JP3874164B2 - IC tester - Google Patents

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Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、高速高精度の電圧を発生できるＩＣテスタに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
液晶駆動ドライバは、複数ピンから多階調電圧を出力し、液晶ディスプレイを駆動している。このような液晶駆動ドライバを試験するＩＣテスタは、例えば、特開平５８−９０１８４号公報、特開平１０−２９３７号公報等に記載されている。このような装置を図２に示し説明する。
【０００３】
図において、被試験対象（以下ＤＵＴと略す）１は、複数ピンから多階調電圧を出力する。高精度Ｄ／Ａコンバータ２は、低速で高精度の電圧を出力する。比較器３は、ＤＵＴ１の出力と高精度Ｄ／Ａコンバータ２からの出力とを比較する。判定部４は、比較器３の比較結果を入力し、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【０００４】
このような装置の動作を以下に説明する。まず、ＤＵＴ１のピンごとの出力電圧試験について説明する。
【０００５】
ＤＵＴ１は、各ピンから、図３に示すような多段階の電圧、多階調電圧を出力する。同時に、高精度Ｄ／Ａコンバータ２は、多段階の期待値電圧を出力する。そして、比較器３は、ＤＵＴ１の階調電圧と高精度Ｄ／Ａコンバータ２の期待値電圧を比較し、比較結果を出力する。この比較結果を判定部４は入力し、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【０００６】
次に、ＤＵＴ１のピン間ばらつきの試験について説明する。ピン間ばらつきの試験は、液晶駆動ドライバの場合、ばらつきが許容範囲を越えると、表示むらなどが生じるために行われている。
【０００７】
ＤＵＴ１は、各ピンから、図４の破線に示すような多段階の電圧、多階調電圧を出力する。同時に、高精度Ｄ／Ａコンバータ２は、ＤＵＴ１の期待値電圧に山型に変化する電圧を乗せたのと等価な電圧を出力する。そして、比較器３は、ＤＵＴ１の階調電圧と高精度Ｄ／Ａコンバータ２の電圧とを比較し、比較結果を出力する。この比較結果を判定部４は入力し、ばらつき範囲を求め、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【０００８】
さらに、ピン間ばらつきの範囲の求め方について、図５を用いて説明する。図５は図４の部分拡大図である。Ｖ１は、ＤＵＴ１の出力各階調電圧のピン間ばらつきにおける下限値より低い電圧で、Ｖ２はＤＵＴ１の出力各階調電圧のピン間ばらつきにおける上限値より高い電圧である。
【０００９】
高精度Ｄ／Ａコンバータ２の出力電圧がＶ１の初期状態では、比較器３の全出力はＨ（ＤＵＴ１の出力電圧よりも高い）になっている。このような初期状態から、高精度Ｄ／Ａコンバータ２の出力電圧をＶ１からＶ２に向かって徐々に上げていくと、比較器３の出力がＤＵＴ１の各ピンの出力電圧のばらつきに応じて逐次ＨからＬに変わってゆく。そして、全ピンがＬに変わった時点でのＤ／Ａコンバータ２の出力電圧からＤＵＴ出力ピン間ばらつきの最大値ＶＡを求める。
【００１０】
次に、高精度Ｄ／Ａコンバータ２の初期電圧をＶ２とする。このとき、比較器３の全出力はＬになっている。このような初期状態から、高精度Ｄ／Ａコンバータ２の出力電圧をＶ２からＶ１に向かって徐々に下げていくと、比較器３の出力がＤＵＴ１の各ピンの出力電圧のばらつきに応じて逐次ＬからＨに変わってゆく。そして、全ピンがＨに変わった時点でのＤ／Ａコンバータ２の出力電圧からＤＵＴ出力ピン間ばらつきの最小値ＶＡを求める。
【００１１】
このようにして、各階調の電圧ＶＡ，ＶＢを求め、各階調のばらつき（ＶＡ−ＶＢ）を求め、許容範囲内かにより、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】
ＤＵＴ１のピンごとの電圧試験では、ＤＵＴ１の階段状に変化するセトリングタイムもあり、高精度Ｄ／Ａコンバータ２の変化速度はあまり問題にならない。しかし、ＤＵＴ１のピン間ばらつきを試験するために、高精度Ｄ／Ａコンバータ２の微小変化させるため、精度が高くなればなるほど、速度が遅くなり、試験時間がかかってしまうという問題点があった。
【００１３】
そこで、本発明の目的は、高速高精度に電圧を発生できるＩＣテスタを実現することにある。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
本発明は、
複数ピンから多段階の電圧を出力する液晶駆動ドライバの試験を行うＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの期待値電圧を発生する第１のＤ／Ａコンバータと、
山型波形の電圧を発生する第２のＤ／Ａコンバータと、
この第２のＤ／Ａコンバータの電圧を減衰する減衰器と、
前記第１のＤ／Ａコンバータの出力と前記減衰器の出力とを加算し、期待値電圧に山型に微小変化する電圧を乗せたのと等価な電圧を出力する加算器と、
前記液晶駆動ドライバの多段階の電圧出力と前記加算器の出力とを比較する複数の比較器と
を有し、第１のＤ／Ａコンバータを第２のＤ／Ａコンバータより、高精度にし、前記比較器の比較結果により、前記液晶駆動ドライバのピン間ばらつきを求めることを特徴とするものである。
また、
複数ピンから多段階の電圧を出力する液晶駆動ドライバの試験を行うＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの期待値電圧を発生する第１のＤ／Ａコンバータと、
山型波形の電圧を発生する第２のＤ／Ａコンバータと、
この第２のＤ／Ａコンバータの電圧を減衰する減衰器と、
前記第１のＤ／Ａコンバータの出力と前記減衰器の出力とを加算し、期待値電圧に山型に微小変化する電圧を乗せたのと等価な電圧を出力する加算器と、
前記液晶駆動ドライバの多段階の電圧出力から加算器の出力を減算する減算器と、
この減算器の出力と所望の電圧とを比較する複数の比較器と
を有し、第１のＤ／Ａコンバータを第２のＤ／Ａコンバータより、高精度にし、前記比較器の比較結果により、前記液晶駆動ドライバのピン間ばらつきを求めることを特徴とするものである。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図２と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１６】
図において、高精度Ｄ／Ａコンバータ５は、低速で高精度の電圧を出力する。低精度Ｄ／Ａコンバータ６は、高精度Ｄ／Ａコンバータ５より高速で低精度の電圧を出力する。減衰器７は、低精度Ｄ／Ａコンバータ６の電圧を、１／Ｎ（Ｎ：整数）、高精度Ｄ／Ａコンバータ５より高精度の出力となるように減衰する。加算器８は、高精度Ｄ／Ａコンバータ６の出力と減衰器７の出力とを加算し、比較器３に出力する。
【００１７】
このような装置の動作を以下で説明する。まず、ＤＵＴ１のピンごとの出力電圧試験について説明する。
【００１８】
ＤＵＴ１は、各ピンから、図３に示すような多段階の電圧、多階調電圧を出力する。同時に、高精度Ｄ／Ａコンバータ５は、多段階の期待値電圧を出力し、低精度Ｄ／Ａコンバータ６は、出力を行わない。この結果、加算器８は、高精度Ｄ／Ａコンバータ５の出力と減衰器７の出力とを加算し、高精度Ｄ／Ａコンバータ５の出力だけを出力する。比較器３は、ＤＵＴ１の階調電圧と加算器８の期待値電圧とを比較し、比較結果を出力する。この比較結果を判定部４は入力し、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。
【００１９】
次に、ＤＵＴ１のピン間ばらつきの試験について説明する。ＤＵＴ１は、各ピンから、図４の破線に示すような多段階の電圧、多階調電圧を出力する。同時に、高精度Ｄ／Ａコンバータ５は、ＤＵＴ１の期待値電圧を出力し、低精度Ｄ／Ａコンバータ６が山型波形を出力し、この山型波形を減衰器７により減衰し、図５に示すようにＶ１〜Ｖ２間を微小変化する山型波形にする。そして、加算器８により、高精度Ｄ／Ａコンバータ５の出力と減衰器７の出力とにより、ＤＵＴ１の期待値電圧に山型に変化する電圧を乗せたのと等価な電圧を出力する。比較器３は、ＤＵＴ１の階調電圧と加算器８の出力電圧とを比較し、比較結果を出力する。この比較結果を判定部４は入力し、ばらつき範囲を求め、ＤＵＴ１の良否の判定を行う。ピン間ばらつきの範囲の求め方は従来と同じなので説明を省略する。
【００２０】
このように、減衰器７により、低精度Ｄ／Ａコンバータ６の出力を減衰しているので、高精度Ｄ／Ａコンバータ５の出力より、高精度を得ることができる。すなわち、低精度Ｄ／Ａコンバータ６のノイズ、温度ドリフト、リニアリティ等の精度が減衰器７の減衰により改善される。
【００２１】
また、広範囲は高精度Ｄ／Ａコンバータ５で変化させ、狭範囲は低精度Ｄ／Ａコンバータ６の出力を変化させ、減衰器７で減衰させ、加算器８により加算を行うので、高速で、高精度の電圧を得ることができる。
【００２２】
そして、このような電圧発生器を液晶駆動ドライバの試験に用いたので、試験時間を短縮できる。特にピン間ばらつきの試験時に効果がある。
【００２３】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下のような構成でもよい。
比較器３にＤＵＴ１の出力と加算器８の出力とを比較する構成を示したが、ＤＵＴ１の出力から加算器８の出力を減算器により減算し、減算器の出力を比較器３に入力し、所望の電圧と比較する構成にしてもよい。すなわち、ＩＣテスタの構成に限定されるものではない。
【００２４】
また、電圧発生部として、Ｄ／Ａコンバータ５，６で構成した例を示したが、信号発生源であれば、同様の効果を得ることができる。
【００２５】
そして、高精度Ｄ／Ａコンバータ５、低精度Ｄ／Ａコンバータ６の精度が異なる構成を示したが、同一の精度でもよい。同一精度でも、１つのＤ／Ａコンバータにより、高精度を得るより、高速に電圧を出力することができる。
【００２６】
さらに、Ｄ／Ａコンバータ５，６の２つの組み合わせ例を示したが、３以上のＤ／Ａコンバータを用いる構成でもよい。例えば、新たに、Ｄ／ＡコンバータとこのＤ／Ａコンバータの出力を減衰する減衰器とを設け、この減衰器の出力も加算器８に加算する構成にしてもよい。
【００２７】
【発明の効果】
本発明によれば、減衰器により、第２のＤ／Ａコンバータの出力を減衰しているので、第１のＤ／Ａコンバータの出力より、高精度を得ることができる。
【００２８】
また、広範囲は第１のＤ／Ａコンバータで変化させ、狭範囲は第２のＤ／Ａコンバータの出力を変化させ、減衰器で減衰させ、加算器により加算を行うので、高速で、高精度の電圧を得ることができる。
【００２９】
また、多段階の電圧を出力する被試験対象の試験に用いたので、試験時間を短縮できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】従来の電圧発生器を用いたＩＣテスタの構成を示した図である。
【図３】ＤＵＴ１から出力される多階調電圧波形例図である。
【図４】ピン間ばらつきの動作を説明する図である。
【図５】図４の部分拡大波形図である。
【符号の説明】
５ 高精度電圧発生部
６ 低精度電圧発生部
７ 減衰器
８ 加算器[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an IC tester that can generate a high-speed and high-accuracy voltage.
[0002]
[Prior art]
The liquid crystal drive driver outputs a multi-gradation voltage from a plurality of pins to drive the liquid crystal display. IC testers for testing such a liquid crystal drive driver are described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 58-90184 and 10-2937. Such an apparatus is shown and described in FIG.
[0003]
In the figure, a device under test (hereinafter abbreviated as DUT) 1 outputs a multi-gradation voltage from a plurality of pins. The high precision D / A converter 2 outputs a high precision voltage at a low speed. The comparator 3 compares the output of the DUT 1 with the output from the high precision D / A converter 2. The determination unit 4 inputs the comparison result of the comparator 3 and determines whether the DUT 1 is good or bad.
[0004]
The operation of such an apparatus will be described below. First, an output voltage test for each pin of the DUT 1 will be described.
[0005]
The DUT 1 outputs a multi-stage voltage and a multi-gradation voltage as shown in FIG. 3 from each pin. At the same time, the high-precision D / A converter 2 outputs multi-stage expected value voltages. The comparator 3 compares the gradation voltage of the DUT 1 with the expected value voltage of the high precision D / A converter 2 and outputs a comparison result. The determination unit 4 inputs this comparison result and determines whether the DUT 1 is good or bad.
[0006]
Next, a test for variation between pins of the DUT 1 will be described. The inter-pin variation test is performed in the case of a liquid crystal drive driver because display unevenness occurs when the variation exceeds an allowable range.
[0007]
The DUT 1 outputs multi-stage voltages and multi-gradation voltages as indicated by broken lines in FIG. 4 from each pin. At the same time, the high-precision D / A converter 2 outputs a voltage equivalent to the expected value voltage of the DUT 1 and a voltage that changes in a mountain shape. The comparator 3 compares the gradation voltage of the DUT 1 with the voltage of the high precision D / A converter 2 and outputs a comparison result. The determination unit 4 inputs the comparison result, obtains a variation range, and determines whether the DUT 1 is good or bad.
[0008]
Further, how to obtain the range of the inter-pin variation will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a partially enlarged view of FIG. V1 is a voltage lower than the lower limit value in the inter-pin variation of the output grayscale voltage of the DUT1, and V2 is a voltage higher than the upper limit value in the inter-pin variation of the output grayscale voltage of the DUT1.
[0009]
In the initial state where the output voltage of the high-precision D / A converter 2 is V1, all outputs of the comparator 3 are H (higher than the output voltage of DUT1). When the output voltage of the high-precision D / A converter 2 is gradually increased from V1 to V2 from such an initial state, the output of the comparator 3 is sequentially increased according to the variation in the output voltage of each pin of the DUT 1. It changes from H to L. Then, the maximum value VA of the variation between the DUT output pins is obtained from the output voltage of the D / A converter 2 when all the pins are changed to L.
[0010]
Next, the initial voltage of the high precision D / A converter 2 is set to V2. At this time, the total output of the comparator 3 is L. When the output voltage of the high-precision D / A converter 2 is gradually lowered from V2 to V1 from such an initial state, the output of the comparator 3 is sequentially increased according to the variation in the output voltage of each pin of the DUT 1. It changes from L to H. Then, the minimum value VA of the variation between the DUT output pins is obtained from the output voltage of the D / A converter 2 when all the pins are changed to H.
[0011]
In this way, the voltages VA and VB of the respective gradations are obtained, the variation (VA−VB) of the respective gradations is obtained, and the quality of the DUT 1 is determined depending on whether it is within the allowable range.
[0012]
[Problems to be solved by the invention]
In the voltage test for each pin of the DUT 1, there is also a settling time that changes in a step shape of the DUT 1, and the changing speed of the high-precision D / A converter 2 does not matter much. However, in order to test the inter-pin variation of the DUT 1, there is a problem in that the higher the accuracy, the slower the speed and the longer the test time in order to make a minute change in the high-precision D / A converter 2. .
[0013]
Therefore, an object of the present invention is to realize an IC tester capable of generating a voltage with high speed and high accuracy.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
The present invention
In an IC tester that tests liquid crystal drive drivers that output multi-stage voltages from multiple pins,
A first D / A converter for generating an expected value voltage of the liquid crystal drive driver;
A second D / A converter for generating a voltage having a mountain waveform;
An attenuator for attenuating the voltage of the second D / A converter;
An adder that adds the output of the first D / A converter and the output of the attenuator and outputs a voltage equivalent to a voltage that slightly changes in a mountain shape on the expected value voltage ;
A plurality of comparators for comparing the multi-stage voltage output of the liquid crystal drive driver and the output of the adder , and the first D / A converter from the second D / A converter, It is characterized in that the variation between the pins of the liquid crystal drive driver is obtained from the comparison result of the comparator with high accuracy .
Also,
In an IC tester that tests liquid crystal drive drivers that output multi-stage voltages from multiple pins,
A first D / A converter for generating an expected value voltage of the liquid crystal drive driver;
A second D / A converter for generating a voltage having a mountain waveform;
An attenuator for attenuating the voltage of the second D / A converter;
An adder that adds the output of the first D / A converter and the output of the attenuator and outputs a voltage equivalent to a voltage that slightly changes in a mountain shape on the expected value voltage;
A subtracter for subtracting the output of the adder from the multi-stage voltage output of the liquid crystal drive driver;
A plurality of comparators for comparing the output of the subtractor with a desired voltage;
The first D / A converter is made more accurate than the second D / A converter, and the inter-pin variation of the liquid crystal drive driver is obtained from the comparison result of the comparator. is there.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG.
[0016]
In the figure, the high precision D / A converter 5 outputs a high precision voltage at a low speed. The low-accuracy D / A converter 6 outputs a low-accuracy voltage at a higher speed than the high-accuracy D / A converter 5. The attenuator 7 attenuates the voltage of the low-accuracy D / A converter 6 so that the output is 1 / N (N: integer) and a higher-accuracy output than the high-accuracy D / A converter 5. The adder 8 adds the output of the high precision D / A converter 6 and the output of the attenuator 7 and outputs the result to the comparator 3.
[0017]
The operation of such a device will be described below. First, an output voltage test for each pin of the DUT 1 will be described.
[0018]
The DUT 1 outputs a multi-stage voltage and a multi-gradation voltage as shown in FIG. 3 from each pin. At the same time, the high precision D / A converter 5 outputs a multi-stage expected value voltage, and the low precision D / A converter 6 does not output. As a result, the adder 8 adds the output of the high precision D / A converter 5 and the output of the attenuator 7 and outputs only the output of the high precision D / A converter 5. The comparator 3 compares the gradation voltage of the DUT 1 with the expected value voltage of the adder 8 and outputs a comparison result. The determination unit 4 inputs this comparison result and determines whether the DUT 1 is good or bad.
[0019]
Next, a test for variation between pins of the DUT 1 will be described. The DUT 1 outputs multi-stage voltages and multi-gradation voltages as indicated by broken lines in FIG. 4 from each pin. At the same time, the high-precision D / A converter 5 outputs the expected value voltage of the DUT 1, the low-precision D / A converter 6 outputs a mountain-shaped waveform, and this mountain-shaped waveform is attenuated by the attenuator 7, as shown in FIG. As shown, a mountain-shaped waveform that slightly changes between V1 and V2 is formed. The adder 8 outputs a voltage equivalent to the expected value voltage of the DUT 1 added to the voltage that changes in a mountain shape by the output of the high precision D / A converter 5 and the output of the attenuator 7. The comparator 3 compares the gradation voltage of the DUT 1 with the output voltage of the adder 8 and outputs a comparison result. The determination unit 4 inputs the comparison result, obtains a variation range, and determines whether the DUT 1 is good or bad. Since the method for obtaining the range of variation between pins is the same as the conventional method, the description thereof is omitted.
[0020]
As described above, since the output of the low precision D / A converter 6 is attenuated by the attenuator 7, higher precision can be obtained than the output of the high precision D / A converter 5. That is, the accuracy of noise, temperature drift, linearity, etc. of the low precision D / A converter 6 is improved by the attenuation of the attenuator 7.
[0021]
In addition, the wide range is changed by the high-precision D / A converter 5, the narrow range is changed by changing the output of the low-precision D / A converter 6, attenuated by the attenuator 7, and added by the adder 8. A highly accurate voltage can be obtained.
[0022]
And since such a voltage generator was used for the test of the liquid crystal drive driver, the test time can be shortened. This is particularly effective when testing variations between pins.
[0023]
In addition, this invention is not limited to this, The following structures may be sufficient.
In the comparator 3, the output of the DUT 1 is compared with the output of the adder 8. However, the output of the adder 8 is subtracted from the output of the DUT 1 by the subtracter, and the output of the subtracter is input to the comparator 3. Alternatively, it may be configured to compare with a desired voltage. That is, the configuration is not limited to the IC tester.
[0024]
Moreover, although the example which comprised D / A converters 5 and 6 as a voltage generation part was shown, if it is a signal generation source, the same effect can be acquired.
[0025]
In addition, although the high accuracy D / A converter 5 and the low accuracy D / A converter 6 have different configurations, the same accuracy may be used. Even with the same accuracy, a single D / A converter can output a voltage faster than obtaining a high accuracy.
[0026]
Furthermore, although two examples of combinations of the D / A converters 5 and 6 have been shown, a configuration using three or more D / A converters may be used. For example, a D / A converter and an attenuator that attenuates the output of the D / A converter may be newly provided, and the output of the attenuator may be added to the adder 8.
[0027]
【The invention's effect】
According to the present invention, since the output of the second D / A converter is attenuated by the attenuator, higher accuracy can be obtained than the output of the first D / A converter .
[0028]
Also, the wide range is changed by the first D / A converter , and the narrow range is changed by changing the output of the second D / A converter , attenuated by the attenuator, and added by the adder. Can be obtained.
[0029]
In addition , the test time can be shortened because it is used for a test of an object to be tested that outputs multi-stage voltages.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of an IC tester using a conventional voltage generator.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a multi-grayscale voltage waveform output from a DUT 1;
FIG. 4 is a diagram illustrating an operation of variation between pins.
FIG. 5 is a partially enlarged waveform diagram of FIG. 4;
[Explanation of symbols]
5 High precision voltage generator 6 Low precision voltage generator 7 Attenuator 8 Adder

Claims (2)

複数ピンから多段階の電圧を出力する液晶駆動ドライバの試験を行うＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの期待値電圧を発生する第１のＤ／Ａコンバータと、
山型波形の電圧を発生する第２のＤ／Ａコンバータと、
この第２のＤ／Ａコンバータの電圧を減衰する減衰器と、
前記第１のＤ／Ａコンバータの出力と前記減衰器の出力とを加算し、期待値電圧に山型に微小変化する電圧を乗せたのと等価な電圧を出力する加算器と、
前記液晶駆動ドライバの多段階の電圧出力と前記加算器の出力とを比較する複数の比較器と
を有し、第１のＤ／Ａコンバータを第２のＤ／Ａコンバータより、高精度にし、前記比較器の比較結果により、前記液晶駆動ドライバのピン間ばらつきを求めることを特徴とするＩＣテスタ。In an IC tester that tests liquid crystal drive drivers that output multi-stage voltages from multiple pins,
A first D / A converter for generating an expected value voltage of the liquid crystal drive driver;
A second D / A converter for generating a voltage having a mountain waveform;
An attenuator for attenuating the voltage of the second D / A converter;
An adder that adds the output of the first D / A converter and the output of the attenuator and outputs a voltage equivalent to a voltage that slightly changes in a mountain shape on the expected value voltage ;
A plurality of comparators for comparing the multi-stage voltage output of the liquid crystal drive driver and the output of the adder , and the first D / A converter from the second D / A converter, An IC tester characterized in that a high accuracy is obtained and a variation between pins of the liquid crystal driving driver is obtained based on a comparison result of the comparator . 複数ピンから多段階の電圧を出力する液晶駆動ドライバの試験を行うＩＣテスタにおいて、
前記液晶駆動ドライバの期待値電圧を発生する第１のＤ／Ａコンバータと、
山型波形の電圧を発生する第２のＤ／Ａコンバータと、
この第２のＤ／Ａコンバータの電圧を減衰する減衰器と、
前記第１のＤ／Ａコンバータの出力と前記減衰器の出力とを加算し、期待値電圧に山型に微小変化する電圧を乗せたのと等価な電圧を出力する加算器と、
前記液晶駆動ドライバの多段階の電圧出力から加算器の出力を減算する減算器と、
この減算器の出力と所望の電圧とを比較する複数の比較器と
を有し、第１のＤ／Ａコンバータを第２のＤ／Ａコンバータより、高精度にし、前記比較器の比較結果により、前記液晶駆動ドライバのピン間ばらつきを求めることを特徴とするＩＣテスタ。In an IC tester that tests liquid crystal drive drivers that output multi-stage voltages from multiple pins,
A first D / A converter for generating an expected value voltage of the liquid crystal drive driver;
A second D / A converter for generating a voltage having a mountain waveform;
An attenuator for attenuating the voltage of the second D / A converter;
An adder that adds the output of the first D / A converter and the output of the attenuator and outputs a voltage equivalent to a voltage that slightly changes in a mountain shape on the expected value voltage ;
A subtracter for subtracting the output of the adder from the multi-stage voltage output of the liquid crystal drive driver;
A plurality of comparators for comparing the output of the subtractor and a desired voltage , the first D / A converter is made more accurate than the second D / A converter, and the comparator An IC tester characterized in that the inter-pin variation of the liquid crystal drive driver is obtained based on the comparison result .
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