JP3860344B2 - 光ディスクの再生信号のジッタ計測装置、光ディスクの再生信号のジッタ計測方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光ディスクの再生方法 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、所定の変調規則に従ったデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号のジッタ成分を計測する光ディスクの再生信号のジッタ計測装置、及び、光ディスクの再生信号のジッタ計測方法に関する。また、本発明は、光ディスクを再生する光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光ディスクの再生方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
デジタルデータが記録された光ディスクを再生する光ディスクドライブでは、光学ピックアップにより再生（ＲＦ）信号を検出し、このＲＦ信号を２値化してデジタルデータを生成する。具体的には、光ディスクドライブでは、図７（ａ）に示すようなＲＦ信号を、所定のスライスレベルで２値化し、図７（ｂ）に示すようなデジタルデータを生成する。
【０００３】
また、一般に、光ディスクには、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録されている。例えば、いわゆるコンパクトディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、記録される信号が、３Ｔから１１Ｔの周期の信号に変調され、これらの各周期の波形がランダムに記録されている。また、例えば、デジタルビデオディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、記録される信号が、３Ｔから１４Ｔの周期の信号に変調され、これらの各周期の波形がランダムに記録されている。光ディスクドライブでは、このような所定の変調方式に従ったデジタルデータを、光ディスクから信号を再生し、この信号を２値化し、デジタルデータを生成することとなる。
【０００４】
ところで、このように光ディスクドライブにより２値化されたデジタルデータは、一般に、周期方向にノイズが乗ったかたちで、すなわち、ジッタ成分が含まれたかたちで、再生されてしまう。例えば、光ディスクから再生したＲＦ信号のうち３Ｔの周期の波形だけ取り出してみた場合、このＲＦ信号の波形の周期は、理論周期３Ｔに対してジッタ成分が含まれた３Ｔ±σ（σ：ジッタ成分）となる。
【０００５】
このように２値化したデジタルデータにジッタ成分が含まれて再生される理由としては、例えば、光ディスクの記録信号に含まれるノイズの影響や、光ディスクに記録された信号を検出する光学ピックアップの特性の影響などがある。
【０００６】
ここで、従来より、このような光ディスクから再生したデジタルデータのジッタ成分を検出するジッタ計測装置が知られている。このジッタ計測装置は、光ディスクから再生したＲＦ信号のジッタ成分を計測して、光ディスクの特性や光学ピックアップの特性を知るために用いられる。
【０００７】
以下、従来より光ディスクの再生信号のジッタ成分の計測に用いられていた第１から第３のジッタ計測装置について説明する。
【０００８】
従来よりジッタ計測に用いられていた第１のジッタ計測装置は、積分回路によりデジタルデータの時間幅を電圧値として求め、ジッタ成分を計測するものである。
【０００９】
まず、この第１のジッタ計測装置では、図８に示すように、ＲＦ信号を所定のスライスレベルで２値化し、デジタルデータを生成する。そして、この第１のジッタ計測装置では、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち上がりエッジで、積分回路を動作させる。続いて、この第１のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジで、積分回路を停止させる。この第１のジッタ計測装置は、このときの積分回路の出力電圧を、デジタルデータの時間幅として計測する。
【００１０】
従って、この第１のジッタ計測装置では、この積分回路の出力電圧を、所定周期に対応する電圧値と比較することにより、電圧値に変換されたジッタ値（σＶ）を検出することができる。
【００１１】
なお、この第１のジッタ計測装置では、時定数に応じて積分回路の特性が定まるので、１つの積分回路により、変調され光ディスクに記録されている複数の周期の波形の内、１の周期の波形に対応するジッタ成分のみの測定しかできない。つまり、この第１のジッタ計測装置では、再生する光ディスクがコンパクトディスクであれば、１つの積分回路により、３Ｔの周期の波形のジッタ成分のみを測定し、他の周期の波形例えば４Ｔから１１Ｔの波形のジッタ成分の測定はできない。
【００１２】
つぎに、従来ジッタ計測に用いられていた第２のジッタ計測装置は、いわゆるタイムインターバルアナライザといわれる装置を用いたもので、デジタルデータの時間幅を高速クロックでカウントし、このカウント出力でジッタ成分を検出するものである。
【００１３】
まず、この第２のジッタ計測装置では、図９に示すように、ＲＦ信号を所定のスライスレベルで２値化し、デジタルデータを生成する。そして、この第２のジッタ計測装置では、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち上がりエッジで、クロック回路を動作させるとともに、このクロック回路が出力するクロック数のカウントを開始する。続いて、この第２のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジで、クロック回路を停止させる。この第２のジッタ計測装置では、このときのカウント数が、デジタルデータの時間幅となる。
【００１４】
従って、この第２のジッタ計測装置では、このカウンタのカウント数を、所定周期におけるカウント数と比較することにより、ジッタ値を検出することができる。
【００１５】
つぎに、従来ジッタ計測に用いられていた第３のジッタ計測装置は、上記第１のジッタ計測装置と上記第２のジッタ計測装置を応用したものである。
【００１６】
まず、この第３のジッタ計測装置では、図１０に示すように、ＲＦ信号を所定のスライスレベルで２値化し、デジタルデータを生成する。このとき、この第３のジッタ計測装置では、クロック回路が所定のクロック周波数で、クロックを発生し続けている。この第３のジッタ計測装置では、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち上がりエッジで、クロック回路を動作させるとともに、このクロック回路が出力するクロック数をカウンタによりカウントする。また、この第３のジッタ計測装置では、このデジタルデータの立ち上がりエッジで、積分回路の動作を開始する。続いて、この第３のジッタ計測装置では、デジタルデータの立ち上がりエッジの直後に発生されたクロックのタイミングで、積分回路の動作を停止する。そして、この第３のジッタ計測装置では、このときの積分回路の出力電圧Ｖ1を計測し、この出力電圧Ｖ1を時間幅に変換して、デジタルデータの第１の時間幅ｔ1とする。
【００１７】
また、この第３のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点の直前のクロックのタイミング、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジの直前のクロックのタイミングで再度積分回路を動作させる。そして、この第３のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジで、積分回路を停止させる。
【００１８】
そして、この第３のジッタ計測装置では、デジタルデータの立ち下がりタイミングでのカウンタのカウント数を検出し、このカウント数と上記クロック周波数に基づき、デジタルデータの立ち上がりエッジの直後のクロックのタイミングからデジタルデータの立ち下がりエッジの直前のクロックのタイミングまでの時間幅を求め、この時間幅を第２の時間幅ｔ2とする。また、この第３のジッタ計測装置では、このときの積分回路の出力電圧Ｖ3を計測し、この出力電圧Ｖ3を時間幅に変換して、デジタルデータの第３の時間幅ｔ3とする。
【００１９】
従って、この第３のジッタ計測装置では、上記第１の時間幅ｔ1、上記時間幅ｔ2及び上記時間幅ｔ3を全て加算することにより、デジタルデータの時間幅と計測することができる。そして、この第３のジッタ計測装置では、デジタルデータの時間幅と、理論値を比較することにより、ジッタ値を検出することができる。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上述した従来の第１から第３のジッタ計測装置では、以下に述べる問題点があった。
【００２１】
上記第１のジッタ計測装置では、積分回路を用いてアナログで時間幅を計測するため、ノイズに弱く安定して時間幅を計測することが困難であった。また、上記第１のジッタ計測装置では、１つの積分回路により１つの周期の波形のジッタ成分のみしか計測できないため、複数の周期の波形のジッタ成分を計測するには、測定する周期の波形の数だけ積分回路が必要であった。すなわち、上記第１のジッタ計測装置では、例えば、コンパクトディスクに含まれる３Ｔから１１Ｔまでの周期の波形の全てのジッタ成分を検出するために、時定数が異なる９個の積分回路が必要であった。従って、上記第１のジッタ計測装置では、ハード構成が複雑であった。
【００２２】
上記第２のジッタ計測装置では、クロックをカウントして時間幅を計測するため、このクロック周期より短い時間幅が計測できなかった。また、上記第２のジッタ計測装置では、高速クロックを用いるため、その処理回路等が複雑となり、コストを安くすることが困難であった。
【００２３】
上記第３のジッタ計測装置では、積分回路を用いてアナログで時間幅を計測するため、ノイズに弱く安定して時間幅を計測することが困難であった。また、上記第３のジッタ計測装置では、回路構成が複雑となり、コストを安くすることができなかった。上記第３のジッタ計測装置では、積分回路を用いているため、測定する周期の波形の数だけ積分回路が必要であった。従って、上記第３のジッタ計測装置では、複数の周期の波形を計測するためには、ハード構成が複雑となってしまっていた。
【００２４】
本発明は、このような実情を鑑みてなされたものであり、上記各問題を解決する光ディスクの再生信号のジッタ計測装置、光ディスクの再生信号のジッタ計測方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置を提供することを目的とする。
【００２５】
また、本発明は、ジッタ成分を最適化することのできる光ディスクの記録及び／又は再生装置、及び、光ディスクの再生方法を提供することを目的とする。
【００２６】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するために、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換手段と、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるジッタ演算手段とを備える。
【００２７】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【００２８】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、ジッタ演算手段が、各サンプル点での信号レベルからこの再生信号のピーク値を求め、このピーク値に基づき所定のスライスレベルを設定することを特徴とする。
【００２９】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、再生信号のピーク値を求め、再生信号のジッタ成分を求める。
【００３１】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求める。
【００３２】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、ジッタ演算手段が、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、所定の時間幅を基準として、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、各周期の波形の再生信号の振幅を求めることを特徴とする。
【００３３】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、各周期の波形の再生信号の振幅を求める。
【００３４】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、ジッタ演算手段が、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、光ディスクの再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求めることを特徴とする。
【００３５】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求める。
【００３６】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換し、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする。
【００３７】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【００３８】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、各サンプル点での信号レベルからこの再生信号のピーク値を求め、このピーク値に基づき所定のスライスレベルを設定することを特徴とする。
【００３９】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、再生信号のピーク値を求め、再生信号のジッタ成分を求める。
【００４０】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、所定の時間幅を基準として、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする。
【００４１】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求める。
【００４２】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、所定の時間幅を基準として、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、各周期の波形の再生信号の振幅を求めることを特徴とする。
【００４３】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、各周期の波形の再生信号の振幅を求める。
【００４４】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、光ディスクの再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求めることを特徴とする。
【００４５】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求める。
【００４６】
本発明に係る光ディスクの記録及び／又は再生装置は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクを再生し、この記録された信号に応じたデータを出力する再生手段と、上記再生手段が再生した再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換手段と、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき上記再生手段を制御するジッタ演算制御手段とを備える。
【００４７】
この光ディスクの記録及び／又は再生装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【００４８】
本発明に係る光ディスクの再生方法は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクを再生し、この記録された信号に応じたデータを出力するとともに、上記所定の変調規則に従ったデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換し、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求め、上記ジッタ成分に基づき、光ディスクの再生特性を制御するすることを特徴とする。
【００４９】
この光ディスクの再生方法では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【００５０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００５１】
本発明の実施の形態の光学ピックアップの特性測定装置（以下、単に特性検査装置と称する。）は、光ディスクドライブで用いられる光学ピックアップのジッタ成分の特性の測定を行う。このような特性検査装置は、光学ピックアップの仕様の検査や、光学ピックアップの特性の調査などに用いられ、例えば、光学ピックアップの出荷検査や受け入れ検査等に用いられる。
【００５２】
図１は、本発明の実施の形態の特性検査装置のブロック構成図を示している。
【００５３】
この図１に示す特性検査装置１は、検査対象となる光学ピックアップ２と、光ディスクがセッティングされるテストベンチ３と、光学ピックアップ２が有するフォトディテクタの出力が供給され再生（ＲＦ）信号等を出力するマトリクス回路４と、このマトリクス回路４の出力に基づき光ディスクの再生駆動の為のサーボコントロールをするサーボコントロール回路５とを備えている。
【００５４】
また、この特性検査装置１は、マトリクス回路４のＲＦ信号を、デジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換回路６と、このアナログ／デジタル変換回路６の出力データを一時記憶するメモリ７とを備えている。
【００５５】
また、特性検査装置１は、メモリ７に一時記憶されたデジタルデータに基づき光学ピックアップ２のジッタ成分の演算処理やこの演算結果の表示を行い、また、この演算処理結果に基づきサーボコントロール回路５の制御を行うコンピュータ８を備えている。
【００５６】
光学ピックアップ２は、この特性検査装置１の検査対象である。この光学ピックアップ２は、この特性検査装置１に例えば着脱自在となっている。この光学ピックアップ２は、レーザダイオード、ビームスプリッタ、対物レンズ、フォトディテクタ等を有している。この光学ピックアップ２は、レーザダイオードから出射したレーザをビームスプリッタや対物レンズ等を介して光ディスク上に集光させる。そして、この光学ピックアップ２は、光ディスクからの反射光をフォトディテクタ上に結像させる。光学ピックアップ２が有するフォトディテクタは、光電変換素子であり、結像した反射光を電気信号に変換する。
【００５７】
なお、この光学ピックアップ２は、複数のフォトディテクタを備えている。この光学ピックアップ２に備えられる複数のフォトディテクタの一例を図２に示す。
【００５８】
光学ピックアップ２は、例えば、図２に示すような、２×２のマトリクス状に配列された４つのフォトディテクタＡ〜Ｄと、このように配列されたフォトディテクタＡ〜Ｄの両サイドにサイドスポット検出用のフォトディテクタＥ，Ｆとを備えている。このようなフォトディテクタＡ〜Ｆは、光ディスクに３本のレーザを出射するいわゆる３スポット方式の光学ピックアップで用いられる。フォトディテクタＡ〜Ｄには、３スポット方式における中心光となるメインビームが照射される。すなわち、このフォトディテクタＡ〜Ｄには、光ディスクのトラックに記録された記録ピット等に対する反射光が照射される。また、フォトディテクタＥ，Ｆは、上記フォトディテクタＡ〜Ｄに対して光ディスクの半径方向の両サイドに設けられている。フォトディテクタＥ，Ｆには、３スポット方式におけるサイドビームがそれぞれ照射される。例えば、このフォトディテクタＥ，Ｆには、光ディスクのトラックの例えばエッジから反射した光が照射される。
【００５９】
各フォトディテクタＡ〜Ｆは、照射された反射光の光量を、信号Ａ〜Ｆに変換する。光学ピックアップ２は、これら各信号Ａ〜Ｆを、マトリクス回路４に供給する。
【００６０】
テストベンチ３は、光ディスクがセッティングされ、この光ディスクを再生するために、この光ディスクを回転駆動させる。また、このテストベンチ３にセッティングされる光ディスクは、この特性検査装置１のリファレンスとして用いられる。すなわち、特性検査装置１は、このリファレンスとして用いられる光ディスクの再生信号に基づき、光学ピックアップ２のジッタ成分の測定を行う。
【００６１】
マトリクス回路４は、上記光学ピックアップ２の各フォトディテクタＡ〜Ｆの出力である信号Ａ〜Ｆが供給され、これら信号Ａ〜Ｆに基づき、再生（ＲＦ）信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、及び、トラッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成する。マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｆに基づき、例えば、以下のようにＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を生成する。すなわち、マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｄに基づき、Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄを演算し、ＲＦ信号を生成する。また、マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｄに基づき、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を演算し、この演算結果をＦＥ信号として出力する。つまり、マトリクス回路４は、非点収差法に基づいてＦＥ信号を出力する。また、マトリクス回路４は、信号Ｅ，Ｆに基づき、Ｅ−Ｆを演算し、この演算結果をＴＥ信号として出力する。
【００６２】
また、光ディスクには、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録さている。例えば、いわゆるコンパクトディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、３Ｔから１１Ｔの周期の信号がランダムに記録されている。また、デジタルビデオディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、３Ｔから１４Ｔの周期の信号がランダムに記録されている。このような所定の変調方式に従ったデジタルデータは、マトリクス回路４が生成したＲＦ信号を、所定のスライスレベルで２値化することにより、生成される。
【００６３】
マトリクス回路４は、このように演算したＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を、サーボコントロール回路５に供給する。また、マトリクス回路４は、ＲＦ信号をアナログ／デジタル変換回路６に供給する。
【００６４】
サーボコントロール回路５は、ＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号に基づき、光ディスクを再生駆動する際のサーボコントロールをする。具体的には、サーボコントロール回路５は、ＦＥ信号に基づき、このＦＥ信号が０となるように、光学ピックアップ２の対物レンズを動作させる２軸アクチュエータを駆動し、フォーカスサーボ制御を行う。サーボコントロール回路５は、ＴＥ信号に基づき、このＴＥ信号が０となるように、光学ピックアップ２の対物レンズを動作させる２軸アクチュエータを駆動し、トラッキングサーボ制御を行う。サーボコントロール回路５は、ＦＥ信号の直流成分を検出し、この直流成分が０となるように、光学ピックアップ２のスレッドサーボ制御を行う。また、サーボコントロール回路５は、ＲＦ信号に基づき、光ディスクの傾きを制御するチルトサーボ制御を行う。なお、このサーボコントロール回路５は、光ディスクの傾きの検出機構を別途設けて、チルトサーボ制御を行っても良い。
【００６５】
アナログ／デジタル変換回路６は、ＲＦ信号から生成される所定の変調方式に従ったデジタルデータの最低理論周期の波形、例えばコンパクトディスクであれば３Ｔの周期の波形が、充分再現できる程度に高速のサンプリング周波数でＲＦ信号をサンプリングする。アナログ／デジタル変換回路６は、例えば、３０ＭＨｚ程度のサンプリング周波数でＲＦ信号をデジタルデータに変換する。アナログ／デジタル変換回路６は、デジタルデータに変換したＲＦ信号を、メモリ７に供給する。
【００６６】
メモリ７は、アナログ／デジタル変換回路６によりデジタルデータに変換されたＲＦ信号を一時記憶する。
【００６７】
コンピュータ８は、例えば、インターフェース部８ａ、データ格納部８ｂ、出力部８ｃ、演算処理部８ｄ等を有している。インターフェース部８ａは、サーボコントロール回路５を制御するための制御信号を、このサーボコントロール回路５に対して出力する。データ格納部８ｂは、この特性検査装置１の光学ピックアップ２のジッタ成分の測定に対応した処理プログラムを格納している。出力部８ｃは、光学ピックアップ２のジッタ成分の測定結果を表示する。
【００６８】
コンピュータ８の演算処理部８ｄは、メモリ７に記憶されたデジタルデータに変換されたＲＦ信号を読み出し、このデータに基づきＲＦ信号のジッタ成分を検出する。
【００６９】
また、コンピュータ８の演算処理部８ｄは、ジッタ成分の測定に応じた処理をするにあたり、メモリ７に記憶したデータに対して、以下の演算処理を行う。演算処理部８ｄは、例えば、フィルタ演算、ピークレベル演算、波形周期の算出演算、レベル窓による信号の抽出演算、周期窓による信号の抽出演算等を行う。
【００７０】
つぎに、この特性検査装置１による光学ピックアップ２のジッタ成分の測定処理内容を、図３、図４、図５、及び、図６を用いて説明する。
【００７１】
特性検査装置１は、ユーザにより光学ピックアップ２がセッティングされ、操作開始指示がされると、図３に示すフローチャートのステップＳ１から処理を開始する。
【００７２】
特性検査装置１は、ステップＳ１において、光ディスクを再生して、例えば図４（ａ）に示すようなＲＦ信号を検出する。
【００７３】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ２において、アナログ／デジタル変換回路６により、図４（ｂ）に示すようにＲＦ信号をデジタルデータに変換し、量子化する。この量子化されたＲＦ信号は、順次メモリ７に記憶される。
【００７４】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ３において、量子化されたＲＦ信号に基づき、図４（ｃ）に示すようにＲＦ信号の各波形のピーク値を検出する。すなわち、光ディスクから再生されるＲＦ信号には、例えば３Ｔ〜１１Ｔの周期の成分を有する波形がランダムに含まれている。従って、ＲＦ信号は、レベルがプラスマイナスに上下に変動する波形となっている。特性検査装置１は、この変動のプラス側のピーク値とマイナス側のピーク値を、各波形毎に検出する。
【００７５】
なお、このステップＳ３におけるピーク値の検出処理は、演算処理部８ｄがメモリ７に記憶される量子化データを読み出して処理を行う。また、以下の、ステップＳ４以降の処理も同様である。
【００７６】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ４において、検出したＲＦ信号のピーク値に基づき、図４（ｄ）に示すようなＲＦ信号を２値化する際のスライスレベルを算出する。ここで、特性検査装置１は、このスライスレベルを以下に説明するような演算を行って算出する。
【００７７】
例えば、特性検査装置１は、全ての波形のプラス側のピーク値の平均値と、マイナス側のピーク値の平均値を求め、これら平均値の中点等をスライスレベルとする。また、特性検査装置１は、中点に対して所定のオフセット加えた値をスライスレベルとしてもよい。さらに、特性検査装置１は、全ての波形のピーク値ではなく、ＲＦ信号に含まれる所定周期の所定波形、例えば３Ｔの波形のみを検出し、この３Ｔの波形のピーク値の平均の中点等をスライスレベルとしてもよい。
【００７８】
また、特性検査装置１は、上記スライスレベルを算出する場合、ノイズ成分等を除去するため、所定の制限を加えて検出したピーク値を用いてもよい。
【００７９】
例えば、特性検査装置１は、再生する光ディスクのＲＦ信号の理論振幅に対して、１／４以上のレベルのピーク値のみを検出するようにする。特性検査装置１では、ピーク値を検出する際に振幅方向に制限を加えることにより、ノイズ成分を除去することができ、正確なスライスレベルを算出することができる。また、例えば、特性検査装置１は、ピーク値とピーク値との時間幅が、再生する光ディスクのＲＦ信号の最短周期波形（例えば３Ｔ）の周期の１／２以上のときのみピーク値を検出するようにする。特性検査装置１では、ピーク値を検出する際に時間軸方向に制限を加えることにより、ノイズ成分を除去することができ、正確なスライスレベルを算出することができる。
【００８０】
なお、特性検査装置１は、スライスレベルを設定するにあたり、ユーザがその値を任意に設定できるようにしてもよいし、また、上述した手法で求めたスライスレベルに対してオフセットを加えるようにしてもよい。
【００８１】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ５において、算出したスライスレベルを用いてＲＦ信号をレベル分割し、このスライスレベルで区切られる各波形の周期を求める。特性検査装置１は、これらの周期を、例えば、上述したアナログ／デジタル変換回路６のサンプリング周波数に基づき求める。そして、特性検査装置１は、求めた各波形の周期から、最長周期又は最短周期を算出する。再生される光ディスクがコンパクトディスクであれば、最短周期は、３Ｔとなり約６７０ｎ秒となる。
【００８２】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ６において、図４（ｅ）に示すように、求めた最短周期又は最長周期から、この特性検査装置１が何倍速で光ディスクの再生を行っているかを算出する。すなわち、特性検査装置１は、求めた最短周期又は最長周期と、理論値周期とを比較して、現在何倍速で再生をしているかを算出する。
【００８３】
なお、特性検査装置１は、現在どの速度で光ディスクの再生を行っているかが予め分かっている場合には、ステップＳ５及びステップＳ６の処理は行わず、ステップＳ４からステップＳ７の処理に進む。
【００８４】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ７において、図４（ｆ）に示すように各波形の時間幅を算出する。
【００８５】
以下、具体的に、図５（ａ）に示すようなＲＦ信号のうち、図５（ｂ）に示す一部分の波形Ｘの時間幅を算出する場合を例にとって、このステップＳ７の説明をする。
【００８６】
特性検査装置１は、図６に示すように、ステップＳ１１からステップＳ１７までの処理を行い、図５（ｂ）に示した波形Ｘの時間幅を算出する。
【００８７】
まず、特性検査装置１は、ステップＳ１１において、図５（ｃ）に示すような、この波形Ｘの部分の量子化データＤ１〜Ｄ６を取得する。ここで、量子化データＤ１〜Ｄ６は、波形Ｘのデータに加え、スライスレベルを挟んで時間的に前後の部分のデータも含んでいるものである。
【００８８】
続いて特性検査装置１は、ステップＳ１２において、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時間Ｐ１を、量子化データＤ１及びＤ２から補間して求める。例えば、スライスレベル以上のレベルの量子化データをプラスとし、スライスレベル以下のレベルの量子化データをマイナスとした場合、符号が変化する２つの量子化データの間にＲＦ信号がスライスレベルとなるポイントが存在することとなる。従って、特性検査装置１は、このスライスレベルを挟む２つの量子化データのスライスレベルのレベル差と、２つの量子化データをサンプリングした時間を用いて、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時間を補間して求めることができる。
【００８９】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１３において、上記ステップＳ１２と同様にＲＦ信号が時間Ｐ１の次にスライスレベルになる時間Ｐ２を、量子化データＤ５及びＤ６から補間して求める。
【００９０】
なお、上記ステップＳ１２及びステップＳ１３において、スライスレベルにおけるＲＦ信号の時間Ｐ１及びＰ２を求めるための、量子化データを補間する演算手法は、どのようなものを用いても良く、例えば、直線補間により求めてもよい。また、スライスレベル近傍の量子化データを用いるのであれば、２つの量子化データから求めなくても良く、例えば、３つのデータや４つのデータからＲＦ信号がスライスレベルとなる時間を求めても良い。
【００９１】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１４において、算出した時間Ｐ１と、スライスレベルの直後にサンプリングした量子化データＤ２の間の時間幅ｔ１を求める。
【００９２】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１５において、算出した時間Ｐ２と、スライスレベルの直前にサンプリングした量子化データＤ５の間の時間幅ｔ２を求める。
【００９３】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１６において、スライスレベルの直後にサンプリングした量子化データＤ２と、スライスレベルの直前にサンプリングした量子化データＤ５とから、この間の時間幅ｔ３を求める。特性検査装置１は、この時間幅ｔ３を、量子化データＤ２と量子化データＤ５との間のサンプリン数と、アナログ／デジタル変換回路６のサンプリング周波数とに基づき求めることができる。
【００９４】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１７において、上記時間幅ｔ１、時間幅ｔ２及び時間幅ｔ３を加算し、波形Ｘの時間幅を求める。
【００９５】
以上のように特性検査装置１では、ステップＳ７において、上記ステップＳ１１からステップＳ１７を行うことによって、波形Ｘの周期を求めることができる。
【００９６】
また、特性検査装置１では、ステップＳ７において、ＲＦ信号の各波形の時間幅、すなわち、図４（ｆ）に示すように複数の波形の時間幅を測定する。特性検査装置１では、求めた各波形の時間幅のデータを例えば、データ格納部８ｂ等に格納しておく。
【００９７】
続いて特性検査装置１は、ステップＳ８において、上記ステップＳ７で求めたＲＦ信号の各波形の周期を、周期窓を用いて各波形の周期毎にデータに振り分ける。ここで、各波形の周期毎というのは、再生する光ディスクがコンパクトディスクであれば、このコンパクトディスクのＲＦ信号に含まれる変調された信号の波形の周期、３Ｔ〜１１Ｔの各周期毎ということである。周期窓とは、各波形を周期毎に分割するための時間領域である。例えば、特性検査装置１は、上記ステップＳ７で求めた波形の周期が、理論周期Ｔに対して０Ｔ以上３．５Ｔ未満までの時間幅にあれば、これを３Ｔの区分に振り分け、また、理論周期Ｔに対して３．５Ｔ以上４．５Ｔ未満にあれば、これを４Ｔの区分に振り分けるといった作業を行う。
【００９８】
このように特性検査装置１は、周期窓を用いて各波形の周期の振り分けを行う。なお、特性検査装置１は、この振り分けを行う際に、光ディスクの再生速度を考慮して行う。
【００９９】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ９において、上記各周期毎に振り分けをした時間幅から、各周期毎のＲＦ信号のジッタ成分σを測定する。
【０１００】
例えば、この特性検査装置１は、周期窓で振り分けられた周期３Ｔの波形の時間幅を集計し、この平均を求め、各データがこの平均からどれだけの時間幅の違いがあるかを求める。また、各波形のジッタ成分をσiとし、この値から、以下の式（１）に示すように、全ての周期（Σｎｉ）の波形の再生信号に基づき求められたジッタ成分σを求める。
なお、式（１）において、ｎｉ：再生信号の各波形の長さであり、周期３Ｔ〜１１Ｔの任意の値（Ｔは上記デジタルデータの１周期）
【０１０１】
σ＝√（Σｎiσi 2 ／ Σｎi） ・・・（１）
以上のように特性検査装置１では、光学ピックアップ２のジッタについて、測定を行うことができる。
【０１０２】
また、演算処理部８ｄは、ジッタ成分の測定結果を、フォーカスサーボ等の制御量にオフセット成分として付加する。特性検査検査装置１は、再度この条件で上述したステップＳ１からステップＳ９までの処理を行う。このことにより、特性検査装置１では、ジッタの測定結果を、サーボコントロール回路５にフィードバックして、ジッタの再測定をすることができる。
【０１０３】
以上のように、特性検査装置１では、光ディスクの再生信号の各波形の時間幅を、デジタル処理を用いて求めるため、ノイズに強く安定してジッタ成分を計測することができる。さらに、特性検査装置１では、ＲＦ信号に含まれる各周期例えば３Ｔ〜１１Ｔ毎にジッタ成分を測定することができる。また、この特性検査装置１では、全ての周期の波形の再生信号に含まれる総ジッタ成分を容易に求めることができる。
【０１０４】
また、特性検査装置１では、回路構成が非常に簡易であり、測定内容を変更する場合であっても、処理プログラムを変更するだけですむため、コストを安くすることができる。
【０１０５】
また、特性検査装置１では、複数台の特性検査装置１を使用したシステムで光学ピックアップ２のジッタを測定する場合、装置間の補正が簡単にでき、各装置間の測定結果にばらつきが生じない。
【０１０６】
また、特性検査装置１では、以下の処理を行うことにより、ジッタ成分を測定するとともに、ＲＦ信号の各波形毎の振幅を求めることができる。
【０１０７】
すなわち、特性検査装置１は、上述したステップＳ７での処理において、波形Ｘの時間幅を求めている。この際に、特性検査装置１は、量子化データＤ１〜Ｄ６を用いて、波形Ｘの近似式を求める。特性検査装置１は、この近似式に基づき波形Ｘのピーク値を求める。特性検査装置１は、このピーク値を、上述したステップＳ８における周期窓毎に割り振り、各周期毎のピーク値の平均値を求める。このように、特性検査装置１では、ＲＦ信号の各周期毎の振幅を求めることができる。
【０１０８】
さらに特性検査装置１では、上述のように求めた各周期毎の振幅から、これらを比較することによって、それぞれの周期のピーク値のアシメントリ（不均衡性）が求められる。
【０１０９】
以上光学ピックアップ２の特性を測定する特性検査装置１について説明してきたが、この特性検査装置１を光ディスクの特性検査装置に適用することも可能である。すなわち、上述した特性検査装置１では、テストベンチ３にセッティングされる光ディスクをリファレンスとして用いていたが、光学ピックアップをリファレンスとして用いることにより、光ディスクの特性を測定することができる。
【０１１０】
また、特性検査装置１が測定する光学ピックアップ２は、図２に示すフォトディテクタを用いて、信号Ａ〜Ｆを測定していたが、本発明は、このような光学ピックアップに限られない。例えば、光磁気ディスク用の光学ピックアップや相変化ディスク等に用いられる光学ピックアップに適用することも可能である。このような場合、フォトディテクタの構成が一般に図２で説明した場合と異なるので、マトリクス回路４やサーボコントロール回路５の回路構成が、測定する光学ピックアップに対応したものとなる。また、光磁気ディスクであれば、再生信号がカー効果を利用した差信号となるため、演算処理部８ｄで行う処理内容を、この差信号に対応したプログラムとする。
【０１１１】
さらに、特性検査装置１が測定する光学ピックアップ２は、対物レンズ等が一体となったものでなく、例えば、１つの半導体基板上に発光素子と、プリズムと、受光素子等が備えられたいわゆるフォトカプラであってもよい。この場合は、このフォトカプラが特性検査装置１に着脱自在となり、また、対物レンズ等が装置に備えられる。
【０１１２】
また、本発明は、上述したアナログ／デジタル変換回路６と、メモリ７と、コンピュータ８とを備えた、ジッタ成分の測定結果をフィードバックして最適な再生条件あるいは記録条件で信号の記録再生を行う光ディスクの記録及び／又は再生装置に適用することができる。
【０１１３】
すなわち、このような光ディスクの記録及び／再生装置は、通常の光ディスクの回路構成に加え、光ピックアップの再生信号の出力が供給されるアナログ／デジタル変換回路と、このアナログ／デジタル変換回路の出力に基づき再生信号等の特性を演算する演算処理部を備える。
【０１１４】
この演算処理部は、例えばデジタルシグナルプロセッサ等からなり、上記アナログ／デジタル変換回路の出力データから、上述したようなジッタ成分の測定を行う。この演算処理部は、この測定結果に基づき、記録及び／再生装置のサーボ特性や再生特性が最適になるように、再生回路等の制御を行う。そして、この光ディスクの記録及び／再生装置では、最適な再生条件により、光ディスクを再生することができる。
【０１１５】
【発明の効果】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【０１１６】
このことによりこの光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、ノイズに強く、安定してジッタ成分を計測することができる。さらに、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、再生信号に含まれる各周期毎にジッタ成分を測定することができる。また、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、全ての周期の波形の再生信号に含まれる総ジッタ成分を求めることができる。
【０１１７】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【０１１８】
このことによりこの光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、ノイズに強く、安定してジッタ成分を計測することができる。さらに、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、再生信号に含まれる各周期毎にジッタ成分を測定することができる。また、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、全ての周期の波形の再生信号に含まれる総ジッタ成分を求めることができる。
【０１１９】
本発明に係る光ディスクの記録及び／又は再生装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【０１２０】
このことにより本発明に係る光ディスクの記録及び／又は再生装置では、最適な再生条件により、光ディスクを再生することができる。
【０１２１】
本発明に係る光ディスクの再生方法では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【０１２２】
このことにより本発明に係る光ディスクの再生方法では、最適な再生条件により、光ディスクを再生することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の光学ピックアップの特性検査装置のブロック構成図である。
【図２】上記光学ピックアップの特性検査装置の検査対象である光学ピックアップに備えられるフォトディテクタの一例を示す図である。
【図３】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するためのフローチャートである。
【図４】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するための波形図である。
【図５】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するための波形図である。
【図６】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するためのフローチャートである。
【図７】光ディスクドライブが２値化するＲＦ信号等を説明する波形図である。
【図８】従来のジッタ計測装置の測定方法を説明する為の波形図である。
【図９】従来のジッタ計測装置の測定方法を説明する為の波形図である。
【図１０】従来のジッタ計測装置の測定方法を説明する為の波形図である。
【符号の説明】
１ 光ピックアップの特性検査装置、２ 光学ピックアップ、３ テストベンチ、４ マトリクス回路、５ サーボコントロール回路、６ アナログ／デジタル変換回路、７ メモリ、８ コンピュータ
【発明の属する技術分野】
本発明は、所定の変調規則に従ったデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号のジッタ成分を計測する光ディスクの再生信号のジッタ計測装置、及び、光ディスクの再生信号のジッタ計測方法に関する。また、本発明は、光ディスクを再生する光ディスクの記録及び／又は再生装置、並びに、光ディスクの再生方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
デジタルデータが記録された光ディスクを再生する光ディスクドライブでは、光学ピックアップにより再生（ＲＦ）信号を検出し、このＲＦ信号を２値化してデジタルデータを生成する。具体的には、光ディスクドライブでは、図７（ａ）に示すようなＲＦ信号を、所定のスライスレベルで２値化し、図７（ｂ）に示すようなデジタルデータを生成する。
【０００３】
また、一般に、光ディスクには、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録されている。例えば、いわゆるコンパクトディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、記録される信号が、３Ｔから１１Ｔの周期の信号に変調され、これらの各周期の波形がランダムに記録されている。また、例えば、デジタルビデオディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、記録される信号が、３Ｔから１４Ｔの周期の信号に変調され、これらの各周期の波形がランダムに記録されている。光ディスクドライブでは、このような所定の変調方式に従ったデジタルデータを、光ディスクから信号を再生し、この信号を２値化し、デジタルデータを生成することとなる。
【０００４】
ところで、このように光ディスクドライブにより２値化されたデジタルデータは、一般に、周期方向にノイズが乗ったかたちで、すなわち、ジッタ成分が含まれたかたちで、再生されてしまう。例えば、光ディスクから再生したＲＦ信号のうち３Ｔの周期の波形だけ取り出してみた場合、このＲＦ信号の波形の周期は、理論周期３Ｔに対してジッタ成分が含まれた３Ｔ±σ（σ：ジッタ成分）となる。
【０００５】
このように２値化したデジタルデータにジッタ成分が含まれて再生される理由としては、例えば、光ディスクの記録信号に含まれるノイズの影響や、光ディスクに記録された信号を検出する光学ピックアップの特性の影響などがある。
【０００６】
ここで、従来より、このような光ディスクから再生したデジタルデータのジッタ成分を検出するジッタ計測装置が知られている。このジッタ計測装置は、光ディスクから再生したＲＦ信号のジッタ成分を計測して、光ディスクの特性や光学ピックアップの特性を知るために用いられる。
【０００７】
以下、従来より光ディスクの再生信号のジッタ成分の計測に用いられていた第１から第３のジッタ計測装置について説明する。
【０００８】
従来よりジッタ計測に用いられていた第１のジッタ計測装置は、積分回路によりデジタルデータの時間幅を電圧値として求め、ジッタ成分を計測するものである。
【０００９】
まず、この第１のジッタ計測装置では、図８に示すように、ＲＦ信号を所定のスライスレベルで２値化し、デジタルデータを生成する。そして、この第１のジッタ計測装置では、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち上がりエッジで、積分回路を動作させる。続いて、この第１のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジで、積分回路を停止させる。この第１のジッタ計測装置は、このときの積分回路の出力電圧を、デジタルデータの時間幅として計測する。
【００１０】
従って、この第１のジッタ計測装置では、この積分回路の出力電圧を、所定周期に対応する電圧値と比較することにより、電圧値に変換されたジッタ値（σＶ）を検出することができる。
【００１１】
なお、この第１のジッタ計測装置では、時定数に応じて積分回路の特性が定まるので、１つの積分回路により、変調され光ディスクに記録されている複数の周期の波形の内、１の周期の波形に対応するジッタ成分のみの測定しかできない。つまり、この第１のジッタ計測装置では、再生する光ディスクがコンパクトディスクであれば、１つの積分回路により、３Ｔの周期の波形のジッタ成分のみを測定し、他の周期の波形例えば４Ｔから１１Ｔの波形のジッタ成分の測定はできない。
【００１２】
つぎに、従来ジッタ計測に用いられていた第２のジッタ計測装置は、いわゆるタイムインターバルアナライザといわれる装置を用いたもので、デジタルデータの時間幅を高速クロックでカウントし、このカウント出力でジッタ成分を検出するものである。
【００１３】
まず、この第２のジッタ計測装置では、図９に示すように、ＲＦ信号を所定のスライスレベルで２値化し、デジタルデータを生成する。そして、この第２のジッタ計測装置では、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち上がりエッジで、クロック回路を動作させるとともに、このクロック回路が出力するクロック数のカウントを開始する。続いて、この第２のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジで、クロック回路を停止させる。この第２のジッタ計測装置では、このときのカウント数が、デジタルデータの時間幅となる。
【００１４】
従って、この第２のジッタ計測装置では、このカウンタのカウント数を、所定周期におけるカウント数と比較することにより、ジッタ値を検出することができる。
【００１５】
つぎに、従来ジッタ計測に用いられていた第３のジッタ計測装置は、上記第１のジッタ計測装置と上記第２のジッタ計測装置を応用したものである。
【００１６】
まず、この第３のジッタ計測装置では、図１０に示すように、ＲＦ信号を所定のスライスレベルで２値化し、デジタルデータを生成する。このとき、この第３のジッタ計測装置では、クロック回路が所定のクロック周波数で、クロックを発生し続けている。この第３のジッタ計測装置では、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち上がりエッジで、クロック回路を動作させるとともに、このクロック回路が出力するクロック数をカウンタによりカウントする。また、この第３のジッタ計測装置では、このデジタルデータの立ち上がりエッジで、積分回路の動作を開始する。続いて、この第３のジッタ計測装置では、デジタルデータの立ち上がりエッジの直後に発生されたクロックのタイミングで、積分回路の動作を停止する。そして、この第３のジッタ計測装置では、このときの積分回路の出力電圧Ｖ1を計測し、この出力電圧Ｖ1を時間幅に変換して、デジタルデータの第１の時間幅ｔ1とする。
【００１７】
また、この第３のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点の直前のクロックのタイミング、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジの直前のクロックのタイミングで再度積分回路を動作させる。そして、この第３のジッタ計測装置では、ＲＦ信号が次のスライスレベルとなる時点で、すなわち、デジタルデータの立ち下がりエッジで、積分回路を停止させる。
【００１８】
そして、この第３のジッタ計測装置では、デジタルデータの立ち下がりタイミングでのカウンタのカウント数を検出し、このカウント数と上記クロック周波数に基づき、デジタルデータの立ち上がりエッジの直後のクロックのタイミングからデジタルデータの立ち下がりエッジの直前のクロックのタイミングまでの時間幅を求め、この時間幅を第２の時間幅ｔ2とする。また、この第３のジッタ計測装置では、このときの積分回路の出力電圧Ｖ3を計測し、この出力電圧Ｖ3を時間幅に変換して、デジタルデータの第３の時間幅ｔ3とする。
【００１９】
従って、この第３のジッタ計測装置では、上記第１の時間幅ｔ1、上記時間幅ｔ2及び上記時間幅ｔ3を全て加算することにより、デジタルデータの時間幅と計測することができる。そして、この第３のジッタ計測装置では、デジタルデータの時間幅と、理論値を比較することにより、ジッタ値を検出することができる。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上述した従来の第１から第３のジッタ計測装置では、以下に述べる問題点があった。
【００２１】
上記第１のジッタ計測装置では、積分回路を用いてアナログで時間幅を計測するため、ノイズに弱く安定して時間幅を計測することが困難であった。また、上記第１のジッタ計測装置では、１つの積分回路により１つの周期の波形のジッタ成分のみしか計測できないため、複数の周期の波形のジッタ成分を計測するには、測定する周期の波形の数だけ積分回路が必要であった。すなわち、上記第１のジッタ計測装置では、例えば、コンパクトディスクに含まれる３Ｔから１１Ｔまでの周期の波形の全てのジッタ成分を検出するために、時定数が異なる９個の積分回路が必要であった。従って、上記第１のジッタ計測装置では、ハード構成が複雑であった。
【００２２】
上記第２のジッタ計測装置では、クロックをカウントして時間幅を計測するため、このクロック周期より短い時間幅が計測できなかった。また、上記第２のジッタ計測装置では、高速クロックを用いるため、その処理回路等が複雑となり、コストを安くすることが困難であった。
【００２３】
上記第３のジッタ計測装置では、積分回路を用いてアナログで時間幅を計測するため、ノイズに弱く安定して時間幅を計測することが困難であった。また、上記第３のジッタ計測装置では、回路構成が複雑となり、コストを安くすることができなかった。上記第３のジッタ計測装置では、積分回路を用いているため、測定する周期の波形の数だけ積分回路が必要であった。従って、上記第３のジッタ計測装置では、複数の周期の波形を計測するためには、ハード構成が複雑となってしまっていた。
【００２４】
本発明は、このような実情を鑑みてなされたものであり、上記各問題を解決する光ディスクの再生信号のジッタ計測装置、光ディスクの再生信号のジッタ計測方法、光ディスクの記録及び／又は再生装置を提供することを目的とする。
【００２５】
また、本発明は、ジッタ成分を最適化することのできる光ディスクの記録及び／又は再生装置、及び、光ディスクの再生方法を提供することを目的とする。
【００２６】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するために、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換手段と、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるジッタ演算手段とを備える。
【００２７】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【００２８】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、ジッタ演算手段が、各サンプル点での信号レベルからこの再生信号のピーク値を求め、このピーク値に基づき所定のスライスレベルを設定することを特徴とする。
【００２９】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、再生信号のピーク値を求め、再生信号のジッタ成分を求める。
【００３１】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求める。
【００３２】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、ジッタ演算手段が、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、所定の時間幅を基準として、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、各周期の波形の再生信号の振幅を求めることを特徴とする。
【００３３】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、各周期の波形の再生信号の振幅を求める。
【００３４】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置は、ジッタ演算手段が、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、光ディスクの再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求めることを特徴とする。
【００３５】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求める。
【００３６】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換し、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする。
【００３７】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【００３８】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、各サンプル点での信号レベルからこの再生信号のピーク値を求め、このピーク値に基づき所定のスライスレベルを設定することを特徴とする。
【００３９】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、再生信号のピーク値を求め、再生信号のジッタ成分を求める。
【００４０】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、所定の時間幅を基準として、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする。
【００４１】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求める。
【００４２】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、所定の時間幅を基準として、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、各周期の波形の再生信号の振幅を求めることを特徴とする。
【００４３】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、各周期の波形の再生信号の振幅を求める。
【００４４】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法は、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、光ディスクの再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求めることを特徴とする。
【００４５】
この光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるとともに、再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求める。
【００４６】
本発明に係る光ディスクの記録及び／又は再生装置は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクを再生し、この記録された信号に応じたデータを出力する再生手段と、上記再生手段が再生した再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換手段と、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき上記再生手段を制御するジッタ演算制御手段とを備える。
【００４７】
この光ディスクの記録及び／又は再生装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【００４８】
本発明に係る光ディスクの再生方法は、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクを再生し、この記録された信号に応じたデータを出力するとともに、上記所定の変調規則に従ったデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換し、所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求め、上記ジッタ成分に基づき、光ディスクの再生特性を制御するすることを特徴とする。
【００４９】
この光ディスクの再生方法では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【００５０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００５１】
本発明の実施の形態の光学ピックアップの特性測定装置（以下、単に特性検査装置と称する。）は、光ディスクドライブで用いられる光学ピックアップのジッタ成分の特性の測定を行う。このような特性検査装置は、光学ピックアップの仕様の検査や、光学ピックアップの特性の調査などに用いられ、例えば、光学ピックアップの出荷検査や受け入れ検査等に用いられる。
【００５２】
図１は、本発明の実施の形態の特性検査装置のブロック構成図を示している。
【００５３】
この図１に示す特性検査装置１は、検査対象となる光学ピックアップ２と、光ディスクがセッティングされるテストベンチ３と、光学ピックアップ２が有するフォトディテクタの出力が供給され再生（ＲＦ）信号等を出力するマトリクス回路４と、このマトリクス回路４の出力に基づき光ディスクの再生駆動の為のサーボコントロールをするサーボコントロール回路５とを備えている。
【００５４】
また、この特性検査装置１は、マトリクス回路４のＲＦ信号を、デジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換回路６と、このアナログ／デジタル変換回路６の出力データを一時記憶するメモリ７とを備えている。
【００５５】
また、特性検査装置１は、メモリ７に一時記憶されたデジタルデータに基づき光学ピックアップ２のジッタ成分の演算処理やこの演算結果の表示を行い、また、この演算処理結果に基づきサーボコントロール回路５の制御を行うコンピュータ８を備えている。
【００５６】
光学ピックアップ２は、この特性検査装置１の検査対象である。この光学ピックアップ２は、この特性検査装置１に例えば着脱自在となっている。この光学ピックアップ２は、レーザダイオード、ビームスプリッタ、対物レンズ、フォトディテクタ等を有している。この光学ピックアップ２は、レーザダイオードから出射したレーザをビームスプリッタや対物レンズ等を介して光ディスク上に集光させる。そして、この光学ピックアップ２は、光ディスクからの反射光をフォトディテクタ上に結像させる。光学ピックアップ２が有するフォトディテクタは、光電変換素子であり、結像した反射光を電気信号に変換する。
【００５７】
なお、この光学ピックアップ２は、複数のフォトディテクタを備えている。この光学ピックアップ２に備えられる複数のフォトディテクタの一例を図２に示す。
【００５８】
光学ピックアップ２は、例えば、図２に示すような、２×２のマトリクス状に配列された４つのフォトディテクタＡ〜Ｄと、このように配列されたフォトディテクタＡ〜Ｄの両サイドにサイドスポット検出用のフォトディテクタＥ，Ｆとを備えている。このようなフォトディテクタＡ〜Ｆは、光ディスクに３本のレーザを出射するいわゆる３スポット方式の光学ピックアップで用いられる。フォトディテクタＡ〜Ｄには、３スポット方式における中心光となるメインビームが照射される。すなわち、このフォトディテクタＡ〜Ｄには、光ディスクのトラックに記録された記録ピット等に対する反射光が照射される。また、フォトディテクタＥ，Ｆは、上記フォトディテクタＡ〜Ｄに対して光ディスクの半径方向の両サイドに設けられている。フォトディテクタＥ，Ｆには、３スポット方式におけるサイドビームがそれぞれ照射される。例えば、このフォトディテクタＥ，Ｆには、光ディスクのトラックの例えばエッジから反射した光が照射される。
【００５９】
各フォトディテクタＡ〜Ｆは、照射された反射光の光量を、信号Ａ〜Ｆに変換する。光学ピックアップ２は、これら各信号Ａ〜Ｆを、マトリクス回路４に供給する。
【００６０】
テストベンチ３は、光ディスクがセッティングされ、この光ディスクを再生するために、この光ディスクを回転駆動させる。また、このテストベンチ３にセッティングされる光ディスクは、この特性検査装置１のリファレンスとして用いられる。すなわち、特性検査装置１は、このリファレンスとして用いられる光ディスクの再生信号に基づき、光学ピックアップ２のジッタ成分の測定を行う。
【００６１】
マトリクス回路４は、上記光学ピックアップ２の各フォトディテクタＡ〜Ｆの出力である信号Ａ〜Ｆが供給され、これら信号Ａ〜Ｆに基づき、再生（ＲＦ）信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、及び、トラッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成する。マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｆに基づき、例えば、以下のようにＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を生成する。すなわち、マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｄに基づき、Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄを演算し、ＲＦ信号を生成する。また、マトリクス回路４は、信号Ａ〜Ｄに基づき、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を演算し、この演算結果をＦＥ信号として出力する。つまり、マトリクス回路４は、非点収差法に基づいてＦＥ信号を出力する。また、マトリクス回路４は、信号Ｅ，Ｆに基づき、Ｅ−Ｆを演算し、この演算結果をＴＥ信号として出力する。
【００６２】
また、光ディスクには、所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録さている。例えば、いわゆるコンパクトディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、３Ｔから１１Ｔの周期の信号がランダムに記録されている。また、デジタルビデオディスクでは、デジタルデータの１周期をＴとした場合、３Ｔから１４Ｔの周期の信号がランダムに記録されている。このような所定の変調方式に従ったデジタルデータは、マトリクス回路４が生成したＲＦ信号を、所定のスライスレベルで２値化することにより、生成される。
【００６３】
マトリクス回路４は、このように演算したＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号を、サーボコントロール回路５に供給する。また、マトリクス回路４は、ＲＦ信号をアナログ／デジタル変換回路６に供給する。
【００６４】
サーボコントロール回路５は、ＲＦ信号、ＦＥ信号、及び、ＴＥ信号に基づき、光ディスクを再生駆動する際のサーボコントロールをする。具体的には、サーボコントロール回路５は、ＦＥ信号に基づき、このＦＥ信号が０となるように、光学ピックアップ２の対物レンズを動作させる２軸アクチュエータを駆動し、フォーカスサーボ制御を行う。サーボコントロール回路５は、ＴＥ信号に基づき、このＴＥ信号が０となるように、光学ピックアップ２の対物レンズを動作させる２軸アクチュエータを駆動し、トラッキングサーボ制御を行う。サーボコントロール回路５は、ＦＥ信号の直流成分を検出し、この直流成分が０となるように、光学ピックアップ２のスレッドサーボ制御を行う。また、サーボコントロール回路５は、ＲＦ信号に基づき、光ディスクの傾きを制御するチルトサーボ制御を行う。なお、このサーボコントロール回路５は、光ディスクの傾きの検出機構を別途設けて、チルトサーボ制御を行っても良い。
【００６５】
アナログ／デジタル変換回路６は、ＲＦ信号から生成される所定の変調方式に従ったデジタルデータの最低理論周期の波形、例えばコンパクトディスクであれば３Ｔの周期の波形が、充分再現できる程度に高速のサンプリング周波数でＲＦ信号をサンプリングする。アナログ／デジタル変換回路６は、例えば、３０ＭＨｚ程度のサンプリング周波数でＲＦ信号をデジタルデータに変換する。アナログ／デジタル変換回路６は、デジタルデータに変換したＲＦ信号を、メモリ７に供給する。
【００６６】
メモリ７は、アナログ／デジタル変換回路６によりデジタルデータに変換されたＲＦ信号を一時記憶する。
【００６７】
コンピュータ８は、例えば、インターフェース部８ａ、データ格納部８ｂ、出力部８ｃ、演算処理部８ｄ等を有している。インターフェース部８ａは、サーボコントロール回路５を制御するための制御信号を、このサーボコントロール回路５に対して出力する。データ格納部８ｂは、この特性検査装置１の光学ピックアップ２のジッタ成分の測定に対応した処理プログラムを格納している。出力部８ｃは、光学ピックアップ２のジッタ成分の測定結果を表示する。
【００６８】
コンピュータ８の演算処理部８ｄは、メモリ７に記憶されたデジタルデータに変換されたＲＦ信号を読み出し、このデータに基づきＲＦ信号のジッタ成分を検出する。
【００６９】
また、コンピュータ８の演算処理部８ｄは、ジッタ成分の測定に応じた処理をするにあたり、メモリ７に記憶したデータに対して、以下の演算処理を行う。演算処理部８ｄは、例えば、フィルタ演算、ピークレベル演算、波形周期の算出演算、レベル窓による信号の抽出演算、周期窓による信号の抽出演算等を行う。
【００７０】
つぎに、この特性検査装置１による光学ピックアップ２のジッタ成分の測定処理内容を、図３、図４、図５、及び、図６を用いて説明する。
【００７１】
特性検査装置１は、ユーザにより光学ピックアップ２がセッティングされ、操作開始指示がされると、図３に示すフローチャートのステップＳ１から処理を開始する。
【００７２】
特性検査装置１は、ステップＳ１において、光ディスクを再生して、例えば図４（ａ）に示すようなＲＦ信号を検出する。
【００７３】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ２において、アナログ／デジタル変換回路６により、図４（ｂ）に示すようにＲＦ信号をデジタルデータに変換し、量子化する。この量子化されたＲＦ信号は、順次メモリ７に記憶される。
【００７４】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ３において、量子化されたＲＦ信号に基づき、図４（ｃ）に示すようにＲＦ信号の各波形のピーク値を検出する。すなわち、光ディスクから再生されるＲＦ信号には、例えば３Ｔ〜１１Ｔの周期の成分を有する波形がランダムに含まれている。従って、ＲＦ信号は、レベルがプラスマイナスに上下に変動する波形となっている。特性検査装置１は、この変動のプラス側のピーク値とマイナス側のピーク値を、各波形毎に検出する。
【００７５】
なお、このステップＳ３におけるピーク値の検出処理は、演算処理部８ｄがメモリ７に記憶される量子化データを読み出して処理を行う。また、以下の、ステップＳ４以降の処理も同様である。
【００７６】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ４において、検出したＲＦ信号のピーク値に基づき、図４（ｄ）に示すようなＲＦ信号を２値化する際のスライスレベルを算出する。ここで、特性検査装置１は、このスライスレベルを以下に説明するような演算を行って算出する。
【００７７】
例えば、特性検査装置１は、全ての波形のプラス側のピーク値の平均値と、マイナス側のピーク値の平均値を求め、これら平均値の中点等をスライスレベルとする。また、特性検査装置１は、中点に対して所定のオフセット加えた値をスライスレベルとしてもよい。さらに、特性検査装置１は、全ての波形のピーク値ではなく、ＲＦ信号に含まれる所定周期の所定波形、例えば３Ｔの波形のみを検出し、この３Ｔの波形のピーク値の平均の中点等をスライスレベルとしてもよい。
【００７８】
また、特性検査装置１は、上記スライスレベルを算出する場合、ノイズ成分等を除去するため、所定の制限を加えて検出したピーク値を用いてもよい。
【００７９】
例えば、特性検査装置１は、再生する光ディスクのＲＦ信号の理論振幅に対して、１／４以上のレベルのピーク値のみを検出するようにする。特性検査装置１では、ピーク値を検出する際に振幅方向に制限を加えることにより、ノイズ成分を除去することができ、正確なスライスレベルを算出することができる。また、例えば、特性検査装置１は、ピーク値とピーク値との時間幅が、再生する光ディスクのＲＦ信号の最短周期波形（例えば３Ｔ）の周期の１／２以上のときのみピーク値を検出するようにする。特性検査装置１では、ピーク値を検出する際に時間軸方向に制限を加えることにより、ノイズ成分を除去することができ、正確なスライスレベルを算出することができる。
【００８０】
なお、特性検査装置１は、スライスレベルを設定するにあたり、ユーザがその値を任意に設定できるようにしてもよいし、また、上述した手法で求めたスライスレベルに対してオフセットを加えるようにしてもよい。
【００８１】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ５において、算出したスライスレベルを用いてＲＦ信号をレベル分割し、このスライスレベルで区切られる各波形の周期を求める。特性検査装置１は、これらの周期を、例えば、上述したアナログ／デジタル変換回路６のサンプリング周波数に基づき求める。そして、特性検査装置１は、求めた各波形の周期から、最長周期又は最短周期を算出する。再生される光ディスクがコンパクトディスクであれば、最短周期は、３Ｔとなり約６７０ｎ秒となる。
【００８２】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ６において、図４（ｅ）に示すように、求めた最短周期又は最長周期から、この特性検査装置１が何倍速で光ディスクの再生を行っているかを算出する。すなわち、特性検査装置１は、求めた最短周期又は最長周期と、理論値周期とを比較して、現在何倍速で再生をしているかを算出する。
【００８３】
なお、特性検査装置１は、現在どの速度で光ディスクの再生を行っているかが予め分かっている場合には、ステップＳ５及びステップＳ６の処理は行わず、ステップＳ４からステップＳ７の処理に進む。
【００８４】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ７において、図４（ｆ）に示すように各波形の時間幅を算出する。
【００８５】
以下、具体的に、図５（ａ）に示すようなＲＦ信号のうち、図５（ｂ）に示す一部分の波形Ｘの時間幅を算出する場合を例にとって、このステップＳ７の説明をする。
【００８６】
特性検査装置１は、図６に示すように、ステップＳ１１からステップＳ１７までの処理を行い、図５（ｂ）に示した波形Ｘの時間幅を算出する。
【００８７】
まず、特性検査装置１は、ステップＳ１１において、図５（ｃ）に示すような、この波形Ｘの部分の量子化データＤ１〜Ｄ６を取得する。ここで、量子化データＤ１〜Ｄ６は、波形Ｘのデータに加え、スライスレベルを挟んで時間的に前後の部分のデータも含んでいるものである。
【００８８】
続いて特性検査装置１は、ステップＳ１２において、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時間Ｐ１を、量子化データＤ１及びＤ２から補間して求める。例えば、スライスレベル以上のレベルの量子化データをプラスとし、スライスレベル以下のレベルの量子化データをマイナスとした場合、符号が変化する２つの量子化データの間にＲＦ信号がスライスレベルとなるポイントが存在することとなる。従って、特性検査装置１は、このスライスレベルを挟む２つの量子化データのスライスレベルのレベル差と、２つの量子化データをサンプリングした時間を用いて、ＲＦ信号がスライスレベルとなる時間を補間して求めることができる。
【００８９】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１３において、上記ステップＳ１２と同様にＲＦ信号が時間Ｐ１の次にスライスレベルになる時間Ｐ２を、量子化データＤ５及びＤ６から補間して求める。
【００９０】
なお、上記ステップＳ１２及びステップＳ１３において、スライスレベルにおけるＲＦ信号の時間Ｐ１及びＰ２を求めるための、量子化データを補間する演算手法は、どのようなものを用いても良く、例えば、直線補間により求めてもよい。また、スライスレベル近傍の量子化データを用いるのであれば、２つの量子化データから求めなくても良く、例えば、３つのデータや４つのデータからＲＦ信号がスライスレベルとなる時間を求めても良い。
【００９１】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１４において、算出した時間Ｐ１と、スライスレベルの直後にサンプリングした量子化データＤ２の間の時間幅ｔ１を求める。
【００９２】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１５において、算出した時間Ｐ２と、スライスレベルの直前にサンプリングした量子化データＤ５の間の時間幅ｔ２を求める。
【００９３】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１６において、スライスレベルの直後にサンプリングした量子化データＤ２と、スライスレベルの直前にサンプリングした量子化データＤ５とから、この間の時間幅ｔ３を求める。特性検査装置１は、この時間幅ｔ３を、量子化データＤ２と量子化データＤ５との間のサンプリン数と、アナログ／デジタル変換回路６のサンプリング周波数とに基づき求めることができる。
【００９４】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ１７において、上記時間幅ｔ１、時間幅ｔ２及び時間幅ｔ３を加算し、波形Ｘの時間幅を求める。
【００９５】
以上のように特性検査装置１では、ステップＳ７において、上記ステップＳ１１からステップＳ１７を行うことによって、波形Ｘの周期を求めることができる。
【００９６】
また、特性検査装置１では、ステップＳ７において、ＲＦ信号の各波形の時間幅、すなわち、図４（ｆ）に示すように複数の波形の時間幅を測定する。特性検査装置１では、求めた各波形の時間幅のデータを例えば、データ格納部８ｂ等に格納しておく。
【００９７】
続いて特性検査装置１は、ステップＳ８において、上記ステップＳ７で求めたＲＦ信号の各波形の周期を、周期窓を用いて各波形の周期毎にデータに振り分ける。ここで、各波形の周期毎というのは、再生する光ディスクがコンパクトディスクであれば、このコンパクトディスクのＲＦ信号に含まれる変調された信号の波形の周期、３Ｔ〜１１Ｔの各周期毎ということである。周期窓とは、各波形を周期毎に分割するための時間領域である。例えば、特性検査装置１は、上記ステップＳ７で求めた波形の周期が、理論周期Ｔに対して０Ｔ以上３．５Ｔ未満までの時間幅にあれば、これを３Ｔの区分に振り分け、また、理論周期Ｔに対して３．５Ｔ以上４．５Ｔ未満にあれば、これを４Ｔの区分に振り分けるといった作業を行う。
【００９８】
このように特性検査装置１は、周期窓を用いて各波形の周期の振り分けを行う。なお、特性検査装置１は、この振り分けを行う際に、光ディスクの再生速度を考慮して行う。
【００９９】
続いて、特性検査装置１は、ステップＳ９において、上記各周期毎に振り分けをした時間幅から、各周期毎のＲＦ信号のジッタ成分σを測定する。
【０１００】
例えば、この特性検査装置１は、周期窓で振り分けられた周期３Ｔの波形の時間幅を集計し、この平均を求め、各データがこの平均からどれだけの時間幅の違いがあるかを求める。また、各波形のジッタ成分をσiとし、この値から、以下の式（１）に示すように、全ての周期（Σｎｉ）の波形の再生信号に基づき求められたジッタ成分σを求める。
なお、式（１）において、ｎｉ：再生信号の各波形の長さであり、周期３Ｔ〜１１Ｔの任意の値（Ｔは上記デジタルデータの１周期）
【０１０１】
σ＝√（Σｎiσi 2 ／ Σｎi） ・・・（１）
以上のように特性検査装置１では、光学ピックアップ２のジッタについて、測定を行うことができる。
【０１０２】
また、演算処理部８ｄは、ジッタ成分の測定結果を、フォーカスサーボ等の制御量にオフセット成分として付加する。特性検査検査装置１は、再度この条件で上述したステップＳ１からステップＳ９までの処理を行う。このことにより、特性検査装置１では、ジッタの測定結果を、サーボコントロール回路５にフィードバックして、ジッタの再測定をすることができる。
【０１０３】
以上のように、特性検査装置１では、光ディスクの再生信号の各波形の時間幅を、デジタル処理を用いて求めるため、ノイズに強く安定してジッタ成分を計測することができる。さらに、特性検査装置１では、ＲＦ信号に含まれる各周期例えば３Ｔ〜１１Ｔ毎にジッタ成分を測定することができる。また、この特性検査装置１では、全ての周期の波形の再生信号に含まれる総ジッタ成分を容易に求めることができる。
【０１０４】
また、特性検査装置１では、回路構成が非常に簡易であり、測定内容を変更する場合であっても、処理プログラムを変更するだけですむため、コストを安くすることができる。
【０１０５】
また、特性検査装置１では、複数台の特性検査装置１を使用したシステムで光学ピックアップ２のジッタを測定する場合、装置間の補正が簡単にでき、各装置間の測定結果にばらつきが生じない。
【０１０６】
また、特性検査装置１では、以下の処理を行うことにより、ジッタ成分を測定するとともに、ＲＦ信号の各波形毎の振幅を求めることができる。
【０１０７】
すなわち、特性検査装置１は、上述したステップＳ７での処理において、波形Ｘの時間幅を求めている。この際に、特性検査装置１は、量子化データＤ１〜Ｄ６を用いて、波形Ｘの近似式を求める。特性検査装置１は、この近似式に基づき波形Ｘのピーク値を求める。特性検査装置１は、このピーク値を、上述したステップＳ８における周期窓毎に割り振り、各周期毎のピーク値の平均値を求める。このように、特性検査装置１では、ＲＦ信号の各周期毎の振幅を求めることができる。
【０１０８】
さらに特性検査装置１では、上述のように求めた各周期毎の振幅から、これらを比較することによって、それぞれの周期のピーク値のアシメントリ（不均衡性）が求められる。
【０１０９】
以上光学ピックアップ２の特性を測定する特性検査装置１について説明してきたが、この特性検査装置１を光ディスクの特性検査装置に適用することも可能である。すなわち、上述した特性検査装置１では、テストベンチ３にセッティングされる光ディスクをリファレンスとして用いていたが、光学ピックアップをリファレンスとして用いることにより、光ディスクの特性を測定することができる。
【０１１０】
また、特性検査装置１が測定する光学ピックアップ２は、図２に示すフォトディテクタを用いて、信号Ａ〜Ｆを測定していたが、本発明は、このような光学ピックアップに限られない。例えば、光磁気ディスク用の光学ピックアップや相変化ディスク等に用いられる光学ピックアップに適用することも可能である。このような場合、フォトディテクタの構成が一般に図２で説明した場合と異なるので、マトリクス回路４やサーボコントロール回路５の回路構成が、測定する光学ピックアップに対応したものとなる。また、光磁気ディスクであれば、再生信号がカー効果を利用した差信号となるため、演算処理部８ｄで行う処理内容を、この差信号に対応したプログラムとする。
【０１１１】
さらに、特性検査装置１が測定する光学ピックアップ２は、対物レンズ等が一体となったものでなく、例えば、１つの半導体基板上に発光素子と、プリズムと、受光素子等が備えられたいわゆるフォトカプラであってもよい。この場合は、このフォトカプラが特性検査装置１に着脱自在となり、また、対物レンズ等が装置に備えられる。
【０１１２】
また、本発明は、上述したアナログ／デジタル変換回路６と、メモリ７と、コンピュータ８とを備えた、ジッタ成分の測定結果をフィードバックして最適な再生条件あるいは記録条件で信号の記録再生を行う光ディスクの記録及び／又は再生装置に適用することができる。
【０１１３】
すなわち、このような光ディスクの記録及び／再生装置は、通常の光ディスクの回路構成に加え、光ピックアップの再生信号の出力が供給されるアナログ／デジタル変換回路と、このアナログ／デジタル変換回路の出力に基づき再生信号等の特性を演算する演算処理部を備える。
【０１１４】
この演算処理部は、例えばデジタルシグナルプロセッサ等からなり、上記アナログ／デジタル変換回路の出力データから、上述したようなジッタ成分の測定を行う。この演算処理部は、この測定結果に基づき、記録及び／再生装置のサーボ特性や再生特性が最適になるように、再生回路等の制御を行う。そして、この光ディスクの記録及び／再生装置では、最適な再生条件により、光ディスクを再生することができる。
【０１１５】
【発明の効果】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【０１１６】
このことによりこの光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、ノイズに強く、安定してジッタ成分を計測することができる。さらに、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、再生信号に含まれる各周期毎にジッタ成分を測定することができる。また、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測装置では、全ての周期の波形の再生信号に含まれる総ジッタ成分を求めることができる。
【０１１７】
本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求める。
【０１１８】
このことによりこの光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、ノイズに強く、安定してジッタ成分を計測することができる。さらに、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、再生信号に含まれる各周期毎にジッタ成分を測定することができる。また、本発明に係る光ディスクの再生信号のジッタ計測方法では、全ての周期の波形の再生信号に含まれる総ジッタ成分を求めることができる。
【０１１９】
本発明に係る光ディスクの記録及び／又は再生装置では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【０１２０】
このことにより本発明に係る光ディスクの記録及び／又は再生装置では、最適な再生条件により、光ディスクを再生することができる。
【０１２１】
本発明に係る光ディスクの再生方法では、光ディスクの再生信号を所定のサンプリング周波数でデジタルデータに変換し、再生信号が所定のスライスレベルとなる時点を補間し、再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき再生信号をフィードバック制御する。
【０１２２】
このことにより本発明に係る光ディスクの再生方法では、最適な再生条件により、光ディスクを再生することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態の光学ピックアップの特性検査装置のブロック構成図である。
【図２】上記光学ピックアップの特性検査装置の検査対象である光学ピックアップに備えられるフォトディテクタの一例を示す図である。
【図３】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するためのフローチャートである。
【図４】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するための波形図である。
【図５】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するための波形図である。
【図６】上記光学ピックアップの特性検査装置の処理内容を説明するためのフローチャートである。
【図７】光ディスクドライブが２値化するＲＦ信号等を説明する波形図である。
【図８】従来のジッタ計測装置の測定方法を説明する為の波形図である。
【図９】従来のジッタ計測装置の測定方法を説明する為の波形図である。
【図１０】従来のジッタ計測装置の測定方法を説明する為の波形図である。
【符号の説明】
１ 光ピックアップの特性検査装置、２ 光学ピックアップ、３ テストベンチ、４ マトリクス回路、５ サーボコントロール回路、６ アナログ／デジタル変換回路、７ メモリ、８ コンピュータ
Claims (28)
- 所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換手段と、
所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めるジッタ演算手段とを備える光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。 - 上記ジッタ演算手段は、上記各サンプル点での信号レベルからこの再生信号のピーク値を求め、このピーク値に基づき上記所定のスライスレベルを設定することを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、絶対値が所定レベル以上となるサンプル点の信号レベル、及び／又は、先のピーク値から所定の時間以上となるサンプル点の信号レベルに基づき上記ピーク値を求めることを特徴とする請求項２に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、上記光ディスクの最短周期波形の理論振幅値に対して絶対値が１／４以上のレベルとなるサンプル点の信号レベルに基づき、上記ピーク値を求めることを特徴とする請求項３に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、上記光ディスクの最短周期波形の理論周期に対して１／２周期以上の時間が経過した後のサンプル点の信号レベルに基づき、上記ピーク値を求めることを特徴とする請求項３に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅のうち最短の時間幅及び／又は最長の時間幅を基準として、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、最短周期波形の時間幅の理論値及び／又は最長の時間幅の理論値を基準として、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、所定の周期の波形の再生信号に基づき、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、複数の周期の波形の再生信号に基づき、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、上記所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータの全ての周期の波形の再生信号に基づき、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、下記の式（１）を用いてジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
σ＝√（Σｎｉσｉ２／Σｎｉ） ・・・（１）
σ：全ての周期の波形の再生信号に基づき求められたジッタ成分
σｉ：１の周期の波形の再生信号に基づき求められたジッタ成分
ｎｉ：再生信号の各波形の長さであり、周期３Ｔ〜１１Ｔの任意の値（Ｔは上記デジタルデータの１周期） - 上記ジッタ演算手段は、所定の時間幅を基準として、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、各周期の波形の再生信号の振幅を求めること特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 上記ジッタ演算手段は、さらに、光ディスクの再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求めることを特徴とする請求項１に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測装置。
- 所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換し、
所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、
上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、
上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。 - 各サンプル点での信号レベルからこの再生信号のピーク値を求め、このピーク値に基づき上記所定のスライスレベルを設定することを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 絶対値が所定レベル以上となるサンプル点の信号レベル、及び／又は、先のピーク値から所定の時間以上となるサンプル点の信号レベルに基づき上記ピーク値を求めることを特徴とする請求項１５に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 光ディスクの最短周期波形の理論振幅値に対して絶対値が１／４以上のレベルとなるサンプル点の信号レベルに基づき、上記ピーク値を求めることを特徴とする請求項１６に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 光ディスクの最短周期波形の理論周期に対して１／２周期以上の時間が経過した後のサンプル点の信号レベルに基づき、上記ピーク値を求めることを特徴とする請求項１６に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅のうち最短の時間幅及び／又は最長の時間幅を基準として、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 最短周期波形の時間幅の理論値及び／又は最長の時間幅の理論値を基準として、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期の対応する時間幅を抽出し、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 所定の周期の波形の再生信号に基づき、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 複数の周期の波形の再生信号に基づき、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 上記ジッタ演算手段は、上記所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータの全ての周期の波形の再生信号に基づき、光ディスクの再生信号のジッタ成分を求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 下記の式（２）を用いてジッタ成分を求めることを特徴とする請求項２３に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
σ＝√（Σｎｉσｉ２／Σｎｉ） ・・・（２）
σ：全ての周期の波形の再生信号に基づき求められたジッタ成分
σｉ：１の周期の波形の再生信号に基づき求められたジッタ成分
ｎｉ：再生信号の各波形の長さであり、周期３Ｔ〜１１Ｔの任意の値（Ｔは上記デジタルデータの１周期） - さらに、所定の時間幅を基準として、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅から、光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期に対応する時間幅を抽出し、各周期の波形の再生信号の振幅を求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- さらに、光ディスクの再生信号の各周期の波形の再生信号の振幅のアシメントリを求めることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの再生信号のジッタ計測方法。
- 所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクを再生し、この記録された信号に応じたデータを出力する再生手段と、
上記再生手段が再生した再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換するアナログ／デジタル変換手段と、
所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求め、このジッタ成分に基づき上記再生手段を制御するジッタ演算制御手段と
を備える光ディスクの記録及び／又は再生装置。 - 所定の変調方式に従って変調されたデジタルデータが記録された光ディスクを再生し、この記録された信号に応じたデータを出力するとともに、
上記所定の変調規則に従ったデジタルデータが記録された光ディスクの再生信号を、所定のサンプリング周波数でサンプルして各サンプル点での信号レベルを示すデジタルデータに変換し、
所定のスライスレベルの近傍のサンプル点における上記信号レベル及び上記サンプリング周波数に基づき上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点を補間して求め、
上記再生信号が上記所定のスライスレベルとなる時点間の各時間幅を求め、
上記各時間幅を光ディスクの再生信号に含まれる各波形の周期として光ディスクの再生信号のジッタ成分を求め、
上記ジッタ成分に基づき、光ディスクの再生特性を制御することを特徴とする光ディスクの再生方法。
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