JP3847434B2 - 半導体ウエハのメッキ治具 - Google Patents

半導体ウエハのメッキ治具 Download PDF

Info

Publication number
JP3847434B2
JP3847434B2 JP36342897A JP36342897A JP3847434B2 JP 3847434 B2 JP3847434 B2 JP 3847434B2 JP 36342897 A JP36342897 A JP 36342897A JP 36342897 A JP36342897 A JP 36342897A JP 3847434 B2 JP3847434 B2 JP 3847434B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
holding member
energizing
seal packing
holding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP36342897A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11172492A (ja
Inventor
潤一郎 吉岡
佳孝 向山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP36342897A priority Critical patent/JP3847434B2/ja
Priority to TW88108029A priority patent/TW580745B/zh
Publication of JPH11172492A publication Critical patent/JPH11172492A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3847434B2 publication Critical patent/JP3847434B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroplating Methods And Accessories (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

【0001】
【発明が属する技術分野】
本発明は半導体ウエハの電解メッキを行う場合に該半導体ウエハを保持する半導体ウエハのメッキ治具に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体ウエハに電解メッキを行う場合、半導体ウエハを保持するメッキ治具は、半導体ウエハを保持した状態で、半導体ウエハの導電膜に通電ピンが接触するように構成されている。そして該メッキ治具に半導体ウエハを保持した状態で、メッキ液槽の電解メッキ液中に半導体ウエハを治具ごと浸漬し、通電ピンを通して電流を流して電解メッキを行うようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように半導体ウエハに電解メッキを行う場合は、半導体ウエハをメッキ治具で保持することにより、半導体ウエハの導電膜に通電ピンを接触させ、該通電ピンを通して電流を流すのであるが、従来のメッキ治具では半導体ウエハが装着が容易で、且つ確実に半導体ウエハの導電膜に通電ピンを接触させる構成とはなっていなかった。
【0004】
本発明は上述の点に鑑みてなされたもので、半導体ウエハの装着が容易で、且つ半導体ウエハの導電膜に確実に通電することができる半導体ウエハのメッキ治具を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記問題点を解決するため請求項1に記載の発明は、第1保持部材と、環状のシールパッキンが設けられた第2保持部材とを具備し、該第1保持部材と該第2保持部材のシールパッキンの間に半導体ウエハを挟持保持すると共に、該シールパッキンの内周部に該保持された半導体ウエハ表面が露出するように構成し、第1保持部材には外部電極に通電する第1通電部材を設け、第2保持部材には前記シールパッキンに設けられた通電部材収納穴に収納取付けられ、第1保持部材の第1通電部材と保持される半導体ウエハ面に露出する導電膜との両方に接触する第2通電部材を設け、第2通電部材は、側面がコ字状をしており、該コ字状の先端部は第1通電部材と半導体ウエハ面に露出する導電膜に跨ぐように接触し、且つ該シールパッキンでシールされることを特徴とする。
【0006】
また、請求項2に記載の発明は、第1保持部材と、環状のシールパッキンが設けられた第2保持部材とを具備し、該第1保持部材と該第2保持部材のシールパッキンの間に半導体ウエハを挟持保持すると共に、該シール保持パッキンの内周部に該保持された半導体ウエハ表面が露出するように構成し、第1保持部材には外部電極に通電する第1通電部材を設け、第2保持部材には前記シールパッキンに設けられた通電部材収納穴に弾性部材を介して収納取付けられ、第1保持部材の第1通電部材と保持される半導体ウエハ面に露出する導電膜との両方に接触する第2通電部材を設け、第2通電部材は、側面がコ字状をしており、該コ字状の先端部は第1通電部材と半導体ウエハ面に露出する導電膜に跨ぐように弾性部材により押圧接触し、且つ該シールパッキンでシールされることを特徴とする。
【0007】
また、請求項3に記載の発明は、請求項1又は2に記載の半導体ウエハのメッキ治具において、シールパッキンは、断面がコ字状で、該コ字状先端部の一方が前記第1保持部材の表面に接し、もう一方の先端部が前記半導体ウエハ面に接するように構成されると共に、該両先端部の間に通電部材収納穴を設けたことを特徴とする。
【0008】
また、請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の半導体ウエハのメッキ治具において、弾性部材はバネ部材であることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態例を図面に基づいて説明する。図1は半導体ウエハのメッキ治具の外観構成を示す斜視図である。図示するように、本メッキ治具10は板状で電気絶縁材料(例えば合成樹脂材)からなる第1保持部材11と、環状のシールパッキン13が設けられた板状で電気絶縁材料(例えば合成樹脂材)からなる第2保持部材12とを具備し、該第2保持部材12は第1保持部材11にヒンジ機構14を介して連結されている。また、第1保持部材11の反ヒンジ機構14の側の端部には取っ手15が設けられている。
【0010】
第1保持部材11の上面には半導体ウエハ16が収容される該半導体ウエハ16と略同形状のウエハ収容凹部が形成され、該ウエハ収容凹部の外周部には複数個(図では4個)の第1通電部材17が等間隔で、且つその上面が該第1保持部材11の上面と略一致するように設けられている。また、第2保持部材12には中央部分に半導体ウエハ16より若干小さい内径の穴12aが形成され、その上面周縁部に上記環状のシールパッキン13が設けられている。
【0011】
上記シールパッキン13は断面がコ字状であり、該コ字状の一方の先端部13aが第1保持部材11の上面に接し、もう一方の先端部13bが半導体ウエハ16の表面に接するような幅寸法となっている。また、シールパッキン13の先端は第2保持部材12の上面より所定寸法突出している。また、シールパッキン13の先端部13aと先端部13bの間に収まるように所定の間隔で複数個(図では4個)の通電部材収納穴13cが形成され、該通電部材収納穴13cに後述する第2通電部材18が収容されるようになっている。
【0012】
上記構造の半導体ウエハのメッキ治具10において、第1保持部材11のウエハ収納凹部に半導体ウエハ16を収容した後、第2保持部材12をヒンジ機構14を介して第1保持部材11の上に重ねることにより、シールパッキン13の一方の先端部13aが第1保持部材11の上面に接し、もう一方の先端部13bが半導体ウエハ16の表面に接して、第1保持部材11との間に半導体ウエハ16の周縁部が挟持されて保持される。また、第2保持部材12の穴12a内には半導体ウエハ16の表面が露出する。
【0013】
図2は第2保持部材12を第1保持部材11の上に重ねた場合の第1通電部材17とシールパッキン13の位置関係を示す図である。図示するように、シールパッキン13の一方の先端部13aが第1保持部材11の上面に接し、もう一方の先端部13bが半導体ウエハ16の上面に接している。また、第2通電部材18は円柱状でその先端面に凹溝18aが形成されて断面がコ字状になっており、一方の先端部18bが半導体ウエハ16の上面に露出する導電膜に接し、もう一方の先端部18cが第1通電部材17の上面に接するように、バネ部材19を介して第2保持部材12に取り付けられている。また、第1通電部材17は第1保持部材11の中を貫通する導電部材20を通して、外部の電極端子(図示せず)に接続されるようになっている。
【0014】
図3は第2保持部材12を第1保持部材11の上に重ねた状態を示す図で、同図(a)は正面図、同図(b)は側面図である。図示するように、第2保持部材12を第1保持部材11の上に重ね、ヒンジ機構14の反対側の辺をクランプ21で挟持している。これにより、半導体ウエハ16は上記のように、第1保持部材11とシールパッキン13の間に保持され、且つ第1通電部材17及び第2通電部材18を介して、導電部材20が半導体ウエハ16の上面の導電膜に確実に導通することになる。これにより半導体ウエハ16の上面の導電膜は外部の電極端子に接続される。
【0015】
図4は上記構造のメッキ治具10を用いた電解メッキ装置の概略構成を示す図である。同図において、30はメッキ液槽であり、該メッキ液槽30内に陽極電極31と上記半導体ウエハ16を保持したメッキ治具10がセットされている。ポンプ35及びフィルタ32を介して電解メッキ液をメッキ液槽30内に送り、該電解メッキ液をメッキ液槽30からオーバーフローさせて循環させる。一方、陽極電極31と上記メッキ治具10の導電部材20に接続された外部電極端子33にそれぞれ直流電源34の+端子、−端子を接続し、直流電流を供給することにより、半導体ウエハ16の表面に電解メッキ膜を形成する。
【0016】
上記のように本メッキ治具は通電部材を第1保持部材11と第2保持部材12に分けて(第1通電部材17と第2通電部材18として)取付け、第1保持部材11に半導体ウエハ16を収容する凹部と配線として導電部材20を取付け、第2保持部材12には通電ピンとして第2通電部材18のみを取り付けたので、半導体ウエハ16の装着作業が容易になる。また、通電ピンとなる第2通電部材18の断面をコ字状に形成すると共に、バネ部材19を介して第2保持部材に取り付け、該コ字状の先端が第1通電部材17と半導体ウエハ16の導電膜の双方に接触するように構成したので、例えば、図5に示すように、半導体ウエハー16の上面と第1通電部材17の上面との間に段差がある場合でも半導体ウエハ16の導電膜に確実に通電することが可能となる。
【0017】
図6はヒンジ機構14の一例を示す図で、ヒンジ継手14aが第1保持部材11に取り付けられ、該ヒンジ継手14aに係合するヒンジピン14bが第2保持部材12に取り付けられている。
【0018】
なお、上記構造のメッキ治具10において、第2通電部材18はバネ部材19を介して第2保持部材に取り付けるように構成したが、バネ部材19に限定されるものではなく、弾性体部材であればよい。
【0019】
【発明の効果】
以上説明したように各請求項に記載の発明によれば下記のような優れた効果が得られる。
(1)請求項1に記載の発明によれば、第1保持部材と第2保持部材のシールパッキンの間に半導体ウエハを挟持保持して半導体ウエハをメッキ治具に装着するだけで、第2通電部材のコ字状の先端部は第1通電部材と半導体ウエハ面に露出する導電膜に跨ぐように接触し、且つ該シールパッキンでシールされた状態で、半導体ウエハの導電膜と外部電極が接続されるという効果を有する。
【0020】
(2)請求項2に記載の発明によれば、第1保持部材と第2保持部材のシールパッキンの間に半導体ウエハを挟持保持して半導体ウエハをメッキ治具に装着するだけで、第2通電部材のコ字状の先端部は第1通電部材と半導体ウエハ面に露出する導電膜に跨ぐように接触し、且つ該シールパッキンでシールされた状態で、半導体ウエハの導電膜と外部電極が接続される。このとき第2通電部材は弾性部材により押圧されるので、コ字状の先端部の第1通電部と導電膜への接触が確実となる。特に請求項4に記載の発明は弾性部材をバネ部材とするので、例えば半導体ウエハの上面と第1通電部材の上面との間に段差があっても半導体ウエハの導電膜と外部電極が確実に接続されるという効果を有する。
【0021】
(3)請求項3に記載の発明によれば、シールパッキンは、断面がコ字状で、該コ字状先端部の一方が第1保持部材の表面に接し、もう一方の先端部が半導体ウエハ面に接するように構成されると共に、該両先端部の間に通電部材収納穴を設けたので、構造が簡単で且つ通電接触部はシールパッキンで完全にシールされるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体ウエハのメッキ治具の外観構成を示す斜視図である。
【図2】本発明の半導体ウエハのメッキ治具の第2保持部材を第1保持部材の上に重ねた場合の第1通電部材とシールパッキンの位置関係を示す図である。
【図3】本発明の半導体ウエハのメッキ治具の外観を示す図で、同図(a)は正面図、同図(b)は側面図である。
【図4】メッキ治具を用いた電解メッキ装置の概略構成を示す図である。
【図5】本発明の半導体ウエハのメッキ治具の第2保持部材を第1保持部材の上に重ねた場合の第1通電部材とシールパッキンの位置関係を示す図である。
【図6】ヒンジ機構の一構成例を示す図である。
【符号の説明】
10 メッキ治具
11 第1保持部材
12 第2保持部材
13 シールパッキン
14 ヒンジ機構
15 取っ手
16 半導体ウエハ
17 第1通電部材
18 第2通電部材
19 バネ部材
20 導電部材

Claims (4)

  1. 第1保持部材と、環状のシールパッキンが設けられた第2保持部材とを具備し、該第1保持部材と該第2保持部材のシールパッキンの間に半導体ウエハを挟持保持すると共に、該シールパッキンの内周部に該保持された半導体ウエハ表面が露出するように構成し、
    前記第1保持部材には外部電極に通電する第1通電部材を設け、
    前記第2保持部材には前記シールパッキンに設けられた通電部材収納穴に収納取付けられ、前記第1保持部材の第1通電部材と前記保持される半導体ウエハ面に露出する導電膜との両方に接触する第2通電部材を設け、
    前記第2通電部材は、側面がコ字状をしており、該コ字状の先端部は前記第1通電部材と前記半導体ウエハ面に露出する導電膜に跨ぐように接触し、且つ該シールパッキンでシールされることを特徴とする半導体ウエハのメッキ治具。
  2. 第1保持部材と、環状のシールパッキンが設けられた第2保持部材とを具備し、該第1保持部材と該第2保持部材のシールパッキンの間に半導体ウエハを挟持保持すると共に、該シール保持パッキンの内周部に該保持された半導体ウエハ表面が露出するように構成し、
    前記第1保持部材には外部電極に通電する第1通電部材を設け、
    前記第2保持部材には前記シールパッキンに設けられた通電部材収納穴に弾性部材を介して収納取付けられ、前記第1保持部材の第1通電部材と前記保持される半導体ウエハ面に露出する導電膜との両方に接触する第2通電部材を設け、
    前記第2通電部材は、側面がコ字状をしており、該コ字状の先端部は前記第1通電部材と前記半導体ウエハ面に露出する導電膜に跨ぐように前記弾性部材により押圧接触し、且つ該シールパッキンでシールされることを特徴とする半導体ウエハのメッキ治具
  3. 前記シールパッキンは、断面がコ字状で、該コ字状先端部の一方が前記第1保持部材の表面に接し、もう一方の先端部が前記半導体ウエハ面に接するように構成されると共に、該両先端部の間に前記通電部材収納穴を設けたことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体ウエハのメッキ治具。
  4. 前記弾性部材はバネ部材であることを特徴とする請求項2に記載の半導体ウエハのメッキ治具。
JP36342897A 1997-12-15 1997-12-15 半導体ウエハのメッキ治具 Expired - Lifetime JP3847434B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36342897A JP3847434B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 半導体ウエハのメッキ治具
TW88108029A TW580745B (en) 1997-12-15 1999-05-18 Electroplating jig for semiconductor wafers and apparatus for electroplating wafers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP36342897A JP3847434B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 半導体ウエハのメッキ治具

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11172492A JPH11172492A (ja) 1999-06-29
JP3847434B2 true JP3847434B2 (ja) 2006-11-22

Family

ID=18479284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP36342897A Expired - Lifetime JP3847434B2 (ja) 1997-12-15 1997-12-15 半導体ウエハのメッキ治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3847434B2 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7022211B2 (en) 2000-01-31 2006-04-04 Ebara Corporation Semiconductor wafer holder and electroplating system for plating a semiconductor wafer
KR100586478B1 (ko) * 1999-05-18 2006-06-07 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 반도체웨이퍼의 도금지그 및 반도체웨이퍼의 도금장치
JP5630000B2 (ja) * 2009-10-22 2014-11-26 大森ハンガー工業株式会社 メッキ用基板保持具
JP2016000851A (ja) * 2014-06-12 2016-01-07 株式会社村田製作所 めっき用治具
JP6893142B2 (ja) 2017-07-25 2021-06-23 上村工業株式会社 ワーク保持治具及び電気めっき装置
JP7122235B2 (ja) 2018-11-26 2022-08-19 上村工業株式会社 保持治具
JP7132135B2 (ja) 2019-01-23 2022-09-06 上村工業株式会社 ワーク保持治具及び電気めっき装置
JP7132136B2 (ja) 2019-01-23 2022-09-06 上村工業株式会社 ワーク保持治具及び電気めっき装置
JP7132134B2 (ja) 2019-01-23 2022-09-06 上村工業株式会社 ワーク保持治具及び電気めっき装置
CN114197021B (zh) * 2021-11-04 2024-06-04 西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所) 一种双片晶圆镀膜夹具

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11172492A (ja) 1999-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3847434B2 (ja) 半導体ウエハのメッキ治具
JP5945710B2 (ja) キャパシタモジュール
JP4037504B2 (ja) 半導体ウエハのメッキ治具
JP3629396B2 (ja) 基板めっき治具
JPH11204460A (ja) ウエハのメッキ治具
MY115469A (en) Insert molded battery contacts and method
JP3940265B2 (ja) 半導体ウエハのメッキ治具及び半導体ウエハのメッキ装置
KR100591562B1 (ko) 전기도금 장치에서의 클립식 워크 행거
JPH05222590A (ja) 半導体ウエハの鍍金治具
CN116505199A (zh) 一种连接结构及其连接方法、电池包
JPH0686676B2 (ja) メツキ用電極部
CN221928593U (zh) 一种导电带连接装置
JPH07316894A (ja) 電解用電極の接続器具
CN110739562A (zh) 汇流条与电线的连接结构和汇流条模块
CN217956157U (zh) 一种用于接线端子的内件
JP2002320353A (ja) モータ及びリード線接合方法
MY131349A (en) Socket for handler
CN114024234A (zh) 一种直流带负荷转移固定器
JP2002153020A (ja) 小型モータ
JP3668561B2 (ja) 給電バスバー
JP3030637U (ja) 電池ホルダ構造
JPH08144094A (ja) メッキ装置
JP3599051B2 (ja) 電池の装着構造
JP2004052092A (ja) プリント基板保持用治具の接合具
JPS6026698A (ja) 要通電ワ−クの保持装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040402

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060418

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060420

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060516

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20060718

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060718

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060822

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060823

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090901

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100901

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110901

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130901

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term