CN101305419A

CN101305419A - 光盘记录装置

Info

Publication number: CN101305419A
Application number: CNA2006800416241A
Authority: CN
Inventors: 伊佐地昭裕; 西川和彦; 薮野宽之
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 2005-11-07
Filing date: 2006-11-06
Publication date: 2008-11-12
Also published as: WO2007052797A1; JPWO2007052797A1; US20090180366A1

Abstract

本发明提供一种光盘记录装置，在数据的记录中，进行激光的输出脉冲的测定，并对写策略的相位设定进行校正来记录，以便以正确的相位输出脉冲。在激光控制系统中，在激光以恒定的功率出射的状态下，使写策略的相位设定变化。针对作为激光的标记部的多脉冲的出射光，由光检测器进行电压转换后，由LPF进行平均化。以电压电平对与相位设定对应的时间性变化进行测定检测，对写策略生成电路的相位设定进行校正更新，以使测定电平成为理想电平。

Description

光盘记录装置

技术领域

本发明涉及一种针对可记录的信息记录介质的光学信息的记录再现装置。

背景技术

在信息记录介质中，对信息、特别是数字信息进行记录再现的装置作为记录再现大容量数据的手段得到了注目。其中，对于使用激光来记录数据的光学信息记录介质，在可记录的光学信息记录介质中，有仅可以记录一次的追记型的光盘和改写型的相变光盘等。它们都通过向旋转的盘照射半导体激光器的光束来使记录膜加热融解，从而进行向光盘的记录。根据该光束强度的强弱，记录膜的到达温度以及冷却过程不同，引起记录膜的变化。通过照射不会使记录膜变化的再现用的低光束强度，并根据从记录膜的反射率的差异取得的反射波的强度差，读取所记录的数据，从而进行所记录的数据的再现。

作为向光盘的数据的记录方式，有标记位置(mark position)记录方式(或者PPM方式)和标记边缘记录方式(或者PWM方式)，通常，标记边缘记录方式一方可以提高信息记录密度。

在该标记边缘记录方式中，使标记始端部分和标记终端部分的位置、记录功率等变化来记录预定的标记。近年来，记录时的速度得到了高速化，并且存在各种材质、制造商的差异、规格不同的记录介质，为了应对这些情况，要求根据要记录的速度、或者考虑到所记录的记录介质的种类、记录介质的制造上的偏差、规格，对应于记录介质来进行最佳的标记的记录位置设定。

上述标记边缘记录方式在盘上将数据作为标记来进行标记边缘记录的情况下，对于预定的标记，针对激光生成被称为多脉冲的多个脉冲串、或没有多个脉冲的被称为非多脉冲等的写策略，通过进行该写策略的调整，来进行最佳的记录。在生成写策略时，为了记录预定的标记，设定写策略的时间性位置、即相位，但为了高倍速化要求相位设定的高分辨率。

为了实现实际的光盘记录再现装置，用于决定写策略的记录脉冲条件被记录在光盘记录装置或盘中，并且被预先设定成以针对每种记录介质不同的特性参数来进行记录。但是，在特性有偏差的记录介质盘和记录装置中，在预先决定的写策略的设定时，考虑无法以足够的质量进行记录的情况。

针对以上那样的课题，在专利文献1(或者专利文献2)中，使多个标记前端脉冲条件、多个标记后端脉冲条件变换，将分别独立地校正了各标准条件后的值设定为记录再现装置的记录脉冲条件，以使记录再现了各自对应的记录图案时的抖动成为容许值以下，来进行数据的记录再现。

另外，在专利文献2中公开了一种信息记录介质，其特征在于，对于求出标记始端部分和终端部分的最佳位置的方法，为了最佳记录本身的可靠性、缩短最佳位置的搜索时间、确立最佳方法，具有用于记录特定记录装置的固有信息的特定信息记录区域。

专利文献1：日本特开2000-200418号公报

专利文献2：日本特开2004-281046号公报

在提供可以进行最佳记录的信息记录介质、记录再现装置时，按照所设定的那样输出的写策略的精度是必要的。取决于进行记录的装置，与写策略的时间、相位设定对应的输出有可能产生偏差。另外，考虑与写策略的设定对应的相位输出不同的情况等。在该情况下，以往的方法有可能无法预料学习的收敛电平、学习精度的提高，无法求出最佳的设定。

另外，在希望应对某特定装置的偏差时，需要与该特定装置的输出特性对应的学习算法，无法使用一个学习算法来对应于所有的装置。另外，在希望应对所有装置的偏差的情况下，求出最佳值的学习有时变得复杂而无法求出最佳设定。

发明内容

本发明是为了解决上述课题而完成的，其目的在于提供一种光盘记录装置，即使每种记录装置的写策略的输出特性不同，也可以对与设定对应的最佳写策略的输出进行校正，进行正确的输出，由此可以抑制每种装置的偏差来进行最佳的记录。

为了解决上述课题，本发明的第1方面的光盘记录装置针对1个记录标记，根据由比该记录标记更短的多个脉冲构成的写策略波形来进行记录，其特征在于，具备：写策略生成电路，生成上述写策略波形；激光光源，出射激光；激光驱动电路，按照上述写策略波形的脉冲串来对上述激光光源进行驱动；光检测器，输出从上述激光光源出射的激光的光强度；激光功率控制电路，通过按照上述光检测器所输出的光强度信号来对从上述激光驱动电路向上述激光光源供给的电流量进行控制，对上述激光光源的光强度进行控制；平均化电路，对从上述光检测器输出的标记部的脉冲串的光强度信号进行平均化，并作为平均化电平输出；采样·保持电路，对上述标记部中的上述平均化电路的输出进行采样·保持；电压测定电路，将由上述采样·保持电路保持的模拟电平作为电压值来进行测定；以及相位设定重新排列电路，将上述写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的多脉冲，固定上述多脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，根据对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化而得到的上述平均化电平的测定值和其理想值，求出实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差最小的最佳相位设定，变更预先设定的相位设定。

另外，本发明的第2方面的光盘记录装置在第1方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述多脉冲的输出周期是作为标记·空白长度的基本周期的1T，上述相位设定重新排列电路将多脉冲的脉冲边缘的相位设定从(r1)T变更到(r2)T(r1表示0≤r1≤1的范围的实数，r2表示0≤r2≤1的范围的实数，且r1＜r2)，从而使上述多脉冲的占空比从(r1×100)％变化到(r2×100)％，上述平均化电路对与上述相位设定中的每一个对应的上述平均化电平进行测定。

另外，本发明的光盘记录装置在第2方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述相位设定重新排列电路将上述(r1)和上述(r2)设定为r1＝0、r2＝1，使上述多脉冲的脉冲边缘的相位设定从0T变更到1T，从而使上述多脉冲的占空比从0％变化到100％，上述平均化电路对所有与各个上述相位设定对应的上述平均电平进行测定。

另外，本发明的第4方面的光盘记录装置在第1方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述多脉冲的输出周期是作为标记·空白长度的基本周期的1T的2倍的2T，上述相位设定重新排列电路将上述多脉冲的脉冲边缘的相位设定从(r3)T变更到(r3+1)T(r3表示0≤r3≤1的范围的实数)，从而使上述多脉冲的占空比从(r3÷2×100)％变化到((r3+1)÷2×100)％，上述平均化电路对与各个上述相位设定对应的上述平均化电平进行测定。

另外，本发明的第5方面的光盘记录装置在第4方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述相位设定重新排列电路将上述(r1)设定为r3＝0.5，将多脉冲的脉冲边缘的相位设定从0.5T变更到1.5T，从而使多脉冲的占空比从25％变化到75％，上述平均化电路对所有与各个上述相位设定对应的平均电平进行测定。

另外，本发明的第6方面的光盘记录装置在第1方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述相位设定重新排列电路在连结相位设定最小的多脉冲的占空比为(x1)％时的平均化电平(y1)和相位设定最大的多脉冲的占空比为(x2)％时的平均化电平(y2)的直线的斜率(y2-y1)÷(x2-x1)、截距y1中进行插值来求出上述理想值，将该理想值与针对各相位设定中的每一个得到的多脉冲串的平均化电平的测定值中的每一个进行比较，将与上述各测定值中取最接近于上述理想值的值的测定值对应的相位设定设为上述最佳相位设定。

另外，本发明的第7方面的光盘记录装置在第1方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，具备切换电路，该切换电路在上述光检测电路的输出和与该光盘记录装置连接且输出与上述写策略波形等同的波形信号的标准信号发生装置的输出之间，切换向上述平均化电路的输出，上述相位设定重新排列电路将在上述切换电路选择上述标准信号发生装置的输出的情况下得到的上述平均化电平作为上述理想值，对该理想值和在上述切换电路选择了上述光检测电路的输出的情况下得到的针对各相位设定中的每一个得到的多脉冲串的平均化电平的测定值进行比较，将与上述各测定值中取最接近于上述理想值的值的测定值对应的相位设定设为上述最佳相位设定。

另外，本发明的第8方面的光盘记录装置在第6或7方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，具备判定电路，该判定电路计算出上述各测定值与上述理想值的误差，在该误差大的情况下，将该光盘记录装置判定为不良品。

另外，本发明的第9方面的光盘记录装置在第1方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述相位设定重新排列电路在与上述多脉冲的占空比的时间宽度对应的电压值的测定困难的相位设定中，不进行上述最佳相位设定的计算。

本发明的第10方面的光盘记录装置针对1个记录标记，利用由1个块脉冲(block pulse)构成的写策略来进行记录，其特征在于，具备：写策略生成电路，生成上述写策略波形；激光光源，出射激光；激光驱动电路，按照上述写策略波形的脉冲串来对上述激光光源进行驱动；光检测器，输出从上述激光光源出射的激光的光强度；激光功率控制电路，通过按照上述光检测器所输出的光强度信号来对从上述激光驱动电路向上述激光光源供给的电流量进行控制，对上述激光光源的光强度进行控制；平均化电路，对从上述光检测器输出的标记部的脉冲串的光强度信号进行平均化，并作为平均化电平输出；采样·保持电路，对上述标记部中的上述平均化电路的输出进行采样·保持；电压测定电路，将由上述采样·保持电路保持的模拟电平作为电压值来进行测定；以及相位设定重新排列电路，将上述写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的块脉冲，固定上述块脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，固定上述多脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，根据对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化而得到的上述平均化电平的测定值和其理想值，求出实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差最小的上述相位设定，变更预先设定的相位设定。

另外，本发明的第11方面的光盘记录装置在第1方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，还具备：保持控制电路，停止基于上述激光功率控制电路的激光控制；以及采样位置设定电路，使上述采样·保持电路中的上述平均化电平的采样位置向预定的位置移动，上述激光功率控制电路根据上述电压测定电路的输出，对上述激光光源的光强度进行控制，在上述激光功率控制电路进行激光控制的情况下，上述采样位置设定电路使上述采样位置向上述标记部的大脉冲(toppulse)部移动，在上述相位设定重新排列电路进行上述相位设定的变更的情况下，上述采样位置设定电路使上述采样位置向上述标记部的多脉冲部移动，上述保持控制电路对激光控制进行保持。

另外，本发明的第12方面的光盘记录装置在第1或10方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，具备电压增益放大器，该电压增益放大器任意地对上述采样保持电路的输出信号的电压电平进行控制。

另外，本发明的第13方面的光盘记录装置在第1或10方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述激光功率控制电路变更激光出射功率电平来进行多次激光功率控制，并利用激光功率控制的精度最高的激光功率，对上述激光光源的光强度进行控制。

另外，本发明的第14方面的光盘记录装置在第1或10方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，在向光盘的聚焦偏离期间，上述相位设定重新排列电路依次变更上述相位设定，上述平均化电路针对各相位设定中的每一个对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化，并对上述平均化电平进行测定。

另外，本发明的第15方面的光盘记录装置在第1或10方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，上述平均化电路对从上述写策略生成电路输出的上述写策略波形的脉冲信号直接进行平均化，并作为上述平均化电平输出。

另外，本发明的第16方面的光盘记录装置在第15方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，具备切换电路，该切换电路在上述光检测器的输出和上述写策略生成电路的输出之间切换向上述平均化电路的输出。

另外，本发明的第17方面的光盘记录装置在第6或7方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，具备占空比校正电路，该占空比校正电路根据上述理想值和上述测定值，对上述多脉冲的占空比的设定进行校正，上述激光功率控制电路根据上述电压测定电路的输出和上述校正后的占空比，进行峰值功率换算计算。

另外，本发明的第18方面的光盘记录装置在第1或10方面记载的光盘记录装置中，其特征在于，具备非易失性存储器，该非易失性存储器保持由上述相位设定重新排列电路计算出的校正参数的值。

根据本发明的第1方面的光盘记录装置，针对1个记录标记，根据由比该记录标记更短的多个脉冲构成的写策略波形来进行记录，其特征在于，具备：写策略生成电路，生成上述写策略波形；激光光源，出射激光；激光驱动电路，按照上述写策略波形的脉冲串来对上述激光光源进行驱动；光检测器，输出从上述激光光源出射的激光的光强度；激光功率控制电路，通过按照上述光检测器所输出的光强度信号来对从上述激光驱动电路向上述激光光源供给的电流量进行控制，对上述激光光源的光强度进行控制；平均化电路，对从上述光检测器输出的标记部的脉冲串的光强度信号进行平均化，并作为平均化电平输出；采样·保持电路，对上述标记部中的上述平均化电路的输出进行采样·保持；电压测定电路，将由上述采样·保持电路保持的模拟电平作为电压值来进行测定；以及相位设定重新排列电路，将上述写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的多脉冲，固定上述多脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，根据对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化而得到的上述平均化电平的测定值和其理想值，求出实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差最小的最佳相位设定，变更预先设定的相位设定，所以可以利用电压电平来对实际输出的写策略的相位设定进行测定，在测定值与理想值的误差大的情况下，可以校正成该误差最小的相位设定。

另外，根据本发明的第2方面的光盘记录装置，在第1方面记载的光盘记录装置中，上述多脉冲的输出周期是作为标记·空白长度的基本周期的1T，上述相位设定重新排列电路将多脉冲的脉冲边缘的相位设定从(r1)T变更到(r2)T(r1表示0≤r1≤1的范围的实数，r2表示0≤r2≤1的范围的实数，且r1＜r2)，从而使上述多脉冲的占空比从(r1×100)％变化到(r2×100)％，上述平均化电路对与上述相位设定中的每一个对应的上述平均化电平进行测定，所以可以以最小分辨率对所有作为基本周期的1T进行测定，在测定值和理想值的误差大的情况下，可以校正成该误差最小的相位设定。

另外，根据本发明的第3方面的光盘记录装置，在第2方面记载的光盘记录装置中，上述相位设定重新排列电路将上述(r1)和上述(r2)设定为r1＝0、r2＝1，使上述多脉冲的脉冲边缘的相位设定从0T变更到1T，从而使上述多脉冲的占空比从0％变化到100％，上述平均化电路对所有与各个上述相位设定对应的上述平均电平进行测定，所以可以以最小分辨率对所有作为基本周期的1T进行测定，在测定值和理想值的误差大的情况下，可以校正成该误差成为最小的相位设定。

另外，根据本发明的第4方面的光盘记录装置，在第1方面记载的光盘记录装置中，上述多脉冲的输出周期是作为标记·空白长度的基本周期的1T的2倍的2T，上述相位设定重新排列电路将上述多脉冲的脉冲边缘的相位设定从(r3)T变更到(r3+1)T(r3表示0≤r3≤1的范围的实数)，从而使上述多脉冲的占空比从(r3÷2×100)％变化到((r3+1)÷2×100)％，上述平均化电路对与各个上述相位设定对应的上述平均化电平进行测定，所以即使伴随记录速度的高倍速化而在占空为0％或100％附近的设定附近，激光输出特性的上升沿特性、下降沿特性恶化，在测定值和理想值的误差大的情况下，也可以校正成该误差成为最小的相位设定。

另外，根据本发明的第5方面的光盘记录装置，在第4方面记载的光盘记录装置中，上述相位设定重新排列电路将上述(r1)设定为r3＝0.5，将多脉冲的脉冲边缘的相位设定从0.5T变更到1.5T，从而使多脉冲的占空比从25％变化到75％，上述平均化电路对所有与各个上述相位设定对应的平均电平进行测定，所以即使伴随记录速度的高倍速化而在占空为0％或100％附近的设定附近，激光输出特性的上升沿特性、下降沿特性恶化，也可以在占空比为25％到75％的范围内，以最小分辨率对所有作为基本周期的1T进行测定，在测定值和理想值的误差大的情况下，可以校正成该误差成为最小的相位设定。

根据本发明的第6方面的光盘记录装置，在第1方面记载的光盘记录装置中，上述相位设定重新排列电路在连结相位设定最小的多脉冲的占空比为(x1)％时的平均化电平(y1)和相位设定最大的多脉冲的占空比为(x2)％时的平均化电平(y2)的直线的斜率(y2-y1)÷(x2-x1)、截距y1中进行插值来求出上述理想值，将该理想值与针对各相位设定中的每一个得到的多脉冲串的平均化电平的测定值中的每一个进行比较，将与上述各测定值中取最接近于上述理想值的值的测定值对应的相位设定设为上述最佳相位设定，所以可以利用作为基本周期的1T的最开始和接下来的1T的最开始的2个点来进行直线近似，可以相对地以1T的最小分辨率对所有的相位设定进行校正。

另外，根据本发明的第7方面的光盘记录装置，在第1方面记载的光盘记录装置中，具备切换电路，该切换电路在上述光检测电路的输出和与该光盘记录装置连接且输出与上述写策略波形等同的波形信号的标准信号发生装置的输出之间，切换向上述平均化电路的输出，上述相位设定重新排列电路将在上述切换电路选择上述标准信号发生装置的输出的情况下得到的上述平均化电平作为上述理想值，对该理想值和在上述切换电路选择了上述光检测电路的输出的情况下得到的针对各相位设定中的每一个得到的多脉冲串的平均化电平的测定值进行比较，将与上述各测定值中取最接近于上述理想值的值的测定值对应的相位设定设为上述最佳相位设定，所以可以校正进行平均化电平的测定的检测系统的输出，可以进行更准确的相位设定的校正。

另外，根据本发明的第8方面的光盘记录装置，在第6或7方面记载的光盘记录装置中，具备判定电路，该判定电路计算出上述各测定值与上述理想值的误差，在该误差大的情况下，将该光盘记录装置判定为不良品，所以可以进行写策略的异常检测或记录装置的不良品检测。

另外，根据本发明的第9方面的光盘记录装置，在第1方面记载的光盘记录装置中，上述相位设定重新排列电路在与上述多脉冲的占空比的时间宽度对应的电压值的测定困难的相位设定中，不进行上述最佳相位设定的计算，所以不会进行与本来的设定完全不同的相位设定，不会产生异常的输出。

另外，根据本发明的第10方面的光盘记录装置，针对1个记录标记，利用由1个块脉冲构成的写策略来进行记录，其特征在于，具备：写策略生成电路，生成上述写策略波形；激光光源，出射激光；激光驱动电路，按照上述写策略波形的脉冲串来对上述激光光源进行驱动；光检测器，输出从上述激光光源出射的激光的光强度；激光功率控制电路，通过按照上述光检测器所输出的光强度信号来对从上述激光驱动电路向上述激光光源供给的电流量进行控制，对上述激光光源的光强度进行控制；平均化电路，对从上述光检测器输出的标记部的脉冲串的光强度信号进行平均化，并作为平均化电平输出；采样·保持电路，对上述标记部中的上述平均化电路的输出进行采样·保持；电压测定电路，将由上述采样·保持电路保持的模拟电平作为电压值来进行测定；以及相位设定重新排列电路，将上述写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的块脉冲，固定上述块脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，固定上述多脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，根据对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化而得到的上述平均化电平的测定值和其理想值，求出实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差最小的上述相位设定，变更预先设定的相位设定，所以即使在作为写策略的最简单的输出波形的块脉冲中，也可以利用电压电平对与相位设定对应的时间轴进行测定，即使在伴随高倍速化而使多脉冲的输出变得困难的情况下，也可以进行相位设定的校正。

另外，根据本发明的第11方面的光盘记录装置，在第1方面记载的光盘记录装置中，还具备：保持控制电路，停止基于上述激光功率控制电路的激光控制；以及采样位置设定电路，使上述采样·保持电路中的上述平均化电平的采样位置向预定的位置移动，上述激光功率控制电路根据上述电压测定电路的输出，对上述激光光源的光强度进行控制，在上述激光功率控制电路进行激光控制的情况下，上述采样位置设定电路使上述采样位置向上述标记部的大脉冲部移动，在上述相位设定重新排列电路进行上述相位设定的变更的情况下，上述采样位置设定电路使上述采样位置向上述标记部的多脉冲部移动，上述保持控制电路对激光控制进行保持，所以可以共用写策略用的相位误差检测系统和用于激光控制的相位误差检测系统，从而可以进行电路的简化。

另外，根据本发明的第12方面的光盘记录装置，在第1或10方面记载的光盘记录装置中，具备电压增益放大器，该电压增益放大器任意地对上述采样保持电路的输出信号的电压电平进行控制，所以可以通过设定最佳的范围来提高S/N比。

另外，根据本发明的第13方面的光盘记录装置，在第1或10方面记载的光盘记录装置中，上述激光功率控制电路变更激光出射功率电平来进行多次激光功率控制，并利用激光功率控制的精度最高的激光功率，对上述激光光源的光强度进行控制，所以可以通过设定最佳的激光功率来提高S/N比。

另外，根据本发明的第14方面的光盘记录装置，在第1或10方面记载的光盘记录装置中，在向光盘的聚焦偏离期间，上述相位设定重新排列电路依次变更上述相位设定，上述平均化电路针对各相位设定中的每一个对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化并对上述平均化电平进行测定，所以可以在光盘记录装置的记录动作中，不进行向记录介质的记录，而是确认是否输出了所设定的写策略的校正、以及所设定的写策略。

另外，根据本发明的第15方面的光盘记录装置，在第1或10方面记载的光盘记录装置中，上述平均化电路对从上述写策略生成电路输出的上述写策略波形的脉冲信号直接进行平均化，并作为上述平均化电平输出，所以可以将写策略的时间信号直接转换成电压信号，即使在与激光的控制无关地停止了激光的出射的状态下，也可以对写策略的相位设定进行校正。

另外，根据本发明的第16方面的光盘记录装置，在第15方面记载的光盘记录装置中，具备切换电路，该切换电路在上述光检测器的输出和上述写策略生成电路的输出之间切换向上述平均化电路的输出，所以可以对写策略的时间信号和激光出射的时间信号进行比较。

另外，根据本发明的第17方面的光盘记录装置，在第6或7方面记载的光盘记录装置中，具备占空比校正电路，该占空比校正电路根据上述理想值和上述测定值，对上述多脉冲的占空比的设定进行校正，上述激光功率控制电路根据上述电压测定电路的输出和上述校正后的占空比，进行峰值功率换算计算，所以可以进行多脉冲的激光控制用的功率校正。

另外，根据本发明的第18方面的光盘记录装置，在第1或10方面记载的光盘记录装置中，具备非易失性存储器，该非易失性存储器保持由上述相位设定重新排列电路计算出的校正参数的值，所以通过预先在工序调整中求出校正值并使用该保持的校正值，可以缩短记录装置的起动。

附图说明

图1是实施方式1的光盘记录装置的框图。

图2是在实施方式1的光盘记录装置中，多脉冲的相位设定Tmp＝0.5T且占空比为50％时的信号波形图。

图3是在实施方式1的光盘记录装置中，多脉冲的相位设定Tmp＝0且占空比为0％时的信号波形图。

图4是在实施方式1的光盘记录装置中，多脉冲的相位设定Tmp＝1T且占空比为100％时的信号波形图。

图5是示出1T多脉冲的宽度设定和测定电平的关系的图。

图6是示出实施方式1的光盘记录装置的相位设定的校正过程的流程图。

图7是示出在实施方式1的光盘记录装置中，用于取得每个相位设定的AD转换值的测定过程的流程图。

图8是示出实施方式1的光盘记录装置的测定结果例子的图。

图9是示出在实施方式1的光盘记录装置中用于计算理想值的计算式的图。

图10是示出在实施方式1的光盘记录装置中，测定值和计算出的理想值的结果例子的图。

图11是示出在实施方式1的光盘记录装置中，搜索最佳相位设定并校正相位设定的过程的流程图。

图12是示出实施方式1的光盘记录装置中的校正结果例子的图。

图13是以图形示出实施方式1的光盘记录装置中的校正结果例子的图。

图14是在实施方式2的光盘记录装置中，在2T多脉冲的情况下，多脉冲的相位设定Tmp＝0.5T且占空比为50％时的信号波形图。

图15是在实施方式2的光盘记录装置中，多脉冲的相位设定Tmp＝1.0T且占空比为50％时的信号波形图。

图16是在实施方式2的光盘记录装置中，多脉冲的相位设定为Tmp＝1.5T且占空比为75％时的信号波形图。

图17是示出2T多脉冲的宽度设定和测定电平的关系的图。

图18是在实施方式3的光盘记录装置中，在3T标记中输出了1T长度的块脉冲时的波形图。

图19是在实施方式3的光盘记录装置中，在3T标记中输出了1.5T长度的块脉冲时的波形图。

图20是在实施方式3的光盘记录装置中，在3T标记中输出了2.0T长度的块脉冲时的波形图。

图21是示出在实施方式3的光盘记录装置中，大脉冲的宽度设定和测定电平的关系的图。

图22是实施方式4的光盘记录装置的框图。

图23是示出实施方式4的光盘记录装置中的测定值[n]和标准装置[n]的测定结果例子的图。

图24是示出实施方式4的光盘记录装置中的测定结果例子的图。

图25是实施方式5的光盘记录装置的框图。

图26是在实施方式5的光盘记录装置中，多脉冲的相位设定Tmp＝0.5T且占空比为50％时的波形图。

图27是示出实施方式5的光盘记录装置中的测定过程的流程图。

图28是实施方式6的光盘记录装置中的拾取器的框图。

图29是实施方式7的光盘记录装置的框图。

图30是实施方式8的光盘记录装置的框图。

图31是实施方式8的光盘记录装置中的用于计算占空比的校正值的计算式的图。

图32是示出在实施方式8的光盘记录装置中，校正了占空比的结果的图。

(标号说明)

1 光盘

2 拾取器

3 激光控制系统

3a 标记部检测系统

3b 空白/擦除部检测系统

4 相位检测设定系统

5 记录数据生成系统

6 激光二极管(LD)驱动器

7 激光器(LD)

8 光检测器

9 衰减器(ATT)电路

10 低通滤波器(LPF)电路

11 采样·保持(SH)电路

12 切换开关

13 电压增益放大器(VGA)

14 AD转换电路

15 电压增益放大器(VGA)

16 采样·保持(SH)电路

17 电压增益放大器(VGA)

18 AD转换电路

19 激光APC(Auto Power Control)控制电路

20 DAC

21 记录数据存储电路

22 记录调制电路

23 写策略生成电路

24 相位设定电路

25 多层时钟生成电路

26 低通滤波器(LPF)电路

27 采样·保持(SH)电路

28 电压增益放大器(VGA)电路

29 AD转换电路

30 CPU

31 RAM

32 相位设定表

33 占空比校正电路

34 信号转换电路

35 信号切换开关

36 信号切换开关

37 标准信号发生装置

38 SH位置设定电路

39 ON开关

40 透镜

41 致动器

42 聚焦驱动电路

具体实施方式

(实施方式1)

图1是示出本发明的实施方式1的光盘记录装置的结构的框图。

在图1中，本实施方式1的光盘记录装置100具有：拾取器2，向光盘1出射激光来进行针对光盘1的信息的写入以及读出；激光控制系统3，对激光的出射功率进行控制；相位检测设定系统4，进行写策略的相位检测和相位设定等的控制；以及记录数据生成系统5，生成记录数据。

在拾取器2中，由激光二极管(LD)驱动器6对激光二极管(LD)7进行电流驱动，从LD 7向光盘1出射激光。该激光的反射光由作为受光元件的光检测器8接收，并由光检测器8将所接收的光的强度转换成电压电平后输出。然后，转换成电压电平的光输出到后级的激光控制系统3和相位检测设定系统4。

激光控制系统3具有衰减器(ATT电路)9、标记部检测系统3a、空白/擦除部检测系统3b、激光APC(Auto Power Control(自动功率控制))控制电路19和DAC 20。

在从光检测器8输出的电压电平高的情况下，ATT电路9降低该电压电平。近年来，光盘记录装置的记录速度得到了高倍速化，在LD 7以大的功率发光的情况下，使用ATT电路9来降低电压电平。ATT电路9的输出信号输出到标记部检测系统3a和空白/擦除部检测系统3b。

标记部检测系统3a对向标记部发出了激光时的激光功率电平(电压电平)进行采样并保持，并对该电平进行测定，由带频率调整的低通滤波器(LPF电路)10、切换开关12、采样保持电路(SH电路)11、电压增益放大器(VGA)13和AD转换电路14构成。标记部检测系统3a在ATT电路9的输出信号为多脉冲波形时，使该信号通过LPF 10来对信号的电平进行平均化，由SH电路11对多脉冲的平均功率电平进行采样并保持，对该电平进行测定。SH电路11根据标记用采样·保持(SH)信号(未图示)，对与激光功率电平对应的电压电平进行采样并保持。之后，对于SH电路11的输出，由VGA 13根据记录速度和记录时的激光功率进行增益调整，并由AD转换电路14进行AD转换。

空白/擦除部检测系统3b对向空白部/擦除部发出了激光时的激光功率电平(电压电平)进行采样并保持，并对该电平进行测定，由电压增益放大器(VGA)15、采样·保持电路(SH电路)16、电压增益放大器(VGA)17和AD转换电路18构成。针对空白部的激光功率小于针对擦除部或标记部的激光功率，所以对于针对空白部的激光功率电平(电压电平)的信号，由VGA 15提高增益。另一方面，针对擦除部的激光功率是充分大的电平，所以无需提高增益。对于VGA15的输出信号(电平)，由SH电路16根据空白用SH信号(未图示)来采样并保持。另外，针对擦除部的激光功率电平的采样·保持与空白部的情况相同。之后，对于SH电路16的输出，由VGA 17根据记录速度和记录时的激光功率进行信号的增益调整，并由AD转换电路18对信号进行AD转换。

激光APC(Auto Power Control)控制电路19将由标记部检测系统3a和空白/擦除部检测系统3b检测出的AD转换值作为输入，计算LD7的驱动电流，并向LD驱动器6供给驱动电流。另外，DAC 20将激光APC控制电路19的输出转换成模拟信号，并输出到LD驱动器6。

以下，对基于上述的激光控制系统3的激光功率的控制方法进行说明。另外，针对擦除部的激光功率电平的采样以及保持的动作与空白部的采样以及保持相同，所以省略其说明。

首先，对再现光盘1的信息时的LD 7的功率控制进行说明。

激光APC控制电路19为了将LD 7的功率恒定地控制成再现光盘1的信息所需的再现功率，向LD驱动器6设定初始的电流值，LD驱动器6根据该电流值使LD 7发光。之后，光检测器8的输出信号通过ATT电路9，由空白/擦除部检测系统3b对其进行AD转换。然后，激光APC控制电路19对驱动电流的值进行控制，以使AD转换值成为目标的激光功率。当再现时，由该激光APC控制电路19进行控制，以使激光功率成为预定的目标值。

接下来，对向光盘1记录信息时的LD 7的功率控制进行说明。

通常，记录波形NRZI重复输出标记部的波形和空白部的波形。在形成1个记录标记时，根据介质的材质、特性或记录速度，从记录波形NRZI生成写策略，并利用该写策略来出射激光，所以激光的发光波形成为各种形状。另外，在LD 7中，由于温度特性，用于出射目标功率的必要电流量变化。因此，为了控制成使标记部和空白部的激光功率成为目的功率，对各自的激光功率电平进行测定，来进行激光APC控制，以使激光功率成为恒定。

标记部检测系统3a对显示多脉冲波形的标记部的激光功率电平进行采样并保持，并对该电平进行测定。在标记部的波形是由多个脉冲构成的多脉冲的情况下，标记部检测系统3a对切换开关12进行切换，以使信号通过LPF电路10，使用LPF电路10对信号的电平进行平均化，对平均化后的电平进行采样并保持，并对该电平进行测定。如果将记录用的高功率出现的时间Tp和输出了再现用的低功率的底功率(bottom power)出现的时间Tb之间的比率Tp/(Tp+Tb)设为占空比，则在多脉冲波形时，在进行目标功率的计算时，根据所取得的平均电平和占空比，进行峰值功率的换算。例如，在占空比为50％且将取得的平均电平设为ave时，由激光APC控制电路19将实际发光的峰值功率计算为ave/50％＝ave×2。由SH电路11对该检测出的平均功率电平进行采样并保持。然后，由激光APC控制电路19对驱动电流的值进行控制，以使AD转换值成为目标激光功率。

另外，在来自ATT电路9的输出为非多脉冲波形的情况下，标记部检测系统3a对切换开关12进行切换以使来自ATT电路9的信号通过LPF电路10，并对电平进行测定。在该情况下，由于可以直接进行电平的测定，所以无需进行占空比的计算。另外，在多脉冲的情况下，标记部检测系统3a也可以对切换开关12进行切换，以使来自ATT电路9的输出信号通过LPF电路10，对Top脉冲(大脉冲)部分进行采样·保持。在该情况下，由于可以直接进行电平的测定，所以也无需占空比的计算。

另一方面，在空白/擦除部检测系统3b中，利用与前述的再现时相同的方法，对空白部的激光功率电平进行采样并保持，对该电平进行测定。然后，由激光APC控制电路19对驱动电流的值进行控制，以使AD转换值成为目标激光功率。

接下来，在图1中，相位检测设定系统4进行写策略的相位检测、相位的决定等控制，具有带频率调整的低通滤波器(LPF电路)26、采样·保持电路(SH电路)27、电压增益放大器(VGA)28、CPU 30和RAM 31。另外，也可以设置代替RAM 31的非易失性存储器，并在该非易失性存储器中存储RAM 31中存储的各种数据。

在相位检测设定系统4的处理中，对于由光检测器8转换成电压电平的光信号，如以下那样进行电处理，利用电压电平检测出写策略的时间轴的设定。

即，转换成电压电平的标记部的多脉冲波形通过LPF 26，检测出多脉冲的平均功率电平。由SH电路27对检测出的平均功率电平进行采样并保持。之后，由VGA 28根据记录速度、记录时的激光功率来进行信号的增益调整，并由AD转换电路29进行AD转换。

CPU 30依次变更写策略的相位设定，针对各个相位设定中的每一个取得由AD转换电路29输出的测定值。然后，基于该测定值进行直线近似，针对各相位设定中的每一个求出测定值的理想值，将测定值和理想值的误差最小的相位设定作为最佳相位设定而求出，存储到RAM 31的相位设定表32中。另外，对于相位检测设定系统4的详细动作，将在后面叙述。

记录数据生成系统5生成记录到光盘1上的记录数据，具有记录数据存储电路21、记录调制电路22、写策略生成电路23、相位设定电路24和多相时钟生成电路25。

在记录数据生成系统5中，由记录调制电路22根据预定的规格对存储到记录数据存储电路21中的记录数据进行调制。然后，记录波形NRZI信号从记录调制电路22输入到写策略生成电路23。

相位设定电路24根据由CPU 30读出的相位设定表32的值来选择多相时钟生成电路25所生成的基准时钟，输入到写策略生成电路23。

写策略生成电路23根据来自记录调制电路22以及相位设定电路24的输出，按照光盘1的特性和记录速度等，生成向光盘1记录的最佳的写策略。此时，写策略生成电路23为了生成相对于成为基准的记录重复周期1T更短的多个脉冲、或一个脉冲，将与1T相比更具有分辨率的多相时钟作为基准，决定写策略的相位。然后，LD驱动器6根据该写策略使LD 7发光。另外，存储在相位检测设定系统4的RAM31中的相位设定表32也可以保持于相位设定电路24等中。

接下来，对以上那样构成的光盘记录装置100中的多脉冲的相位设定与相位检测设定系统4中的多脉冲的平均化电平的测定值的关系进行说明。

如上所述，对于显示多脉冲波形的标记部的激光功率电平，由LPF电路27进行平均化，对平均化后的电平进行采样并保持，测定出该电平。此时，进行激光APC控制，以使激光功率成为恒定，所以在多脉冲的相位设定Tmp发生了变化时，由LPF电路27平均化后的电平变化。

例如，使用图2来对将多脉冲的输出周期设为作为标记·空白长度的基本周期的1T时的1T多脉冲的情况进行说明。

图2示出记录中的标记和空白的信号，示出写策略的多脉冲的相位设定Tmp＝0.5T且占空比为50％的情况。图2(b)表示激光的输出，在图2(b)中，Tmp表示多脉冲的相位设定，是Tmp的箭头方向(+)可变的相位设定。另外，Tmp的箭头的起始点是被固定的相位设定。在图2中，基本周期为1T，所以Tmp可以从0T到1T变化。

图2(a)表示作为记录调制电路22的输出信号的记录波形NRZI，HIGH(高)的区间是记录了数据的标记部分，LOW(低)的区间是没有记录数据或被擦除的空白部。对于空白部，以偏置功率b1来进行APC控制，对于标记部的多脉冲，以峰值功率b2来进行控制。另外，对于底功率b3，设定电流，使其成为再现中的激光功率。该底功率b3也可以根据记录特性而变化。

图2(c)表示激光控制系统3a中的信号输出，分别表示标记部检测系统3a中的SH信号和SH电路11的输出、以及空白/擦除部检测系统3b中的SH信号和SH电路16的输出。在激光控制系统3a中，在用于对标记部的电平进行检测的SH信号为LOW的区间进行采样，在从LOW到HIGH的定时采样电平被保持。另外，在空白/擦除部检测系统3b中，在用于对空白部的电平进行检测的SH信号为LOW的区间进行采样，在从LOW到HIGH的定时采样电平被保持。另外，在本发明的实施方式1中，只要采样和保持的含义相同，则SH信号的LOW和HIGH的极性就可以特别以反转设定来进行相同的动作。

图2(d)示出相位检测设定系统4中的LPF电路26、SH信号以及SH电路27各自的输出。在相位检测设定系统4中，对于LPF电路10的平均化信号，由于占空为50％，所以理想地如图2(d)那样从峰值功率d1减去底功率d2后的50％的电平来进行平均化。在该标记部分的位置，利用SH信号在LOW的区间进行采样，在从LOW到HIGH的定时采样电平被保持。

另外，在相位检测设定系统4中，如图3所示，在多脉冲的相位设定为Tmp＝0且作为1T单位中的记录功率出射比率的占空比为0％的情况下，由LPF电路10平均后的电平如图3(c)所示作为与底功率c2大致相同的电平被检测出。另外，例如如图4所示，在多脉冲的相位设定Tmp＝1T且作为1T单位中的记录功率出射比率的占空比为100％的情况下，由LPF电路10平均后的电平如图4(c)所示作为与峰值功率c1大致相同的电平被检测出。如果总结以上图2、图3、图4的结果，来表示使多脉冲的相位设定变化时的电平检测的关系，则可以如图5所示。

图5以平均化电平的底功率到峰值功率的关系来表示出从作为标记·空白长度的基本周期的1T的时间轴0％到100％。在图5中，横轴为写策略电路的多脉冲设定Tmp和占空比，纵轴为由SH电路27保持的信号的AD转换电平。如图5所示，在本实施方式1中，用占空比是0％时AD转换电平为底功率的电平、而占空比是100％时为峰值功率的电平的直线，来表示1T多脉冲的宽度设定和测定电平的关系。

接下来，详细说明在如上那样构成的光盘记录装置100中，对与写策略的相位设定对应的电压电平进行采样来决定最佳相位值的动作。另外，以下对作为标记·空白长度的基本周期的1T的分辨率为1/10的情况进行说明。

1T的分辨率为1/10表示可以以0.1T单位来进行多脉冲的相位设定。在本实施方式1的光盘记录装置中，分辨率可以是1/n(n为任意的整数)，即使是任意的分辨率n，也可以取得与10的分辨率的情况相同的结果。

图6是示出由本发明的实施方式1的光盘记录装置100对写策略的相位设定进行校正并输出最佳相位设定的动作的概略的流程图。

首先，在步骤S11中，使写策略的相位设定依次变化来进行各相位设定中的信号电平的测定。接下来在步骤S12中，针对各相位设定中的每一个搜索最佳值，求出最佳相位设定。然后在步骤S13中，进行最佳相位值的输出。

以下，对步骤S11、步骤S12进行详细说明。首先，对步骤S11的处理进行说明。

图7示出以最小分辨率依次设定多脉冲的相位来进行各相位设定中的每一个的平均化电平的测定的流程。另外，以下的各步骤由CPU 30执行，并且，该流程中的变量或数组变量确保在与CPU 30连接的RAM 31中。

首先，在步骤S21中，对变量进行初始化。该变量为表示测定次数的变量n，在本实施方式1的情况下，是从0到10的整数。

接下来，形成步骤S22到步骤S27的循环1处理，在变量n小于等于10的情况下，重复处理步骤S23到步骤S27。

即，在步骤S23中，设定相位_0/10，在步骤S24中，取得相位_0/10时的AD值，在步骤S25中，取得的AD值存储到数组_测定值[0]中。接下来，在步骤S26中，使0递增1，在步骤S27中，判断继续还是结束利用步骤S22的条件形成的循环1，然后重复循环1，直到取得测定值[10]为止。

通过以上的测定，例如取得图8那样的测定结果。

在本发明的实施方式1中，使n从0递增，以使占空从0％到100％，但使n从10递减，以使占空比从100％到0％，也可以取得同样的测定结果。另外，也可以在步骤S23或步骤S24的实施前后，为了设定后的稳定性或测定的稳定性，而设置等待时间，来执行下一处理。

接下来，对步骤S12的处理进行说明。

首先，在搜索出相位设定的最佳值之前，计算出用于校正写策略的相位设定的理想值。理想值是根据利用步骤S11取得的测定结果计算出的，根据保持有占空为0％的测定结果的数组变量_测定值[0]和保持有占空为100％的测定结果的数组变量_测定值[10]的结果，通过直线近似来得到。直线近似式用图9的式来表示，根据本实施方式1的测定结果，理想值用

理想值＝100×n+100

来进行直线近似。图10示出利用上述步骤S11取得的测定结果和根据上述直线近似式来求出理想值的结果。

图11示出从图10的结果搜索各相位设定的最佳值来校正相位设定的流程。最佳值的搜索处理是搜索出最接近于某相位设定时的理想值的测定值，并将与该搜索结果的测定值对应的相位设定设为最佳相位设定。最接近于理想值的测定值是根据测定结果和理想值的绝对值运算出的。以下，对流程的详细内容进行说明。

首先，在步骤S30中，根据在图9中求出的直线近似式，计算出各相位设定值中的每一个的理想值，存储到数组变量_理想值[n]中。在本实施方式1的情况下，理想值[0]到理想值[10]这11个数据存储到数组变量中。

接下来，在步骤S31中，进行变量m的初始化。变量m是在后述的循环1的计数中使用的变量。

接下来，形成步骤S32到步骤S44的循环1的处理，在变量m小于10的情况下，重复处理步骤S33到步骤S43。在该循环1的处理中，进行如下处理：针对某相位设定n，根据实测出的结果来检索最接近于理想值的最佳值并将与该最佳值对应的相位设定决定为针对某相位设定值n的最佳相位设定。

接下来，在步骤S33中，在变量_理想值[m]中，取得针对检索最佳相位设定的相位设定值在步骤S30中计算出的理想值。

接下来，在步骤S34中，进行变量的初始化。在步骤S34中被初始化的变量是在后述的循环2的计数中使用的变量_n、最佳绝对值以及最佳表[m]。此处，变量_最小绝对值是在循环2的处理中在检索最接近于理想值的测定值时，存储偏离理想值的误差最小的值的变量。另外，作为最小绝对值的初始值，存储作为值可以取得的最大值。另外，变量_最佳表[m]是存储在循环1的处理中检索出相对于某相位设定误差最小的值时的相位设定值的变量。

接下来，形成步骤S35到步骤S41的循环2的处理，在变量n小于10的情况下，重复处理步骤S36到步骤S40。在该循环2的处理中，进行如下处理：针对上述循环1处理中的检索最佳相位设定值的相位设定值，比较理想值[m]和所有的实测值来检索最接近于理想值的测定值。

即，在步骤S36中，计算出数组变量_测定值[n]和通过计算求出的理想值[m]的差分的绝对值。在步骤S37中，对该差分绝对值和最小绝对值进行比较，在差分绝对值的一方小时，转移到步骤S38，在差分绝对值的一方大时，转移到步骤S40。

在步骤S38中，在变量_最小绝对值中存储差分绝对值，在步骤S39中，在变量_最佳相位设定中设定变量n。然后，在步骤S40中，变量n递增，在步骤S41中，判断继续还是结束利用步骤S35的条件形成的循环2。在结束循环2的情况下，在步骤S42中，在数组变量_最佳表[m]中，存储最佳相位设定。

接下来，在步骤S43中，使变量m递增，在步骤S44中，判断继续还是结束利用步骤S32的条件形成的循环1，通过循环1的结束，对各相位设定的最佳值进行搜索的处理结束。

图12和图13示出如以上那样进行了处理的结果。

图12分别示出校正前和校正后的与相位设定n对应的理想值、测定值、电平误差以及误差(LSB)。在图12中，理想值为在步骤S30中求出的值，测定值是在步骤S11中求出的值。另外，电平误差表示测定值与理想值之差，误差(LSB)是将测定值与理想值之差用理想直线的斜率来除后的结果，表示与相位设定对应的误差。另外，在图12中，校正后的“校正n”的栏相当于利用在图11中说明的流程得到的最佳表[m]。

如图12所示，通过上述的校正，电平误差、误差(LSB)与校正前相比变小。

另外，图13是对图12所示的各数值进行图形化后的图，针对横轴的相位设定n，左侧第一轴表示测定值，右侧第二轴表示误差(LSB)。如图13所示，相对于理想的直线，在校正前存在-0.8(LSB)到+1.0(LSB)的误差，但在校正后，降低到-0.7(LSB)到+0.4(LSB)的误差。

通过以上的动作得到的校正后的相位设定保持在非易失性存储器31的相位设定表32中。具体而言，利用校正结果，将在校正前依次存储成[0、1、2、3、4、5、6、7、8、9]的设定改写成[0、2、1、3、5、5、6、7、9、8]。

然后，在实际的写策略的输出中，在如本实施方式那样相位设定n存在0到10的情况下，例如，当进行n＝1的设定时，进行校正n＝2的选择即可。另外，当相位设定n＝4时，选择校正n＝5即可。这样，CPU 30通过针对某相位设定来设定校正后的相位设定n，可以对预定的相位设定顺序进行重新排列，可以进行与电路特性对应的最佳的写策略的相位设定。

另外，在本发明的实施方式1中，也可以按照AD转换电路29的分辨率或范围，使VGA 28的设定可变，来提高S/N比。

另外，在本发明的实施方式1中，也可以通过使激光功率可变，利用标记部检测系统3a的动态范围来提高S/N比。另外，也可以分别比较使VGA 28的设定或激光功率可变的结果，来进行精度更佳的检测。

另外，在本发明的实施方式1中，对于作为标记·空白长度的基本周期的1T的分辨率为1/10的情况，将相位设定从n＝0到n＝10逐个变更，从而使多脉冲的占空比从0％变化到100％来进行测定，但此处测定的n也可以是任意的设定。另外，只要得到用于校正的基准直线0％和100％的测定结果，就可以对任意的相位设定进行校正。

另外，在本发明的实施方式1中，对于作为标记·空白长度的基本周期的1T的分辨率为1/10的情况，将相位设定从n＝0到n＝10逐个变更，从而使多脉冲的占空比从0％变化到100％来进行测定，但这里，进行测定的n＝1、n＝9的设定是输出波形的宽度最短的时间宽度。伴随近年来的高倍速化，在记录倍速提高时，时间宽度也变短。在信号输出的上升沿特性和下降沿特性的时间超过了所设定的写策略的时间宽度的情况下，无法输出正常的波形。关于该条件，上升沿特性以及下降沿特性作为产品规格而预先被规定并明确化。此处，当进行如上述条件那样无法输出正常波形的记录倍速的设定时，无法进行测定。因此，在无法预先进行测定的时间设定时，不进行测定，不进行校正。具体而言，n＝1的校正结果设为校正n＝1。

另外，在本发明的实施方式1中，在步骤S12中，进行直线近似和校正，在RAM 31中保持作为校正后的相位设定值的校正n，对下一写策略的设定来设定校正n，但也可以在RAM 31中保持作为直线近似的结果的理想值。在该情况下，可以仅读出直线近似的结果，与所设定的写策略的相位设定n的输出结果进行比较，来判断其精度。

另外，在本发明的实施方式1中，CPU 30也可以对理想值和测定值进行比较，在超过了预先设定的值的情况下，进行错误检测。例如，从理想值减去测定值，在超过了所设定的值的情况下，设为错误。然后，在检测出错误的情况下，该记录装置判断为不良品。另外，也可以进行一部分的部件更换，再次进行测定，在小于所设定的值时判断为良品。另外，即使在错误的情况下，由于还考虑到由于测定的误差而超过了预先设定的值的情况，所以也可以再次进行任意次数的测定来进行错误检测。

这样，本实施方式1的光盘记录装置将写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的多脉冲，固定多脉冲的一方的脉冲边缘的相位设定，依次变更另一方的脉冲边缘的相位设定，进行控制激光光源的光强度的激光功率控制，对执行多脉冲发光的激光进行光检测，使用LPF电路对标记部进行平均化，对该电平进行采样并保持，利用电压对与多脉冲的占空比的时间宽度对应的平均化电平进行测定，根据该测定结果，进行脉冲边缘的相位设定顺序的重新排列，以减少实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差，所以可以利用电压电平来测定与写策略的实际输出的时间轴对应的相位设定，从而可以针对误差大的相位设定，决定降低了该误差的最佳的相位设定。

另外，当将多脉冲的输出周期设为作为标记·空白长度的基本周期的1T时，使多脉冲的占空比从0％变化到100％，来进行电平的测定，所以可以以最小分辨率测定所有作为基本周期的1T，通过根据该测定结果来对相位设定顺序进行重新排列，可以进行降低了误差的相位设定。

另外，在将相位设定最小的多脉冲的占空比为(x1)％时的平均化电平设为(y1)并将相位设定最大的多脉冲的占空比为(x2)％时的平均化电平设为(y2)的情况下，使用将斜率设为(y2-y1)÷(x2-x1)并将截距设为y1的直线，求出关于各相位设定的理想值，所以可以利用作为基本周期的1T的最开始和接下来的1T的最开始的2点来进行直线近似，可以相对地以1T的最小分辨率针对所有的相位设定进行校正。

另外，在本实施方式1的光盘记录装置中，当利用电压电平来进行测定时，通过设定最佳的范围，可以提高S/N比。另外，利用激光APC控制电路19使激光功率变化，来进行多次激光功率控制，并且选择并设定精度最好的激光功率，从而可以提高S/N比。

另外，本实施方式1的光盘记录装置由于在RAM 31中改写并保持校正了相位设定后的结果，所以预先在光盘记录装置的工序调整中求出校正值，并使用该保持的校正值，从而可以缩短光盘记录装置的起动时的时间。

另外，在测定困难的设定值附近，不进行相位设定的校正，所以不会进行与本来的设定完全不同的相位设定，不会产生异常的输出。

另外，由于在RAM 31中保持有理想值或校正值，所以预先在工序调整中求出校正值，并使用该保持的校正值或理想值，从而可以缩短光盘记录装置的起动所需的时间。

(实施方式2)

以下，对本发明的实施方式2的光盘记录装置进行说明。

本实施方式2的光盘记录装置是在上述实施方式1的光盘记录装置100中，将多脉冲的输出周期设为标记·空白长度的基本周期2T。

在本实施方式2的光盘记录装置中，针对将多脉冲的输出周期设为作为标记·空白长度的基本周期的2T时的2T多脉冲的情况，使用图14来说明。另外，本实施方式2的光盘记录装置的结构以及基本动作与上述实施方式1的光盘记录装置100相同。

在图14中，(a)表示记录波形NRZI，(b)表示激光输出，(c)表示相位检测设定系统4中的LPF电路26的输出、SH信号的输出、以及SH电路27的输出。图14示出记录中的标记和空白的信号，对应于写策略的多脉冲的相位设定为Tmp＝0.5T且占空比为25％的情况。Tmp表示多脉冲的相位设定，可以沿着Tmp的箭头方向(+)变化。Tmp的箭头的起始点为被固定的相位设定。基本周期为2T，所以Tmp可以从0T到2T变化。

此处，在作为标记·空白长度的基本周期的2T中，时间轴25％到75％是相当于1T的时间。

在多脉冲的相位设定为Tmp＝0.5T且作为2T单位中的记录功率出射比率的占空比为25％的情况下，由LPF电路26平均后的电平如图14(c)所示那样成为与峰值功率和底功率之差的25％相同的电平，由SH电路27如图14(c)那样检测出。

另外，图15是对应于写策略的多脉冲的相位设定为Tmp＝1.0T且占空比为50％的情况的图，在多脉冲的相位设定为Tmp＝1T且作为2T单位中的记录功率出射比率的占空比为50％的情况下，由LPF电路10平均后的电平如图15(c)所示那样成为与峰值功率和底功率之差的50％相同的电平，由SH电路27如图15(c)那样检测出。

另外，图16是对应于写策略的多脉冲的相位设定为Tmp＝1.5T且占空比为75％的情况的图，在多脉冲的相位设定为Tmp＝1.5T且作为2T单位中的记录功率出射比率的占空比为75％的情况下，由LPF电路10平均后的电平如图16(c)所示那样成为与峰值功率和底功率之差的75％相同的电平，由SH电路27如图16(c)那样检测出。

当总结图14、图15、图16的结果，来表示使多脉冲的相位设定变化时的相位设定和测定电平的关系时，可以如图17那样表示。在图17中，横轴表示写策略电路的多脉冲设定Tmp和占空比，纵轴表示由SH电路27保持的电平的AD转换电平。

如图17所示，使多脉冲的相位设定变化时的相位设定和测定电平的关系用占空比是25％时AD转换电平成为峰值功率和底功率之差的25％、占空比是75％时AD转换电平成为峰值功率和底功率之差的75％的电平的直线表示。图17在作为标记·空白长度的基本周期的2T中，用平均化电平中底功率到峰值功率的关系来表示时间轴25％到75％，该时间宽度恰好为相当于1T的时间宽度，与本发明的实施方式1相同。

因此，在本实施方式2中，可以检测的电压电平恰好为50％，与上述的实施方式1不同，但如果该电压电平的检测充分大于AD转换电路29的分辨率，则通过使用上述图17所示的直线来求出各相位设定中的每一个的理想值，可以利用与本发明的实施方式1相同的方法，对写策略的相位设定进行校正。

如上所述，根据本发明的实施方式2的光盘记录装置，当将多脉冲的输出周期设为作为标记·空白长度的基本周期的2T时，使多脉冲的占空比从25％向75％变化，来进行电平的测定，所以可以在占空比为25％到75％的范围内，以最小分辨率测定所有作为基本周期的1T，利用与上述实施方式1相同的方法，通过对相位设定顺序进行重新排列来进行相位设定的校正，从而可以降低误差。

另外，在本实施方式2中，针对作为标记·空白长度的基本周期的1T的分辨率为1/10的情况，将相位设定从n＝0到n＝10逐个变更，来使多脉冲的占空比从25％向75％变化而进行了测定，但只要可以取得基准直线25％和75％的测定结果，就可以校正任意的设定n。

(实施方式3)

以下，对本发明的实施方式3的光盘记录装置进行说明。

本实施方式3的光盘记录装置在上述实施方式1的光盘记录装置100中，当形成1个记录标记时，通过由利用1个脉冲形成的块脉冲(block pulse)构成的写策略来进行记录。

以下，在本实施方式3的光盘记录装置中，针对将块脉冲的输出设为作为标记·空白长度的基本周期的1T来输出了3T标记和3T空白时的动作，以图18为例进行说明。另外，本实施方式3的光盘记录装置的结构与上述实施方式1的光盘记录装置100相同。

在图18中，(a)表示记录波形NRZI，(b)表示激光输出，(c)表示相位检测设定系统4中的LPF电路26的输出、SH信号的输出、以及SH电路27的输出。图18表示记录中的标记和空白的信号，是在3T标记中形成1T长度的块脉冲的情况。Ttop表示作为该块脉冲的宽度设定的大脉冲的相位设定，是Ttop的箭头方向(+)可变的相位设定。另外，Ttop的箭头的起始点是被固定的相位设定。Ttop的可变范围没有特别限制。

以下，以标记和空白长度分别为3T且标记和空白长度的周期加起来为6T的情况为例进行说明。在本实施方式3的光盘记录装置中，降低LPF电路26的截止频率的设定，使其为集中标记3T和空白3T来对激光输出整体进行平均化的设定。然后，当将进行标记3T的记录时的相位设定设为Ttop时，使Ttop的设定从1T到2T可变，对标记3T和空白3T的6T大小的激光输出整体进行平均化。

此时，在Ttop＝1T时，在6T中峰值功率出现的比例为1T/6T＝16.67％，在Ttop＝2T时，在6T中峰值功率出现的比例为2T/6T＝33.33％。即，Ttop从1T到2T变化时的峰值功率出现的比例是从16.67％到33.33％。当用平均化电平中顶点功率到峰值功率的关系来表示时，在时间轴上成为相当于1T的时间，只要该峰值功率出现的比例与占空比相同，就可以与本发明的实施方式1同样地进行处理。

此处，在Ttop＝1T且占空比为16.67％的情况下，由LPF电路26平均后的电平如图18(c)那样被检测出。另外，如图19所示，在Ttop＝1.5T且占空比为25％的情况下，由LPF电路26平均后的电平如图19(c)那样被检测出。另外，如图20所示，在Ttop＝2T且占空比为33.33％的情况下，由LPF电路26平均后的电平如图20(c)那样被检测出。

当总结图18、图19、图20的结果，来表示使大脉冲Ttop的相位设定变化时的相位设定和测定电平的关系时，可以如图21那样表示。在图21中，横轴表示写策略电路的大脉冲设定Ttop和占空比，纵轴表示由SH电路27保持的电平的AD转换电平。

形成在占空比为16.67％时成为峰值功率和底功率之差的16.67％、在占空比为33.33％时成为峰值功率和底功率之差的33.33％的电平的直线，在作为标记·空白长度的基本周期的6T中，用平均化电平中底功率到峰值功率的关系来表示时间轴16.67％到33.33％。该时间宽度恰好为相当于1T的时间宽度，与本发明的实施方式1相同。

因此，在本实施方式3中，可以检测的电压电平恰好为16.67％，与上述的实施方式1不同，但只要该电压电平的检测充分大于AD转换电路29的分辨率，就可以利用与本发明的实施方式1相同的方法，对写策略的相位设定进行校正。

如上所述，本发明的实施方式3的光盘记录装置针对大脉冲的输出周期将标记和空白长度的发生周期6T设为基准，使大脉冲的相位设定变化1T大小的时间，来行电平的测定，所以可以在占空比为16.67％到33.33％的范围内，以最小分辨率测定所有作为基本周期的1T，由此利用与上述实施方式1相同的方法，通过对相位设定顺序进行重新排列来进行相位设定的校正，可以降低误差。

另外，在本发明的实施方式3中，将标记和空白长度的发生周期设为6T，但即使在设定成其他周期的情况下，只要按照基本周期的长度来改变占空比计算，就可以与本实施方式3同样地进行平均化电平的测定和相位设定的校正。

(实施方式4)

以下，对本发明的实施方式4的光盘记录装置进行说明。

图22是示出本实施方式4的光盘记录装置2200的结构的框图。

在图22中，信号切换开关36在光检测器8的输出和后述的标准信号发生装置37的输出之间切换向LPF 26的输入。

标准信号发生装置37接受来自相位设定电路24的输出，针对各相位设定中的每一个输出与写策略生成电路23的输出等同的波形信号，是与光盘记录装置2200连接的外部装置。该输出成为无输出信号的偏差的标准波形。另外，在图22中，针对与图1相同的结构要素，使用相同标号，并省略其说明。

接下来，对如上那样构成的本实施方式4的光盘记录装置2200的动作进行说明。

首先，信号切换开关36切换到标准信号发生装置37侧，在该状态下，相位设定n从0到10依次+1地变化，对标准信号发生装置37的输出进行平均化。其结果存储到RAM 32的变量_标准装置[n]中。接下来，信号切换开关36切换到光检测器8侧，使相位设定n从0到10依次+1地变化，检测出从光检测器8输出的、转换成电压电平的多脉冲部的激光功率的平均化电平，其结果存储到RAM 32数组_测定值[n]中。

图23是示出上述测定结果的例子，图24是以图形表示出该测定结果的图。根据图23和图24的测定结果，在使用了本发明的实施方式4的标准信号发生装置37的测定中，可以得到从理想直线稍微产生弓形的结果。

在上述实施方式1中，在步骤S12中，从作为直线近似式的图9求出了理想值。即，图10的理想值[n]是根据测定结果和由此取得的直线近似式求出了理想值的结果。在本实施方式4中，将图10的理想值[n]置换为图23的变量_标准装置[n]，进行步骤S12之后的处理。由此，利用由标准信号发生装置37校正了其输出的相位检测设定系统4，可以与上述实施方式1同样地进行相位设定的校正。

另外，也可以按照AD转换电路29的分辨率或范围，使VGA 28的设定可变，来提高S/N比。另外，也可以通过使激光功率可变，利用检测系统的动态范围，来提高S/N比。另外，也可以分别比较使VGA 28的设定或激光功率可变的结果，来进行精度更佳的检测。

另外，标准信号发生装置37以对相位检测设定系统4进行校正为目的，所以在本实施方式4中假定为外部装置，但也可以在相位检测设定系统4中设置标准信号发生装置36来作为标准信号发生器。

如上所述，根据本实施方式4的光盘记录装置，在相位检测设定系统中，对输出与写策略生成电路等同的波形信号的标准信号发生装置37的输出进行平均化，将切换开关36标准信号发生装置37测定了该平均电平的结果作为理想值，来进行相位设定的校正，所以可以校正进行电平测定的相位检测设定系统4的输出，可以进行更准确的相位设定的校正。

(实施方式5)

以下，对本发明的实施方式5的光盘记录装置进行说明。

图25是示出本实施方式5的光盘记录装置2500的结构的框图。另外，在图25中，针对与图1相同的结构要素使用相同标号，并省略其说明。

在图25中，38为使激光控制系统3的SH电路11的采样保持位置变化的SH位置设定电路。39为对激光APC控制电路19的输出的ON/OFF(接通/断开)进行控制的ON开关。另外，在本实施方式5的光盘记录装置2500中，相位检测设定系统4的CPU 30将激光控制系统3的AD转换电路14的输出设为其输入信号。

接下来，针对如以上那样构成的光盘记录装置2500的动作，使用图26以及图27来说明。

图26表示利用1T多脉冲来进行了6T标记的激光输出的状态，(a)表示记录波形NRZI，(b)表示激光输出。另外，图26(c)表示SH电路11的SH信号位于多脉冲部时的LPF电路12的输出、SH信号的输出、以及SH电路11的输出，图26(d)表示SH电路11的SH信号位于大脉冲部时的LPF电路12的输出、SH信号的输出、以及SH电路11的输出。

在图26中，是对由SH电路11采样保持了多脉冲部后的信号电平进行了AD转换的结果比对由SH电路11采样保持了大脉冲部后的信号电平进行了AD转换的结果小的状态。在使多脉冲部的相位设定变化时，多脉冲部的LPF电路10的电平由于多脉冲的占空比变化而变动，所以无法利用该AD转换电平来进行恒定地输出激光的激光APC控制。因此，在进行激光APC控制的情况下，如图26(d)所示，由SH位置设定电路38使采样保持位置向大脉冲部移动，对大脉冲部进行采样·保持。然后，根据由AD转换电路14对被保持的电平进行了AD转换的结果，进行基于激光APC控制电路19的激光APC控制。

另一方面，在对使写策略的相位设定变化而使多脉冲波形的占空比变化时的平均化电平进行检测的情况下，如图26(c)所示，由SH位置设定电路38使采样保持位置向多脉冲部移动来进行电平测定。然后，由AD转换电路14进行了AD转换的结果输入到相位检测设定系统4的CPU 30，根据该检测结果，利用与上述实施方式1相同的方法，进行相位设定的校正。

以下，使用图27所示的流程，对在本实施方式5的光盘记录装置2500中使用激光控制系统3并利用电压电平来测定写策略的相位的动作进行说明。

首先，在步骤S50中，通过SH位置设定电路38，SH信号被变更到大脉冲部。

接下来，在步骤S51中，切换开关12切换到通过LPF电路10的一侧。由于通过LPF电路10，由光检测器8进行了电压转换后的激光的出射波形直接输入到SH电路11。

接下来，在步骤S52中，进行激光APC控制，激光的出射功率被控制成预定的功率。由于此时对大脉冲部进行采样·保持，所以即使使相位设定变化而使占空比产生了变化，也检测到相同电平。

接下来，在步骤S53中，进行激光控制的稳定等待，在步骤S54中，激光APC控制停止。该激光APC控制的停止是通过使开关39成为OFF(断开)并使作为对LD驱动器6的电流设定的DAC 20的输出成为恒定而进行的。此时，由于向LD驱动器6供给的电流为恒定，所以LD 7以相同的电流出射激光。

接下来，在步骤S55中，通过SH位置设定电路38，SH信号被变更到多脉冲部。

接下来，在步骤S56中，切换开关12切换到LPF电路10侧，在步骤S57中，使写策略的相位设定依次变化，进行各相位设定中的每一个的电平测定。以后与上述实施方式1同样地，根据利用步骤S57取得的测定值和理想值，重新排列相位设定顺序，从而进行相位设定的校正。

如上所述，根据本发明的实施方式5的光盘记录装置，在进行激光功率的控制的情况下，使标记检测系统的SH电路的采样定时向大脉冲部移动来进行激光APC控制，在进行相位设定的校正的情况下，保持激光控制，使流向激光器的电流量恒定，使标记检测系统的SH电路的采样定时向多脉冲部移动，进行各相位设定中的每一个的电平测定，所以可以使用在激光控制中使用的激光功率的检测单元，利用电压电平来测定与写策略的相位设定对应的时间轴，由此，使激光控制系统的标记检测系统和相位检测设定系统中的写策略的相位检测单元共用，从而可以实现电路规模的缩小化。

(实施方式6)

以下，对本发明的实施方式6的光盘记录装置进行说明。

上述实施方式1至5的光盘记录装置在光盘记录装置的电源接通或复位时，对多脉冲的相位设定进行校正，但本实施方式6的光盘记录装置在记录动作时对多脉冲的相位设定进行校正。

图28是示出本实施方式6的光盘记录装置中的光拾取器的结构的框图。另外，本实施方式6的光盘记录装置的激光控制系统3、相位检测设定系统4、以及记录数据生成系统5与上述的实施方式1至实施方式5相同，在图28中省略。

在图28中，41是用于使透镜40上下移动来向光盘1的记录层对焦的致动器。42是对与透镜40连动的致动器41进行驱动而使透镜40上下地动作，来使焦点向光盘1的记录层聚焦、或偏离的聚焦驱动电路42。

接下来，对在本实施方式6的光盘记录装置中，在记录动作时进行相位设定的校正时的控制动作进行说明。

在进行向光盘1的记录层聚焦的控制的状态下，在利用电压来对与多脉冲的占空比的时间宽度对应的平均化电平进行测定的情况下，激光的出射功率是用于进行记录的激光功率，所以造成来自激光器的出射光作为数据被记录到光盘1的记录层上。在使所有的相位设定变化来进行了测定的情况下，所记录的数据成为无特别含义的数据。

在本实施方式6中，在光盘的记录动作时，利用聚焦驱动电路42使焦点从光盘1的记录层偏离一瞬间，在该期间，对多脉冲的平均化电平进行测定。由此，在光盘的记录动作时，无需进行向记录介质的记录就可以测定平均化电平，可以利用与上述的实施方式1相同的方法来对所设定的写策略的相位设定进行校正。

另外，在光盘的记录时，在利用聚焦驱动电路42从光盘1的记录层聚焦的状态下，对与特定的相位设定对应的多脉冲的平均化电平进行测定，通过进行该测定值和理想值的比较，可以检测出光盘记录装置的异常。例如，在测定值和理想值之差大时，有可能输出相对于相位设定不同的相位，可以判断为装置异常。

如上所述，根据本实施方式6的光盘记录装置，在光盘记录装置的记录时，利用聚焦驱动电路来使透镜的焦点偏离，在该期间，对与多脉冲的占空比的时间宽度对应的平均化电平进行测定，所以即使在向记录介质记录数据的情况下，也可以进行写策略的相位设定的校正。

另外，通过对在向记录介质记录时测定出的值和理想值进行比较，可以确认是否正确地输出了所设定的写策略。

(实施方式7)

以下，对本发明的实施方式7的光盘记录装置进行说明。

图29是示出本实施方式7的光盘记录装置2900的结构的框图。

在图29中，34是根据写策略生成电路23的输出信号来转换该输出信号的电平的信号转换电路。例如，在写策略生成电路23的输出信号是近年来经常使用的低电压差动传送(LVDS)信号的情况下，在使用2个差动信号来传达一个信号电平时，需要将2个差动信号转换成原来的振动，信号转换电路34相当于该转换电路。

35是在光检测器8的输出信号和信号转换电路34的输出信号之间切换向LPF电路26的输入的信号切换开关。另外，在图29中，对于与图1相同的结构要素，使用相同标号，并省略其说明。

以下，对在本实施方式7的光盘记录装置2900中，信号切换开关35选择了信号转换电路34的信号作为向LPF电路26的输入时的动作进行详细说明。

使信号转换电路34的输出例如是以0V到3.3V的电平进行输出的电路。此时，如果写策略生成电路23的2值化信号被信号转换电路34进行了转换，则在许可激光输出时，以3.3V的电平输出，在不许可时，以0V的电平来输出。

这样，信号转换电路34的输出以2值化的状态输出，所以例如在AD转换电路29的范围为0V到3.3V的情况下，当多脉冲的占空比为0％时，由AD转换电路29检测出的电平以0电平被检测出。另外，当多脉冲的占空比为100％时，由AD转换电路29检测出的电平以3.3V电平被检测出。通过将信号转换电路34的输出2值化，在利用与上述实施方式1相同的方法来对写策略的相位设定进行校正的情况下，在求理想值时，可以简化成0V到3.3V的理想直线。

另外，基于LPF电路26的平均化电平根据占空比在0V到3.3V之间变化。因此，使用从上述理想直线求出的理想值、和由LPF电路26对信号转换电路34的输出进行平均化并对该电平进行AD转换后的测定值，利用与上述实施方式1相同的方法，可以进行多脉冲的相位设定的校正。

另外，在利用本实施方式6的方式来进行相位设定的校正的情况下，由于无需实际的激光发光，所以还可以使记录数据生成系统5和相位检测设定系统4成为与光盘记录装置2900独立的装置，使记录数据生成系统5单独地动作，来进行校正。

例如，在使相位检测设定系统4是检查装置且记录数据生成系统5是被检查装置的情况下，作为检查装置的相位检测设定系统4进行从记录数据生成系统5输出的写策略波形的测定和相位设定的校正，输出相位设定表32的值即可。

另外，本实施方式7的光盘记录装置2900与图25所示的本发明的实施方式5的光盘记录装置2500同样，可以设置使激光控制系统3的SH电路11的SH位置可变的SH位置设定电路38，相位检测设定系统4使用激光控制系统的标记部检测系统3a，对多脉冲部的平均化电平进行测定。SH位置设定电路在该情况下，信号转换电路34的输出输入到激光控制系统3即可。

进而，本发明的实施方式7的光盘记录装置也可以按照AD转换电路29的分辨率或范围，使VGA 28的设定可变，来提高S/N比。另外，也可以通过使激光功率可变，利用检测系统的动态范围，来提高S/N比。另外，也可以分别比较使VGA 28的设定或激光功率可变的结果，来进行精度更佳的检测。

另外，在本发明的实施方式7的光盘记录装置2900中，在信号切换开关35选择光检测器8的输出的情况下，具有与本发明的实施方式1完全相同的结构。因此，可以得到通过对光检测器8的输出进行测定来对激光输出进行了校正的结果、和通过对写策略生成电路23的输出进行测定来对激光输出进行了校正的结果这2种结果，也可以根据情况分开使用该两者的结果。

如上所述，本实施方式7的光盘记录装置对写策略的脉冲信号直接进行平均化，将写策略的时间信号直接转换成电压信号，所以即使在与激光的控制无关地停止了激光的出射的状态下，也可以根据写策略设定电路的输出来进行相位设定的校正。

(实施方式8)

以下，对本发明的实施方式8的光盘记录装置进行说明。

本实施方式8的光盘记录装置在上述实施方式1的光盘记录装置中，对多脉冲的占空比进行校正，使用该校正后的占空比，来进行激光功率的控制。

图30是示出本实施方式8的光盘记录装置3000的结构的框图。在图30中，占空比校正电路33根据AD转换电路29的输出，对从相位设定值求出的占空比的值进行校正，输出到激光APC控制电路19。

上述实施方式1中的激光APC控制如以下那样进行控制。

即，在光检测器8的输出为多脉冲波形的情况下，当进行目标功率的计算时，根据得到的平均电平和占空比，进行峰值功率的换算。例如，在占空比为50％且将得到的平均电平设为ave时，实际发光的峰值功率计算成ave/50％＝ave×2。在该计算方法中，对多脉冲波形进行平均化，使用其占空比，计算出目标功率，所以在从所设定的相位设定计算出的占空比从使用光检测器8对LD 7的输出进行电压转换后的结果偏离的情况下，目标功率的计算偏离。例如，在测定出平均化电平ave＝10的电平的情况下，当占空比＝50％时，可以取得10×2＝20的电平。然后，进行APC控制，以形成该20的电平。

当在实际的波形中产生占空比偏离而得到了平均化电平ave＝12时，成为12×2＝24的电平检测，由激光APC控制电路19进行功率控制，以使24的电平成为20的电平。其结果，实际的激光输出是以20/24的比例输出了小的功率。

在本发明的实施方式8中，对理想时为50％的占空比，实际上利用50％/(20/24)＝约60％的占空比来进行计算，计算成ave/60％＝ave×1.67。由此，在平均化电平ave ＝12的情况下，可以得到12×1.67＝约20的电平，实际的激光输出不会变小。

以下，针对在本实施方式8的光盘记录装置3000中进行该占空比校正的方法，使用图31以及图32来说明。

相对于图10所示的激光功率的测定值[n]和理想值[n]，校正占空比可以如图31的式那样表示。图32示出与相位设定n对应的理想值[n]、测定值[n]、占空比的设定、以及根据图31的式校正后的占空比的结果。另外，相位设定n和理想值[n]、测定值[n]使用与上述实施方式1相同的方法得到。

根据图32的结果，例如，在相位设定n＝5时，多脉冲的宽度应为0.5T，占空比应为50％。但是，根据测定值[5]的结果，通过图31的校正，得到的校正占空比成为44％。

激光的目标功率本来以50％进行即可，但在50％的占空比计算中，有可能由激光APC控制电路19输出了小的功率。此处如果使用校正后的占空比44％，则测定值[5]/44％×50％＝531.2/0.44×0.5＝603.6，被校正成接近于理想值[5]＝600的状态。

另外，本实施方式8的光盘记录装置在上述的实施方式1的光盘记录装置中追加了占空比校正电路33，但如果将在该方式8中追加的占空比校正电路33向上述的实施方式2至7的光盘记录装置追加，也可以取得同样的效果。

另外，在本发明的实施方式8中，也可以按照AD转换电路29的分辨率或范围，使VGA 28的设定可变，来提高S/N比。另外，也可以通过使激光功率可变，利用检测系统的动态范围，来提高S/N比。另外，也可以分别比较使VGA 28的设定或激光功率可变的结果，来进行精度更佳的检测。

如上所述，本发明的实施方式8的光盘记录装置利用占空比校正电路来对占空比进行校正，根据该校正后的占空比来进行激光APC控制，所以可以进行多脉冲的激光控制时的功率校正。

产业上的可利用性

根据本发明，在可以提供能够抑制每种装置的偏差、进行最佳的记录的光盘记录装置的方面是有用的。

Claims

1.一种光盘记录装置，针对1个记录标记，根据由比该记录标记更短的多个脉冲构成的写策略波形来进行记录，其特征在于，具备：

写策略生成电路，生成上述写策略波形；

激光光源，出射激光；

激光驱动电路，按照上述写策略波形的脉冲串来对上述激光光源进行驱动；

光检测器，输出从上述激光光源出射的激光的光强度；

激光功率控制电路，通过按照上述光检测器所输出的光强度信号来对从上述激光驱动电路向上述激光光源供给的电流量进行控制，对上述激光光源的光强度进行控制；

平均化电路，对从上述光检测器输出的标记部的脉冲串的光强度信号进行平均化，并作为平均化电平输出；

采样·保持电路，对上述标记部中的上述平均化电路的输出进行采样·保持；

电压测定电路，将由上述采样·保持电路保持的模拟电平作为电压值来进行测定；以及

相位设定重新排列电路，将上述写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的多脉冲，固定上述多脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，根据对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化而得到的上述平均化电平的测定值和其理想值，求出实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差最小的最佳相位设定，变更预先设定的相位设定。

2.根据权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于，上述多脉冲的输出周期是作为标记·空白长度的基本周期的1T，上述相位设定重新排列电路将多脉冲的脉冲边缘的相位设定从(r1)T变更到(r2)T(r1表示0≤r1≤1的范围的实数，r2表示0≤r2≤1的范围的实数，且r1＜r2)，从而使上述多脉冲的占空比从(r1×100)％变化到(r2×100)％，

上述平均化电路对与上述相位设定中的每一个对应的上述平均化电平进行测定。

3.根据权利要求2所述的光盘记录装置，其特征在于，上述相位设定重新排列电路将上述(r1)和上述(r2)设定为r1＝0、r2＝1，使上述多脉冲的脉冲边缘的相位设定从0T变更到1T，从而使上述多脉冲的占空比从0％变化到100％，

上述平均化电路对所有与各个上述相位设定对应的上述平均电平进行测定。

4.根据权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于，上述多脉冲的输出周期是作为标记·空白长度的基本周期的1T的2倍的2T，

上述相位设定重新排列电路将上述多脉冲的脉冲边缘的相位设定从(r3)T变更到(r3+1)T(r3表示0≤r3≤1的范围的实数)，从而使上述多脉冲的占空比从(r3÷2×100)％变化到((r3+1)÷2×100)％，

上述平均化电路对与各个上述相位设定对应的上述平均化电平进行测定。

5.根据权利要求4所述的光盘记录装置，其特征在于，上述相位设定重新排列电路将上述(r1)设定为r3＝0.5，将多脉冲的脉冲边缘的相位设定从0.5T变更到1.5T，从而使多脉冲的占空比从25％变化到75％，

上述平均化电路对所有与各个上述相位设定对应的平均电平进行测定。

6.根据权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于，上述相位设定重新排列电路在连结相位设定最小的多脉冲的占空比为(x1)％时的平均化电平(y1)和相位设定最大的多脉冲的占空比为(x2)％时的平均化电平(y2)的直线的斜率(y2-y1)÷(x2-x1)、截距y1中进行插值来求出上述理想值，将该理想值与针对各相位设定中的每一个得到的多脉冲串的平均化电平的测定值中的每一个进行比较，将与上述各测定值中取最接近于上述理想值的值的测定值对应的相位设定设为上述最佳相位设定。

7.根据权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于，具备切换电路，该切换电路在上述光检测电路的输出和与该光盘记录装置连接且输出与上述写策略波形等同的波形信号的标准信号发生装置的输出之间，切换向上述平均化电路的输出，

上述相位设定重新排列电路将在上述切换电路选择上述标准信号发生装置的输出的情况下得到的上述平均化电平作为上述理想值，对该理想值和在上述切换电路选择了上述光检测电路的输出的情况下得到的针对各相位设定中的每一个得到的多脉冲串的平均化电平的测定值进行比较，将与上述各测定值中取最接近于上述理想值的值的测定值对应的相位设定设为上述最佳相位设定。

8.根据权利要求6或7所述的光盘记录装置，其特征在于，具备判定电路，该判定电路计算出上述各测定值与上述理想值的误差，在该误差大的情况下，将该光盘记录装置判定为不良品。

9.根据权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于，上述相位设定重新排列电路在与上述多脉冲的占空比的时间宽度对应的电压值的测定困难的相位设定中，不进行上述最佳相位设定的计算。

10.一种光盘记录装置，针对1个记录标记，利用由1个块脉冲构成的写策略来进行记录，其特征在于，具备：

写策略生成电路，生成上述写策略波形；

激光光源，出射激光；

光检测器，输出从上述激光光源出射的激光的光强度；

相位设定重新排列电路，将上述写策略波形的一部分设定成以预定的周期重复相同形状的脉冲的块脉冲，固定上述块脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，固定上述多脉冲的一个脉冲边缘的相位设定，依次变更另一个脉冲边缘的相位设定，根据对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化而得到的上述平均化电平的测定值和其理想值，求出实际输出的时间轴的脉冲边缘的相位误差最小的上述相位设定，变更预先设定的相位设定。

11.根据权利要求1所述的光盘记录装置，其特征在于，还具备：

保持控制电路，停止基于上述激光功率控制电路的激光控制；以及

采样位置设定电路，使上述采样·保持电路中的上述平均化电平的采样位置向预定的位置移动，

上述激光功率控制电路根据上述电压测定电路的输出，对上述激光光源的光强度进行控制，

在上述激光功率控制电路进行激光控制的情况下，上述采样位置设定电路使上述采样位置向上述标记部的大脉冲部移动，

在上述相位设定重新排列电路进行上述相位设定的变更的情况下，上述采样位置设定电路使上述采样位置向上述标记部的多脉冲部移动，上述保持控制电路对激光控制进行保持。

12.根据权利要求1或10所述的光盘记录装置，其特征在于，具备电压增益放大器，该电压增益放大器任意地对上述采样保持电路的输出信号的电压电平进行控制。

13.根据权利要求1或10所述的光盘记录装置，其特征在于，上述激光功率控制电路变更激光出射功率电平来进行多次激光功率控制，并利用激光功率控制的精度最高的激光功率，对上述激光光源的光强度进行控制。

14.根据权利要求1或10所述的光盘记录装置，其特征在于，在向光盘的聚焦偏离期间，上述相位设定重新排列电路依次变更上述相位设定，上述平均化电路针对各相位设定中的每一个对上述标记部的多脉冲串的光强度信号进行平均化，并对上述平均化电平进行测定。

15.根据权利要求1或10所述的光盘记录装置，其特征在于，上述平均化电路对从上述写策略生成电路输出的上述写策略波形的脉冲信号直接进行平均化，并作为上述平均化电平输出。

16.根据权利要求15所述的光盘记录装置，其特征在于，具备切换电路，该切换电路在上述光检测器的输出和上述写策略生成电路的输出之间切换向上述平均化电路的输出。

17.根据权利要求6或7所述的光盘记录装置，其特征在于，具备占空比校正电路，该占空比校正电路根据上述理想值和上述测定值，对上述多脉冲的占空比的设定进行校正，

上述激光功率控制电路根据上述电压测定电路的输出和上述校正后的占空比，进行峰值功率换算计算。

18.根据权利要求1或10所述的光盘记录装置，其特征在于，具备非易失性存储器，该非易失性存储器保持由上述相位设定重新排列电路计算出的校正参数的值。