JP3240462B2 - 光ディスク装置の光ピックアップサーボ装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク装置の光
ピックアップサーボ方法に係り、とくにＣＤ−ＷＯ、Ｃ
Ｄ−ＭＯ、ＣＤ−Ｅなどの記録可能光ディスクに所望の
記録信号を記録する際、フォーカシングサーボ、トラッ
キングサーボなどを安定に行えるようにした光ディスク
装置の光ピックアップサーボ方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、記録可能光ディスクの１つであ
るＣＤ−ＷＯに所望の記録信号（ＣＤ−ＷＯではＥＦＭ
信号）を記録しようとする場合、記録信号に基づき光デ
ィスクに照射するレーザビームのパワーを強弱変化させ
てマーク（レーザパワー：強）とスペース（レーザパワ
ー：弱）を記録させる。ＣＤ−ＷＯの場合、マーク、ス
ペースはプリグルーブの底に記録されるが、正しく記録
するためにはフォーカシングサーボによりビームスポッ
トをプリグルーブの底面に合焦させ、トラッキングサー
ボによりトラック（プリグルーブ）を追従させる必要が
ある。ＣＤ−ＷＯの回転時の面振れでプリグルーブの底
面は上下に偏位し、また、ＣＤ−ＷＯの回転時の芯振れ
でトラックがディスク半径方向に偏位する。このため、
ＣＤ−ＷＯへの記録を行う光ディスク装置には光ピック
アップサーボ系が設けてあり、プリグルーブの底面への
レーザビームの合焦とトラックの追従が行われる。

【０００３】図１２は従来の光ピックアップサーボ系の
構成図である。記録データは記録信号処理回路１により
正規のＥＦＭ信号（図１３（１）のａ参照）とレーザ制
御用ＥＦＭ信号に変換される（図１３（１）のｂ参
照）。正規のＥＦＭ信号ａはチャネル周期をＴとして、
３Ｔ〜１１Ｔの長さのマーク部分（ハイレベル）とスペ
ース部分（ローレベル）を有する。レーザ制御用ＥＦＭ
信号ｂは時間軸上で正規のＥＦＭ信号ａと同じタイミン
グでハイレベルに立ち上がるが、ローレベルへの立ち下
がりが一定時間だけ速くなされる。光ピックアップ２の
ＬＤ（レーザダイオード）駆動回路３はレーザ制御用Ｅ
ＦＭ信号ｂに従い、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂがハイレ
ベルの間、ＬＤ４を大電流で駆動しパワーの強いレーザ
ビームを発射させる。レーザビームはビームスプリッタ
５で曲げられたあと、対物レンズ６で絞られＣＤ−ＷＯ
７のプリグルーブの底面に合焦してマークを記録する。
レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂがローレベルに落ちると、Ｌ
Ｄ駆動回路３はＬＤ４を小電流で駆動しレーザビームの
パワーを弱め、ＣＤ−ＷＯ７にスペースを記録させる。
レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂのマーク期間は正規のＥＦＭ
信号ａのマーク期間に比べて少し短い。

【０００４】ＣＤ−ＷＯ７からの反射ビームが対物レン
ズ６、ビームスプリッタ５を通過して４分割光検出器８
に入射する。４分割光検出器８の各受光素子ＰＤ_A 〜Ｐ
Ｄ_Dは受光量に応じた光電流Ｉ_A 〜Ｉ_D を出力する。こ
れらの光電流Ｉ_A 〜Ｉ_D は電流／電圧変換器（Ｉ／Ｖ）
９Ａ〜９Ｄにより個別に電流／電圧変換されてＶ_A 〜Ｖ
_D として外部に出力される。Ｖ_A 〜Ｖ_D はフォーカスエ
ラー検出回路１０に入力されて、（Ｖ_A ＋Ｖ_C ）−（Ｖ
_B ＋Ｖ_D ）の演算がなされ、フォーカスエラー信号ＦＥ
が作成される。そして、フォーカスサーボ回路１１にて
位相補償とゲイン調整をしたのち、光ピックアップ２の
フォーカスアクチュエータ１２を駆動して対物レンズ６
をＣＤ−ＷＯ７に対する垂直方向で、フォーカスエラー
信号ＦＥが零になる方向に対物レンズ６を移動し、ビー
ムスポットをプリグルーブの底に合焦させる。また、Ｖ
_A 〜Ｖ_D はトラッキングエラー検出回路１３に入力され
て、（Ｖ_A ＋Ｖ_D ）−（Ｖ_B ＋Ｖ_C ）の演算がなされ、
トラッキングエラー信号ＴＥが作成される。そして、ト
ラッキングサーボ回路１４にて位相補償とゲイン調整を
したのち、光ピックアップ２のトラッキングアクチュエ
ータ１５を駆動して対物レンズ６をＣＤ−ＷＯ７に対す
るディスク半径方向で、トラッキングエラー信号ＴＥが
零となる方向に移動し、ビームスポットをトラックに追
従させる。

【０００５】ところで、マークを記録する際、レーザパ
ワーの強度がかなり高くなり、４分割光検出器８の出力
が大きくなり過ぎて、フォーカスエラー信号やトラッキ
ングエラー信号が異常値となる。そこで、図１２に示す
如く、４つの電流／電圧変換器９Ａ〜９Ｄの出力側に個
別にサンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄを設けてお
き、サンプリング制御回路１７によりＥＦＭ信号ａに基
づき、マークの記録時はＬレベル、スペースの記録時は
ＨレベルとなるサンプルパルスＳＰを作成してサンプル
・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄに出力し、サンプルパル
スＳＰがＨレベルの間にサンプル動作をさせ、Ｌレベル
の間にホールド動作をさせるようにした提案がある（特
開平５−１２０７０４号公報参照）。

【０００６】但し、３Ｔ、４Ｔなどの短いマークを記録
する場合、ホールド期間が短くなり過ぎて、サンプルパ
ルスＳＰにリンギングが発生し、マークの記録中にサン
プル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄが誤ってサンプル動
作をしてしまい、異常なエラー信号が発生してしまう。
そこで、サンプリング制御回路１７を図１４に示す如
く、抵抗ＲとコンデンサＣから成るＲＣ回路の抵抗Ｒと
並列にダイオードＤを接続し、かつ、ＲＣ回路の出力側
に波形整形用のシュミットトリガ回路を設けたアナログ
波形加工回路で構成し、ＥＦＭ信号ａの立ち上が時はダ
イオードＤが順方向バイアスとなり、コンデンサＣが直
ぐに充電されるのでサンプルパルスＳＰも直ぐに立ち上
がるが、ＥＦＭ信号ａの立ち下がり時はダイオードＤが
逆方向バイアスとなり、コンデンサＣが抵抗Ｒを介して
放電されるのでサンプルパルスＳＰは一定の遅延時間Δ
ｔ後に立ち下がるようにする。すると、図１３（１）の
符号ＳＰに示す如く、ＥＦＭ信号ａの３Ｔ、４Ｔの短い
マークであっても、サンプルパルスではホールド期間が
各々、Δｔだけ延びるので、リンギングが小さくなりサ
ンプル・ホールド回路の誤動作が防止される。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】図１４のサンプリング
制御回路では、記録信号の全てのマークの後端をΔｔだ
け延ばしてホールド期間としている。このため、光ディ
スク装置が記録速度を例えば１倍速（Ｔ＝１／４．３２
１８ＭＨｚ）と４倍速（Ｔ＝１／（４．３２１８×４）
ＭＨｚ）の２段階に切り換えできる場合、１倍速の通常
記録時は図１３（１）に示す如く、サンプルパルスＳＰ
に十分な長さのサンプル期間が確保されるので、サンプ
ル動作をするときに光ピックアップ２の出力（電流／電
圧変換器９Ａ〜９Ｄの出力）を正しくサンプリングする
ことができる。しかし、４倍速の高速記録に切り換わる
と、図１３（２）に示す如く、正規のＥＦＭ信号ａとレ
ーザ制御用ＥＦＭ信号ｂはともに時間軸上で圧縮された
形となるが、サンプルパルスＳＰのホールド期間の内、
延長部分Δｔは圧縮されないので、サンプルパルスＳＰ
のサンプル期間が極端に短くなってしまい、光ピックア
ップ２の出力を正しくサンプリングすることができず、
フォーカスサーボ動作やトラッキングサーボ動作が不安
定になって、最悪の場合記録不能になってしまう問題が
あった。

【０００８】本発明は上記した従来技術の問題に鑑み、
サンプル・ホールド回路のサンプル期間が極端に短くな
らないようにして、サーボの不安定化を回避できるよう
にした光ディスク装置の光ピックアップサーボ装置を提
供することを、その目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の光ディス
ク装置の光ピックアップサーボ装置では、光ディスクに
照射するレーザビームのパワーを記録信号に基づき強弱
変化させてｍ・Ｔ（ｍは正の整数であり、ｍ_min からｍ
_max までの値を取る。Ｔはチャネル周期）の長さのマー
クとスペースを記録させる一方、光ディスクからの反射
ビームを受光し、光電変換して出力する光ピックアップ
と、光ピックアップの出力から光ピックアップサーボ用
のエラー信号を生成するエラー信号生成手段と、を備え
た光ディスク装置において、光ピックアップとエラー信
号生成手段の間に設けられて、光ピックアップの出力を
サンプル・ホールドするサンプル・ホールド手段と、記
録信号に基づきサンプル・ホールド手段を制御し、マー
クが記録される期間と、長さがｐ・Ｔ（但し、ｐは、ｍ
_min ≦ｐ＜ｍ_max の条件を満足する整数）以下の短いマ
ークの前または／及び後に続くスペースの記録される期
間とをホールド動作させ、それ以外の期間はサンプル動
作をさせる制御手段とを備えたことを特徴としている。

【００１０】請求項２記載の光ディスク装置の光ピック
アップサーボ装置では、光ディスクへの記録速度が切り
換え可能なとき、制御手段は、記録速度が遅いときはｐ
を小さく設定し、記録速度が速いときはｐを大きく設定
してサンプル・ホールド手段を制御するようにしたこと
を特徴としている。

【００１１】

【作用】請求項１記載の光ディスク装置の光ピックアッ
プサーボ装置によれば、光ピックアップとエラー信号生
成手段の間に、光ピックアップの出力をサンプル・ホー
ルドするサンプル・ホールド手段を設け、記録信号に基
づきサンプル・ホールド手段を制御し、マークが記録さ
れる期間と、長さがｐ・Ｔ（但し、ｐは、ｍ_min≦ｐ＜
ｍ_max の条件を満足する整数）の短いマークの前または
／及び後に続くスペースの記録される期間とをホールド
動作させ、それ以外の期間はサンプル動作をさせる。こ
れにより、マークが記録される期間と、長さがｐ・Ｔ
（但し、ｐは、ｍ_min≦ｐ＜ｍ_max の条件を満足する整
数）以下の短いマークの前または／及び後に続くスペー
スの記録される期間とがホールド動作となり、短いホー
ルド期間がなくなるのでサンプルパルスにリンギングが
発生しない。よって、マークの記録中にサンプル・ホー
ルド手段が誤ってサンプル動作をし、異常なエラー信号
が発生することはない。そして、ｐ・Ｔより長いマーク
の前または後に続くスペースの記録される期間、或い
は、ｐ・Ｔより長いマークで挟まれたスペースの記録さ
れる期間はサンプル動作となるため、サンプル期間が極
端に短くなるのが回避される。よって、記録速度が速く
なっても、光ピックアップの出力を正しくサンプリング
することができ、フォーカスサーボ動作やトラッキング
サーボ動作を安定に実行することができ、記録不能に陥
るのを確実に防止することができる。

【００１２】請求項２記載の光ディスクのサーボ装置に
よれば、光ディスクへの記録速度が切り換え可能なと
き、記録速度が遅いときはｐを小さく設定し、記録速度
が速いときはｐを大きく設定してサンプル・ホールド手
段を制御する。これにより、記録速度が速いときはマー
クの記録される期間が時間軸上で縮むことになるが、比
較的長いマークの前または／及び後に続くスペースの記
録される期間もホールド期間とされるので、短いホール
ド期間によってサーボに異常が生じるのが回避される。
また、記録速度が遅いときは、スペースの記録される期
間の内、比較的短いマークの前または／及び後に続くス
ペースの記録される期間だけがホールド期間とされるの
で、サンプル動作の頻度が上がり、正確にフォーカスサ
ーボ動作やトラッキングサーボ動作を実行することがで
き、正確な記録動作が可能となる。

【００１３】

【実施例】図１は本発明の第１実施例に係る光ディスク
装置の光ピックアップサーボ系の全体的な構成図であ
り、図１２と同一の構成部分には同一の符号が付してあ
る。図１の光ディスク装置はＣＤ−ＷＯを記録媒体とす
るもので、記録速度を１倍速（チャネル周期Ｔ＝１／
４．３２１８ＭＨｚ）と４倍速（チャネル周期Ｔ＝１／
（４．３２１８×４）ＭＨｚ）の２段階に切り換え可能
となっている。１Ａは記録信号処理回路であり、記録デ
ータを正規のＥＦＭ信号（図２のａ参照）とレーザ制御
用ＥＦＭ信号に変換するとともに（図２のｂ参照）、こ
れら正規のＥＦＭ信号ａ、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂと
同期し、周期がチャネル周期と同じＴ、デューティ比５
０％のクロックを発生する（図２のＣＫ参照）。記録信
号処理回路１Ａは記録速度切り換え信号ｎが１倍速のと
きは正規のＥＦＭ信号ａ、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ、
クロックＣＫのチャネル周期Ｔを１／４．３２１８ＭＨ
ｚに切り換え、記録速度切り換え信号ｎが４倍速のとき
はチャネル周期Ｔを１／（４．３２１８×４）ＭＨｚに
切り換える。なお、正規のＥＦＭ信号ａは３Ｔ〜１１Ｔ
の長さのマーク部分（ハイレベル）とスペース部分（ロ
ーレベル）を有する。レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂは時間
軸上で正規のＥＦＭ信号ａと同じタイミングでハイレベ
ルに立ち上がるが、ローレベルへの立ち下がりが一定時
間だけ早くなされる（図２参照）。１８はＬＤ駆動回路
３の入力側に設けられた遅延回路であり、レーザ制御用
ＥＦＭ信号ｂを所定量τだけ遅延させて、後述するサン
プリング制御回路での処理時間との調整を行う。

【００１４】１７Ａはサンプリング制御回路であり、正
規のＥＦＭ信号ａを用いて、ＣＤ−ＷＯ７にマークが記
録される期間と、所定の長さｐ・Ｔ以下の短いマークの
後に続くスペースの記録される期間とをハイレベルのホ
ールド期間とし、それ以外の期間はローレベルのサンプ
ル期間としたサンプルパルスＳＰを生成し、各サンプル
・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄに出力して、サンプル・
ホールド動作を行わせる。正規のＥＦＭ信号ａにおける
マークの長さをｍ・Ｔとすると（ｍは正の整数）、ｍの
最小値ｍ_min ＝３、ｍの最大値ｍ_max ＝１１である。ｐ
はｍ_min ≦ｐ＜ｍ_max を満足する整数から選択される
が、この実施例では、一例として記録速度切り換え信号
ｎが１倍速のとき、ｐ＝４に設定され、ｎ＝４倍速のと
きｐ＝８に設定される。

【００１５】サンプリング制御回路１７Ａの内、２０は
２１個のＤ−Ｆ／Ｆ（図示せず）が直列接続されてなる
２１桁（２１段）のシフトレジスタであり、クロックＣ
Ｋをシフトクロックとして、ＣＫの立ち上がりタイミン
グ毎に正規のＥＦＭ信号ａを順に転送する。シフトレジ
スタ２０の各桁のデータは外部から読みだし可能となっ
ており、また、個別にハイレベルの「１」をセット可能
となっている。シフトレジスタ２０の各桁のデータを正
規のＥＦＭ信号ａの入力側から出力側にかけてＳＲ₁ 〜
ＳＲ₂₁で区別する。２１はシフトレジスタ２０のＳＲ₁₂
〜ＳＲ₂₁の１０桁分を入力して、ｐ・Ｔ以下の長さのマ
ーク部分を検出する検出回路であり、クロックＣＫの立
ち下がりタイミングでＳＲ₂₁とＳＲ₂₀の状態をチェック
し、ＳＲ₂₁がローレベルの「０」、ＳＲ₂₀がハイレベル
の「１」となっているとき、ＳＲ₂₀〜ＳＲ₁₂の中で、Ｓ
Ｒ₂₀を含めて該ＳＲ₂₀から上位桁側（正規のＥＦＭ信号
ａの入力側）に「１」の続く個数を数え、ｐ個以下だけ
続いているとき、その個数ｉを検出マーク長として出力
することで、ｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分を検出す
る。

【００１６】２２はシフトレジスタ２０のＳＲ₁ 〜ＳＲ
₁₇の１７桁分を入力して、検出回路２１でｐ・Ｔ以下の
長さのマーク部分が検出されたときに該マーク部分の後
に続くスペース部分の長さを計測する計測回路である。
具体的には、検出回路２１から検出マーク長ｉを入力す
ると、ＳＲ_20-iを含めて該ＳＲ_20-iから上位桁側に
「０」の続く個数を数え、その個数ｊを検出スペース長
として出力する。２３はシフトレジスタ２０のＳＲ₂ 〜
ＳＲ₁₇までのデータを選択的に書き換える書き換え回路
であり、検出回路２１でｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分
が検出されたときに該マーク部分の後に続くスペース部
分を「１」に書き換える。具体的には、検出回路２１か
ら検出マーク長ｉを入力し、続いて、計測回路２２から
検出スペース長ｊを入力すると、ＳＲ_20-i〜ＳＲ
_20-i-j+1までに「１」をセットする。なお、クロックＣ
Ｋが立ち下がってから検出回路２１がｐ・Ｔ以下の長さ
のマーク部分を検出し、書き換え回路２３がｐ・Ｔ以下
の長さのマーク部分の後に続くスペース部分を「１」に
書き換えるまでの処理は、ｎ＝４倍速のときのチャネル
周期の１／４以下の短時間で実行されるものとする。

【００１７】サンプリング制御回路１７Ａはシフトレジ
スタ２０の最下位桁のデータＳＲ₂₁をサンプルパルスＳ
Ｐとして、各サンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄに
出力する。正規のＥＦＭ信号ａに比べてサンプルパルス
ＳＰは２１Ｔだけ遅延するので、レーザ発光の強弱変化
も同じ時間だけ遅らせる必要がある。よって、前記遅延
回路１８の遅延時間τを２１Ｔに設定する。この実施例
では、遅延回路１８を２１桁のシフトレジスタで構成
し、クロックＣＫをシフトクロックとして用いること
で、遅延時間τを２１Ｔに合わせてある。光ピックアッ
プサーボ系の他の部分は図１２と全く同様に構成されて
いる。

【００１８】次に、図２〜図５を用いて上記した実施例
の動作を説明する。図２は遅延回路１８とシフトレジス
タ２０の動作を示すタイムチャート、図３と図４はシフ
トレジスタ２０の動作説明図、図５は遅延回路１８とサ
ンプリング制御回路１７Ａの入出力関係を示すタイムチ
ャートである。

【００１９】通常速度での記録時 まず、ｎが１倍速に切り換えられているとき、ＣＤ−Ｗ
Ｏ７は通常の線速度（約１．３ｍ／ｓ）で回転される。
記録信号処理回路１Ａはチャネル周期Ｔ＝１／４．３２
１８ＭＨｚで記録データを正規のＥＦＭ信号ａ、レーザ
制御用ＥＦＭ信号ｂに変換し、かつ、これら正規のＥＦ
Ｍ信号ａとレーザ制御用ＥＦＭ信号ｂに同期して、周期
がＴ、デューティ比が５０％のクロックＣＫを出力す
る。レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂは遅延回路１８により２
１Ｔだけ遅延され、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ´とされ
る。光ピックアップ２のＬＤ駆動回路３はレーザ制御用
ＥＦＭ信号ｂ´に従い、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ´が
ハイレベルの間、ＬＤ４を大電流で駆動しパワーの強い
レーザビームを発射させる。レーザビームはビームスプ
リッタ５で曲げられたあと、対物レンズ６で絞られＣＤ
−ＷＯ７のプリグルーブの底面に合焦してマークを記録
する。レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ´がローレベルに落ち
ると、ＬＤ駆動回路３はＬＤ４を小電流で駆動しレーザ
ビームのパワーを弱め、ＣＤ−ＷＯ７にスペースを記録
させる。

【００２０】ＣＤ−ＷＯ７からの反射ビームが対物レン
ズ６、ビームスプリッタ５を通過して４分割光検出器８
に入射する。４分割光検出器８の各受光素子ＰＤ_A 〜Ｐ
Ｄ_Dは受光量に応じた光電流Ｉ_A 〜Ｉ_D を出力する。こ
れらの光電流Ｉ_A 〜Ｉ_D は電流／電圧変換器（Ｉ／Ｖ）
９Ａ〜９Ｄにより個別に電流／電圧変換されてＶ_A 〜Ｖ
_D として外部に出力される。Ｖ_A 〜Ｖ_D はサンプル・ホ
ールド回路１６Ａ〜１６Ｄにより個別にサンプル・ホー
ルドされたのち、フォーカスエラー検出回路１０に入力
されて、（Ｖ_A ＋Ｖ_C ）−（Ｖ_B ＋Ｖ_D ）の演算がなさ
れ、フォーカスエラー信号ＦＥが作成される。そして、
フォーカスサーボ回路１１にて位相補償とゲイン調整を
したのち、光ピックアップ２のフォーカスアクチュエー
タ１２を駆動して対物レンズ６をＣＤ−ＷＯ７に対する
垂直方向に内、フォーカスエラー信号ＦＥが零になる方
向に対物レンズ６を移動し、ビームスポットをプリグル
ーブの底に合焦させる。また、各サンプル・ホールド回
路１６Ａ〜１６Ｄから出力されるＶ_A 〜Ｖ_D はトラッキ
ングエラー検出回路１３に入力されて、（Ｖ_A ＋Ｖ_D ）
−（Ｖ_B ＋Ｖ_C）の演算がなされ、トラッキングエラー
信号ＴＥが作成される。そして、トラッキングサーボ回
路１４にて位相補償とゲイン調整をしたのち、光ピック
アップ２のトラッキングアクチュエータ１５を駆動して
対物レンズ６をＣＤ−ＷＯ７に対しディスク半径方向の
内、トラッキングエラー信号ＴＥが零となる方向に移動
し、ビームスポットをトラックに追従させる。

【００２１】一方、サンプリング制御回路１７Ａはｎ＝
１倍速の場合、正規のＥＦＭ信号ａを用いて、ＣＤ−Ｗ
Ｏ７にマークが記録される期間と、４Ｔ以下の短いマー
クの後に続くスペースの記録される期間とをハイレベル
のホールド期間とし、それ以外の期間はローレベルのサ
ンプル期間としたサンプルパルスＳＰを生成し、各サン
プル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄに出力して、サンプ
ル・ホールド動作を行わせる。図２の符号ａの如く正規
のＥＦＭ信号が３Ｔのスペース、３Ｔのマーク、４Ｔの
スペース、６Ｔのマーク、４Ｔのスペース、４Ｔのスペ
ース、４Ｔのスペース、７Ｔのマーク、……と続いてい
るときのサンプリング制御回路１７Ａの動作を考える。
正規のＥＦＭ信号ａはクロックＣＫに従い１Ｔ単位に分
割されながらシフトレジスタ２０の中を左から右に転送
されていく（図２、図３、図４のＳＲ₁〜ＳＲ₂₁参
照）。

【００２２】ｎ＝１倍速の場合、クロックＣＫの立ち下
がりタイミング毎に検出回路２１は（ＳＲ₂₁，ＳＲ₂₀）
＝（０，１）となっているかチェックし、なっていれ
ば、更に、ＳＲ₂₀から上位桁側に「１」の続く数が３個
または４個かチェックする。図２、図３のｔ₁ 、ｔ₂ の
タイミングではまだＳＲ₂₁が「０」、ＳＲ₂₀が「１」と
なっておらず、ＳＲ₂₀から「１」の続く数が３個または
４個かのチェックはしない。ｔ₃ のタイミングでは（Ｓ
Ｒ₂₁，ＳＲ₂₀）＝（０，１）となっているので、ＳＲ₂₀
から上位桁側に「１」の続く数が３個または４個かチェ
ックする。ここでは、３個続くので、ＳＲ₂₀〜ＳＲ₁₈に
３Ｔのマーク部分が存在することを示すｉ＝３を計測回
路２２と書き換え回路２３に出力する。検出回路２１か
らｉ＝３を入力した計測回路２２は、ＳＲ_20-i＝ＳＲ₁₇
から上位桁側に「０」の続く個数を計測する。ここで
は、４個続くので、ＳＲ₁₇〜ＳＲ₁₄に４Ｔのスペース部
分が存在することを示すｊ＝４を書き換え回路２３に出
力する。ｉ＝３、ｊ＝４を入力した書き換え回路２３は
ＳＲ_20-i〜ＳＲ_20-i-j+1、即ち、ＳＲ₁₇〜ＳＲ₁₄の
「０」を「１」に書き換える。この書き換えは、ｔ₃ か
ら１／（４．３２１８×４×４）ＭＨｚが経過する前に
終わる（図２、図３のｔ₃ ´参照）。書き換え後のシフ
トレジスタ２０の内容はクロックＣＫに従い下位桁側に
転送され、ＳＲ₂₁がサンプルパルスＳＰとして出力され
る（図２、図３のｔ₄ 、ｔ₅参照）。

【００２３】その後、正規のＥＦＭ信号ａの４Ｔのマー
ク部分がシフトレジスタ２０の下位桁側に来るまで、ス
ペース部分の書き換えはなされない。図２、図４の
ｔ₆ 、ｔ₇ のタイミングではまだＳＲ₂₁が「０」、ＳＲ
₂₀が「１」となっておらず、ＳＲ₂₀から「１」の続く数
が３個または４個かのチェックはしない。ｔ₈ のタイミ
ングでは（ＳＲ₂₁，ＳＲ₂₀）＝（０，１）となっている
ので、ＳＲ₂₀から上位桁側に「１」の続く数が３個また
は４個かチェックする。ここでは、４個続くので、ＳＲ
₂₀〜ＳＲ₁₈に４Ｔのマーク部分が存在することを示すｉ
＝４を計測回路２２と書き換え回路２３に出力する。検
出回路２１からｉ＝４を入力した計測回路２２は、ＳＲ
_20-i＝ＳＲ₁₆から上位桁側に「０」の続く個数を計測す
る。ここでは、４個続くので、ＳＲ₁₆〜ＳＲ₁₃に４Ｔの
スペース部分が存在することを示すｊ＝４を書き換え回
路２３に出力する。ｉ＝４、ｊ＝４を入力した書き換え
回路２３はＳＲ_20-i〜ＳＲ_20-i-j+1、即ち、ＳＲ₁₆〜Ｓ
Ｒ₁₃の「０」を「１」に書き換える。この書き換えは、
ｔ₈ から１／（４．３２１８×４×４）ＭＨｚが経過す
る前に終わる（図２、図４のｔ₈ ´参照）。書き換え後
のシフトレジスタ２０の内容はクロックＣＫに従い下位
桁側に転送され、ＳＲ₂₁がサンプルパルスＳＰとして出
力される（図２、図４のｔ₉ 、ｔ₁₀参照）。

【００２４】シフトレジスタ２０から出力されるサンプ
ルパルスＳＰは正規のＥＦＭ信号ａに比べて２１Ｔだけ
遅延するが、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂは遅延回路１８
により同じ２１Ｔだけ遅延されてレーザ制御用ＥＦＭ信
号ｂ´としてＬＤ駆動回路３に入力されるので、サンプ
ルパルスＳＰとレーザの強弱変化の間に時間的なずれは
生じない。サンプルパルスＳＰがローレベルの間、各サ
ンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄは電流／電圧変換
器９Ａ〜９Ｄの出力のサンプル動作をし、サンプルパル
スＳＰがハイレベルの間、ホールド動作をする。サンプ
ルパルスＳＰは、図５の（１）に示す如く、ＣＤ−ＷＯ
７の上にマークが記録される部分がハイレベルのホール
ド期間とされるほか、３Ｔと４Ｔの短いマークの後に続
いてスペースが記録される部分もホールド期間となり、
他の期間がローレベルのサンプル期間となる。この結
果、３Ｔ、４Ｔの短いホールド期間がなくなり、サンプ
ルパルスＳＰにリンギングが発生しない。よって、マー
クの記録中にサンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄが
誤ってサンプル動作をし、フォーカスエラー信号やトラ
ッキングエラー信号が異常値となることはない。また、
４Ｔより長いマークの後に続くスペースの記録される期
間は全てサンプル動作となるため、サンプル期間が短く
なることはなく、しかも、高頻度でサンプル動作がなさ
れるので、極めて正確にフォーカスサーボ動作やトラッ
キングサーボ動作を実行することができ、極めて正確な
記録動作が可能となる。

【００２５】４倍速での記録時 ｎが４倍速に切り換えられると、ＣＤ−ＷＯ７は通常の
４倍の線速度（約５．２ｍ／ｓ）で回転される。記録信
号処理回路１Ａはチャネル周期Ｔ＝１／（４．３２１８
×４）ＭＨｚで記録データを正規のＥＦＭ信号ａ、レー
ザ制御用ＥＦＭ信号ｂに変換し、かつ、これら正規のＥ
ＦＭ信号ａとレーザ制御用ＥＦＭ信号ｂに同期して、周
期がＴ、デューティ比が５０％のクロックＣＫを出力す
る。レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂは２１Ｔだけ遅延されて
ｂ´としてＬＤ駆動回路３に入力される（図５の（２）
参照）。一方、サンプリング制御回路１７Ａはｎ＝４倍
速の場合、前述したｎ＝１倍速の場合と同様にして、正
規のＥＦＭ信号ａを用いて、ＣＤ−ＷＯ７にマークが記
録される期間と、８Ｔ以下の短いマークの後に続くスペ
ースの記録される期間とをハイレベルのホールド期間と
し、それ以外の期間はローレベルのサンプル期間とした
サンプルパルスＳＰを生成し、各サンプル・ホールド回
路１６Ａ〜１６Ｄに出力して、サンプル・ホールド動作
を行わせる。

【００２６】具体的には、クロックＣＫに従い正規のＥ
ＦＭ信号ａをシフトレジスタ２０の中に転送していく。
そして、クロックＣＫの立ち下がりタイミング毎に検出
回路２１は（ＳＲ₂₁，ＳＲ₂₀）＝（０，１）となってい
るかチェックし、なっていれば、更に、ＳＲ₂₀から上位
桁側に「１」の続く数が３〜８個かチェックする。（Ｓ
Ｒ₂₁，ＳＲ₂₀）＝（０，１）となっており、ＳＲ₂₀から
上位桁側に「１」の続く数が３〜８個であると、ＳＲ₂₀
〜ＳＲ₁₈にｉ・Ｔ（ｉは３〜８）のマーク部分が存在す
ることを示すｉを計測回路２２と書き換え回路２３に出
力する。検出回路２１からｉを入力した計測回路２２
は、ＳＲ_20-iから上位桁側に「０」の続く個数ｊを計測
する。そして、ＳＲ_20-i〜ＳＲ_20-i-j+1にｊ・Ｔ（ｊは
３〜１１）の長さのスペース部分が存在することを示す
ｊを書き換え回路２３に出力する。ｉ、ｊを入力した書
き換え回路２３はＳＲ_20-i〜ＳＲ_20-i-j+1の「０」を
「１」に書き換える。

【００２７】書き換え後のシフトレジスタ２０の内容は
クロックＣＫに従い下位桁側に転送され、ＳＲ₂₁がサン
プルパルスＳＰとして出力される。シフトレジスタ２０
から出力されるサンプルパルスＳＰは正規のＥＦＭ信号
ａに比べて２１Ｔだけ遅延するが、レーザ制御用ＥＦＭ
信号ｂは遅延回路１８により同じ２１Ｔだけ遅延されて
レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ´としてＬＤ駆動回路３に入
力されるので、サンプルパルスＳＰとレーザの強弱変化
の間に時間的なずれは生じない。サンプルパルスＳＰが
ローレベルの間、各サンプル・ホールド回路１６Ａ〜１
６Ｄは電流／電圧変換器９Ａ〜９Ｄの出力のサンプル動
作をし、サンプルパルスＳＰがハイレベルの間、ホール
ド動作をする。サンプルパルスＳＰは、図５の（２）に
示す如く、ＣＤ−ＷＯ７の上にマークが記録される部分
がハイレベルのホールド期間とされるほか、４倍速では
短くなっている３Ｔ〜８Ｔのマークの後に続いてスペー
スが記録される部分もホールド期間となり、他の期間が
ローレベルのサンプル期間となる。

【００２８】この結果、１倍速では長かった５Ｔ〜８Ｔ
のマークの記録期間も４倍速では短くなってしまうが、
この実施例では、３Ｔ〜８Ｔの短いホールド期間がなく
なり、サンプルパルスＳＰにリンギングが発生しない。
よって、マークの記録中にサンプル・ホールド回路１６
Ａ〜１６Ｄが誤ってサンプル動作をし、フォーカスエラ
ー信号やトラッキングエラー信号が異常値となることは
ない。また、８Ｔより長いマークの後に続くスペースの
記録される期間は全てサンプル動作となるため、サンプ
ル期間が極端に短くなることはなく、フォーカスサーボ
動作やトラッキングサーボ動作を安定して実行すること
ができ、確実な記録動作が可能となる。

【００２９】この実施例によれば、１倍速のときはマー
クが記録される期間と４Ｔ以下の短いマークの後に続く
スペースの記録される期間にサンプル・ホールド回路１
６Ａ〜１６Ｄにホールド動作をさせ、４倍速のときはマ
ークが記録される期間と８Ｔ以下の短いマークの後に続
くスペースの記録される期間にサンプル・ホールド回路
１６Ａ〜１６Ｄにホールド動作をさせるので、短いホー
ルド期間がなくなり、サンプルパルスＳＰにリンギング
が発生しない。よって、マークの記録中にサンプル・ホ
ールド回路１６Ａ〜１６Ｄが誤ってサンプル動作をし、
異常なフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号
が発生することはない。そして、１倍速のときは４Ｔよ
り長いマークの後に続くスペースの記録される期間にサ
ンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄにサンプル動作を
させ、４倍速のときは８Ｔより長いマークの後に続くス
ペースの記録される期間にサンプル・ホールド回路１６
Ａ〜１６Ｄにサンプル動作をさせるので、サンプル期間
が極端に短くなるのが回避される。よって、記録速度が
速くなっても、光ピックアップ２の出力を正しくサンプ
リングすることができ、フォーカスサーボ動作やトラッ
キングサーボ動作を安定に実行することができ、記録不
能に陥るのを確実に防止することができる。加えて、１
倍速の場合、スペースの記録される期間の内、比較的短
い３Ｔまたは４Ｔのマークの後に続くスペースの記録さ
れる期間だけがホールド期間とされ、５Ｔ以上のマーク
の後に続くスペースの記録される期間はサンプル期間と
されるので、サンプル動作の頻度が上がり、正確にフォ
ーカスサーボ動作やトラッキングサーボ動作を実行する
ことができ、正確な記録動作が可能となる。

【００３０】図６は本発明の第２実施例に係る光ディス
ク装置の光ピックアップサーボ系の構成図であり、図１
と同一の構成部分には同一の符号が付してある。第１実
施例は、マークの記録される期間と、記録速度で定まる
所定以下の長さのマークの後に続くスペースの記録され
る期間にホールド動作がなされるようにしたが、第２実
施例では、マークの記録される期間と、記録速度で定ま
る所定以下の長さのマークの前に続くスペースの記録さ
れる期間にホールド動作がなされるようにしてある。１
７Ｂはサンプリング制御回路であり、正規のＥＦＭ信号
ａを用いて、ＣＤ−ＷＯ７にマークが記録される期間
と、所定の長さｐ・Ｔ以下の短いマークの前に続くスペ
ースの記録される期間とをハイレベルのホールド期間と
し、それ以外の期間はローレベルのサンプル期間とした
サンプルパルスＳＰを生成し、各サンプル・ホールド回
路１６Ａ〜１６Ｄに出力して、サンプル・ホールド動作
を行わせる。ｐはｍ_min ≦ｐ＜ｍ_max を満足する整数か
ら選択されるが、この実施例では、一例として記録速度
切り換え信号ｎが１倍速のとき、ｐ＝４に設定され、ｎ
＝４倍速のときｐ＝８に設定される。

【００３１】サンプリング制御回路１７Ｂの内、２０は
２１桁のシフトレジスタであり、クロックＣＫをシフト
クロックとして、ＣＫの立ち上がりタイミング毎に正規
のＥＦＭ信号ａを順に転送する。シフトレジスタ２０の
各桁のデータは外部から読みだし可能となっており、ま
た、個別にハイレベルの「１」をセット可能となってい
る。シフトレジスタ２０の各桁のデータを正規のＥＦＭ
信号ａの入力側から出力側にかけてＳＲ₁ 〜ＳＲ₂₁で区
別する。２１Ｂはシフトレジスタ２０のＳＲ₁ 〜ＳＲ₁₀
の１０桁分を入力して、ｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分
を検出する検出回路であり、クロックＣＫの立ち下がり
タイミングでＳＲ₁ とＳＲ₂ の状態をチェックし、ＳＲ
₁ がローレベルの「０」、ＳＲ₂ がハイレベルの「１」
となっているとき、ＳＲ₂ 〜ＳＲ₁₀の中で、ＳＲ₂ を含
めて該ＳＲ₂ から下位桁側（正規のＥＦＭ信号ａの出力
側）に「１」の続く個数を数え、ｐ個以下だけ続いてい
るとき、その個数ｉを検出マーク長として出力すること
で、ｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分を検出する。

【００３２】２２Ｂはシフトレジスタ２０のＳＲ₅ 〜Ｓ
Ｒ₂₁の１７桁分を入力して、検出回路２１Ｂでｐ・Ｔ以
下の長さのマーク部分が検出されたときに該マーク部分
の前に続くスペース部分の長さを計測する計測回路であ
る。具体的には、検出回路２１Ｂから検出マーク長ｉを
入力すると、ＳＲ_2+i を含めて該ＳＲ_2+i から下位桁側
に「０」の続く個数を数え、その個数ｊを検出スペース
長として出力する。２３Ｂはシフトレジスタ２０のＳＲ
₅ 〜ＳＲ₂₀までのデータを選択的に書き換える書き換え
回路であり、検出回路２１Ｂでｐ・Ｔ以下の長さのマー
ク部分が検出されたときに該マーク部分の前に続くスペ
ース部分を「１」に書き換える。具体的には、検出回路
２１Ｂから検出マーク長ｉを入力し、続いて、計測回路
２２Ｂから検出スペース長ｊを入力すると、ＳＲ_2+i 〜
ＳＲ_20+i+j-1までに「１」をセットする。なお、クロッ
クＣＫが立ち下がってから検出回路２１Ｂがｐ・Ｔ以下
の長さのマーク部分を検出し、書き換え回路２３Ｂがｐ
・Ｔ以下の長さのマーク部分の前に続くスペース部分を
「１」に書き換えるまでの処理はｎ＝４倍速のときのチ
ャネル周期の１／４以下の短時間で実行されるものとす
る。

【００３３】サンプリング制御回路１７Ｂはシフトレジ
スタ２０の最下位桁のデータＳＲ₂₁をサンプルパルスＳ
Ｐとして、各サンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄに
出力する。光ピックアップサーボ系の他の部分は図１と
全く同様に構成されている。

【００３４】次に、図７〜図１０を用いて第２実施例の
動作を説明する。図７は遅延回路１８とシフトレジスタ
２０の動作を示すタイムチャート、図８と図９はシフト
レジスタ２０の動作説明図、図１０は遅延回路１８とサ
ンプリング制御回路１７Ｂの入出力関係を示すタイムチ
ャートである。通常速度での記録時 まず、ｎが１倍速に切り換えられているとき、ＣＤ−Ｗ
Ｏ７は通常の線速度（約１．３ｍ／ｓ）で回転される。
記録信号処理回路１Ａはチャネル周期Ｔ＝１／４．３２
１８ＭＨｚで記録データを正規のＥＦＭ信号ａ、レーザ
制御用ＥＦＭ信号ｂに変換し、かつ、これら正規のＥＦ
Ｍ信号ａとレーザ制御用ＥＦＭ信号ｂに同期して、周期
がＴ、デューティ比が５０％のクロックＣＫを出力す
る。レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂは遅延回路１８により２
１Ｔだけ遅延され、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ´とされ
る。図７の符号ａの如く正規のＥＦＭ信号が３Ｔのスペ
ース、３Ｔのマーク、４Ｔのスペース、６Ｔのマーク、
４Ｔのスペース、４Ｔのスペース、４Ｔのスペース、７
Ｔのマーク、……と続いているときのサンプリング制御
回路１７Ｂの動作を考える。正規のＥＦＭ信号ａはクロ
ックＣＫに従い１Ｔ単位に分割されながらシフトレジス
タ２０の中を左から右に転送されていく（図７、図８、
図９のＳＲ₁〜ＳＲ₂₁参照）。

【００３５】ｎ＝１倍速の場合、クロックＣＫの立ち下
がりタイミング毎に検出回路２１Ｂは（ＳＲ₁ ，Ｓ
Ｒ₂ ）＝（０，１）となっているかチェックし、なって
いれば、更に、ＳＲ₂ から下位桁側に「１」の続く数が
３個または４個かチェックする。図７、図８のｔ₁₁、ｔ
₁₂のタイミングではまだＳＲ₁ が「０」、ＳＲ₂ が
「１」となっておらず、ＳＲ₂ から「１」の続く数が３
個または４個かのチェックはしない。ｔ₁₃のタイミング
では（ＳＲ₁ ，ＳＲ₂ ）＝（０，１）となっているの
で、ＳＲ₂ から下位桁側に「１」の続く数が３個または
４個かチェックする。ここでは、３個続くので、ＳＲ₂
〜ＳＲ₄ に３Ｔのマーク部分が存在することを示すｉ＝
３を計測回路２２Ｂと書き換え回路２３Ｂに出力する。
検出回路２１Ｂからｉ＝３を入力した計測回路２２Ｂ
は、ＳＲ_2+i ＝ＳＲ₅ から下位桁側に「０」の続く個数
を計測する。ここでは、３個続くので、ＳＲ₅ 〜ＳＲ₇
に３Ｔのスペース部分が存在することを示すｊ＝３を書
き換え回路２３Ｂに出力する。ｉ＝３、ｊ＝３を入力し
た書き換え回路２３ＢはＳＲ_2+i 〜ＳＲ_2+i+j-1 、即
ち、ＳＲ₅ 〜ＳＲ₇ の「０」を「１」に書き換える。こ
の書き換えは、ｔ₁₃から１／（４．３２１８×４×４）
ＭＨｚが経過する前に終わる（図７、図８のｔ₁₃´参
照）。書き換え後のシフトレジスタ２０の内容はクロッ
クＣＫに従い下位桁側に転送され、ＳＲ₂₁がサンプルパ
ルスＳＰとして出力される（図７、図８のｔ₁₄、ｔ₁₅参
照）。

【００３６】その後、正規のＥＦＭ信号ａの４Ｔのマー
ク部分がシフトレジスタ２０の上位桁側に来るまで、ス
ペース部分の書き換えはなされない。図７、図９の
ｔ₁₆、ｔ₁₇のタイミングではまだＳＲ₁ が「０」、ＳＲ
₂ が「１」となっておらず、ＳＲ₂ から「１」の続く数
が３個または４個かのチェックはしない。ｔ₁₈のタイミ
ングでは（ＳＲ₁ ，ＳＲ₂ ）＝（０，１）となっている
ので、ＳＲ₂ から上位桁側に「１」の続く数が３個また
は４個かチェックする。ここでは、４個続くので、ＳＲ
₂ 〜ＳＲ₅ に４Ｔのマーク部分が存在することを示すｉ
＝４を計測回路２２Ｂと書き換え回路２３Ｂに出力す
る。検出回路２１Ｂからｉ＝４を入力した計測回路２２
Ｂは、ＳＲ_2+i ＝ＳＲ₆ から下位桁側に「０」の続く個
数を計測する。ここでは、４個続くので、ＳＲ₆ 〜ＳＲ
₉ に４Ｔのスペース部分が存在することを示すｊ＝４を
書き換え回路２３Ｂに出力する。ｉ＝４、ｊ＝４を入力
した書き換え回路２３ＢはＳＲ_2+i 〜ＳＲ_2+i+j-1 、即
ち、ＳＲ₆ 〜ＳＲ₉ の「０」を「１」に書き換える。こ
の書き換えは、ｔ₁₈から１／（４．３２１８×４×４）
ＭＨｚが経過する前に終わる（図７、図９のｔ₁₈´参
照）。書き換え後のシフトレジスタ２０の内容はクロッ
クＣＫに従い下位桁側に転送され、ＳＲ₂₁がサンプルパ
ルスＳＰとして出力される（図７、図９のｔ₁₉、ｔ₂₀参
照）。

【００３７】サンプルパルスＳＰは、図１０の（１）に
示す如く、ＣＤ−ＷＯ７の上にマークが記録される部分
がハイレベルのホールド期間とされるほか、３Ｔと４Ｔ
の短いマークの前に続いてスペースが記録される部分も
ホールド期間となり、他の期間がローレベルのサンプル
期間となる。この結果、３Ｔ、４Ｔの短いホールド期間
がなくなり、サンプルパルスＳＰにリンギングが発生し
ない。よって、マークの記録中にサンプル・ホールド回
路１６Ａ〜１６Ｄが誤ってサンプル動作をし、フォーカ
スエラー信号やトラッキングエラー信号が異常値となる
ことはない。また、４Ｔより長いマークの前に続くスペ
ースの記録される期間は全てサンプル動作となるため、
サンプル期間が短くなることはなく、しかも、高頻度で
サンプル動作がなされるので、極めて正確にフォーカス
サーボ動作やトラッキングサーボ動作を実行することが
でき、極めて正確な記録動作が可能となる。

【００３８】４倍速での記録時 ｎが４倍速に切り換えられると、ＣＤ−ＷＯ７は通常の
４倍の線速度（約５．２ｍ／ｓ）で回転される。記録信
号処理回路１Ａはチャネル周期Ｔ＝１／（４．３２１８
×４）ＭＨｚで記録データを正規のＥＦＭ信号ａ、レー
ザ制御用ＥＦＭ信号ｂに変換し、かつ、これら正規のＥ
ＦＭ信号ａとレーザ制御用ＥＦＭ信号ｂに同期して、周
期がＴ、デューティ比が５０％のクロックＣＫを出力す
る。レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂは２１Ｔだけ遅延されて
ｂ´としてＬＤ駆動回路３に入力される（図１０の
（２）参照）。一方、サンプリング制御回路１７Ｂはｎ
＝４倍速の場合、前述したｎ＝１倍速の場合と同様にし
て、正規のＥＦＭ信号ａを用いて、ＣＤ−ＷＯ７にマー
クが記録される期間と、８Ｔ以下の短いマークの前に続
くスペースの記録される期間とをハイレベルのホールド
期間とし、それ以外の期間はローレベルのサンプル期間
としたサンプルパルスＳＰを生成し、各サンプル・ホー
ルド回路１６Ａ〜１６Ｄに出力して、サンプル・ホール
ド動作を行わせる。

【００３９】サンプルパルスＳＰがローレベルの間、各
サンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄは電流／電圧変
換器９Ａ〜９Ｄの出力のサンプル動作をし、サンプルパ
ルスＳＰがハイレベルの間、ホールド動作をする。サン
プルパルスＳＰは、図１０の（２）に示す如く、ＣＤ−
ＷＯ７の上にマークが記録される部分がハイレベルのホ
ールド期間とされるほか、４倍速では短くなっている３
Ｔ〜８Ｔのマークの前に続いてスペースが記録される部
分もホールド期間となり、他の期間がローレベルのサン
プル期間となる。この結果、１倍速では長かった５Ｔ〜
８Ｔのマークの記録期間も４倍速では短くなってしまう
が、この実施例では、３Ｔ〜８Ｔの短いホールド期間が
なくなり、サンプルパルスＳＰにリンギングが発生しな
い。よって、マークの記録中にサンプル・ホールド回路
１６Ａ〜１６Ｄが誤ってサンプル動作をし、フォーカス
エラー信号やトラッキングエラー信号が異常値となるこ
とはない。また、８Ｔより長いマークの前に続くスペー
スの記録される期間は全てサンプル動作となるため、サ
ンプル期間が極端に短くなることはなく、フォーカスサ
ーボ動作やトラッキングサーボ動作を安定して実行する
ことができ、確実な記録動作が可能となる。このよう
に、第２実施例によっても、第１実施例と全く同じ効果
を得ることができる。

【００４０】図１１は本発明の第３実施例に係る光ディ
スク装置の光ピックアップサーボ系の構成図であり、同
一の符号が付してある。第１実施例、第２実施例は、マ
ークの記録される期間と、記録速度で定まる一定以下の
長さのマークの後または前に続くスペースの記録される
期間にホールド動作がなされるようにしたが、第３実施
例では、マークの記録される期間と、記録速度で定まる
一定以下の長さのマークの前後に続くスペースの記録さ
れる期間にホールド動作がなされるようにしてある。１
７Ｃはサンプリング制御回路であり、正規のＥＦＭ信号
ａを用いて、ＣＤ−ＷＯ７にマークが記録される期間
と、所定の長さｐ・Ｔ以下の短いマークの前後に続くス
ペースの記録される期間とをハイレベルのホールド期間
とし、それ以外の期間はローレベルのサンプル期間とし
たサンプルパルスＳＰを生成し、各サンプル・ホールド
回路１６Ａ〜１６Ｄに出力して、サンプル・ホールド動
作を行わせる。ｐはｍ_min ≦ｐ＜ｍ_max を満足する整数
から選択されるが、この実施例では、一例として記録速
度切り換え信号ｎが１倍速のとき、ｐ＝４に設定され、
ｎ＝４倍速のときｐ＝８に設定される。

【００４１】サンプリング制御回路１７Ｃの内、２０Ｃ
は３７桁のシフトレジスタであり、クロックＣＫをシフ
トクロックとして、ＣＫの立ち上がりタイミング毎に正
規のＥＦＭ信号ａを順に転送する。シフトレジスタ２０
Ｃの各桁のデータは外部から読みだし可能となってお
り、また、個別にハイレベルの「１」をセット可能とな
っている。シフトレジスタ２０Ｃの各桁のデータを正規
のＥＦＭ信号ａの入力側から出力側にかけてＳＲ₁ 〜Ｓ
Ｒ₃₇で区別する。２１Ｃはシフトレジスタ２０ＣのＳＲ
₁₇〜ＳＲ₂₆の１０桁分を入力して、ｐ・Ｔ以下の長さの
マーク部分を検出する検出回路であり、クロックＣＫの
立ち下がりタイミングでＳＲ₁₇とＳＲ₁₈の状態をチェッ
クし、ＳＲ₁₇がローレベルの「０」、ＳＲ₁₈がハイレベ
ルの「１」となっているとき、ＳＲ₁₈〜ＳＲ₂₆の中で、
ＳＲ₁₈を含めて該ＳＲ₁₈から下位桁側（シフトレジスタ
２０Ｃの出力側）に「１」の続く個数を数え、ｐ個以下
だけ続いているとき、その個数ｉを検出マーク長として
出力することで、ｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分を検出
する。

【００４２】２２０Ｃはシフトレジスタ２０ＣのＳＲ₂₁
〜ＳＲ₃₇の１７桁分を入力して、検出回路２１Ｃでｐ・
Ｔ以下の長さのマーク部分が検出されたときに該マーク
部分の前に続くスペース部分の長さを計測する第１計測
回路である。具体的には、検出回路２１Ｃからマーク長
ｉを入力すると、ＳＲ_18+iを含めて該ＳＲ_18+iから下位
桁側に「０」の続く個数を数え、その個数ｊＦを前側検
出スペース長として出力する。２３０Ｃはシフトレジス
タ２０ＣのＳＲ₂₁〜ＳＲ₃₆までのデータを選択的に書き
換える書き換え回路であり、検出回路２１Ｃでｐ・Ｔ以
下の長さのマーク部分が検出されたときに該マーク部分
の前に続くスペース部分を「１」に書き換える。具体的
には、検出回路２１Ｃから検出マーク長ｉを入力し、続
いて、第１計測回路２２０Ｃから前側検出スペース長ｊ
Ｆを入力すると、ＳＲ_18+i〜ＳＲ_18+i+jF-1 までに
「１」をセットする。

【００４３】２２１Ｃはシフトレジスタ２０ＣのＳＲ₁
〜ＳＲ₁₇の１７桁分を入力して、検出回路２１Ｃでｐ・
Ｔ以下の長さのマーク部分が検出されたときに該マーク
部分の後に続くスペース部分の長さを計測する第２計測
回路である。具体的には、検出回路２１Ｃから検出マー
ク長ｉを入力すると、ＳＲ₁₇を含めて該ＳＲ₁₇から上位
桁側（シフトレジスタ２０Ｃの入力側）に「０」の続く
個数を数え、その個数ｊＲを後側検出スペース長として
出力する。２３１Ｃはシフトレジスタ２０ＣのＳＲ₂ 〜
ＳＲ₁₇までのデータを選択的に書き換える書き換え回路
であり、検出回路２１Ｃでｐ・Ｔ以下の長さのマーク部
分が検出されたときに該マーク部分の後に続くスペース
部分を「１」に書き換える。具体的には、検出回路２１
Ｃから検出マーク長ｉを入力し、続いて、第１計測回路
２２１Ｃから後側検出スペース長ｊＲを入力すると、Ｓ
Ｒ₁₇〜ＳＲ_17-jR+1までに「１」をセットする。

【００４４】なお、クロックＣＫが立ち下がってから検
出回路２１Ｃがｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分を検出
し、書き換え回路２３０Ｃがｐ・Ｔ以下の長さのマーク
部分の前に続くスペース部分を「１」に書き換え、書き
換え回路２３１Ｃがｐ・Ｔ以下の長さのマーク部分の後
に続くスペース部分を「１」に書き換えるまでの処理は
ｎ＝４倍速のときのチャネル周期の１／４以下の短時間
で実行されるものとする。サンプリング制御回路１７Ｃ
はシフトレジスタ２０Ｃの最下位桁のデータＳＲ₃₇をサ
ンプルパルスＳＰとして、各サンプル・ホールド回路１
６Ａ〜１６Ｄに出力する。この際、サンプルパルスＳＰ
は正規のＥＦＭ信号ａに比べて３７Ｔだけ遅延するの
で、遅延回路１８Ｃは３７段のシフトレジスタにして、
遅延時間τを３７Ｔとしておく。光ピックアップサーボ
系の他の構成部分は図１と全く同様の構成とする。

【００４５】図１１の実施例によれば、１倍速のときは
マークが記録される期間と４Ｔ以下の短いマークの前後
に続くスペースの記録される期間にサンプル・ホールド
回路１６Ａ〜１６Ｄにホールド動作をさせ、４倍速のと
きはマークが記録される期間と８Ｔ以下の短いマークの
前後に続くスペースの記録される期間にサンプル・ホー
ルド回路１６Ａ〜１６Ｄにホールド動作をさせるので、
短いホールド期間がなくなり、サンプルパルスＳＰにリ
ンギングが発生しない。よって、マークの記録中にサン
プル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄが誤ってサンプル動
作をし、異常なフォーカスエラー信号やトラッキングエ
ラー信号が発生することはない。そして、１倍速のとき
は４Ｔより長いマークに挟まれたスペースの記録される
期間にサンプル・ホールド回路１６Ａ〜１６Ｄにサンプ
ル動作をさせ、４倍速のときは８Ｔより長いマークに挟
まれたスペースの記録される期間にサンプル・ホールド
回路１６Ａ〜１６Ｄにサンプル動作をさせるので、サン
プル期間が極端に短くなるのが回避される。よって、記
録速度が速くなっても、光ピックアップ２の出力を正し
くサンプリングすることができ、フォーカスサーボ動作
やトラッキングサーボ動作を安定に実行することがで
き、記録不能に陥るのを確実に防止することができる。
加えて、１倍速の場合、スペースの記録される期間の
内、比較的短い３Ｔまたは４Ｔのマークの前後に続くス
ペースの記録される期間だけがホールド期間とされ、５
Ｔ以上のマークに挟まれたスペースの記録される期間は
サンプル期間とされるので、サンプル動作の頻度が上が
り、正確にフォーカスサーボ動作やトラッキングサーボ
動作を実行することができ、正確な記録動作が可能とな
る。

【００４６】なお、上記した各実施例では、サンプリン
グ制御回路１７Ａ、１７Ｂ、１７Ｃの検出回路２１、２
１Ｂ、２１Ｃはｎ＝１倍速のときｐ＝４、ｎ＝４倍速の
ときｐ＝８に切り換え設定するようにしたが、本発明は
何らこれに限定されず、ｎ＝２倍速のときｐ＝３、ｎ＝
４倍速のときｐ＝７に切り換えるなど、他の組み合わせ
に切り換え設定するようにしても良い。また、ｎが１倍
速、２倍速、４倍速の３段階に切り換え可能となってい
る場合、例えば、ｎ＝１倍速のときｐ＝３、ｎ＝２倍速
のときｐ＝６、ｎ＝４倍速のときｐ＝８という具合に切
り換え設定するようにしても良い。また、第１，第２実
施例の遅延回路１８（第３実施例の遅延回路１８Ｃ）を
２１段（３７段）のシフトレジスタで構成する代わり
に、２１×ｍ段（３７×ｍ段）のシフトレジスタで構成
し、クロックＣＫをｍてい倍したシフトクロックを用い
てレーザ制御用ＥＦＭ信号ｂを所望量遅延させるように
しても良い（ｍは２以上の整数）。また、第１，第２実
施例における遅延回路１８を設けずに記録信号処理回路
１Ａが直接、レーザ制御用ＥＦＭ信号ｂ´を発生するよ
うにしたり、第３実施例における遅延回路１８Ｃを設け
ずに記録信号処理回路１Ａが直接、レーザ制御用ＥＦＭ
信号ｂ´を発生するようにしても良い。また、上記した
各実施例ではＣＤ−ＷＯを記録媒体とする場合につき説
明したが、本発明は何らこれに限定されず、ＣＤ−Ｍ
Ｏ、ＣＤ−Ｅなど他の種類の記録可能な光ディスクを対
象とする場合にも同様に適用することができる。

【００４７】

【発明の効果】本発明によれば、光ピックアップとエラ
ー信号生成手段の間に、光ピックアップの出力をサンプ
ル・ホールドするサンプル・ホールド手段を設け、記録
信号に基づきサンプル・ホールド手段を制御し、マーク
が記録される期間と、長さがｐ・Ｔ（但し、ｐは、ｍ
_min ≦ｐ＜ｍ_max の条件を満足する整数）の短いマーク
の前または／及び後に続くスペースの記録される期間と
をホールド動作させ、それ以外の期間はサンプル動作を
BR>させるようにしたので、マークが記録される期間
と、長さがｐ・Ｔ（但し、ｐは、ｍ_min ≦ｐ＜ｍ_max の
条件を満足する整数）以下の短いマークの前または／及
び後に続くスペースの記録される期間とがホールド動作
となり、短いホールド期間がなくなるのでサンプルパル
スにリンギングが発生しない。よって、マークの記録中
にサンプル・ホールド手段が誤ってサンプル動作をし、
異常なエラー信号が発生することはない。そして、ｐ・
Ｔより長いマークの前または後に続くスペースの記録さ
れる期間、或いは、ｐ・Ｔより長いマークで挟まれたス
ペースの記録される期間はサンプル動作となるため、サ
ンプル期間が極端に短くなるのが回避される。よって、
記録速度が速くなっても、光ピックアップの出力を正し
くサンプリングすることができ、フォーカスサーボ動作
やトラッキングサーボ動作を安定に実行することがで
き、記録不能に陥るのを確実に防止することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例に係る光ディスク装置の光
ピックアップサーボ系の構成図である。

【図２】第１実施例の遅延回路とシフトレジスタの動作
を示すタイムチャートである。

【図３】第１実施例のシフトレジスタの動作説明図であ
る。

【図４】第１実施例のシフトレジスタの動作説明図であ
る。

【図５】第１実施例の遅延回路とサンプリング制御回路
の入出力関係を示すタイムチャートである。

【図６】本発明の第２実施例に係る光ディスク装置の光
ピックアップサーボ系の構成図である。

【図７】第２実施例の遅延回路とシフトレジスタの動作
を示すタイムチャートである。

【図８】第２実施例のシフトレジスタの動作説明図であ
る。

【図９】第２実施例のシフトレジスタの動作説明図であ
る。

【図１０】第２実施例の遅延回路とサンプリング制御回
路の入出力関係を示すタイムチャートである。

【図１１】本発明の第３実施例に係る光ディスク装置の
光ピックアップサーボ系の構成図である。

【図１２】従来の光ディスク装置の光ピックアップサー
ボ系の構成図である。

【図１３】従来の光ディスク装置の光ピックアップサー
ボ系の動作を示すタイムチャートである。

【図１４】従来のサンプリング制御回路の具体的な回路
図である。

【符号の説明】 １Ａ 記録信号処理回路 ２ 光ピックアッ
プ ７ ＣＤ−ＷＯ １０ フォーカス
エラー回路 １３ トラッキングエラー回路 １６Ａ〜１６Ｄ サンプル・ホールド回路 １７Ａ、１７Ｂ、１７Ｃ サンプリング制御回路 １８、１８Ｃ 遅延回路 ２０、２０Ｃ シ
フトレジスタ ２１、２１Ｂ、２１Ｃ 検出回路 ２２、２２Ｂ 計
測回路 ２２０Ｃ 第１計測回路 ２２１Ｃ 第２計
測回路 ２３、２３Ｂ 書き換え回路 ２３０Ｃ 第１書
き換え回路 ２３１Ｃ 第２書き換え回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 7/09 - 7/10 G05B 21/00 - 21/02

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ディスクに照射するレーザビームのパ
   ワーを記録信号に基づき強弱変化させてｍ・Ｔ（ｍは正
   の整数であり、ｍ_min からｍ_max までの値を取る。Ｔは
   チャネル周期）の長さのマークとスペースを記録させる
   一方、光ディスクからの反射ビームを受光し、光電変換
   して出力する光ピックアップと、光ピックアップの出力
   から光ピックアップサーボ用のエラー信号を生成するエ
   ラー信号生成手段と、を備えた光ディスク装置におい
   て、 光ピックアップとエラー信号生成手段の間に設けられ
   て、光ピックアップの出力をサンプル・ホールドするサ
   ンプル・ホールド手段と、 記録信号に基づきサンプル・ホールド手段を制御し、マ
   ークが記録される期間と、長さがｐ・Ｔ（但し、ｐは、
   ｍ_min ≦ｐ＜ｍ_max の条件を満足する整数）以下の短い
   マークの前または／及び後に続くスペースの記録される
   期間とをホールド動作させ、それ以外の期間はサンプル
   動作をさせる制御手段と、 を備えたこと、 を特徴とする光ディスク装置の光ピックアップサーボ装
   置。
2. 【請求項２】 光ディスクへの記録速度が切り換え可能
   なとき、前記制御手段は、記録速度が遅いときはｐを小
   さく設定し、記録速度が速いときはｐを大きく設定して
   サンプル・ホールド手段を制御するようにしたこと、 を特徴とする請求項１記載の光ディスク装置の光ピック
   アップサーボ装置。