S2に関して与えられると、それによって、電子が燐光性のスクリーンS上に当ることとなる。本発明の特定の実施態様と対応するデバイスは、改良された分解能(500nmまであるいはさらに下がった格子間隔が作られている)を有効に提供しており、しかも安価で作製が容易であって、任意の全体直径をとることができ、10cm単位であり、半導体基板の作製に用いられるウエハの直径によってのみ制限される。
本発明の特定の態様による場合には、マイクロチャネルプレートは、n−ドープ型の低抵抗(3−5Ωcm)の<100>シリコンウエハからなる初期基板を用いて構成されている。基板は酸化されて、200nmの厚さのマスク層を生成している。(代わりの態様としては、窒化ケイ素のマスク層が、LPCVD法により形成できる。)レジストは、マスク層の上に展開され、要求される格子パターンを作るために直接書き込み型電子ビームリソグラフィーにより感光される。このレジストは、現像され、強く焼かれ、格子点に丸い窓を作られた。窓は、任意のサイズとすることができ、最終的に要求される空孔の直径より小さいものが提供された。ウエハは、乾式エッチングされ、レジストは取り除かれて全てのパターンされた酸化物(又は窒化物)マスク層はそのままにされた。水酸化カリウム・エッチングは、保護されていない酸化物窓のサイトにピラミッド状のくぼみを形成する。
陽極エッチングプロセスの用意のために、オーム定数が、ガリウム−インジウム共晶混合物を用いてウエハの裏面で測定される。空孔は陽極エッチングにより必要な深さ(又は全くウエハを貫くくらいに)まで成長させる。デバイスは、乾燥酸素雰囲気下で酸化され、酸化物は、弗化水素酸中で除去され、それによって空孔の直径は増加する。要求される空孔直径を得るためにこれらのステージは繰り返される。最後の酸化層は除去されず、高い絶縁被覆のままにしておく。
ウエハは、水酸化カリウムを用いて裏面から貫いてエッチングでき、裏面に抜ける空孔を作製して、その後、ウエハは再度酸化されて裏面上に絶縁層を形成する。
デバイスは、光電子放出性の物質で被覆され、金属(例えば、アルミニウムなど)をマスクを通して蒸着させて、表面及び裏面に電気的接点が作製される。
マイクロチャネル内のそれぞれのチューブは、フォト−マルチプライヤーとして働く。レンズによってチューブに導かれたフォトンは、光電子放出性被覆内で多数の電子の放出を生じさせる。これらの電子は、チューブを降りて伝播し、スクリーン上に見えるシンチレーションを生じさせる燐光性スクリーンへと達する。かすかに照らされた物の増幅されたイメージが、スクリーン上に現われる。
種々の因子が光量子バンドギャップの特性に影響を及ぼす。これらには、格子形状、誘電体定数、空孔半径、波の偏光状態を含んでいる。三角格子は最も広いバンドギャップを提供し、また、TE及びTM偏光波の両方について同時にフルのPBGを生成する可能性を与える。しかし、TM偏光したバンドギャップを生成するためには、大きな誘電体定数が必要とされる。このため、シリコン、ゲルマニウム、ガリウム−砒素等の半導体物質は、PBG体の形成のために今まで自然な選択がされていた。しかし、これらの物質は近赤外域(NIR)では透明になる。相対的に低指数の物質(窒化ケイ素)から導波路デバイスを作製したところ、可視光には透明であるが、TE偏光バンドギャップのみを支持することができるものであった。
PBGの一つの応用としては、LEDやレーザーなどの活性な光電素子で自発的な発光を制御するものである。この用途のためには、単一の狭いバンド幅のレーザーモード中に全ての放射を向ける3次元PBGを生成することが好ましい。ほとんどの微小空洞(micro-cavities)は、同数のTE及びTM偏光モードを支持するので、共に弱められ、それによって、他の力が変化を受けていない偏光状態に単純に向けなおされ、また、レーザー効率においてはほとんど改良が見られない。しかし、偏光の選択性は、多くの受動的用途には有利なものである。例えば、光コミュニケーションの容量は、全ての切り替え要素における偏光選択性を組み合わせることによって倍にすることができる。また、偏光選択性は、光電集積回路(IOEC)の集積度の増加を可能にする。それはまた、診断用ツールとしても有用である。TM偏光をコントロールに用いた場合、誘導モードの抑制等の通常でない光学的振る舞いは、散乱や回折のようなより一般的な光学的効果よりむしろPBGに起因すると考えることができる。
また、多くの実際の用途では、ストップバンドから離れた波長において、低損失伝送が要求される。
図25に記述されている態様では、いくつかの空気空孔の配列は三角格子状に配置され、酸化物保護層121を通してプラズマエッチングされ、シリコン基板124の上にある二酸化ケイ素バッファ層123の上に導波路構造体である窒化ケイ素コア122が形成される。格子間隔は、300nm又は260nmであった。光は、導波路及び検討された格子領域の伝送特性にエンド−ファイア(end-fire)に結合された。デバイスの設計においては、バンドギャップのいずれかの側の波長における誘導ブロッホモードの存在を確実にするために、3次元平面波解析法を従来の導波路理論と組み合わせて用いた。
導波路は、熱的に成長させた、厚さ1.8μmの二酸化ケイ素基板バッファ層(n=1.46)、厚さ250nmの窒化ケイ素コア(n=2.02)、厚さ75nmの二酸化ケイ素被覆層とからなる。コアと被覆層は、いずれも低圧化学気相吸着法(LPCVD)により積層された。ウエハは、UVIIIレジストを用いて直接書き込み型電子ビームリソグラフィーによりパターンされ、その後、幅の狭い等方性の空孔の生成のためにプラズマエッチングされた(図1)。意外にも、間隔が260nmの三角格子状に直径50〜120nmの非常に微細な空孔を配置したものは、リソグラフィーのみを制御することによって作製することができる。しかし、これは大きな光量子バンドギャップを無理なく作製するにはまだ小さすぎるものである。直接書き込み法により幅広の空孔を作製すると、レジスト中の表面張力によって現像におけるパターンの削除が生じる。
この課題の解決法は、最初に非常に幅の狭い空孔をエッチングし、その後、窒化物選択エッチングを用いて窒化物コア層中の空孔を拡張することである。これはまた、最初の作製後の光量子バンドギャップの微調整を可能にする(図26)。
従来の回折格子とは違って、空孔の寸法は、ストップバンドに近い波長に限界のあるレーリー解より小さく、伝播波については正確には解けない。したがって、平均指数アプローチが、一般的な導波路特性の良好な近似を得るために用いられる。従来の導波路では、光は、低指数誘電体に囲まれた高指数誘電体内部に全内部反射によって留められている。バンドギャップ外の波長でのPBG領域を横切って伝送させるためには、コアの有効指数は、被覆層及びバッファ層のそれよりも大きく維持しなければならない。これは空孔の半径を制限し、順に、空気充填部分(f)及びPBGのバンド幅を制限する。一つの解は、基板バッファ層中にホールを深くエッチングすることである。これは、全導波路層の有効指数を同じ比で減少させ、それによって、大きな空孔直径のために制限されたモードを維持することとなる。この構造は、酸化物バッファ層中に部分エッチングされた幅の狭いキャピラリーチューブを選択的に拡張することによって作製される。注意深い制御によって、PBG格子を良好に支持する非常に多孔質性の二酸化ケイ素ハニカムが作製できる。
代わりのものとしては、導波路コアは、格子領域以下に空気空洞を形成するために完全に下部を切り落とすことができる。これによって、完全に等方性であって、最密充填の空孔についてさえ誘導モードを支持する橋の導波路構造を作製できる(SEM3図27)。このデバイスは、PBG格子の両側に同一の媒体を持つという主要な利点がある。しかし、橋の導波路構造体は数回以上の格子周期に対しても非常にもろくなりうる。我々は、20を超える格子周期で、空気充填部分が60%のデバイスを作製することに成功した。
2730の空気空孔(半径200nm)の列からなり、空気充填部分40%で、三角格子(間隔300nm)に配置され、単一モード窒化ケイ素導波路(コア厚さ250nm)を横切る細片として書きこまれたデバイスは、スペクトルの可視領域のバンドギャップに依存する偏光の存在を説明する。図28の写真は、このデバイスを上方から見たものを示している。ヘリウム−ネオンレーザー(632.8nm)からの赤色光は、デバイス中でエンドファイア結合し、PBG細片へ垂直に入射し、T−J格子対称軸に沿って伝播していく。
光路は、導波路中の微小散乱により明らかにされる。TM偏光赤色光が単一ビームとして強く伝送する(図28)一方、TE偏光赤色光がデバイスにより完全にブロックされている(図29)ことが明らかである。図30及び図31は、緑色光についての同様な写真である。TE偏光は、導波路の外に垂直に散乱されるか、又は入射ビーム路に沿って後方反射されるかのいずれかとなる。上記散乱は可視性を強めるものではない。ヘリウム−ネオンレーザー源を色調整可能なレーザーに置換することによって、低バンド端の620nmを説明することができる。強い単一ビームの伝送は、575nm以下に調整可能な範囲の残りを超えて維持され、それによって、散乱が効果(effect)に対する原因ではないことを明らかにした。
数千の格子周期を横切る強い単一ビーム伝送が図28〜図31に観測されているが、周期回数が減少する場合、それに対応するように異常なビーム分離効果が生じている。60のエアホール(半径150nm)の列が間隔260nmの三角格子に配置され、空気充填部分26%であるデバイスが前記効果をほぼ明瞭に示している。図32は、光が上部からこのデバイスを通過する様子を示している。ウエハの湾曲した端は右にあり、PBGストリップは2つの正方形マーカーブロックで仕切られている写真の頂部から底部へ行く。レーザーは、顕微鏡観察の目的で割られた導波路の一面に合焦され、T−J対称方向に沿って光を放射する(図33、図34)。
図32の写真は、632.8nm(バンドギャップの上端の上)にあるTE偏光赤色光のPBG構造体を横切る場合の振る舞いを示している。デバイスへの入射において、入射ビームは6つのビームに分離される。3つのビームはデバイスを横切って伝送され、2つのビームは410で(PBGストリップに関して測定される)後方へ反射され、3番目のビームは入力ビームの経路に沿って後方に反射される。後方反射ビームの軌道の観測は、一のビームがウエハの端からデバイス後方に反射され、再び6つのビームに分離されることを示している。光を他のビーム経路のいずれかの方向に正確に放射したとしても、同じパターンが得られる。この結果は、格子対称面からの0次の2次元回折によるものである。
594nmにある黄色光は、デバイスにより完全にブロックされており、2組の後方反射ビームが存在する。545nmにある緑色光については、振る舞いが低いバンド端以下でさえ異常なものである(図35の写真)。2組の後方反射ビームが存在するが、ただ一つの伝送されたビームが存在するのみである。微調整可能な着色レーザーを用いると、バンド端の上端が607nmであることが観測された。バンドギャップが維持されている微調整可能な範囲の575nmの下に伸び、それによって、低バンド端は545〜575nmnの範囲に見積もられる。TM偏光は、全体の調整範囲を超える単一ビームの伝送を与えた。格子周期を30まで減少させると、後方反射ビームの強度が増加したが、伝送されたビームは著しく減衰してしまう。格子周期を20以下にしたときには、バンドギャップはほとんど消失してしまうが、ビームの分離は依然として観測される。
図28に同様に示されているデバイスは、幅広バンドの偏光の選択を説明する。デバイスはある角度にセットされ、入力ビームがウエハの端の右であるPBGストリップの終端の近くに入射される。TM偏光緑色光は、はっきりとPBGによってウエハの外へ屈折され(図36)るが、TE偏光緑色光はPBGによって後方に反射され、割られたウエハの端からほとんど後方に入力ビームの経路に沿って反射される。これは、632.8nmを超えて可視スペクトルに働いている幅広バンド効果によるものである。これにより、集積光学の偏光選択因子として、PBGのために新しい受動的用途を説明することができる。
注意深くデザインされた三角格子をベースとするPBGデバイスは、バンドギャップから離れた波長に効果的に単一ビームの伝送を与えることができる。狭いパスバンドデバイスは、規則的な格子中に導入した欠陥によっても作製することができる。これによって、バンドギャップ波長幅の中に非常に狭い欠陥モードを作製できる効果がある。わずかに異なって調整されたそれぞれのモードを有するPBGデバイスの配列は、WDMコミュニケーションのために、モノリス的に集積されたデマルチプレクサーの基礎を形成することができた。
格子周期を減らすことによって、入力ビームを長波長域にわたっていくつかの出力ビームに分離することができるPBGデバイスが設計できる。この効果が2次元の0次回折に起因すると考えられることから、出力ビームの数は格子対称面の数に依存することとなる。いくつかの構造をカスケード接続することによって新規な型の双方向マルチプレクサーが構成できる。さらに、欠陥モードをデバイス中に組み込むことによって、狭いバンド波長の選択的交換接続ポートが作製できる。バンドギャップに依存する偏光性は、集積光学偏光セレクターとして働くPBGデバイスを作製するために利用される。
図37は、格子構造中に導入した欠陥によって必要とされる周波数特性を生み出す原理を説明している。図37aは、三角充填配置としたホール130の配列としてPBG格子を示している。図37cのように、より大きなサイズのホール132がギャップの代用をしているのに対して、図37bでは、ホールは格子中に放置されているギャップ131を確実に外れている。
図38は、ホール列の間隔が次第に増加している配列を示す。間隔dは、列から列へ線形的に増加する。そのような配置は、波長分離マルチプレクサーに組み込むことができる(図39)。入力放射線ガイド135からWDM134により分離され分離出力ガイド136を通過する放射線についての集積光学素子の形成を図的に説明している。図40aから図40cは、これらの部品がネットワーク用途に組み込まれた他の態様を示している。
周波数依存する2つの光学部品の構成が図41a及び図41bに図示されている。図41aは、格子130中のギャップ131が光を屈曲部をまわっていくようにした90°屈曲部を示し、一方、図41bは、Y型分岐部を示している。図42aから図42dは、異なるPBG構造体のフィルターの周波数特性を示している。図42aと図42bの配置」は、それぞれ低パスフィルター及び高パスフィルターを得るために特性周波数f0以上又は以下に配置された幅広ストップバンド140を有する。欠陥モード142が狭いパスバンドを与えるのに対し、千鳥足形ギャップ配置(staggered gap arrangement)は、狭いストップバンド141を与える。上限及び下限バンド端は、143及び144で示される。
エネルギーバンドギャップの端にあるフォトンは、PBG構造体を通過する速度が相当に減少させられているようである(バンドギャップ中でそれ自体が止まっており、定常波となっている)。(情報を搬送しながら)伝送されるフォトンエネルギーに近いPBG領域を構成することにより、フォトン束は減速させられる。これによって、データの信号処理をより合理的な時間内で行なうことができる(正確には、遅延線が電気的信号処理に用いられるのと同様な方法である)。
「面内」の光量子バンドギャップの偏光依存は、3次元に延びている。計算に関する限りTE及びTM偏光状態は混合されるにもかかわらず、「3次元」のバンドギャップ中のそれぞれの分散曲線は、特定の偏光状態と堅固に結合することができる。さらに、この原理を拡張することによって、バンドギャップの3次元偏光依存性によって低屈折率の物質を作製するために有効なTE偏光バンドギャップを可能なものとすることができる。
結合している光導波路の場合には、異なる屈折率を持つ媒体間でのインターフェースにおいて後方反射による損失の要素がある。後方反射のレベルは、2つの媒体間の屈折率の割合に比例する。高屈折率が光量子バンドギャップに起因すると考えられるため、入力面(input face)での入射波の重要な後方反射が存在する。実際の後方反射のレベルは、PBG構造の誘導ブロッホモードの有効モード指数に依存するであろう。この課題を解決する一つの方法は、導波路と光量子バンドギャップ構造体との間の境界に近い有効モード指数について、PBG構造中に伝播しているブロッホモードの波長より非常に小さい直径を有するホールの組を導入することによって傾きを減らすことである。これによって、伝播波について減少した屈折率を示す領域を作製することができる。
図43では、入力波1は、導波路Wに入り、一部が異なる屈折率を有する領域Rによって反射される。放射線Tの残部は伝送される。図44aは、主な光量子バンドギャップ領域のPBGが同一サイズの空洞空孔441の均一に構成されたものである実施態様の一つを説明している。この領域の境界において、次第にサイズが小さくなる空孔442は、主なバンドギャップ構造と対応する格子点を占めている。代わりの態様において(図44b)、空孔443と釣り合うこれらの指数はさらに小さいが、バンドギャップ領域からの距離が大きくなるにつれて平均サイズ及び充填密度は減少する。
エッジ効果を補償するため及び他の光伝送特性を提供するためには、時にはPBG格子中に、異なるサイズで異なる配置にホールを提供することが好ましい。
図45は、空孔半径が全格子にわたって均一な空孔半径を与えるように導波路端で調整されている分離された導波路セクションを示しているSEM写真である。SEM写真の頂部で均一に輝いている長方形の特徴は、PBGデバイスに光を導く台地状に分離された導波路部分である。
図46は、格子の最初の2列の空孔の直径がわずかに増加しているPBG格子の一例である。第一列の直径は格子の残余のそれよりも明らかに大きいものである。SEM写真は、空孔の特徴を見るために高解像度を必要とされるために粒子のあらいものとなっている。
図47は、(導波路端に最も近い)PBG格子の最初の2つの列において傾きを減らしている空孔のよりはっつきりとした例である。また、このSEM写真は、はっきりと導波路の屈曲部を示している。
図48は、電子デバイス用途の光バス(optical bus)の略図である。窒化ケイ素導波路WGは、半導体集積回路のシリコン基板SCの表面に光量子バンドギャップによって境界を定められる。電子光学的変換器TOE、例えば、エルビウムドープのシリカのように電気信号を光信号へ変換する領域であり、光信号は導波路を通って伝播し光−電子変換器TEO、例えば、アバランシェダイオードに関連する90°屈曲のあるPBGへと入る。
マイクロプロセッサー又はコミュニケーションシステムに関連する用途のための光バスは、例えば、それぞれ個々に電子光学的又は光−電子的変換器RX,TXを結合した多数の光導波路Z1−Z10からなるものである。変換器は電気定数Cによって規定される。それぞれの変換器の一対は、WDMシステムにおいて、異なる周波数バンドパス特性を持つものである。
詳述された実施態様はスペクトルの可視領域で操作されるものであるが、我々のナノ構造−構成プロセス及び物質システムは、赤外領域用途にも適するものであり、主要な光コミュニケーションの領域を全て網羅している。これらの波長で操作するために規模のスケールアップをすることは当業者にとって比較的に容易なことである。
光フィルターは、非周期的なホール格子を利用することによって構成することができる。ここに記載された方法によって作製された導波路の周波数選択的フィルターの特性は、単一モードLED(発光ダイオード)の発展の可能性及び高効率の狭い線幅のレーザーの可能性を生み出した。パッシブフィルターは、単一周波数レーザー、単一周波数光時計、及びWDMビームフィルターを含む光コンポーネントの可能性を生み出した。
一定の格子構造、例えば、三角格子やグラファイト格子などは両偏光状態について操作可能なただ一つのものである。それゆえ、正方格子構造は偏光依存フィルターを作製するために用いられる。均一なWDMチャネル応答を得るためにくしの歯状レーザー又はくしの歯フィルターを構成するように格子構造が仕立てられている。光遅延線は、PBG構造を制御するために格子形状を用いて構成されている。これによって、擬周期的構造又は2つの格子の組み合わせを作製するためにホール形状の組み合わせの利用を可能にしている。

Claims (21)

  1. 光路を確保する平面導波路を備えた光デバイスであって、
    平面導波路光入力部と、
    平面導波路光出力部と、
    前記光入力部と前記光出力部との間のフォトニックバンド構造領域であって、前記フォトニックバンド構造領域は、フォトニックバンド構造を引き起こす2次元パターン化領域を含む導波路領域を前記光路内に有する、フォトニックバンド構造領域と
    を備え、
    前記光デバイスに入射する所定波長の光信号が、前記導波路光入力部の誘導モードから前記フォトニックバンド構造に支持された誘導ブロッホモードに結合され、前記フォトニックバンド構造領域を伝搬した後、前記光信号が、前記導波路光出力部の誘導モードに結合するように、前記フォトニックバンド構造領域が前記光路内に配置されており、
    前記光デバイスに入射する光についての前記光デバイスの周波数依存の応答は前記フォトニックバンド構造領域内の前記パターン化領域の配置に依存することを特徴とする光デバイス。
  2. 前記光デバイスは、クラッド層とコア層とを備え、前記2次元パターン化アレイは前記クラッド層及び前記コア層にわたって延在していることを特徴とする請求項1に記載の光デバイス。
  3. 前記フォトニックバンド構造領域を介して伝搬する光は、前記導波路に依存する群速度に減速されることを特徴とする請求項1又は2に記載の光デバイス。
  4. 前記フォトニックバンド構造領域は、第1屈折率を有する第1材料からなる第1領域と、副領域の2次元アレイとを備え、前記各副領域は前記第1領域とは異なる屈折率を有することを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の光デバイス。
  5. 前記2次元アレイは、副領域の擬周期的アレイを含むことを特徴とする請求項4に記載の光デバイス。
  6. 前記副領域のアレイは、ホールのアレイであることを特徴とする請求項4又は5に記載の光デバイス。
  7. 前記アレイ内の副領域は、周波数ストップバンド(frequency stop band)を設けるように配置されることを特徴とする請求項4から6のいずれか一項に記載の光デバイス。
  8. 副領域の前記アレイ内に欠陥が存在し、前記欠陥は、前記フォトニックバンド構造の周波数バンドギャップ内に周波数パスバンドを設けるように配置されていることを特徴とする請求項4から6のいずれか一項に記載の光デバイス。
  9. 前記欠陥は、前記第1材料内の前記副領域のサイズ不整欠陥を有することを特徴とする請求項8に記載の光デバイス。
  10. 前記欠陥は、前記第1材料内の前記副領域のスペーシング不整欠陥であることを特徴とする前記請求項8又は9に記載の光デバイス。
  11. 前記アレイにある前記副領域のスペーシングは、少なくとも前記アレイの一部分にわたって増加することを特徴とする請求項4から10のいずれか一項に記載の光デバイス。
  12. 前記副領域のサイズは、前記アレイの少なくとも一部分にわたって段階的であることを特徴とする請求項4から11のいずれか一項に記載の光デバイス。
  13. 前記パターン化平面導波路構造には、非線形性を引き起こすために適するドーパントを含むことを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載の光デバイス。
  14. 前記パターン化平面導波路構造には、バンドギャップ内に準安定エネルギー準位を誘起するために適するドーパントを含むことを特徴とする請求項1から13のいずれか一項に記載の光デバイス。
  15. 前記第1材料は、窒化シリコンであることを特徴とする請求項4から14のいずれか一項に記載の光デバイス。
  16. 前記第1材料は、蛍光性材料であることを特徴とする請求項4から14のいずれか一項に記載の光デバイス。
  17. 前記蛍光性材料は、レーザ用ガラス(lasing glass)であって、前記パターン化アレイ内の前記副領域は、前記レーザ用ガラスの所定遷移波長における蛍光を妨げるフォトニックバンドギャップを有するフォトニックバンド構造を引き起こすように配置されていることを特徴とする請求項16に記載の光デバイス。
  18. 前記副領域の屈折率、したがって前記光デバイス上に入射する光に対する前記光デバイスの周波数依存の応答は、前記副領域がさらされた環境に依存して変化することを特徴とする請求項4から17のいずれか一項に記載の光デバイス。
  19. 請求項1から18のいずれか一項に記載の光デバイスを含む光デマルチプレクサであって、前記アレイ内の各デバイスは、異なる周波数パスバンドを示すことを特徴とする光デマルチプレクサ。
  20. 光路を確保する平面導波路を備えた光デバイスに光信号を結合するステップを含む光信号の処理方法であって、
    前記光デバイスは、平面導波路光入力部と、平面導波路光出力部と、前記光入力部と前記光出力部との間にあって、フォトニックバンド構造を引き起こす2次元パターン化領域を有する導波路領域を前記光路内に有するフォトニックバンド構造領域とを備え、
    前記光デバイスに入射する所定波長の光信号が、前記導波路光入力部の誘導モードから前記フォトニックバンド構造に支持された誘導ブロッホモードに結合され、前記フォトニックバンド構造領域を伝搬した後、前記光信号が、前記導波路光出力部の誘導モードに結合するように、前記フォトニックバンド構造領域が前記光路内に配置されており、
    前記光デバイスに入射する光についての前記光デバイスの周波数依存の応答は前記フォトニックバンド構造領域内の前記パターン化領域の配置に依存することを特徴とする光信号処理方法。
  21. 前記フォトニックバンド構造を介して伝搬する光は、前記導波路に依存する群速度に減速されることを特徴とする請求項20に記載の光信号処理方法。
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Families Citing this family (236)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7907319B2 (en) 1995-11-06 2011-03-15 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for modulating light with optical compensation
GB9710062D0 (en) * 1997-05-16 1997-07-09 British Tech Group Optical devices and methods of fabrication thereof
US6735368B2 (en) * 1997-05-16 2004-05-11 Mesophotonics Limited Optical delay device
US6788863B2 (en) * 1997-05-16 2004-09-07 Mesophotonics Limited Optical delay device
WO1999052006A2 (en) 1998-04-08 1999-10-14 Etalon, Inc. Interferometric modulation of radiation
US8928967B2 (en) 1998-04-08 2015-01-06 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and device for modulating light
US20020054732A1 (en) * 1999-11-02 2002-05-09 Zheng Si Q. Optical burst scheduling using partitioned channel groups
US8111401B2 (en) * 1999-11-05 2012-02-07 Robert Magnusson Guided-mode resonance sensors employing angular, spectral, modal, and polarization diversity for high-precision sensing in compact formats
US7167615B1 (en) 1999-11-05 2007-01-23 Board Of Regents, The University Of Texas System Resonant waveguide-grating filters and sensors and methods for making and using same
US6721471B2 (en) * 2000-03-10 2004-04-13 Tidal Photonics, Inc. Apparatus and methods relating to fluorescent optical switches
GB0008546D0 (en) * 2000-04-06 2000-05-24 Btg Int Ltd Optoelectronic devices
DE10032579B4 (de) 2000-07-05 2020-07-02 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements sowie ein nach dem Verfahren hergestelltes Halbleiterbauelement
US6674949B2 (en) 2000-08-15 2004-01-06 Corning Incorporated Active photonic crystal waveguide device and method
US6542682B2 (en) 2000-08-15 2003-04-01 Corning Incorporated Active photonic crystal waveguide device
US6684008B2 (en) 2000-09-01 2004-01-27 The University Of British Columbia Planar photonic bandgap structures for controlling radiation loss
JP3923244B2 (ja) * 2000-09-01 2007-05-30 富士フイルム株式会社 光素子
JP4619507B2 (ja) * 2000-09-26 2011-01-26 浜松ホトニクス株式会社 光ファイバ結合装置、波長可変器、圧力センサ、加速度センサ及び光学装置
JP3955723B2 (ja) * 2000-09-29 2007-08-08 株式会社東芝 デバイスシミュレーション方法、デバイスシミュレーションシステム、およびシミュレーションプログラムを記録した記録媒体
DE10063151B4 (de) * 2000-12-18 2004-03-25 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur Analyse der qualitativen und/oder quantitativen Zusammensetzung von Fluiden
US6936854B2 (en) * 2001-05-10 2005-08-30 Canon Kabushiki Kaisha Optoelectronic substrate
JP3846228B2 (ja) * 2001-06-07 2006-11-15 日本電気株式会社 導波路
CA2350352A1 (en) * 2001-06-13 2002-12-13 Linda P.B. Katehi Planar filters utilizing periodic elctro magnetic bandgap substrates
US6819845B2 (en) * 2001-08-02 2004-11-16 Ultradots, Inc. Optical devices with engineered nonlinear nanocomposite materials
US20030056546A1 (en) * 2001-09-18 2003-03-27 Claus Richard O. Photonic crystal materials and devices
FR2832513B1 (fr) * 2001-11-21 2004-04-09 Centre Nat Rech Scient Structure a cristal photonique pour la conversion de mode
EP1326268A1 (en) 2002-01-07 2003-07-09 Alcatel A method of forming pores in a semiconductor substrate
GB2384319A (en) * 2002-01-19 2003-07-23 Marconi Optical Components Ltd Polarisation converter for photonic crystal waveguide
US7006719B2 (en) * 2002-03-08 2006-02-28 Infinera Corporation In-wafer testing of integrated optical components in photonic integrated circuits (PICs)
KR100458678B1 (ko) * 2002-03-20 2004-12-03 주식회사 럭스퍼트 이득제공 방식의 광파워 평탄화기
GB0208255D0 (en) * 2002-04-10 2002-05-22 Imec Inter Uni Micro Electr Photonic crystal based fiber-to-waveguide coupler for polarisation independent photonic integrated circuits
DE10216790A1 (de) * 2002-04-15 2003-11-06 Forschungszentrum Juelich Gmbh Anordnung zur gezielten Anregung von Defektresonanzen in zwei- und drei dimensionalen photonischen Kristallen
US20030210862A1 (en) * 2002-05-07 2003-11-13 Vladimir Yankov Plana holographic multiplexer/demultiplexer utilizing photonic bandgap quasi-crystals with low intrinsic loss and flat top passband
US6947649B2 (en) * 2002-05-31 2005-09-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method of adjusting the index of refraction of photonic crystals with laser micromachining to tune transmissions within the bandgap and structure
GB2390230B (en) * 2002-06-07 2005-05-25 Murata Manufacturing Co Applications of a three dimensional structure
DE10236800B3 (de) * 2002-08-08 2004-01-29 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Integrierbarer Modentransformator für optische Rippenwellenleiter
JP4254189B2 (ja) * 2002-10-02 2009-04-15 株式会社ニコン 光学素子、分光装置、及び集光装置
US20040086244A1 (en) 2002-11-05 2004-05-06 Zoorob Majd E. Optical waveguide structure
US6775448B2 (en) * 2002-11-05 2004-08-10 Mesophotonics Limited Optical device
RU2002130193A (ru) * 2002-11-11 2004-05-10 Ооо "Корнинг" Дисперсионный элемент устройства для сжатия лазерных импульсов на основе планарной фотонно-кристаллической структуры (варианты)
US6832029B2 (en) * 2002-12-17 2004-12-14 Mcnc Impedance control devices for use in the transition regions of electromagnetic and optical circuitry and methods for using the same
TWI289708B (en) 2002-12-25 2007-11-11 Qualcomm Mems Technologies Inc Optical interference type color display
US7245803B2 (en) * 2003-02-11 2007-07-17 Luxtera, Inc. Optical waveguide grating coupler
US7407889B2 (en) * 2003-03-03 2008-08-05 Nippon Sheet Glass Company, Limited Method of manufacturing article having uneven surface
EP1605285A4 (en) * 2003-03-04 2006-06-14 Nippon Sheet Glass Co Ltd WAVE LINE DEVICE USING PHOTONIC CRYSTALS
US7421176B2 (en) * 2003-03-04 2008-09-02 Nippon Sheet Glass Company, Limited Waveguide element using photonic crystal
US6873777B2 (en) * 2003-03-10 2005-03-29 Japan Aviation Electronics Industry Limited Two-dimensional photonic crystal device
US7006732B2 (en) * 2003-03-21 2006-02-28 Luxtera, Inc. Polarization splitting grating couplers
US7667238B2 (en) * 2003-04-15 2010-02-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices for liquid crystal displays
US7083993B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Methods of making multi-layer light emitting devices
US7262550B2 (en) * 2003-04-15 2007-08-28 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode utilizing a physical pattern
US20040259279A1 (en) * 2003-04-15 2004-12-23 Erchak Alexei A. Light emitting device methods
US7098589B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-29 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with high light collimation
US7166871B2 (en) * 2003-04-15 2007-01-23 Luminus Devices, Inc. Light emitting systems
US6831302B2 (en) * 2003-04-15 2004-12-14 Luminus Devices, Inc. Light emitting devices with improved extraction efficiency
US7074631B2 (en) * 2003-04-15 2006-07-11 Luminus Devices, Inc. Light emitting device methods
CN101459214B (zh) * 2003-04-15 2011-12-28 发光装置公司 制造发光装置的方法
US7084434B2 (en) * 2003-04-15 2006-08-01 Luminus Devices, Inc. Uniform color phosphor-coated light-emitting diode
US7211831B2 (en) * 2003-04-15 2007-05-01 Luminus Devices, Inc. Light emitting device with patterned surfaces
US7105861B2 (en) * 2003-04-15 2006-09-12 Luminus Devices, Inc. Electronic device contact structures
US7521854B2 (en) * 2003-04-15 2009-04-21 Luminus Devices, Inc. Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same
US7274043B2 (en) * 2003-04-15 2007-09-25 Luminus Devices, Inc. Light emitting diode systems
CA2465024A1 (en) * 2003-04-17 2004-10-17 National Research Council Of Canada Low-loss optical connector
JP2004354617A (ja) * 2003-05-28 2004-12-16 Sharp Corp フォトニック結晶とその製造方法
US6968096B2 (en) * 2003-07-18 2005-11-22 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Diffraction device using photonic crystal
US7344903B2 (en) * 2003-09-17 2008-03-18 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7206470B2 (en) * 2003-10-24 2007-04-17 University Of Alabama In Huntsville Planar lightwave circuit waveguide bends and beamsplitters
FR2861854B1 (fr) * 2003-10-30 2006-01-13 Centre Nat Rech Scient Dispositif de couplage-decouplage de lumiere selectif en frequence
DE10357875B4 (de) * 2003-12-11 2007-03-08 Photeon Technologies Gmbh Anordnung von dielektrischen Strukturen innerhalb eines optischen Mediums
US7450311B2 (en) * 2003-12-12 2008-11-11 Luminus Devices, Inc. Optical display systems and methods
KR20050065902A (ko) * 2003-12-26 2005-06-30 한국전자통신연구원 나노 포어 형성 방법
US7773836B2 (en) 2005-12-14 2010-08-10 Luxtera, Inc. Integrated transceiver with lightpipe coupler
US7342705B2 (en) 2004-02-03 2008-03-11 Idc, Llc Spatial light modulator with integrated optical compensation structure
JP4025738B2 (ja) * 2004-03-05 2007-12-26 国立大学法人京都大学 2次元フォトニック結晶
US7209616B2 (en) * 2004-05-18 2007-04-24 Paradigm Optics, Incorporated Method for producing parallel arrays of fibers
US7773227B2 (en) * 2004-06-04 2010-08-10 California Institute Of Technology Optofluidic microscope device featuring a body comprising a fluid channel and having light transmissive regions
US7751048B2 (en) * 2004-06-04 2010-07-06 California Institute Of Technology Optofluidic microscope device
US20090023239A1 (en) * 2004-07-22 2009-01-22 Luminus Devices, Inc. Light emitting device processes
US7170666B2 (en) * 2004-07-27 2007-01-30 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Nanostructure antireflection surfaces
US20060038188A1 (en) * 2004-08-20 2006-02-23 Erchak Alexei A Light emitting diode systems
US7054524B2 (en) * 2004-08-30 2006-05-30 Energy Conversion Devices, Inc. Asymmetric photonic crystal waveguide element having symmetric mode fields
US20060043400A1 (en) * 2004-08-31 2006-03-02 Erchak Alexei A Polarized light emitting device
US7509012B2 (en) * 2004-09-22 2009-03-24 Luxtaltek Corporation Light emitting diode structures
US7492979B2 (en) * 2004-09-27 2009-02-17 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Photonic crystal laser sensors and methods
US7813026B2 (en) 2004-09-27 2010-10-12 Qualcomm Mems Technologies, Inc. System and method of reducing color shift in a display
US7750886B2 (en) 2004-09-27 2010-07-06 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Methods and devices for lighting displays
US7807488B2 (en) 2004-09-27 2010-10-05 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Display element having filter material diffused in a substrate of the display element
US7561323B2 (en) * 2004-09-27 2009-07-14 Idc, Llc Optical films for directing light towards active areas of displays
US7289221B2 (en) * 2004-09-27 2007-10-30 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Mach Zehnder photonic crystal sensors and methods
KR100585781B1 (ko) * 2004-10-28 2006-06-07 엘지전자 주식회사 모바일 인스턴트 메시징 서비스의 파일 전송 방법
JP4278597B2 (ja) * 2004-10-29 2009-06-17 株式会社リコー 光制御素子
JP2006186090A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体レーザ装置およびそれを用いた光ピックアップ装置
US20060140569A1 (en) * 2004-12-28 2006-06-29 Intel Corporation Planar waveguides with air thin films used as anti-reflective layers, beam splitters and mirrors
JP2006184618A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Kyoto Univ 2次元フォトニック結晶及びそれを用いた光機能素子
KR100672676B1 (ko) 2004-12-30 2007-01-24 동부일렉트로닉스 주식회사 광결정을 갖는 이미지 센서 및 그 제조방법
JP4429323B2 (ja) 2005-01-18 2010-03-10 日本板硝子株式会社 導波路素子、導波路素子の製造方法及び光学センサ
US7692207B2 (en) * 2005-01-21 2010-04-06 Luminus Devices, Inc. Packaging designs for LEDs
US7170100B2 (en) 2005-01-21 2007-01-30 Luminus Devices, Inc. Packaging designs for LEDs
KR20060093219A (ko) * 2005-02-21 2006-08-24 삼성전자주식회사 차단층을 갖는 평면광파회로 및 이를 이용한 광집적회로
US20070045640A1 (en) 2005-08-23 2007-03-01 Erchak Alexei A Light emitting devices for liquid crystal displays
US7548302B2 (en) * 2005-03-29 2009-06-16 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US7317506B2 (en) * 2005-03-29 2008-01-08 Asml Netherlands B.V. Variable illumination source
US7999353B1 (en) * 2005-04-26 2011-08-16 Northwestern University Mesoscale pyramids, hole arrays and methods of preparation
JP2007017494A (ja) * 2005-07-05 2007-01-25 Sharp Corp フォトニック結晶導波路
US8064127B2 (en) 2005-07-08 2011-11-22 The Trustees Of Princeton University Quasicrystalline structures and uses thereof
US7251401B2 (en) * 2005-09-16 2007-07-31 Matshsita Electric Industrial Co., Ltd. Fiber coating processing and slitting for non-confined light leakage
US20090231714A1 (en) * 2005-09-19 2009-09-17 Yang Zhao Transparent anti-reflective article and method of fabricating same
WO2007053242A2 (en) * 2005-09-19 2007-05-10 Wayne State University Transparent hydrophobic article having self-cleaning and liquid repellant features and method of fabricating same
US20080099777A1 (en) * 2005-10-19 2008-05-01 Luminus Devices, Inc. Light-emitting devices and related systems
JP2007173353A (ja) * 2005-12-20 2007-07-05 Kyoto Univ フォトニック結晶発光ダイオード及びその製造方法
US7916980B2 (en) 2006-01-13 2011-03-29 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interconnect structure for MEMS device
US7603001B2 (en) 2006-02-17 2009-10-13 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and apparatus for providing back-lighting in an interferometric modulator display device
GB2436398B (en) * 2006-03-23 2011-08-24 Univ Bath Growth method using nanostructure compliant layers and HVPE for producing high quality compound semiconductor materials
JP2007264331A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Fujikura Ltd 拡張三角格子型フォトニックバンドギャップファイバ
US8822894B2 (en) 2011-01-07 2014-09-02 California Institute Of Technology Light-field pixel for detecting a wavefront based on a first intensity normalized by a second intensity
US7768654B2 (en) 2006-05-02 2010-08-03 California Institute Of Technology On-chip phase microscope/beam profiler based on differential interference contrast and/or surface plasmon assisted interference
US9041938B2 (en) 2006-05-02 2015-05-26 California Institute Of Technology Surface wave assisted structures and systems
KR100736623B1 (ko) 2006-05-08 2007-07-09 엘지전자 주식회사 수직형 발광 소자 및 그 제조방법
US20080231184A1 (en) * 2006-06-19 2008-09-25 Iowa State University Research Foundation, Inc. Higher efficiency incandescent lighting using photon recycling
US7766498B2 (en) 2006-06-21 2010-08-03 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Linear solid state illuminator
JP4769658B2 (ja) * 2006-07-31 2011-09-07 キヤノン株式会社 共振器
US7643666B2 (en) * 2006-08-08 2010-01-05 Asml Netherlands B.V. Method and apparatus for angular-resolved spectroscopic lithography characterization
US20080046077A1 (en) * 2006-08-15 2008-02-21 C&C Vision International Limited Multiocular Intraocular Lens Systems
US7845841B2 (en) 2006-08-28 2010-12-07 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Angle sweeping holographic illuminator
US8107155B2 (en) 2006-10-06 2012-01-31 Qualcomm Mems Technologies, Inc. System and method for reducing visual artifacts in displays
WO2008045207A2 (en) 2006-10-06 2008-04-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light guide
EP2366942A1 (en) 2006-10-06 2011-09-21 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Optical loss layer integrated in an illumination apparatus of a display
US7855827B2 (en) 2006-10-06 2010-12-21 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Internal optical isolation structure for integrated front or back lighting
US7864395B2 (en) 2006-10-27 2011-01-04 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light guide including optical scattering elements and a method of manufacture
CN101595410B (zh) * 2006-11-21 2011-07-13 奥尼奇普菲托尼克斯有限公司 多导向垂直堆栈中用于波长解复用的集成光学设备
WO2008084830A1 (ja) * 2007-01-10 2008-07-17 Nec Corporation 光制御素子
US20080170830A1 (en) * 2007-01-16 2008-07-17 Fujikura Ltd Photonic band gap fiber and method of producing the same
GB0701069D0 (en) * 2007-01-19 2007-02-28 Univ Bath Nanostructure template and production of semiconductors using the template
US7777954B2 (en) 2007-01-30 2010-08-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Systems and methods of providing a light guiding layer
US8110425B2 (en) 2007-03-20 2012-02-07 Luminus Devices, Inc. Laser liftoff structure and related methods
US7733439B2 (en) * 2007-04-30 2010-06-08 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Dual film light guide for illuminating displays
US8179034B2 (en) 2007-07-13 2012-05-15 3M Innovative Properties Company Light extraction film for organic light emitting diode display and lighting devices
US20090015142A1 (en) 2007-07-13 2009-01-15 3M Innovative Properties Company Light extraction film for organic light emitting diode display devices
US8652947B2 (en) * 2007-09-26 2014-02-18 Wang Nang Wang Non-polar III-V nitride semiconductor and growth method
US8068710B2 (en) 2007-12-07 2011-11-29 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Decoupled holographic film and diffuser
US8654061B2 (en) 2008-02-12 2014-02-18 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Integrated front light solution
WO2009102731A2 (en) 2008-02-12 2009-08-20 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Devices and methods for enhancing brightness of displays using angle conversion layers
US8325349B2 (en) * 2008-03-04 2012-12-04 California Institute Of Technology Focal plane adjustment by back propagation in optofluidic microscope devices
WO2009111577A1 (en) * 2008-03-04 2009-09-11 California Institute Of Technology Methods of using optofluidic microscope devices
WO2009111573A2 (en) * 2008-03-04 2009-09-11 California Institute Of Technology Optofluidic microscope device with photosensor array
JP5152721B2 (ja) * 2008-03-24 2013-02-27 国立大学法人横浜国立大学 半導体レーザ
US8049951B2 (en) 2008-04-15 2011-11-01 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light with bi-directional propagation
US20100067918A1 (en) * 2008-04-18 2010-03-18 New Jersey Institute Of Technology Ultra-miniaturized thz communication device and system
US8039776B2 (en) 2008-05-05 2011-10-18 California Institute Of Technology Quantitative differential interference contrast (DIC) microscopy and photography based on wavefront sensors
CN102105827B (zh) * 2008-05-23 2013-09-25 惠普开发有限公司 光学互连
CN103149623A (zh) 2008-05-28 2013-06-12 高通Mems科技公司 具有光转向微结构的光导面板、其制造方法和显示装置
US8358266B2 (en) 2008-09-02 2013-01-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Light turning device with prismatic light turning features
US9000353B2 (en) 2010-06-22 2015-04-07 President And Fellows Of Harvard College Light absorption and filtering properties of vertically oriented semiconductor nano wires
US8866065B2 (en) 2010-12-13 2014-10-21 Zena Technologies, Inc. Nanowire arrays comprising fluorescent nanowires
US8889455B2 (en) 2009-12-08 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Manufacturing nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
US8546742B2 (en) 2009-06-04 2013-10-01 Zena Technologies, Inc. Array of nanowires in a single cavity with anti-reflective coating on substrate
US8274039B2 (en) 2008-11-13 2012-09-25 Zena Technologies, Inc. Vertical waveguides with various functionality on integrated circuits
US8299472B2 (en) 2009-12-08 2012-10-30 Young-June Yu Active pixel sensor with nanowire structured photodetectors
US8748799B2 (en) 2010-12-14 2014-06-10 Zena Technologies, Inc. Full color single pixel including doublet or quadruplet si nanowires for image sensors
US9082673B2 (en) 2009-10-05 2015-07-14 Zena Technologies, Inc. Passivated upstanding nanostructures and methods of making the same
US8835831B2 (en) 2010-06-22 2014-09-16 Zena Technologies, Inc. Polarized light detecting device and fabrication methods of the same
US9515218B2 (en) 2008-09-04 2016-12-06 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured photovoltaic devices with mirrors and optical claddings
US9299866B2 (en) 2010-12-30 2016-03-29 Zena Technologies, Inc. Nanowire array based solar energy harvesting device
US9406709B2 (en) 2010-06-22 2016-08-02 President And Fellows Of Harvard College Methods for fabricating and using nanowires
US8519379B2 (en) 2009-12-08 2013-08-27 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured photodiode with a surrounding epitaxially grown P or N layer
US9478685B2 (en) 2014-06-23 2016-10-25 Zena Technologies, Inc. Vertical pillar structured infrared detector and fabrication method for the same
US8229255B2 (en) 2008-09-04 2012-07-24 Zena Technologies, Inc. Optical waveguides in image sensors
US8791470B2 (en) 2009-10-05 2014-07-29 Zena Technologies, Inc. Nano structured LEDs
US8890271B2 (en) * 2010-06-30 2014-11-18 Zena Technologies, Inc. Silicon nitride light pipes for image sensors
US8269985B2 (en) 2009-05-26 2012-09-18 Zena Technologies, Inc. Determination of optimal diameters for nanowires
US9343490B2 (en) 2013-08-09 2016-05-17 Zena Technologies, Inc. Nanowire structured color filter arrays and fabrication method of the same
US8735797B2 (en) 2009-12-08 2014-05-27 Zena Technologies, Inc. Nanowire photo-detector grown on a back-side illuminated image sensor
WO2010030295A1 (en) * 2008-09-15 2010-03-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. In-plane optical wave guide with area based splitter
US20100110551A1 (en) * 2008-10-31 2010-05-06 3M Innovative Properties Company Light extraction film with high index backfill layer and passivation layer
US7957621B2 (en) 2008-12-17 2011-06-07 3M Innovative Properties Company Light extraction film with nanoparticle coatings
WO2010082952A1 (en) 2009-01-13 2010-07-22 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Large area light panel and screen
EP2380055A4 (en) * 2009-01-21 2012-07-11 California Inst Of Techn QUANTITATIVE DIFFERENTIAL INTERFERENCE CONTRASTING DEVICE FOR COMPUTER-BASED DEEP-SECTIONING
US9052434B2 (en) * 2009-03-02 2015-06-09 Massachusetts Institute Of Technology Zero group-velocity modes in chalcogenide holey photonic crystal fibers
US20100302218A1 (en) 2009-05-29 2010-12-02 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Illumination devices and methods of fabrication thereof
EP2438480B8 (en) * 2009-06-02 2015-07-08 Vladimir Yankov Method of digitally processing optical waves and an integrated planar optical device based on digital planar holography
US8416400B2 (en) * 2009-06-03 2013-04-09 California Institute Of Technology Wavefront imaging sensor
US8699836B2 (en) * 2009-07-07 2014-04-15 Alcatel Lucent Optical coupler
EP3567416A1 (en) 2009-10-12 2019-11-13 The Trustees of Columbia University in the City of New York Photonic crystal spectrometer
US8267583B2 (en) * 2009-10-19 2012-09-18 Oracle America, Inc. Three-dimensional macro-chip including optical interconnects
CN102792151B (zh) * 2010-03-23 2015-11-25 加州理工学院 用于2d和3d成像的超分辨率光流体显微镜
US8848294B2 (en) 2010-05-20 2014-09-30 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Method and structure capable of changing color saturation
KR101968675B1 (ko) * 2010-06-25 2019-04-12 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. 리소그래피 장치 및 방법
US8402647B2 (en) 2010-08-25 2013-03-26 Qualcomm Mems Technologies Inc. Methods of manufacturing illumination systems
US8536545B2 (en) 2010-09-09 2013-09-17 California Institute Of Technology Delayed emission detection devices and methods
US8902484B2 (en) 2010-12-15 2014-12-02 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Holographic brightness enhancement film
TW201227385A (en) * 2010-12-16 2012-07-01 Univ Nat Taiwan Science Tech Method of detecting malicious script and system thereof
CN102147492B (zh) * 2011-01-06 2012-09-26 南京大学 微结构准相位匹配实现多维目标波导光栅和体光栅的制备方法
US8548282B2 (en) * 2011-01-21 2013-10-01 The Hong Kong Polytechnic University Fiber in-line Mach-Zehnder interferometer (MZI) device
US8742406B1 (en) 2011-02-16 2014-06-03 Iowa State University Research Foundation, Inc. Soft lithography microlens fabrication and array for enhanced light extraction from organic light emitting diodes (OLEDs)
WO2013066447A1 (en) 2011-08-01 2013-05-10 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Lens-free planar imager and wireless transmitter
WO2013059665A1 (en) 2011-10-19 2013-04-25 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Ultracompact fabry-perot array for ultracompact hyperspectral imaging
US8868734B2 (en) * 2012-01-11 2014-10-21 Verizon Patent And Licensing Inc. Network auditing tool
US8682129B2 (en) * 2012-01-20 2014-03-25 Micron Technology, Inc. Photonic device and methods of formation
WO2013148349A1 (en) 2012-03-30 2013-10-03 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Graphene photonics for resonator-enhanced electro-optic devices and all-optical interactions
US9435959B2 (en) 2012-04-26 2016-09-06 Acacia Communications, Inc. Coupling of fiber optics to planar grating couplers
US9874688B2 (en) 2012-04-26 2018-01-23 Acacia Communications, Inc. Co-packaging photonic integrated circuits and application specific integrated circuits
EP2685297B1 (en) * 2012-07-13 2017-12-06 Huawei Technologies Co., Ltd. A process for manufacturing a photonic circuit with active and passive structures
US9212948B2 (en) 2012-11-07 2015-12-15 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Lossless hyperspectral imaging
KR101919419B1 (ko) * 2012-11-08 2018-11-19 삼성전자주식회사 광결정의 제조 방법
USD758372S1 (en) 2013-03-13 2016-06-07 Nagrastar Llc Smart card interface
US9888283B2 (en) 2013-03-13 2018-02-06 Nagrastar Llc Systems and methods for performing transport I/O
US10718901B2 (en) 2013-06-26 2020-07-21 Micron Technology, Inc. Photonic device having a photonic crystal lower cladding layer provided on a semiconductor substrate
US9574135B2 (en) * 2013-08-22 2017-02-21 Nanoco Technologies Ltd. Gas phase enhancement of emission color quality in solid state LEDs
US9702813B2 (en) * 2014-07-23 2017-07-11 Infineon Technologies Ag Sensing systems and methods using a coupling structure
WO2016069901A1 (en) 2014-10-29 2016-05-06 Acacia Communications, Inc. Optoelectronic ball grid array package with fiber
US10564362B2 (en) * 2014-12-29 2020-02-18 Imec Vzw Light coupler with microstructures asymmetrically distributed along longitudinal axis
EP3065237B1 (en) * 2015-03-06 2020-05-06 Caliopa NV A temperature insensitive laser
USD864968S1 (en) 2015-04-30 2019-10-29 Echostar Technologies L.L.C. Smart card interface
CN105044842B (zh) * 2015-09-06 2017-12-15 中国计量学院 多通道太赫兹波功分器
US9986217B2 (en) * 2016-03-15 2018-05-29 Sutherland Cook Ellwood, JR. Magneto photonic encoder
CN105870551B (zh) * 2016-06-23 2018-07-06 中国计量大学 基于多种介质柱的太赫兹波滤波器
CN106249321B (zh) * 2016-09-30 2017-11-10 深圳市太赫兹系统设备有限公司 一种太赫兹超材料波导及器件
KR20180090107A (ko) 2017-02-02 2018-08-10 삼성전자주식회사 분광기 및 그 분광기가 적용된 성분 측정 장치
US10763290B2 (en) * 2017-02-22 2020-09-01 Elwha Llc Lidar scanning system
WO2019070783A1 (en) 2017-10-06 2019-04-11 Corning Incorporated ASSEMBLY COMPRISING A NANOPOROUS SURFACE LAYER WITH A HYDROPHOBIC LAYER
CA3086226A1 (en) * 2017-12-20 2019-06-27 Institut National De La Recherche Scientifique System and method for infrared spectrometry
US11244667B1 (en) * 2018-01-26 2022-02-08 Hrl Laboratories, Llc Curved phononic crystal waveguide
CN108761638B (zh) * 2018-08-03 2020-10-09 中国计量大学 多输出端口太赫兹波功率分配器
US10862610B1 (en) 2019-11-11 2020-12-08 X Development Llc Multi-channel integrated photonic wavelength demultiplexer
US11092675B2 (en) 2019-11-13 2021-08-17 Lumotive, LLC Lidar systems based on tunable optical metasurfaces
US11187854B2 (en) * 2019-11-15 2021-11-30 X Development Llc Two-channel integrated photonic wavelength demultiplexer
CN110989077A (zh) * 2019-12-25 2020-04-10 易锐光电科技(安徽)有限公司 薄膜光波导及其制备方法
CN110989078A (zh) * 2019-12-25 2020-04-10 易锐光电科技(安徽)有限公司 薄膜光波导及其制备方法
JP7008303B2 (ja) * 2020-02-27 2022-01-25 アイレック技建株式会社 収納物検査装置
US11550102B2 (en) * 2020-08-31 2023-01-10 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Structures and methods for high speed interconnection in photonic systems
CN112394440A (zh) * 2020-10-28 2021-02-23 中通服咨询设计研究院有限公司 一种基于二维光子晶体射频带通滤波器
US11536907B2 (en) 2021-04-21 2022-12-27 X Development Llc Cascaded integrated photonic wavelength demultiplexer
US11962351B2 (en) 2021-12-01 2024-04-16 X Development Llc Multilayer photonic devices with metastructured layers
US11429008B1 (en) 2022-03-03 2022-08-30 Lumotive, LLC Liquid crystal metasurfaces with cross-backplane optical reflectors
US11487183B1 (en) 2022-03-17 2022-11-01 Lumotive, LLC Tunable optical device configurations and packaging
US11493823B1 (en) 2022-05-11 2022-11-08 Lumotive, LLC Integrated driver and heat control circuitry in tunable optical devices
US11487184B1 (en) 2022-05-11 2022-11-01 Lumotive, LLC Integrated driver and self-test control circuitry in tunable optical devices

Family Cites Families (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU570439B2 (en) 1983-03-28 1988-03-17 Compression Labs, Inc. A combined intraframe and interframe transform coding system
US4894726A (en) 1988-07-21 1990-01-16 Trustees Of The University Of Pennsylvania Methods and apparatus for eliminating Moire interference using quasiperiodic patterns
JP2656971B2 (ja) * 1989-02-22 1997-09-24 日立電線株式会社 ガラス導波路レーザーアレイ
JPH043501A (ja) * 1990-04-19 1992-01-08 Tsukasa Nagao 光学磁性体薄膜及び強磁性体薄板を用いた光波及びサブミリ波・ミリ波平面回路形サーキュレータ
DE69430361D1 (de) 1993-01-08 2002-05-16 Massachusetts Inst Technology Verlustarme optische und optoelektronische integrierte schaltungen
GB9324456D0 (en) 1993-11-29 1994-01-12 Univ Southampton Waveguide coupler
JPH10506756A (ja) * 1994-10-05 1998-06-30 マサチューセッツ インスティトゥート オブ テクノロジー 一次元周期誘導体導波路を使用する共振微小空洞
US5784400A (en) * 1995-02-28 1998-07-21 Massachusetts Institute Of Technology Resonant cavities employing two dimensionally periodic dielectric materials
DE19526734A1 (de) 1995-07-21 1997-01-23 Siemens Ag Optische Struktur und Verfahren zu deren Herstellung
US5651079A (en) 1995-08-25 1997-07-22 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Photonic switching devices using light bullets
US5751466A (en) 1996-01-11 1998-05-12 University Of Alabama At Huntsville Photonic bandgap apparatus and method for delaying photonic signals
US5802236A (en) 1997-02-14 1998-09-01 Lucent Technologies Inc. Article comprising a micro-structured optical fiber, and method of making such fiber
US5748057A (en) 1996-06-03 1998-05-05 Hughes Electronics Photonic bandgap crystal frequency multiplexers and a pulse blanking filter for use therewith
US6049642A (en) 1996-10-09 2000-04-11 Nec Corporation Nonlinear optical switch
WO1998044367A1 (de) * 1997-03-29 1998-10-08 Deutsche Telekom Ag Faser-integrierte photonenkristalle und -systeme
GB9710062D0 (en) * 1997-05-16 1997-07-09 British Tech Group Optical devices and methods of fabrication thereof
DE19720784A1 (de) * 1997-05-17 1998-11-26 Deutsche Telekom Ag Integrierte optische Schaltung
US5973823A (en) 1997-07-22 1999-10-26 Deutsche Telekom Ag Method for the mechanical stabilization and for tuning a filter having a photonic crystal structure
US6028693A (en) 1998-01-14 2000-02-22 University Of Alabama In Huntsville Microresonator and associated method for producing and controlling photonic signals with a photonic bandgap delay apparatus
DE69942936D1 (de) * 1998-07-30 2010-12-23 Corning Inc Verfahren zur herstellung photonischen strukturen
US6134043A (en) 1998-08-11 2000-10-17 Massachusetts Institute Of Technology Composite photonic crystals
US6175671B1 (en) 1998-10-01 2001-01-16 Nortel Networks Limited Photonic crystal waveguide arrays
US6278105B1 (en) 1999-01-25 2001-08-21 Lucent Technologies Inc. Transistor utilizing photonic band-gap material and integrated circuit devices comprising same
US6580534B2 (en) 1999-01-27 2003-06-17 Lucent Technologies Inc. Optical channel selector
US6134369A (en) 1999-03-31 2000-10-17 Matsushita Electric Industrial Co. Compact optical waveguide
US6334017B1 (en) * 1999-10-26 2001-12-25 Corning Inc Ring photonic crystal fibers
DE60133970D1 (de) 2000-06-21 2008-06-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Optische Faser mit photonischer Bandlückenstruktur
US6674949B2 (en) 2000-08-15 2004-01-06 Corning Incorporated Active photonic crystal waveguide device and method
US6542682B2 (en) 2000-08-15 2003-04-01 Corning Incorporated Active photonic crystal waveguide device
US6532326B1 (en) * 2000-09-21 2003-03-11 Ut-Battelle, Llc Transverse-longitudinal integrated resonator
US6597721B1 (en) 2000-09-21 2003-07-22 Ut-Battelle, Llc Micro-laser
EP1205788A1 (en) 2000-11-09 2002-05-15 University Of Southampton Optical parametric devices and methods for making same
CA2363277A1 (en) * 2000-11-17 2002-05-17 Ovidiu Toader Photonic band gap materials based on spiral posts in a lattice
WO2002099473A2 (en) * 2001-01-12 2002-12-12 California Institute Of Technology Methods for controlling positions of the guided modes of the photonic crystal waveguides
JP3665273B2 (ja) * 2001-05-11 2005-06-29 株式会社日立製作所 波長分散補償器、及びそれを用いた光伝送システム
WO2003001708A2 (en) * 2001-06-25 2003-01-03 Massachussets Institute Of Technology Tunable chromatic dispersion compensation
CA2382955A1 (en) * 2002-04-23 2003-10-23 Stephen W. Leonard Method of varying optical properties of photonic crystals on fast time scales using energy pulses

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