JP3846262B2 - 電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、移載ヘッドに装着された状態の吸着ノズル下端部の高さ位置を検出する電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
電子部品を基板に実装する実装動作においては、電子部品を保持した吸着ノズルを基板に対して下降させることにより、電子部品を基板上面に着地させて搭載する。この電子部品の着地を電子部品に対する衝撃や位置ずれを生じることなく良好に行うためには、電子部品を過不足なく基板上面に対して接近させるために、実装高さ位置、すなわち吸着ノズルの下降目標高さ位置を数値データとして正確に設定する必要がある。
【0003】
このため、移載ヘッドに装着された状態の吸着ノズル下端部の高さ位置をノズル吸着高さとして求め、このノズル吸着高さと電子部品の厚み寸法に基づいて前記下降目標高さ位置を設定する。このとき、同一の移載ヘッドに複数の吸着ノズルが装着される場合には、各吸着ノズル間の寸法ばらつきに起因するノズル吸着高さのばらつきを防止するため、部品加工時においてこれらの吸着ノズルの寸法精度を厳しく管理するようにしていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、部品の微小化に伴い求められる実装精度がさらに高度化していることから、部品加工精度に依存する上記従来の方法では、必要精度に対応できないようになっている。このため、移載ヘッドに装着された状態における吸着ノズルの吸着高さを正しく求め、ばらつきに対する適切な対応を可能とすることが求められていた。
【0005】
そこで本発明は、移載ヘッドに装着された状態における吸着ノズル下端部の高さ位置を正確に検出することができる電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
請求項1記載の電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法は、部品供給部から移載ヘッドの吸着ノズルによって電子部品を真空吸着によりピックアップして基板に実装する電子部品実装装置において、前記移載ヘッドに装着された状態の吸着ノズル下端部の高さ位置を検出する電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法であって、吸着ノズルを複数備えた移載ヘッドを計測テーブルの上方に位置させた状態で真空吸引源を駆動して吸着ノズルから真空吸引しながら、吸着ノズルを昇降させる昇降手段を駆動して吸着ノズルを前記計測テーブルに対して下降させるとともに、吸着ノズルと真空吸引源とを接続する真空吸引回路に介設された流量センサによって前記吸着ノズルから吸引されて真空吸引回路内を通過する空気の流量を計測する工程と、流量計測結果が予め設定された前記吸着ノズルの下端部が前記計測テーブルの高さ計測基準面に当接したタイミングにおける前記真空吸引回路内を通過する空気の流量になったタイミングを求めこのタイミングにおける前記昇降手段の高さ指示値をノズル吸着高さとして出力する工程とを各吸着ノズルに対して実行する。
【0007】
本発明によれば、吸着ノズルから真空吸引しながら吸着ノズルを計測テーブルに対して下降させるとともに、流量センサによって吸着ノズルから吸引されて真空吸引回路内を通過する空気の流量を計測し、流量計測結果が予め設定された前記吸着ノズルの下端部が前記計測テーブルの高さ計測基準面に当接したタイミングにおける前記真空吸引回路内を通過する空気の流量になったタイミングを求めこのタイミングにおける前記昇降手段の高さ指示値を吸着高さとして出力することにより、ノズル吸着高さを正確に検出することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の斜視図、図2は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の移載ヘッドの断面図、図3は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の吸引・制御系の構成を示すブロック図、図4は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置における真空吸引回路の流量データの説明図、図5、図6は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置におけるノズル吸着高さ検出処理の説明図、図7は本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の動作説明図である。
【0009】
まず図1を参照して電子部品実装装置について説明する。図1において、電子部品実装装置1は、X方向に配設された搬送路2を備えており、搬送路2は基板3を搬送し位置決めする基板位置決め部となっている。搬送路2の手前側には、電子部品の部品供給部4が配置されており、部品供給部4にはテーピングされた電子部品を供給するテープフィーダ5が多数並設されている。
【0010】
搬送路2および部品供給部4の上方には、移載ヘッド6が図示しない水平移動手段によって水平移動可能に装着されている。移載ヘッド6は複数の吸着ノズル18(図2、図3参照)を備えたマルチ型ヘッドであり、吸着ノズル18によりテープフィーダ5のピックアップ位置から電子部品をピックアップし、搬送路2上の基板3に移載する。
【0011】
搬送路2と部品供給部4の間の移載ヘッド6の移動経路上には、ラインカメラ7が配設されている。電子部品を保持した移載ヘッド6をラインカメラ7の上方を水平移動させながら、ラインカメラ7の光学系を介して入光する光を1次元のラインセンサで受光することにより、電子部品を撮像し認識する。
【0012】
ラインカメラ7と隣接して、平坦な上面が設けられた計測テーブル8が配置されている。計測テーブル8の上面は、電子部品実装装置1の機械座標系における絶対高さ位置が既知の高さ計測基準面であり、搬送路2における基板3の上面の実装面との相対高さ差Hが既知となっている(図5参照)。後述するように、移載ヘッド6に装着された吸着ノズル18の下端部をこの高さ計測基準面に当接させることにより、当該吸着ノズルのノズル吸着高さを検出できるようになっている。
【0013】
次に図2を参照して移載ヘッド6について説明する。図2において、移載ヘッド6はZ軸テーブル10に装着されている。Z軸テーブル10は、モータ11によって回転駆動される送りねじ12と送りねじが螺合するナット部材12aを備えており、Z軸駆動部19によってモータ11を回転駆動することにより、移載ヘッド6は昇降する。
【0014】
モータ11はエンコーダ11aを備えており、エンコーダ11aのパルス信号を高さ検出部20が受信することにより、移載ヘッド6のZ軸方向位置、すなわち高さ位置が検出される。高さ位置検出結果は、制御部25に送られる。そしてこの高さ位置検出結果に基づいて、制御部25がZ軸駆動部19を制御することにより、移載ヘッド6を任意の高さ位置を目標として上昇、または下降させることができる。
【0015】
移載ヘッド6は箱型部材13に結合された昇降ブロック14を備えており、箱型部材13の上面には、円周上の等配位置に6本のエアシリンダ15が配設されている。エアシリンダ15は両ロッドタイプであり、上下両方向にロッド15aが突出している。下方に突出したロッド15aは、ノズル昇降ロッド16と回転自在に結合されており、ノズル昇降ロッド16は昇降ブロック14の下端部から下方に突出して設けられた装着部17に結合されている。装着部17には吸着ノズル18が着脱自在に装着される。吸着ノズル18には吸着孔18aが設けられており、吸着孔18aから真空吸引することにより、下端部の吸着面に電子部品を吸着保持する。
【0016】
上記構成において、エアシリンダ15を駆動することにより、吸着ノズル18は移載ヘッド6に対して個別に所定ストロークだけ上下動する。すなわち、Z軸テーブル10は吸着ノズル18を昇降させる昇降手段となっており、エアシリンダ15は個別上下動手段となっている。高さ検出部20は、Z軸テーブル10のエンコーダ11aからの高さ情報に基づき、図2に示すように、エアシリンダ15によって下降した状態の吸着ノズル18の下端部の高さ位置Zn(Z軸駆動部19の座標系におけるZ座標値)を、高さ指示値として出力する。
【0017】
ここで図3を参照して、吸着ノズル18から真空吸引する真空吸引・制御系の構成について説明する。図3に示すように、吸着ノズル18が装着される装着部17には真空バルブ21が接続されており、真空バルブ21は真空吸引源である真空ポンプ23に接続されている。装着部17に吸着ノズル18が装着された状態で真空ポンプ23を駆動し、真空バルブ21を開状態にすることにより、吸着ノズル18の下端部の吸着面に設けられた吸着孔18aより真空吸引する。
【0018】
吸着ノズル18から真空ポンプ23に至る回路は、真空吸引時に空気が通過する真空吸引回路となっている。装着部17には、フィルタ28が内蔵されており、吸着ノズル18から吸引された空気がフィルタ28を通過することにより、真空吸引時に空気とともに吸引された異物がフィルタ28によって捕集される。
【0019】
真空バルブ21と真空ポンプ23の間の真空吸引回路には、流量センサ22が介設されている。流量センサ22は、内部を流れる流体の温度差を検出することにより、真空吸引によって単位時間当たりに真空吸引回路内を流れる空気の量を連続的に計測する。流量センサ22の計測結果は、判定部24に送られる。
【0020】
判定部24は、流量センサ22の流量計測結果を記憶部26に記憶されている流量データと比較することにより、吸着ノズル18の下端部における電子部品の有無や吸着状態などの、真空吸引系の状態の判定を行う。また判定部24は連続的に計測される流量計測結果を監視し、流量計測値が所定値に到達したタイミングを検出する。判定結果や検出されたタイミングは制御部25に送られる。
【0021】
制御部25は判定結果に基づいて報知部27を制御することにより、ピックアップミスや持ち帰り部品検出などの報知を行うとともに、検出されたタイミングにおけるZ軸テーブル10の高さ指示値をノズル高さデータとして記憶部26に記憶する。
【0022】
次に図4を参照して、吸着ノズル18から真空ポンプ23によって真空吸引を行う真空吸引回路の流量データについて説明する。図4は、流量センサ22によって計測される流量と、真空吸引系の状態、すなわち電子部品実装装置の保守点検時や稼動状態において真空吸引系に発生しうる各種の状態と、真空吸引回路の流量との対応関係を示したものである。流量軸上に設定されたf0〜f5は、各状態を判定するしきい値として設定される流量データであり、各状態を実際に再現した上で流量センサ22で得られる実測データに基づいて設定される。
【0023】
ここで真空吸引系の状態として、[吸着ノズル無し]、[フィルタ目詰まり]、[吸着ノズル装着異常]、[部品無し]、[部品吸着状態異常]、[部品正常吸着]および[吸着面当接]の7つの状態が想定されている。以下、各状態と流量データとの対応について説明する。
【0024】
[吸着ノズル無し]は、装着部17に吸着ノズル18が装着されていない状態を示しており、この状態では装着部17内の内部孔が開放されたままとなることから、真空吸引回路内を流れる流量は最も大きくなる。ここでは、流量計測結果がノズル無し流量f0以上であれば、吸着ノズル無しと判定される。この[吸着ノズル無し]から、以下に説明する各状態の順に、真空吸引回路の開度は減少して閉状態の度合いが大きくなり、それぞれのしきい値の値も低下する。
【0025】
[フィルタ目詰まり]は、装着部17内のフィルタ28に捕集された異物量が増加し、真空吸引時の圧力損失がフィルタ28の交換もしくは清掃を必要とする程度まで増大したことを示している。ここでは装着部17に吸着ノズル18が装着されていない状態での流量計測結果がフィルタ目詰まり流量f1以下であれば、フィルタ目詰まりと判定される。
【0026】
[吸着ノズル装着異常]は、装着部17の吸着ノズル18が装着されているものの、装着孔周囲への異物の噛み込みなどの不具合によって、リークを生じている状態を示す。装着部17に吸着ノズル18が装着された状態での流量計測結果がノズル異常流量f2以上であれば、吸着ノズル装着異常と判定される。
【0027】
[部品無し]は、真空吸引回路が吸引状態にあるにもかかわらず吸着ノズル18の吸着面に電子部品が存在しない状態を示している。同様に装着部17に吸着ノズル18が装着された状態での流量計測結果が部品無し流量f3以上であれば、部品無しと判定される。
【0028】
[部品吸着状態異常]は、吸着ノズル18の吸着面に電子部品が存在するものの、吸着位置や姿勢が正常でなく吸着孔18aからの過度のリークが生じている状態を示している。吸着ノズル18が装着され部品吸着状態における流量計測結果が吸着異常流量f4以上であれば、部品吸着状態異常と判定される。
【0029】
[部品正常吸着]は、吸着ノズル18によって電子部品が正常に吸着保持されている状態を示しており、同様に部品吸着状態における流量計測結果が吸着異常流量f4に満たなければ、部品正常吸着と判定される。そして、[吸着面当接]は、移載ヘッド6を下降させ、吸着ノズル18の吸着面を基板や計測基準面などの平坦な固体面に当接させて押圧し、吸着面の吸着孔18aが塞がれている状態を示している。流量計測結果が吸着面当接流量f5以下であれば、吸着面当接であると判定する。この判定は、吸着ノズル18の吸着高さ検出や基板上面高さ検出に用いられる。そして、流量零は、真空吸引回路が完全閉塞されている状態に対応している。
【0030】
この電子部品実装装置は上記のように構成されており、以下電子部品搭載動作におけるノズル吸着高さ検出処理について図5,図6を参照して説明する。この処理は、移載ヘッド6に吸着ノズル18を新たに装着した後に、実装作業の開始に先立って実行される処理であり、これらの吸着ノズル18を移載ヘッド6に装着した状態で生じる吸着ノズル下端部の高さ位置のばらつきを検出することを目的として行われるものである。
【0031】
すなわち、同一の計測基準面に対して各吸着ノズル18の下端部を順次当接させ、当接したタイミングにおける高さ検出部20の高さ指示値Znを各吸着ノズル18ごとに求めることにより、各吸着ノズル18の下端部の高さ位置をZ軸テーブル10のZ座標系における座標値と関連させて求めるものである。
【0032】
前述のように、移載ヘッド6には6個の吸着ノズル18が装着されることから、上記処理もこれらの6個の吸着ノズル18を対象として個別ノズルごとに実行される。以下、(i)番目の吸着ノズル18(i)について行われる処理について説明する。実際には、i=1〜6について実行される。
【0033】
まず吸着ノズル18が装着された移載ヘッド6を計測テーブル8(基板厚み寸法T1)上に移動させ、6個の吸着ノズル18のうち基準となる吸着ノズル18(i)をエアシリンダ15によって下降させた状態で、Z軸テーブル10によって、図5(a)に示すように吸着ノズル18(i)を計測テーブル8に対して徐々に下降させる。
【0034】
そしてこの吸着ノズル18(i)の下降時には、真空バルブ21を開にして吸着ノズル18の下端部の吸着孔18aから真空吸引する。このときの真空吸引回路を通過する流量は、流量センサ22によって計測され、判定部24に送られる。図6(a)は、この流量計測によって得られる流量の経時変化を示している。吸着ノズル18(i)の下降開始当初は、吸着孔18aが完全に開放された状態であることから、部品無し流量f3を超える流量を示す。
【0035】
図6(b)は、この吸着ノズル18(i)の下降動作時における高さ指示値Z(吸着ノズル18の下端部の高さ位置)の経時変化を示している。高さ指示値Zは吸着ノズル18の下降とともに低下する。この吸着ノズル18(i)の下降において、吸着ノズル18(i)の下端部が計測テーブル8の上面に接近して吸着孔18aからの真空吸引が妨げられるのに伴い、図6(a)に示すように流量は急速に減少し吸着面当接流量f5まで低下する。
【0036】
そして流量が吸着面当接流量f5に低下したタイミングt1、すなわち図5(b)に示すように吸着ノズル18(i)の下端部が計測テーブル8の高さ計測基準面に当接したタイミングt1が判定部24によって検出され、タイミングt1は高さ指示値Zを監視している制御部25に送られる。これにより、制御部25は、当該タイミングt1における高さ指示値Zを、吸着ノズル18(i)に固有のノズル吸着高さZn(i)として出力し、記憶部26に記憶させる。この処理を各吸着ノズル18について実行することにより、同一の移載ヘッド6に装着された吸着ノズル18の下端部の高さ位置のばらつきを、数値データで表したオフセットデータが作成される。
【0037】
図7は、このようにして検出されたノズル吸着高さZn(i)に基づいて、基板3に対して電子部品Pを実装する際の動作を示している。実装作業においては、まず移載ヘッド6は部品供給部4に移動し、ここで各吸着ノズル18は電子部品Pをピックアップする。そしてこの後、移載ヘッド6が移動することにより、図7(a)に示すように、電子部品Pを保持した吸着ノズル18(i)は基板3上に位置する。このとき、電子部品Pの厚み寸法T2は、実装データ上で予め与えられている。
【0038】
図7(b)は、各吸着ノズル18を順次下降させて、吸着ノズル18(i)によって電子部品Pを基板3に搭載する動作を示している。このとき、予め検出されたノズル吸着高さZn(i)に基板3との相対高さ差Hを加え、さらに電子部品Pの厚み寸法T2を差し引いた高さ位置(Zn(i)+H−T2)が、Z軸テーブル10による下降目標高さ位置、すなわち実装高さ位置として自動的に設定される。
【0039】
これにより、搭載動作においては、各吸着ノズル18の下端部の吸着面は、個体差による寸法のばらつきに関係なく、常に基板3の上面から厚み寸法T2だけ上方の高さ位置で確実に停止する。したがって、電子部品Pは吸着ノズル18の下降停止高さが不適切なことに起因する不具合、すなわち電子部品Pの過度の押圧や、搭載時の位置ずれを生じることなく、良好な実装品質が確保される。
【0041】
【発明の効果】
本発明によれば、吸着ノズルから真空吸引しながら吸着ノズルを計測テーブルに対して下降させるとともに、流量センサによって吸着ノズルから吸引されて真空吸引回路内を通過する空気の流量を計測し、流量計測結果が予め設定された前記吸着ノズルの下端部が前記計測テーブルの高さ計測基準面に当接したタイミングにおける前記真空吸引回路内を通過する空気の流量になったタイミングを求めこのタイミングにおける前記昇降手段の高さ指示値を吸着高さとして出力するようにしたので、ノズル吸着高さを正確に検出することができ、吸着ノズルの個体差による寸法のばらつきに関係なく良好な実装を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の斜視図
【図2】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の移載ヘッドの断面図
【図3】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の吸引・制御系の構成を示すブロック図
【図4】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置における真空吸引回路の流量データの説明図
【図5】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置におけるノズル吸着高さ検出処理の説明図
【図6】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置におけるノズル吸着高さ検出処理の説明図
【図7】本発明の一実施の形態の電子部品実装装置の動作説明図
【符号の説明】
1 電子部品実装装置
3 基板
4 部品供給部
6 移載ヘッド
8 計測テーブル
10 Z軸テーブル
18 吸着ノズル
20 高さ検出部
22 流量センサ
23 真空ポンプ
24 判定部
25 制御部
26 記憶部
Claims (1)
- 部品供給部から移載ヘッドの吸着ノズルによって電子部品を真空吸着によりピックアップして基板に実装する電子部品実装装置において、前記移載ヘッドに装着された状態の吸着ノズル下端部の高さ位置を検出する電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法であって、吸着ノズルを複数備えた移載ヘッドを計測テーブルの上方に位置させた状態で真空吸引源を駆動して吸着ノズルから真空吸引しながら、吸着ノズルを昇降させる昇降手段を駆動して吸着ノズルを前記計測テーブルに対して下降させるとともに、吸着ノズルと真空吸引源とを接続する真空吸引回路に介設された流量センサによって前記吸着ノズルから吸引されて真空吸引回路内を通過する空気の流量を計測する工程と、流量計測結果が予め設定された前記吸着ノズルの下端部が前記計測テーブルの高さ計測基準面に当接したタイミングにおける前記真空吸引回路内を通過する空気の流量になったタイミングを求めこのタイミングにおける前記昇降手段の高さ指示値をノズル吸着高さとして出力する工程とを各吸着ノズルに対して実行することを特徴とする電子部品実装装置におけるノズル吸着高さの検出方法。
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